JPH0772122A - 磁性材料内部欠陥の漏洩磁束探傷方法及びその装置 - Google Patents
磁性材料内部欠陥の漏洩磁束探傷方法及びその装置Info
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- JPH0772122A JPH0772122A JP22122493A JP22122493A JPH0772122A JP H0772122 A JPH0772122 A JP H0772122A JP 22122493 A JP22122493 A JP 22122493A JP 22122493 A JP22122493 A JP 22122493A JP H0772122 A JPH0772122 A JP H0772122A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 磁化器と被検体の接触状態及び磁化器から漏
洩する磁束の影響を受けず、近接する複数内部欠陥を精
度良く評価できる磁性材料の漏洩磁束探傷方法及び装置
を提供する。 【構成】 被検体を磁化し、被検体の内部欠陥部から表
面に漏洩する磁束を磁場検出器により検出し、その磁場
検出器の出力信号を、被検体が受ける磁化力で補償した
後に分岐し、一方を微分処理して急峻な波形とし、他方
を積分処理して低周波数のノイズ成分を除き、それから
微分処理した信号と積分した信号を合成し、その合成信
号の波形から欠陥探傷の評価を行う。
洩する磁束の影響を受けず、近接する複数内部欠陥を精
度良く評価できる磁性材料の漏洩磁束探傷方法及び装置
を提供する。 【構成】 被検体を磁化し、被検体の内部欠陥部から表
面に漏洩する磁束を磁場検出器により検出し、その磁場
検出器の出力信号を、被検体が受ける磁化力で補償した
後に分岐し、一方を微分処理して急峻な波形とし、他方
を積分処理して低周波数のノイズ成分を除き、それから
微分処理した信号と積分した信号を合成し、その合成信
号の波形から欠陥探傷の評価を行う。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、磁性材料内部欠陥の漏
洩磁束探傷方法及びその装置に関するものである。
洩磁束探傷方法及びその装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来から、磁性材料内部欠陥の探傷方法
として種々の非破壊検査法が実用化されており、存在が
予想される欠陥の種類に応じて適切な探傷方法が採用さ
れている。例えば割れなどの面状欠陥の検出には超音波
探傷法を適用すると欠陥位置を容易に察知でき、被検体
面に奥行きをもつ欠陥の検出には放射線透過法を適用す
ると、欠陥形状が容易に察知できる。しかし、前者の超
音波探傷法では欠陥形状の定量評価は困難であり、後者
の放射線透過法では欠陥位置の把握は困難という短所も
併せもっている。また、漏洩磁束探傷法は磁性材料の表
面あるいは皮下欠陥については検出性が優れているが、
内部欠陥に対しては検出性が劣るという欠点をもってい
る。ところでこの磁性材料内部欠陥の漏洩磁束接傷方法
及びその装置についてとりあげ、その従来技術を述べる
と以下に示す通りである。
として種々の非破壊検査法が実用化されており、存在が
予想される欠陥の種類に応じて適切な探傷方法が採用さ
れている。例えば割れなどの面状欠陥の検出には超音波
探傷法を適用すると欠陥位置を容易に察知でき、被検体
面に奥行きをもつ欠陥の検出には放射線透過法を適用す
ると、欠陥形状が容易に察知できる。しかし、前者の超
音波探傷法では欠陥形状の定量評価は困難であり、後者
の放射線透過法では欠陥位置の把握は困難という短所も
併せもっている。また、漏洩磁束探傷法は磁性材料の表
面あるいは皮下欠陥については検出性が優れているが、
内部欠陥に対しては検出性が劣るという欠点をもってい
る。ところでこの磁性材料内部欠陥の漏洩磁束接傷方法
及びその装置についてとりあげ、その従来技術を述べる
と以下に示す通りである。
【０００３】従来技術は、図８に示されるように磁路を
形成する磁化器１のコイル２に定電圧及び定電流を印加
して一定磁場を発生させ、磁化器１の磁路の両端に当接
する磁性材料３を磁化している。そして磁性材料１の内
部欠陥によって表面に現われる内部欠陥漏洩磁束４と磁
化器１から漏洩する磁化器漏洩磁束５とを、磁性材料３
の表面に配置する磁場検出器６で検出し、出力する電気
信号を増幅装置１１で増幅処理し、更にフィルタ１２に
よってノイズ成分を除去した後、この電気信号を表示装
置１３及び記録装置１４に出力し、これによって内部欠
陥７の評価を行っている。
形成する磁化器１のコイル２に定電圧及び定電流を印加
して一定磁場を発生させ、磁化器１の磁路の両端に当接
する磁性材料３を磁化している。そして磁性材料１の内
部欠陥によって表面に現われる内部欠陥漏洩磁束４と磁
化器１から漏洩する磁化器漏洩磁束５とを、磁性材料３
の表面に配置する磁場検出器６で検出し、出力する電気
信号を増幅装置１１で増幅処理し、更にフィルタ１２に
よってノイズ成分を除去した後、この電気信号を表示装
置１３及び記録装置１４に出力し、これによって内部欠
陥７の評価を行っている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記した従来技術によ
る磁性材料３の内部欠陥７の評価は、内部欠陥漏洩磁束
４と磁化器漏洩磁束５の密度に比例して出力される磁場
検出器６からの電気信号レベルを基に行っている。とこ
ろが、この内部欠陥漏洩磁束４の密度は、表面欠陥また
は皮下欠陥から漏洩する磁束密度と比較すると非常に小
さいため、増幅処理しても磁性材料３の磁化力の変化の
影響を大きく受ける。そしてこの磁性材料３が受ける磁
化力は、たとえ一定磁場を発生させた磁化器１により磁
化させても、磁化器１と磁性材料３の接触状態によって
変化する。このようなことから磁場検出器６から出力さ
れる電気信号レベルは、磁化器１と磁性材料３の接触状
態の影響を大きく受け精度の高い内部欠陥の評価ができ
ない。
る磁性材料３の内部欠陥７の評価は、内部欠陥漏洩磁束
４と磁化器漏洩磁束５の密度に比例して出力される磁場
検出器６からの電気信号レベルを基に行っている。とこ
ろが、この内部欠陥漏洩磁束４の密度は、表面欠陥また
は皮下欠陥から漏洩する磁束密度と比較すると非常に小
さいため、増幅処理しても磁性材料３の磁化力の変化の
影響を大きく受ける。そしてこの磁性材料３が受ける磁
化力は、たとえ一定磁場を発生させた磁化器１により磁
化させても、磁化器１と磁性材料３の接触状態によって
変化する。このようなことから磁場検出器６から出力さ
れる電気信号レベルは、磁化器１と磁性材料３の接触状
態の影響を大きく受け精度の高い内部欠陥の評価ができ
ない。
【０００５】更に、磁場検出器６は磁化器漏洩磁束５も
検出し、この成分は内部欠陥漏洩磁束４の成分とほぼ同
等であることからフィルタで除去され難く、ノイズ信号
として表示装置１３及び記録装置１４に出力されるので
内部欠陥評価を行う上で障害となっていた。
検出し、この成分は内部欠陥漏洩磁束４の成分とほぼ同
等であることからフィルタで除去され難く、ノイズ信号
として表示装置１３及び記録装置１４に出力されるので
内部欠陥評価を行う上で障害となっていた。
【０００６】次に、前記の漏洩磁束探傷方法により、近
接した複数の内部欠陥が有する磁性材料を検査する場合
を図９〜図１２を用いて説明する。内部欠陥７から磁性
材料３の表面に漏洩する磁束４は、図９に示す如く単独
欠陥の場合でも欠陥巾よりかなり巾広く分布するため、
表示装置及び記録装置に出力される信号は図１０に示す
ようにゆっくり出力変化している状況を示す巾広い波形
になる。そして図１１に示す如く近接した複数の内部欠
陥では、夫々の欠陥から漏洩する磁束は干渉し合い、更
に巾広く分布するため、表示装置及び記録装置に出力さ
れる信号は、図１２に示すように各々の内部欠陥に対応
した分離波形が得られず、夫々欠陥についての評価を精
度良く行うことは困難であった。
接した複数の内部欠陥が有する磁性材料を検査する場合
を図９〜図１２を用いて説明する。内部欠陥７から磁性
材料３の表面に漏洩する磁束４は、図９に示す如く単独
欠陥の場合でも欠陥巾よりかなり巾広く分布するため、
表示装置及び記録装置に出力される信号は図１０に示す
ようにゆっくり出力変化している状況を示す巾広い波形
になる。そして図１１に示す如く近接した複数の内部欠
陥では、夫々の欠陥から漏洩する磁束は干渉し合い、更
に巾広く分布するため、表示装置及び記録装置に出力さ
れる信号は、図１２に示すように各々の内部欠陥に対応
した分離波形が得られず、夫々欠陥についての評価を精
度良く行うことは困難であった。
【０００７】このため新たな磁性材料内部欠陥の漏洩磁
束探傷方法及びその装置の開発が要望されている。
束探傷方法及びその装置の開発が要望されている。
【０００８】本発明は、かかる事情に鑑みなされたもの
であり、磁化器と被検体の接触状態及び磁化器から漏洩
する磁束の影響を受けることなく、しかも近接する複数
の内部欠陥の評価まで精度良く行うことができる磁性材
料の漏洩磁束探傷方法及びその装置を提供することにあ
る。
であり、磁化器と被検体の接触状態及び磁化器から漏洩
する磁束の影響を受けることなく、しかも近接する複数
の内部欠陥の評価まで精度良く行うことができる磁性材
料の漏洩磁束探傷方法及びその装置を提供することにあ
る。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記した目的を達成する
ために、本発明の磁性材料内部欠陥の漏洩磁束探傷方法
は、磁性材料からなる被検体を磁化し、被検体の内部欠
陥部から表面に漏洩する磁束を磁場検出器により検出
し、その出力信号を、被検体が受ける磁化力で補償した
後、この補償された信号を分岐して、一方を微分処理
し、他方を積分処理して、その微分処理された信号と積
分処理された信号を合成し、その合成出力の波形から欠
陥探傷の評価を行うようにしたものである。
ために、本発明の磁性材料内部欠陥の漏洩磁束探傷方法
は、磁性材料からなる被検体を磁化し、被検体の内部欠
陥部から表面に漏洩する磁束を磁場検出器により検出
し、その出力信号を、被検体が受ける磁化力で補償した
後、この補償された信号を分岐して、一方を微分処理
し、他方を積分処理して、その微分処理された信号と積
分処理された信号を合成し、その合成出力の波形から欠
陥探傷の評価を行うようにしたものである。
【００１０】また、本発明の磁性材料内部欠陥の漏洩磁
束探傷装置は、被検体を磁化させる磁化器を内蔵し、そ
の磁化器から漏洩する磁束を遮蔽する手段を有する磁化
装置と、被検体の内部欠陥部から表面に漏洩する磁束を
検出する磁場検出器と、被検体が受ける磁化力を検出す
る磁化力検出器と、磁場検出器の信号を磁化力検出器の
信号で補償する信号補償装置と、この信号補償装置から
の信号を増幅処理し、その増幅された信号を分岐して、
一方を微分処理し、他方を積分処理し、それから微分処
理された信号と積分処理された信号を合成して出力する
信号処理装置と、信号処理装置からの出力を探傷結果と
して表示する表示手段と、を具備したことを特徴とする
ものである。
束探傷装置は、被検体を磁化させる磁化器を内蔵し、そ
の磁化器から漏洩する磁束を遮蔽する手段を有する磁化
装置と、被検体の内部欠陥部から表面に漏洩する磁束を
検出する磁場検出器と、被検体が受ける磁化力を検出す
る磁化力検出器と、磁場検出器の信号を磁化力検出器の
信号で補償する信号補償装置と、この信号補償装置から
の信号を増幅処理し、その増幅された信号を分岐して、
一方を微分処理し、他方を積分処理し、それから微分処
理された信号と積分処理された信号を合成して出力する
信号処理装置と、信号処理装置からの出力を探傷結果と
して表示する表示手段と、を具備したことを特徴とする
ものである。
【００１１】
【作用】本発明の漏洩磁束探傷方法においては、磁場検
出器の信号を磁化力検出器の信号で補償しているので、
欠陥評価の基になる磁場検出器の信号は、磁性材料と磁
化器の接触状態により変化する磁性材料が受けている磁
化力の影響を受けることがなく、また、信号補償装置に
より処理された信号は、微分処理されて急峻な出力波形
となり、また積分処理されて低い周波数（ドリフト）成
分を除去するで、近接した複数の内部欠陥から漏洩する
巾広く分布した磁束を検出した場合でも夫々欠陥に対応
して信号を分離できるので、表示手段に表示される波形
から夫々欠陥の評価を容易に行うことができる。
出器の信号を磁化力検出器の信号で補償しているので、
欠陥評価の基になる磁場検出器の信号は、磁性材料と磁
化器の接触状態により変化する磁性材料が受けている磁
化力の影響を受けることがなく、また、信号補償装置に
より処理された信号は、微分処理されて急峻な出力波形
となり、また積分処理されて低い周波数（ドリフト）成
分を除去するで、近接した複数の内部欠陥から漏洩する
巾広く分布した磁束を検出した場合でも夫々欠陥に対応
して信号を分離できるので、表示手段に表示される波形
から夫々欠陥の評価を容易に行うことができる。
【００１２】本発明の漏洩磁束探傷装置においては、磁
化装置に具備した磁界遮蔽器により磁化器から漏洩する
磁束を遮蔽しているので、磁場検出器は内部欠陥漏洩磁
束のみを検出し、またこの信号を磁化力検出器の信号で
補償する信号補償装置で処理し、更には信号処理装置は
信号補償装置の出力信号を増幅処理し、その後分岐し
て、一方の分岐信号を微分処理して急峻な出力波形を成
形し、他方の分岐信号が積分処理して低周波数成分を取
り除き、微分処理し波形と積分しと波形とを合成し出力
するので、表示手段に出力される信号にノイズがでるこ
とがなく、表示手段に表示される波形は、近接した内部
欠陥が近接していてもそれらに対応して分離されたもの
となり、内部欠陥を容易に評価できる。
化装置に具備した磁界遮蔽器により磁化器から漏洩する
磁束を遮蔽しているので、磁場検出器は内部欠陥漏洩磁
束のみを検出し、またこの信号を磁化力検出器の信号で
補償する信号補償装置で処理し、更には信号処理装置は
信号補償装置の出力信号を増幅処理し、その後分岐し
て、一方の分岐信号を微分処理して急峻な出力波形を成
形し、他方の分岐信号が積分処理して低周波数成分を取
り除き、微分処理し波形と積分しと波形とを合成し出力
するので、表示手段に出力される信号にノイズがでるこ
とがなく、表示手段に表示される波形は、近接した内部
欠陥が近接していてもそれらに対応して分離されたもの
となり、内部欠陥を容易に評価できる。
【００１３】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説
明する。図１は本発明の磁性材料内部欠陥の漏洩磁束探
傷方法を具現化する制御回路のブロック図である。この
制御回路は、磁性材料からなる被検体を磁化することに
よって被検体内部欠陥部から表面に漏洩する磁束を検出
する磁場検出器６と、被検体が受けている磁化力を検出
する磁化力検出器８と、磁場検出器６の信号を磁化力検
出器８の信号で補償する信号補償装置１５と、この信号
補償装置１５からの出力信号を増幅処理する増幅器１
７、微分処理する微分器１８及び積分処理する積分器１
９から成る信号処理装置１６と、この信号処理装置１６
の出力を探傷結果として表示する表示手段としての表示
装置１３、記録装置１４によって構成されている。
明する。図１は本発明の磁性材料内部欠陥の漏洩磁束探
傷方法を具現化する制御回路のブロック図である。この
制御回路は、磁性材料からなる被検体を磁化することに
よって被検体内部欠陥部から表面に漏洩する磁束を検出
する磁場検出器６と、被検体が受けている磁化力を検出
する磁化力検出器８と、磁場検出器６の信号を磁化力検
出器８の信号で補償する信号補償装置１５と、この信号
補償装置１５からの出力信号を増幅処理する増幅器１
７、微分処理する微分器１８及び積分処理する積分器１
９から成る信号処理装置１６と、この信号処理装置１６
の出力を探傷結果として表示する表示手段としての表示
装置１３、記録装置１４によって構成されている。
【００１４】次に上記のように構成される制御回路を、
さらに図２に示す信号処理回路図により詳しく説明す
る。内部欠陥漏洩磁束密度に比例して内部抵抗値Ｒ1が
変化する磁場検出器６と被検体が受けている磁化力に比
例して内部抵抗値Ｒ2が変化する磁化力検出器８を差動
構成させた信号補償装置１５によって、磁場検出信号は
磁化力検出器信号で差動補償され、信号処理装置１６に
出力される。信号処理装置１６に入力された信号は増幅
器１７で可変抵抗Ｒ3を変化させることによって任意に
増幅処理され、そして増幅された信号は分岐して一方が
微分器１８に、他方が積分器１９に出力される。微分器
１８では図３に示すようなゆっくりした入力信号波形で
も微分回路の時定数（τ＝Ｒ4Ｃ1の値）を小さくするこ
とによって図４に示すような急峻な出力波形が得られ、
また、図５に示すように近接した複数の内部欠陥の入力
信号でも、出力波形は図６に示すように各欠陥毎に分離
されている。なお、微分器１８は、コンデンサＣ1、抵
抗Ｒ4それぞれに並列に抵抗Ｒ5、コンデンサーＣ2を入
れたことにより、欠陥信号より高い周波数成分（ノイ
ズ）が除去できるものである。また、積分器１９は微分
器１８に対し並列に接続し、高い周波数成分を除去し
て、微分回路と等しいゲインをもたせて、低い周波数
（ドリフト）成分を相殺している。
さらに図２に示す信号処理回路図により詳しく説明す
る。内部欠陥漏洩磁束密度に比例して内部抵抗値Ｒ1が
変化する磁場検出器６と被検体が受けている磁化力に比
例して内部抵抗値Ｒ2が変化する磁化力検出器８を差動
構成させた信号補償装置１５によって、磁場検出信号は
磁化力検出器信号で差動補償され、信号処理装置１６に
出力される。信号処理装置１６に入力された信号は増幅
器１７で可変抵抗Ｒ3を変化させることによって任意に
増幅処理され、そして増幅された信号は分岐して一方が
微分器１８に、他方が積分器１９に出力される。微分器
１８では図３に示すようなゆっくりした入力信号波形で
も微分回路の時定数（τ＝Ｒ4Ｃ1の値）を小さくするこ
とによって図４に示すような急峻な出力波形が得られ、
また、図５に示すように近接した複数の内部欠陥の入力
信号でも、出力波形は図６に示すように各欠陥毎に分離
されている。なお、微分器１８は、コンデンサＣ1、抵
抗Ｒ4それぞれに並列に抵抗Ｒ5、コンデンサーＣ2を入
れたことにより、欠陥信号より高い周波数成分（ノイ
ズ）が除去できるものである。また、積分器１９は微分
器１８に対し並列に接続し、高い周波数成分を除去し
て、微分回路と等しいゲインをもたせて、低い周波数
（ドリフト）成分を相殺している。
【００１５】このように微分器１８及び積分器１９で処
理された信号は合成され、その合成された信号は、探傷
結果として表示装置１３に出力されるとともに記録装置
１４で記録され、この探傷結果により精度の高い欠陥評
価が行われる。
理された信号は合成され、その合成された信号は、探傷
結果として表示装置１３に出力されるとともに記録装置
１４で記録され、この探傷結果により精度の高い欠陥評
価が行われる。
【００１６】図７は本発明の磁性材料内部欠陥の漏洩磁
束探傷装置の一実施例を示す全体構成図であり、磁性材
料の内部欠陥を検査している状況を示している。図中の
符号９は、磁性材料３を磁化させる磁路を有する磁化器
１と、磁化器１からの漏洩磁束５を遮蔽する磁界遮蔽器
１０を備えた磁化装置である。そして、磁場検出器６は
移動手段（図示せず）により磁性材料３の表面を縦方向
及び横方向に走査させるようになっており、磁化力検出
器８は磁性材料３の表面に位置させ表面磁場を検出す
る。また、信号補償装置１５は磁場検出信号を磁化力検
出信号で補償するようになっており、補償処理された信
号は、信号処理装置１６によって増幅処理され、増幅さ
れた信号は分岐されて一方が微分処理され他方が積分処
理され、その後合成されて、探傷結果を表示する表示装
置１３、及び探傷結果を記録する記録装置１４に出力さ
れる。
束探傷装置の一実施例を示す全体構成図であり、磁性材
料の内部欠陥を検査している状況を示している。図中の
符号９は、磁性材料３を磁化させる磁路を有する磁化器
１と、磁化器１からの漏洩磁束５を遮蔽する磁界遮蔽器
１０を備えた磁化装置である。そして、磁場検出器６は
移動手段（図示せず）により磁性材料３の表面を縦方向
及び横方向に走査させるようになっており、磁化力検出
器８は磁性材料３の表面に位置させ表面磁場を検出す
る。また、信号補償装置１５は磁場検出信号を磁化力検
出信号で補償するようになっており、補償処理された信
号は、信号処理装置１６によって増幅処理され、増幅さ
れた信号は分岐されて一方が微分処理され他方が積分処
理され、その後合成されて、探傷結果を表示する表示装
置１３、及び探傷結果を記録する記録装置１４に出力さ
れる。
【００１７】次に、このように構成された本装置を用い
磁性材料３の内部欠陥７を検査する場合について説明す
る。まず、磁化装置９の磁路の両端を磁性材料３に当
て、コイル２に定電流及び定電圧を印加し、磁化器１に
一定磁場を発生させ、磁性材料３を磁化する。
磁性材料３の内部欠陥７を検査する場合について説明す
る。まず、磁化装置９の磁路の両端を磁性材料３に当
て、コイル２に定電流及び定電圧を印加し、磁化器１に
一定磁場を発生させ、磁性材料３を磁化する。
【００１８】磁性材料３は磁化されることによって内部
欠陥部からその材料表面に漏洩磁束４が発生し、この磁
束４は、磁性材料３の表面上を縦横に走査する磁場検出
器６によって検出される。ここで、内部欠陥漏洩磁束４
は、欠陥の大きさに比例して分布しているので、磁場検
出器６の出力信号も欠陥の大きさに対応した信号を出力
し、信号補償装置１５に送っている。また、磁性材料３
の表面に配置した磁化力検出器８は磁性材料３の表面磁
場を検出し、表面磁場強度に対応した信号を出力し、信
号補償装置１５に送っている。ここで、磁化器１から漏
洩する磁化器漏洩磁束５は磁界遮蔽器１０によって遮蔽
されているので、磁場検出器６及び磁化力検出器８で検
出されることはない。
欠陥部からその材料表面に漏洩磁束４が発生し、この磁
束４は、磁性材料３の表面上を縦横に走査する磁場検出
器６によって検出される。ここで、内部欠陥漏洩磁束４
は、欠陥の大きさに比例して分布しているので、磁場検
出器６の出力信号も欠陥の大きさに対応した信号を出力
し、信号補償装置１５に送っている。また、磁性材料３
の表面に配置した磁化力検出器８は磁性材料３の表面磁
場を検出し、表面磁場強度に対応した信号を出力し、信
号補償装置１５に送っている。ここで、磁化器１から漏
洩する磁化器漏洩磁束５は磁界遮蔽器１０によって遮蔽
されているので、磁場検出器６及び磁化力検出器８で検
出されることはない。
【００１９】信号補償装置１５は磁場検出信号を磁化力
検出器信号で補償し、この信号は信号処理装置１６に送
り、増幅処理、微分処理、積分処理し、探傷結果は表示
装置１３に表示すると共に記録は記録装置１４により出
力される。
検出器信号で補償し、この信号は信号処理装置１６に送
り、増幅処理、微分処理、積分処理し、探傷結果は表示
装置１３に表示すると共に記録は記録装置１４により出
力される。
【００２０】上記した実施例では、磁化器漏洩磁束５を
遮蔽する磁界遮蔽器１０の遮蔽板は一重の場合を説明し
たが、これを二重、三重に施してもよく、また銅と鋼の
二重構造にすることもできる。
遮蔽する磁界遮蔽器１０の遮蔽板は一重の場合を説明し
たが、これを二重、三重に施してもよく、また銅と鋼の
二重構造にすることもできる。
【００２１】前記した図１〜図７に示す実施例では磁性
材料の内部欠陥を漏洩磁束探傷検査する場合について説
明したが、本発明は磁性材料であれば、この表面及び内
面に発生する欠陥探傷に適用できることは言うまでもな
い。また、本発明の磁場検出器信号の補償手段として、
磁性材料の受ける磁化力を補償値として用いた場合を説
明したが、磁化器と磁性材料の接触状態は磁化器から漏
洩する磁束密度にも関係することから、この磁化器から
の漏洩磁束密度を補償値としても何ら問題はない。
材料の内部欠陥を漏洩磁束探傷検査する場合について説
明したが、本発明は磁性材料であれば、この表面及び内
面に発生する欠陥探傷に適用できることは言うまでもな
い。また、本発明の磁場検出器信号の補償手段として、
磁性材料の受ける磁化力を補償値として用いた場合を説
明したが、磁化器と磁性材料の接触状態は磁化器から漏
洩する磁束密度にも関係することから、この磁化器から
の漏洩磁束密度を補償値としても何ら問題はない。
【００２２】
【発明の効果】本発明の方法によれば、磁性材料の内部
欠陥による漏洩磁束を検出する磁場検出器の信号を磁性
材料が受けている磁化力によって補償するので、磁化器
と磁性材料の接触状態の影響を受けることがなく、そし
て補償された信号を増幅処理した後分岐して、一方の信
号を微分処理して急峻な波形とし、他方の信号を積分処
理して低周波数成分を除去して、それから両信号を合成
して出力するので、近接した複数の内部欠陥に対して識
別の容易な信号波形が得られ、精度の高い内部欠陥評価
が可能となる。
欠陥による漏洩磁束を検出する磁場検出器の信号を磁性
材料が受けている磁化力によって補償するので、磁化器
と磁性材料の接触状態の影響を受けることがなく、そし
て補償された信号を増幅処理した後分岐して、一方の信
号を微分処理して急峻な波形とし、他方の信号を積分処
理して低周波数成分を除去して、それから両信号を合成
して出力するので、近接した複数の内部欠陥に対して識
別の容易な信号波形が得られ、精度の高い内部欠陥評価
が可能となる。
【００２３】本発明の装置によれば、上記方法を実施す
る構成要素を備えているとともに、磁化器からの漏洩磁
束を遮蔽する手段を有するので、磁場検出器で検出され
る磁束を内部欠陥による漏洩磁束のみにすることがで
き、ノイズの発生防止が達成できる。
る構成要素を備えているとともに、磁化器からの漏洩磁
束を遮蔽する手段を有するので、磁場検出器で検出され
る磁束を内部欠陥による漏洩磁束のみにすることがで
き、ノイズの発生防止が達成できる。
【図１】本発明の漏洩磁束探傷方法の具現化する制御装
置のブロック図である。
置のブロック図である。
【図２】漏洩磁束の検出信号を処理する信号処理回路を
示す図である。
示す図である。
【図３】単独内部欠陥に対応する信号処理前の信号波形
例を示す図である。
例を示す図である。
【図４】近接する複数内部欠陥に対応する信号処理前の
信号波形例を示す図である。
信号波形例を示す図である。
【図５】単独の内部欠陥に対応して信号処理した探傷出
力信号波形例を示す図である。
力信号波形例を示す図である。
【図６】近接する複数内部欠陥に対応して信号処理した
探傷出力信号波形例を示す図である。
探傷出力信号波形例を示す図である。
【図７】本発明による実施例の漏洩磁束探傷装置の構成
図である。
図である。
【図８】従来の探傷方法及び探傷装置を示す説明図であ
る。
る。
【図９】単独の内部欠陥における漏洩磁束の様相をを示
す説明図である。
す説明図である。
【図１０】近接する複数内部欠陥における漏洩磁束の様
相をを示す説明図である。
相をを示す説明図である。
【図１１】従来技術における単独内部欠陥に対応する探
傷信号波形図である。
傷信号波形図である。
【図１２】従来技術における近接する複数内部欠陥に対
応する探傷信号波形図である。
応する探傷信号波形図である。
１ 磁化器 ２ コイル ３ 磁性材料 ４ 内部欠陥漏洩磁束 ５ 磁化器漏洩洩磁束 ６ 磁場検出器 ７ 内部欠陥 ８ 磁化力検出器 ９ 磁化装置 １０ 磁界遮蔽器 １１ 増幅装置 １２ フィルタ １３ 表示装置 １４ 記録装置 １５ 信号補償装置 １６ 信号処理装置 １７ 増幅器 １８ 微分器 １９ 積分器
Claims (2)
- 【請求項１】 磁性材料からなる被検体を磁化し、該被
検体の内部欠陥部から表面に漏洩する磁束を磁場検出器
により検出し、該磁場検出器の出力信号を、前記被検体
が受ける磁化力で補償した後に分岐し、一方を微分処理
し、他方を積分処理し、それから微分処理された信号と
積分された信号を合成し、該合成された信号の波形から
欠陥探傷の評価を行うことを特徴とする磁性材料内部欠
陥の漏洩磁束探傷方法。 - 【請求項２】 磁性材料からなる被検体を磁化させる磁
化器を内蔵し、該磁化器から漏洩する磁束を遮蔽する手
段を有する磁化装置と、前記被検体の内部欠陥部から表
面に漏洩する磁束を検出する磁場検出器と、前記被検体
が受ける磁化力を検出する磁化力検出器と、前記磁場検
出器の出力信号を前記磁化力検出器の出力信号で補償す
る信号補償装置と、該信号補償装置からの信号を増幅処
理したのち分岐して、一方を微分処理し、他方を積分処
理し、微分処理された信号と積分された信号を合成して
出力する信号処理装置と、該信号処理装置の出力信号の
波形を探傷結果として表示する表示手段と、を具備して
なることを特徴とした磁性材料内部欠陥の漏洩磁束探傷
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22122493A JPH0772122A (ja) | 1993-09-06 | 1993-09-06 | 磁性材料内部欠陥の漏洩磁束探傷方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22122493A JPH0772122A (ja) | 1993-09-06 | 1993-09-06 | 磁性材料内部欠陥の漏洩磁束探傷方法及びその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0772122A true JPH0772122A (ja) | 1995-03-17 |
Family
ID=16763417
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22122493A Pending JPH0772122A (ja) | 1993-09-06 | 1993-09-06 | 磁性材料内部欠陥の漏洩磁束探傷方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0772122A (ja) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004251644A (ja) * | 2003-02-18 | 2004-09-09 | Yazaki Corp | 鉄筋コンクリート柱の鉄筋破断検出方法 |
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| DE102022206680A1 (de) | 2022-06-30 | 2024-01-04 | Institut Dr. Foerster Gmbh & Co. Kg | Verfahren und Vorrichtung zur Streuflussprüfung |
-
1993
- 1993-09-06 JP JP22122493A patent/JPH0772122A/ja active Pending
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