JPH0785433A - 磁気ヘッドの再生出力特性評価方法と再生出力特性評価装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】簡易な操作で、ダブルアジマスヘッドに対して
も正確な再生出力特性が評価できる再生出力特性評価方
法および再生出力特性評価装置を提供すること。 【構成】回転体９に配置された磁気テープ１１に、磁気
ヘッド１２の第１のギャップ部ｇを接触させて、上記第
１のギャップ部ｇの当たり位置と当たり角を調整し、上
記磁気テープ１１の信号を再生することにより、上記第
１のギャップ部ｇに関する再生出力特性を得て、次に、
上記回転体９に配置された上記磁気テープ１２に、上記
磁気ヘッド１１の第２のギャップ部ｇ１を接触させて、
上記第２のギャップ部ｇ１の当たり位置と当たり角を調
整した後、上記磁気テープ１２の信号を再生することに
より、上記第２のギャップ部ｇ１に関する再生出力特性
を得る磁気ヘッドの再生出力特性評価方法。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、磁気ヘッドの再生出力
特性を評価するための再生出力特性評価方法と再生出力
特性評価装置に関し、特にシングルアジマスヘッドのみ
ならずダブルアジマスヘッドである磁気ヘッドと、磁気
テープと、の最適な当たり位置と最適な当たり角を自動
的に決定して、磁気ヘッドの最大再生出力特性を測定す
ることができる磁気ヘッドの再生出力特性評価方法と再
生出力特性評価装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】ＶＴＲ（ビデオテープレコーダ）等に使
用される磁気ヘッドの再生出力特性の評価方法として
は、回転ドラムに巻き付けられた磁気テープに対して、
評価すべき磁気ヘッドを接触させて信号を記録再生する
方法が用いられている。

【０００３】この評価方法において、磁気ヘッドの再生
出力特性を評価する上で信頼性の高い再生出力特性デー
タを得るためには、磁気ヘッドのギャップ部を、正確な
当たり位置と当たり角で、磁気テープに対して当てるこ
とが必要である。

【０００４】たとえば、磁気テープに一定振幅の周波数
信号が記録されている場合に、磁気ヘッドのギャップ部
が正常な当たり位置と当たり角で、磁気テープに対して
当てられた状態であれば、その磁気ヘッドを介して得ら
れる再生出力波形の振幅は一定なものとなる。

【０００５】しかし、磁気テープに対する磁気ヘッドの
接触位置が不良であり、磁気ヘッドのギャップ部が磁気
テープの表面に正確に当たっていない場合には、その再
生出力波形の振幅が安定せず、部分的に小さい振幅の波
形が出現する。

【０００６】そこで、このような再生出力の評価方法に
おいては、磁気ヘッドのギャップ部を、正常に磁気テー
プの表面に当てるために、再生出力特性と得る前に、次
の作業を行う。つまり、再生出力波形の振幅が一定なも
のとなるように、磁気ヘッドの当たり位置（高さ位置、
突き出し位置を含む）と、当たり角と、を調整する、い
わゆる当たり出し操作を行う。

【０００７】以下に、従来行われている磁気ヘッドのヘ
ッドチップにギャップ部が１つだけ存在する、いわゆる
シングルアジマスヘッドの再生出力特性評価の手順を説
明する。ここでは、図１１に示す再生出力特性評価装置
を用いる場合を例に説明する。

【０００８】磁気ヘッドの再生出力特性の評価は、図１
１の回転ドラム１０１に巻き付けられた磁気テープ１０
９に対して磁気ヘッド１０２のギャップ部ｇを接触さ
せ、この磁気ヘッド１０２を介して信号を磁気テープ１
０９に対して記録再生することによって行う。

【０００９】このようにして再生出力特性を評価するに
際しては、最終的な信号再生に先行して、磁気ヘッド１
０２のギャップ部ｇが磁気テープ１０９に正常に当たる
ように、最適当たり位置（最適高さ位置と最適突き出し
位置を含む）と、最適当たり角とを探索する自動的当た
り出し操作を行う。

【００１０】この自動当たり出し操作を簡易且つ的確に
行うために、磁気ヘッドの当たり角の調整を、ギャップ
部を回動中心（回転中心ともいう）として、この磁気ヘ
ッドを回動させることによって行うこととする。

【００１１】また、図１１に示すように、自動当たり出
し操作のアルゴリズムの簡略化のために、自動制御する
軸は、磁気テープに対して、上下方向（Ｚ軸方向）と、
突き出し、引き離し方向（Ｘ軸方向）と、そして磁気ヘ
ッド１０２のギャップ部ｇを回動中心とする回動方向
（θ軸方向）の３軸自動制御とする。

【００１２】図１１に示す従来の再生出力特性評価装置
は、磁気テープ１０９が巻き付けられる円筒状の回転ド
ラム１０１と、評価すべき磁気ヘッド１０２が固定さ
れ、この固定された磁気ヘッド１０２を操作するための
ヘッド操作部１０３と、さらに磁気ヘッド１０２に記録
信号を供給する記録信号発信部と、この磁気ヘッド１０
２からの再生信号を増幅して出力する信号処理部と、そ
の信号を解析処理するスペクトラムアナライザー（いず
れも図示せず）を有している。

【００１３】ヘッド操作部１０３は、磁気ヘッド１０２
の回動操作機構であるθ軸ステージ１０４と、そして位
置操作機構を構成する３つのステージであるＺ軸ステー
ジ１０５、Ｘ軸ステージ１０６、Ｙ軸ステージ１０７よ
り構成されている。

【００１４】図１１のθ軸ステージ１０４には、磁気ヘ
ッド１０２が取り付けられている。この磁気ヘッド１０
２は、図１２に示すように、１つのギャップ部ｇを有す
る、いわゆるシングルアジマスヘッドである。このθ軸
ステージ１０４は、回動中心ｃを中心として、磁気ヘッ
ド１０２を回動操作するようになっている。

【００１５】上記θ軸ステージ１０４に取り付けられた
磁気ヘッド１０２は、Ｚ軸ステージ１０５、Ｘ軸ステー
ジ１０６、Ｙ軸ステージ１０７にそれぞれ設けられるハ
ンドル１０８ａ，１０８ｂ，１０８ｃを操作することに
より、磁気テープ１０９に対して上下方向（図中Ｚ軸で
示す方向）、突き出し方向（図中Ｘ軸で示す方向）、左
右方向（図中Ｙ軸で示す方向）に移動操作される。

【００１６】このような再生出力評価装置によって、図
１１に示すように、磁気ヘッド１０２の再生出力特性を
評価するには、上記回転ドラム１０１に磁気テープ１０
９を巻き付けるとともに、上記θ軸ステージ１０４に磁
気ヘッド１０２を取り付ける。

【００１７】そして、記録信号発信部より供給される記
録信号を、磁気テープ１０９に記録した後、以下に示す
当たり出し操作を行う。当たり出し操作は、磁気ヘッド
１０２の最適高さ位置の決定、最適当たり角の決定、最
適突き出し位置の決定の順に行う。予め磁気ヘッド１０
２を、ギャップ部ｇが回転ドラム１０１の回転軸１１２
と対向するように左右方向に移動操作しておく（Ｙ軸ス
テージ操作）。

【００１８】次に、磁気ヘッド１０２を再生作動状態と
し、再生出力波形が観測されるまで磁気ヘッド１０２を
回転ドラム１０１に対して突き出し方向に移動操作する
（Ｘ軸ステージ操作）。

【００１９】再生出力波形が観測されたら、磁気ヘッド
１０２を上下方向に移動操作して、再生出力波形の振幅
が最も大きくなる位置を探索し、最適高さ位置を決定す
る（Ｚ軸ステージ操作）。そして、この再生出力波形の
振幅が最も大きくなる高さにおいて、上記磁気ヘッド１
０２の磁気テープ１０９に対する最適当たり角を探索す
る。

【００２０】この最適当たり角を探索するには、一端、
再生出力波形が観察されなくなるまで、磁気ヘッド１０
２を磁気テープ１０９から引き離し（Ｘ軸ステージ操
作）、磁気ヘッド１０２を回動中心ｃを中心として回動
操作して当たり角を変更する（θ軸ステージ操作）。

【００２１】そして、磁気ヘッド１０２のギャップ部ｇ
が回動ドラム１０１の回転軸１１２と対向するように、
上記磁気ヘッド１０２を左右方向に移動操作し（Ｙ軸ス
テージ操作）、上述したのと同様にして、突き出し操作
を行い、再生出力波形を観測する。

【００２２】さらに、磁気ヘッド１０２の引き離し（Ｘ
軸ステージ操作）、当たり角の変更（θ軸ステージ操
作）、ギャップ部ｇの位置調整（Ｙ軸ステージ操作）、
ヘッドの突き出し（Ｘ軸ステージ操作）を、当たり角を
少しずつずらしながら繰り返し行い、再生出力波形の振
幅が最大となる当たり角を探索し、この再生出力波形の
振幅が最大となる当たり角を最適当たり角とする。

【００２３】最適当たり角を決定した後、この最適当た
り角において磁気ヘッド１０２を上下方向に移動操作し
て、磁気ヘッド１０２の再生出力波形の振幅が最も大き
くなる高さ方向の位置を探索し、最適高さ位置を決定す
る（Ｚ軸ステージ操作）。

【００２４】次に、決定された最適高さ位置、最適当た
り角位置において、磁気ヘッド１０２を突き出し方向、
引き離し方向（Ｘ軸ステージ操作）に移動操作して、再
生出力波形が最も大きくなる突き出し位置を探索し、最
適突き出し位置を決定する。

【００２５】以上のようにして、従来の再生出力特性評
価方法では、決定した最適高さ位置、最適当たり角位
置、最適突き出し位置において、再生出力波形を観測
し、この再生出力波形に基づいて磁気ヘッド１０２の再
生出力特性を評価する。

【００２６】

【発明が解決しようとする課題】このように、従来、い
わゆるシングルアジマスヘッドの再生出力特性の評価手
法は、提案されているが、図１３に示すような、いわゆ
るダブルアジマスヘッドと呼ばれる２つのギャップ部
ｇ，ｇ１を有する磁気ヘッド１２の再生出力特性を評価
する手法は、提案されていない。

【００２７】図１３に示す磁気ヘッド１２は、第１と第
２のギャップ部ｇ，ｇ１を有するダブルアジマスヘッド
である。このヘッド１２の第１のギャップ部ｇは、たと
えば記録用に用いられ、第２のギャップ部ｇ１は再生用
に用いられる。これらの第１と第２のギャップ部ｇ，ｇ
１は、距離ＧＬ離れている。

【００２８】そこで、本発明はこのような課題を鑑みて
提案されたものであり、簡易な操作で、ダブルアジマス
ヘッドに対しても正確な再生出力特性が評価できる再生
出力特性評価方法および再生出力特性評価装置を提供す
ることを目的とする。

【００２９】

【課題を解決するための手段】上記目的は、本発明にあ
っては、回転体に配置された磁気テープに、磁気ヘッド
の第１のギャップ部を接触させて、上記第１のギャップ
部の当たり位置と当たり角を調整し、上記磁気テープの
信号を再生することにより、上記第１のギャップ部に関
する再生出力特性を得て、次に、上記回転体に配置され
た上記磁気テープに、上記磁気ヘッドの第２のギャップ
部を接触させて、上記第２のギャップ部の当たり位置と
当たり角を調整した後、上記磁気テープの信号を再生す
ることにより、上記第２のギャップ部に関する再生出力
特性を得る磁気ヘッドの再生出力特性評価方法により、
達成される。

【００３０】また、本発明にあっては、好ましくは前記
第１のギャップ部を、前記当たり角の調整時の回転方向
の中心に位置決めして、前記第１のギャップ部に関する
前記磁気テープの信号を再生して、そして、前記第２の
ギャップ部を、上記回転方向の中心に位置決めして、前
記第２のギャップ部に関する上記磁気テープの信号を再
生する。

【００３１】さらに、本発明にあっては、好ましくは前
記磁気ヘッドの前記第１のギャップ部の回転に伴う前記
第２のギャップ部の移動分を補正して、前記第２のギャ
ップ部に関する上記磁気テープの信号を再生する。

【００３２】また、上記目的は、本発明にあっては、磁
気テープを巻き付けて回転する回転部と、上記磁気テー
プに対する、磁気ヘッドが有する複数のギャップ部の内
の１つのギャップ部を選択して、その選択した上記ギャ
ップ部の当たり位置と当たり角を調整するために、上記
磁気ヘッドを移動するためのヘッド操作部と、上記磁気
テープに記録されている信号に基づく上記磁気ヘッドか
らの再生出力信号を、電気的に処理する信号処理部と、
上記ヘッド操作部に指令を与えて、上記磁気ヘッドの上
記ギャップ部を、上記当たり角の調整時に用いられる回
転方向の中心に位置決めするとともに、上記ギャップ部
に関する上記再生出力信号に応じて、上記ヘッド操作部
に指令を与えて、上記磁気テープに対する、上記磁気ヘ
ッドの上記ギャップ部の当たり位置と当たり角を調整す
るためのヘッド位置制御部と、を備える磁気ヘッドの再
生出力特性評価装置により、達成される。

【００３３】

【作用】上記構成によれば、回転体に配置された磁気テ
ープに、磁気ヘッドの第１のギャップ部を接触させて、
第１のギャップ部の当たり位置と当たり角を調整する。
この調整後、磁気ヘッドの第１のギャップ部を介して磁
気テープの信号を再生することにより、第１のギャップ
部に関する再生出力特性を得る。次に、回転体に配置さ
れた磁気テープに、磁気ヘッドの第２のギャップ部を接
触させて、第２のギャップ部の当たり位置と当たり角を
調整する。この調整後、磁気ヘッドの第２のギャップ部
を介して磁気テープの信号を再生することにより、第２
のギャップ部に関する再生出力特性を得る。

【００３４】

【実施例】以下、本発明の好適な実施例を添付図面に基
づいて詳細に説明する。尚、以下に述べる実施例は、本
発明の好適な具体例であるから、技術的に好ましい種々
の限定が付されているが、本発明の範囲は、以下の説明
において特に本発明を限定する旨の記載がない限り、こ
れらの態様に限られるものではない。

【００３５】図１は、本発明の磁気ヘッドの再生出力特
性評価方法を実施するのに好適な磁気ヘッドの再生出力
特性評価装置の実施例を示している。図１において、磁
気ヘッド１２の再生出力特性の評価は、回転ドラム９に
巻き付けられた磁気テープ１１に対して、磁気ヘッド１
２のギャップ部ｇ，ｇ１を、選択的に接触させるかもし
くは当てて、磁気ヘッド１２を介して信号を記録再生す
ることによって行う。

【００３６】このようにして再生出力特性を評価するに
際しては、最終的な信号再生に先行して、磁気ヘッド１
２の第１のギャップ部ｇと第１のギャップ部ｇ１のそれ
ぞれが、磁気テープ１１に正常に当たるように、第１の
ギャップ部ｇと第１のギャップ部ｇ１に関する最適当た
り位置と最適当たり角を探索する、いわゆる自動当たり
出し操作を行う。

【００３７】この実施例では、図２と図１３に示す１つ
の磁気ヘッドチップに対して、第１と第２のギャップ部
ｇ，ｇ１が存在する、ダブルアジマスヘッドである磁気
ヘッド１２を測定対象とし、この第１のギャップ部ｇの
再生出力特性を測定をした後に、第２のギャップ部ｇ１
の再生出力特性を測定を測定することにする。

【００３８】図１に示す再生出力特性評価装置におい
て、この自動当たり出し操作を簡易且つ的確に行うため
に、磁気テープ１１に対する磁気ヘッド１２の当たり角
の調整は、第１のギャップ部ｇを回動中心（回転中心と
もいう）ｆを中心として、磁気ヘッド１２を回動させる
ことによって行う。

【００３９】また、自動当たり出し操作のアルゴリズム
の簡略化のために、自動制御する軸は、磁気テープ１１
に対して、上下方向（Ｚ軸方向）と、突き出し、引き離
し方向（Ｘ軸方向）と、そして磁気ヘッド１２の第１の
ギャップ部ｇを回動中心ｆとする回動方向（θ軸方向）
の３軸自動制御とする。

【００４０】磁気ヘッド１２の第１のギャップ部ｇの最
適自動当たり出しを行う再生出力特性評価方法につい
て、図１に示す再生出力特性評価装置を用いる場合を一
例にして説明する。

【００４１】ここで、再生出力特性評価装置の構成につ
いて説明する。再生出力特性評価装置は、磁気テープ１
１が巻き付けられて回転されるドラム部１と、評価すべ
き磁気ヘッド１２が固定され、固定された磁気ヘッド１
２を操作する各ステージと磁気ヘッド１２の第１と第２
のギャップ部ｇ，ｇ１の位置測定を行うヘッド操作部２
と、磁気ヘッド１２に記録信号を供給する記録信号発信
部３と、磁気ヘッド１２からの再生信号を増幅し、増幅
された出力信号を電気的に処理する電気信号処理部４
と、磁気ヘッド１２の移動動作を制御するヘッド位置制
御部５と、電気的に処理された再生出力信号や磁気ヘッ
ド１２の位置信号を演算処理して推論を行い、各制御部
をコントロールするための制御処理部６と、からなって
いる。

【００４２】図１のドラム部１は、エアスピンドル本体
７とスピンドルサーボ８から構成されており、エアスピ
ンドル本体７の上部には磁気テープ１１を巻き付ける回
転ドラム９が固定されている。

【００４３】この回転ドラム９は、側面に幅約２ｍｍ程
度の溝１０が設けられている。したがって、巻き付けら
れた磁気テープ１１は、回転ドラム９の溝１０以外の部
分で回転ドラム９に接触して、溝１０に対応する磁気テ
ープ１１の部分は、回転ドラム９に対して浮いた状態と
なる。

【００４４】図１の評価装置では、この回転ドラム９よ
り浮いた部分に評価すべき磁気ヘッド１２が突き出さ
れ、不用意な磁気ヘッド１２の突き出しに対して、磁気
ヘッド１２の磁気テープ１１へのダメージが回避される
ようになっている。さらに、エアスピンドル本体７の内
部には、回転ドラム９の回転に同期して、１回転するご
とに１パルスの信号を発信するセンサー（図示せず）が
固定されている。

【００４５】ヘッド操作部２は、固定された磁気ヘッド
１２を自動操作し、磁気ヘッド１２の磁気テープ１１に
対する当たり位置や当たり角を調整するためのものであ
る。このヘッド操作部２は、位置操作機構となるＹ軸ス
テージ１３、Ｚ軸ステージ１４、Ｘ軸ステージ１５と、
そして回動操作機構であるθＬＲ軸ゴニオステージ１
６、およびそれぞれのステージの位置（磁気ヘッド１２
のギャップ部ｇ，ｇ１の位置）を測定する位置測定部１
７より構成されている。

【００４６】図１の磁気ヘッド１２は、Ｙ軸ステージ１
３、Ｚ軸ステージ１４、Ｘ軸ステージ１５を操作するこ
とにより、磁気テープ１１に対して図１と図３に示すよ
うに、左右方向（図中、Ｙ軸方向）、上下方向（図中、
Ｚ軸方向）、突き出し方向（図中、Ｘ軸方向）に移動操
作される。位置測定部１７は、各ステージの位置（磁気
ヘッド１２の第１のギャップ部ｇまたは第２のギャップ
部ｇ１の位置）が変動するごとに、その位置情報を制御
処理部６に送信する。

【００４７】Ｙ軸ステージ１３はレバー１８の操作によ
り、左右方向（Ｙ軸方向）に移動操作される。Ｚ軸ステ
ージ１４はＺ軸パルスステージで構成され、Ｚ軸パルス
ステージに移動量と移動方向、および移動スピードを設
定したパルス信号を送ることで、上下方向の自動移動制
御ができる。Ｘ軸ステージ１５はＸ軸パルスステージで
構成されており、Ｘ軸パルスステージに移動量と移動方
向、および移動スピードを設定したパルス信号を送るこ
とにより突き出し方向、引き離し方向の自動移動制御が
できる。なお、必要に応じて、Ｙ軸ステージ１３もＹ軸
パルスステージにより構成することができる。これによ
り、各ステージはヘッド位置制御部５の制御信号により
すべて自動制御される。

【００４８】図１と図２に示すように、回動操作機構と
なるθ軸ゴニオステージ（θＬＲ軸ゴニオステージとも
いう）１６は、ステージ本体１９に評価すべき磁気ヘッ
ド１２を取り付けるための取り付け部材２０が設けられ
ている。このヘッド取り付け部材２０が、ヘッド取り付
け部材２０の延長線上に設定されたゴニオの焦点（回転
中心もしくは回動中心ともいう）ｆを回転中心として、
回動するようになっている。

【００４９】したがって、図２に示すこのゴニオの焦点
ｆと、第１のギャップ部ｇあるいは第２のギャップ部ｇ
１とが一致するように、磁気ヘッド１２を取り付け、θ
ＬＲ軸ゴニオステージ１６を操作することにより、磁気
ヘッド１２が第１のギャップ部ｇあるいは第２のギャッ
プ部ｇ１を、回動中心ｆを中心として、左右に回動操作
できるようになっている。

【００５０】このθＬＲ軸ゴニオステージ１６は、θＬ
Ｒ軸ゴニオパルスステージで構成されており、θＬＲ軸
ゴニオパルスステージに移動量と移動方向、および移動
スピードを設定したパルス信号を送ることにより、図２
において左右に自動回動制御ができる。

【００５１】なお、各ステージ１３，１４，１５，１６
には、電気的なリミッタが装備されており、誤操作によ
るステージの暴走から磁気ヘッドおよび回転ドラムを破
損等のトラブルが防止できるように設定されている。

【００５２】図１に示す記録信号発信部３は、記録信号
を発信するシグナルジェネレータ２１と、発信された記
録信号を増幅する記録アンプ部２２と、記録信号または
消去信号を磁気テープ１１に回転ドラム９の一周期分記
録させる制御回路部２３と、により構成されている。

【００５３】図１に示す信号増幅処理部４は、磁気ヘッ
ド１２から送信された電気信号を増幅する再生アンプ部
２４と、その信号を計測、解析処理するスペクトルアナ
ライザーよりなる信号解析部２５と、から構成されてい
る。

【００５４】制御回路部２３は、ドラム部１の回転ドラ
ム９に同期しており、回転ドラム９が１回転するごとに
記録と再生を交互に繰り返すタイミング回路が組み込ま
れている。このタイミング回路は、記録アンプ部２２か
ら発信された記録信号を、回転ドラム９に巻き付けられ
た磁気テープ１１に対して、その回転一周期分だけ記録
を行うように磁気ヘッド１２を記録作動状態とし、そし
て次の回転一周期分で記録アンプ部２２からの信号の発
信を止めて磁気テープ１１に記録された信号を回転一周
期分再生するように、磁気ヘッド１２を再生作動状態と
するように構成されている。

【００５５】回転二周期で、磁気ヘッド１２から磁気テ
ープ１１への信号の記録作動状態と再生作動状態の動作
変換が行われる。この動作変換は、回転ドラム９が回転
している間繰り返される。

【００５６】図１の電気信号処理部４は、ドラム部１の
回転ドラム９に同期しており、磁気ヘッド１２で再生さ
れた信号は、再生アンプ部２４で増幅して信号解析部２
５に送信される。再生アンプ部２４で増幅されて送信さ
れた再生信号は、信号解析部２５で計測処理された後、
制御処理部６へ処理データとして送信される。

【００５７】図１のヘッド位置制御部５は、各ステージ
の状態を観測するとともに、制御処理部６の命令に基づ
いて、各ステージの移動、動作の制御を行うパルスコン
トロール部２６により構成されている。

【００５８】さらに、図１の制御処理部６は、電気信号
処理部４からの出力データとヘッド操作部２からの磁気
ヘッド１２の位置データから、磁気ヘッド１２をどの方
向に移動させるかを推論する推論部２７と、最適当たり
位置の評価を行う演算部２８と、各装置や各部に操作命
令や制御命令を送る制御部２９から構成されている。

【００５９】パルスコントロール部２６は、制御処理部
６から送信される命令にしたがって、ヘッド操作部２の
各パルスステージへ、移動、動作を制御するパルス信号
を送信するとともに、各パルスステージのステイタス情
報（稼働中、リミッタ作動等）を制御処理部６へ送信す
る。

【００６０】図１の制御処理部６の推論部２７は、信号
解析部２５から処理された再生出力データと位置測定部
１７から送信される磁気ヘッド１２の位置データに基づ
いて、次操作のために磁気ヘッド１２をどの方向にどれ
くらい移動、回転させるかを推論する。

【００６１】この推論部２７では、前回のステージの移
動量とその結果としての再生出力データの変化量を入力
として、それぞれ演算部２８から受け取り、次回のステ
ージの制御量を出力として推論処理し、推論結果を演算
部２８へ送信する（この推論結果を基に各ステージの移
動量が制御される）操作を行っている。図１のの推論部
２７での推論処理は、再生出力データが最も大きくなる
ように推論処理し、ヘッド操作部２の各ステージの制御
量を決定している。

【００６２】この推論部では２７の推論方法としては、
ファジィ推論を用いていて、ステージの移動量データと
再生出力データの変化量データを入力データとして与
え、次回のステージの制御量データをファジィ推論結果
として受け取るようにしている。

【００６３】図１の演算部２８では、入力データや出力
データ等を演算処理し推論部２７や制御部２９にデータ
を送る操作と、推論部２７の入力データ（制御量）と出
力データ（制御量）を演算処理し、ともにゼロになった
ら推論制御を終了させる等の評価処理を行っている。こ
の推論制御が終了した時点での各制御軸の位置が各軸の
最適当たり位置と評価される。

【００６４】制御部２９では、各装置や各制御部に対し
て測定条件や制御命令等の信号を送信したり、ステイタ
ス情報や測定データ等を受信して、全体的な制御アルゴ
リズムのフローをここで制御している。

【００６５】このような再生出力特性評価装置によっ
て、磁気ヘッド１２の再生出力特性を評価するには、磁
気テープ１１の磁性層面が外側となるようにして、磁気
テープ１１を上記回転ドラム９に対して巻き付ける。し
かも、上記ゴニオの焦点ｆと、第１のギャップｇもしく
は第２のギャップ部ｇ１（第１のギャップｇの当たり出
し操作）とが一致するように、磁気ヘッド１２をθＬＲ
軸ゴニオステージ１６のヘッド取り付け部材１９に対し
て 取り付ける。そして、以下に示す自動当たり出し操
作を行って、第１のギャップ部ｇの再生出力特性評価
と、第２のギャップ部ｇ１の再生出力特性評価を順に行
う。

【００６６】（１）第１のギャップ部ｇの再生出力特性
評価 まず、第１のギャップ部ｇの再生出力特性評価の手順
を、図１と図９を参照して説明する。図１において、自
動当たり出し操作を行う前に、予め磁気ヘッド１２のギ
ャップ部ｇが、回転ドラム９の回転軸Ａと対向するよう
に、磁気ヘッド１２を左右方向に移動操作する（Ｙ軸ス
テージ操作）。

【００６７】自動当たり出し操作は、当たり出し開始位
置の決定、最適当たり角の決定、最適高さ位置の決定、
最適突き出し位置の決定の順に行う。以下の操作はすべ
て自動で行われる。

【００６８】まず、当たり出し開始位置を決定する（図
９のステップＳＴ１を参照）。図９のステップＳＴ１に
示すように、制御処理部６から位置制御部５へ、磁気ヘ
ッド１２を初期状態へ移動する命令を送信する。位置制
御部５は制御処理部６から受けた移動命令にしたがっ
て、ヘッド操作部２の各パルスステージにパルスコント
ロール部からパルス信号を送り各ステージを移動する。

【００６９】この初期状態での磁気ヘッド１２のギャッ
プ部ｇの位置に関しては、次のようになっている。すな
わち、高さ方向は、Ｚ軸ステージ１４により回転ドラム
９の溝１０の中央近辺に置かれ、突き出し方向は、Ｘ軸
ステージ１５により磁気テープ１１から数ｍｍ離れた位
置で、さらに当たり角位置は、θ軸ゴニオステージ１６
によりほぼ磁気ヘッド１２が回転ドラム９の回転軸Ａと
対向するような位置に置かれる。

【００７０】次に、電気信号処理部４から送信される再
生出力データを観測しながら、ある程度のレベルに再生
出力データが観測されるまで、磁気ヘッド１２を突き出
し方向に移動操作する（Ｘ軸ステージ１５操作）。この
ようにして、当たり出し開始位置を決定する。

【００７１】次に、再生出力が観測されたら、突き出し
方向の移動操作を一時的に終了し、図９のステップＳＴ
２に示すように、磁気ヘッド１２を磁気ヘッドのギャッ
プ部ｇを回動中心ｆとする右回動方向、左回動方向に移
動操作して再生出力波形が最も大きくなる角度を探索
し、最適当たり角位置を決定する（θＬＲ軸ゴニオステ
ージ１６操作）。

【００７２】まず、最初に図１の磁気ヘッド１２を右回
動方向か左回動方向に適当な移動量で移動操作させるよ
う、制御処理部６の制御部２９からヘッド位置制御部５
に磁気ヘッド１２を回動方向に移動させる命令を送信す
る。磁気ヘッド１２の移動命令を受けた制御処理部６
は、パルスコントロール部からヘッド操作部２の移動ス
テージ（θＬＲ軸ゴニオステージ１６）に対して、移動
方向と移動量、移動スピード等を設定したパルス信号を
送り、ステージを移動させ磁気ヘッド１２の当たり角を
変更させる。

【００７３】移動終了後、図１の電気信号処理部４によ
り磁気テープ１１から再生された再生信号は、再生アン
プ部２４で増幅して信号解析部２５で計測処理された
後、再生データとして制御処理部６へデータとして送信
される。また、同様にヘッド操作部２の位置測定部１７
で測定された磁気ヘッド１２の位置データを制御処理部
６へ送信する。

【００７４】図１の電気信号処理部４から送られる再生
出力データと、ヘッド操作部２から送られるヘッド位置
データから、制御処理部６の演算部２８は、移動前の再
生出力データと移動後の再生出力データの変化量を算出
する。また、同様にして移動前のヘッド位置データと移
動後のヘッド位置データから、制御処理部６の演算部２
８は、磁気ヘッド１２の移動量を算出する。

【００７５】この制御処理部６の演算部２８で算出され
た再生出力データの変化量と、ヘッドの移動量を、制御
処理部６の推論部２７に送り、次回のヘッドの移動量を
推論し、推論結果を演算部２８へ送信する。推論結果を
受けた演算部２８では前回の移動量と次回の移動量とを
比較し、移動先が最適当たり角になっているかどうかを
評価する。

【００７６】演算部２８の推論結果から推論制御が終了
の評価が下されなかった場合、次回のヘッドの移動量を
制御部２９に送信し、再度移動推論操作が繰り返され
る。そして、任意の当たり角において移動操作と推論操
作を繰り返し行い、制御処理部６の演算部２８により推
論制御を終了する操作がなされた時（最適当たり角であ
ると評価された時）、その当たり角を最適当たり角と決
定する（図９のステップＳＴ２）。最適当たり角の探索
は、上記の一連の操作により自動で探索操作される。

【００７７】次に、図９のステップＳＴ３に示すよう
に、磁気ヘッド１２を上下方向に移動操作して再生出力
波形が最も大きくなる高さ位置を探索し、最適高さ位置
を決定する（Ｚ軸ステージ１４操作）。最適高さ位置の
探索は、最適当たり角の探索と同様の操作でステージを
上下方向に移動操作しながら自動探索を行う。

【００７８】さらに、図９のステップＳＴ４に示すよう
に、決定された最適当たり角と最適高さ位置において、
図１の磁気ヘッド１２を突き出し方向、引き離し方向に
移動操作を行って、再生出力波形が最も大きくなる突き
出し位置を探索し、最適突き出し位置を決定する（Ｘ軸
ステージ１５操作）。

【００７９】最適突き出し位置の探索は、最適当たり角
の探索と同様の操作でステージを突き出し方向、引き離
し方向に移動操作しながら自動探索を行う。以上のよう
に決定した最適当たり角、最適高さ位置、最適突き出し
位置において、再生出力信号を計測し、この再生出力信
号に基づいて、評価対象の磁気ヘッド１２の第１のギャ
ップ部ｇについての再生出力特性を評価する。

【００８０】また、この再生出力特性評価装置において
は、磁気ヘッド１２の当たり角をギャップ部ｇを回動中
心とした左右回動方向と共に、上下回動方向（煽り方
向）においても最適化すると、より信頼性の高いものに
なる。この場合も、ギャップ部ｇを回動中心として上回
動方向、下回動方向に移動動作させて当たり角を調整す
ることによって簡易かつ的確に最適当たり角が探索され
る。

【００８１】このようにして、第１のギャップ部ｇの最
適な当たり出し位置の探索が行われ、第１のギャップ部
ｇのより正確な、再生出力特性評価が可能となる。

【００８２】第２のギャップ部ｇ１の再生出力特性評価 （２）次に、磁気ヘッド１２の第２のギャップ部ｇ１の
再生出力特性評価の手順を、図１と図９を参照して説明
する。

【００８３】第２のギャップ部ｇ１の自動当たり出し操
作を簡易且つ的確に行うために、次の２通りの方法があ
る。

【００８４】１）図５と図６に示すように、第２のギャ
ップ部ｇ１を回転中心ｆに一致するように磁気ヘッドを
移動して、磁気ヘッド１２の当たり角の調整をする際
に、磁気ヘッド１２をこの回転中心ｆを中心として回動
する方法（方法１という）。 ２）図７と図８に示すように、第１のギャップ部ｇを回
転中心ｆに一致させた状態で、磁気ヘッド１２の回動を
行って、第２のギャップ部ｇ１の移動分を補正する方法
（方法２という）。

【００８５】自動当たり出し操作のアルゴリズムの簡略
化のために、自動制御する軸は、磁気テープ１１に対し
て、上下方向（Ｚ軸方向）と、突き出し、引き離し方向
（Ｘ軸方向）と、そして磁気ヘッド１２の第１のギャッ
プ部ｇおよび第２のギャップ部ｇ１を回動中心ｆに一致
させて回転する回動方向（θ軸方向）の３軸自動制御と
する。

【００８６】以下に、このようにして磁気ヘッド１２の
第２のギャップ部ｇ１の最適自動当たり出しを行う再生
出力特性評価方法について、図１に示す再生出力特性評
価装置を用いる場合を一例にして説明する。

【００８７】方法１ まず、上述した方法１について説明する。図５と図６に
示す方法１を用いて、第２のギャップ部ｇ１の再生出力
特性を測定する場合は、このギャップ位置設定機構であ
るたとえばＹ軸ステージ１３を駆動して、、図５の状態
から図６の状態へ、磁気ヘッド１２を左右方向に移動さ
せる。すなわち、図５に示すように第１のギャップ部ｇ
が回転中心ｆに一致している状態から、磁気ヘッド１２
を図面右側に移動して、図６に示すように第２のギャッ
プ部ｇ１が回転中心ｆに一致させる。

【００８８】この方法１の手法を行う場合は、図５と図
６に示すように上記ゴニオステージ１６の焦点ともいう
回転中心ｆとギャップ部ｇとが一致する取り付け方法と
同様に、図６に示すように、第２のギャップ部ｇ１と上
記ゴニオステージ１６の回転中心ｆとが一致するように
設定すれば、第１のギャップ部ｇの再生出力特性を測定
する方法と同様にして、ギャップ部ｇ１の再生出力特性
を測定することが可能である。

【００８９】つまり、図５と図６の方法１の場合は、磁
気ヘッド１２の第２のギャップ部ｇ１が、図１の回転ド
ラム９の回転軸Ａと対向するように、磁気ヘッド１２を
左右方向に移動操作する（Ｙ軸ステージ操作）。自動当
たり出し操作は、図９に示すように、当たり出し開始位
置の決定、最適当たり角の決定、最適高さ位置の決定、
最適突き出し位置の決定の順に行う。以下の操作はすべ
て自動で行われる。

【００９０】まず、図９のステップＳＴ１に示すよう
に、制御処理部６から位置制御部５へ磁気ヘッド１２を
初期状態へ移動する命令を送信する。位置制御部５は制
御処理部６から受けた移動命令にしたがって、ヘッド操
作部２の各パルスステージにパルスコントロール部２６
からパルス信号を送り各ステージを移動する。

【００９１】初期状態での磁気ヘッド１２の第２のギャ
ップ部ｇ１の位置は、高さ方向はＺ軸ステージ１４によ
り回転ドラム９の溝１０の中央近辺に置かれ、突き出し
方向はＸ軸ステージ１５により磁気テープ１１から数ｍ
ｍ離れた位置で、当たり角位置はθ軸ゴニオステージ１
６によりほぼ磁気ヘッド１２が回転ドラム９の回転軸Ａ
と対向するような位置に置かれる。

【００９２】次に、図１の電気信号処理部４から送信さ
れる再生出力データを観測しながら、ある程度のレベル
に再生出力データが観測されるまで、磁気ヘッド１２を
突き出し方向に移動操作する（Ｘ軸ステージ１５操
作）。

【００９３】再生出力が観測されたら、突き出し方向の
移動操作を一時的に終了し、磁気ヘッド１２を磁気ヘッ
ド１２の第２のギャップ部ｇ１を回転中心ｆとする右回
動方向、左回動方向に移動操作して、再生出力波形が最
も大きくなる角度を探索し、図９のステップＳＴ２に示
すように、最適当たり角位置を決定する（θＬＲ軸ゴニ
オステージ１６操作）。

【００９４】方法１の場合は、磁気ヘッド１２の第２の
ギャップ部ｇ１を回動中心とする右回動方向、左回動方
向に移動操作して再生出力波形が最も大きくなる角度を
探索し、最適当たり角位置を決定する（θＬＲ軸ゴニオ
ステージ１６操作）。

【００９５】方法１の場合は、最初に磁気ヘッド１２を
右回動方向か左回動方向に適当な移動量で移動操作させ
るよう、制御処理部６の制御部２９からヘッド位置制御
部５に磁気ヘッド１２を回動方向に移動させる命令を送
信する。磁気ヘッド１２の移動命令を受けた制御処理部
６は、パルスコントロール部からヘッド操作部２の移動
ステージ（θＬＲ軸ゴニオステージ１６）に対して移動
方向と移動量、移動スピード等を設定したパルス信号を
送り、ステージを移動させ磁気ヘッド１２の当たり角を
変更させる。

【００９６】図１の制御処理部６では、磁気ヘッド１２
の回動方向の移動方向と移動量、移動スピードから演算
部２８でＸ軸移動方向の移動方向と移動量、移動スピー
ドを演算し、ヘッド操作部２へ移動信号を送っている。

【００９７】移動終了後、図１の電気信号処理部４によ
り磁気テープ１１から再生された再生信号は、再生アン
プ部２４で増幅して信号解析部２５で計測処理された
後、再生データとして制御処理部６へ送信される。ま
た、同様にしてヘッド操作部２の位置測定部１７で測定
された磁気ヘッドの位置データを制御処理部６へ送信す
る。

【００９８】図１の電気信号処理部４から送られる再生
出力データとヘッド操作部２から送られるヘッド位置デ
ータから制御処理部６の演算部２８で、移動前の再生出
力データと移動後の再生出力データの変化量を算出し、
同様に移動前のヘッド位置データと移動後のヘッド位置
データからヘッドの移動量を算出する。

【００９９】この制御処理部６の演算部２８で算出され
た再生出力データの変化量とヘッドの移動量を制御処理
部６の推論部２７に送り、次回のヘッドの移動量を推論
し、推論結果を演算部２８へ送信する。推論結果を受け
た演算部２８では前回の移動量と次回の移動量とを比較
し、移動先が最適当たり角になっているかどうかを評価
する。

【０１００】演算部２８の推論結果から推論制御が終了
の評価が下されなかった場合、次回のヘッドの移動量を
制御部２９に送信し、再度移動推論操作が繰り返され
る。そして、任意の当たり角において移動操作と推論操
作を繰り返し行い、制御処理部６の演算部２８により推
論制御を終了する操作がなされた時（最適当たり角であ
ると評価された時）、その当たり角を最適当たり角と決
定する（図９のステップＳＴ２）。方法１による最適当
たり角の探索は、上記の一連の操作により自動で探索操
作される。

【０１０１】次に、図９のステップＳＴ３に示すよう
に、先に決定した最適当たり角において、磁気ヘッド１
２を上下方向に移動操作して再生出力波形が最も大きく
なる高さ位置を探索し、最適高さ位置を決定する（Ｚ軸
ステージ１４操作）。最適高さ位置の探索は、最適当た
り角の探索と同様の操作でステージを上下方向に移動操
作しながら自動探索を行う。

【０１０２】さらに、決定された最適当たり角と最適高
さ位置において、磁気ヘッド１２を突き出し方向、引き
離し方向に移動操作を行って再生出力波形が最も大きく
なる突き出し位置を探索し、図９のステップＳＴ４に示
すように、最適突き出し位置を決定する（Ｘ軸ステージ
１５操作）。最適突き出し位置の探索は、最適当たり角
の探索と同様の操作でステージを突き出し方向、引き離
し方向に移動操作しながら自動探索を行う。

【０１０３】以上のようにして第２のギャップ部ｇ１に
関して、決定した最適当たり角、最適高さ位置、最適突
き出し位置において、再生出力信号を計測し、この再生
出力信号を基づいて評価対象の磁気ヘッド１２の再生出
力特性を評価する。

【０１０４】方法２ 次に、上述の方法２のによる磁気ヘッド１２の第２のギ
ャップ部ｇ１の再生出力特性の測定について、図７と図
８および図１０により説明する。方法２の手法を行う場
合は、図７で示すように、ゴニオの焦点（回転中心）ｆ
とギャップ部ｇとが一致するように設定したままで、以
下の操作を行っていく。

【０１０５】自動当たり出し操作を行う前に、予め磁気
ヘッド１２の第１のギャップ部ｇが、回転ドラム９の回
転軸Ａと対向するように磁気ヘッドを左右方向に移動操
作する（Ｙ軸ステージ操作）。

【０１０６】方法２の場合は、最初に磁気ヘッド１２を
右回動方向か左回動方向に適当な移動量で移動操作させ
るよう、制御処理部６の制御部２９からヘッド位置制御
部５に磁気ヘッド１２を回動方向に移動させる命令を送
信する。

【０１０７】磁気ヘッド１２の移動命令を受けた制御処
理部６は、パルスコントロール部からヘッド操作部２の
移動ステージ（θＬＲ軸ゴニオステージ１６）に対して
移動方向と移動量、移動スピード等を設定したパルス信
号を送り、ステージを移動させ磁気ヘッド１２の当たり
角を変更させる。

【０１０８】この当たり角を変更させる時に、図７と図
８に示すように、磁気ヘッド１２を右回動方向または左
回動方向への移動に連動して、第２のギャップ部ｇ１が
突き出し方向に移動した分ｄ、または引き戻し方向に移
動した分ｄ（ｄ＝ＧＬｓｉｎθ１：ギャップ部ｇとギャ
ップ部ｇ１との距離差＝ＧＬ、回転変化角度＝θ１）だ
け、第１のギャップ部ｇを引き戻し、または突き出し方
向に移動させる。

【０１０９】すなわち、図７の例では、この当たり角を
変更させる時に、磁気ヘッド１２を引き戻し方向に移動
（図７のＸ１方向へ）して、第２のギャップｇ１をドラ
ム部１の基準ラインに位置決めする。また、図８の例で
は、この当たり角を変更させる時に、磁気ヘッド１２を
突き出し方向に移動（図８のＸ２方向へ）して、第２の
ギャップｇ１をドラム部１の基準ラインに位置決めす
る。これにより、第２のギャップ部ｇ１の位置が、Ｘ軸
方向に関して、すなわちドラム部１の基準ラインＬに関
して移動しないように、第２のギャップ部ｇ１の位置の
補正する（図１０のステップＳＴ５）。

【０１１０】この第１のギャップ部ｇのＸ軸方向への移
動は、図１の制御処理部６からヘッド操作部２の移動ス
テージ（Ｘ軸ステージ１５）に対して、移動方向と移動
量、移動スピード等を設定したパルス信号を送り、θＬ
Ｒ軸ゴニオステージ１６の移動に連動させてＸ軸ステー
ジ１５を移動させることにより、磁気ヘッド１２の第１
のギャップ部ｇ１の位置を変更させる。

【０１１１】図１の制御処理部６では、磁気ヘッド１２
の回動方向の移動方向と移動量、移動スピードから演算
部２８でＸ軸移動方向の移動方向と移動量、移動スピー
ドを演算し、ヘッド操作部２へ移動信号を送っている。

【０１１２】移動終了後、図１の電気信号処理部４によ
り磁気テープ１１から再生された再生信号は、再生アン
プ部２４で増幅して信号解析部２５で計測処理された
後、再生データとして制御処理部６へ送信される。ま
た、同様にヘッド操作部２の位置測定部１７で測定され
た磁気ヘッドの位置データを制御処理部６へ送信する。

【０１１３】図１の電気信号処理部４から送られる再生
出力データとヘッド操作部２から送られるヘッド位置デ
ータから、制御処理部６の演算部２８は、移動前の再生
出力データと移動後の再生出力データの変化量を算出す
る。そして、同様にして移動前のヘッド位置データと移
動後のヘッド位置データから、制御処理部６の演算部２
８は、ヘッドの移動量を算出する。

【０１１４】この制御処理部６の演算部２８で算出され
た再生出力データの変化量とヘッドの移動量を制御処理
部６の推論部２７に送り、次回のヘッドの移動量を推論
し、推論結果を演算部２８へ送信する。推論結果に受け
た演算部２８では前回の移動量と次回の移動量とを比較
し、移動先が最適当たり角になっているかどうかを評価
する。

【０１１５】演算部２８の推論結果から推論制御が終了
の評価が下されなかった場合、次回のヘッドの移動量を
制御部２９に送信し、再度移動推論操作が繰り返され
る。そして、図１０のステップ６に示すように、任意の
当たり角において移動操作と推論操作を繰り返し行い、
制御処理部６の演算部２８により推論制御を終了する操
作がなされた時（最適当たり角であると評価された
時）、その当たり角を最適当たり角と決定する。方法２
による最適当たり角の探索は、上記の一連の操作により
自動で探索操作される。

【０１１６】次に、図１０のステップＳＴ７に示すよう
に、先に決定した最適当たり角において、磁気ヘッド１
２を上下方向に移動操作して再生出力波形が最も大きく
なる高さ位置を探索し、最適高さ位置を決定する（Ｚ軸
ステージ１４操作）。最適高さ位置の探索は、最適当た
り角の探索と同様の操作でステージを上下方向に移動操
作しながら自動探索を行う。

【０１１７】さらに、図１０のステップＳＴ８に示すよ
うに、決定された最適当たり角と最適高さ位置におい
て、磁気ヘッド１２を突き出し方向、引き離し方向に移
動操作を行って再生出力波形が最も大きくなる突き出し
位置を探索し、最適突き出し位置を決定する（Ｘ軸ステ
ージ１５操作）。

【０１１８】最適突き出し位置の探索は、最適当たり角
の探索と同様の操作でステージを突き出し方向、引き離
し方向に移動操作しながら自動探索を行う。

【０１１９】以上のように決定した第２のギャップｇ１
に関する最適当たり角、最適高さ位置、最適突き出し位
置において、再生出力信号を計測し、この再生出力信号
に基づいて評価対象の磁気ヘッド１２の再生出力特性を
評価する。

【０１２０】以上説明したように、本発明の再生出力特
性評価装置を用いた再生出力特性評価方法１として、図
５と図６に示すように、従来のギャップ部ｇを回転中心
に回動移動する機構に、その機構内に測定目的とするダ
ブルアジマスヘッドの第２のギャップｇ１の位置を回転
中心ｆに移動できる機構を取り入れることで、回転中心
とギャップ部の位置ずれをなくし、従来の方法と全く同
様の操作で最適な当たり角を探索することが可能となる
ことを特徴とするものである。

【０１２１】また、本発明の再生出力特性評価装置を用
いた再生出力特性評価方法２としては、図７と図８に示
すように，従来のギャップ部ｇを回転中心ｆに一致させ
た状態で、測定目的とする第２のギャップ部ｇ１と回転
中心ｆとの距離ＧＬから、突き出しまたは引き戻し方向
へのギャップ部ｇ１の移動変化分ｄを回転移動角度θ
（ｄ＝ＧＬｓｉｎθ）から求める。

【０１２２】そして、回転機構系に連動させて突き出
し、引き戻し方向へＸ軸移動系を制御し、第１のギャッ
プ部ｇを移動変化分ｄだけＸ軸方向に移動させ、第２の
ギャップ部ｇ１の移動分を補正する方法である。

【０１２３】このことにより、方法２では、回動操作の
変化による再生出力の変化分から突き出しまたは引き戻
しによって発生する再生出力の変化分を排除し、磁気ヘ
ッドのギャップ位置角度の移動だけによる出力変化を取
り出すことが可能となり、最適な当たり角の探索が行え
ることを特徴とするものである。

【０１２４】一つのヘッドチップに二つのギャップが存
在するダブルアジマスヘッド等の磁気ヘッドの再生出力
特性を評価するに際し、測定対象とする第２のギャップ
部ｇ１を回転中心ｆに移動させた後、磁気ヘッド１２全
体の移動操作を磁気テープ１１に対して上下方向、左右
方向、突き出し方向、引き離し方向および磁気ヘッドの
ギャップ部を回転中心とする右回動方向、左回動方向の
それぞれを自動的に移動し、各移動毎に再生出力波形を
観測することによって行う。

【０１２５】この時、磁気ヘッドの移動変化量とその時
の再生出力波形の変化量を自動的に観測し、常に最適な
再生出力波形を観測できるように評価することで次の移
動方向および移動量を自動的に決定できる。

【０１２６】さらに、一つのヘッドチップに二つのギャ
ップが存在するダブルアジマスへッドの磁気ヘッドの再
生出力特性を評価するのに際し、第２のギャップ部ｇ１
が回転中心ｆからずれている場合には、磁気ヘッド全体
の移動操作を磁気テープに対して上下方向、左右方向、
突き出し方向、引き離し方向、移動ヘッドの測定対象ギ
ャップ部を右回動方向、左回動方向にそれぞれ自動的に
移動し、各移動毎に再生出力波形を観測することによっ
て行う。

【０１２７】方法２において、回転中心ｆと第２のギャ
ップ部ｇ１の位置ずれから回動運動によって起こる、測
定対象の第２のギャップｇ１の突き出し、および引き戻
し方向への移動ずれは回動運動の移動角度に連動して、
突き出し、および引き戻し方向へ、磁気ヘッドを移動す
ることで補正される。

【０１２８】この操作を自動的に確実に対して繰り返
し、最適な再生出力波形が観測できるまで評価を続ける
ことで、磁気ヘッドの最適な当たり位置の探索を自動的
に決定することが可能になり当たり出しの自動化が実現
できる。

【０１２９】また、磁気ヘッドの移動操作、測定、最適
位置の評価および判断を自動で行わせることで、人為的
ミスで起きやすい測定の個人差と任意性の排除、誤操作
による磁気テープの破損や磁気ヘッドの破壊等のトラブ
ルが防止される。

【０１３０】ところで、本発明は、上述の実施例に限定
されない。たとえば、図４に示すθ軸ゴニオステージの
他の実施例は、図２に示すθ軸ゴニオステージの実施例
とは、次の点が異なる。すなわち、θ軸ゴニオステージ
３１は、ステージ本体３２とレバー３４と取り付け部材
３３を有する。θ軸ステージ３１の回転中心ｆを中心と
する回転角θは、回転ドラム９の回転軸Ａと直交してい
る。

【０１３１】また、図１２に示した１つのギャップ部を
有するシングルアジマスヘッドの再生出力特性は、方法
１の前に説明したダブルアジマスヘッドの第１のギャッ
プ部ｇに関する再生出力特性評価方法と同じやり方で評
価できる。

【０１３２】ところで、最適高さ位置の決定と、最適突
き出し位置の決定の順序に関しては、最適突き出し位置
の決定を行った後に、最適高さ位置の決定を行うように
してもよい。

【０１３３】

【発明の効果】以上の説明からも明らかなよう、本発明
では、磁気ヘッドのチップに２つのギャップを持った、
ダブルアジマスヘッドに対する再生出力特性の評価を簡
易化できると共に、的確な信頼性の高い再生出力が得ら
れる。また、誤操作による磁気テープや磁気ヘッド等の
破損のトラブルも防止される。したがって、本発明によ
れば、磁気ヘッドの再生出力特性を正確に且つ効率良く
評価することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の再生出力特性評価を実施するための再
生出力特性評価装置の好ましい実施例を示す模式図であ
る。

【図２】図１の再生出力特性評価装置に搭載されるθ軸
ゴニオステージの好ましい実施例を示す模式図である。

【図３】磁気ヘッドの当たり出しに際する磁気ヘッドの
移動方向、回転方向を説明する模式図である。

【図４】図１の再生出力特性評価装置に搭載されるθ軸
ゴニオステージの他の例を示す模式図である。

【図５】本発明の再生出力特性評価方法１を説明するた
めに、ダブルアジマスヘッドの磁気ヘッドの第１のギャ
ップ部ｇと、ゴニオステージの回転中心ｆを一致させた
状態を示す図。

【図６】本発明の再生出力特性評価方法１を説明するた
めに、ダブルアジマスヘッドの磁気ヘッドの第２のギャ
ップ部ｇ１と、ゴニオステージの回転中心ｆを一致させ
た状態を示す図。

【図７】本発明の再生出力特性評価方法２を説明するた
めに、回転中心と測定対象である第２のギャップ部ｇ１
の距離の誤差から起こる第２のギャップ部ｇ１の位置ず
れと、その位置補正の例を示す模式図である。

【図８】本発明の再生出力特性評価方法２を説明するた
めに、回転中心と測定対象である第２のギャップ部ｇ１
の距離の誤差から起こる第２のギャップ部ｇ１の位置ず
れと、その位置補正の他の例を示す模式図である。

【図９】本発明の実施例における再生出力特性評価方法
の手順（方法１）を説明する図。

【図１０】本発明の実施例における再生出力特性評価方
法の別の手順（方法２）を説明する図。

【図１１】従来の磁気ヘッドの再生出力特性評価装置を
示す図。

【図１２】通常のシングルアジマスヘッドの磁気ヘッド
を示す図。

【図１３】通常のダブルアジマスヘッドの磁気ヘッドを
示す図。

【符号の説明】

１ ドラム部（回転部） ２ ヘッド操作部 ３ 記録信号発信部 ４ 電気信号処理部 ５ ヘッド位置制御部 ６ 制御処理部 ７ エアスピンドル本体 ８ スピンドルサーボ ９ 回転ドラム １０ 溝 １１ 磁気テープ １２ 磁気ヘッド １３ Ｙ軸ステージ １４ Ｚ軸ステージ １５ Ｘ軸ステージ １６ θ軸ゴニオステージ １７ 位置測定部 １８ レバー １９ θ軸ステージ本体 ２０ ヘッド取り付け部材 ２１ シグナルジェネレータ ２２ 記録アンプ ２３ 制御回路部 ２４ 再生アンプ部 ２５ 信号解析部 ２６ パルスコントロール部 ２７ 推論部 ２８ 演算部 ２９ 制御部 ｆ 回動中心（回転中心） ｇ 第１のギャップ部 ｇ１ 第２のギャップ部

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 回転体に配置された磁気テープに、磁気
   ヘッドの第１のギャップ部を接触させて、上記第１のギ
   ャップ部の当たり位置と当たり角を調整し、上記磁気テ
   ープの信号を再生することにより、上記第１のギャップ
   部に関する再生出力特性を得て、 次に、上記回転体に配置された上記磁気テープに、上記
   磁気ヘッドの第２のギャップ部を接触させて、上記第２
   のギャップ部の当たり位置と当たり角を調整した後、上
   記磁気テープの信号を再生することにより、上記第２の
   ギャップ部に関する再生出力特性を得ることを特徴とす
   る磁気ヘッドの再生出力特性評価方法。
2. 【請求項２】 前記第１のギャップ部を、前記当たり角
   の調整時の回転方向の中心に位置決めして、前記第１の
   ギャップ部に関する前記磁気テープの信号を再生して、 そして、前記第２のギャップ部を、上記回転方向の中心
   に位置決めして、前記第２のギャップ部に関する上記磁
   気テープの信号を再生する請求項１に記載の磁気ヘッド
   の再生出力特性評価方法。
3. 【請求項３】 前記磁気ヘッドの前記第１のギャップ部
   の回転に伴う前記第２のギャップ部の移動分を補正し
   て、前記第２のギャップ部に関する上記磁気テープの信
   号を再生する請求項１に記載の磁気ヘッドの再生出力特
   性評価方法。
4. 【請求項４】 磁気テープを巻き付けて回転する回転部
   と、 上記磁気テープに対する、磁気ヘッドが有する複数のギ
   ャップ部の内の１つのギャップ部を選択して、その選択
   した上記ギャップ部の当たり位置と当たり角を調整する
   ために、上記磁気ヘッドを移動するためのヘッド操作部
   と、 上記磁気テープに記録されている信号に基づく上記磁気
   ヘッドからの再生出力信号を、電気的に処理する信号処
   理部と、 上記ヘッド操作部に指令を与えて、上記磁気ヘッドの上
   記ギャップ部を、上記当たり角の調整時に用いられる回
   転方向の中心に位置決めするとともに、上記ギャップ部
   に関する上記再生出力信号に応じて、上記ヘッド操作部
   に指令を与えて、上記磁気テープに対する、上記磁気ヘ
   ッドの上記ギャップ部の当たり位置と当たり角を調整す
   るためのヘッド位置制御部と、を備えることを特徴とす
   る磁気ヘッドの再生出力特性評価装置。