JPH0744357B2 - Ic位置決め装置 - Google Patents

Ic位置決め装置

Info

Publication number
JPH0744357B2
JPH0744357B2 JP2001482A JP148290A JPH0744357B2 JP H0744357 B2 JPH0744357 B2 JP H0744357B2 JP 2001482 A JP2001482 A JP 2001482A JP 148290 A JP148290 A JP 148290A JP H0744357 B2 JPH0744357 B2 JP H0744357B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
optical element
substrate
optical
reflection mirror
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2001482A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH03208399A (ja
Inventor
幸一 大森
直之 村田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Avionics Co Ltd
Original Assignee
Nippon Avionics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Avionics Co Ltd filed Critical Nippon Avionics Co Ltd
Priority to JP2001482A priority Critical patent/JPH0744357B2/ja
Publication of JPH03208399A publication Critical patent/JPH03208399A/ja
Publication of JPH0744357B2 publication Critical patent/JPH0744357B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はIC(集積回路)のアウターリードを、プリント
基板上のパターンに全リードを同時に半田付けするIC半
田付け装置等に適用して好適なIC位置決め装置に関す
る。
[従来の技術] 近年、ICリードはIC自体の微細化および高密度化に伴
い、その数が急激に増加し、またリード幅およびリード
間隔も著しく狭くなってきていることから、プリント基
板への半田付け実装に際しては、高い位置決め精度が要
求されている。
第2図はIC半田付け装置に用いられている従来のIC位置
決め装置を示す模式図である。同図において、1は前後
左右方向に移動調整されると共に回転されるステージ、
2はステージ1上に設置されたプリント基板、3はステ
ージ1の上方に上下動自在に配置されてIC4を吸着保持
し、これをプリント基板2上に半田付け等により接合す
るヒーターツール、5はプリント基板2とIC4との間に
配置されたアライメント光学系で、このアライメント光
学系5はハーフミラー6、ハーフミラー6の両側に配設
された全反射ミラー7および顕微鏡8とで構成されてい
る。IC4を光源12からの光によって照射すると、その反
射光9はハーフミラー6に入射し、反射光10と透過光11
に2分割される。反射光10は全反射ミラー7に当たって
反射し、同一光路を通って再びハーフミラー6に入射す
る。そしてこの反射光10はハーフミラー6を透過して顕
微鏡8に入射し、IC4の像をそのスクリーン上に結像さ
せる。一方、プリント基板2を光源13からのひかりで照
射すると、その反射光11はハーフミラー6に入射してそ
の一部が透過し、残りが反射して前記顕微鏡8に入射
し、プリント基板2の像をスクリーン上に結像させる。
したがって、スクリーン上にはプリント基板2とIC4の
像が合成され、そのずれを視認しながらステージ1を移
動調整してプリント基板2とIC4の像を一致させること
で、位置合わせが行われる。位置合わせが完了すると、
アライメント光学系5をプリント基板2の上方から側方
に退避させて、ヒーターツール3を下降させ、IC4をプ
リント基板2上に所定圧にて加圧し、加熱することで接
合される。
[発明が解決しようとする課題] ところで、このようなハーフミラー方式による従来のIC
位置決め装置においては、プリント基板2によって反射
されハーフミラー6を介して顕微鏡8に入射する光は元
の光量の半分に減少する。これに対して、IC4によって
反射された光9はハーフミラー6で反射される際、光量
を1/2とされた反射光10は全反射ミラー7に当たり戻っ
てくると更にハーフミラー6を透過する際に2分される
ため、顕微鏡8に入射する光量は元の光量の1/4に減少
する。したがって、光の損失が大きく、スクリーン上の
像が著しく低輝度になると云う欠点があった。
この場合、肉眼での直接視認においては位置合わせに何
とか支障ない明るさを確保し得るが、CCD(電荷結合素
子)カメラによって像を撮像し、これを電気信号に変換
してCRT(陰極線管)で表示する場合は、十分な輝度が
得られず極めて見にくいものである。
このため、大光量の光源を用いて映像輝度を上げること
も考えられるが、アライメント光学系5がプリント基板
2とIC4との間に位置しているため、照明を斜め方向か
ら当てなければならず、光量を均一にすることが困難で
あり、実用的ではない。また、プリント基板2とIC4と
の反射率の相違により、両者の輝度を等しくするには光
量を変える必要があり、2系統の照明を用意する必要が
ある。
したがって、本発明は上記したような従来の問題点に鑑
みてなされたもので、その目的とするところは、光の損
失が少なく、高輝度の像が得られ、位置合わせを容易且
つ高精度に行い得るようにしたIC位置決め装置を提供す
るものである。
[課題を解決するための手段] 本発明は上記目的を達成するためになされたもので、そ
の第1の発明は、ステージ上に載置された基板とこの基
板の上方に配置されたICとの位置決めを行うIC位置決め
装置において、撮像対象面に対し45度傾斜させて配置し
た全反射鏡の反射光路中に対物レンズを配置し基板また
はICのある定められた第1の部位のパターン像を形成す
る第1の光学素子群と、前記全反射鏡の反射光路に平行
な軸を挟んで前記全反射鏡と対称に配置した全反射鏡の
反射光路中に対物レンズと梯形プリズムとを配置しICま
たは基板の前記第1の部位に対応する部分の像を反転さ
せて形成する第2の光学素子群と、前記第1および第2
の光学素子群によって形成された前記第1の部位のパタ
ーン像とIC像とを同一視野に合成する光学素子とを備え
た第1のアライメント光学系と、撮像対象面に対し45度
傾斜させて配置した全反射鏡の反射光路中に対物レンズ
を配置し基板またはICのある定められた第2の部位のパ
ターン像を形成する第3の光学素子群と、前記第3の光
学素子群の全反射鏡の反射光路に平行な軸を挟んで第3
の光学素子群の全反射鏡と対称に配置した全反射鏡の反
射光路中に対物レンズと梯形プリズムとを配置しICまた
は基板の前記第2の部位に対応する部分の像を反転させ
て形成する第4の光学素子群と、前記第3および第4の
光学素子群によって形成された前記第2の部位のパター
ン像とIC像とを同一視野に合成する光学素子とを備えた
第2のアライメント光学系を備え、前記第1および第2
のアライメント光学系により合成された像を表示手段に
よって表示するようにしたものである。
また、第2の発明は、ステージ上に載置された基板とこ
の基板の上方に配置されたICとの位置決めを行うIC位置
決め装置において、撮像対象面に対し45度傾斜させて配
置した全反射鏡の反射光路中に対物レンズを配置し基板
またはICのある定められた第1の部位のパターン像を形
成する第1の光学素子群と、前記全反射鏡の反射光路に
平行な軸を挟んで前記全反射鏡と対称に配置した全反射
鏡の反射光路中に対物レンズと梯形プリズムとを配置し
ICまたは基板の前記第1の部位に対応する部分の像を反
転させて形成する第2の光学素子群と、前記第1および
第2の光学素子群によって形成された前記第1の部位の
パターン像とIC像とを同一視野に合成する光学素子とを
備えたアライメント光学系と、該アライメント光学系を
前記基板のある定められた第2の部位および前記ICの前
記第2の部位に対応する部分に移動させる摺動機構とを
備え、前記第1および第2の部位においてそれぞれ合成
された像を表示手段によって合成して表示するようにし
たものである。
[作用] 本発明において、基板とICのある定められた第1の部位
のパターン像は、第1のアラメント光学系の光路中に配
置された第1、第2の光学素子群によって形成される。
また、基板とICのある定められた第2の部位のパターン
像は、第2のアライメント光学系の光路中に配置された
第3、第4の光学素子群によって形成される。この場
合、第2、第4の光学素子群はパターン像を反転形成す
る。第1,第2の光学素子群によるパターン像とIC像は第
1のアライメント光学系によって同一視野に合成され
る。第3,第4の光学素子群によるパターン像とIC像は第
2のアライメント光学系によって同一視野に合成され
る。第1、第2のアライメント光学系により合成された
像は表示手段によってそれぞれ表示される。これら合成
像同士のずれは、ステージの移動調整によって補正さ
れ、基板とICの位置合わせが行われる。
この場合、基板のパターン像とIC像を得るために基板と
ICに対してそれぞれアライメント光学系を別設している
ので、ハーフミラーを含まない光学素子でアライメント
光学系を構成することができる。
[実施例] 以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて詳細に説明
する。
第1図は本発明に係るIC位置決め装置の一実施例を示す
模式図である。なお、図中第2図と同一構成部品、部分
については同一符号を以て示し、その説明を省略する。
同図において、20はプリント基板2を照射する光源、21
はIC4を照射する光源、22はステージ1上に載置された
プリント基板2とこのIC4との位置決めを行う第1のア
ライメント光学系である。第1のアライメント光学系22
は、第1の光路23中に配設されプリント基板2のある定
められた第1の部位A1のパターン像を形成する第1の光
学素子群24と、第2の光路25中に配設され前記IC4の前
記第1の部位A1に対応する部位B1の像を反転させて形成
する第2の光学素子群26と、前記第1および第2の光学
素子群24、26によって形成された基板パターン像とIC像
とを収束し、同一視野に合成する光学素子27とで構成さ
れている。第1の光学素子群24は直角プリズム28と、対
物レンズ29とで構成され、第2の光学素子群26は直角プ
リズム30と、対物レンズ31と、梯形プリズム32とで構成
されている。像合成用の光学素子27は第1および第2の
光路23、25に対して共通に配設され前記基板パターン像
とIC像をCCD素子33の一点上に結像させるリレーレンズ
によって構成されている。
この場合、プリント基板2のA1部は上方から見た像であ
るのに対して、IC4のB1部は下方から見た像のため、そ
のままでは合成しても重ね合わせることができず、その
ため前記第2の光学素子群26の梯形プリズム32によって
B1部のIC像を反転させるようにしている。
第1のアライメント光学系22の倍率は F/f で与えられる。
但し、fは、プリント基板2から対物レンズ29までの光
路長、Fはリレーレンズ27からCCD素子33までの光路長
である。例えば、f=60mm、F=300mmに設定すると、
倍率5倍のアライメント光学系を形成し得る。
前記CCD素子33上に結像された基板パターン像とIC像
は、電気信号に変換され、CRT34の画面上に表示され
る。
35はステージ1上に載置されたプリント基板2とこのIC
4との位置決めを行う第2のアライメント光学系で、こ
のアライメント光学系35は前記第1のアライメント光学
系22と同一に構成されて左右対称的に配設されるもの
で、第3の光路36中に配設されプリント基板2のある定
められた第2の部位A2のパターン像を形成する第3の光
学素子群37と、第4の光路38中に配設され前記IC4の前
記第2の部位A2に対応する部位B2の像を反転させて形成
する第4の光学素子群39と、前記第3および第4の光学
素子群37、39によって形成された基板パターン像とIC像
とを収束し同一視野に合成する光学素子40とで構成され
ている。第3の光学素子群37は直角プリズム41と、対物
レンズ42とで構成され、第4の光学素子群39は直角プリ
ズム43と、対物レンズ44と、梯形プリズム45とで構成さ
れている。像合成用の光学素子40は第3および第4の光
路36、38に対して共通に配設され前記基板パターン像と
IC像をCCD素子46の一点上に結像させるリレーレンズに
よって構成されている。前記CCD素子46上に結像された
基板パターン像とIC像は、電気信号に変換され、前記CR
T34の画面上に表示される。
この場合、CRT34の画面は左右2分割され、その一方に
第1のアライメント光学系22による合成像が表示され、
他方に第2のアライメント光学系35による合成像が表示
される。
48は基板パターン像とIC像を直角プリズム41、43に導く
ための光ファイバである。この場合、本実施例において
は図示を省略したが、第1のアライメント光学系22にも
同様の光ファイバ48が用いられるものである。
このような構成において、基板パターン像とIC像との位
置合わせは、CRT34に表示されている像を見ながらステ
ージ1を移動調整し、左右共に基板パターン像とIC像が
ぴったり一致するようずれを補正することで行われる。
なお、IC4をヒーターツール3に吸着する際の位置合わ
せも、上記したと同様の光学系により、ヒーターツール
3とIC4を同時に見ながらIC4を吸着保持した保持テーブ
ルを移動調整し、両方の像を重ね合わせることにより行
われる。
かくしてこのような構成からなるIC位置決め装置によれ
ば、別設した光源を含む2つの光学素子群によってプリ
ント基板2のパターン像と、IC4の像を別々に形成し、
合成するようにしているので、従来装置と異なり、ハー
フミラーによって光を透過光と反射光に2分する必要が
なく、光量の損失を減少させることができる。したがっ
て、大光量の光源を使用せずとも高輝度の像が得られ、
高精度に位置合わせすることができる。
なお、上記実施例はプリント基板2のある定められた部
位A1、A2のパターン像によって位置合わせを行うように
したが、これに限らずプリント基板2に表示されたアラ
イメント用マークを基板パターン像として使用してもよ
いことは勿論である。また、像をCCD素子33、46によっ
て電気信号に変換し、これをCRT34によって映像表示さ
せるようにしたが、表示手段として顕微鏡を用い、リレ
ーレンズ27、40によって合成された像を直接そのスクリ
ーン上に結像させるようにしてもよい。
[発明の効果] 以上説明したように本発明に係るIC位置決め装置によれ
ば、個々独立した光学素子群によって基板パターン像と
IC像を形成し、これらの像を合成するようにしているの
で、光量の損失の大きいハーフミラーを使用することな
く光学系を形成でき、位置合わせを容易に且つ高精度に
行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係るIC位置決め装置の一実施例を示す
模式図、第2図は従来装置の模式図である。 1……ステージ、2……プリント基板、3……ヒーター
ツール、4……IC、5……ハーフミラー、20、21……光
源、22……第1のアライメント光学系、23……第1の光
路、24……第1の光学素子群、25……第2の光路、26…
…第2の光学素子群、27……光学素子、33……CCD素
子、34……CRT、35……第2のアライメント光学系、36
……第3の光路、37……第3の光学素子群、38……第4
の光路、39……第4の光学素子群。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ステージ上に載置された基板とこの基板の
    上方に配置されたICとの位置決めを行うIC位置決め装置
    において、 撮像対象面に対し45度傾斜させて配置した全反射鏡の反
    射光路中に対物レンズを配置し基板またはICのある定め
    られた第1の部位のパターン像を形成する第1の光学素
    子群と、 前記全反射鏡の反射光路に平行な軸を挟んで前記全反射
    鏡と対称に配置した全反射鏡の反射光路中に対物レンズ
    と梯形プリズムとを配置しICまたは基板の前記第1の部
    位に対応する部分の像を反転させて形成する第2の光学
    素子群と、 前記第1および第2の光学素子群によって形成された前
    記第1の部位のパターン像とIC像とを同一視野に合成す
    る光学素子とを備えた第1のアライメント光学系と、 撮像対象面に対し45度傾斜させて配置した全反射鏡の反
    射光路中に対物レンズを配置し基板またはICのある定め
    られた第2の部位のパターン像を形成する第3の光学素
    子群と、 前記第3の光学素子群の全反射鏡の反射光路に平行な軸
    を挟んで第3の光学素子群の全反射鏡と対称に配置した
    全反射鏡の反射光路中に対物レンズと梯形プリズムとを
    配置しICまたは基板の前記第2の部位に対応する部分の
    像を反転させて形成する第4の光学素子群と、 前記第3および第4の光学素子群によって形成された前
    記第2の部位のパターン像とIC像とを同一視野に合成す
    る光学素子とを備えた第2のアライメント光学系を備
    え、 前記第1および第2のアライメント光学系により合成さ
    れた像を表示手段によって表示するようにしたことを特
    徴とするIC位置決め装置。
  2. 【請求項2】ステージ上に載置された基板とこの基板の
    上方に配置されたICとの位置決めを行うIC位置決め装置
    において、 撮像対象面に対し45度傾斜させて配置した全反射鏡の反
    射光路中に対物レンズを配置し基板またはICのある定め
    られた第1の部位のパターン像を形成する第1の光学素
    子群と、 前記全反射鏡の反射光路に平行な軸を挟んで前記全反射
    鏡と対称に配置した全反射鏡の反射光路中に対物レンズ
    と梯形プリズムとを配置しICまたは基板の前記第1の部
    位に対応する部分の像を反転させて形成する第2の光学
    素子群と、 前記第1および第2の光学素子群によって形成された前
    記第1の部位のパターン像とIC像とを同一視野に合成す
    る光学素子とを備えたアライメント光学系と、 該アライメント光学系を前記基板のある定められた第2
    の部位および前記ICの前記第2の部位に対応する部分に
    移動させる摺動機構とを備え、 前記第1および第2の部位においてそれぞれ合成された
    像を表示手段によって合成して表示するようにしたこと
    を特徴とするIC位置決め装置。
JP2001482A 1990-01-10 1990-01-10 Ic位置決め装置 Expired - Fee Related JPH0744357B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001482A JPH0744357B2 (ja) 1990-01-10 1990-01-10 Ic位置決め装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001482A JPH0744357B2 (ja) 1990-01-10 1990-01-10 Ic位置決め装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH03208399A JPH03208399A (ja) 1991-09-11
JPH0744357B2 true JPH0744357B2 (ja) 1995-05-15

Family

ID=11502657

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001482A Expired - Fee Related JPH0744357B2 (ja) 1990-01-10 1990-01-10 Ic位置決め装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0744357B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0843057A (ja) * 1994-07-28 1996-02-16 Copal Co Ltd 整列確認装置
JPH1137712A (ja) * 1997-07-15 1999-02-12 Nikon Corp 光学アライメント装置

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58182718A (ja) * 1982-04-20 1983-10-25 Datsuku Eng Kk 位置合わせ装置
JPS60103700A (ja) * 1983-11-11 1985-06-07 株式会社日立製作所 部品の位置決め装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH03208399A (ja) 1991-09-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4160263A (en) Dual or multiple objective video microscope for superimposing spaced images
US4911543A (en) Microscope viewing apparatus for viewing a specimen image and an optical overlay pattern image in a comparison manner
CA2176250A1 (en) Alignment systems
US6219442B1 (en) Apparatus and method for measuring distortion of a visible pattern on a substrate by viewing predetermined portions thereof
JPH08262583A (ja) 分割画像露光方法
US5920347A (en) Optical color separation system utilizing dichroic mirrors
JPS58182718A (ja) 位置合わせ装置
US4755880A (en) Camera for opto-electronically scanning any desired scene
HK1048044A1 (en) Inspection device for components
CA1060240A (en) Television camera optical system
JP2002512365A (ja) 対象物の輝度特性特に方向に依存する輝度を有する対象物の輝度特性を測定するシステム
US4834516A (en) Noninverting photo-microscope with variable power lenses
JPS60235597A (ja) 複数の撮像素子を具えたカラーテビジヨンカメラ
JP4574871B2 (ja) アライメント装置および組立て装置
JPH03208399A (ja) Ic位置決め装置
JP3254956B2 (ja) ボンディング方法
KR20230004748A (ko) 패턴 형성 장치
JPS5884589A (ja) 立体テンビジヨン用撮像系
JPH07270716A (ja) 光学装置
JPS5870227A (ja) フイルム検版装置
JPH08271798A (ja) 複数ヘッド顕微鏡
JP3114347B2 (ja) 一次元ccd撮像装置
JPH0855889A (ja) 画像結合装置
JP3340615B2 (ja) 受光素子の位置調整装置
JPH0856300A (ja) 画像結合装置

Legal Events

Date Code Title Description
S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090515

Year of fee payment: 14

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees