JPH0754821B2 - 電子部品検査装置 - Google Patents
電子部品検査装置Info
- Publication number
- JPH0754821B2 JPH0754821B2 JP62126237A JP12623787A JPH0754821B2 JP H0754821 B2 JPH0754821 B2 JP H0754821B2 JP 62126237 A JP62126237 A JP 62126237A JP 12623787 A JP12623787 A JP 12623787A JP H0754821 B2 JPH0754821 B2 JP H0754821B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lead
- leads
- length
- electronic component
- tip position
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は電子部品検査装置に関し、特に４辺にリードを
有するIC部品で、各辺ごとにリード長さ、リード本数，
リード間隔が異なる電子部品のリードの検査に好適な電
子部品検査装置に関するものである。
有するIC部品で、各辺ごとにリード長さ、リード本数，
リード間隔が異なる電子部品のリードの検査に好適な電
子部品検査装置に関するものである。
従来の技術 従来、IC部品におけるリード長さ、リード本数、リード
間隔を検査する際には、良・不良を判定するための標準
値を１種類だけ持ち、たとえば４辺にリードを有するIC
部品のリード検査では、どの辺のリードに対しても全て
１種類の標準値と比較、判定するような方法をとってい
た。
間隔を検査する際には、良・不良を判定するための標準
値を１種類だけ持ち、たとえば４辺にリードを有するIC
部品のリード検査では、どの辺のリードに対しても全て
１種類の標準値と比較、判定するような方法をとってい
た。
発明が解決しようとする問題点 しかしながら、上記のような構成では４辺にリードを有
するIC部品のリード長さ、リード本数、リード間隔が各
辺ごとに異なる第５図に示すようなIC部品50に対して正
しく検査することができなかった。
するIC部品のリード長さ、リード本数、リード間隔が各
辺ごとに異なる第５図に示すようなIC部品50に対して正
しく検査することができなかった。
本発明は上記従来の問題を解消し、各辺ごとにリード長
さ、リード本数、リード間隔が異なる電子部品に対して
も正しく検査できる電子部品検査装置を提供することを
目的とする。
さ、リード本数、リード間隔が異なる電子部品に対して
も正しく検査できる電子部品検査装置を提供することを
目的とする。
問題点を解決するための手段 本発明は上記目的を達成するため、電子部品を撮像する
撮像手段と、上記撮像手段より得られる映像信号をデジ
タル化する手段と、上記デジタル化した映像信号を記憶
する画像パターン記憶手段と、上記画像パターン記憶手
段より画像パターンの特徴位置を検出する手段と、上記
特徴位置より電子部品のリード先端位置、リード長さ及
びリード方向を検出する手段と、上記リード先端位置、
リード長さをリード方向に応じて格納するリード先端位
置、リード長さ記憶手段と、上記リード方向別に格納し
たリード先端位置よりリード間隔とリード本数を検出す
る手段と、リード方向別に検出したリード長さ、リード
本数、リード間隔をあらかじめリード方向に応じて与え
られている標準値と比較し良否判定を行う手段とを有
し、リード長さ、リード本数、リード間隔をリードの方
向ごとにグループ化して検査するものである。
撮像手段と、上記撮像手段より得られる映像信号をデジ
タル化する手段と、上記デジタル化した映像信号を記憶
する画像パターン記憶手段と、上記画像パターン記憶手
段より画像パターンの特徴位置を検出する手段と、上記
特徴位置より電子部品のリード先端位置、リード長さ及
びリード方向を検出する手段と、上記リード先端位置、
リード長さをリード方向に応じて格納するリード先端位
置、リード長さ記憶手段と、上記リード方向別に格納し
たリード先端位置よりリード間隔とリード本数を検出す
る手段と、リード方向別に検出したリード長さ、リード
本数、リード間隔をあらかじめリード方向に応じて与え
られている標準値と比較し良否判定を行う手段とを有
し、リード長さ、リード本数、リード間隔をリードの方
向ごとにグループ化して検査するものである。
作用 本発明は上記構成を有するので、４辺にリードを有する
IC部品のリード長さ、リード本数、リード間隔が各辺ご
とに異なるものであっても、リードの根元部の位置とリ
ードの先端部の位置とを検出することによってリード長
さとリード方向とを算出し、上記リード方向によって検
出したリード先端位置およびリード長さを分類し、上記
リード先端位置より算出できるリード間隔、リード本数
および既に分類されたリード長さを、リード方向別に用
意されている標準値と比較し良否判定を行うことによっ
て電子部品の検査を行うことができる。
IC部品のリード長さ、リード本数、リード間隔が各辺ご
とに異なるものであっても、リードの根元部の位置とリ
ードの先端部の位置とを検出することによってリード長
さとリード方向とを算出し、上記リード方向によって検
出したリード先端位置およびリード長さを分類し、上記
リード先端位置より算出できるリード間隔、リード本数
および既に分類されたリード長さを、リード方向別に用
意されている標準値と比較し良否判定を行うことによっ
て電子部品の検査を行うことができる。
実 施 例 以下、本発明の一実施例を第１図から第４図を参照しな
がら説明する。
がら説明する。
第１図は本発明の一実施例のブロック図である。１は認
識対象であるIC部品で、撮像手段２にて撮像し、その画
像をデジタル化手段３にて２値化し、第２図に示すよう
な画像パターン20として画像パターン記憶手段４に記憶
する。次に、特徴位置検出手段５によって画像パターン
20の特徴位置が検出される。この特徴位置は、第３図に
示すリード30の根元位置Ml,Mrやリード30の先端部の位
置Pl,Prである。リード先端位置検出手段６は、リード
先端部の特徴位置Pl,PrよりPlとPrの中点S1を求める手
段であり、リード長さ検出手段７は、リード根元部の特
徴位置Ml,MrよりまずMlとMrと中点Q1を求め次にリード
先端位置検出手段６で求めたリード先端位置S1と上記Q1
との距離ｈを求める手段である。リード方向検出手段８
は、２つの位置S1,Q1より求まるベクトル▲▼3
1がｘ軸となす角32を計算し、第４図に示した方向区分
によって４方向に分類する手段である。ここまでの処理
で求まったリード30の先端位置S1,リード長さ▲
▼，リード方向（第４図によれば『方向２』に分類さ
れる）は分類手段９で処理され、上記リード方向『方向
２』に応じて分類され、リード先端位置S1とリード長さ
▲▼がリード先端位置，リード長さ記憶手段10
の『方向２』の領域に格納される。画像パターンの特徴
位置検出からリード先端位置，リード長さ格納までの処
理は、画像パターン20の全てのリードに対して行われ
る。この結果、画像パターン20のリードは４つの方向に
分類され、全てのリードの先端位置，リード長さがリー
ド先端位置、リード長さ記憶手段10に格納されることに
なる。リード方向に応じてリード先端位置，リード長さ
記憶手段10に格納されているリード先端位置は、リード
間隔，リード本数検出手段11において処理され、第３図
に示されるように隣り合ったリード先端位置よりリード
間隔ｄが、またリード先端位置のデータ数からリード本
数が検出される。この段階でリードの方向ごとに、リー
ド長さ、リード本数、リード間隔が求まるが、以上の処
理が標準値作成のためになされているのであれば、リー
ド長さ、リード間隔をリード方向別に加算して平均値を
算出し、リード本数とともに標準値記憶手段12に格納し
て処理を終了する。また以上の処理がIC部品検査のため
になされているのであれば、判定手段13においてリード
方向別に標準値記憶手段12に格納されている標準値と比
較されて良否判定がなされIC部品の検査処理は終了す
る。
識対象であるIC部品で、撮像手段２にて撮像し、その画
像をデジタル化手段３にて２値化し、第２図に示すよう
な画像パターン20として画像パターン記憶手段４に記憶
する。次に、特徴位置検出手段５によって画像パターン
20の特徴位置が検出される。この特徴位置は、第３図に
示すリード30の根元位置Ml,Mrやリード30の先端部の位
置Pl,Prである。リード先端位置検出手段６は、リード
先端部の特徴位置Pl,PrよりPlとPrの中点S1を求める手
段であり、リード長さ検出手段７は、リード根元部の特
徴位置Ml,MrよりまずMlとMrと中点Q1を求め次にリード
先端位置検出手段６で求めたリード先端位置S1と上記Q1
との距離ｈを求める手段である。リード方向検出手段８
は、２つの位置S1,Q1より求まるベクトル▲▼3
1がｘ軸となす角32を計算し、第４図に示した方向区分
によって４方向に分類する手段である。ここまでの処理
で求まったリード30の先端位置S1,リード長さ▲
▼，リード方向（第４図によれば『方向２』に分類さ
れる）は分類手段９で処理され、上記リード方向『方向
２』に応じて分類され、リード先端位置S1とリード長さ
▲▼がリード先端位置，リード長さ記憶手段10
の『方向２』の領域に格納される。画像パターンの特徴
位置検出からリード先端位置，リード長さ格納までの処
理は、画像パターン20の全てのリードに対して行われ
る。この結果、画像パターン20のリードは４つの方向に
分類され、全てのリードの先端位置，リード長さがリー
ド先端位置、リード長さ記憶手段10に格納されることに
なる。リード方向に応じてリード先端位置，リード長さ
記憶手段10に格納されているリード先端位置は、リード
間隔，リード本数検出手段11において処理され、第３図
に示されるように隣り合ったリード先端位置よりリード
間隔ｄが、またリード先端位置のデータ数からリード本
数が検出される。この段階でリードの方向ごとに、リー
ド長さ、リード本数、リード間隔が求まるが、以上の処
理が標準値作成のためになされているのであれば、リー
ド長さ、リード間隔をリード方向別に加算して平均値を
算出し、リード本数とともに標準値記憶手段12に格納し
て処理を終了する。また以上の処理がIC部品検査のため
になされているのであれば、判定手段13においてリード
方向別に標準値記憶手段12に格納されている標準値と比
較されて良否判定がなされIC部品の検査処理は終了す
る。
次に、画像パターン20の特等位置検出方法の一例とし
て、境界検出法による認識方法を第６図〜第９図により
説明する。その方法は第６図に示すように、画面の右下
から時計方向に２値化画像の境界を検出してゆくことに
よってIC部品１の外形状をたどって行くものであり、具
体的には、第７図に示すように、境界位置の画素Ｐの周
囲８方に位置する画素の“0"と“1"を識別し、境界が連
なる方向を識別することによって境界をたどることがで
きる。次に、第８図に示すように、境界線上に位置する
ｎ番目の画素に対してその前後に適当数づつ離れた２つ
の画素を結ぶ直線ｍを仮定とし、この直線ｍとｘ軸のな
す角度をθｎとし、次のｎ＋１番目の画素における同様
の角度θn+1との変化を△θｎとすると、この△θｎは
第９図に示すように、境界線が曲がるコーナ部分では＋
側または−側に突出する波形を描くことになる。すなわ
ち、時計方向に90゜曲がるコーナを＋90゜コーナとする
と、△θｎは＋側に突出する波形を描き、逆に反時計方
向に90゜曲がる−90゜コーナでは−側に突出する波形を
描くことになる。したがって、各突出波形の中心線上に
位置する画素の位置を各コーナの位置として認識するこ
とができる。このようにして第３図では、リード30の先
頭部の特徴位解Pl,Prは＋90゜コーナとして、また根元
部の特徴位置Ml,Mrは−90゜コーナとして検出できるの
である。
て、境界検出法による認識方法を第６図〜第９図により
説明する。その方法は第６図に示すように、画面の右下
から時計方向に２値化画像の境界を検出してゆくことに
よってIC部品１の外形状をたどって行くものであり、具
体的には、第７図に示すように、境界位置の画素Ｐの周
囲８方に位置する画素の“0"と“1"を識別し、境界が連
なる方向を識別することによって境界をたどることがで
きる。次に、第８図に示すように、境界線上に位置する
ｎ番目の画素に対してその前後に適当数づつ離れた２つ
の画素を結ぶ直線ｍを仮定とし、この直線ｍとｘ軸のな
す角度をθｎとし、次のｎ＋１番目の画素における同様
の角度θn+1との変化を△θｎとすると、この△θｎは
第９図に示すように、境界線が曲がるコーナ部分では＋
側または−側に突出する波形を描くことになる。すなわ
ち、時計方向に90゜曲がるコーナを＋90゜コーナとする
と、△θｎは＋側に突出する波形を描き、逆に反時計方
向に90゜曲がる−90゜コーナでは−側に突出する波形を
描くことになる。したがって、各突出波形の中心線上に
位置する画素の位置を各コーナの位置として認識するこ
とができる。このようにして第３図では、リード30の先
頭部の特徴位解Pl,Prは＋90゜コーナとして、また根元
部の特徴位置Ml,Mrは−90゜コーナとして検出できるの
である。
上記実施例では、リードを４方向に分類するとしたが、
分類数は任意であって２でも８でもかまわない。
分類数は任意であって２でも８でもかまわない。
発明の効果 本発明の電子部品検査装置によれば、リードの方向別に
リード長さ、リード本数及びリード間隔を検出できるの
で、４辺にリードを有するIC部品のリード本数、リード
間隔が各辺ごとに異なるものであっても検査可能である
という優れた効果を発揮する。
リード長さ、リード本数及びリード間隔を検出できるの
で、４辺にリードを有するIC部品のリード本数、リード
間隔が各辺ごとに異なるものであっても検査可能である
という優れた効果を発揮する。
第１図〜第４図は本発明の一実施例を示し、第１図はブ
ロック図、第２図はIC部品の画像パターンを示す説明
図、第３図はリード長さ，リード方向及びリード間隔の
検出方法を示す説明図、第４図はリード方向を分類する
ための説明図、第５図はリード長さ，リード本数及びリ
ード間隔が各辺ごとに異なるIC部品を示す説明図、第６
図および第７図は認識対象物の境界検出方法の説明図、
第８図および第９図はコーナ部の検出方法の説明図であ
る。 １……IC部品、30……リード、31……リード方向。
ロック図、第２図はIC部品の画像パターンを示す説明
図、第３図はリード長さ，リード方向及びリード間隔の
検出方法を示す説明図、第４図はリード方向を分類する
ための説明図、第５図はリード長さ，リード本数及びリ
ード間隔が各辺ごとに異なるIC部品を示す説明図、第６
図および第７図は認識対象物の境界検出方法の説明図、
第８図および第９図はコーナ部の検出方法の説明図であ
る。 １……IC部品、30……リード、31……リード方向。
Claims (1)
- 【請求項１】電子部品を撮像する撮像手段と、上記撮像
手段より得られる映像信号をデジタル化する手段と、上
記デジタル化した映像信号を記憶する画像パターン記憶
手段と、上記画像パターン記憶手段より画像パターンの
特徴位置を検出する手段と、上記特徴位置より電子部品
のリード先端位置，リード長さ及びリード方向を検出す
る手段と、上記リード先端位置，リード長さをリード方
向に応じて格納するリード先端位置，リード長さ記憶手
段と、上記リード方向別に格納したリード先端位置より
リード間隔とリード本数を検出する手段と、リード方向
別に検出したリード長さ、リード本数及びリード間隔を
あらかじめリード方向に応じて与えられている標準値と
比較し良否判定を行う手段とを有し、リード長さ、リー
ド本数及びリード間隔をリードの方向ごとにグループ化
して検査することを特徴とする電子部品検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62126237A JPH0754821B2 (ja) | 1987-05-22 | 1987-05-22 | 電子部品検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62126237A JPH0754821B2 (ja) | 1987-05-22 | 1987-05-22 | 電子部品検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63289945A JPS63289945A (ja) | 1988-11-28 |
| JPH0754821B2 true JPH0754821B2 (ja) | 1995-06-07 |
Family
ID=14930186
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62126237A Expired - Lifetime JPH0754821B2 (ja) | 1987-05-22 | 1987-05-22 | 電子部品検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0754821B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4917970A (en) * | 1988-02-01 | 1990-04-17 | Minnesota Mining & Manufacturing Company | Magneto optic recording medium with silicon carbide dielectric |
| JPH04196145A (ja) * | 1990-11-26 | 1992-07-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電子部品のリードのピッチ及び本数の検出方法 |
-
1987
- 1987-05-22 JP JP62126237A patent/JPH0754821B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63289945A (ja) | 1988-11-28 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |