JPH0758521B2 - デイスク型記録媒体の検査方式 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、ディスク型記録媒体の検査を行なう技術分
野に係るものであり、特に、ディスク型記録媒体上のエ
ラー検出位置における記録波形の確認を行なえるように
したものに関する。

〔従来の技術〕

磁気ディスクの検査項目の一種に、モジュレーションエ
ラー検査，ミッシングエラー検査がある。モジュレーシ
ョンエラー検査は、被検査ディスクの所定トラックにア
ナログ信号を書込んだ後該トラックの読出しを行ない、
読出し波形が所定の許容レベル範囲内にあるか否か（許
容レベルを超える波形のうねり（＝エラー）がないかど
うか）を判定することにより、ディスク表面の凸凹の有
無等の検査を行なうものである。ミッシングエラー検査
は、トラックの読出しを同様に行ない、読出し信号が規
定値より小さい部分（＝エラー）がないかどうかを判定
することにより、ディスク表面のキズの有無等の検査を
行なうものである。

従来このような検査を行なう場合には、「アナログ信号
の書込み」，「読出しに基づく判定」，「消去」を盲目
的に連続して行なうシーケンス処理によって検査を実行
するようにしていた。従って、トラックの記録波形は、
エラーの有無に無関係に常に判定終了後直ちに消去され
ていた。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかし、このような方式では、ディスク上のどの位置で
エラーが検出されたかはわかっても、そのエラー検出位
置にいかなる波形が記録されていたかを確認することが
できない。この記録波形の確認は、検査装置が正常に動
作しているか否かを判断するために重要なものであり、
且つ記録波形は書込み毎に変化するものであるから消去
後新たに同一のアナログ信号を書込むことによっては行
ないえないものである。

この発明は上述の点に鑑みてなされたもので、ディスク
上のエラー検出位置における記録波形の確認を行なうこ
とのできる検査方式を提供しようとするものである。

〔問題点を解決するための手段〕

この発明に係る検査方式は、ディスク型記録媒体への検
査信号の書込み処理、該ディスク型記録媒体の記録内容
の読出しに基づくエラー検出処理、該ディスク型記録媒
体の記録内容の消去処理、を順次行うシーケンス処理に
よって検査を実行するディスク型記録媒体の検査方式に
おいて、前記エラー検出処理実行時にエラーが検出され
たとき、前記シーケンス処理を一時停止し、該エラーが
検出されたトラックの記録内容の読出しをもう一度行な
うステップと、読出した信号波形を可視表示するステッ
プと、前記表示の後、前記シーケンス処理を再開して前
記消去処理が行われるようにするステップとを備えるこ
とを特徴とするものである。

〔作用〕

エラーが検出される毎に、消去処理に移行する前に記録
内容が再び読出されるので、その読出し信号に基づき、
エラー検出位置における記録波形の確認を行なうことが
できる。

〔実施例〕

以下、添付図面を参照してこの発明の一実施例を詳細に
説明する。

第１図は、この発明に係る検査方式を採用した磁気ディ
スク検査装置の一例を示すものである。この検査装置
は、駆動部１と制御部２を含んでいる。駆動部１には、
図示しない２台のスピンドル部が設けられている。これ
らのスピンドル部は、夫々被検査磁気ディスクを２枚ず
つ搭載するものである。これらのスピンドル部に対する
磁気ディスクの搭載は、例えば図示しない産業用ロボッ
ト等によって行なわれる。

各スピンドル部には、磁気ディスクの回転角度位置を検
出するためのアングル円板3,4が夫々取付けられてい
る。アングル円板3,4は、周知の通り、磁気ディスクの
インデックスを検出するための１個の切欠きと、一定角
度置きに並んだ多数の切欠きとを具えたものである。
（図では切欠きの図示を省略している。）アングル円板
3,4を用いて得られたインデックス信号Ａ及び回転角度
信号Ｂは、制御部２に設けられたインデックス部5,アン
グル部６に与えられる。制御部２にはセクタ部19が設け
られており、インデックス部5,アングル部６に与えられ
た信号A,Bに基づき、磁気ディスクのセクタ情報Ｃがセ
クタ部19により作成される。

駆動部１には、２台のスピンドル部のうちの一方のスピ
ンドル部に搭載された２枚の磁気ディスクの各ディスク
面（合計４面）に対して信号の読み書きを行なう４個の
磁気ヘッド７と、他方のスピンドル部に搭載された２枚
の磁気ディスクに対して同様に信号の読み書きを行なう
４個の磁気ヘッド８が設けられている。（図では１個の
磁気ヘッド7,8のみを示し他の磁気ヘッド7,8の図示を省
略している。以下に述べるバッファアンプ10,12,プリア
ンプ11,13についても同様とする。）各磁気ヘッド７に
は、制御部２に設けられた電流設定部９により指示され
た値が、バッファアンプ10内部の電流源により、プリア
ンプ11を介して書込み又は消去電流Ｄが与えられる。ま
た各磁気ヘッド７には、制御部２に設けられた水晶発振
器14の出力信号Ｅに基づき、制御部２に設けられたステ
ージコントローラ15から、バッファアンプ12及びプリア
ンプ13を介して書込み／読出しタイミング信号Ｆが与え
られる。他方、各磁気ヘッド８にも、電源9,ステージコ
ントローラ15から、バッファアンプ12及びプリアンプ13
を介して夫々信号D,Fが与えられる。

各磁気ヘッド７の読出し信号Ｇは、プリアンプ11,バッ
ファアンプ10を介し、制御部２に設けられたリードセレ
クタ16に与えられる。また、この検査装置には一例とし
て波形観測用のオシロスコープ28が設けられており、信
号Ｇはこのオシロスコープ28にも与えられる。各磁気ヘ
ッド８の読出し信号Ｈも、プリアンプ13,バッファアン
プ12を介し、リードセレクタ16とオシロスコープ28に与
えられる。リードセレクタ16は、与えられた読出し信号
Ｇ又はＨを選択して出力する。制御部２には４個の検査
処理回路17が設けられており、リードセレクタ16の出力
信号は夫々１系統ずつ各検査処理回路17に与えられる。
（図では、１個の検査処理回路17のみを示し、他の検査
処理回路17の図示を省略している。）また各検査処理回
路17には、水晶発振器14の出力信号E,セクタ部７のセク
タ情報Ｃが与えられ、アングル円板３及び４からのイン
デックス信号A,回転角度信号Ｂが夫々インデックス部5,
アングル部６を介して与えられる。各検査処理回路17
は、これらの入力信号に基づき、磁気ディスクについて
モジュレーションエラー検査，ミッシングエラー検査等
の検査（すなわち、これらのエラーの検出並びにエラー
検出位置の特定）を行なうための回路である。

駆動部１には図示しないマイクロコンピュータが設けら
れており、駆動部１の各部はこのマイクロコンピュータ
によって制御される。制御部２にはマイクロコンピュー
タ18が設けられている。マイクロコンピュータ18は、電
源9,ステージコントローラ15,各検査処理回路17等の制
御を行ない且つ駆動部１のマイクロコンピュータとの間
で信号の授受を行なうことにより、磁気ディスクの検査
を実行する。

次に、この発明に係る検査方式の一例を第２図及び第３
図を参照して説明する。

第２図は、マイクロコンピュータ18が実行するコンピュ
ータプログラムの一例を略示するフローチャートであ
り、検査シーケンスに関するものである。最初にステッ
プ101では、スピンドル部に磁気ディスクが搭載された
ことを示す信号Ｉが駆動部１のマイクロコンピュータか
ら与えられたか否かを判断し、与えられていなければこ
の判断を繰返す。産業用ロボット等によりいずれかのス
ピンドル部に磁気ディスクが搭載されると、駆動部のマ
イクロコンピュータから信号Ｉが与えられ、ステップ10
1においてYESと判断してステップ102に進む。

ステップ102では、磁気ディスクが搭載されたスピンド
ル部についての検査準備指示信号Ｊを駆動部１のマイク
ロコンピュータに与える。駆動部では、この信号Ｊに基
づき、スピンドル部上での磁気ディスクのクランプ，対
応する磁気ヘッド７又は８の磁気ディスクへのロード，
スピンドル部の回転駆動，等の検査準備が実行される。
ステップ102に続いてステップ103では、検査準備の終了
を示す信号Ｋが駆動部１のマイクロコンピュータから与
えられたか否かを判断する。検査準備が終了すると、該
マイクロコンピュータから信号Ｋが与えられ、ステップ
103においてYESと判断してステップ104に進む。

ステップ104では、スピンドル部上の磁気ディスクの最
初のトラックを、対応する磁気ヘッド７又は８によりシ
ークする。次にステップ105では、電源９及びステージ
コントローラ15を制御することにより、前記最初のトラ
ックに対して、前記磁気ヘッド７又は８によってアナロ
グ信号の書込みを行なう。書込みが終了すると続いてス
テップ106に進み、ステージコントローラ15及び各検査
処理回路17を制御することにより、前記最初のトラック
の記録内容を前記磁気ヘッド７又は８によって読出し、
リードセレクタ16を介して各回路17に与えられたその読
出し信号Ｇ又はＨに基づいてモジュレーションエラー検
査，ミッシングエラー検査を実行する。

検査が終了するとステップ107に進み、前記ステップ106
の処理によってエラーが検出されたか否かを判断する。
エラーが検出されていなければ、ステップ108に進み、
電源９及びステージコントローラ15を制御することによ
り、前記最初のトラックの記録内容を前記磁気ヘッド７
又は８によって消去する。

他方、エラーが検出されていれば、第２図の検査シーケ
ンスを停止して第３図のフローチャートの最初のステッ
プ201に移る。このフローチャートも、マイクロコンピ
ュータ18が実行するコンピュータプログラムの一例を略
示するものであり、トラック上のエラー検出位置の記録
波形を確認する処理に関する。ステップ201では、第２
図のステップ106で読出しを行なったトラックの記録内
容を対応する磁気ヘッド７又は８によって再び繰返して
読出す。次にステップ202では、前記ステップ201の処理
による読出し信号Ｇ又はＨのうち、前記ステップ106で
エラーが検出されたトラック上の位置からの信号を特定
する。続いてステップ203では、前記ステップ202で特定
した信号の波形をオシロスコープ28に表示する。このス
テップ203が終了すると、第２図のステップ108に移って
検査シーケンスを再開し、前述のように記録内容を消去
を行なう。

第２図において、ステップ108が終了すると、ステップ1
09に進んでエキストラエラー検査等の他の種類の検査を
実行した後、ステップ110に進み、検査を行なってきた
トラックが最終トラックであるか否かを判断する。最終
トラックでなければ、ステップ111に進んで次のトラッ
クを前記磁気ヘッド７又は８によってシークした後、前
記ステップ105に戻って再び同様な過程を繰返す。この
過程を幾度か繰返して全てのトラックについての検査が
終了すると、ステップ110においてYESと判断してステッ
プ112に進む。ステップ112ではスピンドル部からの磁気
ディスクの搬出を指示する信号Ｌを駆動部１のマイクロ
コンピュータに与える。駆動部１では、この信号Ｌに基
づき、スピンドル部の回転停止，前記磁気ヘッド７又は
８のアンロード，磁気ディスクのアンクランプ，産業用
ロボット等による磁気ディスクの搬出が実行される。ス
テップ112に続いてステップ113では、搬出の終了を示す
信号Ｍが駆動部１のマイクロコンピュータから与えられ
たか否かを判断する。搬出が終了すると、該マイクロコ
ンピュータから信号Ｍが与えられ、ステップ113におい
てYESと判断して最初のステップ101に戻る。そして、ス
ピンドル部に新たな磁気ディスクが搭載されると、同様
な過程を繰返して検査を実行する。

このようにこの検査方式では、「磁気ディスクへのアナ
ログ信号の書込み」，「磁気ディスクの記録内容の読出
しに基づくエラー検出」，「磁気ディスクの記録内容の
消去」を順次行なうシーケンス処理によって検査を実行
しながらも、エラーが検出された場合には、シーケンス
を一時停止して磁気ディスクの記録内容の読出しを繰返
し、エラー検出位置の波形をオシロスコープ28で表示す
るようにしている。従って、エラー検出位置における記
録波形の確認を行ないつつ検査を実行することができる
ようになる。

ここで、第１図の検査装置の各検査処理回路17のうちモ
ジュレーションエラー検査及びミッシングエラー検査に
関する部分の構成の一例を示すと、第４図の通りであ
る。同図に示すように、リードセレクタ16から与えられ
た読出し信号Ｇ又はＨは、アベレージ回路20に入力す
る。回路20は、信号Ｇ又はＨを増幅するとともに、１ト
ラック分の信号Ｇ又はＨの平均電圧を求めるものであ
る。回路20からは、増幅しただけの信号Ｇ又はＨがコン
パレータ24,25に与えられ、求めた平均電圧を示す信号
Ｎがモジュレーションエラー用スライス回路21,ミッシ
ングエラー用スライス回路22及びマイクロコンピュータ
18に与えられる。スライス回路21,22は、マイクロコン
ピュータ18の制御の下でスライスデータアウト回路23か
ら出力されて回路21,22に与えられた所定の設定値Ｏ
（例えば70％〜120％）を前記平均電圧に乗ずることに
より、エラー判定のためのスライスレベルを作成するも
のである。

スライス回路21,22からは、作成したスライスレベルを
示す信号P,Qが夫々コンパレータ24,25に与えられる。コ
ンパレータ24,25は、与えられた読出し信号Ｇ又はＨが
このスライスレベルの範囲内にあるか否かを判定するこ
とによって、夫々モジュレーションエラー，ミッシング
エラーの検出を行なうものである。コンパレータ24,25
の判定結果を示す信号R,Sはワンショット回路26に与え
られる。回路26は、コンパレータ24,25のエラーありの
判定に対応してワンショット信号Ｔを出力する。この信
号Ｔは、エラー処理回路27に与えられる。エラー処理回
路27は、発振器14,インデックス部5,アングル部６から
夫々与えられる出力信号E,インデックス信号A,回転角度
信号Ｂ及び前記ワンショット信号Ｔに基づき、マイクロ
コンピュータ18の制御の下、ディスク上におけるエラー
検出位置の特定等の処理を行なうものである。回路27か
らは、処理結果がマイクロコンピュータ18に与えられ
る。

尚、この実施例ではモジュレーションエラー検査及びミ
ッシングエラー検査を実行するためにこの検査方式を用
いているが、他の種類の検査を実行するためにこの検査
方式を用いるようにしてもよい。

また、この実施例では磁気ディスクの検査を実行するた
めにこの検査方式を用いているが、他の種類のディスク
型記録媒体の検査を実行するためにこの検査方式を実行
するようにしてもよい。

〔発明の効果〕

以上の通り、この発明に係る検査方式によれば、ディス
ク型記録媒体上のエラー検出位置における記録波形を確
認しつつ、シーケンス処理によって検査を行なうことが
できる。従って、シーケンス処理によって検査を実行す
るとの同時に、検査装置が正常に動作しているか否かを
判断することができるという効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明に係る検査方式を採用した磁気ディス
ク検査装置の一例を示す電気的ブロック図、第２図及び
第３図は第１図の検査装置の制御部のマイクロコンピュ
ータが実行するコンピュータプログラムの一例を略示す
るフローチャートであり、第２図は検査シーケンスに関
するもの、第３図はトラック上のエラー検出位置の記録
波形を確認する処理に関するもの、第４図は第１図の検
査装置の検査処理回路のうちモジュレーションエラー検
査及びミッシングエラー検査に関する部分の構成の一例
を示す電気的ブロック図である。 １……駆動部,2……制御部,3,4……アングル円板,5……
インデックス部,6……アングル部,7,8……磁気ヘッド,9
……電流設定部,10,12……バッファアンプ,11,13……プ
リアンプ,14……水晶発振器,15……ステージコントロー
ラ,16……リードセレクタ,17……検査処理回路,18……
マイクロコンピュータ,19……セクタ部,20……アベレー
ジ回路,21…モジュレーションエラー用スライス回路,22
……ミッシングエラー用スライス回路,23……スライス
データアウト回路,24,25……コンパレータ,26……ワン
ショット回路,27……エラー処理回路,28……オシロスコ
ープ

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】ディスク型記録媒体への検査信号の書込み
   処理、該ディスク型記録媒体の記録内容の読出しに基づ
   くエラー検出処理、該ディスク型記録媒体の記録内容の
   消去処理、を順次行うシーケンス処理によって検査を実
   行するディスク型記録媒体の検査方式において、 前記エラー検出処理実行時にエラーが検出されたとき、
   前記シーケンス処理を一時停止し、該エラーが検出され
   たトラックの記録内容の読出しをもう一度行なうステッ
   プと、 読出した信号波形を可視表示するステップと、 前記表示の後、前記シーケンス処理を再開して前記消去
   処理が行われるようにするステップとを備えることを特
   徴とするディスク型記録媒体の検査方式。