JPS63289945A - 電子部品検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 リードを有するＩＣ部品で、各辺ごとにリード長さ、リ
ード本数、リード間隔が異なる電子部品のリードの検査
に好適な電子部品検査装置に関するものである。

従来の技術 従来、ＩＣ部品におけるリード長さ、リード本数、リー
ド間隔を検査する際には、良・不良を判定するための標
準値？１種類だけ持ち、たとえば４辺にリードを有する
ＩＣ部品のリード検査では、どの辺のリードに対しても
全て１種類の標準値と比較、判定するような方法をとっ
ていた。

発明が解決しようとする問題点 しかしながら、上記のような構成では４辺にリードを有
するＩＣ部品のリード長さ、リード本数、リード間隔が
各辺ごとに異なる第５図に示すようなＩＣ部品５Ｑに対
して正しく検査することができなかった。

本発明は上記従来の問題？解消し、各辺ごとにリード長
さ、リー　ド本数、リード間・隔が異なる電子部品に対
しても正しく検査できる電子部品検査装置を掃供するこ
とを目的とする。

問題点を解決するだめの手段 本発明は上記目的を達成するため、電子部品を撮像する
撮像手段と、上記撮像手段より得られる映像信号をデジ
タル化する手段と、上記デジタル化した映像信号を記憶
する画像パターン記憶手段と、上記画像パターン記憶手
段より画像パターンの特徴位置を検出する手段と、上記
特徴位置より電子部品のリード先端位置、リード長さ及
びリード方向を検出する手段と、上記リード先端位置、
リード長さｉ　ＩＪ−ド方向に応じて格納するリード先
端位置、リード長さ記憶手段と、上記リード方向別に格
納したリード先端位置よりリード間隔とリード本数を検
出する手段と、リード方向別に検出したリード長さ、リ
ード本数、リード間隔をあらかじめリード方向に応じて
与えられている標準値と比較し良否判定を行う手段とを
有し、リード長さ、リード本数、リード間隔をリードの
方向ごとにグループ化して検査するものである。

作　　　用 本発明は上記構成を有するので、４辺（（リードを有す
るＩＣ部品のリード長さ、リード本数、リード間隔が各
辺ごとに異なるものであっても、リードの根元部の位置
とリードの先端部の位置とを検出することによってリー
ド長さとリード方向と？算出し、上記リード方向によっ
て検出したリード先端位置およびリード長さを分類し、
上記リード先端位置より算出できるリード間隔、リード
本数および既に分類されたリード長さ？、リード方向別
に用意されている標準値と比較し良否判定を行うことに
よって電子部品の検査を行うことができる。

実施例 以下、本発明の一実施例全第１図から第４図を参照しな
がら説明する。

第１図は本発明の一実施例のブロック図である。

１は認識対象であるＩＣ部品で、撮像手段２にて撮像し
、その画像をデジタル化手段３にて２値化し、第２図に
示すような画１像パターン２０として画像パターン記憶
手段４に記憶する。次に、特徴位置検出手段５によって
画像パターン２ｏの特徴位置が検出される。この特徴位
置は、第３図に示すリード３０の根元部ｉＭ、、Ｍｒや
リード３０の先端部の位置Ｐｌ、Ｐｒである。リード先
端位置検出手段６は、リード先端部の特徴位置Ｐｌ、Ｐ
ｒよシＰｌとＰｒの中点Ｓ１を求める手段であり、リー
ド長さ検出手段７は、リード根元部の特徴位置Ｍｌ、Ｍ
、よりまずＭｌとＭｒの中点Ｑ１を求め次にリード先端
位置検出手段６で求めたリード先端位置Ｓ１と上記Ｑ１
との距離りを求める手段である。リード方向検出手段８
は、２つの位置Ｓ１．Ｑｌよシ求まるベクトルＱ１Ｓ１
３１がＸ軸となす角３２を計算し、第４図に示した方向
区分によって４方向に分類する手段である。ここまでの
処理で求まったリード方向（第４図によれば「方向２」
に分類される）は分類手段９で処理され、上記リード方
向「方向２」に応じて分類され、リード先端位置Ｓ１　
とリード長さＱｌＳｌ　がリード先端位置、リード長さ
記憶手段１０の「方向２」の領域に格納される。

画像パターンの特徴位置検出がらり−ド先端位置。

リード長さ格納までの処理は、画像パターン２０の全て
のリードに対して行われる。この結果、画像パターン２
０のリードは４つの方向に分類され、全てのリードの先
端位置、リード長さがリード先端位置、リード長さ記憶
手段１０に格納されることになる。リード方向に応じて
リード先端位置。

リード長さ記憶手段１ｏに格納されているリード先端位
置は、リード間隔、リード本数検出手段１１において処
理され、第３図に示されるように隣り合ったリード先端
位置よりリード間隔ｄが、またリード先端位置のデータ
数からリード本数が検出される。この段階でリードの方
向ごとに、リード長さ、リード本数、リード間隔が求ま
るが、以上の処理が標準値作成のためになされているの
であれば、リード長さ、リード間隔？リード方向別に加
算して平均値を算出し、リード本数とともに標準位記憶
手段１２に格納して処理を終了する。また以上の処理が
ＩＣ部品検査のためになされているのであれば、判定手
段１３においてリード方向別に標準値記憶手段１２に格
納されている標準値と比較されて良否判定がなされＩＣ
部品の検査処理は終了する。

次に、画像パターン２ｏの特徴位置検出方法の一例とし
て、境界検出法による認識方法を第６図〜第９図により
説明する。その方法は第６図に示すように、画面の右下
から時計方向に２値化画像の境界と検出してゆくことに
よってＩＣ部品１の外形状をたどって行くもつであり、
具体的′Ｖ？−は、第７図に示すように、境界位置の画
素Ｐの周囲８方に位置する画素の”Ｏ”と１”を職別し
、境界が連なる方向を識別することによって境界をたど
ることができる。次に、第８図に示すように、境界線上
に位置するｎ番目の画素に対してその前後に適当数づつ
離れた２つの画素を結ぶ直線ｍ？仮定し、この直線ｍと
Ｘ軸のなす角度をθ。とじ、次のｎ　＋　１番目の画素
における同様の角度θユ＋１との変化をΔθ。とすると
、このΔθ０は第９図（（示すように、境界線が曲がる
コーナ部分では＋側または一側に突出する波形を描くこ
とになる。すなわち、時計方向に９００曲がるコーナｉ
＋９００コーナとすると、ΔＯｎは＋側に突出する波形
を描き、逆に反時計方向に９００曲がる一９００コーナ
では一側に突出する波形を描くことＫなる。したがって
、各突出波形の中心線上に位置する画素の位置を各コー
ナの位置として認識することができる。このようにして
第３図では、リード３０の先端部の特徴位置Ｐ　ｔ　、
　Ｐｒば＋９　ｏ０コーナとして、また根元部の特徴位
置Ｍ　ｔ　、　Ｍ　ｒは一９００コーナとして検出でき
るのである。

上記実施例では、リードと４方向に分類するとしたが、
分類数は任意であって２でも８でもか１わない。

発明の効果 本発明の電子部品検査装買シてよれば、リードの方向別
にリード長さ、リード本数及びリード間隔を検出できる
ので、４辺にリードを有するＩＣ部品のリード本数、リ
ード間隔が各辺ごとに異なるものであっても検査可能で
あるという優れた効果？発揮する。

【図面の簡単な説明】

第１図〜第４図は本発明の一実施例を示し、第１図はブ
ロック図、第２図はＩＣ部品の画像パターンを示す説明
図、第３図はリード長さ、リード方向及びリード間隔の
検出方法を示す説明図、第４図はリード方向を分類する
ための説明図、第５図はリード長さ、リード本数及びリ
ード間隔が各辺ごとに異なるＩＣ部品を示す説明図、第
６図および第７図は認識対象物の境界検出方法の説明図
、第８図および第９図はコーナ部の検出方法の説明図で
ある。 １・・・・・ＩＣ部品、３０・・・・・リード、３１・
　・・リード方向。 代理人の氏名　弁理士　中　尾　敏　男　ほか１名第１
図 ＬｊＦら未巳刀

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 電子部品を撮像する撮像手段と、上記撮像手段より得ら
   れる映像信号をデジタル化する手段と、上記デジタル化
   した映像信号を記憶する画像パターン記憶手段と、上記
   画像パターン記憶手段より画像パターンの特徴位置を検
   出する手段と、上記特徴位置より電子部品のリード先端
   位置、リード長さ及びリード方向を検出する手段と、上
   記リード先端位置、リード長さをリード方向に応じて格
   納するリード先端位置、リード長さ記憶手段と、上記リ
   ード方向別に格納したリード先端位置よりリード間隔と
   リード本数を検出する手段と、リード方向別に検出した
   リード長さ、リード本数及びリード間隔をあらかじめリ
   ード方向に応じて与えられている標準値と比較し良否判
   定を行う手段とを有し、リード長さ、リード本数及びリ
   ード間隔をリードの方向ごとにグループ化して検査する
   ことを特徴とする電子部品検査装置。