JPH0763578A - スケール装置 - Google Patents

スケール装置

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JPH0763578A
JPH0763578A JP21067493A JP21067493A JPH0763578A JP H0763578 A JPH0763578 A JP H0763578A JP 21067493 A JP21067493 A JP 21067493A JP 21067493 A JP21067493 A JP 21067493A JP H0763578 A JPH0763578 A JP H0763578A
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JP
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scale
graduation
signal
detection
gate
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JP21067493A
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Nobuyuki Suzuki
信之 鈴木
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Sony Magnescale Inc
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 第1及び第2の検出ヘッドの初期位置から、
第1及び第2の検出ヘッドと第1及び第2のスケールの
相対移動距離が少ない状態でアブソリュート値をパルス
数のみでプリセットを行って回路構成が簡単なスケール
装置を得る。 【構成】 スケールベース2上に第1のスケール3及び
複数の漸次増大或いは減少する目盛間隔をλとした目盛
数を有する複数の目盛ブロック4a1 〜4an から成る
第2のスケール4aを配設し、各目盛ブロック間の目盛
の左又は右端を基準位置とし、各目盛ブロック4a1
4an 間の間隔をλの整数倍とする様に成したものであ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明のスケール装置に係わり、
特に、数値制御工作機械等に用いて好適なアブソリュー
ト方式のスケール装置の改良に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のスケール装置は一般的にインクリ
メンタル方式のものが多く、この様な方式のスケール装
置に原点信号発生手段を付加して、アブソリュート方式
と成して絶対値位置を読み出せる様に成したスケール装
置が知られている。この様なスケール装置の1例を図3
A,Bを用いて説明する。
【0003】図3Aはアブソリュート方式のスケール装
置の平面とその回路構成を示すものであり、図3Bはス
ケール及びヘッド部分の側面図を示している。
【0004】図3A,Bで、1は全体としてスケール装
置を示し、螺子等の帯状板材から成るスケールベース2
上に磁性媒体を塗布、蒸着、或いは鍍金等によって、ス
ケールベース2の長手方向にトラック状に第1のスケー
ル3を配設する。この磁性媒体の第1のスケール3上に
波長λのスケール信号が長手方向に沿って記録されてい
る。
【0005】更に、スケールベース2の第1のスケール
3の下側の略々中心位置に第2のスケール4となる磁性
媒体を塗布、蒸着或いは鍍金等で配設して、絶対位置検
出用の信号が第1のスケール信号λ位置に対応して記録
されている。
【0006】図3Aでは第2のスケール4が第1のスケ
ール3の長手方向の略々中心位置に1つ配設された構成
を示しているが、これら第2のスケール4を複数個、適
宜位置に配設して、その内の一つのみを選択して原点信
号発生手段として絶対値位置原点として使用する様に成
されたものも知られている。
【0007】上述の第1のスケール3と対向して第1の
検出ヘッド5及び第2のスケール4と対向して第2の検
出ヘッド6を配設する。第1の検出ヘッド5を第1のス
ケール3の長手方向に移動させて相対位置の変位が計測
される。この計測方法は広く知られた方法である。第1
の検出ヘッド5から相対位置検出用の相対変位に対応し
た検出信号S1 か出力される。
【0008】第2の検出ヘッド6も第1の検出ヘッド5
と連動して第1のスケール3の長手方向に移動させる
と、第2の検出ヘッド6が第2のスケール4位置を通過
した時に検出パルスS2 が出力される。第1の検出ヘッ
ド5から出力される相対変位に対応した検出信号S1
第1の検出回路7に供給され、第2の検出ヘッド6から
出力される検出パルスS2 は第2の検出回路8に供給さ
れる。
【0009】第2の検出回路8に供給された検出パルス
2 によってゲートパルスS3 を出力してλゲート回路
9に供給する。このλゲート回路9には第1の検出回路
7から第1の検出ヘッド5の移動時に相対変位に対応し
たλ周期の連続した検出信号S1 が供給されているので
λ信号の1つのみをゲートパルスS3 によってゲートす
る。勿論第2の検出ヘッド6はλ周期の検出信号S1
出力位置と検出パルスS2 の出力位置が適切な位置にな
る様に予め選択されている。
【0010】λゲート回路9からは絶対位置を示す原点
信号S4 が出力されてプリセット回路10に供給され
る。プリセット回路10には第1の検出回路7から相対
変位に対応した検出信号S1 が供給されているのでこの
計測値を所定の値にプリセットして表示部11に表示す
ることでアブソリュートスケール装置1が構成される。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】上述の従来構成で説明
したスケール装置はアブソリュートスケールであるが絶
対位置を読み出せるのは第2のスケール4が配設された
位置だけであり、例えばこの様なアソリュートスケール
装置を位置制御用に工作機械等に取り付けて稼動開始す
るためには、先ず機械を移動し、第2の検出ヘッド6を
第2のスケール4位置を通過させる様な原点合せを成さ
なければならない、特に機械の稼動範囲が長い機械の場
合は、この原点合せ時間がロスタイムとなる問題だあっ
た。
【0012】又、機械によって、原点位置が異なるため
に、その機械に合った必要位置に第2のスケール4の位
置を合わせて、検出パルスS2 を記録しなければならな
い煩わしさがあった。
【0013】又、第2のスケール4を複数個所に設ける
ものでは、これら複数の第2のスケール4,4‥‥中か
ら1つの検出パルスS2 を選択するための検出回路と選
択回路を必要とし、回路が複雑化する問題があった。
【0014】本発明は叙上の問題点を解消したスケール
装置を提供しようとするもので、その目的とするところ
は第1及び第2の検出ヘッドの初期位置から、この第1
及び第2の検出ヘッド5及び6と第1及び第2のスケー
ル3及び4の相対移動距離が少ない状態でアブソリュー
ト値をパルス数のみでプリセットを行って回路構成を簡
単にしたスケール装置を得る様にしたものである。
【0015】
【課題を解決するための手段】本発明のスケール装置は
その例が図1に示されている様に、一定の間隔λで連続
した目盛を付与した第1の目盛部3と、この第1の目盛
部3の長手方向に並行して1つ又は/及び複数の異なる
数の目盛を付与した目盛ブロック4a1 〜4an が複数
個所定間隔で配設された第2の目盛部4aとを具備し、
第2の目盛部4aの複数の目盛ブロック4a1 〜4an
内の各々の目盛り間隔はλと成され、目盛ブロック4a
1 〜4an 毎の各々の間隔は、目盛ブロック4a1 〜4
n の目盛の右端又は左端を基準位置として、λの整数
倍に成したものである。
【0016】第2の本発明のスケール装置はその例が図
1に示されている様に、一定の間隔λで連続した目盛を
付与した第1の目盛部3と、この第1の目盛部3の長手
方向に並行して1つ又は/及び複数の異なる数の目盛を
付与した目盛ブロック4a1〜4an が複数個所定間隔
で配設された第2の目盛部4aとを有するスケール2
と、第1及び第2の目盛部3及び4aに対向して並設し
た第1及び第2の検出ヘッド5及び6と、第1及び第2
の検出ヘッド5及び6からスケール信号及びゲート信号
を検出する第1及び第2の検出手段7及び8と、この第
1及び第2の検出手段7及び8からのスケール信号及び
ゲート信号より絶対位置信号を得るゲート手段9と、こ
のゲート手段9から得られる絶対位置信号の出力パルス
数に対応したプリセット値を設定するプリセット値処理
手段14とを具備し、第1の検出手段7及び8より得ら
れる相対変化位置をプリセット処理手段14より得られ
る絶対値位置信号でプリセットする様に成したものであ
る。
【0017】
【作用】本発明のスケール装置によれば、第2の目盛部
(スケール)を複数の目盛ブロックとし、このブロック
内の目盛を1乃至nまでの数とし、この数をカウントし
たパルス数によってプリセット値を設定する様にしたの
で極めて簡単な回路で構成可能となり、且つ初期状態か
らの検出ヘッドとスケールの相対移動距離が少ないアブ
ソリュートスケール装置が得られる。
【0018】
【実施例】以下、本発明のアブソリュートスケール装置
の一実施例を図1及び図2によって詳記する。図1はス
ケール装置の全体的な構成図、第2はスケールの拡大部
と、その波形関係を示す説明図である。
【0019】図1Aはスケールベースの平面図を図1B
は側面図を略線的に示している。15は全体としてアブ
ソリュート型の本例のスケール装置を示している。スケ
ールベース2は従来と同様の構成の帯状板材でこのスケ
ールベース2上にその長手(測定)方向に沿って図3と
同様の第1のスケール3が形成されている。
【0020】即ち、スケールベース2上に塗布、蒸着或
いは鍍金された磁性媒体上に波長λの信号S1 ′が記録
されて、目盛が測定方向にスケールの測定長に亘って構
成される。
【0021】第1のスケール3と同様に第2のスケール
4aが第1のスケール3の下側に、その測定方向に沿っ
て並行に配設される。このため、第2のスケール4aに
は磁性媒体の塗布、蒸着或いは鍍金等が施され、この磁
性媒体上に波長λの信号S2′が記録されて目盛が測定
方向に構成される。
【0022】第2のスケール4aは図1及び図2Aに示
す様に1つ(N=1)及び/又は複数個(N=2,N=
3‥‥,N=n)の目盛ブロック4a1 ,4a2 ,4a
3 ‥‥4an を等間隔(x)離して測定方向に配設して
ある。
【0023】これら目盛ブロック4a1 ,4a2 ,4a
3 ‥‥4an の目盛りの数Nは1,2,3‥‥nと連続
的に増加するかN=n,n−1,n−2‥‥2,1と連
続的に減少する様に設定されている。
【0024】図1及び図2に於いて、複数の目盛ブロッ
ク4a1 ,4a2 ,4a3 ‥‥4a n 間の目盛の隣同志
の位置基準は目盛ブロック4a1 ,4a2 ,4a3 ‥‥
4a n の目盛の右端又は左端(図1及び図2では左端)
とし、複数の目盛ブロック4a1 ,4a2 ,4a3 ‥‥
4an 内の目盛の間隔はλとしている、この目盛ブロッ
ク内の目盛間隔は2λ,3λ等のλの整数倍に設定して
もよい。
【0025】上述の第1及び第2のスケール3及び4a
は硝子等のスケールベース上に磁性媒体を配設して、目
盛S1 ′及びS2 ′を形成したがスケールベース2、そ
のものを磁性媒体で構成したり、ガラスのスケールベー
ス2上にλ間隔の第1のスケール3及び第2のスケール
4を印刷し、ホトインタラプタ等を介して光学的に検出
信号を取り出す様にしてもよい。
【0026】この様な第1及び第2のスケール3及び4
aに対し、第1及び第2の検出ヘッド5及び6を連動し
て測定方向(トラックの長手方向)に相対的に移動可能
となす。即ち一方を固定し、他方を移動自在と成す。
【0027】この第1及び第2の検出ヘッド5及び6の
相対位置は後述する図2B,Cのスケール信号P1 とゲ
ート信号P2 とが同期がとれる位置に配設し、第1及び
第2の検出ヘッド5及び6が共動する様に保持固定され
ている。
【0028】第1の検出ヘッド5から検出された相対変
位に対応した検出信号S1 は従来例の図3と同様に第1
の検出回路7に供給され、プリセット回路10を介して
表示部11にプリセットした相対変位量を表示する。
【0029】第2の検出ヘッド6の検出出力は検出パル
スS2 を第2の検出回路8に出力する様に成されてい
る。第2の検出回路8からはλゲート回路9にゲートパ
ルスP 2 (図2C)が出力され、第1の検出回路7から
はλゲート回路9にスケールλ信号P1 (図2B)が供
給される様に成されている。この間の構成は図3と同様
の構成であるが第2の検出回路8に供給される検出パル
スS2 は第2のスケール4aの目盛ブロック4a1 ,4
2 ‥‥4an の目盛の数に応じたもので、第2の検出
回路8からは図2Cに示す様なゲートパルスP2 が出力
される。
【0030】本例ではλゲート回路9の出力端が第1及
び第2のスイッチ回路12及び13に接続され、第1の
検出回路7の出力端が第1及び第2のスイッチ回路12
及び13並にプリセット位置処理回路14に夫々接続さ
れ、更に第1のスイッチ回路12の出力端は第2のスイ
ッチ回路13に接続され、第2のスイッチ回路13の出
力端はプリセット処理回路14に接続されている。又、
プリセット値処理回路14の出力端はプリセット回路1
0に接続されている。
【0031】上述の構成での動作を以下、図1及び図2
で説明する。第1及び第2の検出ヘッド5及び6と第1
及び第2スケール3及び4aを測定方向に相対的に移動
させると第1の検出ヘッド5からは相対変位に対応した
検出信号S1 が第1の検出回路7に供給される。この第
1の検出回路7及びプリセット回路10はスケールλ信
号回路、内挿回路及びアップダウンカウンタ等で構成さ
れ、従来と同様に第1のスケール3と第1の検出ヘッド
5との相対変位量を検出して、表示ブロック11に表示
すると共に図2Bに示す様に第1のスケール3のλ周期
に対応したスケールλ信号P1 が出力されてλゲート回
路9並に第1及び第2のスイッチ回路12及び13に供
給される。
【0032】第2の検出ヘッド6が第2のスケール4a
の目盛ブロック4a1 ,4a2 ‥‥4an 上を通過する
と、目盛ブロック4a1 ,4a2 ‥‥4an 内の目盛り
の数に応じた検出パルスS2 が第2の検出回路8に供給
されて、検出回路8からは図2Cに示すゲートパルスP
2 がλゲート回路9に出力される。
【0033】スケールλ信号P1 とゲートパルスP2
同期がとれる様に第1及び第2の検出ヘッド5及び6の
位置関係が設定されているので、ゲートパルスP2 が発
生した時点でのみλゲート回路9からは図2Dに示すλ
ゲート出力信号P3 が出力されて第1及び第2のスイッ
チ回路12及び13に供給される。
【0034】上述の動作は第2の検出ヘッド6の初期位
置が第2のスケール4aの目盛ブロック4a1 ,4a2
‥‥4an の中間位置にあって移動を開始した場合であ
るが、初期位置が、目盛ブロック4a1 ,4a2 ‥‥4
n 上にある場合には目盛ブロック4a1 ,4a2 ‥‥
4an の目盛の数に対応したゲートパルスP2 を出力す
ることが出来なくて誤動作の原因となる。
【0035】上述の第1及び第2のスイッチ回路12及
び13は制御機械等の電源投入時の初期位置状態で第2
の検出ヘッド6が目盛ブロック4a1 ,4a2 ‥‥4a
n 上にあっても正常に絶対値をプリセット出来る様に機
能させる。
【0036】即ち、初期状態から第2の検出ヘッド6が
一つ目の目盛ブロック4a1 ,4a 2 ‥‥4an を通過
時に得られるλゲート出力信号P3 は正しいパルス数で
ない場合もあるので、絶対位置信号として第2のスイッ
チ回路13から出力させない様に成し、第2の検出ヘッ
ド6が2つ目の目盛ブロック4a1 ,4a2 ‥‥4a n
の通過時に得られるλゲート出力信号P3 を絶対値位置
信号P4 として第2のスイッチ回路13から出力する。
【0037】又、2つ目のλゲート出力信号P3 が出力
された後に3つ目、4つ目の目盛ブロック4a1 ,4a
2 ‥‥4an のλゲート出力信号P3 が出力されない様
に第1及び第2のスイッチ回路12及び13を動作させ
る。
【0038】第1のスイッチ12には第1の検出回路7
からスケールλ信号P1 及びλゲート回路9からλゲー
ト出力信号P3 が供給されるが、スケール装置15の電
源を投入した初期状態では第1のスイッチ回路12はλ
ゲート出力信号P3 を「オン」する様にゲートされる。
又スケールλ信号P1 のみが入力されてもまた、スケー
ルλ信号P1 とλゲート出力信号P3 とが同時に入力さ
れても第1のスイッチ回路12のλゲート出力信号P3
のゲートは「オン」と成る様に成されている。
【0039】この様な初期状態から第1及び第2の検出
ヘッド5及び6と第1及び第2のスケール3及び4aと
が相対的にスケールの測定方向に移動するとして、例え
ば図1で第2の検出ヘッド6が第2のスケール4aの任
意の1つ目の目盛ブロック4a3 を通過し始めるとスケ
ールλ信号P1 とλゲート出力信号P3 が同期して第1
及び第2のスイッチ回路12及び13に入力される。
【0040】第1のスイッチ回路12はλゲート出力信
号P3 の入力ゲートが「オン」の時にその出力は「オ
フ」状態と成る様に設定されている。
【0041】依って、第2の検出ヘッド6が任意の1つ
目の目盛ブロック4a3 を通過終了時点で、第1のスイ
ッチ回路12へλゲート出力信号P3 は入力されず、ス
ケールλ信号P1 のみ入力された状態になるが、その状
態にてλゲート出力信号P3の入力ゲートは「オフ」状
態となるように設定され出力は「オフ」状態から1パル
スのオン信号PONを次段の第2のスイッチ回路13に出
力し、この1パルス出力後は入力ゲートを「オフ」状態
に保持する。
【0042】この様なに第1のスイッチ回路12はλゲ
ート出力信号P3 の入力ゲートが「オフ」状態と成って
いるので、第2の検出ヘッド6が継続して、2つ目、3
つ目の目盛ブロック4a4 ,4a5 を通過してもλゲー
ト出力信号P3 は第1のスイッチ回路12には入力され
ず出力は「オフ」状態のままである。即ち、第1のスイ
ッチ回路12は例えば1つ目の目盛ブロック4a3 を通
過した1回のみ動作し、他の目盛ブロック4a4 ,4a
5 ‥‥4an 上を通過しても動作しない。
【0043】第2のスイッチ回路13はスケール装置の
電源を「オン」にした初期状態ではλゲート出力信号P
3 の入力ゲートは「オフ」される様に設定されている。
【0044】第2の検出ヘッド6が任意の例えば1つ目
の目盛ブロック4a3 を通過し終わって、第1のスイッ
チ回路12からオン信号PONを受けた時に第2のスイッ
チ回路13のλゲート出力信号P3 の入力ゲートは「オ
フ」状態から「オン」状態にセットされる。
【0045】従って第2の検出ヘッド6が継続移動し、
2つ目の目盛ブロック4a4 を通過し始めると第2のス
イッチ回路13のλゲート出力信号P3 の入力ゲートは
作動開始し、λゲート出力信号P3 が入力され、第2の
スイッチ回路13より絶対値位置信号P4 がプリセット
値処理回路14に供給される。
【0046】第2のスイッチ回路13には第2の検出ヘ
ッド6の移動に伴って第1の検出回路7からスケールλ
信号P1 が入力されるが、第2のスイッチ回路13はス
ケールλ信号P1 とλゲート出力信号P3 が同時に入力
されている状態ではλゲート出力信号P3 の入力ゲート
は「オン」状態を保持する様に成されている。
【0047】第2の検出ヘッド6が任意の例えば2つ目
の目盛ブロック4a4 を通過し終わるとλゲート出力信
号P3 は出力されず、スケールλ信号P1 のみ入力され
る状態に成ってλゲート出力信号P3 の入力ゲートは
「オフ」状態と成る。
【0048】第2の検出ヘッド6が継続移動し、3つ
目、4つ目の目盛ブロック4a5 ,4a6 ‥‥を通過し
てもλゲート出力信号P3 の入力ゲートは「オフ」とな
っているのでプリセット処理回路14へは絶対位置信号
4 は出力されない。
【0049】即ち第1及び第2のスイッチ回路12及び
13によって、共動する第1及び第2の検出ヘッド5及
び6が2つ目の目盛ブロック4a1 〜4an を通過した
時のみ目盛ブロック4a1 〜4an の目盛の数に対応し
た絶対位置信号P4 をプリセット値処理回路14に出力
することが出来る。この状態は電源「オフ」にしない限
り変わらない、この様な第1及び第2のスイッチ回路は
論理回路等で簡単に構成可能である。
【0050】プリセット値処理回路14では入力された
絶対位置信号P4 のパルス数に対応して数値化したプリ
セット信号をプリセット回路10に供給して絶対値を表
示部11に表示したアブソリュートスケール装置を得
る。
【0051】例えば図1で示す様に第1及び第2の検出
ヘッド5及び6が目盛ブロック4a 2 と4a3 の間にあ
って電源が「オン」されて第1及び第2の検出ヘッド5
及び6が右方向に移動したとする。この状態では目盛り
数N=4の目盛ブロック4a 4 を第2の検出ヘッド6が
通過し始めるとプリセット値処理回路14には絶対位置
信号P4 が入力し始め、N=4の目盛が通過し終ると絶
対位置信号P4 は停止する。即ちこの場合N=4の目盛
より4パルスの絶対位置信号P4 がプリセット値処理回
路14に入力されるが、一般的にはx=目盛ブロック間
隔、N=目盛ブロック信号、λ=記録ピッチとすると x(N−1)+λ(N−1) ‥‥‥ (1) の(1)式に対応したプリセット信号を出力する。
【0052】同様に図1に示す様に第1及び第2の検出
ヘッド5及び6が目盛ブロック4a 2 と4a3 の間にあ
って、第1の検出ヘッド6が左方向に移動する場合 x(N−1) ‥‥‥ (2) の(2)式に対応したプリセット信号を出力する。
【0053】上述の左右方向へのプリセット値への設定
は第1の検出回路7内のアップダウンカウンタ等からプ
リセット値処理回路14に供給される方向弁別信号P5
によって行なわれる。
【0054】例えは図1に於いて、目盛ブロック間隔x
=10mm、記録ピッチλ=100μm、目盛ブロック
4a1 の位置を「零位置」とし、設定の分解能を1μm
単位とした時のプリセット値を考えてみる。
【0055】第2の検出ヘッド6が図1で右方向に移動
し、2つ目の目盛ブロック4a4 を通過し始めると第2
のスイッチ回路13からは絶対位置信号P3 として4パ
ルスが出力されてプリセット値処理回路14に供給され
るが、この場合各パルス毎に(1)式に対応した下記の
プリセット値と成される。
【0056】
【0057】4パルス以降は上述した様に3つ目、4つ
目の目盛ブロック4a5 ,4a6 ‥‥4an を第2の検
出ヘッド6が継続して通過しても絶対位置信号P3 が発
生しないので4パルス目のプリセット値が最終のプリセ
ット値となる。即ち4つ目のパルス位置は目盛ブロック
4a1 の「零位置」から(1)式に従へば、3x+3λ
=30,300の値となる。
【0058】この様に目盛ブロック4a1 〜4an の信
号数Nが複数の場合に第2の検出ヘッド6が測定方向に
対し右方向に移動した時は例えば目盛ブロック4a4
一番右端によって発生する最後のプリセット値による絶
対位置プリセット信号P6 によってプリセット回路10
はプリセットされる。
【0059】次に同様に図1で第2の検出ヘッド6が測
定方向の左方向に移動した場合は2つ目の目盛ブロック
4a1 を通過した時に絶対位置信号P4 を出力し、
(2)式によってx(N−1)=0となる。
【0060】尚、図1の第2の検出ヘッド6が目盛ブロ
ック4a5 と4a6 の間に初期状態で配置されていて、
左方向に移動した場合は目盛ブロック4a4 位置で絶対
位置信号P3 として4つのパルスを出力する。この場合
のプリセット値は(2)式に則り、下記の様に成る。
【0061】
【0062】この場合の様に、第2の検出ヘッド6と第
2のスケール4aが相対的に左方向に移動した時には目
盛ブロック4a1 〜4an の一番左端の信号によって発
生するパルスが最終プリセット値となる。
【0063】上述の例の目盛ブロック4a4 では一番左
側の目盛位置は第1の目盛ブロック4a1 のN=1の
「零位置」から3x離れていて、その値は(x(N−
1)=30.000である。
【0064】この様に、本発明では絶対位置検出時の方
向によって複数目盛ブロック内で使用される最終プリセ
ット信号が異なる。
【0065】尚、上述の構成で第2の検出ヘッド6の初
期位置が第1及び第2の目盛ブロック4a1 及び4a2
間、並にn−1及びnの目盛ブロック間にあった場合は
図示しないがスケールベース2の左右端に配設したエン
ド検出センサに第2の検出ヘッド6が当接した時を1つ
目の目盛ブロックを通過したものと看なし、第1番目の
目盛ブロック4a1 或いは第n番目の目盛ブロック4a
n 位置で絶対位置信号P3 を出力する様に成されてい
る。
【0066】従って、本発明によれば第1及び第2の検
出ヘッド5及び6の如何なる位置に置いても、初期状態
の電源「オン」後に2x(図1の場合最大3x)第1及
び第2の検出ヘッド5及び6と第1及び第2のスケール
3及び4aとの関係を相対的に移動させれば絶対位置値
のプリセットによってアブソリュート型のスケール装置
を得ることが出来る。
【0067】上述の実施例ではλ=100μm、x=1
0mmの例について説明したがこのλ及びxの値を適宜
選択肢得ることは明らかである。
【0068】更に図1では目盛ブロック4a1 〜4an
間の間隔xを複数目盛ブロック4a 1 〜4an 内の左端
の目盛を基準に等間隔としたが右端の目盛を基準として
等間隔としてもよい。本発明は上述の様に構成させたの
で第1及び第2の検出ヘッド5及び6と第1及び第2の
スケール3及び4aの初期状態からの相対移動距離を少
なくすることが出来て、原点位置設定までのロスタイム
を短くすることが可能となる。更に従来の様に使用機器
に応じて原点位置を代えて設定を行なう煩わしさを避け
ることが出来るものが得られる。又、絶対位置信号P3
のパルス数によってプリセット回路のプリセットが行わ
れるので簡単な回路を廉価に構成することが出来る。
【0069】
【発明の効果】本発明のスケール装置によれば下記の効
果が得られる。 (1)従来の原点方式に比べ、任意位置の初期状態より
ヘッド、スケールの相対移動距離が少ない状態でアブソ
リュート値のプリセットが可能。 (2)従来の原点方式の如く、ユーザの要求毎に指定位
置への原点付与が不必要となる。 (3)絶対位置信号P3 のパルス数によるプリセット値
を設定するのみであり、回路構成が簡単で原理的に廉価
に構成できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のスケール装置の一実施例を示す構成図
である。
【図2】本発明のスケール装置に用いられるスケールパ
ターンとその出力波形図でるあ。
【図3】従来のスケール装置の構成図である。
【符号の説明】
1,15 スケール装置 3,4,4a 第1及び第2のスケール 4a1 〜4an 目盛ブロック 5,6 第1及び第2の検出ヘッド 7,8 第1及び第2の検出回路 12,13 第1及び第2のスイッチ回路 14 プリセット値処理回路

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一定の間隔λで連続した目盛を付与した
    第1の目盛部と、 上記第1の目盛部の長手方向に並行して1つ又は/及び
    複数の異なる数の目盛を付与した目盛ブロックが複数個
    所定間隔で配設された第2の目盛部とを具備し、 上記第2の目盛部の複数の目盛ブロック内の各々の目盛
    り間隔はλと成され、該目盛ブロック毎の各々の間隔
    は、該目盛ブロックの目盛の右端又は左端を基準位置と
    して、λの整数倍に成したことを特徴とするスケール装
    置。
  2. 【請求項2】 前記第2の目盛部を構成する複数の目盛
    ブロックの目盛り数は隣接する目盛ブロックに対し連続
    的に増加、又は減少する様に配設したことを特徴とする
    請求項1記載のスケール装置。
  3. 【請求項3】 前記第1の目盛部及び第2の目盛部に対
    向して第1及び第2の検出ヘッドを並設し、該第1及び
    第2の検出ヘッドを該第1及び第2の目盛部の長手方向
    に共動変位させ、該第1及び第2の検出ヘッド出力端に
    接続した検出回路によって、絶対位置を検出し、該検出
    信号により絶対値をプリセットする様に構成したことを
    特徴とする請求項1記載のスケール装置。
  4. 【請求項4】 一定の間隔λで連続した目盛を付与した
    第1の目盛部と、 上記第1の目盛部の長手方向に並行して1つ又は/及び
    複数の異なる数の目盛りを付与した目盛ブロックが複数
    個所定間隔で配設された第2の目盛部とを有するスケー
    ルと、 上記第1及び第2の目盛部に対向して並設した第1及び
    第2の検出ヘッドと、 上記第1及び第2の検出ヘッドからスケール信号及びゲ
    ート信号を検出する第1及び第2の検出手段と、 上記第1及び第2の検出手段からのスケール信号及びゲ
    ート信号より絶対位置信号を得るゲート手段と、 上記ゲート手段から得られる絶対位置信号の出力パルス
    数に対応したプリセット値を設定するプリセット値処理
    手段とを具備し、 上記第1の検出手段より得られる相対変化位置を上記プ
    リセット処理手段より得られる絶対値信号でプリセット
    して成ることを特徴とするスケール装置。
  5. 【請求項5】 前記第2の目盛部の2つ目の目盛ブロッ
    クから前記ゲート手段を介して得られる絶対値位置信号
    のみを得るスイッチ手段を有することを特徴とする請求
    項4記載のスケール装置。
  6. 【請求項6】 前記第1の検出手段からの方向弁別信号
    を前記プリセット値処理手段に供給し、該第1の検出手
    段から得られる相対変位量値を相対変位方向に応じてプ
    リセットして成ることを特徴とする請求項4記載のスケ
    ール装置。
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