JPH0745019Y2 - 液晶回路基板検査用プローブ - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 （産業上の利用分野） この考案に係る液晶回路基板検査用プローブは、各種表
示装置や小型テレビ画面に使用される液晶への通電用の
回路基板の導通検査を行なう場合に利用する。

（従来の技術） 各種表示装置や小型テレビ画面に使用される液晶は、多
数の液晶への通電を適当に断接する事で、表示変更等を
行なうが、この様な表示等の変更が確実に行なわれる為
には、上記多数の液晶に通電する為の回路基板が正しく
導通している（断線していない）事と、隣接しているパ
ターン同士が短絡していない事とが必要である。

この為従来から、組み上がった液晶回路基板を検査装置
に送り込んで検査する事により、不良品（断線している
ものや短絡しているもの）を見付け出す様にしていた。

検査装置による検査は、１対の接触針を液晶回路基板の
端子と液晶とに接触させ、両接触針の間に電圧を加える
事で行ない、導通検査を行なう場合には、両接触針の間
に規定以上の電流が流れた場合には合格（断線や接触不
良がない）とし、反対に規定以上の電流が流れない場合
には不合格（断線或は接触不良がある）とする。又、短
絡検査を行なう場合には、上記両プローブ同士の間に電
流が流れない場合には合格とし、電流が流れた場合には
不合格とする。

この様な検査装置に於いては、上記１対の接触針を、端
子或は液晶の表面に、弾性的に押圧する必要があるが、
この為従来から、第２図に示す様な機構により、各接触
針を弾性的に支持していた。

即ち、先端部に接触針１を支持した針ホルダ２は、互い
に平行に設けられた、上下１対の板ばね３、３により支
持部４に支持し、各板ばね３、３の弾性変形に基づき、
上下方向に変位自在としている。固定部分に形成された
螺子孔５に螺合した調整螺子６の下端部と、上記針ホル
ダ２の上面との間には圧縮ばね７を設け、上記調整螺子
６の調整により、針ホルダ２に支持された接触針１を下
方に押圧する力を調節自在としている。

（考案が解決しようとする課題） ところが、上述の様に構成される、従来の液晶回路基板
検査用プローブに於いては、必ずしも十分な性能を得ら
れなかった。

即ち、検査時に接触針１が液晶の表面を傷付けない様に
する為には、この接触針１を液晶の表面に押圧する力を
十分に小さくする必要があり、この為には、前記圧縮ば
ね７の弾力を十分に小さくしなければならない。一方、
板ばね３、３や針ホルダ２の質量を小さくする事は、構
上限度があり、これら部材の合計質量は数グラム以上に
なる事が避けられない。

この結果、接触針１支持部分の固有振動数が低くなる事
が避けられず、検査速度を上げる為に、接触針１を水平
移動させる速度を高めた場合、接触針１の先端部が液晶
回路基板上面の凹凸に追従し切れなくなり、正確な検査
作業を行なえなくなってしまう。

本考案の液晶回路基板検査用プローブは、上述の様な不
都合を解消するものである。

（課題を解決する為の手段） 本考案の液晶回路基板検査用プローブは、第１図に示す
様に構成されている。

８は接触針１を支持する為のレバーで、このレバー８の
中間部をピボット機構により、図示しない支持腕等に、
揺動自在に枢支している。

このレバー８の先端部には、導電材製の接触針１を支持
すると共に、レバー８の表面で、上記ピボット機構部分
と接触針１との間部分に、導電材製の薄膜９をコーティ
ングして、上記接触針１と、ピボット機構部分に設けた
導線（図示省略）とを導通させている。

又、上記レバー８の基端部には小さな（軽量の）磁性体
10を支持し、この磁性体10の周囲を囲んだ状態で、上記
支持腕等に、ソレノイド11を設けている。

このソレノイド11は、導電に基づいて上記磁性体10を上
方に引っ張り、ピボット機構を中心としてレバー８を、
第１図の時計方向に揺動させて、接触針１を下方に移動
させる様に機能する。

更に、このソレノイド11に印加する電圧を制御する制御
器（図示省略）を設ける事で、上述の様に接触針１を下
方に移動させようとする力の大きさを調節自在としてい
る。

（作用） 上述の様に構成される、本考案の液晶回路基板検査用プ
ローブの作用は次の通りである。

検査作業を行なう場合には、ソレノイド11に通電し、レ
バー８の基端部に支持した磁性体10を上方に引き上げ、
このレバー８を第１図で時計方向に揺動させて、レバー
８の先端に支持した接触針１を下方に押し下げ、この接
触針１の先端部を液晶回路基板（図示せず）の上面に接
触させる。

この際、接触針１を液晶回路基板の上面に押し付ける力
は、制御器によりソレノイド11に印加する電圧を制御す
る事で、調節自在である。

本考案の検査用プローブの場合、ピボット機構を中心と
して揺動する慣性質量が、接触針１とレバー８と磁性体
10とであり、極めて軽量に構成出来る為、接触針１を液
晶回路基板の上面に押し付ける力を小さくする為、ソレ
ノイド11に印加する電圧を小さくした場合でも、上記揺
動する部分の固有振動数を十分に高くする事が可能とな
る。

従って、検査速度を上げる為に、接触針１を水平移動さ
せる速度を高めた場合でも、接触針１の先端部を液晶回
路基板上面の凹凸に追従させる事が出来、正確な検査作
業を行なえる様になる。

（考案の効果） 本考案の液晶回路基板検査用プローブは、以上に述べた
通り構成され作用するが、接触針を液晶回路基板の上面
に押し付ける力を小さくし、しかも接触針と共に揺動す
る部分の固有振動数を高く出来る為、傷つき易い液晶表
面を保護しつつ、接触針の移動速度を高めて、検査作業
の能率化を図る事が出来る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案の、第２図は従来の、それぞれ液晶回路
基板検査用プローブを示す側面図である。 1:接触針、2:針ホルダ、3:板ばね、4:支持部、5:螺子
孔、6:調整螺子、7:圧縮ばね、8:レバー、9:薄膜、10:
磁性体、11:ソレノイド。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】中間部をピボット機構により揺動自在に枢
   支されたレバーと、このレバーの先端部に支持された、
   導電材製の接触針と、上記レバーの表面で、ピボット機
   構部分と接触針との間部分にコーティングされた導電材
   製の薄膜と、上記レバーの基端部に支持された磁性体
   と、この磁性体の周囲を囲んだ状態で設けられ、通電に
   基づいて上記接触針を下方に移動させる方向にレバーを
   揺動させるソレノイドと、このソレノイドに印加する電
   圧を制御する制御器とから成る、液晶回路基板検査用プ
   ローブ。