JPH0736770A - Semiconductor memory device - Google Patents
Semiconductor memory deviceInfo
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- JPH0736770A JPH0736770A JP5202873A JP20287393A JPH0736770A JP H0736770 A JPH0736770 A JP H0736770A JP 5202873 A JP5202873 A JP 5202873A JP 20287393 A JP20287393 A JP 20287393A JP H0736770 A JPH0736770 A JP H0736770A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 外部制御ロジック回路であるコントローラの
タイミング設計を非常に容易にした半導体メモリ装置を
提供する。
【構成】 外部からのクロック信号CLKに同期して動
作するメモリ12と、このメモリ12に対してアドレス
信号ADDを出力するとともにデータDATAの読出し
を指示するデータ読出し指示信号CTRLを出力してメ
モリ12との間でデータDATAのやりとりを行うCP
U11と、データ読出し指示信号CTRLに応答してメ
モリ12に対してチップ・イネーブル信号CEN を出力
するコントローラ14とを具備し、チップ・イネーブル
信号CEN が出力されたときにアウトプット・イネーブ
ル信号を生成する回路をメモリ12に内蔵し、メモリ1
2自体でリードデータDATAの出力開始時刻及び出力
終了時刻のタイミング制御を可能とする。
(57) [Summary] [Object] To provide a semiconductor memory device in which the timing design of a controller, which is an external control logic circuit, is very easy. A memory 12 that operates in synchronization with an external clock signal CLK, an address signal ADD that is output to the memory 12, and a data read instruction signal CTRL that instructs reading of data DATA are output to the memory 12. CP that exchanges data DATA with
U11 and a controller 14 that outputs a chip enable signal CE N to the memory 12 in response to a data read instruction signal CTRL, and an output enable signal when the chip enable signal CE N is output. The circuit for generating the
2 itself enables timing control of the output start time and output end time of the read data DATA.
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、半導体メモリ装置に関
し、特に同期型ダイナミックRAMやスタティクRAM
などに用いて好適な半導体メモリ装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor memory device, and more particularly to a synchronous dynamic RAM or static RAM.
The present invention relates to a semiconductor memory device suitable for use in, for example,
【0002】[0002]
【従来の技術】この種の半導体メモリ装置の従来例を図
4に示す。同図において、CPU41は、外部からのク
ロック信号CLKに同期してメモリ42に対してアドレ
ス・バス43を介してアドレス信号ADDを出力すると
ともに、メモリ42からのデータの読出しを指示するデ
ータ読出し指示信号CTRLを出力する。なお、本例で
は、説明の簡単化のために、CPU41に対してメモリ
42が1つ接続されたシステムとして図示したが、実際
には、1つのCPU41に対して複数のメモリやI/O
が接続されることになる。2. Description of the Related Art A conventional example of this type of semiconductor memory device is shown in FIG. In the figure, the CPU 41 outputs an address signal ADD to the memory 42 via the address bus 43 in synchronization with a clock signal CLK from the outside, and a data read instruction for instructing the reading of data from the memory 42. The signal CTRL is output. Note that, in this example, for simplification of description, a system in which one memory 42 is connected to the CPU 41 is illustrated, but in reality, one CPU 41 has a plurality of memories and I / Os.
Will be connected.
【0003】CPU41から出力されたデータ読出し指
示信号CTRLはコントローラ44に供給される。コン
トローラ44は、データ読出し指示信号CTRLに応答
してメモリ42に対してチップ・イネーブル信号CEN
(添字N は、負論理を表わすものとし、以下、同様とす
る)を出力するとともに、外部からのクロック信号CL
Kに基づいてアウトプット・イネーブル信号OEN を出
力する。メモリ42は、コントローラ44からチップ・
イネーブル信号CEN が供給されることによって選択さ
れ、次いでコントローラ44からアウトプット・イネー
ブル信号OEN が出力されると、データ・バス45を介
してCPU41へデータDATAを出力する。The data read instruction signal CTRL output from the CPU 41 is supplied to the controller 44. The controller 44 sends the chip enable signal CE N to the memory 42 in response to the data read instruction signal CTRL.
(The subscript N represents negative logic, and the same applies hereinafter), and the clock signal CL from the outside is output.
The output enable signal OE N is output based on K. The memory 42 is a chip from the controller 44.
When the enable signal CE N is selected and the output enable signal OE N is output from the controller 44, the data DATA is output to the CPU 41 via the data bus 45.
【0004】次に、上記構成の従来装置の動作につき、
図5のタイミングチャートに基づいて説明する。CPU
41は、時刻t1 でメモリ42に対してアドレス信号A
DDを出力するとともに、データ読出し指示信号CTR
Lを出力する。このデータ読出し指示信号CTRLを受
けたコントローラ44は、メモリ42に対するチップ・
イネーブル信号CEN を低レベルにするとともに、クロ
ック信号CLKに基づいてメモリ42がデータDATA
を出力できるまでの時間のカウントを開始する。Next, regarding the operation of the conventional apparatus having the above-mentioned structure,
A description will be given based on the timing chart of FIG. CPU
41 indicates the address signal A to the memory 42 at time t 1.
Outputs DD and outputs data read instruction signal CTR
Output L. The controller 44 receiving the data read instruction signal CTRL
The enable signal CE N is set to low level, and the memory 42 sets the data DATA based on the clock signal CLK.
Start counting the time until it can output.
【0005】コントローラ44は、メモリ42がデータ
を出力できるまで待機し、時刻t2でメモリ42に対す
るアウトプット・イネーブル信号OEN を低レベルにす
る。メモリ42は、アウトプット・イネーブル信号OE
N を受けると、時刻t2 から時間tOE経過後にデータ・
バス45へデータDATAを出力する。また、コントロ
ーラ44は、メモリ42に対して必要な時間だけアウト
プット・イネーブル信号OEN を出力した後、時刻t3
で再びアウトプット・イネーブル信号OEN を高レベル
に戻す。これにより、メモリ42は、時刻t3 から時間
tOHZ 経過後に出力を高インピーダンス状態とする。The controller 44 waits until the memory 42 can output the data, and sets the output enable signal OE N for the memory 42 to the low level at time t 2 . The memory 42 outputs the output enable signal OE.
Upon receiving the N, data from time t 2 to time t OE after
The data DATA is output to the bus 45. The controller 44, after outputting an output enable signal OE N only the necessary time for the memory 42, the time t 3
Then, the output enable signal OE N is returned to the high level again. As a result, the memory 42 puts the output in the high impedance state after the time t OHZ has elapsed from the time t 3 .
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記構
成の従来の半導体メモリ装置では、メモリ42に対して
データDATAの出力を許可するアウトプット・イネー
ブル信号OEN をコントローラ44で生成するようにし
ていたので、システム設計者はCPU41とメモリ42
との組合せによるタイミング関係に基づいてコントロー
ラ44のタイミングを設計する必要があり、コントロー
ラ44のタイミング設計が非常に困難なものとなってい
た。本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、
その目的とするところは、外部制御ロジック回路である
コントローラのタイミング設計を非常に容易にした半導
体メモリ装置を提供することにある。However, in the conventional semiconductor memory device having the above structure, the controller 44 generates the output enable signal OE N for permitting the output of the data DATA to the memory 42. Therefore, the system designer has a CPU 41 and a memory 42.
Since it is necessary to design the timing of the controller 44 based on the timing relationship based on the combination with the above, it is very difficult to design the timing of the controller 44. The present invention has been made in view of the above problems,
It is an object of the present invention to provide a semiconductor memory device in which the timing design of a controller, which is an external control logic circuit, is very easy.
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明による半導体メモリ装置では、外部からのク
ロック信号に同期して動作するメモリと、このメモリに
対してアドレス信号を出力するとともにデータの読出し
を指示するデータ読出し指示信号を出力してメモリとの
間でデータのやりとりを行うCPUと、データ読出し指
示信号に応答してメモリに対してチップ・イネーブル信
号を出力するコントローラとを具備し、メモリはチップ
・イネーブル信号が出力されたときに外部からのクロッ
ク信号に基づいてアウトプット・イネーブル信号を生成
する信号生成回路を内蔵し、このアウトプット・イネー
ブル信号に応じてCPUに対してデータを出力する構成
となっている。To achieve the above object, in a semiconductor memory device according to the present invention, a memory that operates in synchronization with an external clock signal, and an address signal is output to this memory. The CPU includes a CPU that outputs a data read instruction signal for instructing data reading and exchanges data with the memory, and a controller that outputs a chip enable signal to the memory in response to the data read instruction signal. However, the memory has a built-in signal generation circuit that generates an output enable signal based on a clock signal from the outside when the chip enable signal is output, and sends it to the CPU in response to the output enable signal. It is configured to output data.
【0008】[0008]
【作用】上記構成の半導体メモリ装置において、外部か
らのクロック信号に基づいてアウトプット・イネーブル
信号を生成する回路をメモリ内に設けることで、メモリ
自体でリードデータの出力開始時刻及び出力終了時刻の
タイミング制御が可能となる。したがって、メモリを制
御するコントローラではアウトプット・イネーブル信号
を生成しなくても良いため、コントローラを設計するに
当たっては、コントローラのタイミング設計を非常に容
易に実現できる。In the semiconductor memory device having the above structure, by providing a circuit for generating the output enable signal based on the clock signal from the outside in the memory, the output start time and the output end time of the read data can be controlled by the memory itself. Timing control becomes possible. Therefore, the controller that controls the memory does not need to generate the output enable signal, so that the timing design of the controller can be very easily realized when designing the controller.
【0009】[0009]
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細
に説明する。図1は、本発明による半導体メモリ装置の
一実施例を示すシステムブロック図である。図1におい
て、CPU11は、外部からのクロック信号CLKに同
期して動作し、メモリ12に対してアドレス・バス13
を介してアドレス信号ADDを出力するとともに、メモ
リ12からのデータDATAの読出しを指示するデータ
読出し指示信号CTRLを出力する。なお、本実施例で
は、説明の簡単化のために、CPU11に対してメモリ
12が1つ接続されたシステムとして図示したが、実際
には、1つのCPU11に対して複数のメモリやI/O
が接続されるものとする。Embodiments of the present invention will now be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a system block diagram showing an embodiment of a semiconductor memory device according to the present invention. In FIG. 1, the CPU 11 operates in synchronization with a clock signal CLK from the outside, and operates with respect to the memory 12 via an address bus 13
The address signal ADD is output via the same and the data read instruction signal CTRL for instructing the reading of the data DATA from the memory 12 is output. In the present embodiment, for simplification of the description, a system in which one memory 12 is connected to the CPU 11 is shown, but in reality, a plurality of memories and I / Os are provided for one CPU 11.
Shall be connected.
【0010】CPU11から出力されたデータ読出し指
示信号CTRLはコントローラ14に供給される。この
コントローラ14は、外部からのクロック信号CLKに
同期して動作し、メモリ12に対してライト・イネーブ
ル信号WEN を出力するとともに、データ読出し指示信
号CTRLに応答してメモリ12に対してチップ・イネ
ーブル信号CEN を出力する。メモリ12は、外部から
のクロック信号CLKに同期して動作し、コントローラ
14からチップ・イネーブル信号CEN が供給されたと
きにアウトプット・イネーブル信号を生成し、このアウ
トプット・イネーブル信号に応じてデータ・バス15へ
データDATAを出力する構成となっている。The data read instruction signal CTRL output from the CPU 11 is supplied to the controller 14. This controller 14 operates in synchronization with an external clock signal CLK, outputs a write enable signal WE N to the memory 12, and responds to a data read instruction signal CTRL to the chip 12 for the memory 12. The enable signal CE N is output. The memory 12 operates in synchronization with an external clock signal CLK, generates an output enable signal when the chip enable signal CE N is supplied from the controller 14, and responds to the output enable signal in response to the output enable signal. The data DATA is output to the data bus 15.
【0011】図2は、メモリ12の内部回路の一部の回
路構成を示すブロック図である。この内部回路として
は、コントローラ14から出力されたチップ・イネーブ
ル信号CEN が印加されたときにクロック信号CLKに
同期してアウトプット・イネーブル信号oeN を生成す
るアウトプット・イネーブル信号生成回路21と、図示
しないメモリアレイから供給されるデータdataを、
アウトプット・イネーブル信号oeN に応じて出力する
データ出力回路22とが設けられている。アウトプット
・イネーブル信号生成回路21の入力段には、ライト・
イネーブル信号WEN が高レベルの状態でチップ・イネ
ーブル信号CEN が高レベルから低レベルへ遷移する
か、あるいはライト・イネーブル信号WEN 及びチップ
・イネーブル信号CEN が共に低レベルの状態のときに
アドレス信号ADDが遷移するとATDN パルスを発生
するATD(Address Transition Detector) 回路23が
設けられている。FIG. 2 is a block diagram showing a circuit configuration of a part of the internal circuit of the memory 12. The internal circuit includes an output enable signal generation circuit 21 that generates an output enable signal oe N in synchronization with the clock signal CLK when the chip enable signal CE N output from the controller 14 is applied. , Data data supplied from a memory array (not shown),
A data output circuit 22 for outputting in response to the output enable signal oe N is provided. At the input stage of the output enable signal generation circuit 21, a write
When the chip enable signal CE N transits from a high level to a low level while the enable signal WE N is at a high level, or when both the write enable signal WE N and the chip enable signal CE N are at a low level An ATD (Address Transition Detector) circuit 23 that generates an ATD N pulse when the address signal ADD makes a transition is provided.
【0012】ATD回路23から出力されるATDN パ
ルスは、次段のRSフリップフロップ24のS入力とな
る。このRSフリップフロップ24のQ出力q1 は、D
フリップフロップ25のD入力となる。このDフリップ
フロップ25は、外部からのクロック信号CLKをクロ
ック入力としている。Dフリップフロップ25のQ出力
q2 は前段のRSフリップフロップ24のR入力とな
り、そのQN 出力は次段のDフリップフロップ26のD
入力となる。このDフリップフロップ25,26は2ク
ロックのカウンタを構成している。Dフリップフロップ
26は、外部からのクロック信号CLKをクロック入力
とし、そのQN 出力をアウトプット・イネーブル信号o
eN としている。The ATD N pulse output from the ATD circuit 23 becomes the S input of the RS flip-flop 24 in the next stage. The Q output q 1 of this RS flip-flop 24 is D
It becomes the D input of the flip-flop 25. The D flip-flop 25 has a clock signal CLK from the outside as a clock input. The Q output q 2 of the D flip-flop 25 becomes the R input of the RS flip-flop 24 of the previous stage, and its Q N output is the D input of the D flip-flop 26 of the next stage.
It becomes an input. The D flip-flops 25 and 26 form a 2-clock counter. The D flip-flop 26 receives an external clock signal CLK as a clock input, and outputs its Q N output as an output enable signal o.
e N.
【0013】一方、データ出力回路22は、図示しない
メモリアレイから供給されるデータdataをD入力と
しかつアウトプット・イネーブル信号oeN をG入力と
するデータラッチ回路27と、アウトプット・イネーブ
ル信号oeN に同期してデータdataを増幅してデー
タDATAとして外部へ出力する出力バッファ28とか
ら構成されている。出力バッファ28は、データラッチ
回路27のQ出力を一入力とするNANDゲート29
と、同様にデータラッチ回路27のQ出力を一入力とし
かつアウトプット・イネーブル信号oeN を他入力とす
る負論理のNORゲート30と、アウトプット・イネー
ブル信号oeN を反転してNANDゲート29の他入力
とするインバータ31と、電源VDDと接地間に直列接続
されかつNANDゲート29及びNORゲート30の各
出力をゲート入力とするPMOSトランジスタ32及び
NMOSトランジスタ33によって構成されている。On the other hand, the data output circuit 22 has a data latch circuit 27 which receives data data supplied from a memory array (not shown) as a D input and an output enable signal oe N as a G input, and an output enable signal oe. It is composed of an output buffer 28 that amplifies data data in synchronization with N and outputs it as data DATA to the outside. The output buffer 28 has a NAND gate 29 that receives the Q output of the data latch circuit 27 as one input.
Similarly, a negative logic NOR gate 30 having the Q output of the data latch circuit 27 as one input and the output enable signal oe N as the other input, and the NAND gate 29 which inverts the output enable signal oe N And an PMOS transistor 32 and an NMOS transistor 33, which are connected in series between the power supply V DD and the ground and have respective outputs of the NAND gate 29 and the NOR gate 30 as gate inputs.
【0014】次に、上記構成のメモリ12の内部回路の
回路動作につき、図3のタイミングチャートに基づいて
説明する。クロック信号CLKの立上がりの時刻t1 で
アドレス信号ADD及びチップ・イネーブル信号CEN
が遷移すると、ATD回路23からATDN パルスが発
生し、RSフリップフロップ24をセットする。これに
より、RSフリップフロップ24のQ出力q1 が低レベ
ルから高レベルに遷移する。次のクロック信号CLKの
立上がりの時刻t2 でDフリップフロップ25は、RS
フリップフロップ24のQ出力q1 をラッチするととも
に、そのQN 出力によってRSフリップフロップ24を
リセットする。Next, the circuit operation of the internal circuit of the memory 12 having the above structure will be described with reference to the timing chart of FIG. At time t 1 when the clock signal CLK rises, the address signal ADD and the chip enable signal CE N
When the transition occurs, the ATD N pulse is generated from the ATD circuit 23 and the RS flip-flop 24 is set. This causes the Q output q 1 of the RS flip-flop 24 to transition from low level to high level. At time t 2 at the next rising edge of the clock signal CLK, the D flip-flop 25 becomes RS
The Q output q 1 of the flip-flop 24 is latched, and the RS flip-flop 24 is reset by the Q N output.
【0015】同じクロック信号CLKの立下がりの時刻
t3 でDフリップフロップ26は、Dフリップフロップ
25のQ出力q2 をラッチし、それまで高レベルであっ
たアウトプット・イネーブル信号oeN を低レベルとす
る。アウトプット・イネーブル信号oeN が低レベルに
なると、データラッチ回路27はメモリセルからのデー
タdataをラッチし、さらに出力バッファ28がアク
ティブとなってデータラッチ回路27にラッチされてい
るデータを増幅してデータDATAとして外部に出力す
る。次のクロック信号CLKの立上がりの時刻t4 でD
フリップフロップ25はRSフリップフロップ24の低
レベルのQ出力q1 をラッチし、それまで高レベルであ
ったQ出力q2 を低レベルとする。At the falling time t 3 of the same clock signal CLK, the D flip-flop 26 latches the Q output q 2 of the D flip-flop 25 and lowers the output enable signal oe N which has been high level until then. Level. When the output enable signal oe N becomes low level, the data latch circuit 27 latches the data data from the memory cell, and the output buffer 28 becomes active to amplify the data latched in the data latch circuit 27. And output as data DATA to the outside. D at the time t 4 at the rising edge of the next clock signal CLK
The flip-flop 25 latches the low-level Q output q 1 of the RS flip-flop 24 and sets the Q-output q 2 that was high level until then to the low level.
【0016】時刻t5 でクロック信号CLKが立ち下が
ると、Dフリップフロップ26はDフリップフロップ2
5の低レベルのQ出力q2 をラッチし、低レベルであっ
たアウトプット・イネーブル信号oeN を高レベルとす
る。アウトプット・イネーブル信号oeN が高レベルに
なると、データラッチ回路27は、入力データdata
に対してトランスペアレント・モードになると同時に、
出力バッファ28の出力を高インピーダンス状態にする
ので、出力データDATAは高インピーダンスとなる。
時刻t4 で再びアドレス信号ADDが遷移すると、時刻
t1 で開始したのと同じ動作が行われる。When the clock signal CLK falls at time t 5 , the D flip-flop 26 becomes the D flip-flop 2.
The low level Q output q 2 of 5 is latched, and the low level output enable signal oe N is made high. When the output enable signal oe N becomes high level, the data latch circuit 27 causes the input data data to be output.
At the same time, while in transparent mode,
Since the output of the output buffer 28 is in a high impedance state, the output data DATA has a high impedance.
When the address signal ADD transits again at time t 4 , the same operation as that started at time t 1 is performed.
【0017】なお、上記実施例においては、メモリ・リ
ード・サイクルの開始をATD回路23を用いて検出す
る構成としたが、メモリ・リード・サイクルの開始を検
出する方法はこれに限られるものではなく、例えばCP
U11からのバス・コントロール信号(S0 /S1 )等
を使用するようにしても良い。また、上記実施例では、
メモリ・リード・サイクルの開始時刻t1 から1.5ク
ロック後の時刻t3 にデータDATAを出力し、2.5
クロック後の時刻t5にデータDATAを高インピーダ
ンス状態に戻す回路構成を示したが、Dフリップフロッ
プ26のD入力を生成方法を変えることにより、任意の
出力状態を作り出すことが可能である。In the above embodiment, the start of the memory read cycle is detected by using the ATD circuit 23, but the method of detecting the start of the memory read cycle is not limited to this. No, for example CP
The bus control signal (S 0 / S 1 ) or the like from U11 may be used. Further, in the above embodiment,
Data DATA is output at time t 3 1.5 clocks after the start time t 1 of the memory read cycle,
Although the circuit configuration for returning the data DATA to the high impedance state at time t 5 after the clock is shown, it is possible to create an arbitrary output state by changing the generation method of the D input of the D flip-flop 26.
【0018】[0018]
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
外部からのクロック信号に基づいてアウトプット・イネ
ーブル信号を生成する回路をメモリに内蔵し、メモリ自
体でリードデータの出力開始時刻及び出力終了時刻のタ
イミング制御を可能としたことにより、メモリを制御す
るコントローラではアウトプット・イネーブル信号を生
成しなくても良いため、コントローラを設計するに当た
って、コントローラのタイミング設計を非常に容易に実
現できることになる。さらに、外部制御ロジック回路で
あるコントローラそのものの構成を簡略化できる効果も
ある。したがって、本発明による半導体メモリ装置は、
同期型ダイナミックRAMやスタティクRAMなどに用
いて好適なものとなる。As described above, according to the present invention,
The memory is controlled by incorporating a circuit that generates an output enable signal based on an external clock signal into the memory and enabling the timing control of the output start time and output end time of the read data by the memory itself. Since the controller does not need to generate the output enable signal, the timing design of the controller can be realized very easily in designing the controller. Furthermore, there is an effect that the configuration of the controller itself, which is an external control logic circuit, can be simplified. Therefore, the semiconductor memory device according to the present invention is
It is suitable for use in a synchronous dynamic RAM or static RAM.
【図1】本発明による半導体メモリ装置の一実施例を示
すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a semiconductor memory device according to the present invention.
【図2】メモリの内部回路の一部の構成を示すブロック
図である。FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of part of the internal circuit of the memory.
【図3】本発明に係る回路動作の説明に供するタイミン
グチャートである。FIG. 3 is a timing chart provided for explaining a circuit operation according to the present invention.
【図4】半導体メモリ装置の従来例を示すブロック図で
ある。FIG. 4 is a block diagram showing a conventional example of a semiconductor memory device.
【図5】従来例の回路動作の説明に供するタイミングチ
ャートである。FIG. 5 is a timing chart for explaining the circuit operation of the conventional example.
11,41 CPU 12,42 メモリ 13,43 アドレス・バス 14,44 コントローラ 15,45 データ・バス 21 アウトプット・イネーブル信号生成回路 22 データ出力回路 23 ATD回路 24 RSフリップフロップ 25,26 Dフリップフロップ 27 データラッチ回路 28 出力バッファ 11, 41 CPU 12, 42 Memory 13, 43 Address Bus 14, 44 Controller 15, 45 Data Bus 21 Output Enable Signal Generation Circuit 22 Data Output Circuit 23 ATD Circuit 24 RS Flip Flop 25, 26 D Flip Flop 27 Data latch circuit 28 Output buffer
Claims (1)
するメモリと、 前記メモリに対してアドレス信号を出力するとともにデ
ータの読出しを指示するデータ読出し指示信号を出力し
て前記メモリとの間でデータのやりとりを行うCPU
と、 前記データ読出し指示信号に応答して前記メモリに対し
てチップ・イネーブル信号を出力するコントローラとを
具備し、 前記メモリは前記チップ・イネーブル信号が出力された
ときに前記クロック信号に基づいてアウトプット・イネ
ーブル信号を生成する信号生成回路を内蔵し、前記アウ
トプット・イネーブル信号に応じて前記CPUに対して
データを出力することを特徴とする半導体メモリ装置。1. A memory which operates in synchronization with a clock signal from the outside, and outputs a data read instruction signal for outputting an address signal to the memory and instructing data reading, to and from the memory. CPU that exchanges data
And a controller that outputs a chip enable signal to the memory in response to the data read instruction signal, wherein the memory outputs the chip enable signal based on the clock signal when the chip enable signal is output. A semiconductor memory device comprising a signal generation circuit for generating a switch enable signal and outputting data to the CPU according to the output enable signal.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5202873A JPH0736770A (en) | 1993-07-23 | 1993-07-23 | Semiconductor memory device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5202873A JPH0736770A (en) | 1993-07-23 | 1993-07-23 | Semiconductor memory device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0736770A true JPH0736770A (en) | 1995-02-07 |
Family
ID=16464615
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5202873A Pending JPH0736770A (en) | 1993-07-23 | 1993-07-23 | Semiconductor memory device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0736770A (en) |
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| CN117544160A (en) * | 2023-10-20 | 2024-02-09 | 深圳市高川自动化技术有限公司 | Latch circuit and latch system |
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1993
- 1993-07-23 JP JP5202873A patent/JPH0736770A/en active Pending
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