JPH0793225A - Memory check method - Google Patents

Memory check method

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Publication number
JPH0793225A
JPH0793225A JP5238630A JP23863093A JPH0793225A JP H0793225 A JPH0793225 A JP H0793225A JP 5238630 A JP5238630 A JP 5238630A JP 23863093 A JP23863093 A JP 23863093A JP H0793225 A JPH0793225 A JP H0793225A
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JP
Japan
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data
memory
check
bit
address
Prior art date
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Application number
JP5238630A
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Japanese (ja)
Inventor
Masahiko Kuwano
雅彦 桑野
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は、アドレス又はデータにのうち1ビッ
トでも異常があれば、これを確実に検出する。 【構成】メモリコントローラ(4) によりCPU(1) から
発せられるアドレス情報とデータとを合わせたビット数
のデータを作成し、このデータに対してアドレス情報及
びデータに基づいたマスクをかけてその偶数パリティを
とってデータの3個の各ビットに影響を与えるチェック
データを生成し、このチェックデータをチェック用メモ
リ(9) に記憶する。この後、データ用メモリ(7) に記憶
したデータを読み出してこのデータとチェックデータと
の整合性をチェックしてメモリチェックを行う。
(57) [Summary] [Object] The present invention reliably detects if there is an abnormality in even one bit of an address or data. [Structure] The memory controller (4) creates data of the number of bits, which is a combination of the address information and the data issued from the CPU (1), and masks this data based on the address information and the data The parity is taken to generate check data that affects each of the three bits of the data, and this check data is stored in the check memory (9). After that, the data stored in the data memory (7) is read and the consistency between this data and the check data is checked to perform a memory check.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、電子計算機におけるメ
モリの異常検出を行うメモリチェック方式に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a memory check system for detecting a memory abnormality in an electronic computer.

【0002】[0002]

【従来の技術】かかるメモリのテスト方法としては、メ
モリのテストする全領域に対して同一のデータを書き込
み、この後に同一のデータが読み出されるかどうかを確
認することによりメモリをチェックしている。
2. Description of the Related Art As a method of testing such a memory, the same data is written in all areas to be tested in the memory, and then the memory is checked by checking whether the same data is read.

【0003】このチェックにより、例えばデータ線に断
線等の異常があったり、又メモリのセルに異常があれ
ば、メモリに書き込んだデータと同一のデータが読み出
されず、異常として検出される。
According to this check, if the data line has an abnormality such as a disconnection or the memory cell has an abnormality, the same data as the data written in the memory is not read and is detected as an abnormality.

【0004】一方、稼働中の計算機におけるメモリの異
常検出方法は、データとは別にチェックデータを保持す
るメモリを設け、メモリへの書込み動作時にデータから
生成したチェックデータを保持用のメモリに書き込み、
読み出し動作時にその読み出したデータとチェックデー
タとの整合性をハード的にチェックすることにより、メ
モリ異常を検出している。
On the other hand, a method of detecting an abnormality of a memory in a computer in operation is to provide a memory for holding check data in addition to the data and write the check data generated from the data at the time of writing operation to the memory for holding the data.
During the read operation, the memory abnormality is detected by hardware-checking the consistency between the read data and the check data.

【0005】しかしながら、これらメモリのテスト方法
では、データラインの異常は検出できるが、アドレスの
異常に対しての検出は困難となっている。例えば、特定
のアドレス線が切れたり、複数のアドレス線がショート
していた場合、アドレス線に異常であっても書き込んだ
データと同一のデータが読み出されるので、正常として
検出されてしまう。
However, although these memory testing methods can detect abnormalities in data lines, it is difficult to detect abnormalities in addresses. For example, when a specific address line is cut off or a plurality of address lines are short-circuited, even if the address line is abnormal, the same data as the written data is read out, so that it is detected as normal.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】以上のように上記メモ
リのテスト方法では、データラインの異常は検出できる
が、アドレスの異常に対しての検出は困難となってい
る。そこで本発明は、アドレス又はデータにのうち1ビ
ットでも異常があれば、これを確実に検出できるメモリ
チェック方式を提供することを目的とする。
As described above, according to the above-mentioned memory testing method, the abnormality of the data line can be detected, but it is difficult to detect the abnormality of the address. Therefore, an object of the present invention is to provide a memory check system capable of surely detecting an abnormality in even one bit in an address or data.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段と作用】請求項1によれ
ば、データの各ビットに対し、アドレス情報とに基づい
て前記データの任意数の各ビットに影響を与えるマスク
パターンをかけてチェックデータを生成し、このチェッ
クデータによってメモリに対するリード/ライトを行っ
てメモリチェックを行うようにして上記目的を達成しよ
うとするメモリチェック方式である。
According to a first aspect of the present invention, check data is applied to each bit of data by applying a mask pattern that affects an arbitrary number of bits of the data based on address information. Is generated, and the memory is checked by reading / writing the memory with this check data to achieve the above object.

【0008】請求項2によれば、アドレス情報とデータ
とを合わせたビット数のデータを作成し、このデータに
対してアドレス情報及びデータに基づいたマスクをかけ
てその偶数パリティをとって前記データの任意数の各ビ
ットに影響を与えるチェックデータを生成し、このチェ
ックデータによってメモリに対するリード/ライトを行
ってメモリチェックを行うようにして上記目的を達成し
ようとするメモリチェック方式である。
According to a second aspect of the present invention, data having the number of bits in which the address information and the data are combined is created, the data is masked based on the address information and the data, and the even parity is taken to obtain the data. This is a memory check method that achieves the above object by generating check data that affects an arbitrary number of each bit, and reading / writing the memory by this check data to perform a memory check.

【0009】[0009]

【実施例】【Example】

(1) 以下、本発明の第1の実施例について説明する。チ
ェックデータの生成源としてアドレス情報を用いる。こ
のチェックデータの各ビットは、アドレス情報から抽出
された複数ビットのパリティデータとする。このとき、
アドレス情報の各ビットがそれぞれチェックデータの異
なる3個以上の奇数個のビットのデータに影響をするよ
うなマスクパターンによってチェックデータを生成す
る。
(1) The first embodiment of the present invention will be described below. Address information is used as a generation source of check data. Each bit of this check data is a plurality of bits of parity data extracted from the address information. At this time,
The check data is generated by a mask pattern in which each bit of the address information affects the data of three or more odd-numbered bits having different check data.

【0010】例えばアドレス情報、データともに8ビッ
トの場合、メモリテストに使用するデータの生成方法の
一例として、各ビットがそれぞれアドレス情報に対して
次のマスクパターンをかけ、その偶数パリティをとった
ものとする。
For example, when the address information and the data are both 8 bits, as an example of the method of generating the data used for the memory test, each bit is subjected to the following mask pattern for the address information and the even parity is taken. And

【0011】 [データ] [マスク] ビット7:00010101 ビット6:01000101 ビット5:01010001 ビット4:01010100 ビット3:10101000 ビット2:10100010 ビット1:10001010 ビット0:00101010 このマスクパターンでは、アドレス情報の各ビットがそ
れぞれデータの3ビットのパリティ生成に影響を与える
ものとなっている。
[Data] [Mask] Bit 7: 00010101 Bit 6: 01000101 Bit 5: 0101010001 Bit 4: 01010100 Bit 3: 10101000 Bit 2: 10100010 Bit 1: 10001010 Bit 0: 00101010 In this mask pattern, each address information is Each bit has an effect on the 3-bit parity generation of the data.

【0012】ここで、アドレス情報が例えば”0000
0001“であった場合、このアドレスとデータの各ビ
ットごとにマスクをかけると(アドレス情報とマスクと
のアンドをとると)、データは各ビット7,6,5のみ
で”1“となり、残りの各ビット4,3,2,1,0で
は全て”0“となる。
Here, the address information is, for example, "0000".
If it is 0001 ", masking each bit of this address and data (if the AND of the address information and the mask is taken), the data becomes" 1 "only for each bit 7, 6 and 5, and the rest All of the bits 4, 3, 2, 1, 0 are “0”.

【0013】従って、書き込まれるチェックデータ
は、”11100000“となる。このようにして生成
されたチェックデータは、メモリのテストする全領域に
書き込まれ、この後にメモリから読み出されてチェック
に用いられる。
Therefore, the written check data is "11100000". The check data thus generated is written in the entire area of the memory to be tested, and then read from the memory and used for checking.

【0014】ここで、上記の如くアドレスの各ビットが
チェックデータの3個以上の奇数個のデータに影響を与
えるようになっているので、アドレスに異常があれば、
奇数個のデータビットに異常が検出される。
Since each bit of the address affects the odd number of data of 3 or more of the check data as described above, if the address is abnormal,
Abnormality is detected in an odd number of data bits.

【0015】このとき、チェックデータの生成時のマス
クパターンを逆に見れば、どのアドレスに異常があった
のかを特定できる。データの1ビットに異常があれば、
そのデータビットのみの1ビット異常として検出され
る。
At this time, if the mask pattern at the time of generating the check data is viewed in reverse, it is possible to specify which address has an abnormality. If one bit of data is abnormal,
It is detected as a 1-bit abnormality in only that data bit.

【0016】又、アドレス、データのうち2ビットに異
常があった場合には、偶数個のデータビットに異常が検
出されるので、この場合でも異常があったことを判断で
きる。
Further, when 2 bits of the address and the data are abnormal, an abnormality is detected in an even number of data bits, so that it is possible to judge that there is an abnormality in this case as well.

【0017】例えば、アドレスのビット0が”0“にな
った状態で固定された場合について説明すると、このと
きアドレスが”00000000“であっても、又”0
0000001“であっても、アドレスのビット0が”
0“に固定されているので、いずれのアドレスであって
もメモリ上にはアドレス”00000000“に対する
アクセスとなる。
For example, a case where the bit 0 of the address is fixed in the state of being "0" will be described. Even if the address is "00000000" at this time, it is also "0".
Even if "0000001", bit 0 of the address is "
Since it is fixed to 0 ", access to the address" 00000000 "is made on the memory regardless of the address.

【0018】このため、チェックデータは、アドレス”
00000000“に既に書き込まれたデータに対して
上書きされてしまう。従って、アドレス”000000
01“に対する書き込みが、アドレス”0000000
0“に対する書き込みよりも後に行われると、アドレ
ス”00000000“に対する読み出しチェックのと
き、アドレスは”00000000“であるにも拘ら
ず、アドレス”00000001“に対するチェックデ
ータが読み出される。
Therefore, the check data is the address "
The data already written in "00000000" will be overwritten. Therefore, the address "000000" will be overwritten.
01 "is written at the address" 0000000
If it is performed after the writing to 0 ", the check data for the address" 00000001 "is read at the time of the read check for the address" 00000000 "even though the address is" 00000000 ".

【0019】このとき、チェックデータの比較を行う
と、各ビット7,6,5に3つのビットが異常として検
出される。そこで、マスクパターンを逆に引けば、各ビ
ット7,6,5の生成に関与しているのは、アドレスの
ビット0であることから、アドレスのビット0が異常で
あることが検出される。
At this time, if the check data are compared, three bits are detected as abnormal in each of the bits 7, 6 and 5. Therefore, if the mask pattern is subtracted in reverse, it is detected that the bit 0 of the address is abnormal because the bit 0 of the address is involved in the generation of the bits 7, 6, and 5.

【0020】他のビットが異常になった場合も同様にし
て容易に異常箇所の特定を行うことができる。このよう
に上記第1の実施例によれば、データのみならずアドレ
ス情報に対しても異常を検出でき、かつ異常箇所の特定
ができる。 (2) 次に本発明の第2の実施例について説明する。
Even when other bits become abnormal, the abnormal portion can be easily identified in the same manner. As described above, according to the first embodiment, it is possible to detect an abnormality not only in the data but also in the address information and identify the abnormal portion. (2) Next, a second embodiment of the present invention will be described.

【0021】図1はメモリチェック方式を適用したアド
レス異常検出機構付きメモリコントローラの全体構成図
である。CPU1には、CPUアドレス線2及びCPU
データ線3を介してメモリコントローラ4が接続されて
いる。
FIG. 1 is an overall configuration diagram of a memory controller with an address abnormality detection mechanism to which a memory check method is applied. CPU1 includes a CPU address line 2 and a CPU
The memory controller 4 is connected via the data line 3.

【0022】このメモリコントローラ4には、メモリア
ドレス線5及びメモリデータ線6を介してデータ用メモ
リ7が接続されるとともにメモリアドレス線5及びチェ
ックデータ用データ線8を介してチェック用メモリ9が
接続されている。
A data memory 7 is connected to the memory controller 4 via a memory address line 5 and a memory data line 6, and a check memory 9 is connected via a memory address line 5 and a check data data line 8. It is connected.

【0023】メモリコントローラ4は、CPU1から発
せられるアドレス情報とデータとを合わせたビット数の
データを作成し、このデータに対してアドレス情報及び
データに基づいたマスクをかけてその偶数パリティをと
ってデータの3個の各ビットに影響を与えるチェックデ
ータを生成し、このチェックデータをチェック用メモリ
9に記憶し、この後、データ用メモリ7に格納したデー
タを読み出してこのデータとチェックデータとの整合性
をチェックしてメモリチェックを行う機能を有してい
る。
The memory controller 4 creates data of a bit number which is a combination of the address information and the data issued from the CPU 1, masks this data based on the address information and the data, and takes the even parity. Check data that affects each of the three bits of the data is generated, the check data is stored in the check memory 9, and thereafter, the data stored in the data memory 7 is read to obtain the check data and the check data. It has the function of checking consistency and performing memory check.

【0024】又、このメモリコントローラ4は、メモリ
チェックの結果、異常が検出されると、CPU1に対し
てエラー通知信号等の割り込み信号10を送出して異常
発生を通知する機能を有している。
Further, the memory controller 4 has a function of sending an interrupt signal 10 such as an error notification signal to the CPU 1 to notify the occurrence of an abnormality when an abnormality is detected as a result of the memory check. .

【0025】次に上記の如く構成されたメモリコントロ
ーラでのメモリチェックについて説明する。メモリコン
トローラ4は、チェック用メモリ9に書き込むチェック
データを、データ用メモリ7に記憶するデータと該当す
るメモリアドレス情報から生成する。すなわち、メモリ
コントローラ4は、CPU1から発せられるアドレス情
報とデータとを合わせ、これらアドレス情報及びデータ
を合わせたビット数のデータとみなす。
Next, the memory check in the memory controller configured as described above will be described. The memory controller 4 generates check data to be written in the check memory 9 from the data stored in the data memory 7 and the corresponding memory address information. That is, the memory controller 4 combines the address information and the data issued from the CPU 1 and regards the address information and the data as data of the total number of bits.

【0026】例えば、アドレス情報が10ビット、デー
タが8ビットであれば、これらを合わせて18ビットの
データとみなし、このデータからチェックデータの生成
を行う。
For example, if the address information is 10 bits and the data is 8 bits, it is regarded as 18 bits of data in total, and check data is generated from this data.

【0027】具体例としてアドレス情報、データとも8
ビットのデータ用メモリ7が接続されている場合、この
ときチェックデータとして6ビットを使用し、次のよう
なマスクパターンによってチェックデータを生成する。
As a specific example, both address information and data are 8
When the bit data memory 7 is connected, 6 bits are used as the check data at this time, and the check data is generated by the following mask pattern.

【0028】 そして、例えば、アドレス情報が「1」、データが
「2」の場合にマスクをかけて、その偶数パリティをと
ると、次の通りとなる。
[0028] Then, for example, when the address information is “1” and the data is “2”, masking is performed and the even parity is taken as follows.

【0029】 ビット5:(11101101_00110100)AND (00000001_00000010) =00000001_00000000 …1 ビット4:(11011010_10101010)AND (00000001_00000010) =00000000_00000010 …1 ビット3:(10110110_01011001)AND (00000001_00000010) =00000000_00000000 …0 ビット2:(01110001_11000111)AND (00000001_00000010) =00000001_00000010 …0 ビット1:(00001111_11000000)AND (00000001_00000010) =00000001_00000000 …1 ビット0:(00000000_00111111)AND (00000001_00000010) =00000000_00000010 …1 この結果から、チェックデータは、”110011“と
なる。
Bit 5: (11101101_00110100) AND (00000001_00000010) = 00000001_00000000 ... 1 Bit 4: (11011010_10101010) AND (00000001_00000010) = 00000000_00000010 ... 1 Bit 3: (10110110_01011001) AND (00000001_00000010) = 00000000_00000000 ... 0 Bit 2: (01110001) ) AND (00000001_00000010) = 00000001_00000010 ... 0 Bit 1: (00001111_11000000) AND (00000001_00000010) = 00000001_00000000 ... 1 Bit 0: (00000000_00111111) AND (00000001_00000010) = 00000000_00000010 ... 1 From this result, the check data becomes "110011" .

【0030】メモリコントローラ4は、このようにして
得られたチェックデータを対応するチェック用メモリ9
に格納し、読み出し時にはデータ用メモリ7、及びアド
レス情報とこのチェックデータとの整合性のチェックを
行う。
The memory controller 4 stores the check data thus obtained in the corresponding check memory 9
When the data is read out, the consistency between the data memory 7 and the address information and the check data is checked.

【0031】アドレス情報やデータの各ビットが、チェ
ックデータの奇数個のビットに影響を与えるようになっ
ているので、アドレス情報のうち1ビットが間違った状
態でアクセスされると、チェックデータの奇数個のビッ
トに異常が検出される。そして、このチェックデータの
パターンによってどのビットに誤りがあったかが特定さ
れる。
Since each bit of the address information and data affects the odd number of bits of the check data, if one bit of the address information is accessed in the wrong state, the odd number of the check data will be detected. Abnormality is detected in each bit. Then, which bit has an error is specified by the pattern of the check data.

【0032】例えば、アドレス「1」を読み出すはず
が、なんらかの異常によってアドレス「0」を読み出し
た場合、アドレス「1」の生成に関わっていたチェック
データが該当ビット、すなわちビット1,2,5にパリ
ティエラーを検出することになる。
For example, when the address "1" is supposed to be read but the address "0" is read due to some abnormality, the check data involved in the generation of the address "1" is stored in the corresponding bits, that is, bits 1, 2, and 5. A parity error will be detected.

【0033】このビットパターンを生成時のマスクパタ
ーンと照合すると、ビット1,2,5のパリティ生成に
関わったのは、アドレス情報の0ビットとなり、これに
より異常発生箇所が特定できる。
When this bit pattern is collated with the mask pattern at the time of generation, it is 0 bit of the address information that is involved in the parity generation of bits 1, 2 and 5, whereby the location of the abnormality can be specified.

【0034】このようにして異常が検出されると、メモ
リコントローラ4は、CPU1に対してエラー通知信号
等の割り込み信号10を送出して異常発生を通知する。
なお、アドレス情報やデータのうちいずれか2つのビッ
トに異常があれば、チェックデータの偶数個のビットに
異常が検出されるので、どのビットが異常かの特定はで
きないが、異常の検出はできる。
When the abnormality is detected in this way, the memory controller 4 sends an interrupt signal 10 such as an error notification signal to the CPU 1 to notify the occurrence of the abnormality.
If any two bits of the address information or the data are abnormal, the even number of bits of the check data is detected to be abnormal. Therefore, it is not possible to specify which bit is abnormal, but the abnormality can be detected. .

【0035】このように上記第2の実施例によれば、ア
ドレス又はデータのうち1ビットでも異常があればこれ
を確実に検出でき、かつ稼働中のメモリコントローラ4
においてデータ用メモリ7に対するチェックができる。
なお、本発明は、上記各実施例に限定されるものでな
く、その要旨を変更しない範囲で変形してもよい。
As described above, according to the second embodiment, if even one bit of the address or the data is abnormal, it can be reliably detected and the memory controller 4 in operation.
At, the data memory 7 can be checked.
The present invention is not limited to the above embodiments, and may be modified without changing the gist thereof.

【0036】[0036]

【発明の効果】以上詳記したように本発明によれば、ア
ドレス又はデータにのうち1ビットでも異常があれば、
これを確実に検出できるメモリチェック方式を提供でき
る。
As described above in detail, according to the present invention, if even one bit of an address or data is abnormal,
A memory check method capable of surely detecting this can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係わるメモリチェック方式を適用した
アドレス異常検出機構付きメモリコントローラの全体構
成図。
FIG. 1 is an overall configuration diagram of a memory controller with an address abnormality detection mechanism to which a memory check method according to the present invention is applied.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…CPU、2…CPUアドレス線、3…CPUデータ
線、4…メモリコントローラ、5…メモリアドレス線、
6…メモリデータ線、7…データ用メモリ、8…チェッ
クデータ用データ線、9…チェック用メモリ。
1 ... CPU, 2 ... CPU address line, 3 ... CPU data line, 4 ... memory controller, 5 ... memory address line,
6 ... Memory data line, 7 ... Data memory, 8 ... Check data data line, 9 ... Check memory.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 データの各ビットに対し、アドレス情報
とに基づいて前記データの任意数の各ビットに影響を与
えるマスクパターンをかけてチェックデータを生成し、
このチェックデータによってメモリに対するリード/ラ
イトを行ってメモリチェックを行うことを特徴とするメ
モリチェック方式。
1. A check pattern is generated by applying a mask pattern to each bit of data, which affects an arbitrary number of bits of the data, based on address information.
A memory check method characterized by performing a memory check by reading / writing to the memory based on this check data.
【請求項2】 アドレス情報とデータとを合わせたビッ
ト数のデータを作成し、このデータに対してアドレス情
報及びデータに基づいたマスクをかけてその偶数パリテ
ィをとって前記データの任意数の各ビットに影響を与え
るチェックデータを生成し、このチェックデータによっ
てメモリに対するリード/ライトを行ってメモリチェッ
クを行うことを特徴とするメモリチェック方式。
2. A data having a number of bits, which is a combination of address information and data, is created, a mask based on the address information and the data is applied to the data, and the even parity is taken to obtain each of an arbitrary number of the data. A memory check method characterized in that check data that affects bits is generated, and the memory is read / written by this check data to perform a memory check.
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