JPH0740719B2 - 原稿読取装置 - Google Patents
原稿読取装置Info
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- JPH0740719B2 JPH0740719B2 JP61094818A JP9481886A JPH0740719B2 JP H0740719 B2 JPH0740719 B2 JP H0740719B2 JP 61094818 A JP61094818 A JP 61094818A JP 9481886 A JP9481886 A JP 9481886A JP H0740719 B2 JPH0740719 B2 JP H0740719B2
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- Japan
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- image
- scanning direction
- mtf correction
- line
- mtf
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- Facsimile Image Signal Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 [技術分野] 本発明は、原稿画像を所定間隔でサンプリングして読み
取りる原稿読取装置に関する。
取りる原稿読取装置に関する。
[従来技術] 一般に、デジタル複写機、ファクシミリ装置に用いられ
る原稿画像入力部や、データ処理装置に原稿に描かれた
画像を入力するために用いられる原稿読取装置は、原稿
画像を主走査方向および副走査方向にそれぞれ所定の解
像度で画素に分解し、おのおのの画素を光電変換してデ
ジタルデータに変換し、主走査のライン単位に時系列的
に画像データを形成して出力している。
る原稿画像入力部や、データ処理装置に原稿に描かれた
画像を入力するために用いられる原稿読取装置は、原稿
画像を主走査方向および副走査方向にそれぞれ所定の解
像度で画素に分解し、おのおのの画素を光電変換してデ
ジタルデータに変換し、主走査のライン単位に時系列的
に画像データを形成して出力している。
通常、主走査方向の画像の走査と画素への分解はCCD
(電荷結合素子)ラインイメージセンサ等のラインイメ
ージセンサが用いられ、副走査方向の画像の走査と画素
への分解はラインイメージセンサによる読み取りライン
を相対的に移動することでなされている。
(電荷結合素子)ラインイメージセンサ等のラインイメ
ージセンサが用いられ、副走査方向の画像の走査と画素
への分解はラインイメージセンサによる読み取りライン
を相対的に移動することでなされている。
さて、このような原稿読取装置では、鏡や光学レンズに
よる光学系によって原稿画像をラインイメージセンサの
受光面に結像しており、そのため、ラインイメージセン
サで読み取られる画像のMTF(Moduqation Transfer Fun
ction)が劣化して読み取った画像がボケるという問題
を生じている。
よる光学系によって原稿画像をラインイメージセンサの
受光面に結像しており、そのため、ラインイメージセン
サで読み取られる画像のMTF(Moduqation Transfer Fun
ction)が劣化して読み取った画像がボケるという問題
を生じている。
そこで画質の高い二値画像を得るため、画素を光電変換
するときに複数ビットのデータに変換し、例えば第14図
(a)に示したようなMTF補正フィルタ(デジタルフィ
ルタ)を通して、画像のエッジを強調し、画像を補正し
ていた。
するときに複数ビットのデータに変換し、例えば第14図
(a)に示したようなMTF補正フィルタ(デジタルフィ
ルタ)を通して、画像のエッジを強調し、画像を補正し
ていた。
このMTF補正フィルタは、中央に位置している補正画素
(以下注目画素という)の主走査方向に隣接する2つの
画素、および、注目画素の副走査方向に隣接する2つの
画素に、おのおのに対応した係数を乗じてそれらを加算
する演算を実行するものであり、全ての係数の和が1に
なるようにして、低周波成分には関与しないようにして
いる。したがって、このMTF走査フィルタは、第14図
(b)に示したように、直流成分の利得が1で、この画
像読取装置のサンプリング間隔に対応したナイキスト周
波数fn(ナイキスト限界)に向かって急激に立ち上がる
ようなハイパス特性をもっている。
(以下注目画素という)の主走査方向に隣接する2つの
画素、および、注目画素の副走査方向に隣接する2つの
画素に、おのおのに対応した係数を乗じてそれらを加算
する演算を実行するものであり、全ての係数の和が1に
なるようにして、低周波成分には関与しないようにして
いる。したがって、このMTF走査フィルタは、第14図
(b)に示したように、直流成分の利得が1で、この画
像読取装置のサンプリング間隔に対応したナイキスト周
波数fn(ナイキスト限界)に向かって急激に立ち上がる
ようなハイパス特性をもっている。
したがって、光学系で劣化した画像のシャープネス(鮮
明度)を増大して隣接画素と注目画素との濃度差を強調
する効果をもち、ボケた画像を補正することができる。
明度)を増大して隣接画素と注目画素との濃度差を強調
する効果をもち、ボケた画像を補正することができる。
ところで、近年では、画像を二値的に記録する画像記録
装置(例えば光書き込みプリンタ等)の記録密度が向上
しており、それに伴って高解像度で画像を読み取れる原
稿読取装置が要求されるようになってきている。
装置(例えば光書き込みプリンタ等)の記録密度が向上
しており、それに伴って高解像度で画像を読み取れる原
稿読取装置が要求されるようになってきている。
このように、高解像度で原稿画像を読み取ることができ
る原稿読取装置では、例えば従来の2倍の解像度であれ
ば1/4と1画素が占める面積が非常に小さくなるのでさ
らにMTFが劣化して、ラインイメージセンサの出力信号
ではMTFが15〜20%程度に低下している。
る原稿読取装置では、例えば従来の2倍の解像度であれ
ば1/4と1画素が占める面積が非常に小さくなるのでさ
らにMTFが劣化して、ラインイメージセンサの出力信号
ではMTFが15〜20%程度に低下している。
これを改善するためには、MTFの高い光学系(とくにレ
ンズ)を用いる必要があるが、かかる光学系は非常に高
価であり、原稿読取装置全体のコストが大きくなるので
好ましくない。
ンズ)を用いる必要があるが、かかる光学系は非常に高
価であり、原稿読取装置全体のコストが大きくなるので
好ましくない。
そこで、上述したようなMTF補正フィルタを用いて画像
を補正することが考えられるが、従来のようにナイキス
ト周波数の利得が最も大きくなるようなハイパス特性を
もつMTF補正フィルタを用いると、次ような不都合を生
じる。
を補正することが考えられるが、従来のようにナイキス
ト周波数の利得が最も大きくなるようなハイパス特性を
もつMTF補正フィルタを用いると、次ような不都合を生
じる。
まず、例えばMTFが20%の状態では、第15図(a),
(b)に示したように、読み取り解像度に対応した間隔
で白黒に変化する画像(例えば解像度が16ドット/mmで
あれば1mm当り白画素が8つで黒画素が8つ)の白黒画
素の2つのレベル差が100あったとしても、ラインイメ
ージセンサで読み取られたあとの信号レベルでは白黒画
素のレベル差が20にしかならない。したがって、周波数
成分がナイキスト限界付近のラインイメージセンサの出
力信号は、信号系のノイズ等の影響を受けやすく、その
周波数領域では信号自体の信頼性が低い状態である。
(b)に示したように、読み取り解像度に対応した間隔
で白黒に変化する画像(例えば解像度が16ドット/mmで
あれば1mm当り白画素が8つで黒画素が8つ)の白黒画
素の2つのレベル差が100あったとしても、ラインイメ
ージセンサで読み取られたあとの信号レベルでは白黒画
素のレベル差が20にしかならない。したがって、周波数
成分がナイキスト限界付近のラインイメージセンサの出
力信号は、信号系のノイズ等の影響を受けやすく、その
周波数領域では信号自体の信頼性が低い状態である。
そのため、上述したようにナイキスト周波数の利得が最
も大きくなるようなMTF補正フィルタを用いると、信頼
性の低い部分の周波数成分を強調することになるので、
例えば、原稿の地肌汚れが強調されて読取画像にノイズ
が出たり、いわゆるノッチノイズの発生の原因となって
いた。
も大きくなるようなMTF補正フィルタを用いると、信頼
性の低い部分の周波数成分を強調することになるので、
例えば、原稿の地肌汚れが強調されて読取画像にノイズ
が出たり、いわゆるノッチノイズの発生の原因となって
いた。
また、高解像度に画像を読み取るため画像データのデー
タ量が非常に多くなり、画像を実時間処理するためには
高速なアナログ処理の必要性があるが、このような高速
アナログ処理ではS/Nが劣化してとくにナイキスト周波
数付近での雑音が目立ち、上述した不都合がさらに生じ
やすい。
タ量が非常に多くなり、画像を実時間処理するためには
高速なアナログ処理の必要性があるが、このような高速
アナログ処理ではS/Nが劣化してとくにナイキスト周波
数付近での雑音が目立ち、上述した不都合がさらに生じ
やすい。
[目的] 本発明は、上述した従来技術の不都合を解消するために
なされたものであり、高い品質で高解像度に原稿画像を
読み取ることができる原稿読取装置を提供することを目
的としている。
なされたものであり、高い品質で高解像度に原稿画像を
読み取ることができる原稿読取装置を提供することを目
的としている。
[構成] 以下、添付図面を参照しながら、本発明の実施例を詳細
に説明する。
に説明する。
第1図は、本発明の一実施例にかかる原稿読取装置を示
している。
している。
同図において、読取原稿を載置するためのコンタクトガ
ラス1は、光源2によって照明され、読取原稿の画像面
からの反射光は、鏡3,4,5,6,7およびレンズ8を介して
ラインイメージセンサ8の受光面に結像される。
ラス1は、光源2によって照明され、読取原稿の画像面
からの反射光は、鏡3,4,5,6,7およびレンズ8を介して
ラインイメージセンサ8の受光面に結像される。
また、光源2および鏡3は、コンタクトガラス1の下面
をコンタクトガラス1と平行に副走査方向に移動する走
査体10に搭載され、鏡4,5はその走行体10に連動して1/2
の速度で副走査方向に移動する走行体11に搭載されてお
り、光学系が移動することで読取原稿の画像面が副走査
方向に走査される。
をコンタクトガラス1と平行に副走査方向に移動する走
査体10に搭載され、鏡4,5はその走行体10に連動して1/2
の速度で副走査方向に移動する走行体11に搭載されてお
り、光学系が移動することで読取原稿の画像面が副走査
方向に走査される。
またこの実施例における画像読取の解像度は16ドット/m
mに設定され、また、A3判の原稿まで読み取り可能にな
っている。したがって、ラインイメージセンサ9として
は、500画素のCCDラインイメージセンサを用いている。
mに設定され、また、A3判の原稿まで読み取り可能にな
っている。したがって、ラインイメージセンサ9として
は、500画素のCCDラインイメージセンサを用いている。
第2図は、第1図に示した装置の制御系の一例を示して
いる。
いる。
同図において、ラインイメージセンサ9はセンサドライ
バ21によって駆動され、ラインイメージセンサ9の出力
信号は、増幅器22によって増幅され、シェーディング補
正・アナログ/デジタル変換部23によって光源の照度む
らやラインイメージセンサ9の素子の感度のバラツキ等
が補正されるとともに所定ビット数(例えば6ビットあ
るいは8ビット)のデジタルデータに変換され、MTF補
正部24によって後述するMTF補正処理がなされたのちに
主走査変倍部25に入力される。
バ21によって駆動され、ラインイメージセンサ9の出力
信号は、増幅器22によって増幅され、シェーディング補
正・アナログ/デジタル変換部23によって光源の照度む
らやラインイメージセンサ9の素子の感度のバラツキ等
が補正されるとともに所定ビット数(例えば6ビットあ
るいは8ビット)のデジタルデータに変換され、MTF補
正部24によって後述するMTF補正処理がなされたのちに
主走査変倍部25に入力される。
主走査変倍部25は、主走査方向への画像の縮率に対応し
た論理演算処理等を行なって画像を変倍するものであ
り、その出力データが二値化処理部26によって所定の閾
値で二値化され、白黒の二値データとして出力回路27を
介して次段装置に出力される。なお、この二値化処理部
26による閾値を画像の濃度に応じてダイナミックに変化
させることもあり、また、擬似中間調に変換する中間調
処理を行なうこともできる。
た論理演算処理等を行なって画像を変倍するものであ
り、その出力データが二値化処理部26によって所定の閾
値で二値化され、白黒の二値データとして出力回路27を
介して次段装置に出力される。なお、この二値化処理部
26による閾値を画像の濃度に応じてダイナミックに変化
させることもあり、また、擬似中間調に変換する中間調
処理を行なうこともできる。
ところで、この実施例で用いているラインイメージセン
サ9は5000個分の素子を備えているとともに、読み取り
速度をある程度大きくできるように主走査開始位置から
偶数番目の素子と奇数番目の素子とで別々な系統で読み
出されている。
サ9は5000個分の素子を備えているとともに、読み取り
速度をある程度大きくできるように主走査開始位置から
偶数番目の素子と奇数番目の素子とで別々な系統で読み
出されている。
そこで、ラインイメージセンサ9から偶数番目の画素の
信号として出力される画信号EVと、この画信号EVとは時
系列で相補的に奇数番目の画素の信号として出力される
画信号ODとは、おのおの増幅器22a,22bによって別個に
増幅され、これらの増幅器22a,22bの出力段が接続され
て1つにまとめられ、シェーディング補正・アナログ/
デジタル変換部23に加えられている。
信号として出力される画信号EVと、この画信号EVとは時
系列で相補的に奇数番目の画素の信号として出力される
画信号ODとは、おのおの増幅器22a,22bによって別個に
増幅され、これらの増幅器22a,22bの出力段が接続され
て1つにまとめられ、シェーディング補正・アナログ/
デジタル変換部23に加えられている。
このように、偶数番目の画信号EVと奇数番目の画信号OD
とが別個な増幅器22a,22bによってそれぞれ増幅される
ため、これらの増幅器22a,22bの特性の相違によって次
のような不都合を生じる。
とが別個な増幅器22a,22bによってそれぞれ増幅される
ため、これらの増幅器22a,22bの特性の相違によって次
のような不都合を生じる。
シェーディング補正・アナログ/デジタル変換部23で
は、基準の白画像(図示略)を読み取ったときのレベル
を1として、増幅器22a,22bから出力される画信号EVと
画信号ODをそのレベルからの相対比に変換する。そのた
め、基準の白画像と同一の白レベルは画信号EVと画信号
ODとで同一の値をもつデジタルデータ(例えば全ての桁
がデータ「1」)に変換され、増幅器22a,22bの特性の
相違が原因となる不都合を生じることはない。
は、基準の白画像(図示略)を読み取ったときのレベル
を1として、増幅器22a,22bから出力される画信号EVと
画信号ODをそのレベルからの相対比に変換する。そのた
め、基準の白画像と同一の白レベルは画信号EVと画信号
ODとで同一の値をもつデジタルデータ(例えば全ての桁
がデータ「1」)に変換され、増幅器22a,22bの特性の
相違が原因となる不都合を生じることはない。
また、二値化処理部26で確実に黒と判断されるようなレ
ベル(高濃度、低輝度)の黒画像は、シェーディング補
正・アナログ/デジタル変換部23でほぼ同じような値の
デジタルデータに変換されるため、高い濃度の部分の画
像も、増幅器22a,22bの特性の相違が原因となる不都合
を生じることはない。
ベル(高濃度、低輝度)の黒画像は、シェーディング補
正・アナログ/デジタル変換部23でほぼ同じような値の
デジタルデータに変換されるため、高い濃度の部分の画
像も、増幅器22a,22bの特性の相違が原因となる不都合
を生じることはない。
ところが、黒から白までの中間レベルの領域において
は、画素の輝度に対応するシェーディング補正・アナロ
グ/デジタル変換部23の出力データの値が、例えば、増
幅器22aを介して出力された画信号EVについては第4図
に曲線CV1で示したようになり、また、増幅器22bを介し
て出力された画信号ODについては同図に曲線CV2で示し
たようになって、両者が相違する。
は、画素の輝度に対応するシェーディング補正・アナロ
グ/デジタル変換部23の出力データの値が、例えば、増
幅器22aを介して出力された画信号EVについては第4図
に曲線CV1で示したようになり、また、増幅器22bを介し
て出力された画信号ODについては同図に曲線CV2で示し
たようになって、両者が相違する。
そのため、特に二値化処理部26に設定されている閾値SH
周辺での両者の相違が大きい場合、そのレベルの画像に
おいて主走査方向の偶数番目の画素が黒と判別されるの
に対して奇数番目の画素が白と判別され、ノッチノイズ
等の原因となる。
周辺での両者の相違が大きい場合、そのレベルの画像に
おいて主走査方向の偶数番目の画素が黒と判別されるの
に対して奇数番目の画素が白と判別され、ノッチノイズ
等の原因となる。
また、第14図(a),(b)に示した従来のナイキスト
周波数を強調するようなMTF補正フィルタを用いてMTF補
正した場合、かかる特性の相違による信号レベルの相違
が強調されることになるので、上述した不都合を増大す
ることになって好ましくない。
周波数を強調するようなMTF補正フィルタを用いてMTF補
正した場合、かかる特性の相違による信号レベルの相違
が強調されることになるので、上述した不都合を増大す
ることになって好ましくない。
そこで、本発明者は、第5図に示したような特性をも
ち、ナイキスト周波数fnよりも若干小さい周波数(ここ
ではサンプリング周波数の3/8)に利得のピークをも
ち、低周波成分にはあまり関与せず、高周波成分につい
て感度の高いバンドパスフィルタをMTF補正フィルタに
用いることで、かかる不都合を解消できることを発見し
た。
ち、ナイキスト周波数fnよりも若干小さい周波数(ここ
ではサンプリング周波数の3/8)に利得のピークをも
ち、低周波成分にはあまり関与せず、高周波成分につい
て感度の高いバンドパスフィルタをMTF補正フィルタに
用いることで、かかる不都合を解消できることを発見し
た。
すなわち、かかるバンドパス特性をもつMTF補正フィル
タを用いることで、もともとMTFが非常に小さくなるこ
とが原因となって信頼性を低下したナイキスト周波数の
信号成分を強調することが防止され、同時に、主走査方
向の偶数番目と奇数番目で別々の増幅器22a,22bを用い
ていることが原因となる周期的なレベル変動の影響を除
くことができる。
タを用いることで、もともとMTFが非常に小さくなるこ
とが原因となって信頼性を低下したナイキスト周波数の
信号成分を強調することが防止され、同時に、主走査方
向の偶数番目と奇数番目で別々の増幅器22a,22bを用い
ていることが原因となる周期的なレベル変動の影響を除
くことができる。
また当然のことながら、低周波成分はそのままの状態で
このMTF補正フィルタを通過するとともに、利得のピー
クの周波数成分の付近の信号成分が強調されるので、画
像のボケは修正される。
このMTF補正フィルタを通過するとともに、利得のピー
クの周波数成分の付近の信号成分が強調されるので、画
像のボケは修正される。
なお、第5図において、横軸uは原稿画像のサンプリン
グ間隔に対応する周波数を1としてあらわした周波数を
あらわしている。したがって、このMTF補正フィルタの
ピーク、サンプリング間隔が12ドット/mmの場合のサン
プリング周波数に相当する。
グ間隔に対応する周波数を1としてあらわした周波数を
あらわしている。したがって、このMTF補正フィルタの
ピーク、サンプリング間隔が12ドット/mmの場合のサン
プリング周波数に相当する。
さて、かかる特性をもつMTF補正フィルタは、次のよう
にして形成することができる。
にして形成することができる。
まず、主走査方向および副走査方向の光学系の光学系の
周波数特性を求める。
周波数特性を求める。
この周波数特性を求めるための方法いくつかあるが、こ
こでは、線広がり関数h(x)を測定し、その線広がり
関数h(x)をフーリエ変換して求める。ここで、線広
がり関数h(x)は、サンプリングピッチをPとしてと
き、太さのPの線を読み取ったときの線幅方向への読み
取りデータの広がりを示すもので、電気系のインパルス
応答に相当する。
こでは、線広がり関数h(x)を測定し、その線広がり
関数h(x)をフーリエ変換して求める。ここで、線広
がり関数h(x)は、サンプリングピッチをPとしてと
き、太さのPの線を読み取ったときの線幅方向への読み
取りデータの広がりを示すもので、電気系のインパルス
応答に相当する。
主走査方向の線広がり関数h(x)は、第6図(a)に
示したように、主走査方向に直交する方向に幅P(この
場合は1/16(mm))の直線を原稿に描き、この直線を読
み取ったとき、その直線を読み取っている画素のレベル
と、その画素から左右方向に連続している画素のレベル
を測定して得られ、例えば第7図(a)に示したような
ものとなった。したがって、この線広がり関数h(x)
をフーリエ変換して得られた関数H(u)は、同図
(b)のようになる。
示したように、主走査方向に直交する方向に幅P(この
場合は1/16(mm))の直線を原稿に描き、この直線を読
み取ったとき、その直線を読み取っている画素のレベル
と、その画素から左右方向に連続している画素のレベル
を測定して得られ、例えば第7図(a)に示したような
ものとなった。したがって、この線広がり関数h(x)
をフーリエ変換して得られた関数H(u)は、同図
(b)のようになる。
この第7図(a)においては、直線を読み取っている画
素を距離xの基準位置(「0」)とし、その位置でのレ
ベル「1」として他の位置でのレベルを規格化してい
る。また、距離xは、P=1と規格化したときの座標値
で示している。また同図(b)においては、サンプリン
グピッチPに対応した周波数を1として、周波数を規格
化してあらわしている。
素を距離xの基準位置(「0」)とし、その位置でのレ
ベル「1」として他の位置でのレベルを規格化してい
る。また、距離xは、P=1と規格化したときの座標値
で示している。また同図(b)においては、サンプリン
グピッチPに対応した周波数を1として、周波数を規格
化してあらわしている。
副走査方向の線広がり関数h(x)は、第6図(b)に
示したように、副走査方向に直交する方向に幅Pの直線
を原稿に描き、その直線を読み取ったときのレベルと、
その読み取りラインから前後の複数のラインの読み取り
レベルを測定して得られ、例えば第8図(a)にような
ものとなった。したがって、この線広がり関数h(x)
をフーリエ変換して得られた関数H(u)は、同図
(b)のようになる。
示したように、副走査方向に直交する方向に幅Pの直線
を原稿に描き、その直線を読み取ったときのレベルと、
その読み取りラインから前後の複数のラインの読み取り
レベルを測定して得られ、例えば第8図(a)にような
ものとなった。したがって、この線広がり関数h(x)
をフーリエ変換して得られた関数H(u)は、同図
(b)のようになる。
この第8図(a)においては、直線を読み取っている副
走査位置を距離xの基準位置(「0」)とし、その位置
でのレベルを「1」として他の位置でのレベルを規格化
している。また、距離xは、P=1と規格化したときの
座標値で示している。また同図(b)においては、サン
プリングピッチPに対応した周波数を1として、周波数
を規格化してあらわしている。
走査位置を距離xの基準位置(「0」)とし、その位置
でのレベルを「1」として他の位置でのレベルを規格化
している。また、距離xは、P=1と規格化したときの
座標値で示している。また同図(b)においては、サン
プリングピッチPに対応した周波数を1として、周波数
を規格化してあらわしている。
したがって、MTF補正フィルタは、主走査方向および副
走査方向について、おのおのの関数H(u)の逆数1/H
(u)の周波数特性をもつように構成すればよい。
走査方向について、おのおのの関数H(u)の逆数1/H
(u)の周波数特性をもつように構成すればよい。
さて、MTFを補正する関数をi(x)とすると、MTF補正
フィルタの要素をあらわす関数i(x)の離散値i(m
Δx)は、上述した関数H(u)を使って次式(I)に
より求めることができる。
フィルタの要素をあらわす関数i(x)の離散値i(m
Δx)は、上述した関数H(u)を使って次式(I)に
より求めることができる。
ここで、Mはサンプリング数、M′=M/2、Δxはサン
プリングピッチ(=P)、Δu0=1/M、Kは規格化係
数、k,m(=−M′,−M′+1,…,0,1,…,M′,−
1)、である。
プリングピッチ(=P)、Δu0=1/M、Kは規格化係
数、k,m(=−M′,−M′+1,…,0,1,…,M′,−
1)、である。
また、各サンプリング点における濃淡データをS(mΔ
x)とすると、i(mΔx)によるMTF補正数のデータ
0(mΔx)は次式(II)のようになる。
x)とすると、i(mΔx)によるMTF補正数のデータ
0(mΔx)は次式(II)のようになる。
したがって、式(II)に基づいた演算を行なうために
は、主走査方向および副走査方向についておのおののサ
ンプリング数だけ隣接した画素に対する処理が必要にな
る。ここでは、主走査方向には3画素、副走査方向には
4画素である。
は、主走査方向および副走査方向についておのおののサ
ンプリング数だけ隣接した画素に対する処理が必要にな
る。ここでは、主走査方向には3画素、副走査方向には
4画素である。
しかしながら、かかる演算を完全に表現するには回路構
成が複雑になるので、画信号の実時間処理に適合するこ
とができない。また、原稿画像を読み取っているときの
線広がり関数h(x)が、画像の全ての範囲にわたって
必ずしも一定とは限らず、装置間で同一とも限らない。
したがって、このような原稿読取装置では、MTF補正演
算の精度をあまり高くする必要がないと考えられる。そ
のため本実施例では、隣接する1〜2画素について近似
にMTF補正演算をすることで、回路構成が複雑になるこ
とを抑制するとともに、高速な演算を実現して実時間処
理に適合できるようにしている。
成が複雑になるので、画信号の実時間処理に適合するこ
とができない。また、原稿画像を読み取っているときの
線広がり関数h(x)が、画像の全ての範囲にわたって
必ずしも一定とは限らず、装置間で同一とも限らない。
したがって、このような原稿読取装置では、MTF補正演
算の精度をあまり高くする必要がないと考えられる。そ
のため本実施例では、隣接する1〜2画素について近似
にMTF補正演算をすることで、回路構成が複雑になるこ
とを抑制するとともに、高速な演算を実現して実時間処
理に適合できるようにしている。
そこで、まず、周囲1画素によるMTF補正を考える。す
なわち、関数i(mΔx)を次式(III)のようにお
く。
なわち、関数i(mΔx)を次式(III)のようにお
く。
i(mΔx)=[b,a,b] …(III) したがって、この関数i(mΔx)の周波数特性I
(u)は、次式(IV)のようになる。
(u)は、次式(IV)のようになる。
I(u)=|a+2b(cos2πu)| …(IV) すなわち、次式(V)を満足するa,bを求めればよい。
I(u)=1/H(u) …(V) しかしながら、上述のように主走査方向に3画素、副走
査方向に4画素のデータを用いなければこの式(V)を
完全に満足することができないので、u=0およびu=
αの2点で式(V)を近似する。なお、ここでαとして
は、第5図に示した特性を得るために3/8を設定する
が、それ以下の値を設定することができる。
査方向に4画素のデータを用いなければこの式(V)を
完全に満足することができないので、u=0およびu=
αの2点で式(V)を近似する。なお、ここでαとして
は、第5図に示した特性を得るために3/8を設定する
が、それ以下の値を設定することができる。
ところで、式(IV)において、例えばb=1に固定して
aを−2,−1,0,1,2に変化したとき、周波数特性I
(u)は第9図のように変化するので、第5図に示した
バンドパス特性を実現することができない。
aを−2,−1,0,1,2に変化したとき、周波数特性I
(u)は第9図のように変化するので、第5図に示した
バンドパス特性を実現することができない。
かかるバンドパス特性を実現するためには、ハイパス特
性とローパス特性を組み合わせればよい。すなわち、ハ
イパ特性をもIH(u)とローパス特性をもつIL(u)と
を掛け合わせ、IB(u)なるバンドパス特性を形成す
る。
性とローパス特性を組み合わせればよい。すなわち、ハ
イパ特性をもIH(u)とローパス特性をもつIL(u)と
を掛け合わせ、IB(u)なるバンドパス特性を形成す
る。
ここで、IH(u),IL(u),IB(u)は、おのおの次式
(VI),(VII),(VIII)によってあらわされる。
(VI),(VII),(VIII)によってあらわされる。
IH(u)=|a+2b(cos2πu)| …(VI) IL(u)=|c+2b(cos2πu)| …(VII) IB(u)=IH(u)・IL(u) =ac+2(ad+bc)cos2πu+4bdcos22πu…(VIII) ただし、ハイパスフィルタおよびローパスフィルタの条
件により、 a>0,b<0,c>0,d>0 また、IH(0)=IL(0)=1より、 a+2b=1,c+2d=1 …(IX) さらに、IB(u)がu=3/8以下の領域でハイパス特性
をもつためには、式(VIII)の第2項で ad+bd≦0 …(X) またピーク値がu=3/8に一致するように、 dIB(u)du=−4π(ad+bc)sin2πu −16πbd(sin2πu・cos2πu) =−4πusin2πu{(ad+bc)+4bd(cos2πu)}…
(XI) より、 (1/2π)cos-1(−(ad+bd)/4bd)=3/8 …(XII) さらに、第7図および第8図における関数H(u)の逆
数1/H(u)とIB(u)を、u=0とu=α(α≦3/8)
で一致させるように式(VIII)に条件を与える。
件により、 a>0,b<0,c>0,d>0 また、IH(0)=IL(0)=1より、 a+2b=1,c+2d=1 …(IX) さらに、IB(u)がu=3/8以下の領域でハイパス特性
をもつためには、式(VIII)の第2項で ad+bd≦0 …(X) またピーク値がu=3/8に一致するように、 dIB(u)du=−4π(ad+bc)sin2πu −16πbd(sin2πu・cos2πu) =−4πusin2πu{(ad+bc)+4bd(cos2πu)}…
(XI) より、 (1/2π)cos-1(−(ad+bd)/4bd)=3/8 …(XII) さらに、第7図および第8図における関数H(u)の逆
数1/H(u)とIB(u)を、u=0とu=α(α≦3/8)
で一致させるように式(VIII)に条件を与える。
これによって、式(VI)および式(VII)におけるa,b,
c,dを求めることができる。
c,dを求めることができる。
このようにしてa,b,c,dが決まると、2つの1次元フィ
ルタ、すなわちハイパス特性をもつフィルタ[b,a,b]
とローパス特性をもつフィルタ[d,c,d]を掛け合わせ
ることにより、次式(XIII)のようなバンドパスフィル
タを得ることができる。
ルタ、すなわちハイパス特性をもつフィルタ[b,a,b]
とローパス特性をもつフィルタ[d,c,d]を掛け合わせ
ることにより、次式(XIII)のようなバンドパスフィル
タを得ることができる。
[b,a,b]・[d,c,d] =[bd,ad+bc,ac+2bd,ad+bc,bd] …(XIII) すなわち、この式(XIII)であらわされたものが、第5
図に示した周波数特性をもつ関数iB(mΔx)(m=−
2,−1,0,1,2)となり、これによって、MTF補正を行なう
ことができる。
図に示した周波数特性をもつ関数iB(mΔx)(m=−
2,−1,0,1,2)となり、これによって、MTF補正を行なう
ことができる。
以上のようにして、主走査方向と副走査方向のおのおの
について関数iB(mΔx)を算出し、それらの要素を係
数にもつMTF補正フィルタをFx,Fyとすると、フィルタF
x,Fyは、次のようにあらわされる。
について関数iB(mΔx)を算出し、それらの要素を係
数にもつMTF補正フィルタをFx,Fyとすると、フィルタF
x,Fyは、次のようにあらわされる。
Fx=[C,B,A,B,C],Fy=[F,E,D,E,F] そこで、この2つのフィルタFx,Fyを組み合わせると、
第10図(a)に示したようなMTF補正フィルタFCを得る
ことができる。
第10図(a)に示したようなMTF補正フィルタFCを得る
ことができる。
このMTF補正フィルタFCは、主走査方向および副走査方
向に、第5図に示したようなバンドパス特性をもち、こ
れによって、もともとMTFが非常に小さくなることが原
因となって信頼性が低下したナイキスト周波数の信号成
分を強調することが防止され、同時に、主走査方向の偶
数番目と奇数番目で別々の増幅器22a,22bを用いている
ことが原因となる周期的なレベル変動の影響を除くこと
ができる。また、低周波成分はそのままの状態でこのMT
F補正フィルタを通過するとともに、利得のピークの周
波数成分の付近の信号成分が強調されるので、画像のボ
ケは修正される。
向に、第5図に示したようなバンドパス特性をもち、こ
れによって、もともとMTFが非常に小さくなることが原
因となって信頼性が低下したナイキスト周波数の信号成
分を強調することが防止され、同時に、主走査方向の偶
数番目と奇数番目で別々の増幅器22a,22bを用いている
ことが原因となる周期的なレベル変動の影響を除くこと
ができる。また、低周波成分はそのままの状態でこのMT
F補正フィルタを通過するとともに、利得のピークの周
波数成分の付近の信号成分が強調されるので、画像のボ
ケは修正される。
また、フィルタFx,Fyの各係数を用いたMTF補正フィルタ
の他の例を第11図に示す。
の他の例を第11図に示す。
このMTF補正フィルタFKは、5×5のマトリクスからな
り、各マトリクス要素Dij(i,j=1,2,3,4,5)は、主走
査方向および副走査方向にそれぞれ図に破線で示したよ
うに各要素を加算したとき、それぞれの加算結果がフィ
ルタFx,Fyの各係数に一致するように構成されている。
り、各マトリクス要素Dij(i,j=1,2,3,4,5)は、主走
査方向および副走査方向にそれぞれ図に破線で示したよ
うに各要素を加算したとき、それぞれの加算結果がフィ
ルタFx,Fyの各係数に一致するように構成されている。
ところで、上述した実施例では、とくに主走査方向につ
いては、偶数番目と奇数番目で別々の増幅器22a,22bを
用いていることが原因となる周期的なレベル変動の影響
が強いために、主走査方向のMTF補正フィルタにはバン
ドパス特性をもたせる必要がとくにあるが、副走査方向
については、そのようなレベル変動の影響がどくにない
ので、副走査方向のMTF補正フィルタにはハイパス特性
をもたせるだけでよい場合もある。
いては、偶数番目と奇数番目で別々の増幅器22a,22bを
用いていることが原因となる周期的なレベル変動の影響
が強いために、主走査方向のMTF補正フィルタにはバン
ドパス特性をもたせる必要がとくにあるが、副走査方向
については、そのようなレベル変動の影響がどくにない
ので、副走査方向のMTF補正フィルタにはハイパス特性
をもたせるだけでよい場合もある。
そのような場合は、副走査方向のMTF補正フィルタの特
性をハイパス特性になるようにフィルタの各係数を設定
すればよい。すなわち、例えば第10図(b)に示したよ
うな主走査方向に5に、副走査方向の3のサイズのMTF
補正フィルタFDを用いることができる。
性をハイパス特性になるようにフィルタの各係数を設定
すればよい。すなわち、例えば第10図(b)に示したよ
うな主走査方向に5に、副走査方向の3のサイズのMTF
補正フィルタFDを用いることができる。
このMTF補正フィルタFDの各係数の一例を同図(c)に
示す。
示す。
さて、上述した実施例では、主走査方向の変倍は、主走
査変倍部25でデジタル演算を実行することによってなさ
れているが、副走査方向の変倍は光学系の走査速度を変
更することで行なっている。例えば、50%の倍率で変倍
するときには、光学系の走査速度を2倍にし、200%の
倍率で変倍するときには、光学系の走査速度を1/2にす
る。なお、このように副走査方向の走査速度を変えた場
合でも、主走査方向の走査周期は一定である。
査変倍部25でデジタル演算を実行することによってなさ
れているが、副走査方向の変倍は光学系の走査速度を変
更することで行なっている。例えば、50%の倍率で変倍
するときには、光学系の走査速度を2倍にし、200%の
倍率で変倍するときには、光学系の走査速度を1/2にす
る。なお、このように副走査方向の走査速度を変えた場
合でも、主走査方向の走査周期は一定である。
このように、光学系の走査速度を変えて副走査方向の1
ステップに対応する読取原稿上の距離を変えた場合、副
走査方向の線広がり関数h(x)が変わることがある。
ステップに対応する読取原稿上の距離を変えた場合、副
走査方向の線広がり関数h(x)が変わることがある。
例えば、倍率50%で変倍するときの線広がり関数h
(x)は第12図(a)に示したようなものになり、倍率
200%で変倍するときの線広がり関数h(x)は第13図
(a)に示したようなものになる。
(x)は第12図(a)に示したようなものになり、倍率
200%で変倍するときの線広がり関数h(x)は第13図
(a)に示したようなものになる。
また、おのおのの線広がり関数h(x)のフーリエ変換
して得られた関数H(u)は、それぞれ第12図(b)お
よび第13図(b)に示したようなものになる。
して得られた関数H(u)は、それぞれ第12図(b)お
よび第13図(b)に示したようなものになる。
したがって、MTF補正フィルタの各係数を、画像の読み
取り倍率に従って設定すると、より効果的なMTF補正を
行なうことができる。
取り倍率に従って設定すると、より効果的なMTF補正を
行なうことができる。
すなわち、倍率50%の場合のMTF補正フィルタFEと、倍
率200%の場合のMTF補正フィルタFFは、例えばそれぞれ
第10図(d),(e)に示したようなもになる。
率200%の場合のMTF補正フィルタFFは、例えばそれぞれ
第10図(d),(e)に示したようなもになる。
ところで、上述した実施例では、MTF補正フィルタの各
係数を設定するために、主走査方向と副走査方向につい
て光学系の線広がり関数をおのおの設定するとともに、
主走査方向と副走査方向の1次元フィルタを形成してそ
れらを組み合わせているが、光学系の点広がり関数を測
定すれば、その測定結果に基づいて2次元フィルタを直
接形成することができる。
係数を設定するために、主走査方向と副走査方向につい
て光学系の線広がり関数をおのおの設定するとともに、
主走査方向と副走査方向の1次元フィルタを形成してそ
れらを組み合わせているが、光学系の点広がり関数を測
定すれば、その測定結果に基づいて2次元フィルタを直
接形成することができる。
なお、上述した実施例では、MTF補正演算の精度をあま
り必要としないという判断から1〜2画素分のデータを
用いてMTF補正フィルタの各係数を設定しているが、精
度を必要とする装置では、おのおののサンプリング数だ
けの画素のデータを用いてMTF補正フィルタの各係数を
設定する必要がある。
り必要としないという判断から1〜2画素分のデータを
用いてMTF補正フィルタの各係数を設定しているが、精
度を必要とする装置では、おのおののサンプリング数だ
けの画素のデータを用いてMTF補正フィルタの各係数を
設定する必要がある。
また、上述した実施例では、倍率が100%(等倍)、50
%、および、200%の場合についてMTF補正フィルタをお
のおの形成しているが、さらに他の倍率に対応したMTF
補正フィルタを形成することもできる。またおのおのの
MTF補正フィルタの適用は、例えば倍率が70%以下の場
合には50%の倍率に対応したMTFフィルタを、70%以上1
50%以下の場合には100%の倍率に対応したMTF補正フィ
ルタを、それ以上の倍率の場合には200%の倍率に対応
したMTF補正フィルタを用いることができる。
%、および、200%の場合についてMTF補正フィルタをお
のおの形成しているが、さらに他の倍率に対応したMTF
補正フィルタを形成することもできる。またおのおのの
MTF補正フィルタの適用は、例えば倍率が70%以下の場
合には50%の倍率に対応したMTFフィルタを、70%以上1
50%以下の場合には100%の倍率に対応したMTF補正フィ
ルタを、それ以上の倍率の場合には200%の倍率に対応
したMTF補正フィルタを用いることができる。
またさらに、上述した実施例では読取原稿を固定し、光
学系を移動して副走査方向に画像を走査しているが、光
学系を固定して読取原稿を副走査方向に搬送する機構の
原稿読取装置にも、本発明を適用することができる。
学系を移動して副走査方向に画像を走査しているが、光
学系を固定して読取原稿を副走査方向に搬送する機構の
原稿読取装置にも、本発明を適用することができる。
また、上述した実施例における線広がり関数およびMTF
補正フィルタの係数は一例であって、それに限定される
ものではない。
補正フィルタの係数は一例であって、それに限定される
ものではない。
さらに、上述した実施例では、MTF補正フィルタの利得
のピークをナイキスト周波数の3/4の位置に設定してい
るが、このピークの設定条件はこれに限ることはない。
のピークをナイキスト周波数の3/4の位置に設定してい
るが、このピークの設定条件はこれに限ることはない。
なお本発明における制御系の構成は、上述した実施例の
構成に限るものではない。
構成に限るものではない。
[効果] 以上説明したように、本発明によれば、所定間隔に対応
したナイキスト周波数よりも小さい周波数をピークとす
るバンドパス特性を有するフィルタを備え、このフィル
タにより画像データを補正するので、従来のものほどナ
イキスト周波数の信号成分を用いないため、高い品質で
高解像度に原稿画像を読み取ることができる。
したナイキスト周波数よりも小さい周波数をピークとす
るバンドパス特性を有するフィルタを備え、このフィル
タにより画像データを補正するので、従来のものほどナ
イキスト周波数の信号成分を用いないため、高い品質で
高解像度に原稿画像を読み取ることができる。
【図面の簡単な説明】 第1図は本発明の一実施例にかかる原稿読取装置の光学
系の一例を示した概略構成図、第2図は本発明の一実施
例にかかる原稿読取装置の制御系の一例を示したブロッ
ク図、第3図は増幅器の構成例を示したブロック図、第
4図は主走査方向の偶数番目と奇数番目の特性の相違を
示したグラフ図、第5図は本発明の一実施例にかかるMT
F補正フィルタの特性例を示したグラフ図、第6図
(a),(b)は主走査方向および副走査方向の線広が
り関数の測定方法の概略を示す説明図、第7図(a)は
主走査方向の線広がり関数の一例を示したグラフ図、同
図(b)はそのフーリエ関数を示したグラフ図、第8図
(a)は副走査方向の線広がり関数の一例を示したグラ
フ図、同図(b)はそのフーリエ関数を示したグラフ
図、第9図は周波数特性例を示したグラフ図、第10図
(a)はMTF補正フィルタの一例を示した概略図、同図
(b)はMTF補正フィルタの他の例を示した概略図、同
図(c)はMTF補正フィルタの一具体例を示した概略
図、同図(d)はMTF補正フィルタの他の具体例を示し
た概略図、同図(e)はMTF補正フィルタのさらに他の
具体例を示した概略図、第11図はMTF補正フィルタのさ
らに他の例を示した概略図、第12図(a)は副走査方向
の線広がり関数の他の例を示したグラフ図、同図(b)
はそのフーリエ関数を示したグラフ図、第13図(a)は
副走査方向の線広がり関数のさらに他の例を示したグラ
フ図、同図(b)はそのフーリエ関数を示したグラフ
図、第14図(a)はMTF補正フィルタの従来例を示した
概略図、同図(b)はその特性を示したグラフ図、第15
図はMTF劣化の説明をするための説明図である。 9……ラインイメージセンサ、22,22a,22b……増幅器、
23……シェーディング補正・アナログ/デジタル変換
部、24……MTF補正部、26……二値化処理部、27……出
力回路、FC,FD,FE,FF,FK……MTF補正フィルタ。
系の一例を示した概略構成図、第2図は本発明の一実施
例にかかる原稿読取装置の制御系の一例を示したブロッ
ク図、第3図は増幅器の構成例を示したブロック図、第
4図は主走査方向の偶数番目と奇数番目の特性の相違を
示したグラフ図、第5図は本発明の一実施例にかかるMT
F補正フィルタの特性例を示したグラフ図、第6図
(a),(b)は主走査方向および副走査方向の線広が
り関数の測定方法の概略を示す説明図、第7図(a)は
主走査方向の線広がり関数の一例を示したグラフ図、同
図(b)はそのフーリエ関数を示したグラフ図、第8図
(a)は副走査方向の線広がり関数の一例を示したグラ
フ図、同図(b)はそのフーリエ関数を示したグラフ
図、第9図は周波数特性例を示したグラフ図、第10図
(a)はMTF補正フィルタの一例を示した概略図、同図
(b)はMTF補正フィルタの他の例を示した概略図、同
図(c)はMTF補正フィルタの一具体例を示した概略
図、同図(d)はMTF補正フィルタの他の具体例を示し
た概略図、同図(e)はMTF補正フィルタのさらに他の
具体例を示した概略図、第11図はMTF補正フィルタのさ
らに他の例を示した概略図、第12図(a)は副走査方向
の線広がり関数の他の例を示したグラフ図、同図(b)
はそのフーリエ関数を示したグラフ図、第13図(a)は
副走査方向の線広がり関数のさらに他の例を示したグラ
フ図、同図(b)はそのフーリエ関数を示したグラフ
図、第14図(a)はMTF補正フィルタの従来例を示した
概略図、同図(b)はその特性を示したグラフ図、第15
図はMTF劣化の説明をするための説明図である。 9……ラインイメージセンサ、22,22a,22b……増幅器、
23……シェーディング補正・アナログ/デジタル変換
部、24……MTF補正部、26……二値化処理部、27……出
力回路、FC,FD,FE,FF,FK……MTF補正フィルタ。
Claims (3)
- 【請求項1】原稿画像を所定間隔でサンプリングして画
像データに変換する画像読取装置において、 上記所定間隔に対応したナイキスト周波数よりも小さい
周波数をピークとするバンドパス特性有するフィルタ手
段を備え、このフィルタ手段により上記画像データを補
正することを特徴とする原稿読取装置。 - 【請求項2】特許請求の範囲第1項記載において、前記
フィルタ手段は、主走査方向と副走査方向とで異なる特
性を有することを特徴とする原稿読取装置。 - 【請求項3】特許請求の範囲第1項記載において、前記
フィルタ手段は、MTF補正フィルタ手段であることを特
徴とする原稿読取装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61094818A JPH0740719B2 (ja) | 1986-04-25 | 1986-04-25 | 原稿読取装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61094818A JPH0740719B2 (ja) | 1986-04-25 | 1986-04-25 | 原稿読取装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62252260A JPS62252260A (ja) | 1987-11-04 |
| JPH0740719B2 true JPH0740719B2 (ja) | 1995-05-01 |
Family
ID=14120634
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61094818A Expired - Lifetime JPH0740719B2 (ja) | 1986-04-25 | 1986-04-25 | 原稿読取装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0740719B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015192176A (ja) * | 2014-03-27 | 2015-11-02 | 富士ゼロックス株式会社 | 補正制御装置、画像読取装置、補正制御プログラム |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55163472A (en) * | 1978-12-26 | 1980-12-19 | Fuji Photo Film Co Ltd | Radiant ray image processing method |
| JPS5757087A (en) * | 1980-09-24 | 1982-04-06 | Canon Inc | Copying device |
| JPS5795759A (en) * | 1980-12-05 | 1982-06-14 | Canon Inc | Picture signal processing device |
| JPS5971563A (ja) * | 1982-10-16 | 1984-04-23 | Toshiba Corp | 空間フイルタリング装置 |
| JPH0748796B2 (ja) * | 1984-06-09 | 1995-05-24 | 富士写真フイルム株式会社 | 画像信号補正方法 |
| JPS6166473A (ja) * | 1984-09-10 | 1986-04-05 | Canon Inc | 画像処理装置 |
-
1986
- 1986-04-25 JP JP61094818A patent/JPH0740719B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62252260A (ja) | 1987-11-04 |
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