JPH0736396B2 - 多連式全自動ウエハーポリッシング装置とポリッシング方法 - Google Patents

多連式全自動ウエハーポリッシング装置とポリッシング方法

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JPH0736396B2
JPH0736396B2 JP3198477A JP19847791A JPH0736396B2 JP H0736396 B2 JPH0736396 B2 JP H0736396B2 JP 3198477 A JP3198477 A JP 3198477A JP 19847791 A JP19847791 A JP 19847791A JP H0736396 B2 JPH0736396 B2 JP H0736396B2
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cleaning
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Fujikoshi Machinery Corp
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体等のウエハーの
表面を鏡面加工するポリッシング装置とポリッシング方
法の改良、特に多連式全自動ウエハーポリッシング装置
とポリッシング方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のシリコン半導体等のウエハーを鏡
面加工するポリッシング装置は、図3(a)に示すよう
に、複数枚のウエハー1をワックスを介して平坦なプレ
ート2の一面に接着し、(b)に示すように、定盤3に
貼付した研磨クロス4上に載置した後、プレート2の上
面をトップリング5を介して研磨クロス4に押圧し、定
盤中央部にスラリー6を供給しながら定盤3を回転さ
せ、同時にトップリング5とともにプレート2を回転さ
せてウエハーを鏡面加工していた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記のポリッ
シング装置では、加工開始にあたりウエハー1をプレー
ト2にワックスで接着する工程および加工終了後プレー
ト2から剥がす工程が必要となり、ポリッシングシステ
ム全体が大規模化して、装置の自動化が困難となる。ま
たウエハー1をプレート2に接着する際、ワックス内に
ゴミや気泡が残っていると、高精度の鏡面加工ができな
い。さらに、1枚のプレート2に多数のウエハー1を接
着して加工するバッチ処理を行おうとすると、各ウエハ
ー1の加工品質を均一に保つことが非常に困難である。
これらの課題を解決するため、ウエハーを1枚づつ加工
する枚葉式の装置も開発されているが、1枚づつしか加
工できないため生産性に問題がある。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明は、ウエハ−の高
精度かつ高能率鏡面加工を行うことのできる枚葉処理方
式のポリッシング装置を提供することを目的とするもの
で、特に、請求項1に記載の全自動ウエハ−ポリッシン
グ装置、およびその装置を利用する請求項5に記載の全
自動ウエハ−ポリッシング方法を提供するものである。
前記トップリング保持部は、定盤位置で搖動可能であ
り、ウエハ−収納機構はポリッシング装置本体と分離し
て設けられ、さらにトップリング表面の洗浄手段および
定盤の研磨クロスのブラッシング機構を有していてもよ
い。
【0005】以下本発明の一実施態様を図によって説明
する。本発明の装置は、図1(a)、(b)に示すよう
に、順次直列に配設されたカセット載置台7、ウエハー
取り出し機構8、ウエハーセンタリング機構9、定盤
3、ウエハー受け取り部10、ウエハー収納機構11お
よびトップリング5を吊下して、ウエハーセンタリング
機構9、定盤3、ウエハー受け取り部10間を走行する
鞍状のトップリング保持部12を有する。
【0006】以下前記3、7〜12の各部の一例を詳細
に説明する。 a)カセット載置台7 ウエハー1を収納したウエハー供給カセット13を載置
し、上下動することが可能である。 b)ウエハー取り出し機構8 ベルトコンベア方式で、カセット載置台7に載せられて
下降してきたウエハー供給カセット13の、最下段に収
納されたウエハー1を取り出し、つぎのウエハーセンタ
リング機構9上に搬送する。 c)ウエハーセンタリング機構9 ベルトコンベアの上面と同一高さの上面をもち、センタ
リングブロック14を備え、搬送されてきたウエハー1
を所定位置に停止させる。 d)定盤3 上面に加工用研磨クロス4を貼付し回転する。しかして
定盤3の近傍に研磨クロス4を洗浄する研磨クロスブラ
ッシング機構15を有し、また定盤3の中央にスラリー
供給ノズル16をもつ。 e)トップリング下面洗浄機構17 ウエハーを吸着するトップリング5の下面を洗浄する。 f)ウエハー受け取り部10、下記イ)、ロ)、ハ)よ
りなる。 イ)ウエハー洗浄機構18 ブラシを植設した円筒またはスポンジの円筒を、つぎの
ウエットステーション19に移送されたウエハー1上に
移動し、回転してウエハー1を洗浄する。 ロ)ウエットステーション19 ウエハー1の面に純水を供給してポリッシング面の洗浄
を行うとともに、キズ等の発生を防止する。 ハ)ウエハー反転アーム20 ウエットステーション19中のウエハー1を吸着してウ
エハー収納機構11に移送する。 g)トップリング5 下端にウエハー吸着チャック21を有し、上下動、回転
可能である。 h)トップリング保持部12 鞍状で、トツプリング5を吊下して保持し、レール22
に沿ってウエハーセンタリング機構9、定盤およびウエ
ハー受け取り部10にまたがり、これらの間を走行する
ほか、鏡面加工中は定盤3上を揺動可能である。 i)ウエハー収納機構11 ウエットステーション19で洗浄されたウエハー1を、
ウエハー反転アーム20を介してウオターシューター2
3に移送し、ウエハー収納カセット24まで搬送してこ
れに収納する。 なお本発明の装置は、図2(a)、(b)に示すよう
に、ウエハー受け取り部10とウエハー収納機構11の
間に、ウエハー搬送アーム25と、ウエハー1のエッチ
ング等を行うウエハー処理ステーション26を設けても
よい。
【0007】
【作用】つぎに本発明のポリッシング装置の操作手順の
一例を図1(a)、(b)により説明する。 (1) カセット載置台7をウエハー供給カセット13
の設置位置まで上昇させる。 (2) ウエハー供給カセット13をカセット載置台7
上に載置する。 (3) カセット載置台7を下降させ、ウエハー供給カ
セット13に収納した最下段のウエハー1をウエハー取
り出し機構8のベルトに接触させる。 (4) ベルトを回転し、接触しているウエハー1を取
り出す。 (5) ウエハー1がウエハーセンタリング機構9上に
移送され、センタリングブロック14に接触し所定位置
で停止する。 (6) トップリング保持部12がレール22上を走行
してウエハーセンタリング機構9上に移動し、ついでト
ップリング5を下降させ、下端のウエハー吸着チャック
21によりウエハー1を吸着する。 (7) トップリング5を上昇させ、トップリング保持
部12を定盤3上に移動させる。 (8) トップリング5を下降させ、定盤3に貼付され
た研摩クロス4にウエハー1を押圧する。 (9) 定盤3の中央にスラリー供給ノズル16からス
ラリーを供給しながら、定盤3とトップリング5を回転
させ、同時にトップリング保持部12をレール22に沿
って揺動させながらウエハー1を鏡面加工する。 (10)トップリング5を上昇させ、トップリング保持
部12をレール22上を走行させて、ウエハー受け取り
部10のウエットステーション19上に移動させる。 (11) トップリング5を下降させ、ウエハー1がウ
エットステーション19の水面近傍に達したとき下降を
停止し、ウエハー吸着チャック21の吸着を解除してウ
エハーをウエットステーション19に落とす。 (12)ウエハー洗浄機構18をウエットステーション
19上に移動させ、ウエハー1の裏面を洗浄する。 (13)ウエットステーション19で処理を終えたウエ
ハー1をウエハー反転アーム20でウエハー収納機構1
1に移送する。 (14) ウエハー1はウオターシューター23上を搬
送され、ウエハー収納カセット24の最下段に収納され
る。 (15) ウエハー収納カセット24が一段分下降し、
つぎのウエハーが収納される状態となる。 (16)トップリング保持部12をトップリング下面洗
浄機構17の上に走行させ、トップリング5を下降して
その下端の吸着チャック21を洗浄する。 以上によりウエハーポリッシング操作の1サイクルを終
了する。〜の各段ではウエハーの処理が終わって次
段に送った場合は、直ちに前段より新しい被加工ウエハ
ーを受け入れ、各段では休みなく操作が行われているこ
とはもちろんである。なお図1、2においては、ウエハ
ーを同時に2枚づつ加工可能な装置について説明した
が、一連の機構をさらに並列に連ねることによってより
多くのウエハーの同時加工を行ったり、また用途によっ
ては、図1、2のような2連の装置において、ウエハー
を1枚づつ加工するように、より少数枚のウエハーの同
時加工を行ってもよいことはもちろんである。
【0008】
【発明の効果】本発明の装置と方法によれば、鏡面加工
される複数のウエハーは一度も人手に接触することな
く、全自動的にウエハー供給カセットより取り出され、
加工終了後ウエハー収納カセットに収納されるので、ウ
エハーを損壊、汚染するおそれはきわめて少なく、効率
よくポリッシングでき、しかも各部に洗浄機構を有して
いるので、従来のように洗浄のため装置を停止すること
なく、連続して長期間操業できるので、本発明は産業上
きわめて有用なものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)は本発明のポリッシング装置の上方より
みた説明図、(b)は側方よりみた説明図である。
【図2】(a)は本発明の他の態様のポリッシング装置
の上方よりみた説明図、(b)は側方よりみた説明図で
ある。
【図3】(a)は従来のウエハーを貼付されたプレート
の斜視図、(b)は従来のポリッシング装置の部分側面
図である。
【符号の説明】
1 ウエハー 19 ウエット
ステーション 2 プレート 20 ウエハー
反転アーム 3 定盤 21 吸着チャ
ック 4 研磨クロス 22 レール 5 トップリング 23 ウオター
シューター 6 スラリー 24 ウエハー
収納カセット 7 カセット載置台 25 ウエハー
搬送アーム 8 ウエハー取り出し機構 26 ウエハー
処理ステーション 9 ウエハーセンタリング機構 10 ウエハー受け取り部 11 ウエハー収納機構 12 トップリング保持部 13 ウエハー供給カセット 14 センタリングブロック 15 研磨クロスのブラッシング機構 16 スラリー供給ノズル 17 トップリング洗浄機構 18 ウエハー洗浄機構

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】定盤に貼付した研磨クロスにウエハ−表面
    を擦り合わせて鏡面加工するポリッシング装置におい
    て、ウエハ−取り出し機構によって複数のウエハ−供給
    カセットからそれぞれ同時に取り出された各ウエハ−を
    所定位置に停止させる複数のウエハ−センタリング機
    構;ウエハ−鏡面加工用研磨クロスを貼着した定盤;研
    磨された各ウエハ−を同時に受け取るウエハ−受け取り
    部;が順次配設され、前記ウエハ−センタリング機構か
    らウエハ−受け取り部にわたって敷設されたレ−ルのよ
    うな直動機構を走行するトップリング保持部;該トップ
    リング保持部に昇降および回転可能に吊下保持され、下
    端面の吸着チャックによりウエハ−を吸着して研磨クロ
    スに押圧し鏡面加工する複数のトップリング;およびト
    ップリングに吸着され、定盤で研磨されたウエハ−を洗
    浄するために前記受け取り部に設けられた洗浄機構:よ
    り成る多連式全自動ウエハ−ポリッシング装置。
  2. 【請求項2】前記トップリング保持部は、定盤上におい
    て搖動可能である請求項1に記載の装置。
  3. 【請求項3】前記トップリング下面を洗浄する洗浄手段
    を有する請求項1に記載の装置。
  4. 【請求項4】定盤の近傍に研磨クロスをブラシ掛けする
    ためのブラッシング機構を有する請求項1に記載の装
    置。
  5. 【請求項5】複数のウエハ−供給カセットのそれぞれよ
    り取り出された各ウエハ−を、トップリング保持部に吊
    下した複数のトップリングの下端面にそれぞれ吸着さ
    せ、各トップリングを下降,回転させて各ウエハ−を定
    盤に貼付した研磨クロスに押圧し、前記研磨クロスにス
    ラリ−を供給しながらウエハ−を研磨クロスに擦り合わ
    せて鏡面加工し、加工終了後、各トップリングを上昇さ
    せ、トップリング保持部を移動させてウエハ−受け取り
    部の洗浄機構でウエハ−を洗浄することを特徴とする多
    連式全自動ウエハ−ポリッシング方法。
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JP3628307B2 (ja) * 1993-09-21 2005-03-09 株式会社東芝 ポリッシング装置及び方法
JP4205263B2 (ja) * 1999-08-09 2009-01-07 株式会社岡本工作機械製作所 自動ラップ装置およびそれを用いる基板の研磨方法
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JP2004063848A (ja) * 2002-07-30 2004-02-26 Lapmaster Sft Corp 半導体ウエハの研磨装置

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