JPH0738027A - Resin-sealed semiconductor device - Google Patents

Resin-sealed semiconductor device

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Publication number
JPH0738027A
JPH0738027A JP5155934A JP15593493A JPH0738027A JP H0738027 A JPH0738027 A JP H0738027A JP 5155934 A JP5155934 A JP 5155934A JP 15593493 A JP15593493 A JP 15593493A JP H0738027 A JPH0738027 A JP H0738027A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
semiconductor chip
recess
semiconductor device
metal substrate
Prior art date
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Pending
Application number
JP5155934A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toshihiro Arai
利浩 新井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Electric Co Ltd filed Critical Fuji Electric Co Ltd
Priority to JP5155934A priority Critical patent/JPH0738027A/en
Publication of JPH0738027A publication Critical patent/JPH0738027A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/50Bond wires
    • H10W72/541Dispositions of bond wires
    • H10W72/5449Dispositions of bond wires not being orthogonal to a side surface of the chip, e.g. fan-out arrangements
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W90/00Package configurations
    • H10W90/701Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
    • H10W90/731Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of die-attach connectors
    • H10W90/736Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of die-attach connectors between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
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  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】組立ての際に半導体チップの表面全域をジャン
クション・コーティング・レジンで確実に覆うことがで
きるようにした信頼性の高い樹脂封止型半導体装置を提
供する。 【構成】金属基板上に半導体チップをマウントし、それ
全体をモールド樹脂で封止した樹脂封止型半導体装置に
おいて、金属基板であるリードフレーム1のダイパッド
2の上面にあらかじめ半導体チップ4が没入する深さの
凹所2aを形成した上で、該凹所内に半導体チップをマ
ウントするとともに、凹所を満たすように流動性を付与
したジャンクション・コーティング・レジンを充填して
半導体チップの表面をコーティングする。
(57) [Abstract] [Purpose] To provide a highly reliable resin-encapsulated semiconductor device capable of surely covering the entire surface of a semiconductor chip with a junction coating resin during assembly. [Structure] In a resin-sealed semiconductor device in which a semiconductor chip is mounted on a metal substrate and is wholly sealed with a molding resin, a semiconductor chip 4 is previously immersed on the upper surface of a die pad 2 of a lead frame 1 which is a metal substrate. After forming the recess 2a having a depth, the semiconductor chip is mounted in the recess, and the surface of the semiconductor chip is coated by filling the junction coating resin with fluidity so as to fill the recess. .

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、金属基板上に半導体チ
ップをマウントし、それ全体を成形樹脂で封止した樹脂
封止型半導体装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a resin-encapsulated semiconductor device in which a semiconductor chip is mounted on a metal substrate and the whole is encapsulated with a molding resin.

【0002】[0002]

【従来の技術】頭記した樹脂封止型半導体装置の信頼
性、特に半導体チップに対する耐湿性の向上化を図るた
めに、最近ではモールド樹脂で成形する前の段階で金属
基板上にマウントされた半導体チップの表面を耐湿性の
高いコーティング剤で覆うことが実施されており、この
コーティング剤としては例えばポリイミド系樹脂のジャ
ンクション・コーティング・レジンが知られている。こ
のジャンクション・コーティング・レジンは溶剤を加え
て流動性を付与した状態でディスペンサにより半導体チ
ップの上にポッティングし、チップの表面をコーティン
グするようにしている。なお、このレジンはコーティン
グ後に乾燥して硬化させる。
2. Description of the Related Art Recently, in order to improve the reliability of the above-mentioned resin-encapsulated semiconductor device, in particular, the moisture resistance of a semiconductor chip, it has recently been mounted on a metal substrate before molding with a molding resin. It has been practiced to cover the surface of the semiconductor chip with a coating agent having high moisture resistance, and as the coating agent, for example, a polyimide resin junction coating resin is known. In this junction coating resin, a surface of the chip is coated by potting it onto a semiconductor chip with a dispenser in a state where a fluid is added by adding a solvent. The resin is dried and cured after coating.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところで、前記のよう
に半導体チップの表面をジャンクション・コーティング
・レジンで覆う場合に、レジンの粘度が適正でないとチ
ップ表面を完全にコーティングすることが極めて困難と
なる。すなわち、ジャンクション・コーティング・レジ
ンの粘度が低過ぎるとポッティングの際にレジンの一部
が半導体チップの周囲に流れ出してしまい、チップの外
周縁,特にコーナー部にはレジンが残らなくなる。逆に
粘度が高過ぎる場合には流動性が不足してレジンがチッ
プの中央面域に固まってしまい、前記と同様にチップの
周域がレジンで覆われなくなる。
By the way, when the surface of the semiconductor chip is covered with the junction coating resin as described above, it becomes extremely difficult to completely coat the surface of the chip unless the viscosity of the resin is appropriate. . That is, if the viscosity of the junction coating resin is too low, a part of the resin flows out around the semiconductor chip during potting, and the resin does not remain on the outer peripheral edge of the chip, especially at the corners. On the contrary, when the viscosity is too high, the fluidity is insufficient and the resin is solidified in the central surface area of the chip, and the peripheral area of the chip is not covered with the resin as in the above.

【0004】しかも、コーティング剤としては信頼性の
高いジャンクション・コーティング・レジンを使用して
も、レジンの粘度の相違で半導体チップの表面が完全に
覆われてないと、高湿度の雰囲気で使用した際に外部か
らパッケージ内に侵入した湿気が半導体チップに達して
特性を劣化させるなど、半導体製品の信頼性が低下す
る。
Moreover, even if a highly reliable junction coating resin is used as the coating agent, if the surface of the semiconductor chip is not completely covered by the difference in the viscosity of the resin, it is used in a high humidity atmosphere. At this time, the moisture that has entered the package from the outside reaches the semiconductor chip and deteriorates the characteristics, which lowers the reliability of the semiconductor product.

【0005】本発明は上記の点にかんがみなされたもの
であり、その目的は前記課題を解決し、半導体チップを
マウントする金属基板を改良することにより、半導体チ
ップの表面全域をジャンクション・コーティング・レジ
ンで確実に覆うことができるようにした信頼性の高い樹
脂封止型半導体装置を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above points, and an object thereof is to solve the above problems and improve a metal substrate for mounting a semiconductor chip so that the entire surface of the semiconductor chip is coated with a junction coating resin. It is an object of the present invention to provide a highly reliable resin-sealed semiconductor device that can be surely covered with.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の半導体装置においては、金属基板の上面に
凹所を形成した上で、該凹所内に半導体チップをマウン
トするとともに、半導体チップの上面を覆って凹所内に
流動性のあるジャンクション・コーティング・レジンを
充填するものとする。
To achieve the above object, in a semiconductor device of the present invention, a recess is formed on the upper surface of a metal substrate, and a semiconductor chip is mounted in the recess, and The top surface of the chip shall be covered with a fluid junction coating resin in the recess.

【0007】ここで、前記構成における凹所の深さは、
半導体チップの厚さよりも大に選定するものとする。ま
た、当該半導体装置の組立てにはリードフレームを用
い、そのダイパッドに凹所を形成して実施することがで
きる。
Here, the depth of the recess in the above construction is
It should be selected to be larger than the thickness of the semiconductor chip. The semiconductor device can be assembled by using a lead frame and forming a recess in the die pad.

【0008】[0008]

【作用】上記のように、あらかじめ金属基板に形成した
凹所内に半導体チップをマウントし、この凹所を満たす
ように流動性を付与したジャンクション・コーティング
・レジンをポッティングすることにより、粘度のバラツ
キに関係なく半導体チップの表面全域が完全にレジンで
覆われて耐湿性が向上するようになる。したがって、ジ
ャンクション・コーティング・レジンに関する粘度の条
件が緩和されるので、それだけ工程管理が楽になる。
[Function] As described above, by mounting the semiconductor chip in the recess formed in the metal substrate in advance and potting the junction coating resin which has fluidity so as to fill the recess, the dispersion of the viscosity can be prevented. Regardless of this, the entire surface of the semiconductor chip is completely covered with the resin, and the moisture resistance is improved. Therefore, the viscosity condition for the junction coating resin is relaxed, and the process control becomes easier.

【0009】[0009]

【実施例】以下、本発明の実施例を図1,図2に基づい
て説明する。図において、1はリードフレーム、2はリ
ードフレーム1のダイパッド(金属基板)、3は外部リ
ード、4は半導体チップ、5は半導体チップ4と外部リ
ード3との間を接続したボンディングワイヤ、6はモー
ルド樹脂で成形されたパッケージである。ここで、リー
ドフレーム1のダイパッド2には半導体チップ4が没入
する深さの凹所2aがプレス加工などによりあらかじめ
形成されており、この凹所内に半導体チップ4がマウン
トした上で、さらにこの凹所8を満たして半導体チップ
4の表面を完全に覆うようにジャンクション・コーティ
ング・レジン7が充填されている。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to FIGS. In the figure, 1 is a lead frame, 2 is a die pad (metal substrate) of the lead frame 1, 3 is an external lead, 4 is a semiconductor chip, 5 is a bonding wire connecting between the semiconductor chip 4 and the external lead 3, and 6 is It is a package molded with a molding resin. Here, the die pad 2 of the lead frame 1 is pre-formed with a recess 2a having a depth into which the semiconductor chip 4 is immersed. The semiconductor chip 4 is mounted in this recess and then the recess 2a is further mounted. A junction coating resin 7 is filled so as to fill the place 8 and completely cover the surface of the semiconductor chip 4.

【0010】このジャンクション・コーティング・レジ
ン7は溶剤を加えて適当な流動性を付与しておき、ダイ
パッド2の凹所2a内に半導体チップ4をマウントし、
さらにワイヤ5をボンディングした組立状態で、前記凹
所2aを満たすように上方からポッティングして半導体
チップ4の表面をコーティングする。そして、ジャンク
ション・コーティング・レジン7を乾燥,硬化させた後
に、トランスファ成形法により半導体チップ4の周域に
樹脂パッケージ6を成形して半導体装置を完成する。
A solvent is added to the junction coating resin 7 to impart appropriate fluidity thereto, and the semiconductor chip 4 is mounted in the recess 2a of the die pad 2.
Further, in the assembled state where the wire 5 is bonded, the surface of the semiconductor chip 4 is coated by potting from above so as to fill the recess 2a. Then, after the junction coating resin 7 is dried and cured, the resin package 6 is molded in the peripheral region of the semiconductor chip 4 by the transfer molding method to complete the semiconductor device.

【0011】[0011]

【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、金属
基板に凹所を設けてここに半導体チップをマウントした
上で、この凹所を満たすようにジャンクション・コーテ
ィング・レジンを充填するようにしたので、レジンの粘
度に左右されることなく、半導体チップの表面を確実に
ジャンクション・コーティング・レジンで覆うことがで
き、これにより耐湿性などの面で信頼性の高い半導体装
置を提供できる。また、ジャンクション・コーティング
・レジンの粘度を厳しく規制する必要がないなどの管理
面での有利さも得られる。
As described above, according to the present invention, a recess is formed in a metal substrate, a semiconductor chip is mounted on the recess, and then a junction coating resin is filled so as to fill the recess. Therefore, the surface of the semiconductor chip can be surely covered with the junction coating resin without being influenced by the viscosity of the resin, thereby providing a semiconductor device having high reliability in terms of moisture resistance and the like. In addition, there are advantages in terms of management, such as not having to strictly control the viscosity of the junction coating resin.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施例による半導体装置の平面図FIG. 1 is a plan view of a semiconductor device according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1における矢視X−X断面図FIG. 2 is a sectional view taken along line XX in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 リードフレーム 2 ダイパッド(金属基板) 2a 凹所 4 半導体チップ 6 樹脂パッケージ 7 ジャンクション・コーティング・レジン 1 lead frame 2 die pad (metal substrate) 2a recess 4 semiconductor chip 6 resin package 7 junction coating resin

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】金属基板上に半導体チップをマウントし、
それ全体をモールド樹脂で封止した樹脂封止型半導体装
置において、金属基板の上面に凹所を形成した上で該凹
所内に半導体チップをマウントするとともに、半導体チ
ップの上面を覆って凹所内に流動性を付与したジャンク
ション・コーティング・レジンを充填したことを特徴と
する樹脂封止型半導体装置。
1. A semiconductor chip is mounted on a metal substrate,
In a resin-encapsulated semiconductor device in which the whole is sealed with a mold resin, a recess is formed on the upper surface of a metal substrate, and a semiconductor chip is mounted in the recess, and the upper surface of the semiconductor chip is covered to form a recess. A resin-encapsulated semiconductor device, which is filled with a junction coating resin having fluidity.
【請求項2】請求項1記載の半導体装置において、凹所
の深さが半導体チップの厚さよりも大であることを特徴
とする樹脂封止型半導体装置。
2. The semiconductor device according to claim 1, wherein the depth of the recess is larger than the thickness of the semiconductor chip.
【請求項3】請求項1記載の半導体装置において、金属
基板がリードフレームのダイパッドであることを特徴と
する樹脂封止型半導体装置。
3. The resin-encapsulated semiconductor device according to claim 1, wherein the metal substrate is a die pad of a lead frame.
JP5155934A 1993-06-28 1993-06-28 Resin-sealed semiconductor device Pending JPH0738027A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5155934A JPH0738027A (en) 1993-06-28 1993-06-28 Resin-sealed semiconductor device

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JP5155934A JPH0738027A (en) 1993-06-28 1993-06-28 Resin-sealed semiconductor device

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JPH0738027A true JPH0738027A (en) 1995-02-07

Family

ID=15616711

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JP5155934A Pending JPH0738027A (en) 1993-06-28 1993-06-28 Resin-sealed semiconductor device

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JP (1) JPH0738027A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9422520B2 (en) 2009-12-23 2016-08-23 Eppendorf Ag System and method for generating a tool motion
JP2018174232A (en) * 2017-03-31 2018-11-08 富士電機株式会社 Semiconductor device and manufacturing method
JP2023102810A (en) * 2022-01-13 2023-07-26 新電元工業株式会社 Semiconductor device and semiconductor module

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JP2018174232A (en) * 2017-03-31 2018-11-08 富士電機株式会社 Semiconductor device and manufacturing method
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