JPH0740496B2 - 電極上への導電性粒子の配置方法 - Google Patents
電極上への導電性粒子の配置方法Info
- Publication number
- JPH0740496B2 JPH0740496B2 JP5090489A JP5090489A JPH0740496B2 JP H0740496 B2 JPH0740496 B2 JP H0740496B2 JP 5090489 A JP5090489 A JP 5090489A JP 5090489 A JP5090489 A JP 5090489A JP H0740496 B2 JPH0740496 B2 JP H0740496B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- conductive particles
- resin
- layer
- circuit board
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/20—Bump connectors, e.g. solder bumps or copper pillars; Dummy bumps; Thermal bumps
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/1345—Conductors connecting electrodes to cell terminals
- G02F1/13452—Conductors connecting driver circuitry and terminals of panels
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/22—Secondary treatment of printed circuits
- H05K3/24—Reinforcing of the conductive pattern
- H05K3/245—Reinforcing conductive patterns made by printing techniques or by other techniques for applying conductive pastes, inks or powders; Reinforcing other conductive patterns by such techniques
- H05K3/247—Finish coating of conductors by using conductive pastes, inks or powders
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/321—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits by conductive adhesives
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W74/00—Encapsulations, e.g. protective coatings
- H10W74/01—Manufacture or treatment
- H10W74/012—Manufacture or treatment of encapsulations on active surfaces of flip-chip devices, e.g. forming underfills
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W74/00—Encapsulations, e.g. protective coatings
- H10W74/10—Encapsulations, e.g. protective coatings characterised by their shape or disposition
- H10W74/15—Encapsulations, e.g. protective coatings characterised by their shape or disposition on active surfaces of flip-chip devices, e.g. underfills
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/02—Fillers; Particles; Fibers; Reinforcement materials
- H05K2201/0203—Fillers and particles
- H05K2201/0206—Materials
- H05K2201/0221—Insulating particles having an electrically conductive coating
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/02—Fillers; Particles; Fibers; Reinforcement materials
- H05K2201/0203—Fillers and particles
- H05K2201/0206—Materials
- H05K2201/0233—Deformable particles
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/03—Conductive materials
- H05K2201/0332—Structure of the conductor
- H05K2201/0364—Conductor shape
- H05K2201/0373—Conductors having a fine structure, e.g. providing a plurality of contact points with a structured tool
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/02—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding
- H05K3/06—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding the conductive material being removed chemically or electrolytically, e.g. by photo-etch process
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/10—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
- H05K3/102—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern by bonding of conductive powder, i.e. metallic powder
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/01—Manufacture or treatment
- H10W72/012—Manufacture or treatment of bump connectors, dummy bumps or thermal bumps
- H10W72/01208—Manufacture or treatment of bump connectors, dummy bumps or thermal bumps using permanent auxiliary members, e.g. using solder flow barriers, spacers or alignment marks
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/01—Manufacture or treatment
- H10W72/012—Manufacture or treatment of bump connectors, dummy bumps or thermal bumps
- H10W72/01221—Manufacture or treatment of bump connectors, dummy bumps or thermal bumps using local deposition
- H10W72/01225—Manufacture or treatment of bump connectors, dummy bumps or thermal bumps using local deposition in solid form, e.g. by using a powder or by stud bumping
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/072—Connecting or disconnecting of bump connectors
- H10W72/07231—Techniques
- H10W72/07236—Soldering or alloying
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/20—Bump connectors, e.g. solder bumps or copper pillars; Dummy bumps; Thermal bumps
- H10W72/251—Materials
- H10W72/253—Materials not comprising solid metals or solid metalloids, e.g. polymers or ceramics
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/20—Bump connectors, e.g. solder bumps or copper pillars; Dummy bumps; Thermal bumps
- H10W72/251—Materials
- H10W72/255—Materials of outermost layers of multilayered bumps, e.g. material of a coating
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/30—Die-attach connectors
- H10W72/321—Structures or relative sizes of die-attach connectors
- H10W72/325—Die-attach connectors having a filler embedded in a matrix
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/30—Die-attach connectors
- H10W72/351—Materials of die-attach connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/30—Die-attach connectors
- H10W72/351—Materials of die-attach connectors
- H10W72/352—Materials of die-attach connectors comprising metals or metalloids, e.g. solders
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/30—Die-attach connectors
- H10W72/351—Materials of die-attach connectors
- H10W72/353—Materials of die-attach connectors not comprising solid metals or solid metalloids, e.g. ceramics
- H10W72/354—Materials of die-attach connectors not comprising solid metals or solid metalloids, e.g. ceramics comprising polymers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/851—Dispositions of multiple connectors or interconnections
- H10W72/853—On the same surface
- H10W72/856—Bump connectors and die-attach connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/90—Bond pads, in general
- H10W72/921—Structures or relative sizes of bond pads
- H10W72/923—Bond pads having multiple stacked layers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/90—Bond pads, in general
- H10W72/951—Materials of bond pads
- H10W72/952—Materials of bond pads comprising metals or metalloids, e.g. PbSn, Ag or Cu
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
- Multi-Conductor Connections (AREA)
- Connections Effected By Soldering, Adhesion, Or Permanent Deformation (AREA)
- Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、たとえば半導体集積回路基板、プリント基
板、ガラス基板、フレキシブル基板、あるいはセラミッ
ク基板などの回路基板の電極を相互に圧接によって電気
的に接続するために好適に実施される電極上への導電性
粒子の配置方法に関する。
板、ガラス基板、フレキシブル基板、あるいはセラミッ
ク基板などの回路基板の電極を相互に圧接によって電気
的に接続するために好適に実施される電極上への導電性
粒子の配置方法に関する。
従来の技術 従来、回路基板同士の電極を電気的に接続する方法とし
ては、通常、半田付けが行われている。半田付けによる
方法では、一方の回路基板の電極上にめっき法や印刷法
などによって半田層を形成し、この半田層を200〜250℃
程度の高温に加熱し、溶融して他方の回路基板の電極に
接続する。したがって電極材料として、予めAu、Cu、Ni
などの親半田金属を用いる必要がある。
ては、通常、半田付けが行われている。半田付けによる
方法では、一方の回路基板の電極上にめっき法や印刷法
などによって半田層を形成し、この半田層を200〜250℃
程度の高温に加熱し、溶融して他方の回路基板の電極に
接続する。したがって電極材料として、予めAu、Cu、Ni
などの親半田金属を用いる必要がある。
このような半田付けという高温処理による回路基板など
への熱的な弊害や、親半田金属を用いることによるコス
ト高を回避するために、最近では、接着剤中に導電性粒
子を分散させて成る異方性導電シートを用いる傾向にあ
る。異方性導電シートは、このシートに加えられる圧力
方向に対してのみ導電性を示し、それ以外の方向に対し
ては非導電性であるという異方性を利用し、接続したい
電極や端子などの間にこの異方性導電シートを介在し、
電極間に介在したシート部分をシート厚み方向にわたっ
て加圧および加熱して両電極間の電気的接続を行う。特
に、配線材料としてITO(Indium Tin Oxide)を使用す
る液晶表示板の端子の接続には、その接続の容易性およ
び熱的条件の点から異方性導電シートが多く用いられて
いる。
への熱的な弊害や、親半田金属を用いることによるコス
ト高を回避するために、最近では、接着剤中に導電性粒
子を分散させて成る異方性導電シートを用いる傾向にあ
る。異方性導電シートは、このシートに加えられる圧力
方向に対してのみ導電性を示し、それ以外の方向に対し
ては非導電性であるという異方性を利用し、接続したい
電極や端子などの間にこの異方性導電シートを介在し、
電極間に介在したシート部分をシート厚み方向にわたっ
て加圧および加熱して両電極間の電気的接続を行う。特
に、配線材料としてITO(Indium Tin Oxide)を使用す
る液晶表示板の端子の接続には、その接続の容易性およ
び熱的条件の点から異方性導電シートが多く用いられて
いる。
発明が解決しようとする課題 上記した異方性導電シートは、樹脂中に導電性粒子を分
散させた構成である。したがって隣接端子間のピッチ幅
が微細となつた場合、シート中に存在する導電性粒子に
起因して電気的短絡が生じ、微小ピッチ幅での接続が困
難であるという問題点がある。
散させた構成である。したがって隣接端子間のピッチ幅
が微細となつた場合、シート中に存在する導電性粒子に
起因して電気的短絡が生じ、微小ピッチ幅での接続が困
難であるという問題点がある。
本発明の目的は、上記問題点を解決して、接続すべき電
極上にのみ導電性の粒子を配置することができ、したが
って電極の微細化に対応することができるとともに、接
続の信頼性を向上することができる電極上への導電性粒
子の配置方法を提供することである。
極上にのみ導電性の粒子を配置することができ、したが
って電極の微細化に対応することができるとともに、接
続の信頼性を向上することができる電極上への導電性粒
子の配置方法を提供することである。
課題を解決するための手段 本発明は、電極が形成された回路基板上に、光硬化性熱
軟化性樹脂を塗布し、電極上の領域に対応した透光部を
有するマスクを介して光を照射して、電極上の前記光硬
化性熱軟化性樹脂を硬化させ、電極以外の領域の未硬化
の光硬化性熱軟化性樹脂を除去し、回路基板を加熱する
ことによって、前記光硬化性熱軟化性樹脂を軟化し、光
硬化性熱軟化性樹脂の膜層より大径の導電性の粒子を回
路基板上に散布し、光硬化性熱軟化性樹脂の層に前記粒
子を粘着させ、電極以外の領域に付着した前記粒子を除
去することを特徴とする電極上への導電性粒子の配置方
法である。
軟化性樹脂を塗布し、電極上の領域に対応した透光部を
有するマスクを介して光を照射して、電極上の前記光硬
化性熱軟化性樹脂を硬化させ、電極以外の領域の未硬化
の光硬化性熱軟化性樹脂を除去し、回路基板を加熱する
ことによって、前記光硬化性熱軟化性樹脂を軟化し、光
硬化性熱軟化性樹脂の膜層より大径の導電性の粒子を回
路基板上に散布し、光硬化性熱軟化性樹脂の層に前記粒
子を粘着させ、電極以外の領域に付着した前記粒子を除
去することを特徴とする電極上への導電性粒子の配置方
法である。
作用 本発明に従えば、電極を含む回路基板上に樹脂材料が塗
布されて樹脂層が形成される。この樹脂材料は光硬化性
熱軟化性樹脂のものが選ばれる。電極上の領域に対応し
た透光部を有するマスクを介して、この回路基板上の樹
脂層に光を照射して、電極上の領域の樹脂層を硬化し、
それ以外の領域の未硬化の樹脂を溶解除去する。次にこ
の回路基板を加熱し電極上の領域の樹脂層を軟化した状
態として、この軟化した樹脂層にその層厚より大径の導
電性粒子を散布して付着させるとともに、電極上以外に
付着した粒子は除去する。電極上の樹脂材料のみが軟化
した状態にあるので、散布された導電性粒子は容易に電
極上の樹脂層に付着し、電極上以外に付着した導電性粒
子は除去されて、導電性粒子は選択的に電極上へ配置さ
れる。
布されて樹脂層が形成される。この樹脂材料は光硬化性
熱軟化性樹脂のものが選ばれる。電極上の領域に対応し
た透光部を有するマスクを介して、この回路基板上の樹
脂層に光を照射して、電極上の領域の樹脂層を硬化し、
それ以外の領域の未硬化の樹脂を溶解除去する。次にこ
の回路基板を加熱し電極上の領域の樹脂層を軟化した状
態として、この軟化した樹脂層にその層厚より大径の導
電性粒子を散布して付着させるとともに、電極上以外に
付着した粒子は除去する。電極上の樹脂材料のみが軟化
した状態にあるので、散布された導電性粒子は容易に電
極上の樹脂層に付着し、電極上以外に付着した導電性粒
子は除去されて、導電性粒子は選択的に電極上へ配置さ
れる。
したがってこの電極上へ配置された導電性粒子を樹脂層
に埋設して保持し、突起した電極を形成することができ
る。これによって回路基板上に突起した電極を微細に形
成することができ、電極の微細化に対応して高い信頼性
で他の回路基板に接続することができる回路基板が構成
される。
に埋設して保持し、突起した電極を形成することができ
る。これによって回路基板上に突起した電極を微細に形
成することができ、電極の微細化に対応して高い信頼性
で他の回路基板に接続することができる回路基板が構成
される。
また、両回路基板の少なくとも一方の回路基板に前記突
起した電極を形成して圧接する場合に、両回路基板間に
比較的低温度で硬化する接着剤を充填してこの接着剤を
硬化させれば、前記突起した電極から成る電気的な接続
部分が樹脂によって封止され、接続の信頼性がさらに向
上する。
起した電極を形成して圧接する場合に、両回路基板間に
比較的低温度で硬化する接着剤を充填してこの接着剤を
硬化させれば、前記突起した電極から成る電気的な接続
部分が樹脂によって封止され、接続の信頼性がさらに向
上する。
実施例 第1図は、本発明の一実施例である半導体装置6の構成
を示す断面図である。半導体装置6は、基板1と、この
基板1上に予め形成される電極2と、接着剤層8aと、導
電性粒子5とを含む。半導体装置6の電極2としては、
通常、AlにSiを1%程度添加したAl・Siが使用されてい
る。Al・Siは、その表面にごく薄いアルミナなどの絶縁
性の酸化膜を形成し、接続時の抵抗が高くなり易い。こ
の接続抵抗を低減するために、Al・Siの電極2上にCr、
Ti、W、Cu、Ni、Au、Ag、PtおよびPdなどのうちのいず
れかの金属、あるいはこれら金属の合金を材料として、
1層もしくは2層以上の金属層を被覆するようにしても
よい。
を示す断面図である。半導体装置6は、基板1と、この
基板1上に予め形成される電極2と、接着剤層8aと、導
電性粒子5とを含む。半導体装置6の電極2としては、
通常、AlにSiを1%程度添加したAl・Siが使用されてい
る。Al・Siは、その表面にごく薄いアルミナなどの絶縁
性の酸化膜を形成し、接続時の抵抗が高くなり易い。こ
の接続抵抗を低減するために、Al・Siの電極2上にCr、
Ti、W、Cu、Ni、Au、Ag、PtおよびPdなどのうちのいず
れかの金属、あるいはこれら金属の合金を材料として、
1層もしくは2層以上の金属層を被覆するようにしても
よい。
被覆の方法としては、上記金属を半導体装置6上にスパ
ッタリング法あるいはエレクトロンビーム法などによっ
て蒸着し、その後フォトリソグラフィ法によってパター
ン形成して、電極2上に選択的に金属層を被覆する。あ
るいは、Al・Siから成る電極2上には、Niは直接無電解
めっきできないので、まずPdを電極2上に選択的に無電
解めっきし、その後、Pdに対してNiを無電解めっきによ
って置換し、電極2上にNiの金属層を被覆することもで
きる。
ッタリング法あるいはエレクトロンビーム法などによっ
て蒸着し、その後フォトリソグラフィ法によってパター
ン形成して、電極2上に選択的に金属層を被覆する。あ
るいは、Al・Siから成る電極2上には、Niは直接無電解
めっきできないので、まずPdを電極2上に選択的に無電
解めっきし、その後、Pdに対してNiを無電解めっきによ
って置換し、電極2上にNiの金属層を被覆することもで
きる。
基板1上の電極2が形成されていない領域には、表面保
護層3が形成されている。この表面保護層3は、たとえ
ばSiN,SiO2、あるいはポリイミドなどから成る。
護層3が形成されている。この表面保護層3は、たとえ
ばSiN,SiO2、あるいはポリイミドなどから成る。
半導体装置6のさらに第1図上層には、接着剤層8aが形
成されている。この接着剤層8aは、後述する方法によっ
て、導電性粒子5の一端が電極2の表面に接触し、他端
が接着剤層8aから突出した状態で硬化される。接着剤層
8は、たとえばアクリル系樹脂、ポリエステル系樹脂、
ウレタン系樹脂、エポキシ系樹脂、あるいはシリコーン
系樹脂などの各種合成樹脂を使用することができる。
成されている。この接着剤層8aは、後述する方法によっ
て、導電性粒子5の一端が電極2の表面に接触し、他端
が接着剤層8aから突出した状態で硬化される。接着剤層
8は、たとえばアクリル系樹脂、ポリエステル系樹脂、
ウレタン系樹脂、エポキシ系樹脂、あるいはシリコーン
系樹脂などの各種合成樹脂を使用することができる。
また、導電性粒子5としては、Au、Ag、Pt、Cu、Ni、
C、In、Sn、PbおよびPdなどの金属あるいはこれらの2
種類以上の合金を使用することができる。また第1図に
示したように、高分子材料からなる弾性粒子5bの表面に
導電性材料からなる被覆層5aを形成した導電性粒子5を
用いてもよい。この場合、弾性粒子5bとしてはポリイミ
ド系樹脂、エポキシ系樹脂、アクリル系樹脂などの合成
樹脂、およびシリコーンゴム、ウレタンゴムなどの合成
ゴムが使用できる。
C、In、Sn、PbおよびPdなどの金属あるいはこれらの2
種類以上の合金を使用することができる。また第1図に
示したように、高分子材料からなる弾性粒子5bの表面に
導電性材料からなる被覆層5aを形成した導電性粒子5を
用いてもよい。この場合、弾性粒子5bとしてはポリイミ
ド系樹脂、エポキシ系樹脂、アクリル系樹脂などの合成
樹脂、およびシリコーンゴム、ウレタンゴムなどの合成
ゴムが使用できる。
また被覆層5aの導電性材料としては、Au、Ag、Pt、Cu、
Ni、C、In、Sn、PbおよびPdなどの金属、あるいはこれ
らの合金を1層もしくは2層以上として使用することが
できる。2層以上で被覆層5aを形成する場合には、弾性
粒子5bへの密着性に優れるたとえばNiなどの金属層を先
に形成し、さらにそのような金属の酸化防止のために、
Auなどの金属層を被覆することが好ましい。被覆の方法
としては、スパッタリング法、エレクトロンビーム法な
どによる蒸着法、あるいは無電解めっきなどの方法を用
いることができる。
Ni、C、In、Sn、PbおよびPdなどの金属、あるいはこれ
らの合金を1層もしくは2層以上として使用することが
できる。2層以上で被覆層5aを形成する場合には、弾性
粒子5bへの密着性に優れるたとえばNiなどの金属層を先
に形成し、さらにそのような金属の酸化防止のために、
Auなどの金属層を被覆することが好ましい。被覆の方法
としては、スパッタリング法、エレクトロンビーム法な
どによる蒸着法、あるいは無電解めっきなどの方法を用
いることができる。
第2図は、第1図に示した半導体装置6を製造する工程
を説明する断面図である。第2図(1)に示されるよう
に、予め電極2および表面保護層3が形成されている基
板1において、この電極2および表面保護層3の表面
に、たとえばスピンコートあるいはロールコートなどの
方法によって、たとえば光硬化性樹脂を全面に塗布し、
樹脂層8を形成する。
を説明する断面図である。第2図(1)に示されるよう
に、予め電極2および表面保護層3が形成されている基
板1において、この電極2および表面保護層3の表面
に、たとえばスピンコートあるいはロールコートなどの
方法によって、たとえば光硬化性樹脂を全面に塗布し、
樹脂層8を形成する。
樹脂層8としては、たとえばアクリル系やポリエステル
系の熱可塑性樹脂を基材としてそれに光硬化剤を混入す
るか、または基材に光反応性の基を付加したもの、ある
いは基材として光硬化性樹脂を用い、それに熱可塑性樹
脂を混入したものなどを用いることができる。
系の熱可塑性樹脂を基材としてそれに光硬化剤を混入す
るか、または基材に光反応性の基を付加したもの、ある
いは基材として光硬化性樹脂を用い、それに熱可塑性樹
脂を混入したものなどを用いることができる。
樹脂層8が形成された基板1に対して、第2図(2)に
示されるように、マスク9を介して紫外線20を照射す
る。マスク9には、紫外線20を遮断する遮断部9aと紫外
線20が通過可能な透孔9bとが形成されている。基板1の
電極2が形成された領域とマスク9の透孔9bとが位置合
わせされ、紫外線20が照射される。これによって電極2
が形成された領域の樹脂層8aのみが硬化され、紫外線20
の照射が行われなかった樹脂層8bは未硬化の状態に残さ
れる。
示されるように、マスク9を介して紫外線20を照射す
る。マスク9には、紫外線20を遮断する遮断部9aと紫外
線20が通過可能な透孔9bとが形成されている。基板1の
電極2が形成された領域とマスク9の透孔9bとが位置合
わせされ、紫外線20が照射される。これによって電極2
が形成された領域の樹脂層8aのみが硬化され、紫外線20
の照射が行われなかった樹脂層8bは未硬化の状態に残さ
れる。
次に、このように選択的に紫外線20が照射された樹脂層
8に対して溶剤を用いて現像を行う。溶剤としては、ア
セトンやメチルエチルケトンなどのケトン類およびアル
コール類が使用される。一般に、硬化した樹脂は溶剤に
対して溶け難くなるので、現像は容易である。
8に対して溶剤を用いて現像を行う。溶剤としては、ア
セトンやメチルエチルケトンなどのケトン類およびアル
コール類が使用される。一般に、硬化した樹脂は溶剤に
対して溶け難くなるので、現像は容易である。
すなわち、紫外線20が照射されて硬化した接着剤層8aに
おいては、紫外線20に基づく架橋反応などが生じてお
り、溶剤に対しては不溶性または難溶性である。一方、
紫外線20が照射されずに未硬化の接着剤層8bにおいて
は、前記反応は生じておらず、溶剤によって容易に溶出
し除去される。これによって電極2上にのみ接着剤層8a
を形成することができる。
おいては、紫外線20に基づく架橋反応などが生じてお
り、溶剤に対しては不溶性または難溶性である。一方、
紫外線20が照射されずに未硬化の接着剤層8bにおいて
は、前記反応は生じておらず、溶剤によって容易に溶出
し除去される。これによって電極2上にのみ接着剤層8a
を形成することができる。
次に、基板1を50〜200℃程度にまで加熱し、硬化した
接着剤層8aを熱によって再軟化させる。この状態で、第
2図(3)に示されるように、前記導電性粒子5を散布
し、電極2上の樹脂層8aに付着させる。このとき熱硬化
した樹脂層8aは粘着性を有しており、これによって導電
性粒子5を吸着する。一方、接着剤層8aが形成されてい
ない表面保護層3上などでは、導電性粒子5が単に付着
した状態である。したがって電極2以外の他の領域に静
電気力などによって付着した不要な導電性粒子5は、エ
アブローによって、またははけなどを使用して容易に除
去することができる。
接着剤層8aを熱によって再軟化させる。この状態で、第
2図(3)に示されるように、前記導電性粒子5を散布
し、電極2上の樹脂層8aに付着させる。このとき熱硬化
した樹脂層8aは粘着性を有しており、これによって導電
性粒子5を吸着する。一方、接着剤層8aが形成されてい
ない表面保護層3上などでは、導電性粒子5が単に付着
した状態である。したがって電極2以外の他の領域に静
電気力などによって付着した不要な導電性粒子5は、エ
アブローによって、またははけなどを使用して容易に除
去することができる。
上述のようにして電極2上の樹脂層8aに配置された導電
性粒子5は、導電性粒子5の一端が電極2表面に接触
し、その他端は樹脂層8aから突出するように樹脂層8aに
埋設される。あるいは、導電性粒子5が電極上に配置さ
れた半導体装置6を、他の回路基板に圧接によって接続
する際に、両回路基板に加えられた圧力によって導電性
粒子5が樹脂層8aを貫通して、その一端が電極2に接触
するようにしてもよい。また導電性粒子5を介して両回
路基板の相互に対応する電極が接続されるように加圧す
る際に、予め両回路基板間に接着剤を充填して硬化させ
るようにしてもよい。これによって電気的な接続部分が
樹脂によって封止され、接続の信頼性が向上する。
性粒子5は、導電性粒子5の一端が電極2表面に接触
し、その他端は樹脂層8aから突出するように樹脂層8aに
埋設される。あるいは、導電性粒子5が電極上に配置さ
れた半導体装置6を、他の回路基板に圧接によって接続
する際に、両回路基板に加えられた圧力によって導電性
粒子5が樹脂層8aを貫通して、その一端が電極2に接触
するようにしてもよい。また導電性粒子5を介して両回
路基板の相互に対応する電極が接続されるように加圧す
る際に、予め両回路基板間に接着剤を充填して硬化させ
るようにしてもよい。これによって電気的な接続部分が
樹脂によって封止され、接続の信頼性が向上する。
第3図は、本発明の半導体装置6が実装された液晶表示
装置10の断面図である。また第4図は第3図の切断面線
IV−IVから見た一部断面図であり、第5図は第4図の細
部を詳細に示す拡大断面図である。
装置10の断面図である。また第4図は第3図の切断面線
IV−IVから見た一部断面図であり、第5図は第4図の細
部を詳細に示す拡大断面図である。
第3図を参照して、表面に電極13および対向電極16がそ
れぞれ形成された一対の液晶表示板11,12は、シール樹
脂15を介して貼り合わされており、その間に液晶17が封
入されている。液晶表示装置10において、電極13は液晶
表示板11上を図面右方に延び、液晶表示装置10の表示駆
動を行うために実装されたは半導体装置6と導電性粒子
5を介して接続されている。また、半導体装置6と液晶
表示板11との接続部分は接着剤14によって封止されてい
る。
れぞれ形成された一対の液晶表示板11,12は、シール樹
脂15を介して貼り合わされており、その間に液晶17が封
入されている。液晶表示装置10において、電極13は液晶
表示板11上を図面右方に延び、液晶表示装置10の表示駆
動を行うために実装されたは半導体装置6と導電性粒子
5を介して接続されている。また、半導体装置6と液晶
表示板11との接続部分は接着剤14によって封止されてい
る。
半導体装置6は、シリコンあるいはガリウムヒ素などの
基板上に拡散層(図示せず)が形成され、これによって
多数のトランジスタやダイオードなどが構成されて液晶
表示装置10の表示駆動を行う機能を有する。半導体装置
6は、前述した本発明に従って、電極2上に導電性粒子
5が樹脂層8aによって埋設して保持されている。一方、
液晶表示板11の電極13は、たとえばソーダガラスなどの
表面上にITO(Indium Tin Oxide)、あるいは接触抵抗
を低減するためにNiでめっきしたITOなどが形成されて
成り、通常厚みは50〜200nm程度である。
基板上に拡散層(図示せず)が形成され、これによって
多数のトランジスタやダイオードなどが構成されて液晶
表示装置10の表示駆動を行う機能を有する。半導体装置
6は、前述した本発明に従って、電極2上に導電性粒子
5が樹脂層8aによって埋設して保持されている。一方、
液晶表示板11の電極13は、たとえばソーダガラスなどの
表面上にITO(Indium Tin Oxide)、あるいは接触抵抗
を低減するためにNiでめっきしたITOなどが形成されて
成り、通常厚みは50〜200nm程度である。
第6図に示されるように、半導体装置6の導電性粒子5
から成る突起電極が形成された表面と、液晶表示板11の
電極13が形成された表面とは対向され、導電性粒子5と
電極13とが位置合わせされる。位置合わせされた基板1,
11間には、接着剤14が充填され、半導体装置6は液晶表
示板11に対して導電性粒子5および接着剤14を介して矢
符19方向に、電極2,13間が第5図示の所定の間隔1と
なるまで加圧される。この加圧状態において接着剤14を
硬化させることによって、半導体装置6が液晶表示板11
に実装される。
から成る突起電極が形成された表面と、液晶表示板11の
電極13が形成された表面とは対向され、導電性粒子5と
電極13とが位置合わせされる。位置合わせされた基板1,
11間には、接着剤14が充填され、半導体装置6は液晶表
示板11に対して導電性粒子5および接着剤14を介して矢
符19方向に、電極2,13間が第5図示の所定の間隔1と
なるまで加圧される。この加圧状態において接着剤14を
硬化させることによって、半導体装置6が液晶表示板11
に実装される。
接着剤14としては、たとえば反応硬化性、嫌気硬化性、
熱硬化性、光硬化性などの各種接着剤を使用することが
できる。特に本実施例においては、液晶表示板11が透光
性材料であるガラスから成るので、接着剤14には、高速
接合可能な光硬化性接着剤を使用することが有効であ
る。
熱硬化性、光硬化性などの各種接着剤を使用することが
できる。特に本実施例においては、液晶表示板11が透光
性材料であるガラスから成るので、接着剤14には、高速
接合可能な光硬化性接着剤を使用することが有効であ
る。
以上説明したように、本発明に従って配置された導電性
粒子5を有する半導体装置6は、第3図の液晶表示装置
10のように、他の回路基板に圧接した状態で、予め両回
路基板間に充填された接着剤を硬化して回路基板相互を
接続し、実装することができる。
粒子5を有する半導体装置6は、第3図の液晶表示装置
10のように、他の回路基板に圧接した状態で、予め両回
路基板間に充填された接着剤を硬化して回路基板相互を
接続し、実装することができる。
また上記実施例においては、半導体装置6上に導電性粒
子5を配置する場合について説明したけれども、半導体
装置に限定する必要はなく、他の回路基板上に導電性粒
子を配置して圧接する場合についても本発明は実施する
ことができる。
子5を配置する場合について説明したけれども、半導体
装置に限定する必要はなく、他の回路基板上に導電性粒
子を配置して圧接する場合についても本発明は実施する
ことができる。
発明の効果 以上、説明したように本発明によれば、電極を含む回路
基板上に光硬化性熱軟化性の樹脂層を形成し、この樹脂
層に電極上の領域に対応した透光部を有するマスクを介
して光を照射して電極上の樹脂層を硬化し、それ以外の
領域の樹脂を溶解除去し、回路基板を加熱し樹脂層を軟
化し、導電性粒子を散布し、軟化した樹脂層にこれを粘
着させる。また電極上以外の領域には樹脂層がないの
で、この導電性粒子は簡単に除去できる。このような簡
単な方法によって回路基板の電極上に導電性粒子を配置
することができる。これによって電極の微細化に対応し
て、この導電性粒子によって突起した電極が形成された
回路基板と他の回路基板とを圧接によって接続する場合
の信頼性が向上する。したがって生産性が向上し、コス
トを低減することができる。
基板上に光硬化性熱軟化性の樹脂層を形成し、この樹脂
層に電極上の領域に対応した透光部を有するマスクを介
して光を照射して電極上の樹脂層を硬化し、それ以外の
領域の樹脂を溶解除去し、回路基板を加熱し樹脂層を軟
化し、導電性粒子を散布し、軟化した樹脂層にこれを粘
着させる。また電極上以外の領域には樹脂層がないの
で、この導電性粒子は簡単に除去できる。このような簡
単な方法によって回路基板の電極上に導電性粒子を配置
することができる。これによって電極の微細化に対応し
て、この導電性粒子によって突起した電極が形成された
回路基板と他の回路基板とを圧接によって接続する場合
の信頼性が向上する。したがって生産性が向上し、コス
トを低減することができる。
第1図は本発明の一実施例の半導体装置6の断面図、第
2図は第1図示の半導体装置6の製造工程を説明する断
面図、第3図は半導体装置6が実装された液晶表示装置
10の断面図、第4図は第3図の切断面線IV−IVから見た
断面図、第5図は第4図の一部拡大断面図、第6図は圧
接によって第4図示の接続を得るための断面図である。 1…基板、2,13,16…電極、5…導電性粒子、6…半導
体装置、8…樹脂層、10…液晶表示装置、19…加圧方
向、20…紫外線
2図は第1図示の半導体装置6の製造工程を説明する断
面図、第3図は半導体装置6が実装された液晶表示装置
10の断面図、第4図は第3図の切断面線IV−IVから見た
断面図、第5図は第4図の一部拡大断面図、第6図は圧
接によって第4図示の接続を得るための断面図である。 1…基板、2,13,16…電極、5…導電性粒子、6…半導
体装置、8…樹脂層、10…液晶表示装置、19…加圧方
向、20…紫外線
Claims (1)
- 【請求項1】電極が形成された回路基板上に、光硬化性
熱軟化性樹脂を塗布し、電極上の領域に対応した透光部
を有するマスクを介して光を照射して、電極上の前記光
硬化性熱硬化性樹脂を硬化させ、電極以外の領域の未硬
化の光硬化性熱軟化性樹脂を除去し、回路基板を加熱す
ることによって、前記光硬化性熱軟化性樹脂を軟化し、
光硬化性熱軟化性樹脂の層厚より大径の導電性の粒子を
回路基板上に散布し、光硬化性熱軟化性樹脂の層に前記
粒子を粘着させ、電極以外の領域に付着した前記粒子を
除去することを特徴とする電極上への導電性粒子の配置
方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5090489A JPH0740496B2 (ja) | 1989-03-01 | 1989-03-01 | 電極上への導電性粒子の配置方法 |
| US07/485,745 US5034245A (en) | 1989-03-01 | 1990-02-27 | Method of producing connection electrodes |
| EP19900302214 EP0385787B1 (en) | 1989-03-01 | 1990-03-01 | Method of producing connection electrodes |
| DE69020009T DE69020009T2 (de) | 1989-03-01 | 1990-03-01 | Verfahren zum Herstellen von Verbindungselektroden. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5090489A JPH0740496B2 (ja) | 1989-03-01 | 1989-03-01 | 電極上への導電性粒子の配置方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02230672A JPH02230672A (ja) | 1990-09-13 |
| JPH0740496B2 true JPH0740496B2 (ja) | 1995-05-01 |
Family
ID=12871746
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5090489A Expired - Fee Related JPH0740496B2 (ja) | 1989-03-01 | 1989-03-01 | 電極上への導電性粒子の配置方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5034245A (ja) |
| EP (1) | EP0385787B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0740496B2 (ja) |
| DE (1) | DE69020009T2 (ja) |
Families Citing this family (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| ATE138225T1 (de) * | 1989-08-17 | 1996-06-15 | Canon Kk | Prozess zur gegenseitigen konnektion von elektrodenanschlüssen |
| JPH0540274A (ja) * | 1990-09-13 | 1993-02-19 | Canon Inc | 液晶装置 |
| US5153023A (en) * | 1990-12-03 | 1992-10-06 | Xerox Corporation | Process for catalysis of electroless metal plating on plastic |
| JPH04290489A (ja) * | 1991-03-19 | 1992-10-15 | Shin Etsu Polymer Co Ltd | ヒートシールコネクターの製造方法 |
| JPH0521519A (ja) * | 1991-07-16 | 1993-01-29 | Sharp Corp | 半導体装置 |
| US5330790A (en) * | 1992-02-07 | 1994-07-19 | Calkins Noel C | Impact implantation of particulate material into polymer surfaces |
| SG54297A1 (en) * | 1992-09-15 | 1998-11-16 | Texas Instruments Inc | Ball contact for flip-chip devices |
| US5401913A (en) * | 1993-06-08 | 1995-03-28 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Electrical interconnections between adjacent circuit board layers of a multi-layer circuit board |
| US6365500B1 (en) * | 1994-05-06 | 2002-04-02 | Industrial Technology Research Institute | Composite bump bonding |
| US5393697A (en) * | 1994-05-06 | 1995-02-28 | Industrial Technology Research Institute | Composite bump structure and methods of fabrication |
| TW277152B (ja) * | 1994-05-10 | 1996-06-01 | Hitachi Chemical Co Ltd | |
| EP0827190A3 (en) * | 1994-06-24 | 1998-09-02 | Industrial Technology Research Institute | Bump structure and methods for forming this structure |
| US5578527A (en) * | 1995-06-23 | 1996-11-26 | Industrial Technology Research Institute | Connection construction and method of manufacturing the same |
| US6881611B1 (en) | 1996-07-12 | 2005-04-19 | Fujitsu Limited | Method and mold for manufacturing semiconductor device, semiconductor device and method for mounting the device |
| EP1189271A3 (en) * | 1996-07-12 | 2003-07-16 | Fujitsu Limited | Wiring boards and mounting of semiconductor devices thereon |
| JP3711873B2 (ja) * | 2001-02-19 | 2005-11-02 | ソニーケミカル株式会社 | バンプレスicチップの製造方法 |
| JP3882624B2 (ja) * | 2002-01-29 | 2007-02-21 | 三菱電機株式会社 | 固定子コアとその製造方法とその製造装置 |
| US20060286721A1 (en) * | 2005-06-16 | 2006-12-21 | Daoqiang Lu | Breakable interconnects and structures formed thereby |
| KR100801073B1 (ko) * | 2005-10-06 | 2008-02-11 | 삼성전자주식회사 | 도전성 입자를 포함하는 범프를 구비하는 반도체 칩 및 이의 제조 방법 |
| KR101309319B1 (ko) * | 2006-11-22 | 2013-09-13 | 삼성디스플레이 주식회사 | 액정표시장치 구동회로 및 그의 제조방법과 액정표시장치구동회로가 실장 된 액정표시장치 |
Family Cites Families (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1095117A (en) * | 1963-12-26 | 1967-12-13 | Matsushita Electric Industrial Co Ltd | Method of making printed circuit board |
| US3951063A (en) * | 1973-11-30 | 1976-04-20 | Xerox Corporation | Process for preparing reversible cure waterless lithographic masters |
| US4049844A (en) * | 1974-09-27 | 1977-09-20 | General Electric Company | Method for making a circuit board and article made thereby |
| US4075049A (en) * | 1976-09-01 | 1978-02-21 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Method of preparing retroreflective sheeting |
| US4327124A (en) * | 1978-07-28 | 1982-04-27 | Desmarais Jr Raymond C | Method for manufacturing printed circuits comprising printing conductive ink on dielectric surface |
| US4401686A (en) * | 1982-02-08 | 1983-08-30 | Raymond Iannetta | Printed circuit and method of forming same |
| US4469777A (en) * | 1983-12-01 | 1984-09-04 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Single exposure process for preparing printed circuits |
| US4654752A (en) * | 1984-12-04 | 1987-03-31 | Kyle James C | Terminal assembly and method of making terminal assembly |
| US4572764A (en) * | 1984-12-13 | 1986-02-25 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Preparation of photoformed plastic multistrate by via formation first |
| JPS61161536A (ja) * | 1985-01-11 | 1986-07-22 | Seiko Epson Corp | 入力装置 |
| JPS6258812U (ja) * | 1985-06-05 | 1987-04-11 | ||
| JPS6222383A (ja) * | 1985-07-22 | 1987-01-30 | 古河電気工業株式会社 | 電子回路部材の接続方法 |
| JPS62176139A (ja) * | 1986-01-29 | 1987-08-01 | Fuji Xerox Co Ltd | 異方導電材料およびこれを用いた半導体装置の実装方法 |
| US4807021A (en) * | 1986-03-10 | 1989-02-21 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor device having stacking structure |
| JPS6355527A (ja) * | 1986-08-25 | 1988-03-10 | Nec Corp | 液晶表示装置の製造方法 |
| DE3629712A1 (de) * | 1986-09-01 | 1988-03-03 | Kunz Gerhard K | Verfahren und schaltungsanordnung zur messung des beladungsgrades eines ionenaustauschfilters |
| US4863757A (en) * | 1987-02-06 | 1989-09-05 | Key-Tech, Inc. | Printed circuit board |
-
1989
- 1989-03-01 JP JP5090489A patent/JPH0740496B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1990
- 1990-02-27 US US07/485,745 patent/US5034245A/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-03-01 DE DE69020009T patent/DE69020009T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1990-03-01 EP EP19900302214 patent/EP0385787B1/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0385787A2 (en) | 1990-09-05 |
| DE69020009T2 (de) | 1995-11-23 |
| EP0385787A3 (en) | 1990-10-31 |
| EP0385787B1 (en) | 1995-06-14 |
| DE69020009D1 (de) | 1995-07-20 |
| JPH02230672A (ja) | 1990-09-13 |
| US5034245A (en) | 1991-07-23 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0740496B2 (ja) | 電極上への導電性粒子の配置方法 | |
| EP0424106B1 (en) | A method for connecting circuit boards | |
| JP3035021B2 (ja) | 液晶表示素子およびその製造方法 | |
| JPH05144817A (ja) | 電子部品実装接続体およびその製造方法 | |
| JPH0793342B2 (ja) | 電極の形成方法 | |
| JPH0695462B2 (ja) | 電極上への導電性粒子の配置方法 | |
| JP2985640B2 (ja) | 電極接続体及びその製造方法 | |
| JPH11306861A (ja) | 導電性接着剤組成物、それを有する異方導電性接着フィルム及びそのフィルムを用いた接続方法 | |
| JP3562615B2 (ja) | 異方導電性膜状接続部材およびその製造方法 | |
| JPH07101691B2 (ja) | 電極の形成方法 | |
| JPH07321152A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
| JP3286867B2 (ja) | 回路基板の接続構造 | |
| JPH07318962A (ja) | 電気装置の電極基板、電極形成方法及び実装方法 | |
| JP3759294B2 (ja) | 電極の接続方法 | |
| JPH0793482B2 (ja) | 回路基板の接続方法 | |
| JPH08167441A (ja) | 電気的接続部材及び液晶パネルの接続構造 | |
| JP2004063628A (ja) | 導電パターン形成方法、導電パターン形成基板、電気光学装置、及び電子機器 | |
| JP4032320B2 (ja) | 電極の接続方法 | |
| JPH08250550A (ja) | 半導体素子の実装方法と半導体装置 | |
| JP6440946B2 (ja) | 接続体の製造方法、電子部品の接続方法及び接続体 | |
| JP3031134B2 (ja) | 電極の接続方法 | |
| JPH07120843B2 (ja) | 回路基板の接続構造および方法 | |
| JPH08102464A (ja) | 突起電極構造とその形成方法及び突起電極を用いた接続構造とその接続方法 | |
| JPH05224229A (ja) | 液晶表示パネルと回路基板との接続方法 | |
| JPH0862617A (ja) | 導電性感光性樹脂および該樹脂を使用する電極間の接続方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |