JPH0786373A - Substrate attitude change equipment - Google Patents

Substrate attitude change equipment

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JPH0786373A
JPH0786373A JP5252544A JP25254493A JPH0786373A JP H0786373 A JPH0786373 A JP H0786373A JP 5252544 A JP5252544 A JP 5252544A JP 25254493 A JP25254493 A JP 25254493A JP H0786373 A JPH0786373 A JP H0786373A
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chuck
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posture
holding portion
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哲雄 小柳
Hiroshi Yamaguchi
弘 山口
Akira Ota
明 太田
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 大型の矩形もしくは正方形の基板を汚染度の
低いカセットレスで、かつ生産効率の高いバッチ式で行
うウエット処理技術を提供する。 【構成】 前工程からキャリアカセットに収容されて搬
入される矩形もしくは正方形の基板SBを、キャリアカ
セットから取り出してカセットレスで搬送処理するに際
し、姿勢変換装置2により、基板SBの隣接する直交2
辺SBa,SBbが傾斜下辺となるように姿勢変換する
ことにより、基板搬送装置5,7が、これら2つの傾斜
下辺SBa,SBbを吊持状に支持搬送することを可能
にする。これにより、簡単な構成で、矩形または正方形
の大型基板SBをカセットレスでなおかつバッチ式に処
理することができる。
(57) [Abstract] [Purpose] To provide a wet processing technique for carrying out a large rectangular or square substrate in a batch type with a low contamination degree and without a cassette and with high production efficiency. [Structure] When a rectangular or square substrate SB accommodated in a carrier cassette and carried in from the previous step is taken out of the carrier cassette and is transported without a cassette, the posture changing device 2 allows the adjacent substrates 2 to cross orthogonal to each other.
By changing the posture so that the sides SBa and SBb are inclined lower sides, it is possible for the substrate transfer devices 5 and 7 to support and convey these two inclined lower sides SBa and SBb in a suspended manner. As a result, with a simple configuration, a rectangular or square large substrate SB can be processed in a batch manner without using a cassette.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は基板の姿勢変換装置に
関し、さらに詳細には、液晶表示装置用ガラス基板、レ
チクル用あるいはフォトマスク用ガラス基板等の矩形も
しく正方形の薄板状基板をカセットレスでウェット処理
する基板ウェット処理装置において、基板の搬入位置ま
たは搬出位置に備えられ、基板を搬入・搬出姿勢と処理
姿勢との間で姿勢変換する技術に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a substrate posture changing device, and more particularly, it is a cassetteless thin or rectangular substrate such as a glass substrate for a liquid crystal display device or a glass substrate for a reticle or a photomask. The present invention relates to a technique for performing a wet process on a substrate, which is provided at a carry-in position or a carry-out position of a substrate and changes the posture of the substrate between a carry-in / carry-out posture and a processing posture.

【0002】[0002]

【従来の技術】家庭用薄形テレビやラップトップパソコ
ン等の画像表示に液晶表示装置が用いられていることは
知られている。液晶表示装置は電力消費が少ない、薄形
で場所をとらない等の理由から、壁掛けテレビやデスク
トップパソコン等への需要も高まり、それに伴い液晶表
示装置用ガラス基板も年々大型化される傾向にある。
2. Description of the Related Art It is known that a liquid crystal display device is used for displaying an image on a home-use thin television or a laptop personal computer. Liquid crystal display devices have low power consumption, are thin and do not occupy a lot of space, and therefore demand for wall-mounted TVs and desktop personal computers is increasing, and accordingly, glass substrates for liquid crystal display devices are also becoming larger year by year. .

【0003】ところで、これらガラス基板(以下、基板
と称する)や半導体ウェハ(以下、ウェハと称する)の
ウェット処理技術には、基板等を搬送用のキャリアカセ
ットに複数枚収容し一括して処理するカセットタイプの
ものと、基板等を基板搬送装置で直接保持して処理する
カセットレスタイプのものとがあり、さらにカセットレ
スタイプのものには、保持する基板等の枚数が一枚の枚
葉式のものと、複数枚のバッチ式のものとがある。
By the way, in the wet processing technique for these glass substrates (hereinafter, referred to as substrates) and semiconductor wafers (hereinafter, referred to as wafers), a plurality of substrates and the like are accommodated in a carrier cassette for transportation and collectively processed. There are a cassette type and a cassetteless type in which substrates are directly held and processed by a substrate transfer device, and the cassetteless type is a single-wafer type in which the number of substrates to be held is one. There are one and a batch type of multiple sheets.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】近時は、洗浄効率を高
めるとともに洗浄液の汚染を防止するためおよび生産効
率を上げるために、ウェハの場合は、カセットレスでバ
ッチ式のウエット処理が一般的になりつつあるが、一
方、基板の場合は、キャリアカセットを用いたバッチ式
か、カセットレスタイプの枚葉式かに限られており、ウ
ェハのような処理方法は採用されていなかった。
Recently, in order to improve the cleaning efficiency, prevent the contamination of the cleaning liquid, and improve the production efficiency, a batchless wet process without a cassette is generally used for wafers. However, in the case of a substrate, on the other hand, the substrate is limited to a batch type using a carrier cassette or a cassette-less type single-wafer type, and a processing method such as a wafer has not been adopted.

【0005】すなわち、ウェハの場合、その形状寸法は
現在8インチのもので直径約200mmの円形であり、
まだ基板搬送装置で直接チャッキング保持しやすい。こ
れに対して、基板の場合、その形状寸法は、上述したよ
うに年々大型化されて、近時では400×500mmの
大型矩形であることから、ウェハに比べて非常にチャッ
キングし難くしかも重いため、カセットレスでバッチ式
のウエット処理は不可能とされていた。
That is, in the case of a wafer, the shape and dimension of the wafer are currently 8 inches and are circular with a diameter of about 200 mm.
It is still easy to hold chucking directly on the substrate transfer device. On the other hand, in the case of a substrate, the shape and size thereof are becoming larger year by year as described above, and recently, since it is a large rectangle of 400 × 500 mm, it is much more difficult to chuck and heavier than a wafer. For this reason, it has been considered impossible to perform batch type wet processing without a cassette.

【0006】しかしながら、上記キャリアカセットを用
いたウェット処理においては、上記基板の大型化に伴い
キャリアカセットも大型化しており、何槽もの薬液槽を
経てウエット処理する間に、キャリアカセット内に薬液
がかなり付着して残っているため薬液の持ち出しが多く
て、薬液を繰り返し補充しなければならなく不経済であ
った。
However, in the wet processing using the above carrier cassette, the size of the carrier cassette is also increasing with the increase in size of the substrate, and during the wet processing after passing through many chemical solution tanks, the chemical solution remains in the carrier cassette. Since much of the drug solution remained attached, the drug solution was often taken out, and it was uneconomical to repeatedly replenish the drug solution.

【0007】また、キャリアカセットを用いて長い間何
回も薬液処理していると、経時的にキャリアカセットに
薬液が染み込んでおり、今度はそれが洗浄用純水中に染
み出して、洗浄用純水を汚染する等処理工程に悪影響を
与えてしまう。さらに、このような悪影響を未然に防止
するためには、キャリアカセットを比較的短い周期で廃
棄・交換しなければならないところ、キャリアカセット
は高価であるため、ランニングコストの大幅増大を招い
て非常に不経済であった。
Also, when the chemical solution is treated many times for a long time using the carrier cassette, the chemical solution permeates into the carrier cassette over time, and this time, the chemical solution permeates into the pure water for cleaning and is used for cleaning. It adversely affects the treatment process such as polluting pure water. Furthermore, in order to prevent such adverse effects, the carrier cassette must be discarded / replaced in a relatively short cycle, but the carrier cassette is expensive, which greatly increases the running cost and greatly increases. It was uneconomical.

【0008】一方、カセットレスタイプの枚葉式ウェッ
ト処理においては、ローダ装置によりキャリアカセット
から基板を一枚ずつ抜き出し、ゴムベルトにより水平状
態で搬送し、その間薬液シャワーをかけて処理する方式
のものや、特開昭64−37016号に開示されている
ように、L字形あるいはV字形の基板保持具に一枚の基
板を保持し、この基板保持具を搬送手段で搬送処理する
方式のものがあるが、いずれのものにおいても次のよう
な問題があった。
On the other hand, in the cassetteless type single-wafer wet processing, a method is used in which substrates are taken out one by one from a carrier cassette by a loader device, conveyed by a rubber belt in a horizontal state, and a chemical shower is applied during the process. As disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 64-37016, there is a system in which one substrate is held by an L-shaped or V-shaped substrate holder and the substrate holder is transported by a transport means. However, all of them had the following problems.

【0009】つまり、前者においては、ゴムベルトと基
板との接触により汚染が発生し、十分なウエット処理効
果が得られないばかりか、平面積の大きい基板を水平に
移動するため、装置の大型化を招いていた。また、後者
においては、上述したキャリアカセットの場合と同様、
基板保持具による薬液の持ち出しや、薬液の染み込み、
染み出しによる汚染の問題や、基板をL字形あるいはV
字形の基板保持具によって支えるため、基板の対角線が
水平状態に近くなり、したがって保持治具が大きくなり
装置の大型化を招くとともに、枚葉式のため生産効率が
悪い等の問題があった。
That is, in the former case, the contact between the rubber belt and the substrate causes contamination, and not only a sufficient wet treatment effect cannot be obtained, but also the substrate having a large plane area is horizontally moved, so that the size of the apparatus is increased. I was invited. Also, in the latter, as in the case of the above-mentioned carrier cassette,
Taking out the chemical solution with the substrate holder, soaking the chemical solution,
The problem of contamination due to exudation, L-shaped or V-shaped substrate
Since the substrate is supported by the letter-shaped substrate holder, the diagonal line of the substrate becomes nearly horizontal, and thus the holding jig becomes large, leading to an increase in the size of the apparatus, and there is a problem that the production efficiency is poor due to the single-wafer type.

【0010】本発明はかかる従来の問題点に鑑みてなさ
れたもので、その目的とするところは、基板の被処理面
が垂直にされかつその下辺が水平からわずかに傾斜する
姿勢で基板を支持することにより、大型の基板を汚染度
の低いカセットレスで、なおかつ生産効率の高いバッチ
式でウエット処理する装置において、基板をその搬入・
搬出姿勢と処理姿勢との間で姿勢変換する姿勢変換装置
の提供にある。
The present invention has been made in view of the above conventional problems, and an object thereof is to support a substrate in a posture in which the surface to be processed of the substrate is vertical and its lower side is slightly inclined from the horizontal. This allows large substrates to be loaded and unloaded in a batch-type wet processing system with high contamination efficiency and high production efficiency with low contamination level.
An object of the present invention is to provide an attitude conversion device that converts the attitude between the carry-out attitude and the processing attitude.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、本発明の姿勢変換装置は、矩形もしくは正方形の基
板をカセットレスでウェット処理するに際して、基板搬
送処理装置が、上記基板をその隣接する2辺を傾斜下辺
となるよう傾斜した状態で、これら両傾斜2辺を吊持ち
支持する処理姿勢をとる基板ウェット処理装置に備えら
れるものであって、上記基板を同一姿勢で複数枚まとめ
て収容する基板保持部と、この基板保持部に収容された
基板が上記処理姿勢になるように基板保持部を回動操作
する回動部とを備えてなり、上記基板保持部は、上記各
基板の周縁部表裏面を開閉可能にチャッキング支持する
複数のチャック爪を有するチャック手段を備え、このチ
ャック手段のチャック爪は、上記基板の出入動作時にお
いて開放状態にあるとともに、上記基板保持部の回動操
作時において閉止状態にあるように駆動制御されること
を特徴とする。
In order to achieve this object, in a posture changing apparatus of the present invention, when a rectangular or square substrate is wet-processed without a cassette, the substrate transfer processing device adjoins the substrate adjacent thereto. A substrate wet processing apparatus having a processing posture of suspending and supporting the two inclined sides with the two sides being inclined lower sides is provided, and a plurality of the substrates are collectively housed in the same posture. And a rotation unit that rotates the substrate holding unit so that the substrate accommodated in the substrate holding unit is in the processing posture. The substrate holding unit is configured to rotate the substrate holding unit. A chuck means having a plurality of chuck claws for chuckingly supporting the front and rear surfaces of the peripheral edge portion in an openable and closable manner is provided. Both characterized in that it is driven and controlled to be in the closed state during the rotating operation of the substrate holder.

【0012】ここに、チャッキング支持とは、基板の出
し入れが可能な程度の隙間を有する状態も含み、以下本
明細書中において同様とする。
[0012] Here, the chucking support includes a state in which there is a gap that allows the substrate to be taken in and out, and the same applies hereinafter in this specification.

【0013】[0013]

【作用】本発明においては、矩形または正方形の基板を
ウエット処理するに際し、基板の隣接する2辺が傾斜下
辺となるように姿勢変換することにより、基板搬送装置
がこれら2つの傾斜下辺を吊持状に保持することを可能
として、特に大型の矩形または正方形の基板をカセット
レスでなおかつバッチ式に処理することが可能となる。
In the present invention, when the rectangular or square substrate is wet-processed, the posture is changed so that the two adjacent sides of the substrate are inclined lower sides, so that the substrate transfer apparatus suspends these two inclined lower sides. It is possible to hold the substrate in a rectangular shape or a square shape, and it is possible to process a large-sized rectangular or square substrate in a batch method without using a cassette.

【0014】[0014]

【実施例】以下、本発明の実施例を、図面に基づいて詳
細に説明する。
Embodiments of the present invention will now be described in detail with reference to the drawings.

【0015】実施例1 本発明に係る基板ウエット処理装置を図1〜図3に示
し、この基板ウエット処理装置は、複数枚(本例におい
ては20枚)の基板SB,SB,… をカセットレスで
一括して行うバッチ式のものであって、図2に示すよう
に、基板搬入部L、搬入側移載部A、ウエット処理部
B、搬出側移載部C、基板搬出部U、カセット搬送部D
および制御装置Eを主要部として備えてなり、上記搬入
側移載部Aと搬出側移載部Cに本発明の姿勢変換装置2
が配されている。以下、各構成部ごとに順次説明する。
Embodiment 1 A substrate wet processing apparatus according to the present invention is shown in FIGS. 1 to 3, and this substrate wet processing apparatus uses a plurality of (in this example, 20) substrates SB, SB, ... 2, which is a batch system for collectively carrying out the substrate loading section L, the loading side transfer section A, the wet processing section B, the unloading side transfer section C, the substrate unloading section U, and the cassette. Transport section D
And a control device E as a main part, and the posture conversion device 2 of the present invention is provided in the carry-in side transfer part A and the carry-out side transfer part C.
Are arranged. Hereinafter, each component will be sequentially described.

【0016】I.基板搬入部L:基板搬入部Lは、基板
SB,SB,…が前工程から搬入される部位で、ウエッ
ト処理部Bの搬入側に配置され、タクト送り機構(図示
省略)を備える。前工程から搬入されてくる基板入りキ
ャリアカセットCCは、上記タクト送り機構により矢符
(1) の方向へ所定間隔をもってタクト送りされる。この
際基板SBは水平状態(倒伏状態)に保持されている。
I. Substrate carry-in section L: The substrate carry-in section L is a part where the substrates SB, SB, ... Are carried in from the previous step, is arranged on the carry-in side of the wet processing section B, and is provided with a tact feed mechanism (not shown). The substrate-containing carrier cassette CC carried in from the previous process is indicated by the arrow mark by the tact feeding mechanism.
Tact is fed in the direction of (1) at a predetermined interval. At this time, the substrate SB is held in a horizontal state (falling state).

【0017】II.移載部A,C:搬入側および搬出側移
載部A,Cは、それぞれ移載ロボット1と姿勢変換装置
2を備えてなる。
II. Transfer section A, C: The carry-in side and carry-out side transfer section A, C respectively include a transfer robot 1 and a posture conversion device 2.

【0018】移載ロボット1は、キャリアカセットCC
の基板SBを姿勢変換装置2に移し替えるもので、図4
に示すように、基板SBをハンドリングする移替えハン
ド1aを備える。この移替えハンド1aは、ロボット本
体1bの上側に、支軸1cを介して昇降可能かつ回転可
能に設けられるとともに、ロボット本体1b内部の駆動
源(図示省略)に連係されている。移替えハンド1aの
先端部には、基板SBを吸着チャッキングする吸引プレ
ート1dを備えており、この吸引プレート1dは図示し
ない真空ポンプ等の負圧源に連通されている。
The transfer robot 1 has a carrier cassette CC.
4 to transfer the substrate SB of FIG.
As shown in FIG. 3, a transfer hand 1a for handling the substrate SB is provided. The transfer hand 1a is provided on the upper side of the robot body 1b so as to be movable up and down and rotatable via a support shaft 1c, and is linked to a drive source (not shown) inside the robot body 1b. A suction plate 1d for suction-chucking the substrate SB is provided at the tip of the transfer hand 1a, and the suction plate 1d is connected to a negative pressure source such as a vacuum pump (not shown).

【0019】そして、吸引プレート1dは、キャリアカ
セットCCに収容されている基板SB,SB,…を一枚
ずつ水平状態で抜き取り、水平方向へ所定角度(図示例
においては175°)だけ回転させた後、水平保持状態
にある姿勢変換装置2に挿入して移し替える(矢符(2)
参照)。この場合、移替えハンド1aは基板SBを1枚
移し替えるたびに垂直方向(上方向または下方向)へ1
ピッチ分だけ昇降動作してから、上記と同様の動作を順
次繰り返して、20枚の基板SB,SB,…すべてをキ
ャリアカセットCCから姿勢変換装置2へ移し替えるよ
うに駆動制御される。
The suction plate 1d extracts the substrates SB, SB, ... Stored in the carrier cassette CC one by one in a horizontal state, and rotates them horizontally by a predetermined angle (175 ° in the illustrated example). After that, insert it into the posture changing device 2 in the horizontal holding state and transfer it (arrow (2)
reference). In this case, the transfer hand 1a moves vertically 1 (upward or downward) every time one substrate SB is transferred.
After the ascending / descending operation by the pitch, the same operation as described above is sequentially repeated to drive and control all 20 substrates SB, SB, ... From the carrier cassette CC to the posture changing device 2.

【0020】姿勢変換装置2は、具体的には図4〜図6
に示すように、基板SBを収容保持する基板保持部2A
と、この基板保持部2Aを回動操作する回動部2Bとを
主要部として構成されている。
The posture changing device 2 is specifically shown in FIGS.
As shown in FIG. 2, a substrate holding portion 2A that holds and holds the substrate SB
And a rotating part 2B for rotating the substrate holding part 2A.

【0021】基板保持部2Aは上記基板SBを同一姿勢
で複数枚まとめて収容するもので、保持部本体201と
開閉部202とからなり、後述するように、支軸24
0,241を介して回動部2Bに上下方向へ回動可能に
装着されている。
The substrate holder 2A is a unit for accommodating a plurality of the substrates SB in the same posture, and is composed of a holder main body 201 and an opening / closing unit 202.
It is attached to the rotating portion 2B via 0, 241 so as to be vertically rotatable.

【0022】上記保持部本体201は、各基板SBの隣
接する2辺SBa,SBbを保持するもので、その内周
部にチャック部(チャック手段)205を備えてなる。
The holding part main body 201 holds two adjacent sides SBa and SBb of each substrate SB, and is provided with a chuck part (chuck means) 205 on the inner peripheral part thereof.

【0023】このチャック部205は、上記各基板SB
の周縁部つまり上記2辺SBa,SBb縁部の表裏面を
開閉可能にチャッキング支持する複数のチャック爪M,
M,…を有し、これらチャック爪M,M,…は、保持部
本体201の内周に沿って配設された固定側チャック部
材206と可動側チャック部材207とから構成されて
いる。
The chuck portion 205 is formed on each of the substrates SB.
A plurality of chuck claws M for chucking and supporting the front and back surfaces of the peripheral portion, that is, the edge portions of the two sides SBa and SBb.
, And these chuck claws M, M, ... Are composed of a fixed-side chuck member 206 and a movable-side chuck member 207 that are arranged along the inner circumference of the holding unit main body 201.

【0024】固定側チャック部材206は、図5および
図6に示すように、上記保持部本体201の内周に基板
配列方向へ延びて固設されるとともに、その内側部に、
基板保持溝M1 が上下方向つまり上記基板配列方向へ、
同一の基板配列ピッチをもって複数形成されている。各
基板保持溝M1 は、図7に示すような側面形状を有し、
その幅寸法が基板SBの厚さ寸法よりも幅広に設定され
ている。なお、図7において、210および211はそ
れぞれ、上記保持部本体201を構成するフレームプレ
ートおよび補強プレートを、また212は固定側チャッ
ク部材206の取付け用スペーサを示している。
As shown in FIGS. 5 and 6, the fixed-side chuck member 206 is fixedly provided on the inner periphery of the holding portion main body 201 so as to extend in the substrate arranging direction and is fixed to the inner portion thereof.
When the substrate holding groove M 1 is in the vertical direction, that is, in the substrate arrangement direction
A plurality of substrates are formed with the same substrate arrangement pitch. Each substrate holding groove M 1 has a side surface shape as shown in FIG.
The width dimension is set wider than the thickness dimension of the substrate SB. In FIG. 7, reference numerals 210 and 211 respectively denote a frame plate and a reinforcing plate constituting the holding portion main body 201, and 212 denotes a spacer for mounting the fixed side chuck member 206.

【0025】可動側チャック部材207は、図5および
図6に示すように、上記保持部本体201の内周におい
て固定側チャック部材206に隣接して、かつこの固定
側チャック部材206と平行につまり基板配列方向へ延
びて設けられている。また、可動側チャック部材207
の内側にも、基板保持溝M2 が上下方向(基板配列方
向)へ、同一の基板配列ピッチをもって複数形成されて
いる。各基板保持溝M2は、図8に示すような側面形状
を有し、その幅寸法が上記基板保持溝M1 同様、基板S
Bの厚さ寸法よりも幅広に設定されている。
As shown in FIGS. 5 and 6, the movable side chuck member 207 is adjacent to the fixed side chuck member 206 on the inner periphery of the holding part main body 201 and is parallel to the fixed side chuck member 206. It is provided so as to extend in the substrate arrangement direction. In addition, the movable side chuck member 207
Inside the substrate, a plurality of substrate holding grooves M 2 are formed in the vertical direction (substrate arrangement direction) with the same substrate arrangement pitch. Each substrate holding groove M 2 has a side shape as shown in FIG. 8, and its width dimension is the same as that of the substrate holding groove M 1 described above.
It is set wider than the thickness dimension of B.

【0026】上記可動側チャック部材207の具体的な
取付け構造は、図8に示すように、上記フレームプレー
ト210に、支持体215が取付け用スペーサ216を
介して取り付けられ、この支持体215に、可動側チャ
ック部材207の案内ロッド217が、リニアボールベ
アリング218を介して上下方向(基板配列方向)へ移
動可能に支持されている。
As shown in FIG. 8, a specific mounting structure for the movable chuck member 207 is such that a support 215 is mounted on the frame plate 210 via a mounting spacer 216, and the support 215 is mounted on the support 215. A guide rod 217 of the movable chuck member 207 is supported via a linear ball bearing 218 so as to be movable in the up-down direction (substrate arrangement direction).

【0027】また、上記支持体215の下端には、エア
シリンダ(駆動部)219が下向きに設けられており、
そのピストンロッド219aが連結ブラケット220を
介して上記可動側チャック部材207の下端に連結され
ている。そして、ピストンロッド219aの突出退入動
作により、可動側チャック部材207は上下方向つまり
基板配列方向へ往復移動可能とされている。
An air cylinder (driving section) 219 is provided downward at the lower end of the support 215,
The piston rod 219a is connected to the lower end of the movable chuck member 207 via a connecting bracket 220. Then, the movable-side chuck member 207 can reciprocate in the vertical direction, that is, the substrate arrangement direction by the projecting / retracting operation of the piston rod 219a.

【0028】これに関連して、上記フレームプレート2
10の上端には、図9に示すような位置検出センサ22
1,222が上下に二つ設けられており、これらが可動
側チャック部材207のセンシングプレート223をそ
れぞれ検出して、可動側チャック部材207の往復動ス
トローク(図8の実線位置と二点鎖線位置との距離)を
規定するように上記エアシリンダ219を駆動制御す
る。
In connection with this, the frame plate 2
The position detection sensor 22 as shown in FIG.
Two upper and lower two are provided, which detect the sensing plate 223 of the movable side chuck member 207, respectively, and reciprocate stroke of the movable side chuck member 207 (solid line position and chain double-dashed line position in FIG. 8). The air cylinder 219 is drive-controlled so as to define the distance between the air cylinder 219 and

【0029】上記両チャック部材206,207,…
は、図10に示すように、相互に対応して配列されてお
り、これら両者の基板保持溝M1 ,M2 ,…の対応する
組が上記各チャック爪Mを構成している。
Both of the chuck members 206, 207, ...
10, they are arranged corresponding to each other, and a corresponding set of the substrate holding grooves M 1 , M 2 , ... Of these two constitutes each chuck claw M.

【0030】すなわち、基板SB,SB,…の出入動作
時においては、可動側チャック部材207の基板保持溝
2 がストローク上昇位置(図8の実線位置)にある。
これにより、両基板保持溝M1 ,M2 は、図10(a) に
示すように、その下面225,226がいずれも同一高
さ位置にあって、チャック爪Mは開放状態にあり、基板
SBの周縁は基板保持溝M1 ,M2 の下面225,22
6に載置支持される。この場合、固定側チャック部材2
06の基板保持溝M1 の底面227は、図示のような傾
斜面とされており、後述するように、基板SB周縁の位
置決め部として機能する。
That is, when the substrates SB, SB, ... Are in and out, the substrate holding groove M 2 of the movable chuck member 207 is at the stroke rising position (solid line position in FIG. 8).
As a result, the lower surfaces 225 and 226 of both the substrate holding grooves M 1 and M 2 are at the same height position as shown in FIG. 10 (a), and the chuck claws M are in the open state. The peripheral edges of SB are the lower surfaces 225, 22 of the substrate holding grooves M 1 , M 2 .
6 is mounted and supported. In this case, the fixed side chuck member 2
The bottom surface 227 of the substrate holding groove M 1 of 06 is an inclined surface as shown in the drawing, and functions as a positioning portion for the peripheral edge of the substrate SB, as will be described later.

【0031】一方、基板保持部2Aの回動操作時におい
ては、可動側チャック部材207の基板保持溝M2 がス
トローク下降位置(図8の二点鎖線位置)にある。これ
により、両基板保持溝M1 ,M2 ,…は、図10(b) に
示すように、基板保持溝M2の上面228が基板保持溝
1 の下面225に対して接近して、チャック爪Mが閉
止状態にあり、基板SBの周縁は上記下面225と上面
228の最底部でチャッキング支持される。この場合、
チャック爪Mの最底部におけるチャッキング幅は、基板
SBの周縁を挟持状にまたは小さな隙間をもって支持す
るように設定ており、これによりチャック爪Mに対する
基板SBの出し入れが可能とされている。
On the other hand, when the substrate holding portion 2A is rotated, the substrate holding groove M 2 of the movable chuck member 207 is at the stroke lowering position (the position indicated by the chain double-dashed line in FIG. 8). Thus, both the substrate holding groove M 1, M 2, ..., as shown in FIG. 10 (b), the upper surface 228 of the substrate holding groove M 2 is close to the lower surface 225 of the substrate holding groove M 1, The chuck claw M is in a closed state, and the peripheral edge of the substrate SB is chucked and supported by the bottom of the lower surface 225 and the upper surface 228. in this case,
The chucking width at the bottom of the chuck claw M is set so as to support the peripheral edge of the substrate SB in a sandwiched manner or with a small gap, whereby the substrate SB can be taken in and out of the chuck claw M.

【0032】また、これらチャック部205のチャック
爪M,M,…の支持面は、図4に示すように、フレーム
プレート210の内周面(側面210a,底面210
b)に対して、それぞれ傾斜して延びる直線状断面輪郭
を有している。これにより、これらチャック爪M,M,
…に保持される各基板SBは、基板保持部2Aの回動軸
線に直交する直線、つまりフレームプレート210の側
面210aに平行な線に対して若干傾斜した状態(本例
では5°傾斜)で保持される。
Further, the supporting surfaces of the chuck claws M, M, ... Of these chuck portions 205 are, as shown in FIG. 4, inner peripheral surfaces (side surface 210a, bottom surface 210) of the frame plate 210.
With respect to b), each has a linear cross-sectional profile that extends obliquely. As a result, these chuck claws M, M,
Each substrate SB held by ... is slightly inclined (5 ° in this example) with respect to a straight line orthogonal to the rotation axis of the substrate holding portion 2A, that is, a line parallel to the side surface 210a of the frame plate 210. Retained.

【0033】この結果、後述するように、基板保持部2
Aが、基板SBの被処理面が垂直状態(垂直保持状態位
置)になるよう姿勢変換されたとき(図5の二点鎖線G
参照)、その隣接する直交2辺SBa,SBbが傾斜下
辺となる処理姿勢が得られる(図11参照)。
As a result, as will be described later, the substrate holder 2
When the posture of A is changed so that the surface to be processed of the substrate SB is in the vertical state (vertical holding state position) (two-dot chain line G in FIG. 5).
(See FIG. 11), the processing posture in which the adjacent two orthogonal sides SBa and SBb are inclined lower sides is obtained (see FIG. 11).

【0034】上記開閉部202は、上記基板SBの他の
1辺SBcを開放可能に保持するもので、上記固定側チ
ャック部材206と同一構造の開閉チャック部材230
を主要部として備えてなり、この開閉チャック部材23
0が上記保持部本体201に対して開閉可能に設けられ
ている。
The opening / closing section 202 holds the other side SBc of the substrate SB in an openable manner, and has the same structure as the fixed side chuck member 206.
This opening / closing chuck member 23 is equipped with
0 is provided so as to be openable and closable with respect to the holding unit main body 201.

【0035】上記開閉チャック部材230は、上下一対
の保持プレート231,231の先端に取付け固定され
ており、これら両保持プレート231,231の基端
は、連結プレート232を介して一対のスライドシャフ
ト233,233の先端に固定されている。
The open / close chuck member 230 is attached and fixed to the tips of a pair of upper and lower holding plates 231 and 231. The base ends of these holding plates 231 and 231 are paired with a pair of slide shafts 233 via a connecting plate 232. , 233 are fixed to the tips.

【0036】これらスライドシャフト233,233
は、上記フレームプレート210に固設された一対のス
ライドガイド234,234に、矢符(9)方向へ案内
支持されている。これに関連して、上記連結プレート2
32の先端部が二又状とされて、上記フレームプレート
210の凹部235,235に交差状に挿通されてお
り、矢符(9)方向への移動が許容されている(図4お
よび図6参照)。
These slide shafts 233 and 233
Are guided and supported in the direction of the arrow (9) by a pair of slide guides 234 and 234 fixed to the frame plate 210. In this connection, the connecting plate 2
The tip end of 32 has a bifurcated shape and is inserted in the recesses 235 and 235 of the frame plate 210 in an intersecting manner, and is allowed to move in the arrow (9) direction (FIGS. 4 and 6). reference).

【0037】また、上記スライドガイド234,234
間のフレームプレート210上には、エアシリンダ23
6が取付けられており、そのピストンロッドが上記連結
プレート232に連結されている(図示省略)。
The slide guides 234 and 234 are also provided.
On the frame plate 210 between the air cylinder 23
6 is attached, and its piston rod is connected to the connecting plate 232 (not shown).

【0038】そして、このエアシリンダ236のピスト
ンロッドの突出退入動作により、上記開閉チャック部材
230が駆動して(矢符(9) 方向)、保持部本体201
のチャック部205に保持される各基板SBの他の一辺
SBcを保持あるいは開放する。なお、開閉チャック部
材230の支持面は、上記チャック部205のチャック
爪M,M,…の支持面と同様、各基板SBを前記傾斜状
態で保持するように形成されている。
Then, the opening / closing chuck member 230 is driven (in the direction of the arrow (9)) by the projecting / withdrawing operation of the piston rod of the air cylinder 236, and the holding portion main body 201.
The other side SBc of each substrate SB held by the chuck unit 205 is held or released. The support surface of the opening / closing chuck member 230 is formed so as to hold each substrate SB in the inclined state, like the support surface of the chuck claws M, M, ... Of the chuck portion 205.

【0039】回動部2Bは、基板保持部2Aに収容され
た基板SB,SB,…が上記処理姿勢になるように基板
保持部2Aを回動操作するもので、図5および図6に示
すように、基板保持部2Aを回動する回動軸241と、
この回動軸241を回転駆動する駆動部242と、保持
手段2Aの回動範囲を規定する位置決め部243とを主
要部として備えてなる。
The rotating portion 2B is for rotating the substrate holding portion 2A so that the substrates SB, SB, ... Stored in the substrate holding portion 2A are in the processing posture described above, and is shown in FIGS. So as to rotate the substrate holding portion 2A,
A drive unit 242 that rotationally drives the rotation shaft 241 and a positioning unit 243 that defines the rotation range of the holding unit 2A are provided as main components.

【0040】回動軸241は、固定的に設けられた垂直
コラム245上に回転可能に軸支されるとともに、その
先端に上記基板保持部2Aのフレームプレート210が
固設されている。上記垂直コラム245は、具体的に
は、装置本体に固設された支持ベース246上に起立状
に設けられており、その上端部に固定された軸受ブラケ
ット247上に、回動シャフト240が回転可能に軸支
されている。
The rotating shaft 241 is rotatably supported on a vertically provided vertical column 245, and the frame plate 210 of the substrate holding portion 2A is fixedly mounted on the tip thereof. Specifically, the vertical column 245 is provided in an upright state on a support base 246 fixed to the main body of the apparatus, and the rotary shaft 240 is rotated on a bearing bracket 247 fixed to the upper end portion thereof. It is pivotally supported.

【0041】これに関連して、上記垂直コラム245と
対になる垂直コラム248が上記支持ベース246上に
起立状に設けられており、その上端部に前記支軸240
が上記回動軸241と同軸状に軸支されている。そし
て、この支軸240にも上記フレームプレート210が
固設され、これら両軸240,241により、基板保持
部2Aが上下方向へ回動可能に両端支持されている。
In this connection, a vertical column 248 which is paired with the vertical column 245 is provided on the support base 246 in an upright state, and the spindle 240 is provided at the upper end thereof.
Are supported coaxially with the rotating shaft 241. The frame plate 210 is fixedly mounted on the support shaft 240, and the both ends of the substrate holding portion 2A are supported by the shafts 240 and 241 so as to be vertically rotatable.

【0042】駆動部242は、回動アーム250とこれ
を駆動するエアシリンダ251とからなり、上記回動ア
ーム250は、その基端部が上記回動軸241の外端部
に連結固定されるとともに(図4参照)、その先端部が
連結棒252を介してエアシリンダ251に連結されて
いる。
The driving portion 242 comprises a rotating arm 250 and an air cylinder 251 for driving the rotating arm 250. The rotating arm 250 has its base end portion connected and fixed to the outer end portion of the rotating shaft 241. At the same time (see FIG. 4), its tip is connected to the air cylinder 251 via a connecting rod 252.

【0043】このエアシリンダ251は、その基端が取
付けブラケット253を介して垂直コラム245に枢支
されるとともに、ピストンロッド251aが上記連結棒
252を介して回動アーム250の先端に回動可能に連
結されており、このピストンロッド251aの突出退入
動作により、上記回動アーム250を介して、回動軸2
41さらには基板保持部2Aが上下方向へ回動される。
The base end of the air cylinder 251 is pivotally supported by the vertical column 245 via a mounting bracket 253, and the piston rod 251a is pivotable to the tip of the pivot arm 250 via the connecting rod 252. When the piston rod 251a is projected and retracted, the rotation shaft 2 is rotated through the rotation arm 250.
41 Further, the substrate holder 2A is rotated in the vertical direction.

【0044】位置決め部243は、水平状態位置決め部
255と垂直状態位置決め部256とからなる。水平状
態位置決め部255は、固定側つまり上記両垂直コラム
245,248に設けられた水平状態位置決めストッパ
255a,255aと、可動側フレームプレート210
に設けられたストッパ部材255b,255bとからな
り、これらが相互に当接して、基板保持部2Aの水平保
持状態位置(図5の実線位置)が規定される。
The positioning section 243 comprises a horizontal positioning section 255 and a vertical positioning section 256. The horizontal positioning portion 255 includes horizontal positioning stoppers 255a and 255a provided on the fixed side, that is, the vertical columns 245 and 248, and the movable frame plate 210.
And stopper members 255b and 255b provided on the substrate holding member 255a, which are in contact with each other to define the horizontal holding state position (solid line position in FIG. 5) of the substrate holding unit 2A.

【0045】一方、垂直状態位置決め部256も、上記
と同様、上記両垂直コラム245,248に設けられた
垂直状態位置決めストッパ256a,256aと、フレ
ームプレート210に設けられたストッパ部材256
b,256bとからなり、これらが相互に当接して、基
板保持部2Aの垂直保持状態位置(図5の二点鎖線G位
置)が規定される。
On the other hand, in the vertical state positioning portion 256, the vertical state positioning stoppers 256a and 256a provided on the both vertical columns 245 and 248 and the stopper member 256 provided on the frame plate 210 are also the same as above.
b and 256b, which are in contact with each other to define the vertical holding state position of the substrate holding portion 2A (position of the chain double-dashed line G in FIG. 5).

【0046】なお、上記水平状態位置決めストッパ25
5aおよび垂直状態位置決めストッパ256aのいずれ
も、ショックアブソーバとしての機能を内蔵している。
The above horizontal positioning stopper 25
Both 5a and the vertical state positioning stopper 256a have a built-in function as a shock absorber.

【0047】しかして、以上のように構成された搬入側
移載部Aにおいて、キャリアカセットCCに水平状態
(倒伏状態)で収容されてタクト送りされてくる基板S
B,SB,…は、前述したように、移載ロボット1によ
り一枚ずつ抜き取られて、水平保持状態にある姿勢変換
装置2の基板保持部2A内に同一姿勢で移載される。
In the carrying-in side transfer section A having the above-described structure, the substrate S is accommodated in the carrier cassette CC in a horizontal state (falling state) and tact-fed.
As described above, B, SB, ... Are picked up one by one by the transfer robot 1 and transferred in the same posture in the substrate holding section 2A of the posture changing device 2 in the horizontal holding state.

【0048】この場合、保持部本体201のチャック爪
Mは開放状態(図10(a) 参照)にあるとともに、開閉
部202の開閉チャック部材230は閉じた状態(図4
参照)にある。したがって、水平状態にある基板SB
は、その自重によりある程度撓んだ状態でチャック爪M
間に挿入されることになるが、チャック爪Mが開放状態
にあることから、基板SBはチャック爪との間で擦れる
ことなく、開閉チャック部材230の基板保持溝M1
チャック爪M間に円滑に挿入されて、その3辺SBa,
SBb,SBcが載置上に支持される。
In this case, the chuck jaws M of the holding part main body 201 are in the open state (see FIG. 10A), and the open / close chuck member 230 of the open / close part 202 is in the closed state (FIG. 4).
See). Therefore, the substrate SB in the horizontal state
Is the chuck claw M when it is bent to some extent by its own weight.
However, since the chuck claw M is in the open state, the substrate SB does not rub against the chuck claw and is not rubbed between the substrate holding groove M 1 of the open / close chuck member 230 and the chuck claw M. Inserted smoothly, its 3 sides SBa,
SBb and SBc are supported on the mounting.

【0049】また、固定側チャック部材206と開閉チ
ャック部材230における基板保持溝M1 の底面227
は、基板SB周縁つまり3辺SBa,SBb,SBcの
位置決め部として作用し、移載ロボット1から移載され
た基板SBを所定の位置に位置決め載置する。
Further, the bottom surface 227 of the substrate holding groove M 1 in the fixed side chuck member 206 and the open / close chuck member 230.
Acts as a positioning portion for the peripheral edge of the substrate SB, that is, the three sides SBa, SBb, SBc, and positions and places the substrate SB transferred from the transfer robot 1 at a predetermined position.

【0050】続いて、上記チャック爪Mが閉止して基板
SBの2辺SBa,SBbをチャッキングした後(図1
0(b) 参照)、姿勢変換装置2の回動部2Bが作動し
て、水平状態にある基板保持部2Aが起立方向へ90°
回転して起立状態となる。これにより、基板SB,S
B,…も、その被処理面が垂直状態(起立状態)となる
とともに、その下辺SBaが水平からわずかに傾斜した
状態(本例では5°傾斜)つまり前述の処理姿勢に姿勢
変換される。
Then, after the chuck claw M is closed and the two sides SBa and SBb of the substrate SB are chucked (FIG. 1).
0 (b)), the rotating portion 2B of the posture changing device 2 is actuated, and the substrate holding portion 2A in the horizontal state is 90 ° in the upright direction.
Rotate to stand up. As a result, the substrates SB, S
Also in B, ..., The surface to be processed is in a vertical state (standing state), and the lower side SBa thereof is slightly inclined from the horizontal (inclination of 5 ° in this example), that is, the posture is changed to the processing posture described above.

【0051】最後に、エアシリンダ236が作動して、
開閉部202の開閉チャック部材230が基板SB,S
B,…から離間し(矢符(9) 方向)、基板SB,SB,
…は、その隣接する傾斜下辺SBb,SBaのみが保持
部本体201のチャック爪Mに保持されて、この処理姿
勢のままウエット処理部Bの基板搬送装置5を待機する
こととなる。
Finally, the air cylinder 236 is activated,
The open / close chuck member 230 of the open / close unit 202 is mounted on the substrates SB, S.
Separated from B, ... (Arrow (9) direction), the substrates SB, SB,
Only the adjacent lower inclined sides SBb and SBa are held by the chuck claws M of the holding unit main body 201, and the substrate transfer device 5 of the wet processing unit B stands by in this processing posture.

【0052】一方、搬出側移載部Cにおいて、ウェット
処理工程が終了した基板SB,SB,…は、基板搬送装
置7により、起立状態にある姿勢変換装置2の基板保持
部2A内に移載される。この場合、開閉部202の開閉
チャック部材230は基板SB,SB,…から離間した
状態にあるとともに、保持部本体201のチャック爪M
は閉止状態にあり、基板SB,SB.…はチャック爪M
間に上方から挿入されて、その2辺SBa,SBbがこ
こに保持されることとなる。
On the other hand, in the carry-out side transfer section C, the substrates SB, SB, ... Having undergone the wet processing step are transferred by the substrate transfer apparatus 7 into the substrate holding section 2A of the posture changing apparatus 2 in the upright state. To be done. In this case, the opening / closing chuck member 230 of the opening / closing unit 202 is separated from the substrates SB, SB, ...
Is in the closed state, and the substrates SB, SB. … Is chuck claw M
The two sides SBa and SBb are inserted from above and are held here.

【0053】続いて、エアシリンダ236が作動して開
閉チャック部材230を閉じて、基板SB,SB,…の
3辺SBa,SBb,SBcがチャック爪Mと開閉チャ
ック部材230により保持された後、回動部2Bが作動
して、起立状態にある基板保持部2Aが倒伏方向へ90
°回転して倒伏状態となり、基板SB,SB,…も、そ
の被処理面が水平状態に姿勢変換される。
Subsequently, the air cylinder 236 is actuated to close the opening / closing chuck member 230, and the three sides SBa, SBb, SBc of the substrates SB, SB, ... Are held by the chuck claws M and the opening / closing chuck member 230. The rotating portion 2B is actuated, and the substrate holding portion 2A in the upright state moves 90 degrees in the fall direction.
The substrate is rotated to be in a laid state, and the surfaces of the substrates SB, SB, ...

【0054】最後に、エアシリンダ219が再び作動し
て上記チャック爪Mを開き、水平状態にあるこれらの基
板SB,SB,…は、前述と逆に、移載ロボット1によ
り一枚ずつ抜き取られて、基板搬出部Uに待機する洗浄
済みの空カセットCC内に水平状態のまま移載されるこ
ととなる。この場合も、水平状態にある基板SBは、そ
の自重によりある程度撓んだ状態でチャック爪M間から
抜き取られることになるが、チャック爪Mが開放状態に
あることから、基板SBはチャック爪との間で擦れるこ
となく、開閉チャック部材230の基板保持溝M1 とチ
ャック爪M間から円滑に抜き取られる。
Finally, the air cylinder 219 is actuated again to open the chuck claws M, and the substrates SB, SB, ... Which are in the horizontal state are taken out one by one by the transfer robot 1 contrary to the above. Then, the wafer is transferred in the empty empty cassette CC waiting on the substrate unloading section U in a horizontal state. Also in this case, the substrate SB in the horizontal state is pulled out from between the chuck claws M in a state of being bent to some extent by its own weight, but since the chuck claw M is in the open state, the substrate SB is not the chuck claw. It is smoothly extracted from between the substrate holding groove M 1 of the opening / closing chuck member 230 and the chuck claw M without rubbing between them.

【0055】なお、上記基板保持部2Aのチャック部2
05は、図11に示すように、後述する基板搬送装置
5,7の吊持アーム14,15のチャッキング位置と相
互に干渉しない位置に配置されるとともに、保持溝M,
M,…の傾斜保持角度も、吊持アーム14,15の傾斜
保持角度に対応して設定され、姿勢変換装置2と基板搬
送装置5,7相互間における基板SB,SB,…の受渡
しが円滑に行われる構成とされている。
The chuck portion 2 of the substrate holding portion 2A is
As shown in FIG. 11, 05 is arranged at a position where it does not mutually interfere with the chucking positions of the suspension arms 14 and 15 of the substrate transfer devices 5 and 7, which will be described later, and the holding groove M,
The inclination holding angles of M, ... Are also set corresponding to the inclination holding angles of the suspension arms 14, 15, and the transfer of the substrates SB, SB, ... Between the posture conversion device 2 and the substrate transfer devices 5, 7 is smooth. It is configured to be done in.

【0056】III. ウエット処理部B:ウエット処理部
Bは、図1および図2に示すように、高清浄度雰囲気に
維持される処理室内に、2列平行に並設された一対の処
理槽列3,4と基板搬送装置5,7とを備えてなり、こ
れら両処理槽列3,4の接続部には基板搬送装置6が設
けられている。これにより、基板SB,SB,…のウエ
ット処理経路は、搬入側の処理槽列3のオペレータゾー
ンO側端からオペレータゾーンO反対側端へ進むととも
に、搬出側の処理槽列4のオペレータゾーンO反対側端
からオペレータゾーンO側端へ進むように構成されてい
る。
III. Wet Treatment Section B: As shown in FIGS. 1 and 2, the wet treatment section B is a pair of treatment tanks arranged in parallel in two rows in a treatment chamber maintained in a high cleanliness atmosphere. The columns 3 and 4 and the substrate transfer devices 5 and 7 are provided, and the substrate transfer device 6 is provided at the connecting portion between these processing tank columns 3 and 4. As a result, the wet processing paths for the substrates SB, SB, ... Proceed from the end on the operator zone O side of the processing tank row 3 on the loading side to the end on the opposite side to the operator zone O, and on the other hand, the operator zone O on the processing tank row 4 on the unloading side. It is configured to proceed from the opposite end to the operator zone O end.

【0057】搬入側の処理槽列3は、図示例において
は、複数の処理槽(図示例の場合6つの処理槽3a〜3
f)を備えるとともに、これら処理槽3a〜3fの側部
に上記基板搬送装置5が配設されている。
The processing tank line 3 on the loading side is composed of a plurality of processing tanks (six processing tanks 3a to 3a in the illustrated example).
f) and the substrate transfer device 5 is arranged on the side of these processing tanks 3a to 3f.

【0058】具体的には、処理槽3aは基板搬送装置5
の吊持アーム14,15(後述)の洗浄槽、処理槽3b
は基板SB,SB,…のエッチング処理槽、処理槽3c
はいわゆるQDR(クイック・ダンプ・リンス)槽、処
理槽3dはFINAL(ファイナル・リンス)槽、およ
び処理槽3eはIPA(イソプロピルアルコール)乾燥
機である。また処理槽3fは実際には、次に詳述する搬
出側処理工程に属するもので、フォトレジスト膜を剥離
する剥離液が満たされている。
Specifically, the processing tank 3a is the substrate transfer device 5
Cleaning tanks for the hanging arms 14 and 15 (described later) and the processing tank 3b
Is an etching treatment tank for the substrates SB, SB, ...
Is a so-called QDR (quick dump rinse) tank, the processing tank 3d is a FINAL (final rinse) tank, and the processing tank 3e is an IPA (isopropyl alcohol) dryer. In addition, the processing tank 3f actually belongs to the carry-out side processing step described in detail below, and is filled with a stripping solution for stripping the photoresist film.

【0059】基板搬送装置5は、搬入側移載部Aの姿勢
変換装置2に収載された基板SB,SB,…をカセット
レスで搬送処理する構造とされている。
The substrate transfer device 5 has a structure for transferring the substrates SB, SB, ... Mounted on the posture changing device 2 of the loading side transfer section A without a cassette.

【0060】基板搬送装置5は、具体的には図1に示す
ように、装置本体の内部8aに設けられて、上記処理槽
3a〜3fの配列方向(図2の矢符(3) 方向)へ平行に
往復移動可能とされた搬送台9と、この搬送台9に上下
方向へ昇降可能に設けられた支柱10と、この支柱10
の上端に装着された支持装置台11と、この支持装置台
11から処理槽上方へ向かって延びる水平アーム12
と、この水平アーム12の先端に装着された基板吊持装
置13とから構成されており、上記姿勢変換装置2から
受け取った複数枚の基板SB,SB,…を、上記処理槽
列3a〜3f内の処理液中に順次浸漬して、これら基板
SB,SB,…表面を処理する。
Specifically, as shown in FIG. 1, the substrate transfer device 5 is provided in the inside 8a of the main body of the apparatus, and the arrangement direction of the processing baths 3a to 3f (the arrow (3) direction in FIG. 2). A carriage 9 that can be reciprocally moved in parallel to the carriage 10, a column 10 that can be vertically moved up and down on the carriage 9, and a column 10
A supporting device base 11 mounted on the upper end of the tank, and a horizontal arm 12 extending from the supporting device base 11 toward the upper side of the processing tank.
And a plurality of substrates SB, SB, ... Received from the posture changing device 2 are arranged in the processing tank rows 3a to 3f. The surfaces of these substrates SB, SB, ...

【0061】また、上述した各処理槽の構造は、処理槽
3a,3c,3dが塩化ビニル樹脂等の材質からなる単
一槽であり、処理槽3b,3e,3fが石英ガラス等の
材質からなるオーバーフロー槽である。これら各槽、例
えばオーバーフロー槽である処理槽3eの底部には、図
12に示すような基板保持台50を備える。この基板保
持台50は、基台3e1 と、この基台3e1 上に固設さ
れた一対の基板保持部3e2 , 3e3 とからなる。
Further, in the structure of each processing tank described above, the processing tanks 3a, 3c, 3d are single tanks made of a material such as vinyl chloride resin, and the processing tanks 3b, 3e, 3f are made of a material such as quartz glass. It is an overflow tank. A substrate holder 50 as shown in FIG. 12 is provided at the bottom of each of these tanks, for example, the processing tank 3e which is an overflow tank. The substrate holder 50 includes a base 3e 1 and a pair of substrate holders 3e 2 and 3e 3 fixedly mounted on the base 3e 1 .

【0062】一対の基板保持部3e2 , 3e3 は、基板
搬送装置5の吊持アーム14,15のチャッキング位置
(図12の実線位置)と相互に干渉しない位置に配置さ
れており、それぞれ複数の基板保持溝M3 およびM4
有する。
The pair of substrate holding portions 3e 2 and 3e 3 are arranged at positions where they do not interfere with the chucking positions (solid line positions in FIG. 12) of the suspension arms 14 and 15 of the substrate transfer device 5, respectively. It has a plurality of substrate holding grooves M 3 and M 4 .

【0063】一方の基板保持部3e2 の各基板保持溝M
3 は、基板SBの一角つまり傾斜下辺SBaとSBbの
交角部分を傾斜状態に保持するように、また他方の保持
部3e3 の各基板保持溝M4 は、基板SBの一辺つまり
傾斜下辺SBaを保持するように構成されている。
Each substrate holding groove M of one substrate holding portion 3e 2
3 holds one corner of the substrate SB, that is, the angle between the lower inclined sides SBa and SBb in a tilted state, and each substrate holding groove M 4 of the other holding portion 3e 3 has one side of the substrate SB, that is, the lower inclined side SBa. Configured to hold.

【0064】また、上記基板保持溝M3 ,M4 の傾斜保
持角度は、後述する吊持アーム14,15の基板保持バ
ー19,19,…の相対的位置に対応して、基板SBの
下辺が水平から5°程度傾斜した状態で保持されるよう
に設定されている。
The inclination holding angles of the substrate holding grooves M 3 , M 4 correspond to the relative positions of the substrate holding bars 19, 19, ... Of the hanging arms 14, 15, which will be described later, and the lower side of the substrate SB. Is set so as to be held in a state of being inclined by about 5 ° from the horizontal.

【0065】上記基板吊持装置13の具体的構造は図1
2〜図14に示すように、左右一対の吊持アーム14,
15およびこれらを開閉制御するアーム制御部16を主
要部として備えてなる。
The specific structure of the substrate suspension device 13 is shown in FIG.
2 to 14, a pair of left and right suspension arms 14,
15 and an arm control unit 16 for controlling opening / closing of these units as a main unit.

【0066】一方の吊持アーム14は、2本のアームプ
レート17,17と、その下端部と中央部に水平状に取
り付けられた3本の基板保持バー19,19,19とを
備えてなる。また、もう一方の吊持アーム15は、吊持
アーム14と同様で、アームプレート20,20と、こ
れらアームプレート20,20間に橋絡状に設けられた
一本の基板保持バー19とを備えてなる。
One of the suspension arms 14 is provided with two arm plates 17, 17 and three substrate holding bars 19, 19, 19 horizontally attached to the lower end portion and the center portion thereof. . Further, the other suspension arm 15 is similar to the suspension arm 14 and includes the arm plates 20 and 20 and a single substrate holding bar 19 provided in a bridge shape between the arm plates 20 and 20. Be prepared.

【0067】上記アームプレート17は、ステンレス鋼
材にフッ素樹脂がコーティングされてなる耐薬品性に優
れるものである。また、基板保持バー19は、図13に
示すように、フッ素樹脂等から形成されるとともに、そ
の外周に複数の基板保持溝19a,19a,…を有する
外筒19bと、この外筒19bの内部に封入されたステ
ンレス鋼製の心金19cとから構成されている。
The arm plate 17 is made of a stainless steel material coated with a fluororesin and has excellent chemical resistance. Further, as shown in FIG. 13, the substrate holding bar 19 is formed of fluororesin or the like, and has an outer cylinder 19b having a plurality of substrate holding grooves 19a, 19a, ... On its outer periphery, and the inside of the outer cylinder 19b. And a stainless steel mandrel 19c encapsulated in.

【0068】吊持アーム14,15の上端は、それぞれ
前述の水平アーム12に接続されたフレーム21に揺動
可能に枢着されるとともに、アーム制御部16に接続さ
れている。これにより、吊持アーム14,15は相互に
揺動されて、その閉止位置において基板SBを吊持状に
チャッキング保持し、またその拡開位置において基板S
Bのチャッキングを解除する。
The upper ends of the suspension arms 14 and 15 are pivotally attached to the frame 21 connected to the horizontal arm 12 described above so as to be swingable, and are also connected to the arm controller 16. As a result, the suspension arms 14 and 15 are swung with respect to each other to chuck and hold the substrate SB in a suspended state at the closed position, and at the expanded position, the substrate S is held.
Unchuck B.

【0069】両吊持アーム14,15に取り付けられた
4本の基板保持バー19,19,…の相対的位置は、吊
持アーム14,15が閉止して基板SBをチャッキング
保持した時、この基板SBの下辺が水平から5°程度傾
斜した状態で吊持状に保持されるように設定されてい
る。
The relative positions of the four substrate holding bars 19, 19, ... Attached to both the suspension arms 14, 15 are such that when the suspension arms 14, 15 are closed and the substrate SB is chucked and held. The lower side of the substrate SB is set to be held in a suspended state with the lower side inclined from the horizontal by about 5 °.

【0070】制御部16は、図13および図14に示す
ように、吊持アーム14または15を枢支する揺動シャ
フト33と、駆動手段であるエアシリンダ26とを1セ
ットとし、両吊持アーム14,15を別々に駆動するた
めに2セット装着されてなる。
As shown in FIGS. 13 and 14, the control unit 16 includes a swing shaft 33 for pivotally supporting the suspension arm 14 or 15 and an air cylinder 26 as a driving means as one set, and both suspensions are supported. Two sets are mounted to drive the arms 14 and 15 separately.

【0071】上記揺動シャフト33は、上記フレーム2
1に、ベアリング32,32を介して回転可能に軸支さ
れている。この揺動シャフト33の両端部は、カバー2
8を貫通して外部へ突出され、ここに接続ブロック2
9,29を介して吊持アーム14または15の上端が取
り付け固定されている。
The swing shaft 33 is used for the frame 2
1 is rotatably supported by bearings 32, 32. Both ends of this swing shaft 33 are covered with the cover 2
8 is projected to the outside through 8 and the connecting block 2
The upper end of the suspension arm 14 or 15 is attached and fixed via 9, 29.

【0072】上記エアシリンダ26は両ロッド型のもの
で、上記フレーム21上にブラケット35を介して装着
されており、このエアシリンダ26の一方のピストンロ
ッド26aが、コネクティングロッド36を介して、揺
動シャフト33に固設された揺動レバー34に連結され
ている。また、フレーム21には、エアシリンダ26の
他方のピストンロッド26bを停止するためのストッパ
37が固設されている。
The air cylinder 26 is of a double rod type and is mounted on the frame 21 via a bracket 35. One piston rod 26a of the air cylinder 26 is oscillated via a connecting rod 36. It is connected to a swing lever 34 fixed to the moving shaft 33. A stopper 37 for stopping the other piston rod 26b of the air cylinder 26 is fixed to the frame 21.

【0073】しかして、以上のように構成された基板吊
持装置13において、吊持アーム14,15は、アーム
制御部16のエアシリンダ26,26により、相互に揺
動されて拡縮動作され、その閉止位置において基板SB
を吊持状にチャッキング保持するとともに、拡開位置に
おいて基板SBのチャッキングを解除して、基板SB,
SB,…をカセットレスで搬送処理する。
Thus, in the substrate suspension device 13 configured as described above, the suspension arms 14 and 15 are oscillated by the air cylinders 26 and 26 of the arm control section 16 to expand and contract, Substrate SB in its closed position
Is held in a suspended state by chucking, and the chucking of the substrate SB is released at the expanded position to remove the substrate SB,
SB, ... Are transported without a cassette.

【0074】上記搬入側処理槽列3に続く基板搬送装置
6は、搬入側処理槽列3から搬出側処理槽列4へ基板S
B,SB,…を移送および処理する装置であって、図3
に示すように、装置本体の部位8bに設置されている。
この基板搬送装置6の基本構造は、上述した基板搬送装
置5とほぼ同様であり、基板吊持装置13が、基板搬送
装置5により搬送処理される基板SB,SB,…をその
姿勢のままチャッキング保持できるように支柱10に対
して取り付けられている。
The substrate transfer device 6 following the loading-side processing bath array 3 transfers the substrates S from the loading-side processing bath array 3 to the unloading-side processing bath array 4.
A device for transferring and processing B, SB, ...
As shown in FIG. 5, it is installed in the part 8b of the apparatus main body.
The basic structure of the substrate transfer device 6 is almost the same as that of the substrate transfer device 5 described above, and the substrate lifting device 13 holds the substrates SB, SB, ... It is attached to the column 10 so that it can be held by a king.

【0075】搬送側処理槽列4は、前述した搬入側処理
槽列3と同様、複数の処理槽を備えるとともに、これら
の処理槽の側部に、基板搬送装置7が配設されている。
図示例においては、4つの処理槽4a〜4dとIPAベ
ーパー乾燥機4eが設けられてなる。
The transfer side processing tank row 4 is provided with a plurality of processing tanks as in the case of the carry-in side processing tank row 3 described above, and the substrate transfer device 7 is arranged on the side of these processing tanks.
In the illustrated example, four processing tanks 4a to 4d and an IPA vapor dryer 4e are provided.

【0076】具体的には、処理槽4aは、上記搬入側に
設置された処理槽3fに続いて、同様な剥離処理を施す
剥離液の入った槽、処理槽4bはリンス槽、処理槽4c
はQDR槽、処理槽4dはFINAL槽であり、またI
PAベーパー乾燥機は基板SB,SB,…の乾燥部とし
て機能する。
Specifically, the treatment tank 4a is a tank containing a stripping solution for performing the same stripping treatment, following the treatment tank 3f installed on the carry-in side, the treatment tank 4b is a rinse tank, and the treatment tank 4c.
Is a QDR tank, the treatment tank 4d is a FINAL tank, and I
The PA vapor dryer functions as a drying unit for the substrates SB, SB, ...

【0077】また、上記基板搬送装置7は、図1に示す
ように装置本体の部位8cに設置され、前述した基板搬
送装置5とほぼ同様な基本構造であり、処理槽4aから
基板搬出側の姿勢変換装置2までの搬送処理を行う構成
とされている。
As shown in FIG. 1, the substrate transfer device 7 is installed in a portion 8c of the apparatus main body and has a basic structure similar to that of the substrate transfer device 5 described above. It is configured to perform a conveyance process up to the posture changing device 2.

【0078】IV. 基板搬出部U:基板搬出部Uは、基板
SB,SB,…を次工程へ搬出する部位で、ウエット処
理部Bの搬出側に配置され、タクト送り機構(図示省
略)を備える。搬出側移載部Cにより洗浄処理済の基板
SB,SB,…が収容されたキャリアカセットCCは、
上記タクト送り機構により矢符(8) の方向へ所定間隔を
もってタクト送りされて、次工程へ搬出される。
IV. Substrate unloading unit U: The substrate unloading unit U is a portion for unloading the substrates SB, SB, ... To the next step, and is arranged on the unloading side of the wet processing unit B and has a tact feed mechanism (not shown). Prepare The carrier cassette CC in which the substrates SB, SB, ...
The tact feed mechanism feeds tact in the direction of the arrow (8) at a predetermined interval and carries it to the next step.

【0079】V.カセット搬送部D:カセット搬送部D
は、基板搬入部Aから基板搬出部Cへ空カセットCCを
搬送する部位で、これら基板搬入部Aと基板搬出部Cと
を連結している。また、このカセット搬送部Dは、カセ
ット搬送装置30を備えるとともに、その移送経路(7)
の中途箇所にはカセット洗浄槽31が設けられている。
V. Cassette transport section D: Cassette transport section D
Is a portion that conveys the empty cassette CC from the substrate loading unit A to the substrate unloading unit C, and connects the substrate loading unit A and the substrate unloading unit C. Further, the cassette carrying section D includes a cassette carrying device 30 and a transfer path (7) for the cassette carrying device 30.
A cassette cleaning tank 31 is provided midway.

【0080】カセット搬送装置30は、装置本体の部位
8d(図3参照)内に矢符(7) の経路に沿って往復移動
可能に設けられ、空カセットCCをチャックする一対の
チャッキングアーム30a,30aなどを備えてなる。
The cassette carrying device 30 is reciprocally provided in the portion 8d (see FIG. 3) of the main body of the device along the path of the arrow (7), and has a pair of chucking arms 30a for chucking the empty cassette CC. , 30a and the like.

【0081】VI. 制御装置E:制御装置Eは、前述した
図示しないタクト送り機構、移載ロボット1、姿勢変換
装置2、基板搬送装置5,6,7およびカセット搬送装
置30などを互いに同期して駆動制御するもので、この
制御装置Eにより、以下のウェット処理工程が基板S
B,SB,…の搬入時から搬出時まで全自動で行われる
こととなる。
VI. Control device E: The control device E synchronizes the tact feed mechanism (not shown), the transfer robot 1, the posture changing device 2, the substrate transfer devices 5, 6, 7 and the cassette transfer device 30 with each other. Drive control is performed by the controller E. The controller E performs the following wet processing steps on the substrate S.
It will be fully automatic from the time of carrying in B, SB, ...

【0082】A.基板SB,SB,…の搬入:前工程の
終了した基板SB,SB,…は、キャリアカセットCC
内に収容された状態で基板搬入部Lに搬入され、前述の
如く矢符(1) の経路でタクト送りされて移載位置に配置
された後、搬入側移載部AでキャリアカセットCCから
取り出されるとともに、姿勢変換される。続いて、洗浄
部Bの基板搬送装置5が接近して、この姿勢変換された
複数の基板SB,SB,…を一括してチャッキングし吊
持状態に保持する。
A. Loading of substrates SB, SB, ...: The substrates SB, SB, ...
After being loaded into the substrate loading section L in the state of being housed inside, being tact-fed by the path indicated by the arrow (1) and being placed at the transfer position as described above, the carrier side CC is moved from the carrier cassette CC at the loading side transfer section A. At the same time it is taken out, the posture is changed. Subsequently, the substrate transfer device 5 of the cleaning unit B approaches, and the plurality of substrates SB, SB, ... The posture of which has been changed are collectively chucked and held in a suspended state.

【0083】B.基板SB,SB,…のウェット処理:
搬入側の基板搬送装置5にカセットレスで保持された基
板SB,SB,…は、各処理槽3a〜3fへの浸漬・移
載等が順次繰り返されて所定のウェット処理が施された
後、基板搬送装置6により搬出側処理槽列4の処理槽4
aまで搬送され、今度は基板搬送装置7によりカセット
レスで保持されて、各処理槽4b〜4eに浸漬・移載等
が順次繰り返されて所定のウェット処理が施された後、
搬出側移載部Cへ搬送されて(矢符(5) 参照)、姿勢変
換装置2に収載される。
B. Wet processing of the substrates SB, SB, ...:
Substrates SB, SB, ... Held in the substrate transport device 5 on the loading side without a cassette are subjected to a predetermined wet treatment by sequentially repeating immersion, transfer, etc. in the treatment baths 3a to 3f. The processing tanks 4 of the unloading side processing tank row 4 by the substrate transfer device 6
After being transported to a, and then held by the substrate transport device 7 without a cassette, and subjected to a predetermined wet treatment by sequentially repeating the dipping and transferring in each of the treatment tanks 4b to 4e,
It is transported to the unloading-side transfer section C (see arrow (5)) and placed on the posture changing device 2.

【0084】C.空カセットCCの搬送:搬入側移載部
Aで空になったキャリアカセットCCは、このキャリア
カセットCCから取り出された基板SB,SB,…の洗
浄処理工程と並行して、カセット搬送装置30により、
カセット洗浄槽31にて洗浄処理が施された後、上記搬
出側移載部Cに搬送される(矢符(7) 参照)。
C. Conveyance of empty cassette CC: The carrier cassette CC emptied at the transfer section A is transferred by the cassette conveying device 30 in parallel with the cleaning process of the substrates SB, SB, ... Removed from the carrier cassette CC. ,
After a cleaning process is performed in the cassette cleaning tank 31, the cassette is transferred to the unloading side transfer section C (see arrow (7)).

【0085】D.基板SB,SB,…の搬出:両洗浄槽
列3,4でのウェット処理工程が終了した基板SB,S
B,…は、搬出側移載部Cにおいて、姿勢変換装置2か
ら移載ロボット1により搬入時と同じ洗浄済みの空カセ
ットCCに移し替えられた後(矢符(6) 参照)、図示し
ないタクト送り機構により矢符(8) の経路でタクト送り
されて、次の工程へ向けて搬出される。
D. Carrying out the substrates SB, SB, ...: Substrates SB, S for which the wet processing steps in both cleaning tank rows 3 and 4 have been completed
B, ... After being transferred from the posture changing device 2 to the empty cassette CC that has been cleaned by the transfer robot 1 in the same manner as at the time of loading (see arrow (6)), B, ... The tact feed mechanism feeds the tact along the path indicated by the arrow (8) and carries it out to the next process.

【0086】実施例2 本実施例は図15に示し、実施例1の姿勢変換装置2の
構成を改変したものであり、この姿勢変換装置2は、基
板SBを収容保持する基板保持部20Aと、この基板保
持部20Aを上下方向へ回動操作する第一の回動部20
Bと、基板保持部20Aを傾斜方向へ傾動操作する第二
の回動部20C(図示省略)とを主要部として構成され
ている。
Embodiment 2 This embodiment is shown in FIG. 15 and is a modification of the configuration of the posture changing apparatus 2 of the first embodiment. This posture changing apparatus 2 includes a substrate holding section 20A for accommodating and holding a substrate SB. , A first rotating portion 20 for rotating the substrate holding portion 20A in the vertical direction.
B and a second rotating portion 20C (not shown) for tilting the substrate holding portion 20A in the tilting direction are main components.

【0087】基板保持部20Aは、実施例1の基板保持
部2Aと同様の基本構造を備え、実施例1の回動部2B
と同一構成の第一の回動部20Bに上下方向へ回動可能
に装着されている。
The substrate holding portion 20A has the same basic structure as the substrate holding portion 2A of the first embodiment, and the rotating portion 2B of the first embodiment.
It is mounted on the first rotating portion 20B having the same structure as the above so as to be vertically rotatable.

【0088】この基板保持部20Aにおいて、チャック
部205のチャック爪M,M,…の支持面は、図示のご
とく、フレームプレート210の内周面(側面210
a,底面210b)に対して、それぞれ平行に延びる直
線状断面輪郭を有している。これにより、これらチャッ
ク爪M,M,…に保持される各基板SBは、基板保持部
20Aの回動軸線に直交する直線、つまりフレームプレ
ート210の側面210aに平行になる状態で保持され
る。
In the substrate holding portion 20A, the supporting surfaces of the chuck claws M, M, ... Of the chuck portion 205 are, as shown in the figure, the inner peripheral surface (side surface 210) of the frame plate 210.
a and a bottom surface 210b), each has a linear cross-sectional profile extending in parallel. As a result, the substrates SB held by the chuck claws M, M, ... Are held in a state of being parallel to the straight line orthogonal to the rotation axis of the substrate holder 20A, that is, the side surface 210a of the frame plate 210.

【0089】第二の回動部20Cの具体的構成は図示し
ないが、垂直コラム245,248を支持する支持ベー
ス246(図5および図6参照)が、基板SBの傾斜方
向、つまり上記第一の回動部20Bの回転方向と直交す
る方向(図6において矢符(10)方向)において、上記垂
直保持状態位置と傾斜保持状態位置との間で傾動可能に
構成されるとともに、図示しない駆動源に連係されてい
る。そして、この駆動源により、上記支持ベース246
上の装置全体(第一の回動部20Bおよび基板保持部2
0A)が上記基板SBの傾斜方向(10)へ一体で傾動され
る。
Although the specific structure of the second rotating portion 20C is not shown, the support base 246 (see FIGS. 5 and 6) for supporting the vertical columns 245 and 248 is arranged in the direction of inclination of the substrate SB, that is, the above-described first base. In a direction (arrow (10) direction in FIG. 6) orthogonal to the rotation direction of the rotating portion 20B, the tilting state is configured to be tiltable between the vertical holding state position and the tilt holding state position, and a drive (not shown) is provided. It is linked to the source. Then, by this drive source, the support base 246 is
The entire upper device (first rotating unit 20B and substrate holding unit 2
0A) is integrally tilted in the tilting direction (10) of the substrate SB.

【0090】しかして、基板SB,SB,…が、移載ロ
ボット1により、水平保持状態にある姿勢変換装置2の
基板保持部20A内に移載されると、まず第一の回動部
20Bが作動して、水平保持状態にある基板保持部20
Aが起立方向へ90°回転して垂直保持状態となり、基
板SB,SB,…も、その被処理面が垂直状態(起立状
態)となる。続いて、第二の回動部20Cが作動して、
この垂直保持状態にある基板保持部20Aは、この垂直
状態のまま、第一の回動部20Bと共にわずかに矢符(1
0)方向へ傾動されて(本例では5°傾動)傾斜保持状態
となる。これにより基板SB,SB,…は、その下辺S
Baが水平からわずかに傾斜した処理姿勢に姿勢変換さ
れることとなる。その他の構成および作用は実施例1と
同様である。
When the substrates SB, SB, ... Are transferred by the transfer robot 1 into the substrate holding part 20A of the posture changing device 2 in the horizontal holding state, the first rotating part 20B is first set. Substrate holding unit 20 in the horizontal holding state
A is rotated 90 ° in the upright direction to be in a vertical holding state, and the substrates SB, SB, ... Have their surfaces to be processed in a vertical state (upright state). Then, the second rotating portion 20C is activated,
The substrate holding portion 20A in the vertical holding state is kept in the vertical state, and the arrow (1
It is tilted in the (0) direction (in this example, tilted by 5 °) to be in the tilt holding state. As a result, the substrates SB, SB, ...
The posture of Ba is changed to a processing posture that is slightly inclined from the horizontal. Other configurations and operations are similar to those of the first embodiment.

【0091】なお、上述した実施例はあくまでも本発明
の好適な具体例を示すものであって、本発明はこれに限
定されることなく種々設計変更可能であり、例えば、姿
勢変換装置2の具体的構造は、図示例と同様な機能を有
する限り他の構成とすることも可能であり、また、基板
ウェット処理装置を構成する他の構成装置の構造も図示
例のものに限定されることなく、目的に応じて同様の機
能を有する他の構造に変更可能である。
The above-described embodiment is merely a preferred specific example of the present invention, and the present invention is not limited to this, and various design changes are possible. The target structure may have another configuration as long as it has the same function as that of the illustrated example, and the structure of another constituent device that constitutes the substrate wet processing apparatus is not limited to that of the illustrated example. It is possible to change to another structure having a similar function according to the purpose.

【0092】[0092]

【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、
矩形または正方形の基板をウエット処理するに際し、基
板の隣接する2辺が傾斜下辺となるように姿勢変換する
から、基板搬送装置がこれら2つの傾斜下辺を吊持状に
保持することが可能となり、簡単な構成により、大型の
基板をカセットレスでなおかつバッチ式に処理でき、こ
れにより、汚染度が低く生産効率の高いウエット処理を
実現することができる。
As described in detail above, according to the present invention,
When the rectangular or square substrate is wet-processed, the posture is changed so that the two adjacent sides of the substrate become the inclined lower sides, so that the substrate transfer apparatus can hold these two inclined lower sides in a suspended state. With a simple configuration, a large substrate can be processed in a batch method without using a cassette, and thus a wet process with a low contamination level and high production efficiency can be realized.

【0093】さらに、基板保持部が、各基板の周縁部表
裏面を開閉可能にチャッキング支持する複数のチャック
爪を有するチャック手段を備え、このチャック手段のチ
ャック爪が、基板の出入動作時において開放状態にある
ように駆動制御されるから、特に、水平状態にある基板
はチャック爪との接触が少ない状態でチャック爪間に円
滑に挿入され、基板およびチャック爪双方の損傷を最小
限に抑えることができる。
Further, the substrate holding portion is provided with a chuck means having a plurality of chuck claws for chucking and supporting the front and back surfaces of the peripheral portion of each substrate so as to be openable and closable, and the chuck claws of the chuck means are used when the substrate is moved in and out. Since the drive is controlled so that it is in an open state, in particular, the substrate in the horizontal state is smoothly inserted between the chuck claws with little contact with the chuck claws, and damage to both the substrate and the chuck claws is minimized. be able to.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施例1である姿勢変換装置を備える
基板ウェット処理装置の内部を示す側面断面図である。
FIG. 1 is a side cross-sectional view showing the inside of a substrate wet processing apparatus including an attitude changing apparatus that is Embodiment 1 of the present invention.

【図2】同基板ウェット処理装置の内部を示す平面断面
図である。
FIG. 2 is a cross-sectional plan view showing the inside of the substrate wet processing apparatus.

【図3】同基板ウェット処理装置の内部を示す正面断面
図である。
FIG. 3 is a front sectional view showing the inside of the substrate wet processing apparatus.

【図4】同基板ウェット処理装置における姿勢変換装置
を示す平面図である。
FIG. 4 is a plan view showing an attitude conversion device in the substrate wet processing apparatus.

【図5】同姿勢変換装置を示す図4の矢符V方向からの
正面図である。
FIG. 5 is a front view showing the same attitude conversion device as seen from the direction of arrow V in FIG. 4.

【図6】同姿勢変換装置を示す図4の矢符VI方向からの
左側面図である。
FIG. 6 is a left side view from the direction of arrow VI in FIG. 4 showing the same posture changing device.

【図7】同姿勢変換装置の固定側チャック部材の取付け
構造を示す側面図である。
FIG. 7 is a side view showing a mounting structure of a fixed-side chuck member of the same posture changing device.

【図8】同姿勢変換装置の可動側チャック部材の取付け
構造を示す側面図である。
FIG. 8 is a side view showing a mounting structure of a movable chuck member of the same posture changing device.

【図9】同可動側チャック部材と位置検出センサとの関
係を示す平面図である。
FIG. 9 is a plan view showing a relationship between the movable-side chuck member and a position detection sensor.

【図10】固定側チャック部材と可動側チャック部材か
ら構成されるチャック爪の動作を示す側面図で、図10
(a) は開放状態を示し、図10(b) は閉止状態を示して
いる。
10 is a side view showing an operation of a chuck claw composed of a fixed chuck member and a movable chuck member, and FIG.
10A shows an open state, and FIG. 10B shows a closed state.

【図11】同姿勢変換装置と基板搬送装置相互間の移載
動作の説明図である。
FIG. 11 is an explanatory diagram of a transfer operation between the attitude conversion device and the substrate transfer device.

【図12】同基板ウェット処理装置における処理槽の内
部構造を示す側面断面図である。
FIG. 12 is a side sectional view showing an internal structure of a processing bath in the substrate wet processing apparatus.

【図13】同基板ウェット処理装置における基板搬送装
置の基板吊持装置を一部断面で示す正面図である。
FIG. 13 is a front view showing a partial section of a substrate suspension device of a substrate transfer device in the same substrate wet processing apparatus.

【図14】同基板吊持装置のアーム制御部を示す平面断
面図である。
FIG. 14 is a plan cross-sectional view showing an arm control section of the substrate suspension device.

【図15】本発明に係る実施例2である姿勢変換装置を
示す平面図である。
FIG. 15 is a plan view showing a posture conversion device that is Embodiment 2 of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

SB 基板 SBa,SBb 基板の傾斜下辺 M チャック爪 2 姿勢変換装置 2A 基板保持部 2B 回動部 5〜7 基板搬送装置 20A 基板保持部 20B 第一の回動部 20C 第二の回動部 201 保持部本体 202 開閉部 205 チャック部(チャック手段) 206 固定側チャック部材 207 可動側チャック部材 219 エアシリンダ 230 開閉チャック部材 236 エアシリンダ 241 回動軸 242 駆動部 243 位置決め部 251 エアシリンダ 255 水平状態位置決め部 256 垂直状態位置決め部 227 固定側チャック部材の基板保持溝底
面(位置決め部)
SB Substrate SBa, SBb Inclined lower side of substrate M Chuck claw 2 Posture changer 2A Substrate holding part 2B Rotating part 5-7 Substrate transfer device 20A Substrate holding part 20B First turning part 20C Second turning part 201 Holding Part main body 202 Open / close part 205 Chuck part (chuck means) 206 Fixed side chuck member 207 Movable side chuck member 219 Air cylinder 230 Open / close chuck member 236 Air cylinder 241 Rotating shaft 242 Drive part 243 Positioning part 251 Air cylinder 255 Horizontal state positioning part 256 Vertical Positioning Section 227 Bottom of Substrate Holding Groove of Fixed Side Chuck Member (Positioning Section)

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G02F 1/13 101 H01L 21/027 21/304 341 C // H05K 3/26 7511−4E ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code Internal reference number FI Technical display location G02F 1/13 101 H01L 21/027 21/304 341 C // H05K 3/26 7511-4E

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 矩形もしくは正方形の基板をカセットレ
スでウェット処理するに際して、基板搬送処理装置が、
上記基板をその隣接する2辺を傾斜下辺となるよう傾斜
した状態で、これら両傾斜2辺を吊持ち支持する処理姿
勢をとる基板ウェット処理装置に備えられるものであっ
て、 上記基板を同一姿勢で複数枚まとめて収容する基板保持
部と、この基板保持部に収容された基板が上記処理姿勢
になるように基板保持部を回動操作する回動部とを備え
てなり、 上記基板保持部は、上記各基板の周縁部表裏面を開閉可
能にチャッキング支持する複数のチャック爪を有するチ
ャック手段を備え、 このチャック手段のチャック爪は、上記基板の出入動作
時において開放状態にあるとともに、上記基板保持部の
回動操作時において閉止状態にあるように駆動制御され
ることを特徴とする基板の姿勢変換装置。
1. When carrying out wet processing of a rectangular or square substrate without a cassette, a substrate transfer processing device
The substrate is provided in a substrate wet processing apparatus that takes a processing posture of suspending and supporting both adjacent two sides of the substrate so that the two adjacent sides are inclined lower sides. And a rotating unit for rotating the substrate holding unit so that the substrates accommodated in the substrate holding unit are in the processing posture. Is provided with chuck means having a plurality of chuck claws for chucking and supporting the front and back surfaces of the peripheral edge of each of the substrates, and the chuck claws of the chuck means are in an open state when the substrate is in and out, A substrate posture changing device, which is drive-controlled so as to be in a closed state when the substrate holding portion is rotated.
【請求項2】 上記基板保持部は、上記各基板の隣接す
る2辺を保持する保持部本体と、この保持部本体に対し
て開閉可能で、上記基板の他の1辺を開放可能に保持す
る開閉部とを備えてなり、少なくとも、上記保持部本体
に上記チャック手段が設けられている請求項1に記載の
基板の姿勢変換装置。
2. The substrate holding portion holds a holding portion main body that holds two adjacent sides of each substrate, and can be opened and closed with respect to the holding portion main body, and holds the other one side of the substrate openable. The posture changing device for a substrate according to claim 1, further comprising: an opening / closing unit, the holding unit main body being provided with the chuck means.
【請求項3】 上記チャック手段は、上記各基板の厚さ
寸法よりも幅広の基板保持溝が上記基板配列方向へ所定
間隔をもって複数配設されてなるとともに、固定的に設
けられた固定側チャック部材と、上記各基板の厚さ寸法
よりも幅広の基板保持溝が上記基板配列方向へ所定間隔
をもって複数配設されるとともに、基板配列方向へ往復
移動可能に設けられた可動側チャック部材と、この可動
側チャック部材を往復移動させる駆動部とを備えてな
り、 上記各チャック爪は、上記固定側チャック部材の基板保
持溝と可動側チャック部材の基板保持溝との対応する組
により構成されている請求項1に記載の基板の姿勢変換
装置。
3. The chuck means comprises a plurality of substrate holding grooves, each of which has a width wider than the thickness of each of the substrates, arranged at predetermined intervals in the substrate arrangement direction, and is fixedly provided on the fixed side chuck. A member and a movable chuck member provided with a plurality of substrate holding grooves wider than the thickness dimension of each substrate at a predetermined interval in the substrate arrangement direction and provided so as to be reciprocally movable in the substrate arrangement direction, And a drive unit for reciprocating the movable chuck member, wherein each chuck claw is constituted by a corresponding set of the substrate holding groove of the fixed chuck member and the substrate holding groove of the movable chuck member. The posture changing device for a substrate according to claim 1.
【請求項4】 上記基板保持部は、上記回動部に、水平
保持状態位置と垂直保持状態位置との間で上下方向へ回
動可能に支持されるとともに、上記チャック手段のチャ
ック爪が、上記基板を上記保持手段の回動軸線に直交す
る直線に対して若干傾斜した状態でチャッキング支持す
るように形成されてなり、 上記基板保持部が上記垂直保持状態位置にあるとき、上
記基板の処理姿勢が得られるように構成されている請求
項1から3のいずれか一つに記載の基板の姿勢変換装
置。
4. The substrate holding unit is supported by the rotating unit so as to be vertically rotatable between a horizontal holding state position and a vertical holding state position, and a chuck claw of the chuck means is provided. The substrate is formed so as to be chucked and supported in a state of being slightly inclined with respect to a straight line orthogonal to the rotation axis of the holding means, and when the substrate holding portion is in the vertical holding state position, The substrate posture changing device according to claim 1, wherein the substrate posture changing device is configured to obtain a processing posture.
【請求項5】 上記回動部は、上記基板保持部を水平保
持状態位置と垂直保持状態位置との間で上下方向へ回動
操作する第一の回動手段と、上記基板保持部を上記回動
方向と直交する方向において上記垂直保持状態位置と傾
斜保持状態位置との間で傾動操作する第二の回動手段と
を備えてなり、 上記基板保持部は、上記第一の回動手段に上下方向へ回
動可能に支持されるとともに、上記チャック手段のチャ
ック爪が、上記基板を保持手段の回動軸線に直交する直
線に対して平行になる状態で保持するように形成されて
なり、 上記基板保持部が上記傾斜保持状態位置にあるとき、上
記基板の処理姿勢が得られるように構成されている請求
項1から3のいずれか一つに記載の基板の姿勢変換装
置。
5. The first rotating means for rotating the substrate holding portion in a vertical direction between a horizontal holding state position and a vertical holding state position, and the substrate holding portion. A second rotation means for tilting between the vertical holding state position and the tilt holding state position in a direction orthogonal to the rotation direction, wherein the substrate holding portion is the first rotation means. Is rotatably supported in the vertical direction and is formed so that the chuck claws of the chuck means hold the substrate in a state of being parallel to a straight line orthogonal to the rotation axis of the holding means. 4. The substrate posture changing device according to claim 1, wherein when the substrate holding portion is in the inclined holding state position, the processing posture of the substrate is obtained.
【請求項6】 上記チャック爪の底面は、上記基板保持
部が上記水平保持状態位置にあるとき、ここに保持され
る基板の周縁を位置決めするように傾斜された位置決め
部とされている請求項4または5に記載の基板の姿勢変
換装置。
6. The bottom surface of the chuck claw is a positioning portion that is inclined so as to position the peripheral edge of the substrate held by the substrate holding portion when the substrate holding portion is in the horizontal holding state position. 4. The substrate posture changing device according to 4 or 5.
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