JPH0767444B2 - 放射線受像装置 - Google Patents
放射線受像装置Info
- Publication number
- JPH0767444B2 JPH0767444B2 JP62014503A JP1450387A JPH0767444B2 JP H0767444 B2 JPH0767444 B2 JP H0767444B2 JP 62014503 A JP62014503 A JP 62014503A JP 1450387 A JP1450387 A JP 1450387A JP H0767444 B2 JPH0767444 B2 JP H0767444B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- radiation
- sensor array
- frequency
- image
- high voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は放射線受像装置に関するものである。
従来の技術 センサアレイを高速で走査し、二次元画像を得る装置に
おいて、被検体に照射される放射線の均一性が、画像を
決定する重要な因子となる。従来、照射放射線の均一性
を補正する方法としては、照射放射線量をモニタ検出器
で測定し、モニタ検出器の出力信号、例えば電流値など
の相対変化率を使って補正していく方法が行なわれてい
る。
おいて、被検体に照射される放射線の均一性が、画像を
決定する重要な因子となる。従来、照射放射線の均一性
を補正する方法としては、照射放射線量をモニタ検出器
で測定し、モニタ検出器の出力信号、例えば電流値など
の相対変化率を使って補正していく方法が行なわれてい
る。
発明が解決しようとする問題点 高精度な放射線透過画像を得ようとする場合、従来のよ
うに照射放射線量のみの補正では、照射放射線エネルギ
の補正が出来ないため、管電圧のリップルに起因する誤
差が画像を悪化させる。
うに照射放射線量のみの補正では、照射放射線エネルギ
の補正が出来ないため、管電圧のリップルに起因する誤
差が画像を悪化させる。
本発明は、この問題を解決するため各走査における照射
放射線のエネルギの分布を均一ならしめる方法を与える
ことを目的とするものである。
放射線のエネルギの分布を均一ならしめる方法を与える
ことを目的とするものである。
問題点を解決するための手段 この目的を達成するため本発明は放射線を発生する電源
の周波数がセンサアレイを走査する周波数の整数倍にな
るようにするものである。
の周波数がセンサアレイを走査する周波数の整数倍にな
るようにするものである。
作用 被検体を透過する放射線には、電源の昇圧周波数に起因
した電圧リップルが存在している。放射線発生装置によ
り発生される放射線の量とエネルギは、この電圧リップ
ルにより大きく変化する。このため、リップル１周期で
の多数回のサンプリング走査を行なうと、各サンプリン
グ走査における放射線の変化はきわめて大きくなる。一
方電圧リップルは各々の放射線発生装置でほぼ一定の形
状の繰返し波形となるため、電源の周波数をセンサアレ
イの走査の周波数と同一にするか、あるいは整数倍にす
ることにより各走査において、きわめて安定し、かつ均
一な照射を行なうことが出来る。
した電圧リップルが存在している。放射線発生装置によ
り発生される放射線の量とエネルギは、この電圧リップ
ルにより大きく変化する。このため、リップル１周期で
の多数回のサンプリング走査を行なうと、各サンプリン
グ走査における放射線の変化はきわめて大きくなる。一
方電圧リップルは各々の放射線発生装置でほぼ一定の形
状の繰返し波形となるため、電源の周波数をセンサアレ
イの走査の周波数と同一にするか、あるいは整数倍にす
ることにより各走査において、きわめて安定し、かつ均
一な照射を行なうことが出来る。
実施例 本発明の一実施例を図に示す。Ｘ線管１から出射される
放射線はスリット２で扇状のビームに絞られ、被検体３
に照射される。被検体３を透過した放射線は、センサア
レイ４で検知され、各画素の信号が画像処理装置９に送
られる。一回のサンプリング走査が完了するとセンサア
レイ４は被検体３に対して相対的に移動し、次の測定を
行なう。この動作を繰返して、二次元画像情報を得て、
画像処理装置９にて、断層像や透過像を得る。Ｘ線管１
は、高電圧が供給されることにより、印加電圧に対応し
たＸ線を発生する。Ｘ線１に供給される高電圧は、商用
電源11（単相でも三相でも良い）を整流回路７で整流
し、次にDDコンバータ６で電圧制御を行なう。そして、
スイッチング方式高電圧発生回路５で昇圧を行ないＸ線
管１に高電圧を供給する。スイッチング方式高電圧発生
回路５のスイッチング信号10はタイミング発生器８より
供給され、画像信号の走査のタイミングと同期されてい
る。スイッチング方式高電圧発生回路５へは、画像信号
の走査の周波数の整数倍の周波数を入力出来るようにな
っている。
放射線はスリット２で扇状のビームに絞られ、被検体３
に照射される。被検体３を透過した放射線は、センサア
レイ４で検知され、各画素の信号が画像処理装置９に送
られる。一回のサンプリング走査が完了するとセンサア
レイ４は被検体３に対して相対的に移動し、次の測定を
行なう。この動作を繰返して、二次元画像情報を得て、
画像処理装置９にて、断層像や透過像を得る。Ｘ線管１
は、高電圧が供給されることにより、印加電圧に対応し
たＸ線を発生する。Ｘ線１に供給される高電圧は、商用
電源11（単相でも三相でも良い）を整流回路７で整流
し、次にDDコンバータ６で電圧制御を行なう。そして、
スイッチング方式高電圧発生回路５で昇圧を行ないＸ線
管１に高電圧を供給する。スイッチング方式高電圧発生
回路５のスイッチング信号10はタイミング発生器８より
供給され、画像信号の走査のタイミングと同期されてい
る。スイッチング方式高電圧発生回路５へは、画像信号
の走査の周波数の整数倍の周波数を入力出来るようにな
っている。
本実施例ではタイミング発生器８により、高電圧発生回
路５と画像処理装置９に信号を送るように設計されてい
るが、画像処理装置９から、直接高電圧発生回路５に信
号を送ることも可能である。また、センサアレイ４の駆
動位置との同期なども本発明に含まれる。
路５と画像処理装置９に信号を送るように設計されてい
るが、画像処理装置９から、直接高電圧発生回路５に信
号を送ることも可能である。また、センサアレイ４の駆
動位置との同期なども本発明に含まれる。
さらに、本実施例では、高電圧発生回路５にスイッチン
グ信号を送ることとしたが、逆に高電圧電源のリップル
を検知する回路を付加し、これよりの信号により、セン
サアレイの走査を制御することも可能である。
グ信号を送ることとしたが、逆に高電圧電源のリップル
を検知する回路を付加し、これよりの信号により、セン
サアレイの走査を制御することも可能である。
また、本実施例ではＸ線管についてであったが、放射線
発生器としては、ベータトロンやリニアックなど、パル
ス状や脈動しつつ放射線を発生する放射線を発生する放
射線発生器を使った装置への適用も可能である。
発生器としては、ベータトロンやリニアックなど、パル
ス状や脈動しつつ放射線を発生する放射線を発生する放
射線発生器を使った装置への適用も可能である。
本発明は、商用周波数では得にくい500Hz以上の高速走
査において、特に効果が大きくなる。
査において、特に効果が大きくなる。
発明の効果 本発明により、非常に簡単な構造でセンサアレイの各走
査における照射放射線の線量とエネルギ分布の均一化が
図られるため、特にエネルギ・サブトラクション画像な
どの放射線のエネルギ情報を使う高度な放射線受像法に
おいても安価な装置で高精度に実現出来るため、放射線
画像技術の貢献に寄与することが大きい。
査における照射放射線の線量とエネルギ分布の均一化が
図られるため、特にエネルギ・サブトラクション画像な
どの放射線のエネルギ情報を使う高度な放射線受像法に
おいても安価な装置で高精度に実現出来るため、放射線
画像技術の貢献に寄与することが大きい。
図は本発明の一実施例における放射線受像装置の構成図
である。 １……Ｘ線管、２……スリット、３……被検体、４……
センサアレイ、５……スイッチング方式高電圧発生回
路、６……DDコンバータ、７……整流回路、８……タイ
ミング発生器、９……画像処理装置。
である。 １……Ｘ線管、２……スリット、３……被検体、４……
センサアレイ、５……スイッチング方式高電圧発生回
路、６……DDコンバータ、７……整流回路、８……タイ
ミング発生器、９……画像処理装置。
Claims (2)
- 【請求項１】被検体を透過した放射線を線状または面状
配置されたセンサアレイで検知し、前記センサアレイを
被検体に対して相対的に走査して、二次元画像を得る放
射線受像装置であって、放射線を発生する電源の周波数
が前記センサアレイを走査する周波数の整数倍であるこ
とを特徴とする放射線受像装置。 - 【請求項２】放射線を発生する電源の周波数が500Hz以
上であることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の
放射線受像装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62014503A JPH0767444B2 (ja) | 1987-01-23 | 1987-01-23 | 放射線受像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62014503A JPH0767444B2 (ja) | 1987-01-23 | 1987-01-23 | 放射線受像装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63181739A JPS63181739A (ja) | 1988-07-26 |
| JPH0767444B2 true JPH0767444B2 (ja) | 1995-07-26 |
Family
ID=11862863
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62014503A Expired - Lifetime JPH0767444B2 (ja) | 1987-01-23 | 1987-01-23 | 放射線受像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0767444B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101382507A (zh) * | 2007-09-05 | 2009-03-11 | 同方威视技术股份有限公司 | 一种检查航空货运集装箱中违禁物品的装置 |
| CN101382508A (zh) * | 2007-09-05 | 2009-03-11 | 同方威视技术股份有限公司 | 一种检查航空货运集装箱中违禁物品的装置和方法 |
-
1987
- 1987-01-23 JP JP62014503A patent/JPH0767444B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63181739A (ja) | 1988-07-26 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |