JPH073707B2 - 光磁気記録媒体 - Google Patents
光磁気記録媒体Info
- Publication number
- JPH073707B2 JPH073707B2 JP27947389A JP27947389A JPH073707B2 JP H073707 B2 JPH073707 B2 JP H073707B2 JP 27947389 A JP27947389 A JP 27947389A JP 27947389 A JP27947389 A JP 27947389A JP H073707 B2 JPH073707 B2 JP H073707B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magneto
- recording medium
- film
- optical recording
- dielectric layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は光磁気記録媒体、特には化学的安定性にすぐれ
ており、カー回転角が大きく、光透過性がすぐれていて
C/Nもよく、記録密度の向上をはかることができる光磁
気記録媒体に関するものである。
ており、カー回転角が大きく、光透過性がすぐれていて
C/Nもよく、記録密度の向上をはかることができる光磁
気記録媒体に関するものである。
［従来の技術］ 近年、情報化社会の進展に伴なって書換可能な光磁気メ
モリが注目を集めており、この光磁気メモリ用磁性膜と
してTbFeCoなどの希土類元素−遷移金属元素膜が用いら
れているが、このものは得られるカー回転角があまり大
きくないためにこれには再生信号のC/Nが十分でないと
いう欠点がある。
モリが注目を集めており、この光磁気メモリ用磁性膜と
してTbFeCoなどの希土類元素−遷移金属元素膜が用いら
れているが、このものは得られるカー回転角があまり大
きくないためにこれには再生信号のC/Nが十分でないと
いう欠点がある。
［発明が解決しようとする課題］ そのため、この種の光磁気記録媒体については従来公知
の非晶質磁性体膜の表面にSiO,SiN,AlNなどの誘電体層
（膜）を形成し、その膜厚をλ/4n（λはレーザー波
長、ｎは屈折率）とすることによって見かけのカー回転
角を増大させ、C/Nを大きくする（エンハンス効果）こ
とが行なわれているが、これによる特性向上はまだ不十
分であり、この誘電体層についてはさらに高屈折率で透
明性のよいものが求められている。
の非晶質磁性体膜の表面にSiO,SiN,AlNなどの誘電体層
（膜）を形成し、その膜厚をλ/4n（λはレーザー波
長、ｎは屈折率）とすることによって見かけのカー回転
角を増大させ、C/Nを大きくする（エンハンス効果）こ
とが行なわれているが、これによる特性向上はまだ不十
分であり、この誘電体層についてはさらに高屈折率で透
明性のよいものが求められている。
また、ここに使用されている非晶質磁性体膜は希土類金
属を含んでいるが、この希土類金属が極めて酸化され易
いものであるために、これには高温高湿下で簡単に磁気
特性が劣化するという難点があり、上記の誘電体層に保
護膜としての役割を負わせるという提案もあるが、SiO
などの酸化物では逆に希土類元素がSiO中のＯと酸化反
応を起こしてしまうためにその効果は十分なものではな
いし、SiN,AlNなどの窒化物には、このような反応性が
小さいので耐蝕性向上という目的には適しているもの
の、これには樹脂基板などに成膜するときにクラックが
生じ易く、機械的強度に問題がある。
属を含んでいるが、この希土類金属が極めて酸化され易
いものであるために、これには高温高湿下で簡単に磁気
特性が劣化するという難点があり、上記の誘電体層に保
護膜としての役割を負わせるという提案もあるが、SiO
などの酸化物では逆に希土類元素がSiO中のＯと酸化反
応を起こしてしまうためにその効果は十分なものではな
いし、SiN,AlNなどの窒化物には、このような反応性が
小さいので耐蝕性向上という目的には適しているもの
の、これには樹脂基板などに成膜するときにクラックが
生じ易く、機械的強度に問題がある。
なお、この誘電体膜についてはBNを使用することも提案
されており［M.Asano et al,IEEE.Trans.Magn.MAG-23,2
620,（1987）参照］、これは屈折率が大きく、透明であ
り、誘電体膜としての特性もすぐれているが、これには
スパッタリング法で成膜しても完全なアモルファス状態
で形成することが難しく、組成が不均一で表面に凹凸が
生じてしまい、耐久性の点に問題がある。
されており［M.Asano et al,IEEE.Trans.Magn.MAG-23,2
620,（1987）参照］、これは屈折率が大きく、透明であ
り、誘電体膜としての特性もすぐれているが、これには
スパッタリング法で成膜しても完全なアモルファス状態
で形成することが難しく、組成が不均一で表面に凹凸が
生じてしまい、耐久性の点に問題がある。
［課題を解決するための手段］ 本発明はこのような課題を解決することのできる光磁気
記録媒体に関するもので、これは光の入射側に置かれる
透明基板上に、誘電体層、磁性膜、反射膜を設けてなる
光磁気記録媒体において、誘電体層がＨを含むBNからな
る非晶質材料から作られることを特徴とするものであ
る。
記録媒体に関するもので、これは光の入射側に置かれる
透明基板上に、誘電体層、磁性膜、反射膜を設けてなる
光磁気記録媒体において、誘電体層がＨを含むBNからな
る非晶質材料から作られることを特徴とするものであ
る。
すなわち、本発明者らはカー回転角が大きく、光透過性
がすぐれていてC/Nもよく、記録密度も向上した光磁気
記録媒体を開発すべく種々検討した結果、基体上に設け
られる誘電体層をＨを含むBNからなる非晶質材料（以下
アモルファスBN:H膜材料と略記する）で作ると、１）こ
の膜材料がＨを含んでいるので、Ｈを含まないアモルフ
ァスBN膜にくらべてアモルファスになり易く、組成が均
一で表面の平滑な膜を得ることができる、２）従来用い
られてきたSiO,SiN,AlNなどが屈折率1.4〜1.8であるの
に比べて、このアモルファスBN:H膜は屈折率が1.75〜2.
15であるために、大きなエンハンス効果をもっており、
これはまた光透過性がよく、特に可視〜赤外領域で極め
て高い透過性を有するので、C/Nの大きな光磁気記録媒
体を与える、３）アモルファスBN:H膜は熱伝導性が小さ
いために照射するレーザーの熱拡散が小さく、記録ビッ
ト径の広がりを抑えることができるので、記録密度の向
上をはかることができる、４）従来の保護膜にくらべて
耐久性、機械的強度の面ですぐれているので、磁性膜の
保護が図れるという効果の得られることを見出し、この
アモルファスBN:H膜の形成方法などについての研究を行
なって本発明を完成させた。
がすぐれていてC/Nもよく、記録密度も向上した光磁気
記録媒体を開発すべく種々検討した結果、基体上に設け
られる誘電体層をＨを含むBNからなる非晶質材料（以下
アモルファスBN:H膜材料と略記する）で作ると、１）こ
の膜材料がＨを含んでいるので、Ｈを含まないアモルフ
ァスBN膜にくらべてアモルファスになり易く、組成が均
一で表面の平滑な膜を得ることができる、２）従来用い
られてきたSiO,SiN,AlNなどが屈折率1.4〜1.8であるの
に比べて、このアモルファスBN:H膜は屈折率が1.75〜2.
15であるために、大きなエンハンス効果をもっており、
これはまた光透過性がよく、特に可視〜赤外領域で極め
て高い透過性を有するので、C/Nの大きな光磁気記録媒
体を与える、３）アモルファスBN:H膜は熱伝導性が小さ
いために照射するレーザーの熱拡散が小さく、記録ビッ
ト径の広がりを抑えることができるので、記録密度の向
上をはかることができる、４）従来の保護膜にくらべて
耐久性、機械的強度の面ですぐれているので、磁性膜の
保護が図れるという効果の得られることを見出し、この
アモルファスBN:H膜の形成方法などについての研究を行
なって本発明を完成させた。
以下にこれをさらに詳述する。
［作 用］ 本発明の光磁気記録媒体は透明基板上に誘電体層、磁性
膜、反射膜を設けてなる光磁気記録媒体における誘電体
層をアモルファスBN:H膜としたものである。
膜、反射膜を設けてなる光磁気記録媒体における誘電体
層をアモルファスBN:H膜としたものである。
この光磁気記録媒体の構成は公知のものであり、これは
例えば第１図に示したように、トラッキング用ガイドグ
ループが形成されたガラス、石英ガラス、ポリカーボネ
ート樹脂、ポリメチルメタクリレート樹脂などからなる
透明基板１の上に誘電体膜２、磁性膜３、誘電体膜２と
同質の誘電体膜４および反射膜５を順次積層されたもの
であり、これは第２図に示したように透明基板７の上に
誘電体膜８、磁性膜９、誘電体膜10を順次積層した３層
構造のものであってもよく、これらにおいてはこの透明
基板1,7の光の入射側から光6,11が入射すると光６は反
射膜５で反射され、磁性膜の膜厚を厚くした第２図のも
のでは入射光11は磁性膜９で反射される。
例えば第１図に示したように、トラッキング用ガイドグ
ループが形成されたガラス、石英ガラス、ポリカーボネ
ート樹脂、ポリメチルメタクリレート樹脂などからなる
透明基板１の上に誘電体膜２、磁性膜３、誘電体膜２と
同質の誘電体膜４および反射膜５を順次積層されたもの
であり、これは第２図に示したように透明基板７の上に
誘電体膜８、磁性膜９、誘電体膜10を順次積層した３層
構造のものであってもよく、これらにおいてはこの透明
基板1,7の光の入射側から光6,11が入射すると光６は反
射膜５で反射され、磁性膜の膜厚を厚くした第２図のも
のでは入射光11は磁性膜９で反射される。
本発明の光磁気記録媒体ではこの誘電体膜2,8および／
または4,10が前記したアモルファスBN:H膜で形成される
のであるが、この誘電体膜の形成は三塩化ほう素（BC
l3）、三フッ化ほう素（BF3）のようなハロゲン化ほう
素やジボラン（B2H6）のような水素化ほう素からなるほ
う素源とアンモニア（NH3）やアミン類などのような含
窒素ガスからなる窒素源を反応装置中に導入し、化学気
相蒸着法（以下CVD法と略記する。）で行えばよいが、
このCVD法については真空装置内に反応ガスを導入し、
プラズマ励起してこれを分解させ、基板上に膜を形成さ
せるプラズマCVD法とすれば400℃以下の低温下でも成膜
が可能となるので、耐熱性で問題となる樹脂基板の場合
に有利性が与えられる。なお、この場合上記したほう素
源、窒素源がいずれも水素原子を有しないものである場
合にはH2ガスまたは含水素ガスを第４成分として併用す
る必要があるが、原料ガスの入手性および取扱いの容易
さからこの原料ガスはB2H6とNH3とすることが好まし
い。
または4,10が前記したアモルファスBN:H膜で形成される
のであるが、この誘電体膜の形成は三塩化ほう素（BC
l3）、三フッ化ほう素（BF3）のようなハロゲン化ほう
素やジボラン（B2H6）のような水素化ほう素からなるほ
う素源とアンモニア（NH3）やアミン類などのような含
窒素ガスからなる窒素源を反応装置中に導入し、化学気
相蒸着法（以下CVD法と略記する。）で行えばよいが、
このCVD法については真空装置内に反応ガスを導入し、
プラズマ励起してこれを分解させ、基板上に膜を形成さ
せるプラズマCVD法とすれば400℃以下の低温下でも成膜
が可能となるので、耐熱性で問題となる樹脂基板の場合
に有利性が与えられる。なお、この場合上記したほう素
源、窒素源がいずれも水素原子を有しないものである場
合にはH2ガスまたは含水素ガスを第４成分として併用す
る必要があるが、原料ガスの入手性および取扱いの容易
さからこの原料ガスはB2H6とNH3とすることが好まし
い。
また、この誘電体膜の形成はスパッタリング法で行なう
こともでき、この場合にはBNまたはＢをターゲットと
し、真空装置内をAr-H2またはAr-H2-N2などの混合ガス
雰囲気とし、これに高周波を印加して反応スパッタリン
グによって基板に誘電体膜を形成させればよい。
こともでき、この場合にはBNまたはＢをターゲットと
し、真空装置内をAr-H2またはAr-H2-N2などの混合ガス
雰囲気とし、これに高周波を印加して反応スパッタリン
グによって基板に誘電体膜を形成させればよい。
このようにして得た誘電体膜はアモルファスBNとＨから
なる厚さ500〜1,000Åのものとされるが、この各元素の
組成比に特に制限はない。しかし、このものは屈折率が
1.75未満では媒体表面での光の多重反射によるθＫの見
かけ上の増大（エンハンス効果）が期待できず、逆に2.
15より大きくしようとすると膜質が低下し、機械的強度
や耐久性に悪影響が及ぼされるので、屈折率（ｎ）が1.
75〜2.15のものとすることが望ましいが、この組成は重
量比でほう素元素100に対して窒素元素が10〜30、水素
原子が５〜15の範囲のものとすることが好ましく、これ
は成膜条件によって各元素の組成比を調節して成膜させ
ればよい。
なる厚さ500〜1,000Åのものとされるが、この各元素の
組成比に特に制限はない。しかし、このものは屈折率が
1.75未満では媒体表面での光の多重反射によるθＫの見
かけ上の増大（エンハンス効果）が期待できず、逆に2.
15より大きくしようとすると膜質が低下し、機械的強度
や耐久性に悪影響が及ぼされるので、屈折率（ｎ）が1.
75〜2.15のものとすることが望ましいが、この組成は重
量比でほう素元素100に対して窒素元素が10〜30、水素
原子が５〜15の範囲のものとすることが好ましく、これ
は成膜条件によって各元素の組成比を調節して成膜させ
ればよい。
なお、本発明の光磁気記録媒体は基体上に成膜されたこ
の誘電体層の上に磁性膜と反射膜を形成するのである
が、これらはいずれも公知のものでよく、この磁性膜は
希土類元素−遷移金属元素膜からなるもの、したがって
Tb,Dy,Gd,Ndなどの希土類元素とFe,Co,Niなどの遷移金
属元素からなる、例えばTbFe,TbFeCo,GdTbFe,GdDyFeCo
などからなる非晶質金属膜を第１図の構造のものでは20
0〜500Å、第２図の構造のものでは800〜1,000Å程度の
厚さでスパッタリング法で形成すればよく、この反射層
はAl,Cu,Au,Agなどの金属膜を厚さ200〜1,000Å程度で
設ければよい。
の誘電体層の上に磁性膜と反射膜を形成するのである
が、これらはいずれも公知のものでよく、この磁性膜は
希土類元素−遷移金属元素膜からなるもの、したがって
Tb,Dy,Gd,Ndなどの希土類元素とFe,Co,Niなどの遷移金
属元素からなる、例えばTbFe,TbFeCo,GdTbFe,GdDyFeCo
などからなる非晶質金属膜を第１図の構造のものでは20
0〜500Å、第２図の構造のものでは800〜1,000Å程度の
厚さでスパッタリング法で形成すればよく、この反射層
はAl,Cu,Au,Agなどの金属膜を厚さ200〜1,000Å程度で
設ければよい。
［実施例］ つぎに本発明の実施例，比較例をあげる。
実施例１〜4,比較例１〜２ プラズマCVD装置にガラス基板をセットして100℃に加熱
し、装置内に第１表に示したモル比のB2H6,NH3のガスを
導入し、装置内の圧力を2.5トールに保持し200Wの高周
波を印加してプラズマCVD法で基板上にアモルファスBN:
H膜を成膜させ、この膜のB,Nの組成比をESCA,AESで、ま
たＨの分析をRBS,HFSで測定すると共に、この膜の屈折
率、透過率を測定したところ第１表に示したとおりの結
果が得られた（実施例１〜３）。
し、装置内に第１表に示したモル比のB2H6,NH3のガスを
導入し、装置内の圧力を2.5トールに保持し200Wの高周
波を印加してプラズマCVD法で基板上にアモルファスBN:
H膜を成膜させ、この膜のB,Nの組成比をESCA,AESで、ま
たＨの分析をRBS,HFSで測定すると共に、この膜の屈折
率、透過率を測定したところ第１表に示したとおりの結
果が得られた（実施例１〜３）。
また、このアモルファスBN:H膜の形成についてはスパッ
タリング法で行なうこととし、真空装置内にガラス基板
とターゲットとしてのBNを入れ、装置内をArガス80％、
H2ガス５％、N2ガス15％からなる混合ガス雰囲気とし、
圧力を10×10-3トールとしてここに出力300Wの高周波を
印加してスパッタリングによって基板上にアモルファス
BN:H膜を形成させ、この膜の組成、屈折率および透過率
をしらべたところ、第１表に併記したとおりの結果が得
られた（実施例４）が、比較のためにこのスパッタリン
グ法でＨを含まないをBNまたはSiO膜を作成したとこ
ろ、得られた誘電膜の屈折率，透過率は第１表に併記し
たように実施例４のものにくらべて劣るものであった。
タリング法で行なうこととし、真空装置内にガラス基板
とターゲットとしてのBNを入れ、装置内をArガス80％、
H2ガス５％、N2ガス15％からなる混合ガス雰囲気とし、
圧力を10×10-3トールとしてここに出力300Wの高周波を
印加してスパッタリングによって基板上にアモルファス
BN:H膜を形成させ、この膜の組成、屈折率および透過率
をしらべたところ、第１表に併記したとおりの結果が得
られた（実施例４）が、比較のためにこのスパッタリン
グ法でＨを含まないをBNまたはSiO膜を作成したとこ
ろ、得られた誘電膜の屈折率，透過率は第１表に併記し
たように実施例４のものにくらべて劣るものであった。
つぎにこの実施例１で得たアモルファスBN:H膜の上にAr
ガス圧７×10-3トール、高周波出力300Wという条件で厚
さ200ÅのTbFe磁性膜を形成させ、この上に上記と同じ
プラズマCVD法でアモルファスBN:H膜を成膜させ、さら
にこの上に厚さ400Åのアルミニウム反射膜を上記した
磁性膜形成と同じ条件のスパッタリング法で形成して光
磁気記録媒体を作り、この誘電体膜の膜厚を変化させた
ときの波長633nmのレーザーに対するカー回転角の変化
をしらべたところ、第３図に示したとおりの結果が得ら
れ、またこのものの耐久性をしらべるために85℃,85％R
Hの条件下での保持時間と保磁力との関係をしらべたと
ころ、第４図に示したとおりの結果が得られた。
ガス圧７×10-3トール、高周波出力300Wという条件で厚
さ200ÅのTbFe磁性膜を形成させ、この上に上記と同じ
プラズマCVD法でアモルファスBN:H膜を成膜させ、さら
にこの上に厚さ400Åのアルミニウム反射膜を上記した
磁性膜形成と同じ条件のスパッタリング法で形成して光
磁気記録媒体を作り、この誘電体膜の膜厚を変化させた
ときの波長633nmのレーザーに対するカー回転角の変化
をしらべたところ、第３図に示したとおりの結果が得ら
れ、またこのものの耐久性をしらべるために85℃,85％R
Hの条件下での保持時間と保磁力との関係をしらべたと
ころ、第４図に示したとおりの結果が得られた。
なお、この実験については比較のためにこの誘電体層を
Ｈを含まないBNまたはSiOで形成したものについても行
なったところ、第３図、第４図に併記したとおりの結果
が得られ、実施例１のものは膜厚ｄがｄ＝λ/4nである8
0nm付近でθＫが最大値2.0となるので十分なエンハンス
効果のあることが示されているが、BN,SiOではこれに劣
り、さらに実施例１のものは500時間経過後も保磁力が
殆んど低下しないのに対し、BN,SiOではこれがかなり低
下することが確認された。
Ｈを含まないBNまたはSiOで形成したものについても行
なったところ、第３図、第４図に併記したとおりの結果
が得られ、実施例１のものは膜厚ｄがｄ＝λ/4nである8
0nm付近でθＫが最大値2.0となるので十分なエンハンス
効果のあることが示されているが、BN,SiOではこれに劣
り、さらに実施例１のものは500時間経過後も保磁力が
殆んど低下しないのに対し、BN,SiOではこれがかなり低
下することが確認された。
［発明の効果］ 本発明は光磁気記録媒体に関するもので、これは前記し
たように基板に誘電体膜、磁性膜、反射膜を設けた光磁
気記録媒体において、この誘電体をＨを含むBNからなる
非晶質材料とするというものであり、これによればこの
誘電体膜が屈折率1.75〜2.15のものとなるので大きなエ
ンハンス効果をもつものとなり、カー回転角の増大がは
かれるし、これは透過性がすぐれているのでC/Nが増大
されるほか、この非晶質膜はＨを含んでいるので膜面が
平滑なものとなり、熱伝導度が小さいのでレーザーの熱
拡散が小さくなって記録ビットの径の広がりが抑えられ
るので記録密度が向上されるという有利性が与えられ
る。
たように基板に誘電体膜、磁性膜、反射膜を設けた光磁
気記録媒体において、この誘電体をＨを含むBNからなる
非晶質材料とするというものであり、これによればこの
誘電体膜が屈折率1.75〜2.15のものとなるので大きなエ
ンハンス効果をもつものとなり、カー回転角の増大がは
かれるし、これは透過性がすぐれているのでC/Nが増大
されるほか、この非晶質膜はＨを含んでいるので膜面が
平滑なものとなり、熱伝導度が小さいのでレーザーの熱
拡散が小さくなって記録ビットの径の広がりが抑えられ
るので記録密度が向上されるという有利性が与えられ
る。
第１図、第２図は光磁気記録媒体の構成図、第３図は実
施例、比較例における誘電体膜の膜厚とカー回転角との
関係グラフ、第４図は実施例、比較例における保持時間
と保磁力との関係グラフを示したものである。 図中の符号： 1,7……透明基板 2,4,8,10……誘電体膜（層） 3,9……磁性膜 ５……反射膜
施例、比較例における誘電体膜の膜厚とカー回転角との
関係グラフ、第４図は実施例、比較例における保持時間
と保磁力との関係グラフを示したものである。 図中の符号： 1,7……透明基板 2,4,8,10……誘電体膜（層） 3,9……磁性膜 ５……反射膜
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 野村 忠雄 神奈川県川崎市高津区坂戸100―１ 信越 化学工業株式会社コーポレートリサーチセ ンター内 (72)発明者 清水 佳昌 神奈川県川崎市高津区坂戸100―１ 信越 化学工業株式会社コーポレートリサーチセ ンター内 (72)発明者 久保田 芳宏 群馬県安中市磯部２丁目13番１号 信越化 学工業株式会社精密機能材料研究所内 (72)発明者 樫田 周 群馬県安中市磯部２丁目13番１号 信越化 学工業株式会社精密機能材料研究所内 (56)参考文献 特開 昭63−18546（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−67750（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−39955（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−191449（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−105744（ＪＰ，Ａ)
Claims (7)
- 【請求項１】光の入射側に置かれる透明基板上に、誘電
体層、磁性膜、反射膜を設けて成る光磁気記録媒体にお
いて、誘電体層がＨを含むBNからなる非晶質材料で作ら
れることを特徴とする光磁気記録媒体。 - 【請求項２】非晶質材料が重量組成比でB:N:Hが100:10
〜30:5〜15からなるものとされる請求項１に記載の光磁
気記録媒体。 - 【請求項３】非晶質材料が屈折率（ｎ）＝1.75〜2.15の
ものとされる請求項１に記載の光磁気記録媒体。 - 【請求項４】誘電体層がプラズマCVD法またはスパッタ
リング法によって形成される請求項１に記載の光磁気記
録媒体。 - 【請求項５】誘電体層がアンモニアとジボランを原料と
するプラズマCVD法で形成される請求項１に記載の光磁
気記録媒体。 - 【請求項６】誘電体層がBNをターゲットとし、Ar-H2混
合ガス雰囲気下またはAr-N2-H2混合ガス雰囲気下でのス
パッタリング法によって形成される請求項１に記載の光
磁気記録媒体。 - 【請求項７】誘電体層がＢをターゲットとし、Ar-N2-H2
混合ガス雰囲気下でのスパッタリング法で形成される請
求項１に記載の光磁気記録媒体。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27947389A JPH073707B2 (ja) | 1989-10-26 | 1989-10-26 | 光磁気記録媒体 |
| DE69016171T DE69016171T2 (de) | 1989-10-26 | 1990-10-23 | Magnetooptisches Aufzeichnungsmedium. |
| EP90120313A EP0427982B1 (en) | 1989-10-26 | 1990-10-23 | Magneto-optical recording medium |
| US07/601,659 US5118573A (en) | 1989-10-26 | 1990-10-25 | Magneto-optical recording medium |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27947389A JPH073707B2 (ja) | 1989-10-26 | 1989-10-26 | 光磁気記録媒体 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03141058A JPH03141058A (ja) | 1991-06-17 |
| JPH073707B2 true JPH073707B2 (ja) | 1995-01-18 |
Family
ID=17611549
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27947389A Expired - Lifetime JPH073707B2 (ja) | 1989-10-26 | 1989-10-26 | 光磁気記録媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH073707B2 (ja) |
-
1989
- 1989-10-26 JP JP27947389A patent/JPH073707B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03141058A (ja) | 1991-06-17 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0684601A1 (en) | Optical recording medium | |
| JPH0481817B2 (ja) | ||
| JP2551403B2 (ja) | 光磁気記録素子 | |
| EP0391423A2 (en) | Optical recording medium and method of making same | |
| JPH03187039A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
| JPH073707B2 (ja) | 光磁気記録媒体 | |
| EP0388852B1 (en) | Magneto-optical recording medium and process for production of the same | |
| JPH073708B2 (ja) | 光磁気記録媒体 | |
| JP2593206B2 (ja) | 光記録媒体 | |
| JPS62175949A (ja) | 複合酸化物で保護された光磁気記録媒体 | |
| GB2158281A (en) | Optical recording medium | |
| JPH073706B2 (ja) | 光磁気記録媒体 | |
| JPH0828002B2 (ja) | 光磁気記録媒体 | |
| JPH0469833A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
| JPS6132242A (ja) | 光熱磁気記録媒体 | |
| JPS62289948A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
| EP0372517A2 (en) | Magneto-optical recording medium and process for production of the same | |
| JPH04263143A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
| JP2583255B2 (ja) | 光磁気記録媒体 | |
| JPH0461045A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
| JPS6371959A (ja) | 光磁気記録媒体の製造方法 | |
| JPS61196447A (ja) | 光磁気記録素子 | |
| JP3030713B2 (ja) | 光磁気記録媒体およびその製造方法 | |
| JPS61278061A (ja) | 光磁気記録媒体 | |
| JPH04113533A (ja) | 光磁気記録媒体 |