JPH07506950A - マイクロ波共振器 - Google Patents

マイクロ波共振器

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JPH07506950A
JPH07506950A JP6500032A JP50003294A JPH07506950A JP H07506950 A JPH07506950 A JP H07506950A JP 6500032 A JP6500032 A JP 6500032A JP 50003294 A JP50003294 A JP 50003294A JP H07506950 A JPH07506950 A JP H07506950A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 マイクロ波共振器 技術分野 本発明は、マイクロ波共振器に関する。
最近のレーダー及び遠距離通信システムは、厳しい性能上の要求と極めて優れた スペクトル純度を有する高周波信号源と信号処理システムを必要としている。
従って、スペクトル純度、安定性、及び電力制御の要求条件を益々向上させた信 号処理システムと信号源に対する必要性が存在している。
共振器は、固有の性質として、希望しない信号から希望する信号を識別する。
生成された信号の純度と安定性は、周波数決定装置として使用している共振器と 直接関係し、これはそのQ1電力制御能力と振動及び温度と関連する影響に対す るその不感性によって決まる。
誘導材料片は、その誘電定数と物理的な寸法によって決まる電磁スペクトル内に おける自己共振モードを有していることが知られている。誘電材料片の所定のモ ードのスペクトル特性は、この誘電材料の固有の特性、その幾何学的形状、その モードの放射パターンと、この誘電材料を取り囲んでいるまたはこれの近傍の材 料の特性と寸法によって決まる。
従来技術の共振器は、伝統的に誘電材料を含んでいない金属空洞、または誘電材 料を含んでいる金属空洞を利用し、これらの空洞のQは、金属空洞の特性によっ て限定され、従ってより優れたQを得るため、極低温度で動作されていた。しか し、極低温度を保持するには、携帯用または小型の装置に内蔵することが面倒で 、困難な装置が必要とされる。
発明の開示 本発明は、既存の従来技術による共振器に対して改善されたQを提供しながら、 周辺温度に近い温度で動作することのできるマイクロ波共振器を提供するもので ある。
本発明の1つの側面によれば、所望の周波数と特定の温度に於いて所望のモード で動作し、導電性のある内面を有し、はぼ円筒形で損失の小さい誘電材料片を含 む、少なくとも部分的にはほぼ円筒形の壁部によって形成された空洞を有するマ イクロ波共振器を製作する方法が提供され、上記の方法は、(1)所定の寸法の ほぼ円筒形の損失の小さい第1誘電材料片を製作し、該第1誘電材料片を空洞内 に置いてマイクロ波共振器を製作するステップと、(2)マイクロ波を上記空洞 内に放射するステップと、(3)上記の特定の温度に於いて上記の所望の動作モ ードに対応する上記の第1片からの初期出力周波数を検出して測定するステップ と、(4)上記初期出力周波数と上記の所望の出力周波数の間の比に従って上記 第1誘電材料片を縮小または拡大して、はぼ円筒形の第2誘電材料片を製作する ステップと、 (5)」−記空洞の寸法と実質的に似た寸法を有するが、上記の所望の出力周波 数により近い出力周波数を得るために上記の第2片の製作時の精度誤差を補償す るように直径及び/または高さを変更した別の空洞を製作するステップと、(6 )上記第2片を上記の別の空洞内に置いて上記の所望のモードと上記の所望の周 波数で動作する上記マイクロ波共振器を製作するステップと、によって構成され る。
図面の簡単な説明 本発明を、添付図を参照して実施例によって説明する。
第1図は、本発明の第1実施例によるマイクロ波共振空洞の線A−Aに沿った底 面図及び側部断面図である。
第2図は、本発明の第2実施例によるマイクロ波共振空洞の線A−Aに沿った底 面図及び側部断面図である。
第3図は、本発明の第3実施例によるマイクロ波共振空洞の線A−Aに沿った底 面図及び側部断面図である。
第4図は、本発明の第4実施例によるマイクロ波共振空洞の線A−Aに沿った底 面図及び側部断面図である。
第5図は、本発明の第5実施例によるマイクロ波共振空洞の側面図である。
第6図は、本発明によるマイクロ波共振器の側面図である。
第7図は、第6図に示すマイクロ波共振器の平面図である。
第8図は、マイクロ波共振器で使用する温度制御装置の概略ブロック図である。
第9図は、マイクロ波共振器で使用する他の温度制御装置の概略ブロック図であ る。
第10図は、誘電材料片の半径と空洞の壁部の半径の比が変化する場合、種々の TM (N、1、d)モードでNが1と5の間で動作するマイクロ波共振器内の 損失を示すグラフである。
のTE(N、1、d)モードでNが2と6の間で動作するマイクロ波共振器内の 損失を示すグラフである。
第12図は、誘電的に負荷を加えたTM (5、L d)モードで動作するマイ クロ波共振空洞の電磁界強度のプロットを示す。
第13図は、誘電的に負荷を加えたTE (6,1、d)モードで動作するマイ クロ波共振空洞の電磁界強度のプロットを示す。
第14図は、10GHzで動作するサファイアを用いたマイクロ波共振空洞(T M (5,1、d))の周波数に対する共振器の摂氏で示す動作温度の変化を示 すグラフである。
第15図は、空洞の半径と誘電材料の半径の比と、共振器の動作周波数及びTM (5,1、d)モードで動作する共振器用の共振システムの損失要素との間の関 係を示すグラフである。
第16図は、空洞と誘電材料の高さの比と、TM(5,1、d)モードで動作す る共振空洞用の共振システムの損失要素との間の関係を示すグラフである。
第17図は、空洞と誘電材料の高さの比と、共振器の動作周波数及びTM (8 ,1、d)モードで動作する共振空洞用の共振システムの損失要素との間の関係 を示すグラフである。
第18図は、空洞の半径と誘電材料の半径の比と、共振器の動作周波数及びTN l(5,1、d)モードで動作する共振器用の共振システムの損失要素との間の 関係を示すグラフである。
第19図は、空洞の半径と誘電材料の半径の比と、共振器の動作周波数及びTM (7,1、d)モードで動作する共振器用の共振システムの損失要素との間の関 係を示すグラフである。
第20図は、空洞の半径と誘電材料の半径の比と、共振器の動作周波数及びTE (7,1、d)モードで動作する共振器用の共振システムの損失要素との間の関 係を示すグラフである。
本発明の説明 添付図の第1図は、本発明によるマイクロ波共振空洞10を示す。このマイクロ 波共振空洞10は、円筒形の壁部12、円形のベース14と円形の蓋部16によ って構成される。
この円筒形の壁部12内には、多数のマイクロ波ポート18が設けられる。これ らのポート18の数は、使用しようと意図しているマイクロ波共振空洞10の用 途によって決まる。これらのマイクロ波ポート18は、マイクロ波を空洞10内 に供給し、この空洞10からマイクロ波を受け取るための手段として機能する。
円筒形の壁部12の中には、孔26が形成され、これによって空洞10をとりつ ける手段が提供される。
ベース14と蓋部16の各々には、軸方向の凹部20と環状の溝21が含まれて いる。軸方向の凹部20と円筒形の壁部12は同軸に位置合わせされている。
環状の溝21にはインジウム・ガスケットのようなガスケットが取り付けられ、 これによって円筒形の壁部12とベース14と蓋部16の間の熱伝導性を改善し ている。
図1の上部の図は、ベース14の下面図を示す。しかし、この図は蓋部16にも 同様に適応可能であると理解されるべきである。ベース14には、複数の孔27 とスロット28が設けられ、これらの孔27は円状に配置されている。これらの 孔27は、ボルトのようないずれかの都合の良い手段でベース14を円筒形の壁 部12に取り付けるためのものである。これらの放射状のスロット28によって 、空洞10内での希望しないモードを阻止することができる。放射状のスロット 28の数は、空洞10において作動させようとしている共振モードによって決ま る。
円筒状の壁部12は、空洞10を冷却手段に取り付けるための面25を有してい る。マイクロ波のプローブをポート18内に容易に取り付けるための平坦な表面 23が、各ポート18に対して設けられている。
共振空洞10は、一般的に円筒形の誘電材料片22を有している。この誘電材料 片22には、その円筒の平坦な端部のそれぞれに、これと一体の軸方向のスピン ドル24が設けられている。これらのスピンドル24もまた、誘電材料22によ って形成されている。これらのスピンドル24は、蓋部16とベース14の凹部 20内に収容されるように設計されている。従って誘電材料片22は、円筒形の 壁部12に対して同軸に、蓋部16とベース14の間に保持される。
第2図、第3図及び第4図は、図1に示すマイクロ波共振空洞の他の実施例を示 し、ここで同一の参照番号は同一の部分を示す。
第2図は、本発明によるマイクロ波共振空洞30の第2実施例を示し、これは左 側のセクション32と右側のセクション34によって構成される。各セクション 32と34は、半円筒形の内面31を有している。半円形の断面を有するロッド 36がセクション32の平坦な両端部から空洞10に対して内側に延び、自由端 で終了している。半円形の断面を有するロッド38がセクション34の平坦な両 端部から空洞10に対して内側に延び、自由端で終了している。
ロッド36はセクション32と一体に形成され、ロッド38はセクション34と 一体に形成されている。これらのロッド36と38は円筒面31と同軸に位置合 わせされ、各ロッド36は対応するロッド38と連続している。ロッド36と3 8の各対の自由端は、その中に形成された軸方向の凹部40を有している。
誘電材料片22のスピンドル24は、ロッド3Gと38の凹部40の中に収容さ れている。従って、誘電材料22は、円筒面31と同軸にロッド3Gと38の間 に保持されている。
第1図に示す実施例の蓋部16、ベース14と円筒形の壁部12の代わりにセク ション32と34を使用することによって、空洞30内の希望しないモードを更 に抑制すると共に、誘電材料片22から冷却手段への熱伝導を改善する。
第3図は、本発明によるマイクロ波共振空洞50の第3実施例を示し、これは蓋 部52とベース54によって構成される。ベース54は、円筒形の壁部64と一 体に形成されている。円形の断面を有する同軸のロッド56と58は、それぞれ 蓋部52とベース54から空洞50内に延び、自由端で終了している。ロッド5 6は蓋部52と一体に形成され、ロッド58はベース54と一体に形成されてい る。誘電材料片22の上部と底部には、軸方向の凹部60が形成されている。
ロッド56と58は、この誘電材料片22の軸方向の凹部60内に収容され、誘 電材料片22を円筒形の壁部64と同軸に保持している。各ロッド56と58に は、軸方向のベント62が形成されている。
この軸方向のベントは、空洞50を排気する場合、空気が軸方向の凹部60内で 捕捉されるのを防止する。
円筒形の壁部64は、蓋部52との良好な接触を得るための環状の突起部68を 有している。突起部68、蓋部52と円筒形の壁部64の間に、空間66が形成 される。この空間66は、ガスケットを収容するように設計されており、これに よって円筒形の壁部64と蓋部52の間で良好な熱接触を保証する。
第4図は、本発明によるマイクロ波共振空洞70の第4実施例を示し、これは蓋 部72と平坦な端部を有するベース74によって構成される。ベース74は、円 筒形の壁部82と一体に形成されている。このベース74の平坦な端部から空洞 70内に延びているのは、同軸の円筒形のロッド76である。このロッド76は 十分な長さを有して蓋部72を通って延び、図示のようにこの蓋部72と一体に なるように形成されている。孔80が、ロッド76を通って延びる。この孔80 によって、誘電材料片22に接近してロッド76内に温度プローブを設置するこ とが可能になる。
誘電材料片22は、その中に形成された軸方向の円筒形の孔78を有する。この 誘電材料片22は、第4図に示すようにロッド76上に懸垂されるように設計し である。誘電材料片22の円筒形のロッド76に対する懸垂は、以下の手段の1 つによって行われる。まず、誘電材料片22内に形成される軸方向の円筒形の孔 78は、その直径が円筒形のロッド76の直径よりも僅かに小さい。円筒形のロ ッド76を低温に冷却することによってこの円筒形のロッド76を熱的に収縮さ せ、これによって誘電材料22を円筒形のロッド76上の所定の位置に設置する ことが可能になる。円筒形のロッド76が周辺温度に戻るのに従って、このロッ ドは熱効果によって膨張し、従って誘電材料片22をその長さ方向に沿って保持 する。
または、誘電材料片22内の孔78を金属材料で鍍金してもよい。そして、この 誘電材料片22をロッド76に溶接または鑞付けすることができる。
本発明の空洞10.30.50及び70内のスロット28は、この空洞内の希望 しないモードを抑制するように設計されている。スロツト28は、所望の動作モ ードと干渉しない空洞の蓋部の周囲の位置に取り付けられている。これは、所望 の動作モードに於ける電磁エネルギーの集中度の低い位置に対応している。希望 しないモードの多(はこれらの位置にかなりの量のエネルギーを有し、従ってス ロット28はこれらのモードに対する抑制装置として機能する。スロ・ノド28 の効果は、所望の動作モードに関しては空洞に放射を行わせないようにし、大部 分の好ましくないモードに関しては放射を行わせるようにすることである。従っ て、スロット28は、共振器内の希望しないモードの密度を低減するのに役立つ 。
マイクロ波共振空洞内の損失の1つは、誘電材料内の電磁界の散逸によるもので ある。この散逸によって誘電材料内に熱が蓄積する。大部分の誘電材料は、温度 によって決まる共振周波数を有している。即ち、誘電材料の共振周波数は、温度 が変化するのに従って変化する。従って、動作中の誘電材料に温度変化を生じさ せるのは好ましくない。この理由のため、誘電材料内の電磁界の散逸の結果生じ るこの誘電材料内の熱の蓄積をなくす必要がある。従って、本発明のマイクロ波 共振空洞の蓋部、円筒形の壁部及びベースを良好な熱伝導性を有する材料によっ て形成することが好ましい。
本発明の共振空洞の蓋部、ベース及び壁部を高い熱伝導性を有する材料から製作 することによって、空洞をいずれかの都合のよい手段によって冷却することが可 能になる。しかし、誘電材料と空洞のベースと蓋部との間の熱伝導には、かなり の時間を要するという固有の問題が残っている。従って、空洞の設計によって熱 ができるだけ効率的に伝導されることを保証することが好ましい。
第1図に示すマイクロ波共振空洞10は、誘電材料片22が蓋部16とベース1 4の間で確実に保持されているため、優れた耐機械的振動性を与えて0る力面、 この空洞10の熱的特性は比較的不十分である。これIよ、スピンドル24力( 誘電材料片22の円筒部分と比べて比較的長くかつ細1.)?こめである。従っ て、スピンドル24は実際上熱インピーダンスが非常に高く、このため誘電材料 )′l−22の円筒部分から蓋部16とベース14への熱の伝導が遅くなって0 る。
第1図のスピンドル24の大部分を蓋部32とベース34と同じ材料で製イ/l ニジだロッド36と38によって取り替えることにより、第2図に示すマイクロ 波」(振空洞30は熱特性を改善している。従って、スピンドル24(ま比較自 りIJX型であり、主として誘電材料片22を円筒形の壁部24と同軸(ご保持 する目的のため(こ設けられている。
第3図に示すマイクロ波共振空洞50によって、交に改善を行うこと力くできる 。
ここでは、ロッド56と58が誘電材料片22内に延び、従ってスピンドルのl ・変性をなくしている。更に、口・ノド56と58及び誘電材料22の間の熱( 云zII性か改善されているが、その理由は、口・ノドが誘電材料ハ゛22内( こ延び、従って放散すべき熱により接近しているからである。マイクロ波共振空 洞501こよれ(f更に良好な耐機械的振動性が与えられるが、これ(よ誘電材 料22力(口、ノド56と58の間で保持されるからである。
第4図に示すマイクロ波共振空洞70によって、第1図な0シ第4図に示す4つ の実施例の中で最も優れた熱放散が行われる。これ(よ、誘電材料J全22全体 を介して延びるロッド76が存在しているためである。従って、誘電材料力)ら の熱はロッド76に直接伝導され、これによって熱を可能なに艮り最大限方父散 することができる。しかし、誘電材料は純粋に熱膨張によって口・ノド76上喀 こ懸垂されているので、マイクロ波共振空洞70は第1.2及び3図(こ示すマ イクロ波)(振空洞と同様の耐機械的振動性を与えることはできなL)。
第5図は、本発明によるマイクロ波共振空洞90の第5実施俳1を示し、これC よ円筒形の壁部92、ベース94と蓋部96によって構成される。蓋部96は内 部及び外部の同心で環状のセクション98を有し、これらは図示のように離れて 位置している。また、円筒形の壁部92はその上端部及び下端部から離れた外部 セクション100を有している。セクション98はが設けられているので、これ によって、共振空洞90を極低温で動作するときに、熱収縮と熱膨張が可能にな る。
セクション100が設けられているので、ナイフ・エツジ効果によって、円筒形 の壁部92と蓋部96とベース94の間で電気的接触が得られる。
共振空洞90は、係止手段102、第1環状突起部104、第2環状突起部10 6、及び内部と外部の同心で円筒状の誘電材料片108と110によって更に構 成される。係止手段102は、蓋部9Gを軸方向に貫通してねじのようないずれ かの都合のよい手段によってベース94と係合するように設計する。係止手段1 02は、円筒形の壁部92との間でベース94と蓋部96を所定の位置に保持し 、また突起部104と106の間で誘電材料片108と100を保持する。
突起部104は共振空洞90内に延び、はぼ長方形の断面を有する環状の形状を 有する。共振空洞に対して最も内部に延びている突起部104の角には切り欠い た部分があり、この中に誘電材料片を収容している。この突起部104は薇部9 6と一体に形成され、この蓋部96と同軸である。突起部106はベース94と 一体に形成され、これ以外は突起部104と全く同じである。誘電材料片108 と110は、その長さ全体が実質的に一定の厚さになっている。しかし、円筒の 各端部ては、誘電材料108と110の厚さは、薄くなっている。誘電材料片1 08と110を空洞内に設置して突起部104と106の間に保持すると、これ らの2つの誘電材料片108と110の間にギャップが形成される。誘電材料片 108と110の厚さが薄くなっている突起部104と106に近接した端部で は、より広いギャップ114が形成される。このギャップ114の機能は、遮断 周波数以下で動作する導波管として存在することによって、マイクロ波のエネル ギーに対する電磁インピーダンスを実質的に増加させ、これをギャップ114の 間に閉じこめることである。
ギャップ112の機能は、誘電材料片108と110を形成している誘電材料内 の損失の影響を削減することである。
添付図の第12図は、TM(5,1、d)モードで動作する誘電材料内の電磁界 の分布を模式的に示す。暗領域は電磁放射の高い濃度を示し、明領域は電磁放射 の低い濃度を示す。空洞の境界は黒線rCJで示す。誘電材料の境界は黒線rD Jで示す。上の図は誘電材料の平面図を示す。下の図は誘電材料の側面図を示す 。第12図から分かるように、大部分の電磁放射は誘電材料内に含まれている。
この誘電材料の中心内には無視可能な程度の電磁放射しか存在しないことにまた 留意しなければならない。従って、共振器の動作を妨げることなく中心の誘電材 料を取り除くことが可能である。
第13図は、TE (6,1、d)モードで動作する誘電材料内の電磁界の分布 を模式的に示す。誘電材料の境界は黒線rDJで示す。図から分かるようにより 多くのモードを収容するには、同じ周波数の電磁放射に対して誘電材料片の寸法 を大きくしなければならない。また、より多くの電磁放射が誘電材料内に含まれ ている。
第12図と第13図を検討すると、大部分の電磁放射は比較的狭い環状部分に含 まれていることが明らかになる。従って、2つの同心の誘電材料の円筒を形成し 、これらの円筒の間の空間が自由空間になることを可能にしながら、電磁放射を これらの円筒に含めることが可能である。自由空間は電磁放射にとって損失を生 じない媒体であることがよく知られている。従って、誘電材料片108と110 は、本発明の他の実施例の他の空洞に対するのと同様の方法で電磁放射を閉じこ めるのに役立つが、ギャップ112によって、これらの空洞と関連する損失を実 質的に低減することが可能になる。これは、大部分の電磁放射が損失を生じない 媒体であるギャップ内に閉じこめられるからである。従って、共振空洞90のQ は本発明の他の実施例のQよりも優れている。
ギャップ112と114に適当な材料を充填してメーザ−(MA S E R) の機能を可能にすることがまた考えられる。このような適当な材料は、例えば、 ルビジウム・ガスまたは励起水素ガスである。
マイクロ波共振空洞の性能は、主としてこのマイクロ波共振空洞と誘電材料片2 2の形状によって決まる。特に、以下の寸法が共振器の性能に関係していること が分かっている。すなわち、 a)誘電材料片22の直径、 b)誘電材料片22の高さ、 C)誘電材料片22の直径と円筒形の壁部12の内面の直径の比、及びd)誘電 材料片22の高さと円筒形の壁部12の高さの比である。
更に、誘電共振器のQは、誘電材料内の電磁界の散逸、周囲の空間への電磁界の 放射、及び空洞の壁部内での散逸による損失によって決まる。
放射損失は、一定の放射モードで減少することが知られている。多数の電磁界モ ードの中で放射損失の削減にとって最も好都合なモードの1つは、「ささやきの 回廊」モードとして知られているグループである。これらのモードの場合、電磁 界の大部分は、誘電材料内に含まれ、放射損失が減少する。特に、本発明で使用 するのが好ましいモードは、疑似TEモード(Quasi Transvers e Electric Mode)、TE (N、I、d)、疑似7Mモード( Quasi Transverse Magnetic Mode)、TM(N 、1、d)と、疑似THモード(Quasi Transverse Rybr id Mode)であり、N=3ないし無限大、好ましくは3ないし20、更に 好ましくは4ないし7である。Nの値を選択し、次に誘電材料の形状の決定に影 響を及ぼす共振器の動作周波数を選択することによって、誘電材料の形状の決定 が影響を受ける。
第10図は、TM(1,1、d)乃至TM(5,1、d)について空洞の半径と 誘電材料片の直径が種々の比率を取る場合に、この空洞に対して得ることのでき る正規化した最大のQを示す。第10図の曲線は、銅の壁部を有する空洞内に於 けるサファイアの誘電材料の場合である。図から分かるように、Nの値が小さい 場合、特にNが3以下の場合、電磁モードと空洞の壁部との相互作用、または電 磁界の自由空間への放射によるかなりの損失が存在する。更に、N=5は、正規 化したQが1以上であるグラフ上に示された唯一のモードであることがまた明ら かである。従って、7Mモードに対して選択したモードは、少なくともTM(5 ,1、d)であることが好ましい。この選択によって、その他の制約を考慮して も、誘電材料から得ることのできる最大のQを空洞内で達成することが可能にな る。
しかし、モードの数が増加するのに従って、同一の共振周波数に対して、これを 受け入れるための誘電材料の寸法の大きくする必要がある。従って、空洞を可能 な最小寸法にしながら、ある誘電材料から得ることのできるQを最大にするため に、7Mモードに関してはN=5を選択するのが最適である。
第11図は、空洞と誘電材料片が種々。の比率を取る場合に、TE奇モードTE (2,1、d)乃至TE (6,1、d)に対して空洞内で得ることのできる最 大のQを正規化したグラフを示す。第11図のこれらの曲線は、銅の壁部を有す 空洞内のサファイアの誘電材料に対するものである。縦軸は得ることのできる正 規化したQを表し、横軸は空洞の半径と誘電材料の半径の間との比を表す。この グラフから分かるように、共振空洞内のこの誘電材料に関してえることのできる 最大のQを得るには、TE (6,1、d)で動作する必要がある。従って、T E奇モード動作するマイクロ波共振空洞の場合、空洞の寸法を最小にしながら、 その誘電材料により得られる最大のQを得るには、TE (6,1、d)モード で動作するのが好ましい。
他の考慮すべき点は、空洞内のモード数が増加するのに従って、より多くの電磁 放射が誘電材料内に含まれるという事実である。実際上、この結果空洞の寸法を 変えることによって動作周波数をチューニングする能力が低下する。モードTM (5,1、d)とTE (6,1、d)によれば、空洞のチューニング能力と、 この空洞内の損失の間でうま(妥協が行われると考えられる。
更に本発明によれば、誘電材料からの放射損失の影響は、この誘電材料を導電性 を有する空洞内に設置することによって削減される。このことは、共振空洞のベ ース、蓋部と円筒形の壁部を、銅や銀のような極めて導電性の高い材料から製作 することによって達成することができる。
または、共振空洞のベース、蓋部と円筒形の壁部に銅、銀または金のような極め て導電性の高い材料を適当な厚さに鍍金してもよい。大部分の用途では20ミク ロンで十分であることが分かっている。銀は最も低い抵抗を示すので、一般的に 好ましい。
更に、誘電材料の放射損失は、以下の好ましい特性の内の1つ以上を有する損失 の低い誘電材料を選択することによって、削減することができる。即ち、これら の好ましい特性とは、低損失接線、中位または高位の誘電定数、低い温度膨張係 数、誘電定数の温度係数が低いこと、高い縦弾性係数(ヤング係数)及び高い誘 電強度である。
誘電材料の好ましい形態は純粋のサファイヤであるが、このような共振器の構造 では、他の材料を使用することもできる。他の幾つかの適当な材料には、チタン 酸バリウム、石英、不純物を添加した石英、YIG (イツトリウム・インジウ ム・ガーネット)、YAG(イツトリウム・アルミニウム・ガーネット)、ニオ ブ酸リチウム及びランチネート(lanthinate)がある。
更に、誘電材料に選択した種類の原子を添加し、この誘電材料のある特性を変更 して、共振器の性能を改善するのが好ましい。−例として、常磁性の原子を選ん で、サファイアの格子に所定の添加水準まで導入するのが有利である。この常磁 性種は共振器のマイクロ波の共振と相互作用を行い、その結果この共振器の周波 数は一般的に低い温度依存性を示す。
10GHzに於いてTM(5,1、d)で動作するサファイアの誘電材料の場合 、直径が21.68mm、高さが20.58mmであるのが好ましいことが分か っている。この値は、既知の方法でマクスウェルの方程式の解をめることによっ て決定された。マクスウェルの方程式の解によって第1の値を得ると、以下の手 順によって他のモードで動作する誘電材料片の直径を得ることができる。
第1に直径21.68mmの誘電材料片を使用した共振器を製作する。この共振 器を、製作しようとする空洞の所望の動作温度に近い温度で動作させる。この共 振器は所望の空洞と同一の高さと直径の比を有さなければならず、また所望の動 作モードに対してチューニング可能な範囲、例えば、TM(5,1、d)モード で動作するのが好ましい空洞の直径の比の場合1,65と2.00の間になけれ ばならない。次に所望の動作モードの場合の共振器の共振周波数は、既知の手段 を使用して測定する。この周波数を測定することにより、所望の周波数に於いて 所望のモードで動作する誘電材料片の直径を、機械加工上の許容誤差範囲内で決 定することができる。誘電材料の直径は共振周波数に比例するので、この誘電材 料の必要な直径は簡単な比をとることによって計算できる。即ち、サンプルの誘 電材料の計算した共振周波数を所望の動作周波数で除し、その結果をこのサンプ ルの誘電材料の直径に乗じることにより、所望のマイクロ波共振器のおよその直 径に到達することができる。
しかし、誘電材料の機械加工には固有の不正確性が付随するので誘電材料の所望 の動作周波数と実際の動作周波数には、若干の相違が存在する。この問題を克服 するため、誘電材料の半径に対する空洞の壁部の半径の比を変更することによっ て、マイクロ波共振器の共振周波数をチューニングすることができる。
第15図は、TM(5,1、d)モードで動作する空洞の場合の上述の比の変化 による共振周波数の変化とこの変化と、関連するQの損失とを表すグラフである 。
このグラフに於いて、横軸は空洞の半径と誘電材料の半径との間の比を表す。左 側の縦軸は、達成可能な正規化したQを表す。右側の縦軸は空洞の動作周波数を MHzで表す。TM(5,1、d)モードの場合、誘電材料片の半径に対する空 洞の半径の比が1.65乃至2.00の範囲で動作するのが好ましいと考えられ る。
これによって10GHzの共振周波数で約15MHzのチューニング範囲が与え られるが、Qは1006が犠牲になっているのに過ぎない。これはマイクロ波共 振器のより大きいチューニング可能性を大きくする上で、受容可能なQの損失で あると考えられる。
従って、一度誘電材料を上で計算した直径に機械加工し、この誘電材料の共振周 波数を測定する。第15図を参照して実際の共振周波数と所望の共振周波数との 食い違いを計算することによって、空洞の壁部の半径を調整し、この誘電材料の 機械加工による食い違いを補償することができる。例えば、最初に2.0に等し い半径の比を測定し、共振周波数が所望の周波数よりも若干低くなるようにサフ ァイアを加工し、この半径の比を小さくすることにより、共振周波数を最高15 MHz増加させることができる。
最後のチューニング操作は、共振空洞の動作温度を調整することによって行われ る。第14図に示すのは、種々の温度に対するサファイア誘電材料の共振周波数 の変化のグラフである。横軸は摂氏の温度の単位を有する。縦軸は、GHzで示 す空洞の動作周波数である。このグラフから、サファイアは1℃当たり約671 KHzの温度係数を有していることが分かる。共振空洞の温度を1℃の約1/1 000以内に保持することによって、この共振空洞がlppm以内の精度の共振 周波数を有するようにこの共振空洞をチューニングすることができる。
上記の手順は複数のモードについて行えるので、類似の空洞の設計を簡単にする だめの情報ライブラリを作ることができる。
第16図は、TM(5,1、d)モードで動作している金属空洞の場合の誘電材 料片の高さに対するこの空洞の高さの比とこの空洞内の損失がどのように関係し ているかを示すグラフである。横軸は、誘電材料の高さに対する空洞の高さの比 である。縦軸は、その空洞で達成可能な正規化した最大のQを表す。これらの高 さの比が共振空洞内の損失に対して及ぼす影響が最小になることを保証するため 、グラフが10に接近している第16図の領域で動作を行うのが望ましい。例え ば、高さの比が1.2を十分超える、好ましくは約1.6であるのが好ましい。
空洞の高さと誘電材料の高さの比を変更することによって、この空洞をチューニ ングすることができる。
第17図は、種々の条件に対してTM (8,1、d)モードで動作している共 振器の高さの比を変更することによる共振周波数と空洞の損失に対する影響を示 す。横軸は、誘電材料の高さに対する空洞の高さの比を表す。左側の縦軸は、そ の空洞で達成可能な正規化したQである。右側の縦軸は、動作周波数の相対的な 周波数のシフトをパーセントで示す。1で示す曲線は、20℃の温度で動作する 空洞の場合である。半径の比は1.7であり、共振器は銅のシールドを有してい た。
2で示す曲線は、4.2にの温度で動作する空洞の場合である。半径の比は1. 9であり、共振器はニオブのシールドを有していた。3で示す曲線は、4.2に の温度で動作する空洞の場合である。半径の比は2.2であり、共振器は銅のシ ールドを有していた。4で示す曲線は、高さの比によって動作周波数がどのよう に変化するかを示す。曲線4は曲線1.2と3に同様に適用することができる。
第17図から、1Mモードで動作する共振器の高さを変更することによって達成 されるチューニング可能範囲は、同じ空洞損失に対して、直径を変更することに よって達成されるチューニング可能範囲よりも狭いことが分かる。従って、1M モードの空洞では、直径の比を変更するのが好ましい。TEモードの空洞では、 高さの比によって、一定の空洞損失に対する、最大のチューニング範囲が与えら れる。
第18図、第19図及び第20図は、種々のモードで動作する共振器の高さの比 を変更することによる共振器の周波数と空洞の損失に対する影響を示す。横軸は 誘電材料の高さに対する空洞の高さの比を表す。左側の縦軸は、その空洞で達成 可能な正規化したQである。右側の縦軸は、空洞の動作周波数をGHzで示す。
第18図はTM(5,1、d)モードで動作する空洞の場合のこの関係を示し、 第19図はTM(7,1、d)モードで動作する空洞の場合を示し、第20図は TE (7,1、d)モードで動作する空洞の場合を示す。第」8.19及び2 0図のデータは、直径が21.67mm、高さが20.58mmのサファイヤの 誘電材料片を使用し、このサファイヤに対する空洞の高さの比が1.2である場 合に、20℃の温度で得たものであった。
空洞から最大の性能を得るには、誘電材料片をポート18に対して回転させる必 要がある。これは、誘電材料片が完全な円筒ではない、または誘電材料の軸は円 筒の軸と正確に位置合わせされていない、または誘電材料は製造上の制約によっ てその結晶構造に欠陥を有している可能性があるためである。従って、誘電材料 片の配向によって共振器の性能がより優れている幾っがの位置が存在する。この 調整は、空洞を動作させ、ポートに対する誘電材料片の回転の影響を観察するこ とによって行われる。
添付図の第6図と第7図は、第3図のマイクロ波共振空洞5oを内蔵するマイク ロ波共振器200を示し、ここで同一の番号は同一の部品を表す。マイクロ波共 振空洞10.30.50.70または90のいずれを使用することもできること を理解しなければならない。
動作周波数に対する温度変化の影響を削減するため、冷却手段202と真空キャ ニスタ204を設け、これらを格納容器212に取り付ける。真空キャニスタ2 04の排気を行うため、真空ポンプの出口ポート206を設ける。真空キャニス タ204にはまた密閉した供給通路208を設j九この真空キャニスタ204に ケーブルを貫通させる。空洞50を真空キャニスタ204内に設置することによ って、この空洞50が排気され、周辺温度の変化に対してこの空洞5oを有効に 断熱する。
冷却手段202は、ペルチェ・ヒート・ポンプのような小型の装置であるのが好 ましい。冷却手段202は空洞5oと格納容器212の間に保持し、これらの間 で熱伝導を行う。本発明のこの実施例では、格納容器212は、ヒート・シンク として機能する。空洞50を冷却することによって、共振器の性能が向上する。
冷却手段202は熱安定回路214によって制御し、空洞5oの温度を受容可能 な許容誤差の範囲で一定の温度に保持し、更に共振器200の温度安定性を改善 する。更に断熱を行うため、空洞5oを既知の種類の多層の超断熱材で包むこと が可能である。
誘電材料22とポート18の間でマイクロ波を容易に放射伝達するため、ポート 18を、既知のマイクロ波のフィールド・プローブ220によって空洞5o内で 終了させる。、ポー目8に対するアクセスは、格納容器212に取り付けた外部 コネクタ222によって行われる。各外部コネクタ222には密閉ポート216 を設け、真空キャニスタ204内で真空のロスが発生しないことを保証する。
各コネクタ222は、同軸ケーブルまたはマイクロ波導波管のような適当なマイ クロ波伝導体224によってポート18に接続する。
添付図の第8図に示すのは、温度安定回路214のブロック図である。この温度 安定回路214は、温度検知器150、ブリッジ152、ロックイン増幅器15 4、比例、積分及び微分制御装置156とサーボアンプ158によって構成され る。また、空洞160を図示する。この空洞160は、本発明の空洞1o130 .50.70または90のいずれでもよい。6A度検知器15o1ブリッジ15 2、ロックイン増幅器154、制御装置156とサーボアンプ158は、既知の 種類の1段の閉ループ制御装置を形成する。
添付図の第9図に示すように、これは温度安定回路214の他の実施例である。
再び、空洞160を示すが、これは本発明の空洞10.30.50.70または 90のいずれかに対応する。2段の制御装置であるこの実施例には、2つの別個 の1段の閉ループ制御装置、粗制御装置176と微制御装置188が設けられて いる。祖制御装Ft 176は、温度検出器170、ロックイン増幅器172、 及びPIDとサーボアンプ174によって構成される。この粗制御装置176は 、マイクロ波空洞の温度を比較的狭い範囲、例えばO,1℃内に保持する。微制 御装置188は、温度検出器180、ロックイン増幅器182、PIDとサーホ 増幅器184と微細ヒータまたは熱電モジュール186によって構成される。温 度検出器180を使用して誘電材料片22の温度を直接検出する。ヒータまたは 熱電モジュール18Gを使用して誘電材料片22の温度を直接制御する。
粗制御装置176がマイクロ波空洞の温度を比較的狭い範囲内に保持するため、 微制御装置188は周辺温度の変化に影響されない。従って、微制御装置188 は、温度の微少変化に対してはるかに高感度に構成することができる。従って、 微制御装置188を使用して誘電材料22の温度を一層高い精度で制御できる。
従って、粗制御装置176は周辺温度の変化に対してほぼ一定温度を保持し、− 万機制御装置188は誘電材料片の温度を非常に狭い範囲内に保持する。この2 段υj御装置によって、誘電材料片の温度を摂氏数マイクロ度以内に制御するこ とが可能になる。
使用する場合、第6図と第7図に示すように、コネクタ222を介してマイクロ 波共振器200を信号源に取り付ける。信号はマイクロ波伝導体224に沿って 流れ、空洞50内に放射される。空洞50の共振周波数に対応しない周波数とモ ードを有するこの信号の全ての成分は、フィールド・プローブ220で反射する 。従って、空洞50の共振周波数に対応する信号成分のみが空洞50内に存在す る。
空洞50内の大部分の信号は、誘電材料22内に含まれている。この誘電材料2 2からの総ての漏洩は、壁部12から反射して誘電材料22に戻されるか、また はフィールド・プローブ220によって吸収されてマイクロ波伝導体224に沿 って伝導されるかのいずれかである。マイクロ波伝導体224に沿って送られる 信号は、マイクロ波共振器200を取り付けた装置によって使用する。このよう な装置にはマイクロ波周波数の発信機とフィルタが含まれる。空洞50内の損失 は誘電材料22内の損失と空洞50内の壁部内の損失にまで削減される。空洞5 0の壁部を銅または銀のような電気抵抗の低い金属から製作することによって、 これらの壁部内の損失は無視てきる程度になる。従って、損失は主として誘電材 料22の種類によって決まる。低い損失の接平面を有するサファイアは、非常に この目的に適した材料である。
更に、金属及び誘電材料双方の損失は、温度が低くなると低減される。冷却手段 202は、−80℃と50℃の間で、従来技術の装置の極低温度と比較して周辺 温度に近い温度での冷却を行うように設計されている。本発明で極低温度の冷却 を行えば、更に性能を向上させるが、共振器200の性能は現在でも既存の装置 を十分凌駕している。
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L7+IL/ILl+1 L′″’ aQ、、 ト 、。 。 いLl−11/l 砧 −い い い −−?+−一一一 国際調査報告 1−1a−N。
にゴIAUt31閃1% Form Pct/l5AQIOイ端かuattm at hna−011Bu ll 19921 苧国際調査報告 、工□N6 hm灯出A/2101覇麹■−れof帥竣−1−×Jd51的l)苧フロントペ ージの続き (81)指定国 EP(AT、BE、CH,DE。
DK、ES、FR,GB、GR,IE、IT、LU、MC,NL、PT、SE) 、0A(BF、BJ、CF、CG、 CI、 CM、 GA、 GN、 ML、  MR,NE、 SN。
TD、TG)、AT、AU、BB、BG、BR,CA。
CH,CZ、 DE、 DK、 ES、 FI、 GB、 HU、JP、KP、 KR,KZ、LK、LU、MG、MN、MW、NL、No、NZ、PL、PT、 RO,RU、SD。
SE、SK、UA、US、VN (72)発明者 イワノフ、エフゲニー・ニコライオーストラリア国、6009  ウェスタン・オーストラリア、ネッドランズ、パーク・ロード 215 (72)発明者 ブレアー、デイヴイッド・ジェラルドオーストラリア国、60 55 ウェスタン・オーストラリア、ギルドフォード、ヘレナ・ストリート 6 1 (72)発明者 ドーパ−、マイケル・ニドマントオーストラリア国、6009  ウェスタン・オーストラリア、ネッドランズ、セント・コランバ・カレッジ( 番地なし) (72)発明者 サールズ、ジェシー・ハイフォーストラリア国、6160 ウ ェスタン・オーストラリア、フリーマントル、スティーヴンス・ストリート 6 (72)発明者 エドワーズ、サイモン・ジョンオーストラリア国、6009  ウェスタン・オーストラリア、ネッドランズ、ダルキース・ロード 5

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.所望の周波数と特定の温度に於いて所望のモードで動作し、導電性のある内 面を有しほぼ円筒形で低損失の誘電材料片を含むほぼ円筒形の壁部によって少な くとも部分的に形成された空洞によって構成されたマイクロ波共振器の製造方法 であって、下記のステップを含むマイクロ波共振器の製造方法。 (1)所定の寸法のほぼ円筒形の低損失の第1誘電材料片を製造し、該第1誘電 材料片を空洞内に置いてマイクロ波共振器を製造するステップ。 (2)マイクロ波を上記空洞内に放射するステップ。 (3)上記特定の温度に於いて上記所望の動作モードに対応する上記第1片から の初期出力周波数を検出して測定するステップ。 (4)上記初期出力周波数と上記の所望の出力周波数の間の比に従って上記第1 誘電材料片を縮小または拡大して、ほぼ円筒形の第2誘電材料片を製造するステ ップ。 (5)上記空洞の寸法と実質的に似た寸法を有するが、上記所望の出力周波数に より近い出力周波数を得るために上記の第2片の製造時の精度誤差を補償するよ うに、直径及び/または高さを変更した別の空洞を製造するステップ。 (6)上記第2片を上記別の空洞内に置いて上記所望のモードと上記所望の周波 数で動作する上記マイクロ波共振器を製造するステップ。 2.上記別の空洞に温度制御手段を設け、上記出力周波数と上記の所望の出力周 波数の間の食い違いを更に削減するように、上記空洞の温度を実質的に変更する ことを特徴とする請求の範囲第1項記載の方法。 3.上記第2片を動作中実質的に回転させることによって、上記共振器のQを最 大にすると共に、存在するすべてのダブレットの数を最小にすることを特徴とす る請求の範囲第1項または第2項記載の方法。 4.上記第2片が、上記空洞の上記円筒形壁部内に同軸に配設されることを特徴 とする請求の範囲第1項ないし第3項のいずれか1つに記載の方法。 5.上記共振器が、−80℃乃至+50℃の範囲内の温度で動作することができ ることを特徴とする請求の範囲第1項ないし第4項のいずれか1つに記載の方法 。 6.上記共振器が、疑似TMモード、疑似TEモードまたはささやきの回廊モー ドで動作することができることを特徴とする請求の範囲第1項ないし第5項のい ずれか1つに記載の方法。 7.上記空洞が、TM(3、1、d)乃至TM(20、1、d)のモードの範囲 内で動作することができることを特徴とする請求の範囲第6項記載の方法。 8.上記空洞が、TM(4、1、d)乃至TM(7、1、d)のモードの範囲内 で動作することができることを特徴とする請求の範囲第7項記載の方法。 9.上記空洞が、TE(3、1、d)乃至TE(20、1、d)のモードの範囲 内で動作することができることを特徴とする請求の範囲第6項記載の方法。 10.上記空洞が、TE(4、1、d)乃至TE(8、1、d)のモードの範囲 内で動作することができることを特徴とする請求の範囲第9項記載の方法。 11.上記空洞の内壁が、熱伝導率の高い材料によって形成されることを特徴と する請求の範囲第1項ないし第10項のいずれか1つに記載の方法。 12.上記空洞が、蓋部及び/またはベースによって更に構成されることを特徴 とする請求の範囲第1項ないし第11項のいずれか1つに記載の方法。 13.上記空洞が希望しないモードを抑制するように変更されることを特徴とす る請求の範囲第12項記載の方法。 14.上記蓋部または上記ベースにスロットを形成して、希望しないモードを抑 制することを特徴とする請求の範囲第13項記載の方法。 15.上記低損失誘電材料が、サファイアであることを特徴とする請求の範囲第 1項ないし第14項のいずれか1つに記載の方法。 16.冷却効果を高めるため、金属の取り付けロッド手段を上記の誘電材料内に 少なくとも部分的に位置させることを特徴とする請求の範囲第1項ないし第15 項のいずれか1つに記載の方法。
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