JPH0760595B2 - 半導体メモリ - Google Patents

半導体メモリ

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JPH0760595B2
JPH0760595B2 JP63005232A JP523288A JPH0760595B2 JP H0760595 B2 JPH0760595 B2 JP H0760595B2 JP 63005232 A JP63005232 A JP 63005232A JP 523288 A JP523288 A JP 523288A JP H0760595 B2 JPH0760595 B2 JP H0760595B2
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data
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plane
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    • G11C7/1015Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
    • G11C7/103Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port using serially addressed read-write data registers
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    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
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    • G11C7/1075Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers for multiport memories each having random access ports and serial ports, e.g. video RAM

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体メモリに関し、とくに複数の出力ポート
を有する半導体メモリに関する。
〔従来の技術〕
メモリ技術の発展に伴い、従来の単一ポートメモリに代
って1チップ上に複数のポートを備えるデュアルポート
メモリが開発され実用化されている。このデュアルポー
トメモリは単一チップ上に複数の出力ポートを有してい
るため、複数のデータを非同期に処理することができる
という大きな利点をもっている。例えば、近年著しい発
展を遂げた画像処理分野においては、画像データを保持
するメモリ(ビデオメモリと呼ばれている)として、こ
のデュアルポートメモリが使用されている。この種のデ
ュアルポートメモリはランダムアクセスポートとシリア
ルアクセスポートとを単一チップ上に含んでいる。ラン
ダムアクセスポートは従来のRAM(ランダムアクセスメ
モリ)に具備されているポートと同じで、1ビット出力
用のメモリの場合にはランダムにアクセスされた1つの
メモリセルに対して1ビットのデータのリード/ライト
を行なうためのポートであり、また多ビット並列出力用
のメモリの場合には複数のビットのメモリセルのデータ
を同時にリード/ライトするポートである。一方、後者
のシリアルアクセスポートは通常1ワード分のビット数
に対応するバッファ(以下、ラインバッファという)を
有し、セルアレイの中で行アドレスによって選択された
一本のワード線に接続されている1ワード分のメモリセ
ルの内容を同時に取り込み、これらをシリアルに外部へ
出力するポートである。
かかるデュアルポートメモリにおいては、ランダムアク
セスポートとシリアルアクセスポートとを非同期に使用
することができるため、CPUからビデオメモリへの画像
データのリード/ライトとビデオメモリから表示装置
(例えばCRTや液晶表示装置等)への表示データのリー
ドとを非同期に行なうことができる。従って、CPUの処
理効率の向上、表示処理の高速化/簡素化ができるとと
もに、TVやVTR等のディジタル化にも大きく寄与できる
というメリットがある。
以下に、第5図のメモリブロック図を参照して従来のデ
ュアルポートメモリの基本概念を説明する。ランダムア
クセスポート(以下、RAMポートという)は、メモリセ
ルアレイ50,ロウデコーダ51,カラムデコーダ52,センス
アンプ群53およびセンスアンプを介して読み出されたデ
ータを外部へ出力したり、外部から入力されたデータを
メモリセルアレイに書込むためのランダムポート54を有
し、シリアルアクセスポート(以下、SAMポートとい
う)はメモリセルアレイ50内の1ワード分(1本のワー
ド線に接続されている全てのセル)のデータを一時保持
する機能を有するワードデータ保持回路(以下、ライン
バッファという)55と、ラインバッファに格納された1
ワード分のデータのうち任意のビットから順番に指定す
る機能を有するシリアルポインタ56(通常プログラマブ
ルシフトレジスタが使用される)と、シリアルポインタ
56によって指定されたビットをシリアルに外部へ出力し
たり、あるいは外部からシリアルに入力されるデータを
ラインバッファに書込むためのシリアルポート57を含
む。なお、ランダムポート54およびシリアルポート57に
は外部端子が必要本数分接続されるが、ここでは図示を
省略する。
上述したデュアルポートメモリの動作を以下に述べる。
第5図からシリアルアクセスポートを取り除くと従来の
ランダムアクセスメモリと同じになり、外部から与えら
れるアドレスの上位側がロウデコーダ51に入力されて1
本のワード線が選択され、上記アドレスの下位側がカラ
ムデコーダ52に入力されて一本のビット線が選択され
る。その結果、これら選択されたワード線とビット線と
の支点に位置するメモリセルがアクセスされリードモー
ドもしくはライトモードに応じてデータのリード/ライ
トが行なわれる。一方、シリアルアクセスポートのライ
ンバッファ55はランダムアクセスポート内のセンスアン
プ群53の各入出力節点と転送ゲート群58を介して結合さ
れており、データ転送モードと呼ばれる特定のサイクル
時のみすべての転送ゲートを開きメモリセルアレイ50と
ラインバッファ55とを電気的に接続するように設計され
ている。前記データ転送モードとはランダムアクセスポ
ートがリードサイクルおよびライトサイクルのいずれで
もないメモリサイクルであり、この期間にメモリセルア
レイ50中の1ワード分のデータが一括してラインバッフ
ァ55に転送され、あるいはラインバッファ55内の一ワー
ド分のデータが一括してメモリセルアレイ50に転送され
る。データ転送モードは外部から入力されるRAS(ロウ
アドレスストローブ)信号およびOE(アウトプットイネ
ーブル)信号を用いて設定することができ、これらの信
号によって転送ゲート群58の開閉を制御する制御信号59
が作り出されている。
データ転送モードによってメモリセルアレイ50内の1ワ
ード分のデータがラインバッファ55に書込まれると、転
送ゲート群58はすべて閉じられる。この結果ランダムア
クセスポートとシリアルアクセスポートとは電気的に切
り離される。従って、例えばラインバッファ55の内容を
シリアルにシリアルポート57から外部へ出力するのと同
時に、ランダムポート54を介してメモリセルアレイ50へ
外部からデータを書込んだりあるいは外部へデータを読
み出すことができる。即ち、ランダムアクセスポートと
シリアルアクセスポートとを同時に、かつ互いに非同期
に操作することができるので、メモリの使用効率が大幅
に向上する。なお、シリアルアクセスポートのラインバ
ッファ55に複数ワード分(例えば4ワード分)の容量を
もたせれば、シリアルポート57を介して4ビットの並列
データを同時に入出力することができるのは明らかであ
る。
しかるに、第5図に示したデュアルポートメモリを実際
にチップ上に実現するためには、第6図のようなレイア
ウト設計が行なわれている。即ち、メモリセルアレイ50
を2分割(セルアレイ(a)と(b))として、左右に
配置し、夫々にセルアレイ(a)のセンスアンプ群
(a)およびラインバッファ(a)、並びにセルアレイ
(b)のセンスアンプ群(b)およびラインバッファ
(b)を設け、その中央にカラムデコーダ52とシリアル
ポインタ56とを設けるようになされている。この理由
は、主としてセンスアンプの感度を劣化させないためで
ある。即ち、セルアレイを1ブロック化すると、ディジ
ット線が長くなり、ディジット線に付加される浮遊容量
が増えるとともに、センスアンプの負荷(セル数)が増
加するためセンス感度が悪くなってしまう。さらに、デ
ィジット線のプリチャージ時間が長くなり、メモリの応
答速度が悪化する。このため、セルアレイを複数のブロ
ックに分割してデジット線の長さを短かくし、かつセン
スアンプを各ブロック毎に設けてセンス感度が低下しな
いようにしている。また、プリチャージ時間を短かくし
て高速応答できるようにしている。なお、セルアレイの
分割に応じてロウデコーダも分割されるが、ロウアドレ
スは分割されたロウデコーダに対して共通に印加され、
2つのセルアレイ(a)および(b)は同時に活性化さ
れる。よって第6図ではセルアレイ(a)の(b)とを
合わせて第5図のメモリセルアレイ50の1ワード分とな
る。
以上、第5図および第6図を参照してデュアルポートメ
モリの基本的な構成について説明したが、大容量のメモ
リを1チップ上に集積化するためには更に改善が要求さ
れる。その1つとして低電圧駆動による低消費電力化の
要求が強い。この要求を満足するため第7図に示す改善
案が提供されている。第7図は改善されたデュアルポー
トメモリチップのレイアウト図である。同図から明らか
なように、メモリ全体が複数のプレーン(例では4プレ
ーン)に分割され、ロウアドレスの上位ビットの内容に
応じて任意の1つのプレーンだけが選択され、他のプレ
ーンは非選択状態となるように工夫されている。以下、
これをデコーダ分割方式と呼ぶ。各プレーンは第6図に
示したメモリレイアウトと同じで、第6図のメモリを複
数個集合せしめて1つの大容量メモリが構成されている
と見ることができ。第7図ではロウアドレスレジスタ70
に入力されたロウアドレスのうち上位2ビットがプレデ
コーダ71に印加され、その内容に応じて各プレーン内の
2つのロウデコーダがペアとして選択される。例えば、
上位ビットが「0.0」の時はプレーン1が、「0.1」の時
はプレーン2が、「1.0」と時はプレーン3が、「1.1」
の時はプレーン4が選択される。ロウアドレス中の前述
した上位2ビットを除く他のビットは各プレーンのロウ
デコーダ対に共通に印加される。
このようにすれば、ロウアドレスの上位2ビットの内容
に従って、唯一つのプレーンのみが選択される。選択さ
れたプレーンは活性化されメモリ動作を行なうが、非選
択状態にある残りのプレーンは非動作状態となる。従っ
て、これら非動作状態にあるプレーンにおいては、デコ
ーダやセンスアンプは非活性状態となり、もちろんメモ
リのリフレッシュも行なわれない。よって、選択された
プレーンのみで電力が消費されるだけで、残りのプレー
ンでの不要な電力消費を節約することができ、低消費電
力の要求を満足することができるわけである。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上述したように大容量のデュアルポートメモリは低消費
電力で動作可能となったが、以下に述べる欠点が顕著に
なり更に改善が必要であることが判明した。
すなわち、セルアレイの分割化が進むにつれ、デュアル
ポートメモリの核となるラインバッファの数を分割数に
比例して増やさなければならない。従って、セルアレイ
全体のトータルの面積は分割しても差程変わらないが、
ラインバッファを占める面積は分割数に比例して増加し
てしまう。この結果、メモリセルアレイの容量が制限さ
れてしまうという問題がある。とくに、ラインバッファ
を有するシリアルアクセスポートはセルアレイを含むラ
ンダムアクセスポートとは非同期に動作できるものでな
ければならない以上、アレイ中のメモリセルにダイナミ
ック型メモリトランジスタを採用したとしても、ライン
バッファはリフレッシュが不要なスタティック型のメモ
リトランジスタを用いることが望ましい。しかるに、ス
タティック型のメモリトランジスタが必要とする面積は
ダイナミック型のメモリトランジスタのそれに比べて非
常に大きなものとなってしまう。さらに、ラインバッフ
ァ自体の消費電力を減らすためには相補型MOSトランジ
スタ(CMOS)構成としなければならない。従って、ライ
ンバッファとして1ワード分の容量をもつバッファを作
成するためには、メモリセルアレイ中での1ワード分の
メモリセルが占める面積の約10倍の面積が必要となりメ
モリセルアレイの分割数を増加するに従い、ラインバッ
ファの占有面積が無視できなくなってしまうという新た
な問題に直面することになる。
ここで、1つのプレーン内に存在する2つのラインバッ
フッァを共用できれば、ラインバッファ全体の占有面積
を半減することができるのであるが、第6図および第7
図に示すように1つのプレーン内の2つのブロック(す
なわち、プレーン1の場合はセルアレイ(a)を含むブ
ロックとセルアレイ(b)を含むブロック)は同時に選
択されるものである以上、そこに存在するラインバッフ
ァ(a)と(b)とを共用することは困難である。この
ことを第8図を参照してより詳しく説明する。
第8図は第7図のプレーン1の内部回路ブロック図であ
る。なお他のプレーン内の回路ブロックも第8図のもの
と同じであることはいうまでもない。各プレーンは第8
図に代表されるように、分割された2つのブロックを有
し、第1ブロックにはメモリセルアレイ(a)およびそ
のセンスアンプ群(a)とラインバッファ(a)とロウ
デコーダ(a)が存在し、第2ブロックにはメモリセル
アレイ(b)およびそのセンスアンプ群(b)とライン
バッファ(b)とロウデコーダ(b)が存在する。2つ
のセルアレイ(a)と(b)とのディジット線を共通に
選択するカラムデコーダと、2つのラインバッファ
(a)と(b)とのアドレスを共通に指定するシリアル
ポインタとは2つのブロックに対して共用することがで
きる。メモリセルアレイ(a)とラインバッファ(a)
とは第1の転送ゲート群80により結合され、メモリセル
アレイ(b)とラインバッファ(b)とは第2の転送ゲ
ート群81により結合される。これら第1および第2の転
送ゲート群80,81はプレーン1を選択する信号および前
述したデータ転送モードを設定するために外部から印加
される信号(例えばRAS信号やOE信号)に基いてゲート
の開閉を制御する回路82からの制御信号C1によって同時
にオン/オフされる。第1ブロックにはランダムポート
(a)およびシリアルポート(a)を介してデータ転送
が行なわれ、第2ブロックにはランダムポート(b)お
よびシリアルポート(b)を介してデータ転送が行なわ
れる。
今、例えばラインバッファ(a)と(b)が夫々1ワー
ド分の容量を有するものと仮定すれば、データ転送モー
ドはメモリセルアレイ(a)と(b)から各1ワードの
データが対応するラインバッファ(a)と(b)とに夫
々同時に転送される。転送されたデータはシリアルポイ
ンタによって指定されるビットら順に各シリアルポート
(a)および(b)を介して同時に外部へ出力される。
この結果、2ビットのデータを並列に転送することがで
きる。
ここで、仮にラインバッファ(a)と(b)とを共通化
して1本のラインバッファに置き換えた場合、各メモリ
セルアレイからラインバッファへのデータ転送は時分割
に行なわなければならなくなる。従って、夫々の転送ゲ
ート群(a)と(b)のオン/オフも時分割に行なうよ
うに制御回路82の構成を変更しなければならず、そのた
めに回路構成が非常に複雑になってしまう。さらに、時
分割転送のためにはデータ転送モードとして本来の2倍
の期間を割り当てなければならないので、転送時間が長
くなるという欠点もある。加えて、シリアルポートから
は同時に1ビットの情報しか転送できないので、外部と
のデータ転送時間も長くなってしまう。以上のように、
従来ではラインバッファの数を減らすことが非常に困難
であった。
従って、本発明の目的はラインバッファの数を減らし、
その占有面積を縮小することができる半導体メモリを提
供することにあり、とくにそれによって低消費電力化が
防げられることのないデュアルポートメモリを提供する
ことである。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明はプレーン内に存在する複数のブロックのどれも
が非選択状態にあるプレーンが同一チップ上に存在する
との知見に基きなされたもので、選択状態にあるプレー
ン内の少なくとも1つのブロックと非選択状態にあるプ
レーン内のいずれか少なくとも1つのブロックとを置換
することによって、プレーン内のラインバッファの共通
化を計ったことを特徴とする。
換言すれば、本発明はデコーダ分割方式のデュアルポー
トメモリにおいて、1つのデコーダ選択信号によって活
性化される複数のメモリブロックが同一プレーン内に複
数個存在することがないように分散配置したことを特徴
とするものである。
なお、本発明によれば1つのプレーン内でラインバッフ
ァを共用できるとともに、必要に応じてセンスアンプを
も共用することができるようになっている。
〔実施例〕
次に、第1図を参照して本発明の一実施例について詳し
く説明する。第1図は本発明を4プレーンを有するデュ
アルポートメモリに適用した時のチップレイアウト図で
ある。単一の半導体チップ上に4つのプレーン(デコー
ダ分割方式によって分割されたプレーン)が存在し、各
プレーン内には従来同様2つのメモリブロック(1ブロ
ックがディジット線容量を低減するために分割された1
つのメモリセルアレイを有する)が設けられている。し
かるに、従来プレーン1内に設けられていた2つのメモ
リブロックのうち一方のメモリブロック(第1図ではメ
モリセルアレイ(b)、ロウデコーダ(b)、センスア
ンプ群(b)を含むブロック)はプレーン1とは異なる
プレーン(第1図ではプレーン2)に設けられている。
一方、従来プレーン2内に存在していた2つのメモリブ
ロックのうち一方のブロック(第1図ではメモリセルア
レイ(c)、センスアンプ(c)およびロウデコーダ
(c)を含むブロック)をプレーン1に設けるようにし
ている。同様に従来のプレーン3内の一方のメモリブロ
ック(f)と従来のプレーン4内の一方のメモリブロッ
ク(g)とが図示のように置換して配置されている。な
お、第1図中8個存在するメモリブロックはいずれも同
一の回路構成でよいため、ブロック自体の置換は不要
で、図示のようにデコーダ選択のための選択信号の配線
を変更するだけでよい。従って、回路設計上の大幅な変
更や制御のための付加回路を特別に別途設ける必要もな
いので、設計、製造も極めて簡単である。
以上のようなレイアウトを行なうことによって、各プレ
ーン内でラインバッファ(図中斜線を施した部分)を共
用することができる。従って、全体としてラインバッフ
ァの占める面積を従来に比べて半減することができる。
なお、実際の動作時は、ロウアドレスレジスタ70に入力
されたロウアドレスの上位2ビットをプレデコーダ71に
よってデコードされる。その結果、第1の選択信号10が
発生されると、メモリブロック(a)と(b)が従来同
様選択されるが、実際にはプレーン1内のブロック
(a)とプレーン2内のメモリブロック(b)が選択さ
れ、他のメモリブロック(c)〜(h)はすべて非選択
状態となる。選択された2つのメモリブロック(a)と
(b)では夫々のロウデコーダ(a)(b)が活性化さ
れロウアドレスの上位2ビットを除く残りのビットが共
通にデコードされる。この結果、各メモリブロック内の
1本のワード線が活性化される。従って、活性化された
2つのメモリブロックに対しては夫々のランダムアクセ
スポートよびシリアルアクセスポートが動作可能状態と
なり、ランダムアクセスポートを使用するモードが設定
されればランダムポートを介してメモリセルアレイ
(a)および(b)と外部装置(例えばCPU)との間で
データ転送を行なうことができる。また、データ転送モ
ードが設定されれば、メモリブロック(a)においてセ
ンスアンプ群(a)を介してプレーン1のラインバッフ
ァに1ワード分のデータが転送され、同時にメモリブロ
ック(b)においてはセンスアンプ群(b)を介してプ
レーン2のラインバッファに1ワード分のデータが転送
される。この間プレーン1内のメモリブロック(c)と
プレーン2内のメモリブロック(d)とは非活性状態に
あるためラインバッファに対して何ら影響を及ぼすこと
はない。さらに、データ転送モードが終了するとプレー
ン1および2の各ラインバッファから対応するシリアル
ポートを介して夫々1ビットづつのデータが同時にかつ
シリアルに外部装置(例えばCRTや液晶表示装置等)へ
出力される。なお、この動作はランダムアクセスポート
の動作とは非同期に行なわれるので、ランダムアクセス
とシリアルアクセスとをオーバーラップして実行するこ
ともできる。
第1図中のプレーン1を代表にしてその内部回路ブロッ
ク図を第2図に示し、データ転送モードにおけるプレー
ン内部の動作をより詳しく説明する。第2図から明らか
なように、メモリブロック(a)のロウデコーダはデコ
ーダ選択信号線10に接続され、メモリブロック(c)の
ロウデコーダはデコーダ選択線11に接続される。単一の
ラインバッファ(斜線部)が2つのメモリでブロック
(a)と(c)に対して共用され、ラインバッファの入
出力端はブロック(a)のメモリセルアレイ(a)のデ
ィジット線と転送ゲート群20を介して結合されるととも
にブロック(c)のメモリセルアレイ(c)のディジッ
ト線と転送ゲート群21を介して結合される。ここで、メ
モリブロック(a)の転送ゲート群20は第8図と同様の
機能を有する制御回路82から出力される信号23によって
制御されるが、メモリブロック(c)の転送ゲート群21
は制御回路82から出力される信号24によって制御され
る。信号23はプレーン2のメモリブロック(b)内の転
送ゲート群を制御し、信号24はプレーン2のメモリブロ
ック(d)内の転送ゲート群を制御することはいうまで
もない。
かかる構成により、メモリブロック(a)と(b)とが
選択されると、プレーン1のメモリブロック(a)とプ
レーン2のメモリブロック(b)とが同時に活性化され
る。そして、データ転送モードが設定されると、信号23
が発生され、プレーン1のメモリブロック(a)内の転
送ゲート群20とプレーン2のメモリブロック(b)内の
転送ゲート群(図示せず)が同時にオンされる。この
時、信号24は発生されないので、プレーン1のメモリブ
ロック(c)内の転送ゲート群21およびプレーン2のメ
モリブロック(d)内の転送ゲート群(図示せず)はと
もにオフ状態となる。従って、夫々のプレーン内のライ
ンバッファはいずれか一方のメモリセルアレイのみと電
気的に接続され、他方のメモリセルアレイとは電気的に
遮断されるので、各プレーン内でラインバッファを共用
することが可能となる。また、シリアルポートもプレー
ン内で共用することができる。
第3図および第4図は本発明の他の実施例を示すチップ
レイアウト図とプレーン内の回路ブロック図である。こ
の例では、ラインバッファのみならず各プレーン内のセ
ンスアンプをも共用したものである。ここで、センスア
ンプによって増幅したデータをラインバッファに転送す
る場合、センスアンプを共用すると、第4図のようにラ
インバッファとセンスアンプとを接続する転送ゲート群
40も2つのメモリブロック(a)と(c)に対して共用
することができる。しかしながら、センスアンプを共用
しているために各メモリセルアレイ(a)と(b)は夫
々別々のスイッチングゲート群41と42を用いて結合する
必要がある。従って、いずれのブロックを用いるかに応
じて、スイッチングゲート群41と42のいずれか一方を選
択するセルアレイ選択回路が必要となる。しかし、セル
アレイ選択回路43を省略して、デコーダ選択信号10,11
によっていずれか一方のスイッチングゲート群が対応す
るロウデコーダと同期してオンされるようにしてもよ
い。かかる実施例によれば、多少の回路変更だけでセン
スアンプをも共用することができる。
以上第1〜4図を参照して本発明の2つの実施例を説明
したが、これらの実施例において各プレーン内のライン
バッファを夫々2ワード分の容量をもつバッファ構成す
ると、4ビットづつのデータをシリアルアクセスポート
を介して並列に順次取り出すことができる。しかしなが
ら、1つのラインバッファを2系統にして2本のワード
線分の容量をもたせると、2系統の各ラインバッファが
すぐ近くに隣接して配置され、しかも2つとも同時に動
作状態となる。従って、高密度化されたチップレイアウ
トでは二系統のラインバッファ間で相互緩衝が生じ、信
号のリークやビット情報の反転が生じる危険性がある。
故にかかる不都合を解消するためには第9図のようにす
ればよい。
第9図は本発明の更に他の実施例を示すレイアウト図で
ある。同図より明らかなように、各プレーンには夫々2
つのメモリブロックを設け、各プレーン内には夫々1つ
のラインバッファを設ける。そして、各プレーンの一方
のメモリブロック(a),(b),(c)および(d)
と他方のメモリブロック(e),(f),(g)および
(h)とを排他的に選択できるようにすればよい。この
ために、ロウアドレスの上位1ビットが“H"レベルのと
きはメモリブロック(a)〜(d)を選択し、それが
“L"レベルの時はメモリブロック(e)〜(h)を選択
するようにプレデコーダ71の出力信号線を配線すればよ
い。この結果、4つのプレーンの一方のメモリブロック
が同時に活性化され、夫々物理的に離れた場所に配置さ
れたラインバッファから4ビットのデータを並列に取り
出すことができ、ラインバッファ間の相互緩衝による影
響をなくすことができ、高密度化にとって極めて有利で
ある。なお、各プレーン中非選択状態にある方のメモリ
ブロックにおいては電力消費がないため低消費電力化を
阻害することはない。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば複雑な回路や設計変
更を伴なうことなくラインバッファの占有面積を小さく
することかできるという優れた効果が得られる。また、
デコーダ分割方式およびセルアレイ分割方式による利点
が損われることはない。とくに、本発明によれば、従来
1本のラインバッファのためにメモリセルアレイ中の10
ワード線分程度もの面積が必要であったのを、半減でき
るという効果はメモリの大容量化に大きく貢献できる要
因となりうる。また、種々の実施例で示したようにライ
ンバッファのみならず、センスアンプやシリアルポート
の共用化も可能となり更に大きな効果を得ることができ
る。
なお、本発明はメモリセルアレイ部をダイナミックメモ
リとしラインバッファをスタティックメモリとするのみ
ならず、両者をともにスタティックメモリにしたり、と
もにダイナミックメモリで構成するようにした場合にも
適用できるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例のパターンレイアウト図、第
2図は第1図のプレーン1の内部回路ブロック図、第3
図は本発明の他の実施例のパターンレイアウト図、第4
図は第3図のプレーン1の内部回路ブロック図、第5図
は従来のデュアルポートメモリの基本ブロック図、第6
図は第5図のパターンレイアウト図、第7図は改良され
た従来のデュアルポートメモリのパターンレイアウト
図、第8図は第7図のプレーン1の内部回路ブロック
図、第9図は本発明の更に他の実施例のパターンレイア
ウト図である。 50……メモリセルアレイ、51……ロウデコーダ、52……
カラムデコーダ、53……センスアンプ群、54……ランダ
ムポート、55……ラインバッファ、56……シリアルポイ
ンタ、57……シリアルポート、80,81,20,21,40……転送
ゲート群、70……ロウアドレスレジスタ、71……プレデ
コーダ、82……制御回路、43……セルアレイ選択回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】それぞれ複数のメモリセルを有する第1及
    び第2のセルアレイと、それぞれ前記第1及び第2のセ
    ルアレイに接続された第1及び第2の選択部と、それぞ
    れ前記第1及び第2のセルアレイに接続された第1及び
    第2の増幅部と、前記第1及び第2のセルアレイに対し
    て共通に接続され、前記第1及び第2のセルアレイのう
    ち選択された一方からのデータを保持するための第1の
    データバッファと、 それぞれ複数のメモリセルを有する第3及び第4のセル
    アレイと、それぞれ前記第3及び第4のセルアレイに接
    続された第3及び第4の選択部と、それぞれ前記第3及
    び第4のセルアレイに接続された第3及び第4の増幅部
    と、前記第3及び第4のセルアレイに対して共通に接続
    され、前記第3及び第4のセルアレイのうち選択された
    一方からのデータを保持するための第2のデータバッフ
    ァと、 アドレス信号を供給される選択制御部であって、前記ア
    ドレス信号に応じて選択的に前記第1及び第3の選択部
    に対して第1の制御信号を出力して活性化し前記第1及
    び第3のセルアレイを選択させるとともに、前記第2及
    び第4の選択部を非活性化状態に維持して、前記第1及
    び第3のセルアレイと前記第1及び第2のデータバッフ
    ァとの間でそれぞれデータを転送させ、また選択的に前
    記第2及び第4の選択部に対して第2の制御信号を出力
    して活性化し前記第2及び第4のセルアレイを選択させ
    るとともに、前記第1及び第3の選択部を非活性化状態
    に維持して、前記第2及び第4のセルアレイと前記第1
    及び第2のデータバッファとの間でそれぞれデータを転
    送させる選択制御部と、 前記第1及び第2のデータバッファとの間でそれぞれデ
    ータ転送を行う第1及び第2の入出力回路とを有するこ
    とを特徴とする半導体メモリ。
JP63005232A 1988-01-12 1988-01-12 半導体メモリ Expired - Lifetime JPH0760595B2 (ja)

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