JPH08105944A - Ｍｃｍに搭載されたｌｓｉの試験方法および装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 １つの診断パタンで、ＭＣＭ上に搭載された
複数のＬＳＩを同時に診断でき、ＭＣＭの診断時間の短
縮を図り、ＭＣＭを効率的に診断すること。 【構成】 診断パタン作成手段３はＭＣＭ１に搭載され
た各ＬＳＩ１〜ｎ単体の診断パタンをＭＣＭ１のパタン
入力ポイント／出力観測ポイントと対応をとって複写す
ることにより、ＭＣＭの診断パタンを作成する。また、
ＭＣＭの診断パタンを作成する際、各ＬＳＩ単体の診断
パタンにおける期待値と、ＭＣＭ上のＬＳＩの診断パタ
ンにおける期待値に食い違いが生ずるものを不観測値Ｘ
とする。作成された診断パタンはＭＣＭテスタ２に与え
られ、ＭＣＭテスタ２はＭＣＭ１上の各ＬＳＩに制御信
号を入力してＭＣＭ１上の各ＬＳＩの双方向配線間にお
ける信号の衝突を防止した状態で、診断パタンの入力パ
タンをＭＣＭ１上のＬＳＩに入力し、ＭＣＭ１上の複数
のＬＳＩを試験する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】電子回路の高密度化にともない、
ＬＳＩをセルのまま搭載して回路を構成するＭＣＭ（マ
ルチ・チップ・モジュール：以下ＭＣＭという）という
形式のパッケージが登場してきた。このＭＣＭで使用す
るＬＳＩは、ＬＳＩ自体がセルのままであり、テスタが
ピンに触れることができないので、全てのＬＳＩピンに
スキャン・フリップフロップ（以下、フリップフロップ
をＦＦという）が取り付けられ、スキャンＦＦのみを使
用して試験が行われる。

【０００２】本発明は上記したスキャンＦＦを利用して
（これをバンダリ・スキャンという）ＭＣＭ製造後の試
験を行う、ＭＣＭに搭載されたＬＳＩの試験方法および
装置に関するものである。

【０００３】

【従来の技術】従来、ＭＣＭに搭載されたＬＳＩの診断
は次のように行われていた。 ＭＣＭに搭載されたＬＳＩの内、一つを診断対象Ｌ
ＳＩとして着目し、それ以外のＬＳＩのパタン入力ポイ
ントに入力する値を操作して、双方向配線間で信号の衝
突が生じないように制御する。 診断したいＬＳＩ単体での診断パタンの入力パタン
を、ＭＣＭのパタン入力ポイントと対応をとって複写す
る。 上記診断パタンの入力パタンによりＭＣＭ上で、再
シミュレーションを行うことにより、ＭＣＭにＬＳＩを
搭載した状態でのＬＳＩの診断パターン（入力パタン
と、出力期待値）を作成する。 ＭＣＭ１０１の入力ポイントから上記入力パタンを
ＬＳＩのスキャン回路にスキャンインし、スキャン入力
を各ＬＳＩの内部ＦＦにセット（アップデート）したの
ち、各ＬＳＩの内部ＦＦにとり込み（キャプチャー）、
スキャンアウトされる出力パターンを期待値と照合する
ことにより、診断対象となるＬＳＩの診断を行う。 ＭＣＭに搭載された他のＬＳＩについても、上記
〜により同様に診断パタンを作成し診断する。

【０００４】図１０〜図１５は上記した従来の診断パタ
ンの作成方法を説明する図である。図１０において、１
０１はＭＣＭであり、ＭＣＭ１０１にはＬＳＩ１，ＬＳ
Ｉ２，ＬＳＩ３の３個のＬＳＩが搭載されており、各Ｌ
ＳＩは前記したバタンダリ・スキャン回路を備えてい
る。なお、同図における四角□で示した１〜３６はＬＳ
Ｉのパタン入力／出力観測ポイントを示している。

【０００５】図１１は上記ＬＳＩ２単体の診断パタンを
示す図であり、ＬＳＩ２単体の診断パタンは、同図に示
すように、図１１のＬＳＩ２のパタン入力／出力観測ポ
イント１〜１２に対応したポイント番号１〜１２の入力
パタンと、ポイント番号１〜１２の出力期待値からな
り、同図ではパタン番号１〜４の４パタンが示されてい
る。

【０００６】そして、ＬＳＩ２が正常な場合には、上記
ポイント番号１〜１２の入力パタンをＬＳＩ２に順次ス
キャンインしたとき、同図に示すポイント番号１〜１２
の出力期待値がスキャンアウトされる。図１２は作成さ
れたＭＣＭのＬＳＩ２の診断パタンを示す図であり、同
図（ａ）はＭＣＭの入力パタン、（ｂ）は出力期待値を
示している（図１１の点線矢印は図１２の点線につなが
る）。

【０００７】ＭＣＭの入力パタンは、同図に示すよう
に、ＬＳＩの双方向ピンの信号の衝突が発生しないよう
に制御する入力パタンＡ、Ｃと、ＬＳＩ２単体の入力パ
タンを複写したパタンＢからなり、また、ＭＣＭの出力
期待値は、期待値としては全く意味を持たないパタン
Ｄ、Ｆと、ＬＳＩ２単体の出力期待値を複写したパタン
Ｅからなる。なお、図１１のポイント番号はＭＣＭに搭
載されたＬＳＩ１〜ＬＳＩ３のパタン入力／出力期待値
ポイント１〜３６に対応している。

【０００８】図１２に示すＬＳＩ２の診断パタンは次の
ようにして作成される。試験対象外のＬＳＩ１とＬＳＩ
３について、双方向ピンの信号が衝突しないように制御
する診断パターンを作成し、この診断パタンと試験対象
ＬＳＩ２単体の診断パタンとを組み合わせ、それらの診
断パタンの入力／出力観測ポイントと、ＭＣＭ上でのパ
タン入力／出力観測ポイントとの対応をとって、診断パ
タンを作成する。

【０００９】すなわち、試験対象外のＬＳＩ１とＬＳＩ
３について、双方向ピンの信号が衝突しないように制御
する診断パターンを用意し、これをＭＣＭ１０１の入力
パタンのポイント番号１〜１２、ポイント番号２５〜３
６（図１２のＡ、Ｃ）に対応させて上記ポイント番号部
分の診断パタンを作成し、また、ポイント番号１３〜２
４（図１２のＢ）に対応させて、図１１に示すＬＳＩ２
単体の入力パタンを複写する。

【００１０】さらに、期待値として全く意味を持たない
出力期待値を用意し、これをＭＣＭ１０１の出力期待値
のポイント番号１〜１２、ポイント番号２５〜３６（図
１２のＤ、Ｆ）に対応させ、また、ポイント番号１３〜
２４（図１２のＥ）に対応させて、図１１に示すＬＳＩ
２単体の出力期待値を複写する。図１３〜図１５は上記
のようにして作成されたＭＣＭ１０１に搭載されたＬＳ
Ｉ１，ＬＳＩ２，ＬＳＩ３のそれぞれの診断パタンを示
す図である。

【００１１】同図の入力パターンにおいて、実線で示し
たＧ，Ｂ，Ｏ，Ｊ，Ｅ，ＲはＬＳＩ１〜ＬＳＩ３単体の
診断パタンを複写した部分、点線で示したＨ，Ｉ，Ａ，
Ｃ，Ｍ，Ｎは双方向ピンの信号が衝突しないように制御
する部分、Ｋ，Ｌ，Ｄ，Ｆ，Ｐ，Ｑは期待値として全く
意味を持たない部分である。ところで、上記例では、Ｍ
ＣＭの診断パタンのポイント番号１３〜２４の部分をＬ
ＳＩ２単体の診断パタンを複写して作成しているが、Ｍ
ＣＭに搭載する際の回路の組み方によっては、ＬＳＩ単
体の場合の期待値とＭＣＭの期待値が相違する場合があ
る。

【００１２】図１６は上記のようにＬＳＩ単体とＭＣＭ
の入力ピンの期待値に食い違いが発生する場合の一例を
示す図である。同図（ａ）に示すように、ＬＳＩの内部
でＦＦ入力がプルアップされている場合には、ＬＳＩ単
体の場合の期待値は〔Ｈ〕となるが、このＬＳＩをＭＣ
Ｍに組み込み、同図（ｂ）に示すようにＬＳＩ外部でプ
ルダウンした場合には、その期待値は〔Ｌ〕となる。

【００１３】以上のように、ＭＣＭに搭載する際の回路
の組み方によっては、ＬＳＩ単体の場合の期待値とＭＣ
Ｍの期待値が相違する場合があるので、図１１〜図１５
のように作成された診断パタンは、更に、ＭＣＭ上で再
シミュレーションして、ＭＣＭに搭載した状態での診断
パタンを作成する必要がある。

【００１４】

【発明が解決しようとする課題】上記した従来技術は次
のような問題を持っていた。 （１）ＬＳＩの診断パタンがＭＣＭ上の配線を考慮して
いないため、同時に複数個のＬＳＩを診断するパタンを
作成しようとすると、ＭＣＭ上の双方向配線間で信号の
衝突を発生することがある。 （２）１つの診断パタンで１箇所のＬＳＩの診断しかで
きないため、ＭＣＭ上の全てのＬＳＩの診断を行うに
は、図１３〜図１５に示したように診断パタンをＭＣＭ
に搭載されたＬＳＩの個数分用意する必要がある。 （３）ＭＣＭの入力パタン中の診断対象外部分のパタン
入力ポイント／出力観測ポイント（図１３〜図１５の点
線で示したＨ，Ｉ，Ａ，Ｃ，Ｍ，Ｎの部分）の値は、双
方向ピンの制御のみに使用され診断としての意味を持た
ず冗長である。

【００１５】同様に、診断対象外部分の期待値（図１３
〜図１５の点線で示したＫ，Ｌ，Ｄ，Ｆ，Ｐ，Ｑの部
分）は期待値として全く意味を持たず冗長である。 （４）図１６に示したようにＭＣＭに搭載する際の回路
の組み方により、ＬＳＩ単体の場合と診断パタンの入力
ピンの期待値に食い違いが発生するため、再シミュレー
ションをして期待値を求める必要がある。

【００１６】本発明は上記した従来技術の問題点を解決
するためになされたものであって、本発明の第１の目的
は、ＭＣＭ上のＬＳＩに双方向配線間の信号の衝突を防
止する手段を設けることにより、１つの診断パタンで、
ＭＣＭ上に搭載された複数のＬＳＩを同時に診断できる
診断方法および装置を提供することである。本発明の第
２の目的は、ＭＣＭの診断パタンの冗長性を除去するこ
とにより、ＭＣＭの診断時間の短縮を図り、ＭＣＭを効
率的に診断することができる診断方法および装置を提供
することである。

【００１７】本発明の第３の目的は、再シミュレーショ
ンによりＭＣＭにＬＳＩを搭載した状態での診断パタン
を作成する必要がない診断方法および装置を提供するこ
とである。

【００１８】

【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理図で
ある。同図において、１は双方向配線間における信号の
衝突を防止する手段を設けた複数のＬＳＩを搭載したＭ
ＣＭ、２はＭＣＭを試験するＭＣＭテスタ、３はＭＣＭ
上に搭載されたＬＳＩを試験する診断パタンを作成する
手段である。

【００１９】上記課題を解決するため、本発明の請求項
１の発明は、図１に示すように、ＭＣＭ上に、双方向配
線間における信号の衝突を防止する手段を設けたＬＳＩ
を搭載し、ＭＣＭに搭載された複数のＬＳＩを診断する
際、外部から制御信号を与えてＬＳＩの双方向配線間に
おける信号の衝突を防止した状態で、ＭＣＭ上のＬＳＩ
に診断パタンを入力し、上記診断パタンによりＭＣＭ上
の複数のＬＳＩを試験するようにしたものである。

【００２０】本発明の請求項２の発明は、請求項１の発
明において、ＭＣＭ上に搭載された各ＬＳＩ単体の診断
パタンを、ＭＣＭのパタン入力ポイント／出力観測ポイ
ントと対応をとって複写することにより、ＭＣＭ上に搭
載された複数のＬＳＩを同時に試験する冗長部分のない
診断パタンを作成し、上記診断パターンによりＭＣＭ上
に搭載されたＬＳＩを試験するようにしたものである。

【００２１】本発明の請求項３の発明は、請求項１また
は請求項２の発明において、各ＬＳＩ単体の診断パタン
における期待値と、ＭＣＭ上のＬＳＩの診断パタンにお
ける期待値に食い違いが生ずるものを不観測値としたも
のである。本発明の請求項４の発明は、双方向配線間に
おける信号の衝突を防止する手段を設けた複数のＬＳＩ
を搭載したＭＣＭ上の各ＬＳＩを診断パタンにより試験
する試験装置において、ＭＣＭ上に搭載された各ＬＳＩ
単体の診断パタンを、ＭＣＭのパタン入力ポイント／出
力観測ポイントと対応をとって複写することにより、Ｍ
ＣＭ上に搭載された複数のＬＳＩを同時に試験する診断
パタンを作成する診断パタン作成手段と、診断パタン作
成手段により作成された診断パタンをＭＣＭ上のＬＳＩ
に入力し、ＭＣＭ上のＬＳＩから出力される信号を期待
値と照合することによりＭＣＭ上のＬＳＩを試験するＭ
ＣＭテスタとを備え、上記ＭＣＭテスタは、ＭＣＭ上の
各ＬＳＩに制御信号を入力してＭＣＭ上の各ＬＳＩの双
方向配線間における信号の衝突を防止した状態で、診断
パタンをＭＣＭ上のＬＳＩに入力して、ＭＣＭ上のＬＳ
Ｉを試験するように構成したものである。

【００２２】

【作用】図１において、診断パタン作成手段３はＭＣＭ
１に搭載された各ＬＳＩ１〜ｎ単体の診断パタンをＭＣ
Ｍ１のパタン入力ポイント／出力観測ポイントと対応を
とって複写することにより、ＭＣＭの診断パタンを作成
する。また、ＭＣＭの診断パタンを作成する際、各ＬＳ
Ｉ単体の診断パタンにおける期待値と、ＭＣＭ上のＬＳ
Ｉの診断パタンにおける期待値に食い違いが生ずるもの
を不観測値Ｘとする。

【００２３】作成された診断パタンはＭＣＭテスタ２に
与えられ、ＭＣＭテスタ２はＭＣＭ１上の各ＬＳＩに制
御信号を入力してＭＣＭ１上の各ＬＳＩの双方向配線間
における信号の衝突を防止した状態で、診断パタンの入
力パタンをＭＣＭ１上のＬＳＩに入力し、ＬＳＩからス
キャンアウトされる信号を診断パタンの期待値と照合し
て、ＭＣＭ１上の複数のＬＳＩを試験する。

【００２４】本発明の請求項１および請求項４の発明に
おいては、上記のようにＭＣＭ上に、双方向配線間にお
ける信号の衝突を防止する手段を設けたＬＳＩを搭載
し、ＭＣＭに搭載された複数のＬＳＩを診断する際、外
部から制御信号を与えてＬＳＩの双方向配線間における
信号の衝突を防止した状態で、ＭＣＭ上のＬＳＩに診断
パタンを入力し、上記診断パタンによりＭＣＭ上の複数
のＬＳＩを試験するようにしたので、ＭＣＭ上の配線に
より双方向配線間で衝突が生ずることを防止でき、従来
例のように、双方向ピンの信号が衝突しないように制御
する診断パターンを用意することなく、一つの診断パタ
ンで、ＭＣＭ上に搭載された複数のＬＳＩを同時に診断
することができる。

【００２５】本発明の請求項２の発明においては、請求
項１の発明において、ＭＣＭ上に搭載された各ＬＳＩ単
体の診断パタンを、ＭＣＭのパタン入力ポイント／出力
観測ポイントと対応をとって複写することにより、ＭＣ
Ｍ上に搭載された複数のＬＳＩを同時に試験する冗長部
分のない診断パタンを作成しているので、ＭＣＭの診断
時間の短縮を図り、ＭＣＭを効率的に診断することがで
きる。

【００２６】本発明の請求項３の発明においては、請求
項１または請求項２の発明において、各ＬＳＩ単体の診
断パタンにおける期待値と、ＭＣＭ上のＬＳＩの診断パ
タンにおける期待値に食い違いが生ずるものを不観測値
としているので、ＭＣＭ上の回路がどのように組まれて
いても、再シミュレーションすることなく、各ＬＳＩ単
体の診断パタンを複写して作成した診断パタンにより、
ＭＣＭ上のＬＳＩを診断することができる。

【００２７】

【実施例】図２は本発明の前提となるＭＣＭテスタの構
成の一例を示す図、図３は診断パタンを作成するシステ
ムの構成の一例を示す図である。１１はＬＳＩを搭載し
た被診断対象ＭＣＭであり、被診断対象ＭＣＭ１１に搭
載されたＬＳＩにはバンダリスキャン回路が設けられ、
また、後述するように、信号の衝突を起こさないように
するため、双方向ピンの全てをハイインピーダンスにす
る手段が設けられている。

【００２８】１２はＭＣＭテスタであり、ＭＣＭテスタ
１２は、被診断対象ＭＣＭ１１への入力パターン１２ａ
を発生する手段と、期待値１２ｂを発生する手段と、制
御部１２ｆとを備えている。そして、上記入力パターン
１２ａをドライバ１２ｃを介してＭＣＭ１１のＬＳＩの
スキャン回路に与え、スキャンアウトされる出力をレシ
ーバ１２ｄにより受信して、照合回路１２ｅにより上記
期待値１２ｂとレシーバ１２ｄの出力を照合することに
より、ＭＣＭ上のＬＳＩの診断を行う。

【００２９】また、１３は診断パターンを格納したファ
イルであり、ファイル１３に格納されたパターンが読み
出され、入力パターン、期待値として被診断ＭＣＭ１１
に与えられる。図３は図２に示した診断パターン作成す
るシステムの構成を示す図であり、同図において、１２
は上記したＭＣＭテスタ、１３は診断パターンを格納す
るファイル、２１は診断パターン発生用処理装置、２２
はＭＣＭの回路の接続関係およびＭＣＭに搭載されたＬ
ＳＩ単体の診断パタンを格納したファイルであり、診断
パターン発生用処理装置２１はファイル２２に格納され
た情報に基づき診断パターンを生成して、ファイル１３
に格納する。

【００３０】上記ファイル１３に格納された診断パター
ンはＭＣＭテスタ１２に与えられ、ＭＣＭ１１の診断が
行われる。図４は本実施例おけるＭＣＭと、該ＭＣＭに
搭載されるＬＳＩを示す図であり、本実施例において
は、同図に示すように、双方向性ピンの全てをハイイン
ピーダンス状態にする回路と制御手段がＬＳＩに組み込
まれており、同図の星印で示すピンに信号を与えること
により、ＬＳＩの双方向性ピンの全てをハイインピーダ
ンス状態にすることができる。また、上記星印のピン
は、ＭＣＭ内で相互に接続されてＭＣＭのピンとして外
部に導出されており、該ピンに信号を与えることによ
り、ＭＣＭに搭載された全てのＬＳＩの双方向性ピンを
ハイインピーダンスにすることができる。

【００３１】次に、図５に示すＭＣＭを一例として、本
実施例における診断パタンの作成について説明する。図
５において、ＬＳＩ−ＡとＬＳＩ−Ｂは異なった診断パ
タンにより診断されるＬＳＩであり、それぞれ１〜１２
の入力／出力観測ポイントを持っている。そして、本実
施例のＭＣＭにおいては、２個のＬＳＩ−Ａ（ＬＳＩ−
ＡとＬＳＩ−Ａ）と１個のＬＳＩ−Ｂが搭載され、
ポイント番号１〜２４がＬＳＩ−ＡとＬＳＩ−Ａに
対応し、ポイント番号２５〜３６がＬＳＩ−Ｂに対応し
ている。

【００３２】図６は上記ＬＳＩ−ＡとＬＳＩ−Ｂの診断
パタンを示す図、図７はＭＣＭの診断パターンのベース
であり、図６に示す診断パタンを診断パタンの入力パタ
ンを、ＭＣＭのパタン入力ポイントと対応をとって図７
のベースに複写することにより、ＭＣＭの診断パタンが
作成される。なお、同図において、０は入力値０、１は
入力値１、ｘは入力値不問、Ｌは期待値０、Ｈは期待値
１、Ｘは期待値不観測を意味している。

【００３３】本実施例において、ＭＣＭの診断パタンは
以下のように作成される。 （１）ＭＣＭ上に搭載されたＬＳＩの種類分のパタンを
用意し、その内の最も長いパタンに合わせて図７に示す
ように、ＭＣＭの診断パタンのベースを作成する。上記
ベースには、最初、図７に示すように入力パタンはｘ、
期待値はＸに設定されている。 （２）各ＬＳＩのパタン入力ポイント／出力観測ポイン
トを、ＭＣＭ上のパタン入力ポイント／出力観測ポイン
トと対応付け、各ＬＳＩ診断パタンをＭＣＭの診断パタ
ンのベース上に複写編集し、ＭＣＭの診断パタンを作成
する。

【００３４】すなわち、図６に示した各ＬＳＩの診断パ
タンをＭＣＭとＬＳＩのスキャンポイントを対応付けて
図７に示す診断パタンのベースに複写し、図８に示す診
断パタンを得る。ここで、ＬＳＩ−Ｂの診断パタンは、
ＬＳＩ−Ａの診断パタンより短いので、図８に示すよう
に、入力パタンに入力値不問のｘの部分、また、期待値
に期待値不観測のＸの部分が残る。 （３）ＬＳＩの入力ピンのピンスキャンに関しては、Ｍ
ＣＭ上での回路の組み方によって期待値が変化するた
め、ＭＣＭ上の回路によって期待値が変わると思われる
ピンについて、図９に示すように入力ピンの期待値を期
待値不観測のＸとする。

【００３５】上記のように作成された診断パタンによ
り、ＭＣＭ上の各ＬＳＩは次にように診断される。すな
わち、診断時、まず、前記図４に示した回路と制御手段
により、ＭＣＭ上のＬＳＩの双方向性ピンの全てをハイ
インピーダンスにしたのち、上記診断パタンを前記した
図２に示すＭＣＭテスタに与え、ＭＣＭに搭載された全
てのＬＳＩを一つの診断パタンにより同時に診断する。

【００３６】

【発明の効果】以上説明したように、本発明において
は、以下の効果を得ることができる。 （１）ＭＣＭ上に、双方向配線間における信号の衝突を
防止する手段を設けたＬＳＩを搭載しているので、ＭＣ
Ｍ上の配線により双方向配線間で衝突が生ずることを防
止でき、従来例のように、双方向ピンの信号が衝突しな
いように制御する診断パターンを用意することなく、一
つの診断パタンで、ＭＣＭ上に搭載された複数のＬＳＩ
を同時に診断することができる。 （２）ＭＣＭ上に搭載された各ＬＳＩ単体の診断パタン
を、ＭＣＭのパタン入力ポイント／出力観測ポイントと
対応をとって複写することにより、ＭＣＭ上に搭載され
た複数のＬＳＩを同時に試験する冗長部分のない診断パ
タンを作成しているので、一つの診断パタンでＭＣＭ上
の全てのＬＳＩを診断することができ、診断時間の短縮
を図り、効率的な診断をすることができる。 （３）各ＬＳＩ単体の診断パタンにおける期待値と、Ｍ
ＣＭ上のＬＳＩの診断パタンにおける期待値に食い違い
が生ずるものを不観測値としているので、ＭＣＭ上の回
路がどのように組まれていても、再シミュレーションす
ることなく、各ＬＳＩ単体の診断パタンを複写して作成
した診断パタンにより、ＭＣＭ上のＬＳＩを診断するこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の原理図である。

【図２】本発明の前提となるＭＣＭテスタの構成の一例
を示す図である。

【図３】診断パタンを作成するシステムの構成の一例を
示す図である。

【図４】本実施例おけるＭＣＭと該ＭＣＭに搭載される
ＬＳＩを示す図である。

【図５】本実施例におけるＭＣＭの一例を示す図であ
る。

【図６】図５に示すＬＳＩ単体の診断パタンを示す図で
ある。

【図７】本実施例におけるＭＣＭ診断パタンの作成方法
（１）を示す図である。

【図８】本実施例におけるＭＣＭ診断パタンの作成方法
（２）を示す図である。

【図９】本実施例におけるＭＣＭ診断パタンの作成方法
（３）を示す図である。

【図１０】従来例における診断パタン作成の対象となる
ＭＣＭの構成を示す図である。

【図１１】ＬＳＩ単体の診断パタンを示す図である。

【図１２】従来の診断パタンの作成方法を示す図であ
る。

【図１３】従来の方法で作成された診断パタンを示す図
である。

【図１４】従来の方法で作成された診断パタンを示す図
である。

【図１５】従来の方法で作成された診断パタンを示す図
である。

【図１６】ＭＣＭの回路により期待値の食い違いが生ず
る一例を示す図である。

【符号の説明】

１ ＭＣＭ ２ ＭＣＭテスタ ３ 診断パタンを作成する手段 １１ ＭＣＭ １２ ＭＣＭテスタ １２ａ 入力パターン １２ｂ 期待値 １２ｃ ドライバ １２ｄ レシーバ １２ｅ 照合回路 １２ｆ 制御部 １３ 診断パターンを格納したファイル ２１ 診断パターン発生用処理装置 ２２ 回路情報ファイル

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ＭＣＭ上に、双方向配線間における信号
   の衝突を防止する手段を設けたＬＳＩを搭載し、 ＭＣＭに搭載された複数のＬＳＩを診断する際、外部か
   ら制御信号を与えてＬＳＩの双方向配線間における信号
   の衝突を防止した状態で、ＭＣＭ上のＬＳＩに診断パタ
   ンを入力し、 上記診断パタンによりＭＣＭ上の複数のＬＳＩを試験す
   ることを特徴とするＭＣＭに搭載されたＬＳＩの試験方
   法。
2. 【請求項２】 ＭＣＭ上に搭載された各ＬＳＩ単体の診
   断パタンを、ＭＣＭのパタン入力ポイント／出力観測ポ
   イントと対応をとって複写することにより、ＭＣＭ上に
   搭載された複数のＬＳＩを同時に試験する冗長部分のな
   い診断パタンを作成し、 上記診断パターンによりＭＣＭ上に搭載されたＬＳＩを
   試験することを特徴とする請求項１のＭＣＭに搭載され
   たＬＳＩの試験方法。
3. 【請求項３】 各ＬＳＩ単体の診断パタンにおける期待
   値と、ＭＣＭ上のＬＳＩの診断パタンにおける期待値に
   食い違いが生ずるものを不観測値としたことを特徴とす
   る請求項１または請求項２のＭＣＭに搭載されたＬＳＩ
   の試験方法。
4. 【請求項４】 双方向配線間における信号の衝突を防止
   する手段を設けた複数のＬＳＩを搭載したＭＣＭ上の各
   ＬＳＩを診断パタンにより試験する試験装置において、 ＭＣＭ上に搭載された各ＬＳＩ単体の診断パタンを、Ｍ
   ＣＭのパタン入力ポイント／出力観測ポイントと対応を
   とって複写することにより、ＭＣＭ上に搭載された複数
   のＬＳＩを同時に試験する診断パタンを作成する診断パ
   タン作成手段と、 診断パタン作成手段により作成された診断パタンをＭＣ
   Ｍ上のＬＳＩに入力し、ＭＣＭ上のＬＳＩから出力され
   る信号を期待値と照合することによりＭＣＭ上のＬＳＩ
   を試験するＭＣＭテスタとを備え、 上記ＭＣＭテスタは、ＭＣＭ上の各ＬＳＩに制御信号を
   入力してＭＣＭ上の各ＬＳＩの双方向配線間における信
   号の衝突を防止した状態で、診断パタンをＭＣＭ上のＬ
   ＳＩに入力して、ＭＣＭ上のＬＳＩを試験することを特
   徴とするＭＣＭ上に搭載されたＬＳＩの試験装置。