JPH0812574B2 - 集積回路装置 - Google Patents
集積回路装置Info
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- JPH0812574B2 JPH0812574B2 JP4327231A JP32723192A JPH0812574B2 JP H0812574 B2 JPH0812574 B2 JP H0812574B2 JP 4327231 A JP4327231 A JP 4327231A JP 32723192 A JP32723192 A JP 32723192A JP H0812574 B2 JPH0812574 B2 JP H0812574B2
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- input
- clock
- circuit
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- 101100048260 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) UBX2 gene Proteins 0.000 description 7
- 102000008817 Trefoil Factor-1 Human genes 0.000 description 5
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は集積回路装置に関し、特
にクロックスキュー調整回路を内蔵した集積回路装置に
関するものである。
にクロックスキュー調整回路を内蔵した集積回路装置に
関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、情報処理装置は多数の大規模集
積回路により構成されているのが普通であり、これ等各
々の大規模集積回路には同期化のためのクロック信号が
分配されて供給されている。
積回路により構成されているのが普通であり、これ等各
々の大規模集積回路には同期化のためのクロック信号が
分配されて供給されている。
【0003】従来、このクロック信号は各集積回路の入
り口において遅延素子やケーブル等により時間調整さ
れ、更に各集積回路内のクロック分配回路の構成を全て
統一することにより、集積回路相互間におけるクロック
スキューをできるだけ小さくするようになっている。
り口において遅延素子やケーブル等により時間調整さ
れ、更に各集積回路内のクロック分配回路の構成を全て
統一することにより、集積回路相互間におけるクロック
スキューをできるだけ小さくするようになっている。
【0004】この様に、従来の集積回路装置では、クロ
ック信号を各集積回路の入り口で位相調整しているが、
大規模集積回路の場合にはレジスタ数が数百から数千も
あり、これ等多数のレジスタにクロック信号を分配する
必要があることから、数段のゲートによりクロック分配
回路を構成している。そのために、クロック分配回路を
全ての集積回路において統一した構造としても、集積回
路の製造上のバラツキによりクロック分配回路自身の遅
延時間にバラツキを生じ、よって集積回路相互間にはク
ロックスキューが生じることになる。
ック信号を各集積回路の入り口で位相調整しているが、
大規模集積回路の場合にはレジスタ数が数百から数千も
あり、これ等多数のレジスタにクロック信号を分配する
必要があることから、数段のゲートによりクロック分配
回路を構成している。そのために、クロック分配回路を
全ての集積回路において統一した構造としても、集積回
路の製造上のバラツキによりクロック分配回路自身の遅
延時間にバラツキを生じ、よって集積回路相互間にはク
ロックスキューが生じることになる。
【0005】特に、現在ではクロックサイクルが小さく
なり、集積回路は高集積化のために製造上のバラツキが
大きくなり、よってクロックサイクルのスキューが占め
る割合いが大きくなり問題となっている。
なり、集積回路は高集積化のために製造上のバラツキが
大きくなり、よってクロックサイクルのスキューが占め
る割合いが大きくなり問題となっている。
【0006】そこで、クロックスキューを各集積回路に
おいて夫々調整して、全ての集積回路相互間のクロック
スキューを小さくする技術が種々提案されている。例え
ば特開平1−219917号公報や特開平1−3003
20号公報等に開示の技術が掲げられる。前者の技術に
おいては、図7にその構成回路図を示す如く、LSIチ
ップ内に、入力クロック信号100に対して遅延時間が
互いに異なる複数の遅延回路21〜2nと、この遅延回
路21〜2nの1つを外部制御信号300により選択す
る選択回路40とが予め、クロック分配回路50の前段
に設けられている。更に、クロック分配回路50の多数
のクロック分配出力600のうちの所定の1つのクロッ
ク信号60を外部モニタできるモニタ端子700が設け
られている。
おいて夫々調整して、全ての集積回路相互間のクロック
スキューを小さくする技術が種々提案されている。例え
ば特開平1−219917号公報や特開平1−3003
20号公報等に開示の技術が掲げられる。前者の技術に
おいては、図7にその構成回路図を示す如く、LSIチ
ップ内に、入力クロック信号100に対して遅延時間が
互いに異なる複数の遅延回路21〜2nと、この遅延回
路21〜2nの1つを外部制御信号300により選択す
る選択回路40とが予め、クロック分配回路50の前段
に設けられている。更に、クロック分配回路50の多数
のクロック分配出力600のうちの所定の1つのクロッ
ク信号60を外部モニタできるモニタ端子700が設け
られている。
【0007】かかる構成において、先ず回路設計時にク
ロック入力信号100をLSIチップ10に与え、LS
Iチップ10のモニタ端子700から出力されてくるク
ロック信号の遅延時間見積を予め求めておく。次に、L
SIチップ10が完成すると、このチップ10に実際に
クロック入力信号100を与えてモニタ端子700から
出力されるクロック信号の遅延時間を測定しつつ外部制
御信号300を制御させてゆき、所定の許容範囲内で見
積値に近いクロック信号がモニタ端子700に得られた
時点で、その外部制御信号300を設定し固定するよう
になっている。
ロック入力信号100をLSIチップ10に与え、LS
Iチップ10のモニタ端子700から出力されてくるク
ロック信号の遅延時間見積を予め求めておく。次に、L
SIチップ10が完成すると、このチップ10に実際に
クロック入力信号100を与えてモニタ端子700から
出力されるクロック信号の遅延時間を測定しつつ外部制
御信号300を制御させてゆき、所定の許容範囲内で見
積値に近いクロック信号がモニタ端子700に得られた
時点で、その外部制御信号300を設定し固定するよう
になっている。
【0008】後者の特開平1−300320号公報に
は、図8に示す如き構成が示されている。この構成にお
いては、図7の構成の外部制御信号300(遅延回路の
1つを選択する選択回路を制御する信号)を、フリップ
フロップ30により生成するようにし、そのフリップフ
ロップ30の入力として複数ビットの制御信号200を
用い、最適な制御信号300の値をこのフリップフロッ
プ30にて設定記憶するようになっている。他の構成は
図7のそれと同一である。
は、図8に示す如き構成が示されている。この構成にお
いては、図7の構成の外部制御信号300(遅延回路の
1つを選択する選択回路を制御する信号)を、フリップ
フロップ30により生成するようにし、そのフリップフ
ロップ30の入力として複数ビットの制御信号200を
用い、最適な制御信号300の値をこのフリップフロッ
プ30にて設定記憶するようになっている。他の構成は
図7のそれと同一である。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】この様な従来の構成で
は、正確なクロックスキューの調整を行うには、遅延時
間が互いに異なる多くの遅延回路をLSIチップ内に予
め組込んでおく必要があり、またこれ等遅延回路の1つ
を選択するための多入力1出力セレクタも必要となり、
回路構成が複雑化すると共に、集積度の低下の要因とも
なるという欠点がある。更に、最終的には多数の遅延回
路のなかの単に1つのみを用いるものであるから、回路
の冗長性が多く実用的ではないという欠点もある。
は、正確なクロックスキューの調整を行うには、遅延時
間が互いに異なる多くの遅延回路をLSIチップ内に予
め組込んでおく必要があり、またこれ等遅延回路の1つ
を選択するための多入力1出力セレクタも必要となり、
回路構成が複雑化すると共に、集積度の低下の要因とも
なるという欠点がある。更に、最終的には多数の遅延回
路のなかの単に1つのみを用いるものであるから、回路
の冗長性が多く実用的ではないという欠点もある。
【0010】本発明の目的は、簡単な回路構成で極めて
精度良くクロックスキュー調整が可能なクロックスキュ
ー調整回路を内蔵した集積回路を提供することである。
精度良くクロックスキュー調整が可能なクロックスキュ
ー調整回路を内蔵した集積回路を提供することである。
【0011】本発明の他の目的は、多数の遅延回路を冗
長に設ける必要のないクロックスキュー調整回路内蔵の
集積回路を提供することである。
長に設ける必要のないクロックスキュー調整回路内蔵の
集積回路を提供することである。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、入力ク
ロック信号の遅延時間を外部制御信号に応じて変化自在
な第1の遅延手段と、この遅延後のクロック信号を複数
のレジスタに分配するために複数のゲートにより構成さ
れたクロック分配手段と、帰還ループを有しこのループ
内に外部制御信号に応じて遅延時間が変化自在な第2の
遅延手段を含むリングオシレータ手段と、このリングオ
シレータの帰還ループを前記第2の遅延手段の入力部で
オープンとしその代わりに前記入力クロック信号をこの
第2の遅延手段へ入力する切替え手段と、前記切替え手
段により前記入力クロック信号が前記第2の遅延手段へ
入力されたときのその出力クロック信号と前記クロック
分配手段の所定の出力クロック信号との位相差を検出す
る位相差検出手段と、前記切替え手段により前記帰還ル
ープが形成された時の前記リングオシレータ手段の発振
周期を観測する観測端子とを含み、前記観測端子により
観測された観測結果に従って前記第2の遅延手段の遅延
時間を調整設定して、その後前記切り替え手段により前
記入力クロックが前記第2の遅延手段へ入力されたとき
の前記位相差に応じて前記第1の遅延手段の遅延時間を
設定するようにしたことを特徴とするクロックスキュー
調整回路内蔵集積回路装置が得られる。
ロック信号の遅延時間を外部制御信号に応じて変化自在
な第1の遅延手段と、この遅延後のクロック信号を複数
のレジスタに分配するために複数のゲートにより構成さ
れたクロック分配手段と、帰還ループを有しこのループ
内に外部制御信号に応じて遅延時間が変化自在な第2の
遅延手段を含むリングオシレータ手段と、このリングオ
シレータの帰還ループを前記第2の遅延手段の入力部で
オープンとしその代わりに前記入力クロック信号をこの
第2の遅延手段へ入力する切替え手段と、前記切替え手
段により前記入力クロック信号が前記第2の遅延手段へ
入力されたときのその出力クロック信号と前記クロック
分配手段の所定の出力クロック信号との位相差を検出す
る位相差検出手段と、前記切替え手段により前記帰還ル
ープが形成された時の前記リングオシレータ手段の発振
周期を観測する観測端子とを含み、前記観測端子により
観測された観測結果に従って前記第2の遅延手段の遅延
時間を調整設定して、その後前記切り替え手段により前
記入力クロックが前記第2の遅延手段へ入力されたとき
の前記位相差に応じて前記第1の遅延手段の遅延時間を
設定するようにしたことを特徴とするクロックスキュー
調整回路内蔵集積回路装置が得られる。
【0013】
【実施例】以下に本発明の実施例について図面を参照し
つつ詳細に説明する。
つつ詳細に説明する。
【0014】図1は本発明の第1の実施例を示すブロッ
ク図である。入力クロック信号eはゲートG1を介して
第1の遅延回路DL1へ入力される。この遅延回路DL
1は外部制御信号gにより遅延時間が変化自在となって
いる。この遅延回路の出力クロック信号はクロック分配
回路へ入力され、各分配用端子1〜7へ分配されること
により、図示せぬ各レジスタへ供給される。このクロッ
ク分配回路はゲートG2〜G7により構成されている。
ク図である。入力クロック信号eはゲートG1を介して
第1の遅延回路DL1へ入力される。この遅延回路DL
1は外部制御信号gにより遅延時間が変化自在となって
いる。この遅延回路の出力クロック信号はクロック分配
回路へ入力され、各分配用端子1〜7へ分配されること
により、図示せぬ各レジスタへ供給される。このクロッ
ク分配回路はゲートG2〜G7により構成されている。
【0015】一方、第2の遅延回路DL2が設けられて
おり、この遅延回路DL2とバッファG8とがセレクタ
SEL1を介して帰還ループを構成することによりリン
グオシレータとして動作可能になっている。このリング
オシレータ動作時の発振周期を観測すべく、観測用ゲー
トG9及び端子dが設けられている。
おり、この遅延回路DL2とバッファG8とがセレクタ
SEL1を介して帰還ループを構成することによりリン
グオシレータとして動作可能になっている。このリング
オシレータ動作時の発振周期を観測すべく、観測用ゲー
トG9及び端子dが設けられている。
【0016】この遅延回路DL2も外部制御信号hによ
りその遅延時間が変化自在となっており、この遅延回路
DL2の入力部におけるセレクタSEL1の切替え制御
により、この遅延回路DL2への入力が、ゲートG8の
出力かまたは入力クロック信号eかが切替え制御され
る。尚、fはこのセレクタSEL1の切替え制御信号で
ある。
りその遅延時間が変化自在となっており、この遅延回路
DL2の入力部におけるセレクタSEL1の切替え制御
により、この遅延回路DL2への入力が、ゲートG8の
出力かまたは入力クロック信号eかが切替え制御され
る。尚、fはこのセレクタSEL1の切替え制御信号で
ある。
【0017】遅延回路DL2及びゲートG8を経たクロ
ック信号aをクロック(CK)入力とするDタイプフリ
ップフロップFF1が設けられており、そのデータ
(D)入力には、分配回路の分配クロックのうち任意の
1つのクロックbが印加されている。このフリップフロ
ップFF1のQ出力がこれまた観測用端子cとして導出
されている。
ック信号aをクロック(CK)入力とするDタイプフリ
ップフロップFF1が設けられており、そのデータ
(D)入力には、分配回路の分配クロックのうち任意の
1つのクロックbが印加されている。このフリップフロ
ップFF1のQ出力がこれまた観測用端子cとして導出
されている。
【0018】かかる構成において、先ずセレクタSEL
1により帰還ループを形成して、遅延回路DL2とゲー
トG8とによりリングオシレータを構成する。このとき
のリングオシレータの発振周期を、端子dの波形を観測
することにより測定しつつセレクタSEL1からゲート
G8までの遅延時間を、遅延回路DL2の遅延量調整に
より予め定めた一定値に設定する。
1により帰還ループを形成して、遅延回路DL2とゲー
トG8とによりリングオシレータを構成する。このとき
のリングオシレータの発振周期を、端子dの波形を観測
することにより測定しつつセレクタSEL1からゲート
G8までの遅延時間を、遅延回路DL2の遅延量調整に
より予め定めた一定値に設定する。
【0019】次に、セレクタSEL1を切替えて入力ク
ロック信号eが遅延回路DL2へ供給されるようにす
る。こうすると、DタイプフリップフロップFF1のク
ロック入力には遅延回路DL2とゲートG8とを経たク
ロック信号aが印加されることになる。このとき、この
フリップフロップFF1のデータ入力には、入力クロッ
ク信号eが遅延回路DL1及び分配回路を経たクロック
信号bが印加されている。従って、このフリップフロッ
プFF1のQ出力である端子cの波形を観測しつつ遅延
回路DL1の遅延時間を調整して、このQ出力の波形が
0→1または1→0に変化するタイミングに合致したと
きの遅延時間に設定することで、入力クロック信号eの
入力端からゲートG7の出力までの遅延を、上記一定値
(遅延回路DL2とゲートG8とによるリングオシレー
タの周期により設定した値)にすることが可能となる。
ロック信号eが遅延回路DL2へ供給されるようにす
る。こうすると、DタイプフリップフロップFF1のク
ロック入力には遅延回路DL2とゲートG8とを経たク
ロック信号aが印加されることになる。このとき、この
フリップフロップFF1のデータ入力には、入力クロッ
ク信号eが遅延回路DL1及び分配回路を経たクロック
信号bが印加されている。従って、このフリップフロッ
プFF1のQ出力である端子cの波形を観測しつつ遅延
回路DL1の遅延時間を調整して、このQ出力の波形が
0→1または1→0に変化するタイミングに合致したと
きの遅延時間に設定することで、入力クロック信号eの
入力端からゲートG7の出力までの遅延を、上記一定値
(遅延回路DL2とゲートG8とによるリングオシレー
タの周期により設定した値)にすることが可能となる。
【0020】このフリップフロップFF1を用いた当該
一定値の調整時の各部信号波形例を図2に示している。
尚、図2においてはクロック信号のデューティを50%
以下として示しているが、単なる説明のためであり、こ
のデューティは例示のためのものにすぎない。
一定値の調整時の各部信号波形例を図2に示している。
尚、図2においてはクロック信号のデューティを50%
以下として示しているが、単なる説明のためであり、こ
のデューティは例示のためのものにすぎない。
【0021】いま、フリップフロップFF1のクロック
入力aは図2aの如くなっているものとする(その位相
は第2の遅延回路DL2にて設定済みであり、以下基準
クロック信号と称す)。分配回路の分配クロック信号b
が図2bの如く基準クロック信号aより若干位相遅れが
あると、フリップフロップFF1のQ出力は図2cの如
く0レベルを維持する。逆に、図2b′に示す如く分配
クロック信号bの位相が基準クロック信号aより若干進
んでいれば、Q出力は2c′の如く1レベルを維持す
る。
入力aは図2aの如くなっているものとする(その位相
は第2の遅延回路DL2にて設定済みであり、以下基準
クロック信号と称す)。分配回路の分配クロック信号b
が図2bの如く基準クロック信号aより若干位相遅れが
あると、フリップフロップFF1のQ出力は図2cの如
く0レベルを維持する。逆に、図2b′に示す如く分配
クロック信号bの位相が基準クロック信号aより若干進
んでいれば、Q出力は2c′の如く1レベルを維持す
る。
【0022】そこで、両クロック信号aとbとの位相一
致を調整すべく第1の遅延回路DL1の遅延時間を制御
信号gにより制御すれば、図2c″に示すように、フリ
ップフロップFF1のQ出力は0から1または1から0
へ変化するタイミングt0が必ず存在する。よって、こ
のQ出力の変化タイミングt0のときの遅延回路DL1
の遅延時間がそのまま固定されれば、クロック信号bの
位相は基準クロック信号aのそれに一致し、調整が終了
することになる。
致を調整すべく第1の遅延回路DL1の遅延時間を制御
信号gにより制御すれば、図2c″に示すように、フリ
ップフロップFF1のQ出力は0から1または1から0
へ変化するタイミングt0が必ず存在する。よって、こ
のQ出力の変化タイミングt0のときの遅延回路DL1
の遅延時間がそのまま固定されれば、クロック信号bの
位相は基準クロック信号aのそれに一致し、調整が終了
することになる。
【0023】他の全ての集積回路においても、同様な手
順で遅延回路DL1の遅延時間を調整し固定すれば、全
ての集積回路内のクロック分配回路の各分配クロック信
号が上記一定値の遅延時間を有することになり、集積回
路相互間のクロックスキューは実質的に零になるのであ
る。
順で遅延回路DL1の遅延時間を調整し固定すれば、全
ての集積回路内のクロック分配回路の各分配クロック信
号が上記一定値の遅延時間を有することになり、集積回
路相互間のクロックスキューは実質的に零になるのであ
る。
【0024】図3は本発明の第2の実施例のブロック図
であり、図1と同等部分は同一符号にて示す。図1の構
成と異なる部分について述べると、基準クロック信号a
と分配クロック信号bとの位相関係を検出する回路(図
1ではDタイプフリップフロップFF1)が、2つのト
リガフリップフロップTFF1,TFF2と、これ等2
つのフリップフロップの出力jとiとを2入力とする論
理積回路A1とからなる。フリップフロップTFF1,
TFF2の各入力には分配クロック信号b,基準クロッ
ク信号aが夫々印加されており、論理積回路A1の出力
cのパルスのデューティを観測することで、両クロック
a,b間の位相差が判定できる。
であり、図1と同等部分は同一符号にて示す。図1の構
成と異なる部分について述べると、基準クロック信号a
と分配クロック信号bとの位相関係を検出する回路(図
1ではDタイプフリップフロップFF1)が、2つのト
リガフリップフロップTFF1,TFF2と、これ等2
つのフリップフロップの出力jとiとを2入力とする論
理積回路A1とからなる。フリップフロップTFF1,
TFF2の各入力には分配クロック信号b,基準クロッ
ク信号aが夫々印加されており、論理積回路A1の出力
cのパルスのデューティを観測することで、両クロック
a,b間の位相差が判定できる。
【0025】他の構成は図1のそれと同一であってその
説明は省略する。また、基準クロック信号aの位相も、
リングオシレータ動作による発振周期の観測を行いつつ
遅延回路DL2の遅延時間調整により、上記一定値に設
定済みであるとする。
説明は省略する。また、基準クロック信号aの位相も、
リングオシレータ動作による発振周期の観測を行いつつ
遅延回路DL2の遅延時間調整により、上記一定値に設
定済みであるとする。
【0026】図4はこのときのクロック信号a,bの位
相差に応じた位相差検出動作の例を示す各部波形図であ
る。トリガフリップフロップTFF2の入力基準クロッ
ク信号aが図4aのようになっているものとする。分配
回路の分配クロック信号bが図4bの如く基準クロック
信号aより若干位相遅れがあると、両トリガフリップフ
ロップTFF1,TFF2の各出力j,iは図4のj,
iのようになる。従って、論理積回路A1の出力cは図
4cの如くなり、そのデューディは位相差に比例して5
0%より小となる。
相差に応じた位相差検出動作の例を示す各部波形図であ
る。トリガフリップフロップTFF2の入力基準クロッ
ク信号aが図4aのようになっているものとする。分配
回路の分配クロック信号bが図4bの如く基準クロック
信号aより若干位相遅れがあると、両トリガフリップフ
ロップTFF1,TFF2の各出力j,iは図4のj,
iのようになる。従って、論理積回路A1の出力cは図
4cの如くなり、そのデューディは位相差に比例して5
0%より小となる。
【0027】逆に、図4b′の如く分配クロック信号b
の位相が基準クロック信号aよりも若干進んでいれば、
トリガフリップフロップTFF1の出力jは図4j′の
如く変化し、やはり論理積回路A1の出力は図4c′の
如くデューディは50%より小となる。
の位相が基準クロック信号aよりも若干進んでいれば、
トリガフリップフロップTFF1の出力jは図4j′の
如く変化し、やはり論理積回路A1の出力は図4c′の
如くデューディは50%より小となる。
【0028】そこで、両クロック信号a,bの位相差を
零とすべく第1の遅延回路DL1の遅延時間を制御信号
gにより制御すれば、図2c″に示す如く、論理積回路
A1の出力はデューティが50%となり、そのときの遅
延回路DL1の遅延時間がそのまま固定されれば、分配
クロック信号bの位相は基準クロック信号aのそれに一
致し、調整が終了する。
零とすべく第1の遅延回路DL1の遅延時間を制御信号
gにより制御すれば、図2c″に示す如く、論理積回路
A1の出力はデューティが50%となり、そのときの遅
延回路DL1の遅延時間がそのまま固定されれば、分配
クロック信号bの位相は基準クロック信号aのそれに一
致し、調整が終了する。
【0029】図5は本発明の第3の実施例を示すブロッ
ク図であり、図1,3と同等部分は同一符号により示し
ている。本実施例では、クロック信号aと分配クロック
信号bとの間の位相差検出を、セレクタSEL2を切替
え出力端子cにて各クロック信号a,bの位相を観測す
ることにより行うようにしている。
ク図であり、図1,3と同等部分は同一符号により示し
ている。本実施例では、クロック信号aと分配クロック
信号bとの間の位相差検出を、セレクタSEL2を切替
え出力端子cにて各クロック信号a,bの位相を観測す
ることにより行うようにしている。
【0030】すなわち、切替え信号kを用いてセレクタ
SEL2を制御してクロック信号a,bの一方を選択
し、観測端子cの波形の遅延がどちらを選択しても同一
となる様に遅延回路DL1の遅延時間の調整を行う。こ
うすれば、入力クロック信号eの入力端からゲートG7
までの遅延を、一定値に設定したセレクタSEL1から
ゲートG8までの遅延時間と等しくすることができるの
である。
SEL2を制御してクロック信号a,bの一方を選択
し、観測端子cの波形の遅延がどちらを選択しても同一
となる様に遅延回路DL1の遅延時間の調整を行う。こ
うすれば、入力クロック信号eの入力端からゲートG7
までの遅延を、一定値に設定したセレクタSEL1から
ゲートG8までの遅延時間と等しくすることができるの
である。
【0031】図6は本発明の第4の実施例を示すブロッ
ク図であり、図1,3及び5と同等部分は同一符号によ
り示している。本例では基準クロック信号aと分配クロ
ックbとの位相差を検出する位相差検出回路I1を設
け、この検出位相差に応じて遅延制御信号gを生成する
遅延制御回路SD1を更に設けている。この遅延制御信
号gにより、遅延回路DL1の遅延時間を自動的に制御
する構成である。
ク図であり、図1,3及び5と同等部分は同一符号によ
り示している。本例では基準クロック信号aと分配クロ
ックbとの位相差を検出する位相差検出回路I1を設
け、この検出位相差に応じて遅延制御信号gを生成する
遅延制御回路SD1を更に設けている。この遅延制御信
号gにより、遅延回路DL1の遅延時間を自動的に制御
する構成である。
【0032】こうすることにより、基準クロック信号a
の位相に分配クロック信号bの位相が自動的に合致する
よう自動制御され、人手を介する必要がなくなってより
正確なクロックスキュー調整が可能となる。また、両ク
ロック信号a,bの位相差を観測するための端子(図
1,3及び5では端子c)等も不要となるという長所も
ある。
の位相に分配クロック信号bの位相が自動的に合致する
よう自動制御され、人手を介する必要がなくなってより
正確なクロックスキュー調整が可能となる。また、両ク
ロック信号a,bの位相差を観測するための端子(図
1,3及び5では端子c)等も不要となるという長所も
ある。
【0033】
【発明の効果】以上述べた如く、本発明によれば、各集
積回路のクロック信号入力端子からクロック分配回路の
各分配端子までの遅延時間をすべて一定値に設定できる
ので、集積回路相互間のクロック分配回路の製造上のバ
ラツキに起因するクロックスキューを実質的に零にする
ことができるという効果がある。
積回路のクロック信号入力端子からクロック分配回路の
各分配端子までの遅延時間をすべて一定値に設定できる
ので、集積回路相互間のクロック分配回路の製造上のバ
ラツキに起因するクロックスキューを実質的に零にする
ことができるという効果がある。
【図1】本発明の第1の実施例のブロック図である。
【図2】本発明の第1の実施例のクロックスキュー調整
例を説明するタイミング波形図である。
例を説明するタイミング波形図である。
【図3】本発明の第2の実施例のブロック図である。
【図4】本発明の第2の実施例のクロックスキュー調整
例を説明するタイミング波形図である。
例を説明するタイミング波形図である。
【図5】本発明の第3の実施例のブロック図である。
【図6】本発明の第4の実施例のブロック図である。
【図7】従来のクロックスキュー調整回路の例を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図8】従来のクロックスキュー調整回路の他の例を示
すブロック図である。
すブロック図である。
1〜7 クロック分配端子 A1 論理積回路 DL1,DL2 遅延回路 FF1 タイプフリップフロップ G1〜G9 ゲート I1 位相差検出回路 SD1 遅延制御信号発生回路 SEL1,SEL2 セレクタ TFF1,TFF2 トリガフリップフロップ
Claims (4)
- 【請求項1】 入力クロック信号の遅延時間を外部制御
信号に応じて変化自在な第1の遅延手段と、この遅延後
のクロック信号を複数のレジスタに分配するために複数
のゲートにより構成されたクロック分配手段と、帰還ル
ープを有しこのループ内に外部制御信号に応じて遅延時
間が変化自在な第2の遅延手段を含むリングオシレータ
手段と、このリングオシレータの帰還ループを前記第2
の遅延手段の入力部でオープンとしその代わりに前記入
力クロック信号をこの第2の遅延手段へ入力する切替え
手段と、前記切替え手段により前記入力クロック信号が
前記第2の遅延手段へ入力されたときのその出力クロッ
ク信号と前記クロック分配手段の所定の出力クロック信
号との位相差を検出する位相差検出手段と、前記切替え
手段により前記帰還ループが形成された時の前記リング
オシレータ手段の発振周期を観測する観測端子とを含
み、前記観測端子により観測された観測結果に従って前
記第2の遅延手段の遅延時間を調整設定して、その後前
記切り替え手段により前記入力クロックが前記第2の遅
延手段へ入力されたときの前記位相差に応じて前記第1
の遅延手段の遅延時間を設定するようにしたことを特徴
とするクロックスキュー調整回路内蔵集積回路装置。 - 【請求項2】 前記位相差検出手段は、前記所定の出力
クロック信号をデータ入力とし前記第2の遅延手段の出
力クロック信号をクロック入力とするDタイプフリップ
フロップとを有し、前記Dタイプフリップフロップの出
力波形に応じて前記第1の遅延手段の遅延時間を設定す
るようにしたことを特徴とする請求項1記載の集積回路
装置。 - 【請求項3】 前記位相差検出手段は、前記所定の出力
クロック信号を入力とする第1のトリガフリップフロッ
プと、前記第2の遅延手段の出力クロック信号を入力と
する第2のトリガフリップフロップと、これ等両トリガ
フリップフロップの出力を2入力とする論理積手段とを
有し、この論理積手段の出力に波形に応じて前記第1の
遅延手段の遅延時間を設定するようにしたことを特徴と
する請求項1記載の集積回路装置。 - 【請求項4】 前記位相差に応じて前記第1の遅延手段
の遅延時間を設定する制御信号を生成する制御信号発生
手段を更に含むことを特徴とする請求項1記載の集積回
路装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4327231A JPH0812574B2 (ja) | 1992-11-12 | 1992-11-12 | 集積回路装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4327231A JPH0812574B2 (ja) | 1992-11-12 | 1992-11-12 | 集積回路装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06149408A JPH06149408A (ja) | 1994-05-27 |
| JPH0812574B2 true JPH0812574B2 (ja) | 1996-02-07 |
Family
ID=18196789
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4327231A Expired - Lifetime JPH0812574B2 (ja) | 1992-11-12 | 1992-11-12 | 集積回路装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0812574B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11031928B2 (en) | 2019-03-18 | 2021-06-08 | Toshiba Memory Corporation | Semiconductor integrated circuit and transmission device |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3085258B2 (ja) * | 1997-09-10 | 2000-09-04 | 日本電気株式会社 | クロック信号分配回路 |
| JP2000089849A (ja) * | 1998-09-09 | 2000-03-31 | Nec Corp | クロックスキュー調整回路および該調整回路を備えた大規模集積回路 |
| US6737852B2 (en) | 2001-10-25 | 2004-05-18 | Advantest Corporation | Clock skew measuring apparatus and method |
| JP2006165694A (ja) * | 2004-12-02 | 2006-06-22 | Aiphone Co Ltd | インターホン装置 |
| FR3071938A1 (fr) * | 2017-10-02 | 2019-04-05 | Stmicroelectronics (Rousset) Sas | Detection d'une condition temporelle sur un bus bifilaire |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59144927A (ja) * | 1983-02-07 | 1984-08-20 | Nec Corp | タイミング調整回路 |
| JPS63181515A (ja) * | 1987-01-22 | 1988-07-26 | Fujitsu Ltd | 遅延時間自動調整方式 |
-
1992
- 1992-11-12 JP JP4327231A patent/JPH0812574B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11031928B2 (en) | 2019-03-18 | 2021-06-08 | Toshiba Memory Corporation | Semiconductor integrated circuit and transmission device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06149408A (ja) | 1994-05-27 |
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