JPH0426795B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0426795B2 JPH0426795B2 JP61018841A JP1884186A JPH0426795B2 JP H0426795 B2 JPH0426795 B2 JP H0426795B2 JP 61018841 A JP61018841 A JP 61018841A JP 1884186 A JP1884186 A JP 1884186A JP H0426795 B2 JPH0426795 B2 JP H0426795B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- printed circuit
- circuit board
- hole
- conductor pattern
- pattern
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 19
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 13
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 5
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000005553 drilling Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
本発明は、絶縁基板上に導体を印刷したプリン
ト基板を製造するプリント基板の製造方法に関す
るもので、特にプリント基板の加工寸法の精度の
検査工程を改良したプリント基板の製造方法に関
する。
ト基板を製造するプリント基板の製造方法に関す
るもので、特にプリント基板の加工寸法の精度の
検査工程を改良したプリント基板の製造方法に関
する。
プリント基板は、絶縁基板の加工が簡単なた
め、従来のように電子部品を乗せるだけではな
く、例えばモーターなどの一部を基板上に形成し
て用いている。
め、従来のように電子部品を乗せるだけではな
く、例えばモーターなどの一部を基板上に形成し
て用いている。
このときに問題となるのがプリント基板の加工
精度である。すなわち、プリント基板上に形成さ
れた検出素子とプリント基板に設けられた取り付
け穴の相対位置の寸法精度であるとか、プリント
基板のパターン位置とプリント基板の穴の相対位
置の精度は、パターンの形成工程とプリント基板
の機械加工工程が別々に行われるため、精度維持
が困難であつた。
精度である。すなわち、プリント基板上に形成さ
れた検出素子とプリント基板に設けられた取り付
け穴の相対位置の寸法精度であるとか、プリント
基板のパターン位置とプリント基板の穴の相対位
置の精度は、パターンの形成工程とプリント基板
の機械加工工程が別々に行われるため、精度維持
が困難であつた。
このような問題を解決する従来の手段は、例え
ば特公昭54−25226号公報に開示されているよう
に、導体パターンと同時に穴位置を示すマークを
形成し、そのマークに対して穴位置が、どのよう
にずれたかを目視によつて調べるというものがあ
つた。
ば特公昭54−25226号公報に開示されているよう
に、導体パターンと同時に穴位置を示すマークを
形成し、そのマークに対して穴位置が、どのよう
にずれたかを目視によつて調べるというものがあ
つた。
しかし、このように、基本的に目視による検査
は自動化が困難であつた。また他の欠点としては
大きな寸法の穴では穴位置がずれたのかどうかを
判別するのが困難であつた。
は自動化が困難であつた。また他の欠点としては
大きな寸法の穴では穴位置がずれたのかどうかを
判別するのが困難であつた。
本発明はかかる従来の問題点に着目してなされ
たもので、プリント基板上の導体パターンとプリ
ント基板にあけた穴の相対位置の精度を簡単に、
しかも自動的に検査できるプリント基板の製造方
法を得ることを目的とする。
たもので、プリント基板上の導体パターンとプリ
ント基板にあけた穴の相対位置の精度を簡単に、
しかも自動的に検査できるプリント基板の製造方
法を得ることを目的とする。
本発明はかかる目的を達成するため、基板に機
械的な加工を施したプリント基板を製造する方法
において、基板に施す加工穴を形成する外周の内
側に沿つて細い導体パターンを設けたプリント基
板を作成し、加工を施した後に前記加工によつて
前記プリント基板から分離された基板上の前記導
体パターンの導通を検査し、導通があつたときに
前記プリント基板を良品とし、導通がなかつたと
きにプリント基板を不良品とすることを特徴とす
る。
械的な加工を施したプリント基板を製造する方法
において、基板に施す加工穴を形成する外周の内
側に沿つて細い導体パターンを設けたプリント基
板を作成し、加工を施した後に前記加工によつて
前記プリント基板から分離された基板上の前記導
体パターンの導通を検査し、導通があつたときに
前記プリント基板を良品とし、導通がなかつたと
きにプリント基板を不良品とすることを特徴とす
る。
第１図は本発明の実施例である。図中１は絶縁
基板であり、図示しない導体パターンが形成され
ている。２は絶縁基板に設けた穴である。３は穴
２の外縁に沿つて形成した細い導体パターンであ
り、４及び５は導体パターン３の両端に設けた端
子である。この導体パターン３は図示しない他の
導体パターンと同時に形成されている。このよう
なプリント基板を製造する場合は、まず、導体パ
ターンの形成と穴加工を終つたプリント基板につ
いて端子間の導通を確認する。
基板であり、図示しない導体パターンが形成され
ている。２は絶縁基板に設けた穴である。３は穴
２の外縁に沿つて形成した細い導体パターンであ
り、４及び５は導体パターン３の両端に設けた端
子である。この導体パターン３は図示しない他の
導体パターンと同時に形成されている。このよう
なプリント基板を製造する場合は、まず、導体パ
ターンの形成と穴加工を終つたプリント基板につ
いて端子間の導通を確認する。
もし、導通が無ければ、第１図に示した符号６
のように導体パターン３に対して穴２の位置がず
れており、そのために導体パターン３が切断され
たものである。この場合は、不良品と判断する。
のように導体パターン３に対して穴２の位置がず
れており、そのために導体パターン３が切断され
たものである。この場合は、不良品と判断する。
また導通があれば、良品と判断する。
第２図は本発明の他の実施例である。絶縁基板
１には穴２が加工され、符号７の部分は捨てられ
る部分である。穴２の位置を検査するパターン３
は穴２の内側に設けてある点が第１図で示した実
施例と異なる。
１には穴２が加工され、符号７の部分は捨てられ
る部分である。穴２の位置を検査するパターン３
は穴２の内側に設けてある点が第１図で示した実
施例と異なる。
さらに他の実施例としては、同じく第２図にお
いて示すように絶縁基板１の外周に導体パターン
８を設けるものが考えられる。
いて示すように絶縁基板１の外周に導体パターン
８を設けるものが考えられる。
第１図に示した実施例は、絶縁基板１に導体パ
ターンを形成した後に穴２の加工を行つてもよ
く、また穴２の加工が終つてから導体パターンの
形成を行つてもよい。
ターンを形成した後に穴２の加工を行つてもよ
く、また穴２の加工が終つてから導体パターンの
形成を行つてもよい。
第２図に示した絶縁基板１の穴２の内側にパタ
ーン３を形成するには、穴２の加工を行う前に導
体パターンの形成を行なわなければならないが、
検査が終わつた後に基板１側に導体パターン３が
残らない利点がある。
ーン３を形成するには、穴２の加工を行う前に導
体パターンの形成を行なわなければならないが、
検査が終わつた後に基板１側に導体パターン３が
残らない利点がある。
また第２図に示した基板１の外周にパターン８
を形成することにより、基板の外周に対する基板
１に形成された図示しないパターンの相対位置の
検査を容易に行える。さらにいずれの実施例であ
つても、検査用のパターンと回路用パターンを兼
用するようにしても良い。
を形成することにより、基板の外周に対する基板
１に形成された図示しないパターンの相対位置の
検査を容易に行える。さらにいずれの実施例であ
つても、検査用のパターンと回路用パターンを兼
用するようにしても良い。
以上、本発明を実施する事により簡単に精度の
よいプリント基板を製造する事ができる効果が得
られる。
よいプリント基板を製造する事ができる効果が得
られる。
また、プリント基板を加工することによつて製
品となるプリント基板と加工くずとに分離され、
加工くず側に検査用の導体パターンが設けられて
いるため、製品となるプリント基板側には検査用
の導体パターンが残らない。
品となるプリント基板と加工くずとに分離され、
加工くず側に検査用の導体パターンが設けられて
いるため、製品となるプリント基板側には検査用
の導体パターンが残らない。
第１図は本発明の一実施例を示すプリント基板
の平面図、第２図は本発明の他の実施例を示すプ
リント基板の平面図である。 １……基板、３，８……導体パターン。
の平面図、第２図は本発明の他の実施例を示すプ
リント基板の平面図である。 １……基板、３，８……導体パターン。
Claims (1)
- １ 基板に機械的な加工を施したプリント基板を
製造する方法において、基板に施す加工穴を形成
する外周の内側に沿つて細い導体パターンを設け
たプリント基板を作成し、加工を施した後に前記
加工によつて前記プリント基板から分離された基
板上の前記導体パターンの導通を検査し、導通が
あつたときに前記プリント基板を良品とし、導通
がなかつたときにプリント基板を不良品とするこ
とを特徴とするプリント基板の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61018841A JPS62176186A (ja) | 1986-01-29 | 1986-01-29 | プリント基板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61018841A JPS62176186A (ja) | 1986-01-29 | 1986-01-29 | プリント基板の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62176186A JPS62176186A (ja) | 1987-08-01 |
| JPH0426795B2 true JPH0426795B2 (ja) | 1992-05-08 |
Family
ID=11982784
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61018841A Granted JPS62176186A (ja) | 1986-01-29 | 1986-01-29 | プリント基板の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62176186A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5118638A (en) * | 1988-03-18 | 1992-06-02 | Fuji Electric Co., Ltd. | Method for manufacturing MOS type semiconductor devices |
-
1986
- 1986-01-29 JP JP61018841A patent/JPS62176186A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62176186A (ja) | 1987-08-01 |
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