JPH0773468A

JPH0773468A - 試し書き記録制御方法および試し書き記録制御装置

Info

Publication number: JPH0773468A
Application number: JP5218791A
Authority: JP
Inventors: Hiroshi Fuji; 寛藤
Original assignee: Sharp Corp
Current assignee: Sharp Corp
Priority date: 1993-09-02
Filing date: 1993-09-02
Publication date: 1995-03-17
Anticipated expiration: 2016-10-15
Also published as: JP3219912B2

Abstract

(57)【要約】【構成】光ビームａにより情報が記録される光磁気デ
ィスク２４から繰り返しマークパターンｙに対応する再
生信号ｗの部分のレベルと、孤立マークパターンｘに対
応する再生信号ｗの部分のレベルを検出し、上記レベル
を比較することにより、記録条件を設定する試し書き記
録制御方法および、これを採用した試し書き記録制御装
置。【効果】繰り返しマークパターンｙに対応する再生信
号ｗの部分のレベルと、孤立マークパターンｘに対応す
る再生信号ｗの部分のレベルを検出し、上記レベルを比
較することにより、正確に熱干渉の違いを知ることがで
きる。このため、異なるマークパターンに対応した記録
マークの間の熱干渉を同じにすることができる。これに
より、熱干渉に影響されない正確な記録条件を設定する
ことが可能となる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光ビームにより情報が
記録される光磁気ディスク等の光記録媒体に対し、最適
な記録条件を求めるための試し書き記録制御方法および
試し書き記録制御装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】試し書き記録制御方法とは、光磁気ディ
スクに所定のデータを仮に記録し、記録されたデータを
読み出すことにより最適なレーザーパワーを設定する方
法のことである。電子情報通信学会技報ＭＲ９２−６２
（１９９１−１１），ｐ．１３〜１８あるいは１９９２
年電子情報通信学会秋季大会予稿ｃ−３４２，ｐ．５〜
２１に開示された光磁気ディスクの試し書き記録制御方
法を図７に基づいて説明する。

【０００３】この方法では、まず、光磁気ディスクに最
短マーク繰り返しパターンＸの記録マーク１６と、最長
マーク繰り返しパターンＹの記録マーク１７を記録す
る。それから、記録マーク１６、１７を読み出し、最短
マーク繰り返しパターンＸに対応した再生信号Ｗの平均
電圧Ｖ１と、最長マーク繰り返しパターンＹに対応した
再生信号Ｗの平均電圧Ｖ２との電圧差ΔＶを求める。

【０００４】この電圧差ΔＶがゼロになるように、光ビ
ームのパワーを制御して記録を行うことにより、記録マ
ーク１６と１６の間、記録マーク１６と１７の間、記録
マーク１７と１７の間、あるいはその他の記録マーク間
の熱干渉が一定になる。したがって、正確な記録を行う
ことができる。

【０００５】ここで、熱干渉とは、ある記録マークを記
録したときの熱が次の記録マークを記録するときに影響
を与えることである。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】ところが、上記従来の
構成では、正確に熱干渉を一定にすることは困難である
という問題点を有している。

【０００７】つまり、最短マーク繰り返しパターンＸの
記録マーク１６・１６間における熱干渉は、再生信号Ｗ
の上下変動（レベル変動）を引き起こし、もう一方の最
長マーク繰り返しパターンＹの記録マーク１７・１７間
における熱干渉は、再生信号Ｗの横方向の変動（時間変
動）を引き起こす。このため、熱干渉によって生じる平
均電圧Ｖ１の変動量と、平均電圧Ｖ２の変動量とは異な
る。したがって、これらの電圧差ΔＶから熱干渉を正確
に知ることは困難であり、電圧差ΔＶがゼロになって
も、熱干渉が一定になるとは限らないという問題点を有
している。

【０００８】

【課題を解決するための手段】請求項１の発明に係る試
し書き記録制御方法は、上記の課題を解決するために、
光ビームにより情報が記録される光記録媒体から繰り返
しマークパターンに対応する再生信号の部分のレベル
と、孤立マークパターンに対応する再生信号の部分のレ
ベルを検出し、レベル差が最小になるように記録条件を
設定することを特徴としている。

【０００９】請求項２の発明に係る試し書き記録制御装
置は、上記の課題を解決するために、光ビームにより情
報が記録される光記録媒体から繰り返しマークパターン
に対応する再生信号の部分のレベルを検出する第１のレ
ベル検出手段と、孤立マークパターンに対応する再生信
号の部分のレベルを検出する第２のレベル検出手段と、
上記レベルを比較する比較手段とが備えられており、比
較結果に応じて記録条件が設定されることを特徴として
いる。

【００１０】請求項３の発明に係る試し書き記録制御装
置は、上記の課題を解決するために、請求項２の試し書
き記録制御装置であって、第１のレベル検出手段は繰り
返しマークパターンに対応する再生信号の部分のピーク
レベルを検出するエンベロープ検波手段からなり、第２
のレベル検出手段は孤立マークパターンに対応する再生
信号の部分のピークレベルを検出するエンベロープ検波
手段からなり、比較手段はピークレベル間のレベル差を
出力する減算器からなり、レベル差が最小になるように
記録条件が設定されることを特徴としている。

【００１１】請求項４の発明に係る試し書き記録制御装
置は、上記の課題を解決するために、請求項２の試し書
き記録制御装置であって、第１および第２のレベル検出
手段は、再生信号のピーク毎にタイミング信号を発生す
るタイミング発生手段と、タイミング信号に基づいて再
生信号をＡ／Ｄ（アナログ／ディジタル）変換すること
により、再生信号のピークレベルを取り出すＡ／Ｄコン
バーターとからなり、比較手段はピークレベル間のレベ
ル差を出力するプロセッサーからなり、レベル差が最小
になるように記録条件が設定されることを特徴としてい
る。

【００１２】請求項５の発明に係る試し書き記録制御装
置は、上記の課題を解決するために、請求項２の試し書
き記録制御装置であって、第１のレベル検出手段は繰り
返しマークパターンに対応する再生信号の部分の平均レ
ベルを検出する平均化手段からなり、第２のレベル検出
手段は孤立マークパターンに対応する再生信号の部分の
平均レベルを検出する平均化手段からなり、比較手段は
平均レベル間のレベル差を出力する減算器からなり、レ
ベル差が最小になるように記録条件が設定されることを
特徴としている。

【００１３】

【作用】請求項１の構成によれば、繰り返しマークパタ
ーンに対応した記録マークの間の熱干渉も、孤立マーク
パターンに対応した記録マークの間の熱干渉も、再生信
号にはレベル変動となって現れる。このため、繰り返し
マークパターンに対応する再生信号の部分のレベルと、
孤立マークパターンに対応する再生信号の部分のレベル
を検出し、上記レベルを比較することにより、正確に熱
干渉の違いを知ることができる。このため、異なるマー
クパターンに対応した記録マークの間の熱干渉を同じに
することができる。これにより、熱干渉に影響されない
正確な記録条件を設定することが可能となる。

【００１４】請求項２の構成によれば、請求項１の試し
書き記録制御方法を採用した試し書き記録制御装置を実
現できる。

【００１５】請求項３ないし５の構成によれば、請求項
２の試し書き記録制御装置を簡単な構成で実現できる。

【００１６】

【実施例】本発明の第１の実施例について図１ないし図
５に基づいて説明すれば、以下の通りである。

【００１７】本実施例の試し書き記録制御装置は、図１
に示すように、半導体レーザー２３と、レベル差Δｖ
（後述する）が最小になるように、孤立マークパターン
ｘ及び繰り返しマークパターンｙに対応した記録信号ｚ
を半導体レーザー２３に出力する繰り返し・孤立パター
ン発生手段４とを備えている。

【００１８】半導体レーザー２３は、記録信号ｚに応じ
た強度およびパルス長の光ビームａを光磁気ディスク２
４（光記録媒体）に照射し、これにより、図２に示すよ
うに、孤立マークパターンｘの記録マーク５…および繰
り返しマークパターンｙの記録マーク６…を光磁気ディ
スクに記録する。ここで、孤立マークパターンｘとは、
互いに離れた記録マーク５…のように、熱干渉に影響さ
れにくいパターンであり、繰り返しマークパターンｙと
は、互いに近接した記録マーク６…のように、熱干渉に
影響されやすいパターンである。

【００１９】試し書き記録制御装置は、さらに、光磁気
ディスク２４からの反射光ｂを受光し、光電変換するこ
とにより、再生信号ｗを出力するフォトディテクター２
２と、繰り返しマークパターンｙに対応する再生信号ｗ
の部分のピークレベルｖ１を検出する繰り返しパターン
レベル検出手段１（第１のレベル検出手段）と、孤立マ
ークパターンｘに対応する再生信号ｗの部分のピークレ
ベルｖ２を検出する孤立パターンレベル検出手段２（第
２のレベル検出手段）と、ピークレベルｖ１とｖ２との
レベル差Δｖを上記の繰り返し・孤立パターン発生手段
４に出力する比較手段３とを備えている。

【００２０】上記の構成において、同一強度および同一
パルス長の光ビームａを光磁気ディスク２４に照射する
ことにより、記録マーク５…および記録マーク６…を記
録した場合、熱干渉を受けやすい記録マーク６…は、図
２に実線で示されているように、熱干渉を受けにくい記
録マーク５…より大きくなる。このため、繰り返しマー
クパターンｙに対応する再生信号ｗの部分のピークレベ
ルｖ１は、孤立マークパターンｘに対応する再生信号ｗ
の部分のピークレベルｖ２よりも大きくなる。したがっ
て、レベル差Δｖが発生する。

【００２１】これに対し、記録マーク５…および記録マ
ーク６…を記録したとき、記録マーク５・５間の熱干渉
と、記録マーク６・６間の熱干渉とが同一であったか、
あるいは、いずれの熱干渉も発生しなかった場合、記録
マーク６…は、図２に破線で示されているように、記録
マーク５…と同じ大きさになる。このため、ピークレベ
ルｖ１とｖ２は等しくなる。したがって、レベル差Δｖ
はゼロとなる。

【００２２】以上より、繰り返し・孤立パターン発生手
段４によって、レベル差Δｖが最小となるように、光ビ
ームの強度およびパルス長を設定することにより、同一
熱干渉の下で情報を記録するための記録条件を設定でき
る。これにより、情報を正確に記録することが可能にな
る。

【００２３】ＣＰＵ（ Central Processing Unit）を用
いると、記録条件を変化させながら、上記Δｖの変化を
測定し、自動的に試し書き記録制御を行うことが可能で
ある。

【００２４】なお、レベル差Δｖは、熱干渉によるだけ
でなく、光学伝達特性（ＯＴＦ）によっても発生するこ
とがある。この場合、トータルのレベル差Δｖは次式で
表される。

【００２５】Δｖ＝Δｖ（ＯＴＦ）＋Δｖ（ thermal ) ここで、Δｖ（ＯＴＦ）は光学伝達特性によるレベル差
であり、Δｖ（ thermal)は熱干渉によるレベル差であ
る。

【００２６】Δｖ（ＯＴＦ）がある場合、レベル差Δｖ
はゼロとはならないが、レベル差Δｖが最小になると
き、上記の場合と同様に、熱干渉が同一になる。つま
り、本実施例の試し書き記録制御装置によれば、Δｖ
（ＯＴＦ）の有無に関わらず、同一熱干渉の下で情報を
記録するための記録条件を設定できる。これにより、情
報を正確に記録することが可能になる。

【００２７】以上の実施例では、ピークレベルｖ１とｖ
２とのレベル差Δｖが最小になるに記録条件を設定した
が、繰り返しマークパターンｙに対応する再生信号ｗの
部分の極小レベルｖ３と、ピークレベルｖ２とのレベル
差（＝ｖ２−ｖ３）が最大となるように記録条件を設定
することもできる。

【００２８】上記の試し書き記録制御装置の繰り返しパ
ターンレベル検出手段１、孤立パターンレベル検出手段
２には、具体的には例えば、図３に示すように、エンベ
ロープ検波手段７、エンベロープ検波手段８を用いるこ
とができ、比較手段３には、減算器９を用いることがで
きる。

【００２９】エンベロープ検波手段７、８は、詳細には
例えば、図４に示すように、ピークホールド回路２５と
サンプルホールド回路２６とにより構成される。ピーク
ホールド回路２５は、抵抗２７、ダイオード２８、コン
デンサー２９およびバッファ３０からなっており、サン
プルホールド回路２６は、スイッチ３１、コンデンサー
３２およびバッファ３３からなっている。ピークホール
ド回路２５で得られたピークレベルｖ１、ｖ２は、タイ
ミング信号ｈでスイッチ３１をオン・オフ制御すること
により取り出され得る。

【００３０】また、上記の試し書き記録制御装置の繰り
返しパターンレベル検出手段１、孤立パターンレベル検
出手段２には、図５に示すように、再生信号ｗのピーク
毎にタイミング信号ｔを発生するタイミング発生手段１
０と、タイミング信号ｔに基づいて再生信号ｗをＡ／Ｄ
（アナログ／ディジタル）変換することにより、再生信
号ｗのピークレベルｖ１、ｖ２を取り出すＡ／Ｄコンバ
ーター１１とを用いることができ、比較手段３には、タ
イミング信号ｔに基づいてピークレベルｖ１、ｖ２から
レベル差Δｖ（＝ｖ１−ｖ２）を算出して出力するプロ
セッサー１２を用いることができる。

【００３１】タイミング発生手段１０は、例えば、ＰＬ
Ｌ（フェーズ・ロックト・ループ）と復調器とで容易に
構成され得る。

【００３２】本発明の第２の実施例について図６に基づ
いて説明すれば、以下の通りである。なお、説明の便宜
上、前記の実施例の図面に示した部材と同一の機能を有
する部材には、同一の符号を付記し、その説明を省略す
る。

【００３３】本実施例の試し書き記録制御装置は、図６
に示すように、繰り返しマークパターンｙに対応する再
生信号ｗの部分の平均レベルｖ１’を検出する平均化手
段１３（第１のレベル検出手段）と、孤立マークパター
ンｘに対応する再生信号ｗの部分の平均レベルｖ２’を
検出する平均化手段１４（第２のレベル検出手段）と、
平均レベルｖ１’、ｖ２’からレベル差Δｖ’（＝ｖ
１’−ｖ２’）を求め出力する減算器１５（比較手段）
とを備えている。

【００３４】上記の構成において、レベル差Δｖ’が最
小となるように、光ビームａの強度およびパルス長を設
定することにより、同一熱干渉の下で情報を記録するた
めの記録条件を設定できる。これにより、情報を正確に
記録することが可能になる。

【００３５】以上の実施例において、光磁気ディスク２
４には情報記録領域とは別に試し書き専用の記録領域を
設けることが好ましい。この試し書き専用の記録領域を
用いて記録条件の設定を行えば、情報記録領域の情報を
破壊する恐れがなくなる。

【００３６】また、以上の実施例では、光記録媒体とし
て光磁気ディスク２４を挙げて本発明の試し書き記録制
御装置および試し書き記録制御方法を説明したが、これ
に限定されることなく、相変化型の光ディスクや追記型
の光ディスク等、光ビームａを照射したときに発生する
熱を利用して情報の記録を行う光記録媒体あるいは情報
記録再生装置に対し、本発明を広く応用できる。

【００３７】請求項１の発明に対応する試し書き記録制
御方法は、光ビームａにより情報が記録される光磁気デ
ィスク２４から繰り返しマークパターンｙに対応する再
生信号ｗの部分のレベルと、孤立マークパターンｘに対
応する再生信号ｗの部分のレベルを検出し、上記レベル
を比較することにより、記録条件を設定する構成であ
る。

【００３８】これによれば、繰り返しマークパターンｙ
に対応した記録マーク６・６の間の熱干渉も、孤立マー
クパターンｘに対応した記録マーク５・５の間の熱干渉
も、再生信号ｗにはレベル変動となって現れる。このた
め、繰り返しマークパターンｙに対応する再生信号ｗの
部分のレベルと、孤立マークパターンｘに対応する再生
信号ｗの部分のレベルを検出し、上記レベルを比較する
ことにより、正確に熱干渉の違いを知ることができる。
このため、異なるマークパターンに対応した記録マーク
の間の熱干渉を同じにすることができる。これにより、
熱干渉に影響されない正確な記録条件を設定することが
可能となる。

【００３９】請求項２の発明に対応する試し書き記録制
御装置は、光ビームａにより情報が記録される光磁気デ
ィスク２４から繰り返しマークパターンｙに対応する再
生信号ｗの部分のレベルを検出する繰り返しパターンレ
ベル検出手段１と、孤立マークパターンｘに対応する再
生信号ｗの部分のレベルを検出する孤立パターンレベル
検出手段２と、上記レベルを比較する比較手段３とが備
えられており、比較結果に応じて記録条件が設定される
構成である。

【００４０】これによれば、請求項１の試し書き記録制
御方法を採用した試し書き記録制御装置を実現できる。

【００４１】請求項３の発明に対応する試し書き記録制
御装置は、請求項２の試し書き記録制御装置であって、
繰り返しパターンレベル検出手段１は繰り返しマークパ
ターンｙに対応する再生信号ｗの部分のピークレベルｖ
１を検出するエンベロープ検波手段７からなり、孤立パ
ターンレベル検出手段２は孤立マークパターンｘに対応
する再生信号ｗの部分のピークレベルｖ２を検出するエ
ンベロープ検波手段８からなり、比較手段３はピークレ
ベルｖ１、ｖ２間のレベル差Δｖを出力する減算器９か
らなり、レベル差Δｖが最小になるように記録条件が設
定される構成である。

【００４２】これによれば、請求項２の試し書き記録制
御装置を簡単な構成で実現することができる。

【００４３】請求項４の発明に対応する試し書き記録制
御装置は、請求項２の試し書き記録制御装置であって、
繰り返しパターンレベル検出手段１および孤立パターン
レベル検出手段２は、再生信号ｗのピーク毎にタイミン
グ信号ｔを発生するタイミング発生手段１０と、タイミ
ング信号ｔに基づいて再生信号ｗをＡ／Ｄ変換すること
により、再生信号ｗのピークレベルｖ１、ｖ２を取り出
すＡ／Ｄコンバーター１１とからなり、比較手段３はピ
ークレベルｖ１、ｖ２間のレベル差Δｖを出力するプロ
セッサー１２からなり、レベル差Δｖが最小になるよう
に記録条件が設定される構成である。

【００４４】これによれば、請求項２の試し書き記録制
御装置を簡単な構成で実現することができる。

【００４５】請求項５の発明に対応する試し書き記録制
御装置は、請求項２の試し書き記録制御装置であって、
繰り返しパターンレベル検出手段１は繰り返しマークパ
ターンｙに対応する再生信号ｗの部分の平均レベルｖ
１’を検出する平均化手段１３からなり、孤立パターン
レベル検出手段２は孤立マークパターンｘに対応する再
生信号ｗの部分の平均レベルｖ２’を検出する平均化手
段１４からなり、比較手段３は平均レベルｖ１’、ｖ
２’間のレベル差Δｖ’を出力する減算器１５からな
り、レベル差Δｖ’が最小になるように記録条件が設定
される構成である。

【００４６】これによれば、請求項２の試し書き記録制
御装置を簡単な構成で実現することができる。

【００４７】

【発明の効果】請求項１の発明に係る試し書き記録制御
方法は、以上のように、光ビームにより情報が記録され
る光記録媒体から繰り返しマークパターンに対応する再
生信号の部分のレベルと、孤立マークパターンに対応す
る再生信号の部分のレベルを検出し、上記レベルを比較
することにより、記録条件を設定するので、繰り返しマ
ークパターンに対応した記録マークの間の熱干渉も、孤
立マークパターンに対応した記録マークの間の熱干渉
も、再生信号にはレベル変動となって現れる。このた
め、繰り返しマークパターンに対応する再生信号の部分
のレベルと、孤立マークパターンに対応する再生信号の
部分のレベルを検出し、上記レベルを比較することによ
り、正確に熱干渉の違いを知ることができる。このた
め、異なるマークパターンに対応した記録マークの間の
熱干渉を同じにすることができる。これにより、熱干渉
に影響されない正確な記録条件を設定することが可能と
なるという効果を奏する。

【００４８】請求項２の発明に係る試し書き記録制御装
置は、以上のように、光ビームにより情報が記録される
光記録媒体から繰り返しマークパターンに対応する再生
信号の部分のレベルを検出する第１のレベル検出手段
と、孤立マークパターンに対応する再生信号の部分のレ
ベルを検出する第２のレベル検出手段と、上記レベルを
比較する比較手段とが備えられており、比較結果に応じ
て記録条件が設定されるので、請求項１の試し書き記録
制御方法を採用した試し書き記録制御装置を実現できる
という効果を奏する。

【００４９】請求項３の発明に係る試し書き記録制御装
置は、以上のように、請求項２の試し書き記録制御装置
であって、第１のレベル検出手段は繰り返しマークパタ
ーンに対応する再生信号の部分のピークレベルを検出す
るエンベロープ検波手段からなり、第２のレベル検出手
段は孤立マークパターンに対応する再生信号の部分のピ
ークレベルを検出するエンベロープ検波手段からなり、
比較手段はピークレベル間のレベル差を出力する減算器
からなり、レベル差が最小になるように記録条件が設定
されるので、請求項２の試し書き記録制御装置を簡単な
構成で実現できるという効果を奏する。

【００５０】請求項４の発明に係る試し書き記録制御装
置は、以上のように、請求項２の試し書き記録制御装置
であって、第１および第２のレベル検出手段は、再生信
号のピーク毎にタイミング信号を発生するタイミング発
生手段と、タイミング信号に基づいて再生信号をＡ／Ｄ
変換することにより、再生信号のピークレベルを取り出
すＡ／Ｄコンバーターとからなり、比較手段はピークレ
ベル間のレベル差を出力するプロセッサーからなり、レ
ベル差が最小になるように記録条件が設定されるので、
請求項２の試し書き記録制御装置を簡単な構成で実現で
きるという効果を奏する。

【００５１】請求項５の発明に係る試し書き記録制御装
置は、以上のように、請求項２の試し書き記録制御装置
であって、第１のレベル検出手段は繰り返しマークパタ
ーンに対応する再生信号の部分の平均レベルを検出する
平均化手段からなり、第２のレベル検出手段は孤立マー
クパターンに対応する再生信号の部分の平均レベルを検
出する平均化手段からなり、比較手段は平均レベル間の
レベル差を出力する減算器からなり、レベル差が最小に
なるように記録条件が設定されるので、請求項２の試し
書き記録制御装置を簡単な構成で実現できるという効果
を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施例を示すものであり、試し
書き記録制御装置を示す概略の構成図である。

【図２】図１の試し書き記録制御装置の動作を示すため
の説明図である。

【図３】図１の試し書き記録制御装置の具体例を示すブ
ロック図である。

【図４】図３の試し書き記録制御装置の詳細を示す回路
図である。

【図５】図１の試し書き記録制御装置の他の具体例を示
すブロック図である。

【図６】本発明の第２の実施例を示すものであり、試し
書き記録制御装置を示す概略の構成図である。

【図７】従来の試し書き記録制御装置の動作を示すため
の説明図である。

【符号の説明】

１繰り返しパターンレベル検出手段（第１のレベル
検出手段）２孤立パターンレベル検出手段（第２のレベル検出
手段）３比較手段４繰り返し・孤立パターン発生手段５記録マーク６記録マーク７エンベロープ検波手段８エンベロープ検波手段９減算器１０タイミング発生手段１１Ａ／Ｄコンバーター１２プロセッサー１３平均化手段（第１のレベル検出手段）１４平均化手段（第２のレベル検出手段）１５減算器（比較手段）２４光磁気ディスク（光記録媒体）

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光ビームにより情報が記録される光記録媒
体から繰り返しマークパターンに対応する再生信号の部
分のレベルと、孤立マークパターンに対応する再生信号
の部分のレベルを検出し、上記レベルを比較することに
より、記録条件を設定することを特徴とする試し書き記
録制御方法。
【請求項２】光ビームにより情報が記録される光記録媒
体から繰り返しマークパターンに対応する再生信号の部
分のレベルを検出する第１のレベル検出手段と、孤立マ
ークパターンに対応する再生信号の部分のレベルを検出
する第２のレベル検出手段と、上記レベルを比較する比
較手段とが備えられており、比較結果に応じて記録条件
が設定されることを特徴とする試し書き記録制御装置。
【請求項３】第１のレベル検出手段は繰り返しマークパ
ターンに対応する再生信号の部分のピークレベルを検出
するエンベロープ検波手段からなり、第２のレベル検出
手段は孤立マークパターンに対応する再生信号の部分の
ピークレベルを検出するエンベロープ検波手段からな
り、比較手段はピークレベル間のレベル差を出力する減
算器からなり、レベル差が最小になるように記録条件が
設定されることを特徴とする請求項２記載の試し書き記
録制御装置。
【請求項４】第１および第２のレベル検出手段は、再生
信号のピーク毎にタイミング信号を発生するタイミング
発生手段と、タイミング信号に基づいて再生信号をアナ
ログ／ディジタル変換することにより、再生信号のピー
クレベルを取り出すアナログ／ディジタルコンバーター
とからなり、比較手段はピークレベル間のレベル差を出
力するプロセッサーからなり、レベル差が最小になるよ
うに記録条件が設定されることを特徴とする請求項２記
載の試し書き記録制御装置。
【請求項５】第１のレベル検出手段は繰り返しマークパ
ターンに対応する再生信号の部分の平均レベルを検出す
る平均化手段からなり、第２のレベル検出手段は孤立マ
ークパターンに対応する再生信号の部分の平均レベルを
検出する平均化手段からなり、比較手段は平均レベル間
のレベル差を出力する減算器からなり、レベル差が最小
になるように記録条件が設定されることを特徴とする請
求項２記載の試し書き記録制御装置。