JPH0769310B2 - 検査装置 - Google Patents

検査装置

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Publication number
JPH0769310B2
JPH0769310B2 JP1079667A JP7966789A JPH0769310B2 JP H0769310 B2 JPH0769310 B2 JP H0769310B2 JP 1079667 A JP1079667 A JP 1079667A JP 7966789 A JP7966789 A JP 7966789A JP H0769310 B2 JPH0769310 B2 JP H0769310B2
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JP
Japan
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round bar
holder
outer diameter
pins
ultrasonic probe
Prior art date
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Application number
JP1079667A
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English (en)
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JPH02257058A (ja
Inventor
浩四 手塚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Expired - Lifetime legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/04Wave modes and trajectories
    • G01N2291/044Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は,管状あるいは丸棒状の被検材の周上から超
音波探触子により探傷を行なう検査装置に関するもので
ある。
〔従来の技術〕
以下,被検材が丸棒の場合について説明する。第5図,
第6図は従来の探傷装置に示す図であり,それぞれ丸棒
(1)の軸方向とは直角な面での断面図である。
図において(2)は超音波探触子,(3)は上記超音波
探触子(2)を挿入するホルダ,(4)は上記ホルダ
(3)に取り付けられ,丸棒(1)に当接するシユー,
(5)は上記シユー(4)を固定するボルト,(6)は
ホルダ(3)とシユー(4)と丸棒(1)とによつて囲
まれている超音波媒質,(7)は超音波媒質(6)を送
り込む導入口である。
従来の検査装置は上記のように構成され,丸棒(1)に
振動や芯ずれなどが生じても,超音波探触子(2)と丸
棒(1)とのギヤツプLが一定に保たれ、健全な超音波
媒質(6)を保持するようシユー(4)は丸棒(1)に
ある力で押し付けられている。
このような状態で超音波探触子(2)は,導入口(7)
から導かれた超音波媒質(6)を介して丸棒(1)に伝
播し,これにより探傷検査する。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記のような従来の装置では,丸棒の外径が変わつても
ギヤツプLを同一にし、丸棒(1)と超音波探触子
(2)の間に健全な超音波媒質(6)を保持するために
は,丸棒(1)の外径に合つたシユー(4)を使用する
必要があり,このため,丸棒(1)の外径の種類だけシ
ユー(4)を用意する必要があつた。また,丸棒(1)
の外径寸法は,呼称基準外径(図中一点鎖線で示す)に
対し規定公差内で増減するので,たとえ丸棒(1)の外
径に対応したシユー(4)を使用したとしても,図6
(a)のように外径がマイナス公差の場合はシユー
(4)の当たりが一点接触となるので不安定状態とな
り,図6(b)のように外径がプラス公差の場合はギヤ
ツプLが増して探傷に支障をきたすという課題があつ
た。この発明は,かかる課題を解決するためになされた
もので,丸棒(1)のいかなる外径変動にも対応できる
検査装置を得ることを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
この発明に係る検査装置は,ホルダの前後に上下に自由
に動ける複数個のピンを一列に並べてシユーを形成し,
ピンを固定するプレートと,超音波媒質を保持する とを設けたものである。
〔作用〕
この発明における検査装置は,実際に探傷検査する丸棒
の外径形状を複数個のピンにて容易に形成することがで
きる。
〔実施例〕
第1図〜第4図はこの発明の一実施例を示す図であり,
第1図は丸棒(1)の軸方向とは直角な方向から見た
図,第2図は丸棒(1)の軸方向とは平行な面での断面
図,第3図はAから見た図,第4図は第1図と同じ方向
からの断面図である。
図において,(1)〜(3)(6)(7)は上記従来の
装置と同一または,相当部分を示すものである。(8)
は下端面が球形状をし,ホルダ(3)に固定されたガイ
ドピン,(9)は下端面が球形状をした複数個のピン,
(10)はピン(9)を固定するプレート,(11)はプレ
ート(10)を取り付けるボルト,(12)はプレート(1
0)を丸棒(1)に当接させるためのバネ,(13)はバ
ネ(12)をガイドするシヤフト,(14)は丸棒(1)に
当接し超音波媒質(6)を保持するための弾性体で作ら
れた である。
上記のように構成された検査装置においては,ガイドピ
ン(8)が丸棒(1)の表面に当たるまでホルダ(3)
をB方向へ押し付けることにより,所定のギヤツプLが
得られ,ボルト(11)を緩めた状態においては,ホルダ
(3)の前後に複数個一列に並べられたピン(9)は,
上下方向に単独で自由に動ける構造となつている。ま
た,プレート(10)はホルダ(3)にガイドされ上下方
向に動ける構造になつており,下側が逆V型になつてい
るので,丸棒(1)に当接することによりホルダ(3)
のC方向の傾き姿勢を制御するようになつている。
従つて,ボルト(11)を緩め,ガイドピン(8)が丸棒
(1)に当たるまでホルダ(3)をB方向へ押し付ける
ことにより,複数個のピン(9)は各々丸棒(1)の外
径形状に倣つて円弧形状を形成し,ボルト(11)を締め
ることによりその形状を保持することができる。よつて
これらのピン(9)と弾性体でできた により,安定した超音波媒質(6)を保持することがで
きる。
〔発明の効果〕
以上のように,この発明によれば上下に自由に動ける複
数個のピンと,ホルダの姿勢を制御し,ピンを固定する
プレートとで構成したので,管状又は丸棒状の被検材の
いかなる種類の外径にも対応することができる効果があ
る。また,従来の装置のように管状又は丸棒状の被検材
の外径の種類だけシユーを製作する必要もないので,装
置が安価にできるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第4図はこの発明の一実施例を示す図,第5
図,第6図は従来の検査装置を示す図である。 図において,(2)は超音波探触子,(3)はホルダ,
(9)はピン,(10)はプレート,(12)はバネ,(1
4)は である。 なお,各図中同一符号は同一又は相当部分を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】管状あるいは丸棒状の被検材の周上に配置
    された超音波探触子と,上記超音波探触子を挿入してい
    るホルダと,上記ホルダの前後に取り付けられた複数個
    のピンと,上記ピンを押えホルダの姿勢を制御するプレ
    ートと、上記プレートを被検材に当接させるバネと,上
    記ホルダの両側に取り付けられた とを備えたことを特徴とする検査装置。
JP1079667A 1989-03-30 1989-03-30 検査装置 Expired - Lifetime JPH0769310B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1079667A JPH0769310B2 (ja) 1989-03-30 1989-03-30 検査装置

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JP1079667A JPH0769310B2 (ja) 1989-03-30 1989-03-30 検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH02257058A JPH02257058A (ja) 1990-10-17
JPH0769310B2 true JPH0769310B2 (ja) 1995-07-26

Family

ID=13696526

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JP1079667A Expired - Lifetime JPH0769310B2 (ja) 1989-03-30 1989-03-30 検査装置

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