JPH0812215B2 - 電子装置の測定方法 - Google Patents
電子装置の測定方法Info
- Publication number
- JPH0812215B2 JPH0812215B2 JP61035898A JP3589886A JPH0812215B2 JP H0812215 B2 JPH0812215 B2 JP H0812215B2 JP 61035898 A JP61035898 A JP 61035898A JP 3589886 A JP3589886 A JP 3589886A JP H0812215 B2 JPH0812215 B2 JP H0812215B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- conveyor belt
- electronic device
- measuring
- terminals
- measurement
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-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Specific Conveyance Elements (AREA)
- Sorting Of Articles (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
Description
本願発明は、搬送ベルト上に載置して搬送される電子
装置の測定方法に関し、湿気、ほこり、上記搬送ベルト
の汚れ等に起因して測定誤差が生じないように構成した
ものに関する。
装置の測定方法に関し、湿気、ほこり、上記搬送ベルト
の汚れ等に起因して測定誤差が生じないように構成した
ものに関する。
たとえば、多連チップ抵抗器は、第４図に示すよう
に、多数の単位チップ抵抗器１を多連に連続させ、その
連続方向と直角方向の両側に各チップ抵抗器１の両電極
1a,1bが並ぶように形成されている。 そして、この多連チップ抵抗器１の抵抗値の検査測定
は、従来、第５図に示すように、チップ抵抗器１を挟ん
で互いに近接離間する方向に往復移動可能な一対の測定
端子4a,4bの間にチップ抵抗器１を搬送ベルトによって
搬入し、上記一対の測定端子4a,4bによってこのチップ
抵抗器を挟持した状態で行われる。 なお、各測定端子4a,4bは、チップ抵抗器１の各チッ
プごとに抵抗値を測定することができるように、チップ
抵抗器１のチップ数に対応する数だけ設けられ、互いに
絶縁されている。
に、多数の単位チップ抵抗器１を多連に連続させ、その
連続方向と直角方向の両側に各チップ抵抗器１の両電極
1a,1bが並ぶように形成されている。 そして、この多連チップ抵抗器１の抵抗値の検査測定
は、従来、第５図に示すように、チップ抵抗器１を挟ん
で互いに近接離間する方向に往復移動可能な一対の測定
端子4a,4bの間にチップ抵抗器１を搬送ベルトによって
搬入し、上記一対の測定端子4a,4bによってこのチップ
抵抗器を挟持した状態で行われる。 なお、各測定端子4a,4bは、チップ抵抗器１の各チッ
プごとに抵抗値を測定することができるように、チップ
抵抗器１のチップ数に対応する数だけ設けられ、互いに
絶縁されている。
しかしながら、上記従来の測定方法においては、チッ
プ抵抗器１の電極1a,1bや搬送ベルト２に付着した湿
気、ほこり、あるい搬送ベルト２の汚れにより、測定時
において数メガオームの抵抗として両電極1a,1b間が短
絡させられ、あるいは隣接する単位チップ部品間が短絡
させられて、測定誤差を生じたり、測定不能に陥ったり
するといった問題がある。 また、チップ抵抗器１を搬送ベルト２上に載置したま
ま抵抗値の測定をすることができるように、測定装置３
の各測定端子4a,4bの下端を搬送ベルト２の直近に位置
させる必要があり、測定端子4a,4bと搬送ベルト２との
間に接触が生じて、測定端子4a,4bや搬送ベルト２が磨
耗したり、磨耗によって生じたほこり等によって搬送ベ
ルト２が汚れたりすることがある。 本願発明は、上記の事情を考慮してなされたものであ
って、搬送ベルト上に載置して搬送される電子部品を測
定する場合において、湿気、ほこり、搬送ベルトの汚れ
等に起因する測定誤差が生じることがなく、また、搬送
ベルトと測定端子との間の接触が生じないようにするこ
とをその課題としている。
プ抵抗器１の電極1a,1bや搬送ベルト２に付着した湿
気、ほこり、あるい搬送ベルト２の汚れにより、測定時
において数メガオームの抵抗として両電極1a,1b間が短
絡させられ、あるいは隣接する単位チップ部品間が短絡
させられて、測定誤差を生じたり、測定不能に陥ったり
するといった問題がある。 また、チップ抵抗器１を搬送ベルト２上に載置したま
ま抵抗値の測定をすることができるように、測定装置３
の各測定端子4a,4bの下端を搬送ベルト２の直近に位置
させる必要があり、測定端子4a,4bと搬送ベルト２との
間に接触が生じて、測定端子4a,4bや搬送ベルト２が磨
耗したり、磨耗によって生じたほこり等によって搬送ベ
ルト２が汚れたりすることがある。 本願発明は、上記の事情を考慮してなされたものであ
って、搬送ベルト上に載置して搬送される電子部品を測
定する場合において、湿気、ほこり、搬送ベルトの汚れ
等に起因する測定誤差が生じることがなく、また、搬送
ベルトと測定端子との間の接触が生じないようにするこ
とをその課題としている。
上記の課題を解決するため、本願発明では、次の技術
的手段を講じている。 すなわち、本願発明は、両端に端子部を有する電子装
置を載置して搬送する搬送ベルトと、この搬送ベルトの
所定高さ上方において互いに近接離間する方向に往復移
動させられる一対の測定端子と、上記一対の測定端子間
において、上記搬送ベルト上の電子装置の上面からわず
か上方に吸着部を有する吸着手段と、を備えた測定装置
によって上記電子装置を測定する方法であって、 上記搬送ベルトを作動させてその上に載置される電子
装置を離間状態にある上記測定端子間に搬入するステッ
プ、 上記吸着手段の吸着部に吸着力を作用させて上記電子
装置をその上面を吸着して上記搬送ベルト上の所定高さ
に持ち上げるステップ、 上記持ち上げられた電子装置を近接動する上記測定端
子によって挟持するステップ、 上記測定端子間に通電して上記電子装置の特性を測定
するステップ、 上記測定端子を離間させて測定後の電子装置を上記搬
送ベルト上に戻すステップ、 を含むことを特徴としている。
的手段を講じている。 すなわち、本願発明は、両端に端子部を有する電子装
置を載置して搬送する搬送ベルトと、この搬送ベルトの
所定高さ上方において互いに近接離間する方向に往復移
動させられる一対の測定端子と、上記一対の測定端子間
において、上記搬送ベルト上の電子装置の上面からわず
か上方に吸着部を有する吸着手段と、を備えた測定装置
によって上記電子装置を測定する方法であって、 上記搬送ベルトを作動させてその上に載置される電子
装置を離間状態にある上記測定端子間に搬入するステッ
プ、 上記吸着手段の吸着部に吸着力を作用させて上記電子
装置をその上面を吸着して上記搬送ベルト上の所定高さ
に持ち上げるステップ、 上記持ち上げられた電子装置を近接動する上記測定端
子によって挟持するステップ、 上記測定端子間に通電して上記電子装置の特性を測定
するステップ、 上記測定端子を離間させて測定後の電子装置を上記搬
送ベルト上に戻すステップ、 を含むことを特徴としている。
搬送ベルトが作動させられて、その上に載置されてい
る上記電子部品が離間状態にある一対の測定端子間に搬
入されると、上記電子装置の上面よりわずか上方に吸着
部を有する吸着手段が上記電子装置を搬送ベルト上から
わずかに持ち上げる。この状態において、上記搬送ベル
トの上記電子装置との間に空気層が形成されるので、搬
送ベルト上に付着した湿気、ほこり、搬送ベルトの汚れ
等に起因した短絡はこの空気層によって回避されること
になる。そして、このように持ち上げられた電子装置を
一対の測定端子で挟持して測定を行うので、上記短絡に
よる測定誤差が有効に回避され、また、測定不能状態に
陥ったりするということもなくなる。 さらに、上記測定端子が搬送ベルトから所定高さ位置
に配置されているので、測定端子と搬送ベルトとの間の
接触が防止され、搬送ベルトの汚れが少なくなり、この
ことも上記電子装置の測定の正確性を長期間確保するこ
とに大きく寄与する。 さらに、上記電子装置を搬送ベルトから持ち上げる吸
着手段は、その吸着部が搬送ベルト上の電子装置の上面
からわずか上方に位置するように配置されているので、
たとえば真空圧によって吸着作用を行うように構成する
場合、この吸着手段を固定的に配置しても差し支えな
く、この場合、真空圧の入・切制御を行うだけで、上記
電子装置の持ち上げおよび搬送ベルト上への戻し操作を
簡便かつ迅速に行うことができる。その結果、本願発明
方法を実施するための装置がそれほどコスト上昇を招か
ない簡単なものとすることができるとともに、測定サイ
クルを著しく短縮し、この種の電子装置の測定効率を高
めることができる。
る上記電子部品が離間状態にある一対の測定端子間に搬
入されると、上記電子装置の上面よりわずか上方に吸着
部を有する吸着手段が上記電子装置を搬送ベルト上から
わずかに持ち上げる。この状態において、上記搬送ベル
トの上記電子装置との間に空気層が形成されるので、搬
送ベルト上に付着した湿気、ほこり、搬送ベルトの汚れ
等に起因した短絡はこの空気層によって回避されること
になる。そして、このように持ち上げられた電子装置を
一対の測定端子で挟持して測定を行うので、上記短絡に
よる測定誤差が有効に回避され、また、測定不能状態に
陥ったりするということもなくなる。 さらに、上記測定端子が搬送ベルトから所定高さ位置
に配置されているので、測定端子と搬送ベルトとの間の
接触が防止され、搬送ベルトの汚れが少なくなり、この
ことも上記電子装置の測定の正確性を長期間確保するこ
とに大きく寄与する。 さらに、上記電子装置を搬送ベルトから持ち上げる吸
着手段は、その吸着部が搬送ベルト上の電子装置の上面
からわずか上方に位置するように配置されているので、
たとえば真空圧によって吸着作用を行うように構成する
場合、この吸着手段を固定的に配置しても差し支えな
く、この場合、真空圧の入・切制御を行うだけで、上記
電子装置の持ち上げおよび搬送ベルト上への戻し操作を
簡便かつ迅速に行うことができる。その結果、本願発明
方法を実施するための装置がそれほどコスト上昇を招か
ない簡単なものとすることができるとともに、測定サイ
クルを著しく短縮し、この種の電子装置の測定効率を高
めることができる。
以下、本願発明の一実施例を第１図および第２図に基
づいて詳細に説明する。なお、この実施例は、多連チッ
プ抵抗器を測定する場合についての例である。 第１図は、本願発明方法を実施するために用いられる
測定装置の要部を示す正面図である。多連チップ抵抗器
１は、搬送ベルト２を介して、たとえば、第１図の紙面
の背後から手前側に搬送されてこの搬送ベルト２の上方
に相互離間状態に配置される一対の測定端子4a,4bの間
に搬入される。第１図に示すように、チップ抵抗器１が
上記両側測定端子4a,4bの間の所定の位置に到達する
と、図示しないストッパを用いる等することにより、こ
の多連チップ抵抗器は、搬送ベルトの長手方向の所定の
位置で停止させられる。上記一対の測定端子4a,4bの間
には、搬送ベルト２上に載置されているチップ抵抗器１
の上面よりわずか上方に吸着部を有する吸着手段５が配
置されている。なお、この吸着手段５としては、本例で
は、真空圧の入・切により吸着状態と吸着解除状態とを
選択できるものが用いられる。 上述のようにチップ抵抗器１が拡開状態にある両測定
端子4a,4bの間の所定位置に到達すると、次に、第２図
に示すように、吸着手段５の吸着部に真空圧を作用させ
ることにより、上記チップ抵抗器１がその上面を吸着さ
せられるようにして、上記搬送ベルト２から所定の高
さ、たとえば、チップ抵抗器１の底面と搬送ベルト２と
の間隔が0.5mm程度となるわずかな高さに持ち上げられ
る。 そして、このようにして吸着手段５によって搬送ベル
ト２から持ち上げられたチップ抵抗器は、電極駆動機構
６によって互いに近接動させられる両側定端子4a,4bに
よって挟持され、この状態において両側測定端子4a,4b
を介してチップ抵抗器１の両電極1a,1b間に測定電流が
流される。 このようにしてチップ抵抗器１の抵抗値を測定した後
は、上記電極駆動機構６を逆方向に作動させて両側定端
子4a,4bを相互離間方向に移動させ、挟持状態にある測
定後のチップ抵抗器１を搬送ベルト２上に戻す。この場
合、吸着手段５の吸着力を解除するタイミングにより、
一対の測定端子4a,4bを離間させる前に吸着力を解除し
てもよいし、測定端子4a,4bを相互離間させた後に吸着
手段５の吸着力を解除してもよい。いずれにしても、測
定端子4a,4bによる挟持力が解除されることにより、あ
るいは、上記吸着手段５の吸着力を解除することによ
り、測定後のチップ抵抗器１は即座に搬送ベルト２上に
戻される。こうして搬送ベルト２上に戻されたチップ抵
抗器は、搬送ベルト２を作動させることにより、前進さ
せられる。 この測定後のチップ抵抗器１の先方への搬送と同時
に、次のチップ抵抗器１が相互拡開状態にある測定端子
4a,4bの間に送り込まれ、上記の手順と同様にして抵抗
値が測定される。またこの検査測定によって不良品と判
定されたチップ抵抗器１は搬送ベルト２の後流側におい
て所定の選別手段によって跳ね退けられる。 なお、上記各測定端子4a,4bは、実際には、それぞれ
チップ抵抗器１のチップ数に対応する数だけチップ抵抗
器１の長手方向に並列して設けられており、かつ互いに
絶縁されている。 上記のように、吸着手段５によってチップ抵抗器１を
搬送ベルト２からわずかに持ち上げることにより、搬送
ベルト２とチップ抵抗器１との間には空気絶縁層が形成
される。したがって、搬送ベルト２に付着した湿気、ほ
こり、搬送ベルト２の汚れ等に起因するチップ抵抗器１
の両電極1a,1b間の短絡あるいは隣接チップ間の短絡
は、この空気絶縁層によって遮断される。そして、この
ようにチップ抵抗器１の両電極1a,1bが空気絶縁された
状態において、両側定端子4a,4bを介してチップ抵抗器
１に測定電流が流されるので、上記のような湿気、ほこ
り、搬送ベルト２の汚れ等に起因する測定誤差が発生し
たり、あるいは測定不能状態に陥ったりするおそれはな
くなるのである。 また、測定端子4a,4bが搬送ベルト２から所定の高さ
に配置されるので、各測定端子4a,4bと搬送ベルト２の
接触が防止され、各測定端子4a,4bや搬送ベルト２の磨
耗が防止され、搬送ベルト２の汚れが少なくなり、この
ことも上記検査測定の正確性を長期間担保する上で大き
く寄与する。 さらに、上記本願発明方法を実施するための装置は、
従前の装置に対し、一対の測定端子4a,4bを搬送ベルト
２に対してやや上方に移動させ、そうして、これら一対
の測定端子4a,4b間に吸着手段５を配置するという簡単
な修正をするだけですみ、コスト上昇をほとんど招くこ
とはない。 また、上記吸着手段５の吸着部は、搬送ベルト２上の
電子装置の上面よりわずか上方に位置させておけばよい
ので、搬送ベルト２からの電子装置の持ち上げおよび測
定後の搬送ベルトへの戻し操作は、きわめて迅速に行わ
れ、測定サイクルが著しく延長されるということはな
く、搬送ベルト２上に電子部品を載置してこれを搬送し
つつ検査測定を行うことによる測定の効率が依然として
高度に担保される。 もちろん、この発明の範囲は上述した実施例に限定さ
れることはない。たとえば、実施例では、単位チップ抵
抗器が連続一体形成された多連チップ抵抗器を測定する
場合についてのものであるが、両側に電極を備え、かつ
搬送ベルト上で安定的に搬送され、かつ一対の測定電極
によって全体を挟持しうる形態をもつあらゆる電子装置
の測定に本願発明を適用することができる。
づいて詳細に説明する。なお、この実施例は、多連チッ
プ抵抗器を測定する場合についての例である。 第１図は、本願発明方法を実施するために用いられる
測定装置の要部を示す正面図である。多連チップ抵抗器
１は、搬送ベルト２を介して、たとえば、第１図の紙面
の背後から手前側に搬送されてこの搬送ベルト２の上方
に相互離間状態に配置される一対の測定端子4a,4bの間
に搬入される。第１図に示すように、チップ抵抗器１が
上記両側測定端子4a,4bの間の所定の位置に到達する
と、図示しないストッパを用いる等することにより、こ
の多連チップ抵抗器は、搬送ベルトの長手方向の所定の
位置で停止させられる。上記一対の測定端子4a,4bの間
には、搬送ベルト２上に載置されているチップ抵抗器１
の上面よりわずか上方に吸着部を有する吸着手段５が配
置されている。なお、この吸着手段５としては、本例で
は、真空圧の入・切により吸着状態と吸着解除状態とを
選択できるものが用いられる。 上述のようにチップ抵抗器１が拡開状態にある両測定
端子4a,4bの間の所定位置に到達すると、次に、第２図
に示すように、吸着手段５の吸着部に真空圧を作用させ
ることにより、上記チップ抵抗器１がその上面を吸着さ
せられるようにして、上記搬送ベルト２から所定の高
さ、たとえば、チップ抵抗器１の底面と搬送ベルト２と
の間隔が0.5mm程度となるわずかな高さに持ち上げられ
る。 そして、このようにして吸着手段５によって搬送ベル
ト２から持ち上げられたチップ抵抗器は、電極駆動機構
６によって互いに近接動させられる両側定端子4a,4bに
よって挟持され、この状態において両側測定端子4a,4b
を介してチップ抵抗器１の両電極1a,1b間に測定電流が
流される。 このようにしてチップ抵抗器１の抵抗値を測定した後
は、上記電極駆動機構６を逆方向に作動させて両側定端
子4a,4bを相互離間方向に移動させ、挟持状態にある測
定後のチップ抵抗器１を搬送ベルト２上に戻す。この場
合、吸着手段５の吸着力を解除するタイミングにより、
一対の測定端子4a,4bを離間させる前に吸着力を解除し
てもよいし、測定端子4a,4bを相互離間させた後に吸着
手段５の吸着力を解除してもよい。いずれにしても、測
定端子4a,4bによる挟持力が解除されることにより、あ
るいは、上記吸着手段５の吸着力を解除することによ
り、測定後のチップ抵抗器１は即座に搬送ベルト２上に
戻される。こうして搬送ベルト２上に戻されたチップ抵
抗器は、搬送ベルト２を作動させることにより、前進さ
せられる。 この測定後のチップ抵抗器１の先方への搬送と同時
に、次のチップ抵抗器１が相互拡開状態にある測定端子
4a,4bの間に送り込まれ、上記の手順と同様にして抵抗
値が測定される。またこの検査測定によって不良品と判
定されたチップ抵抗器１は搬送ベルト２の後流側におい
て所定の選別手段によって跳ね退けられる。 なお、上記各測定端子4a,4bは、実際には、それぞれ
チップ抵抗器１のチップ数に対応する数だけチップ抵抗
器１の長手方向に並列して設けられており、かつ互いに
絶縁されている。 上記のように、吸着手段５によってチップ抵抗器１を
搬送ベルト２からわずかに持ち上げることにより、搬送
ベルト２とチップ抵抗器１との間には空気絶縁層が形成
される。したがって、搬送ベルト２に付着した湿気、ほ
こり、搬送ベルト２の汚れ等に起因するチップ抵抗器１
の両電極1a,1b間の短絡あるいは隣接チップ間の短絡
は、この空気絶縁層によって遮断される。そして、この
ようにチップ抵抗器１の両電極1a,1bが空気絶縁された
状態において、両側定端子4a,4bを介してチップ抵抗器
１に測定電流が流されるので、上記のような湿気、ほこ
り、搬送ベルト２の汚れ等に起因する測定誤差が発生し
たり、あるいは測定不能状態に陥ったりするおそれはな
くなるのである。 また、測定端子4a,4bが搬送ベルト２から所定の高さ
に配置されるので、各測定端子4a,4bと搬送ベルト２の
接触が防止され、各測定端子4a,4bや搬送ベルト２の磨
耗が防止され、搬送ベルト２の汚れが少なくなり、この
ことも上記検査測定の正確性を長期間担保する上で大き
く寄与する。 さらに、上記本願発明方法を実施するための装置は、
従前の装置に対し、一対の測定端子4a,4bを搬送ベルト
２に対してやや上方に移動させ、そうして、これら一対
の測定端子4a,4b間に吸着手段５を配置するという簡単
な修正をするだけですみ、コスト上昇をほとんど招くこ
とはない。 また、上記吸着手段５の吸着部は、搬送ベルト２上の
電子装置の上面よりわずか上方に位置させておけばよい
ので、搬送ベルト２からの電子装置の持ち上げおよび測
定後の搬送ベルトへの戻し操作は、きわめて迅速に行わ
れ、測定サイクルが著しく延長されるということはな
く、搬送ベルト２上に電子部品を載置してこれを搬送し
つつ検査測定を行うことによる測定の効率が依然として
高度に担保される。 もちろん、この発明の範囲は上述した実施例に限定さ
れることはない。たとえば、実施例では、単位チップ抵
抗器が連続一体形成された多連チップ抵抗器を測定する
場合についてのものであるが、両側に電極を備え、かつ
搬送ベルト上で安定的に搬送され、かつ一対の測定電極
によって全体を挟持しうる形態をもつあらゆる電子装置
の測定に本願発明を適用することができる。
第１図は電子装置としてのチップ抵抗器がその測定装置
の両側定端子間に搬入された状態を示す要部正面図、第
２図は上記チップ抵抗器が搬送ベルトから持ち上げられ
た状態を示す要部正面図、第３図はチップ抵抗器がその
測定装置の両側定端子間に挟持されている状態を示す要
部正面図、第４図は本願発明方法で測定するべき電子装
置の一例である多連チップ抵抗器の拡大斜視図、第５図
は従来の測定方法の説明図である。 １……電子装置（多連チップ抵抗器）、２……搬送ベル
ト、4a,4b……測定端子、５……吸着手段。
の両側定端子間に搬入された状態を示す要部正面図、第
２図は上記チップ抵抗器が搬送ベルトから持ち上げられ
た状態を示す要部正面図、第３図はチップ抵抗器がその
測定装置の両側定端子間に挟持されている状態を示す要
部正面図、第４図は本願発明方法で測定するべき電子装
置の一例である多連チップ抵抗器の拡大斜視図、第５図
は従来の測定方法の説明図である。 １……電子装置（多連チップ抵抗器）、２……搬送ベル
ト、4a,4b……測定端子、５……吸着手段。
Claims (1)
- 【請求項１】両端に端子部を有する電子装置を載置して
搬送する搬送ベルトと、この搬送ベルトの所定高さ上方
において互いに近接離間する方向に往復移動させられる
一対の測定端子と、上記一対の測定端子間において、上
記搬送ベルト上の電子装置の上面からわずか上方に吸着
部を有する吸着手段と、を備えた測定装置によって上記
電子装置を測定する方法であって、 上記搬送ベルトを作動させてその上に載置される電子装
置を離間状態にある上記測定端子間に搬入するステッ
プ、 上記吸着手段の吸着部に吸着力を作用させて上記電子装
置をその上面を吸着して上記搬送ベルト上の所定高さに
持ち上げるステップ、 上記持ち上げられた電子装置を近接動する上記測定端子
によって挟持するステップ、 上記測定端子間に通電して上記電子装置の特性を測定す
るステップ、 上記測定端子を離間させて測定後の電子装置を上記搬送
ベルト上に戻すステップ、 を含むことを特徴とする、電子装置の測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61035898A JPH0812215B2 (ja) | 1986-02-19 | 1986-02-19 | 電子装置の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61035898A JPH0812215B2 (ja) | 1986-02-19 | 1986-02-19 | 電子装置の測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62192671A JPS62192671A (ja) | 1987-08-24 |
| JPH0812215B2 true JPH0812215B2 (ja) | 1996-02-07 |
Family
ID=12454843
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61035898A Expired - Fee Related JPH0812215B2 (ja) | 1986-02-19 | 1986-02-19 | 電子装置の測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0812215B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4106963B2 (ja) * | 2002-05-20 | 2008-06-25 | 株式会社村田製作所 | チップ型コンデンサの耐圧試験方法および耐圧試験装置 |
| CN110174580A (zh) * | 2019-06-20 | 2019-08-27 | 济南申涂锁具有限公司 | 一种用于检测电子元件质量的自动抽检系统 |
| CN113960457B (zh) * | 2021-12-23 | 2022-03-18 | 江苏森服电磁环境技术有限公司 | 一种滤波器生产用滤波性能检测装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5333068A (en) * | 1976-09-09 | 1978-03-28 | Toshiba Corp | Electron beam exposure apparatus |
| JPS5819493U (ja) * | 1981-07-29 | 1983-02-05 | 東芝熱器具株式会社 | 発熱装置 |
-
1986
- 1986-02-19 JP JP61035898A patent/JPH0812215B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62192671A (ja) | 1987-08-24 |
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