JPH0766517A - テストクーポンセット - Google Patents
テストクーポンセットInfo
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- JPH0766517A JPH0766517A JP21129393A JP21129393A JPH0766517A JP H0766517 A JPH0766517 A JP H0766517A JP 21129393 A JP21129393 A JP 21129393A JP 21129393 A JP21129393 A JP 21129393A JP H0766517 A JPH0766517 A JP H0766517A
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- test
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- printed circuit
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2818—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP] using test structures on, or modifications of, the card under test, made for the purpose of testing, e.g. additional components or connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0266—Marks, test patterns or identification means
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/11—Printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/0097—Processing two or more printed circuits simultaneously, e.g. made from a common substrate, or temporarily stacked circuit boards
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/40—Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
- H05K3/42—Plated through-holes or plated via connections
- H05K3/429—Plated through-holes specially for multilayer circuits, e.g. having connections to inner circuit layers
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- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 電気的チェックにおいて良品と判断され得る
ものであってもスルーホール部に位置ズレの問題がある
場合にはこれを検知することができ、しかもその位置ズ
レの程度をも検知することができるばかりか、プリント
回路基板のスルーホール部全体の信頼性を向上させるこ
とができるテストクーポンセットを、簡単な構造によっ
て提供すること。 【構成】 プリント回路基板５０に設けられるスルーホ
ール部の電気的なチェックを実行するためのテストクー
ポンセットであって、基準スルーホール部の穿設のため
の基準部位とテスト用スルーホール部の穿設のための各
々クリアランスの異なる複数のクリアランス部位とをテ
スト用導電パターンに備えてなるテストクーポン１０
を、前記プリント回路基板５０の切除可能な耳部５２の
複数箇所に配設して構成した。
ものであってもスルーホール部に位置ズレの問題がある
場合にはこれを検知することができ、しかもその位置ズ
レの程度をも検知することができるばかりか、プリント
回路基板のスルーホール部全体の信頼性を向上させるこ
とができるテストクーポンセットを、簡単な構造によっ
て提供すること。 【構成】 プリント回路基板５０に設けられるスルーホ
ール部の電気的なチェックを実行するためのテストクー
ポンセットであって、基準スルーホール部の穿設のため
の基準部位とテスト用スルーホール部の穿設のための各
々クリアランスの異なる複数のクリアランス部位とをテ
スト用導電パターンに備えてなるテストクーポン１０
を、前記プリント回路基板５０の切除可能な耳部５２の
複数箇所に配設して構成した。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、テストクーポンセット
に関し、詳しくは、プリント回路基板に設けられるスル
ーホール部の電気的なチェックを容易且つ確実に実行す
ることができるテストクーポンセットに関する。
に関し、詳しくは、プリント回路基板に設けられるスル
ーホール部の電気的なチェックを容易且つ確実に実行す
ることができるテストクーポンセットに関する。
【０００２】
【従来の技術】従来より、プリント回路基板において、
スルーホールが正確な位置に形成されているか否かは、
スルーホールと導電パターンとの導通或は絶縁を電気的
にチェックすることにより行われていた。
スルーホールが正確な位置に形成されているか否かは、
スルーホールと導電パターンとの導通或は絶縁を電気的
にチェックすることにより行われていた。
【０００３】例えば図８及び図９に示すような内層の導
電パターンの逃がし部内に形成されたスルーホールにあ
っては、スルーホールと内層の導電パターンとが絶縁さ
れているか否かを電気的にチェックすることにより行わ
れ、例えば図１０及び図１１に示すような内層の導電パ
ターンのランド部上に形成されたスルーホールにあって
は、スルーホールと内層の導電パターンとが導通されて
いるか否かを電気的にチェックすることにより行われて
いた。
電パターンの逃がし部内に形成されたスルーホールにあ
っては、スルーホールと内層の導電パターンとが絶縁さ
れているか否かを電気的にチェックすることにより行わ
れ、例えば図１０及び図１１に示すような内層の導電パ
ターンのランド部上に形成されたスルーホールにあって
は、スルーホールと内層の導電パターンとが導通されて
いるか否かを電気的にチェックすることにより行われて
いた。
【０００４】なお、電気的チェックは、スルーホールメ
ッキを施して最終的なスルーホールを形成した後に実施
されるものに限らず、例えばスルーホールの一次孔を穿
設した後にこのスルーホールの一次孔に導電ピン等を挿
入する等によっても実施され得るものであり、電気的チ
ェックが行え得るスルーホールやその一次孔等を総じ
て、以下スルーホール部と称する。
ッキを施して最終的なスルーホールを形成した後に実施
されるものに限らず、例えばスルーホールの一次孔を穿
設した後にこのスルーホールの一次孔に導電ピン等を挿
入する等によっても実施され得るものであり、電気的チ
ェックが行え得るスルーホールやその一次孔等を総じ
て、以下スルーホール部と称する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、電気的
チェックによるスルーホール部の位置ズレの許容範囲、
すなわちクリアランスは、スルーホール部の大きさに対
する前述した導通パターンの逃がし部或はランド部の大
きさによって決定されるため、スルーホール部の位置ズ
レが将来的に様々な支障を生じさせる大きなものであっ
たとしても、その位置ズレがクリアランス以下である限
り、良品であると判断されてしまうという問題があっ
た。
チェックによるスルーホール部の位置ズレの許容範囲、
すなわちクリアランスは、スルーホール部の大きさに対
する前述した導通パターンの逃がし部或はランド部の大
きさによって決定されるため、スルーホール部の位置ズ
レが将来的に様々な支障を生じさせる大きなものであっ
たとしても、その位置ズレがクリアランス以下である限
り、良品であると判断されてしまうという問題があっ
た。
【０００６】また、スルーホール部の位置ズレがクリア
ランス以上であると、当然不良品と判断されるのである
が、そのズレの程度を検知することはできず、スルーホ
ール部の位置ズレを修正することが困難であった。
ランス以上であると、当然不良品と判断されるのである
が、そのズレの程度を検知することはできず、スルーホ
ール部の位置ズレを修正することが困難であった。
【０００７】一方、電気的チェックは、プリント回路基
板の全てのスルーホール部に実施されるものではなく、
一般に、プリント回路基板の例えば切除可能な耳部にテ
スト用にスルーホール部を設け、このスルーホール部に
実施されるものである。このため、プリント回路基板の
製造工程や搬送工程等における応力、温度、湿度等の種
々の要因によって生じたプリント回路基板自体の歪や、
スルーホール部を穿設する孔明け加工機械等の特性によ
る機械的な位置ズレ等により、プリント回路基板の一部
のスルーホール部にクリアランス以上の位置ズレが生じ
ていても、耳部に設けられたテスト用のスルーホール部
が良品であると判断されると、プリント回路基板のスル
ーホール部全体も良品であると判断してしまうという問
題があった。これ故、プリント回路基板のスルーホール
部の部分的な位置ズレをも検知できるようし、良品であ
ると判断されたプリント回路基板のスルーホール部全体
の信頼性を向上させることが要望されていた。
板の全てのスルーホール部に実施されるものではなく、
一般に、プリント回路基板の例えば切除可能な耳部にテ
スト用にスルーホール部を設け、このスルーホール部に
実施されるものである。このため、プリント回路基板の
製造工程や搬送工程等における応力、温度、湿度等の種
々の要因によって生じたプリント回路基板自体の歪や、
スルーホール部を穿設する孔明け加工機械等の特性によ
る機械的な位置ズレ等により、プリント回路基板の一部
のスルーホール部にクリアランス以上の位置ズレが生じ
ていても、耳部に設けられたテスト用のスルーホール部
が良品であると判断されると、プリント回路基板のスル
ーホール部全体も良品であると判断してしまうという問
題があった。これ故、プリント回路基板のスルーホール
部の部分的な位置ズレをも検知できるようし、良品であ
ると判断されたプリント回路基板のスルーホール部全体
の信頼性を向上させることが要望されていた。
【０００８】本願発明は、このような課題を解決するた
めになされたものであり、その目的とするところは、電
気的チェックにおいて良品と判断され得るものであって
もスルーホール部に位置ズレの問題がある場合にはこれ
を検知することができ、しかもその位置ズレの程度をも
検知することができるばかりか、プリント回路基板のス
ルーホール部全体の信頼性を向上させることができるテ
ストクーポンセットを、簡単な構造によって提供するこ
とである。
めになされたものであり、その目的とするところは、電
気的チェックにおいて良品と判断され得るものであって
もスルーホール部に位置ズレの問題がある場合にはこれ
を検知することができ、しかもその位置ズレの程度をも
検知することができるばかりか、プリント回路基板のス
ルーホール部全体の信頼性を向上させることができるテ
ストクーポンセットを、簡単な構造によって提供するこ
とである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】以上の課題を解決するた
めに本発明の採った手段を、図面に使用する符号を付し
て説明すると、「プリント回路基板５０に設けられるス
ルーホール部２０の電気的なチェックを実行するための
テストクーポンセットであって、基準スルーホール部２
１の穿設のための基準部位１３とテスト用スルーホール
部２２の穿設のための各々クリアランスの異なる複数の
クリアランス部位１４とをテスト用導電パターン１２に
備えてなるテストクーポン１０を、前記プリント回路基
板５０の切除可能な耳部５２の複数箇所に配設して構成
した」ことである。
めに本発明の採った手段を、図面に使用する符号を付し
て説明すると、「プリント回路基板５０に設けられるス
ルーホール部２０の電気的なチェックを実行するための
テストクーポンセットであって、基準スルーホール部２
１の穿設のための基準部位１３とテスト用スルーホール
部２２の穿設のための各々クリアランスの異なる複数の
クリアランス部位１４とをテスト用導電パターン１２に
備えてなるテストクーポン１０を、前記プリント回路基
板５０の切除可能な耳部５２の複数箇所に配設して構成
した」ことである。
【００１０】
【発明の作用】このように構成された本発明のテストク
ーポンセットは、次のように作用する。
ーポンセットは、次のように作用する。
【００１１】まず、テストクーポン１０は、テスト用ス
ルーホール部２２の穿設のための各々クリアランスの異
なる複数のクリアランス部位１４を備えている。このた
め、各クリアランス部位１４に各々テスト用スルーホー
ル部２２を穿設し、各テスト用スルーホール部２２毎に
電気的チェックを行い、電気的チェックの良否が判断さ
れたテスト用スルーホール部２２のクリアランス値によ
り位置ズレを検知することによって、将来的に支障を来
すような大きな位置ズレが生じている場合には、プリン
ト回路基板５０を不良品として排除し得ることになる。
ルーホール部２２の穿設のための各々クリアランスの異
なる複数のクリアランス部位１４を備えている。このた
め、各クリアランス部位１４に各々テスト用スルーホー
ル部２２を穿設し、各テスト用スルーホール部２２毎に
電気的チェックを行い、電気的チェックの良否が判断さ
れたテスト用スルーホール部２２のクリアランス値によ
り位置ズレを検知することによって、将来的に支障を来
すような大きな位置ズレが生じている場合には、プリン
ト回路基板５０を不良品として排除し得ることになる。
【００１２】また、位置ズレの程度を検知することによ
り、例えばスルーホール部２０を穿設する孔明け加工機
械等を適時補正する等の修正を直ちに行え得ることにな
り、不良品が生じることを未然に防止し得ることにもな
る。
り、例えばスルーホール部２０を穿設する孔明け加工機
械等を適時補正する等の修正を直ちに行え得ることにな
り、不良品が生じることを未然に防止し得ることにもな
る。
【００１３】次に、前述したようなテストクーポン１０
をプリント回路基板５０の切除可能な耳部の複数箇所に
配設してある。このため、各テストクーポン１０毎に電
気的チェックを行うことにより、プリント回路基板５０
の広範囲においてスルーホール部２０の位置ズレの検知
を行え得ることになる。これ故、プリント回路基板５０
自体の歪や孔明け加工機械の特性等により、一部のスル
ーホール部２０に位置ズレが生じていてもこれを検知し
得ることになり、これが許容範囲以上の場合には不良品
として排除し得ることになる。すなわち、従来検知し得
なかったプリント回路基板５０の部分的なスルーホール
部２０の位置ズレを検知して、一部のスルーホール部２
０に許容範囲以上の位置ズレがあるものを不良品として
排除することにより、良品とされたプリント回路基板５
０のスルーホール部２０全体の信頼性を向上させ得るこ
とになる。
をプリント回路基板５０の切除可能な耳部の複数箇所に
配設してある。このため、各テストクーポン１０毎に電
気的チェックを行うことにより、プリント回路基板５０
の広範囲においてスルーホール部２０の位置ズレの検知
を行え得ることになる。これ故、プリント回路基板５０
自体の歪や孔明け加工機械の特性等により、一部のスル
ーホール部２０に位置ズレが生じていてもこれを検知し
得ることになり、これが許容範囲以上の場合には不良品
として排除し得ることになる。すなわち、従来検知し得
なかったプリント回路基板５０の部分的なスルーホール
部２０の位置ズレを検知して、一部のスルーホール部２
０に許容範囲以上の位置ズレがあるものを不良品として
排除することにより、良品とされたプリント回路基板５
０のスルーホール部２０全体の信頼性を向上させ得るこ
とになる。
【００１４】また、プリント回路基板５０の部分的なス
ルーホール部２０の位置ズレを検知することにより、ス
ルーホール部２０の位置ズレが生じる要因を探求し易く
なり、例えば、プリント回路基板５０自体の局部的な歪
によるならばプリント回路基板５０自体の品質を向上さ
せ、孔明け加工機械の特性によるならばその機械精度を
向上させる等と、その要因を排除し易くなる。このよう
な理由からも、プリント回路基板５０の不良品の発生を
未然に防止し得ることになる。
ルーホール部２０の位置ズレを検知することにより、ス
ルーホール部２０の位置ズレが生じる要因を探求し易く
なり、例えば、プリント回路基板５０自体の局部的な歪
によるならばプリント回路基板５０自体の品質を向上さ
せ、孔明け加工機械の特性によるならばその機械精度を
向上させる等と、その要因を排除し易くなる。このよう
な理由からも、プリント回路基板５０の不良品の発生を
未然に防止し得ることになる。
【００１５】
【実施例】次に、本発明に係るテストクーポンセットの
実施例を、図面に従って詳細に説明する。
実施例を、図面に従って詳細に説明する。
【００１６】図１及び図２には、内層に一層の導電パタ
ーン（図示しない）を有するプリント回路基板５０に本
発明に係るテストクーポンセットを採用した例が示して
ある。プリント回路基板５０は、内層及び表層に通常の
導電パターン（図示しない）を備え電子部品が実装され
るワークエリア５１と、このワークエリア５１の対向す
る二辺側に切除可能に形成された耳部５２とから構成さ
れており、各耳部５２には、各々個別のテストクーポン
１０が配設されている。
ーン（図示しない）を有するプリント回路基板５０に本
発明に係るテストクーポンセットを採用した例が示して
ある。プリント回路基板５０は、内層及び表層に通常の
導電パターン（図示しない）を備え電子部品が実装され
るワークエリア５１と、このワークエリア５１の対向す
る二辺側に切除可能に形成された耳部５２とから構成さ
れており、各耳部５２には、各々個別のテストクーポン
１０が配設されている。
【００１７】テストクーポン１０は、表層に、図３に示
すような基準スルーホール部２１及び各テスト用スルー
ホール部２２の穿設位置の目印となるランド１１を備え
ており、内層に、図４に示すようなテスト用導電パター
ン１２を備えている。そして、テスト用導電パターン１
２は、基準スルーホール部２１の穿設のための基準部位
１３と、テスト用スルーホール部２２の穿設のための複
数のクリアランス部位１４とを備えている。ここで、各
クリアランス部位１４は、プリント回路基板５０の外端
側から内方に向かって順次クリアランスが大きくなるよ
うにしてある。これは、一般に、絶縁基材を積層してプ
リント回路基板５０を形成するのであるが、この際に、
外端側にプリント回路基板５０自体の歪が生じ易くなる
ためであり、外端側にクリアランスの小さいクリアラン
ス部位１４を設けることにより、プリント回路基板５０
自体の歪により生じたスルーホール部２０の位置ズレを
確実に検知できるようにするためである。
すような基準スルーホール部２１及び各テスト用スルー
ホール部２２の穿設位置の目印となるランド１１を備え
ており、内層に、図４に示すようなテスト用導電パター
ン１２を備えている。そして、テスト用導電パターン１
２は、基準スルーホール部２１の穿設のための基準部位
１３と、テスト用スルーホール部２２の穿設のための複
数のクリアランス部位１４とを備えている。ここで、各
クリアランス部位１４は、プリント回路基板５０の外端
側から内方に向かって順次クリアランスが大きくなるよ
うにしてある。これは、一般に、絶縁基材を積層してプ
リント回路基板５０を形成するのであるが、この際に、
外端側にプリント回路基板５０自体の歪が生じ易くなる
ためであり、外端側にクリアランスの小さいクリアラン
ス部位１４を設けることにより、プリント回路基板５０
自体の歪により生じたスルーホール部２０の位置ズレを
確実に検知できるようにするためである。
【００１８】なお、本実施例においては、クリアランス
部位１４として、逃がし部１５を備え、この逃がし部１
５内にテスト用スルーホール部２２が穿設されれば、テ
スト用スルーホール部２２とテスト用導電パターン１２
とが絶縁される例を示したが、これに限らず、ランド部
を備え、このランド部上にテスト用スルーホール部２２
が穿設されれば、テスト用スルーホール部２２とテスト
用導電パターン１２とが導通されるものであってもよ
い。
部位１４として、逃がし部１５を備え、この逃がし部１
５内にテスト用スルーホール部２２が穿設されれば、テ
スト用スルーホール部２２とテスト用導電パターン１２
とが絶縁される例を示したが、これに限らず、ランド部
を備え、このランド部上にテスト用スルーホール部２２
が穿設されれば、テスト用スルーホール部２２とテスト
用導電パターン１２とが導通されるものであってもよ
い。
【００１９】また、内層のテスト用導電パターン１２
は、図４に示すような所謂ベタパターンに限らず、図５
に示すような基準部位１３及び各クリアランス部位１４
が膨出した形状であってもよい。この場合、絶縁基材を
積層してプリント回路基板５０を形成する際に、ベタパ
ターンのテスト用導電パターン１２に比して、テスト用
導電パターン１２の表裏の絶縁基材を互いに堅固に接合
することができ、都合がよい。
は、図４に示すような所謂ベタパターンに限らず、図５
に示すような基準部位１３及び各クリアランス部位１４
が膨出した形状であってもよい。この場合、絶縁基材を
積層してプリント回路基板５０を形成する際に、ベタパ
ターンのテスト用導電パターン１２に比して、テスト用
導電パターン１２の表裏の絶縁基材を互いに堅固に接合
することができ、都合がよい。
【００２０】さらに、本実施例においては、内層の基準
部位１３に対応する表層のランド１１に、これを示す文
字や記号等の符号１１ａを付し、各クリアランス部位に
対応する各ランド１１に、各クリアランス部位１４のク
リアランス値を示す数値１１ｂを付して、電気的チェッ
クを行った際に、その結果が目視により明確に認識でき
るようにしてある。また、位置ズレの許容範囲となるク
リアランス部位１４に対応するランド１１の数値１１ｂ
には、これを示すアンダーライン等の目印１１ｃが付し
てあり、この許容範囲を越える位置ズレが生じた場合に
は、確実に認識できるようにしてある。
部位１３に対応する表層のランド１１に、これを示す文
字や記号等の符号１１ａを付し、各クリアランス部位に
対応する各ランド１１に、各クリアランス部位１４のク
リアランス値を示す数値１１ｂを付して、電気的チェッ
クを行った際に、その結果が目視により明確に認識でき
るようにしてある。また、位置ズレの許容範囲となるク
リアランス部位１４に対応するランド１１の数値１１ｂ
には、これを示すアンダーライン等の目印１１ｃが付し
てあり、この許容範囲を越える位置ズレが生じた場合に
は、確実に認識できるようにしてある。
【００２１】ところで、電気的チェックは、スルーホー
ルメッキを施して最終的なスルーホールを形成した後
に、基準部位１３のスルーホールと各クリアランス部位
１４のスルーホールとの導通或は絶縁の有無を検査する
ことにより行ってもよく、スルーホールの一次孔を穿設
後に、基準部位１３及び各クリアランス部位１４のスル
ーホールの一次孔に導電ピン３１を挿入して導通或は絶
縁の有無を検査することにより行ってもよい。また、こ
れらに限らず、図２に示すように、ワークエリア５１に
おけるスルーホールの一次孔の穿設に先立ち、耳部５２
においてスルーホールの一次孔を穿設するようにし、こ
の際に、基準部位１３のスルーホールの一次孔に導電ピ
ン３１を挿入し、各クリアランス部位１４のスルーホー
ルの一次孔を穿設するドリル３２と前記導電ピン３１と
を導電チェック部３０に接続して、ドリル３１によりス
ルーホールの一次孔を穿設する時点において導電チェッ
ク部３０により電気的チェックを行うようにしてもよ
い。このようにすると、電気的チェックの工程を簡略化
することができる。
ルメッキを施して最終的なスルーホールを形成した後
に、基準部位１３のスルーホールと各クリアランス部位
１４のスルーホールとの導通或は絶縁の有無を検査する
ことにより行ってもよく、スルーホールの一次孔を穿設
後に、基準部位１３及び各クリアランス部位１４のスル
ーホールの一次孔に導電ピン３１を挿入して導通或は絶
縁の有無を検査することにより行ってもよい。また、こ
れらに限らず、図２に示すように、ワークエリア５１に
おけるスルーホールの一次孔の穿設に先立ち、耳部５２
においてスルーホールの一次孔を穿設するようにし、こ
の際に、基準部位１３のスルーホールの一次孔に導電ピ
ン３１を挿入し、各クリアランス部位１４のスルーホー
ルの一次孔を穿設するドリル３２と前記導電ピン３１と
を導電チェック部３０に接続して、ドリル３１によりス
ルーホールの一次孔を穿設する時点において導電チェッ
ク部３０により電気的チェックを行うようにしてもよ
い。このようにすると、電気的チェックの工程を簡略化
することができる。
【００２２】次に、図６には、本発明のテストクーポン
セットの別の実施例が示してある。これは、プリント回
路基板５０の耳部５２の複数箇所に、Ｘ方向及びＹ方向
のテストクーポン１０を配設したものであり、Ｘ方向及
びＹ方向のスルーホール部２０の位置ズレを検知するこ
とができるようにしたものである。このようなテストク
ーポンセットによれば、スルーホール部２０の位置ズレ
を正確に検知することにより、例えば孔明け加工機械を
Ｘ方向或はＹ方向に正確に補正でき、許容範囲以上の位
置ズレが発生することをより確実に防止することができ
る。
セットの別の実施例が示してある。これは、プリント回
路基板５０の耳部５２の複数箇所に、Ｘ方向及びＹ方向
のテストクーポン１０を配設したものであり、Ｘ方向及
びＹ方向のスルーホール部２０の位置ズレを検知するこ
とができるようにしたものである。このようなテストク
ーポンセットによれば、スルーホール部２０の位置ズレ
を正確に検知することにより、例えば孔明け加工機械を
Ｘ方向或はＹ方向に正確に補正でき、許容範囲以上の位
置ズレが発生することをより確実に防止することができ
る。
【００２３】最後に、図７には、テストクーポン１０の
別の例が示してある。これは、テスト用導電パターン１
２を、基準部位１３ａと各々Ｘ方向のクリアランスが異
なる複数のクリアランス部位１４ａとを備えた第一のテ
スト用導電パターン１２ａと、基準部位１３ｂと各々Ｙ
方向のクリアランスが異なる複数のクリアランス部位１
４ｂとを備え第一のテスト用導電パターン１２ａとは別
の層に設けられた第二のテスト用導電パターン１２ｂと
から構成したものである。このようなテストクーポン１
０によれば、一つのテストクーポン１０にてＸ方向及び
Ｙ方向のスルーホール部２０の位置ズレを検知すること
ができ、プリント回路基板５０の限られた面積の耳部５
２においても容易に配設することができる。
別の例が示してある。これは、テスト用導電パターン１
２を、基準部位１３ａと各々Ｘ方向のクリアランスが異
なる複数のクリアランス部位１４ａとを備えた第一のテ
スト用導電パターン１２ａと、基準部位１３ｂと各々Ｙ
方向のクリアランスが異なる複数のクリアランス部位１
４ｂとを備え第一のテスト用導電パターン１２ａとは別
の層に設けられた第二のテスト用導電パターン１２ｂと
から構成したものである。このようなテストクーポン１
０によれば、一つのテストクーポン１０にてＸ方向及び
Ｙ方向のスルーホール部２０の位置ズレを検知すること
ができ、プリント回路基板５０の限られた面積の耳部５
２においても容易に配設することができる。
【００２４】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明のテ
ストクーポンセットは、クリアランスの異なる複数のク
リアランス部位を備えたテストクーポンを、プリント回
路基板の切除可能な耳部の複数箇所に配設して構成した
ものであり、スルーホール部の位置ズレの程度を検知す
ることができるばかりか、プリント回路基板の広範囲に
おいてスルーホール部の位置ズレを検知できるようにし
たものである。
ストクーポンセットは、クリアランスの異なる複数のク
リアランス部位を備えたテストクーポンを、プリント回
路基板の切除可能な耳部の複数箇所に配設して構成した
ものであり、スルーホール部の位置ズレの程度を検知す
ることができるばかりか、プリント回路基板の広範囲に
おいてスルーホール部の位置ズレを検知できるようにし
たものである。
【００２５】従って、本発明によれば、電気的チェック
において良品と判断され得るものであってもスルーホー
ル部に位置ズレの問題がある場合にはこれを検知するこ
とができ、しかもその位置ズレの程度をも検知すること
ができるばかりか、プリント回路基板のスルーホール部
全体の信頼性を向上させることができるテストクーポン
セットを、簡単な構造によって提供することができる。
において良品と判断され得るものであってもスルーホー
ル部に位置ズレの問題がある場合にはこれを検知するこ
とができ、しかもその位置ズレの程度をも検知すること
ができるばかりか、プリント回路基板のスルーホール部
全体の信頼性を向上させることができるテストクーポン
セットを、簡単な構造によって提供することができる。
【図１】本発明に係るテストクーポンセットの一実施例
を示す平面図である。
を示す平面図である。
【図２】図１におけるＡ−Ａ拡大断面図である。
【図３】図２におけるＢーＢ矢視図である。
【図４】図２におけるＣーＣ断面図である。
【図５】テスト用導電パターンの別の例を示す部分平面
図である。
図である。
【図６】本発明に係るテストクーポンセットの別の実施
例を示す平面図である。
例を示す平面図である。
【図７】テストクーポンの別の例を示す部分平面図であ
る。
る。
【図８】従来の電気的チェックの手段を示す断面正面図
である。
である。
【図９】図８におけるＤ−Ｄ断面図である。
【図１０】従来の電気的チェックの手段を示す断面正面
図である。
図である。
【図１１】図１０におけるＥ−Ｅ断面図である。
１０ テストクーポン １１ ランド １１ａ 符号 １１ｂ 数値 １１ｃ 目印 １２ テスト用導電パターン １２ａ 第一のテスト用導電パターン １２ｂ 第一のテスト用導電パターン １３ 基準部位 １３ａ 基準部位 １３ｂ 基準部位 １４ クリアランス部位 １４ａ クリアランス部位 １４ｂ クリアランス部位 １５ 逃がし部 ２０ スルーホール部 ２１ 基準スルーホール部 ２２ テスト用スルーホール部 ３０ 導通チェック部 ３１ 導電ピン ３２ ドリル ５０ プリント回路基板 ５１ ワークエリア ５２ 耳部
Claims (1)
- 【請求項１】 プリント回路基板に設けられるスルーホ
ール部の電気的なチェックを実行するためのテストクー
ポンセットであって、 基準スルーホール部の穿設のための基準部位とテスト用
スルーホール部の穿設のための各々クリアランスの異な
る複数のクリアランス部位とをテスト用導電パターンに
備えてなるテストクーポンを、前記プリント回路基板の
切除可能な耳部の複数箇所に配設して構成したことを特
徴とするテストクーポンセット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21129393A JPH0766517A (ja) | 1993-08-26 | 1993-08-26 | テストクーポンセット |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21129393A JPH0766517A (ja) | 1993-08-26 | 1993-08-26 | テストクーポンセット |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0766517A true JPH0766517A (ja) | 1995-03-10 |
Family
ID=16603540
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21129393A Pending JPH0766517A (ja) | 1993-08-26 | 1993-08-26 | テストクーポンセット |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0766517A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008166424A (ja) * | 2006-12-27 | 2008-07-17 | Toshiba Corp | プリント配線板の検査方法、およびプリント配線板 |
| WO2017040135A1 (en) * | 2015-08-28 | 2017-03-09 | Oracle International Corporation | Layer-layer registration coupon for printed circuit boards |
| KR20200028209A (ko) * | 2018-09-06 | 2020-03-16 | 주식회사 지로이아이 | Psr 적용 쓰루홀 타입 단면 인쇄회로기판 및 그 제조방법 |
| KR20200031816A (ko) * | 2018-09-17 | 2020-03-25 | 주식회사 지로이아이 | 쓰루홀 타입 단면형 인쇄회로기판 및 그 제조방법 |
| EP3982132A1 (en) * | 2020-10-12 | 2022-04-13 | AT & S Austria Technologie & Systemtechnik Aktiengesellschaft | Coupon for testing quality of related component carriers by automated quality test apparatus |
-
1993
- 1993-08-26 JP JP21129393A patent/JPH0766517A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008166424A (ja) * | 2006-12-27 | 2008-07-17 | Toshiba Corp | プリント配線板の検査方法、およびプリント配線板 |
| WO2017040135A1 (en) * | 2015-08-28 | 2017-03-09 | Oracle International Corporation | Layer-layer registration coupon for printed circuit boards |
| US9958496B2 (en) | 2015-08-28 | 2018-05-01 | Oracle International Corporation | Layer-layer registration coupon for printed circuit boards |
| KR20200028209A (ko) * | 2018-09-06 | 2020-03-16 | 주식회사 지로이아이 | Psr 적용 쓰루홀 타입 단면 인쇄회로기판 및 그 제조방법 |
| KR20200031816A (ko) * | 2018-09-17 | 2020-03-25 | 주식회사 지로이아이 | 쓰루홀 타입 단면형 인쇄회로기판 및 그 제조방법 |
| EP3982132A1 (en) * | 2020-10-12 | 2022-04-13 | AT & S Austria Technologie & Systemtechnik Aktiengesellschaft | Coupon for testing quality of related component carriers by automated quality test apparatus |
| WO2022078891A1 (en) * | 2020-10-12 | 2022-04-21 | At&S Austria Technologie & Systemtechnik Aktiengesellschaft | Coupon for testing quality of related component carriers by automated quality test apparatus |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040202 |