JPH08138613A - X線マイクロアナライザ - Google Patents

X線マイクロアナライザ

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Publication number
JPH08138613A
JPH08138613A JP6270876A JP27087694A JPH08138613A JP H08138613 A JPH08138613 A JP H08138613A JP 6270876 A JP6270876 A JP 6270876A JP 27087694 A JP27087694 A JP 27087694A JP H08138613 A JPH08138613 A JP H08138613A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
heater
window
electron beam
sample
Prior art date
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Pending
Application number
JP6270876A
Other languages
English (en)
Inventor
Naomasa Suzuki
直正 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP6270876A priority Critical patent/JPH08138613A/ja
Publication of JPH08138613A publication Critical patent/JPH08138613A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【構成】コリメータ13にヒータを装備することによ
り、間接的にX線検出器7の窓9を加熱し、試料室温度
と同じかそれ以上にし、X線検出器7の窓9へのコンタ
ミネーションの付着を防止する。 【効果】コリメータにヒータを装備することにより、X
線検出器の窓の温度を下げることなく検出素子を冷却す
ることができ、低エネルギX線の検出感度を低下させる
ことなくX線分析を行うことができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はX線マイクロアナライザ
に関する。
【0002】
【従来の技術】X線マイクロアナライザは、電子レンズ
により細く絞られた電子線を試料表面上の微小領域に照
射したときに、試料より発生するX線を検出器により検
出し試料の元素分析を行う。検出素子はS/N比を向上
させるため液体窒素などにより冷却されている。検出器
には、検出素子を保護するために、X線が透過可能な薄
膜の窓が設けられているが、この窓も検出素子の冷却に
より冷却されて試料室内の温度よりも低くなっている。
また、検出器への電子線の進入を防止するためのコリメ
ータも冷却されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来技術では、窓及び
コリメータが試料室内温度より低いために、試料室内の
コンタミネーションが窓に付着してしまうという問題が
あった。そのため、エネルギの低いX線、特に軽元素の
X線の検出感度が低下し、定量分析結果に大きな影響を
与えていた。
【0004】本発明の目的は、コンタミネーションがX
線検出器の窓に付着するのを防止することで、低エネル
ギX線の検出感度を低下させることなく、X線分析を行
うことができるX線マイクロアナライザを提供すること
にある。
【0005】
【課題を解決するための手段】X線検出器の窓へのコン
タミネーションの付着防止は、X線分析において重要で
ある。コンタミネーションは温度の低い場所に付着し、
試料室温度より低くなった検出器の窓には付着し易い。
電子顕微鏡では、試料室内にトラップ板を設け、冷却す
ることで試料へのコンタミネーション付着防止を行って
いる。
【0006】上記目的を達成するために、本発明ではX
線検出器の窓の温度を上昇させるために、検出器に電子
線が進入するのを防止するためのコリメータに、窓を間
接的に加熱させるヒータを備えたことを特徴とする。
【0007】
【作用】コリメータに装備されたヒータに電流を流すこ
とにより、間接的に検出器の窓を加熱させ、試料室内温
度と同じかそれ以上の温度にすることにより、窓へのコ
ンタミネーション付着を防止し、低エネルギX線の検出
感度の低下を防止する。
【0008】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図を用いて詳細に
説明する。
【0009】図1は本発明の一実施例である装置構成を
示す説明図である。電子銃1より放出された電子線2
は、収束レンズ3及び対物レンズ4により細く絞られ、
試料5の表面の微小領域に照射される。電子線2の照射
により試料5より発生したX線6は、X線検出器7内の
検出素子8を保護するための窓9を透過し、検出素子8
により検出され、電気的信号に変換される。検出素子8
は液体窒素層10内の液体窒素11により熱的に接触し
た熱伝導棒12を介して冷却されている。さらに、X線
検出器7の先端部には、X線検出器7への電子線の進入
を防止するためにコリメータ13が設けられている。な
お、検出素子8の後方には冷却された電界効果トランジ
スタ(FET)が設置されているが、これらは本発明に
は直接関係がないために図示を省略している。
【0010】図2はX線検出器7の先端部分の断面図で
ある。コリメータ13内にはX線が通過可能な通過孔が
開けられており、通過孔の両側には進入してきた電子線
がX線検出素子に照射しないように曲げるための磁界を
発生させる磁石14が設けられている。また、通過孔内
部にはヒータ15が設けられている。
【0011】以上のように構成された装置では、検出素
子8と窓9は極接近しているため、液体窒素11により
熱的に接触した熱伝導棒12を介して冷却されている検
出素子8により、窓9も冷却されている。そこでコリメ
ータ13のX線通過孔に設けられているヒータ15に電
流を流し、コリメータ13及び窓9を加熱することによ
り、窓9の温度を試料室内温度と同じかそれ以上にして
窓9へのコンタミネーションの付着を防止する。さら
に、ヒータ15を無誘導巻にすることにより、試料5に
照射される電子線2に影響がないようにすることができ
る。また、ヒータ15をセラミックヒータとすることに
より、ガスの発生を抑え、試料室内の真空度に影響がな
いようにすることも可能である。この場合、図3に示す
ように、ヒータ15の内面にカーボンまたはカーボンを
装備した金属性の筒を挿入することで、電子の衝突によ
るヒータ15の帯電を防止することができる。
【0012】
【発明の効果】本発明によれば、コリメータにヒータを
装備することにより、X線検出器の窓の温度を下げるこ
となく検出素子を冷却することができるため、低エネル
ギX線の検出感度を低下させることなくX線分析を行う
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す説明図。
【図2】X線検出器先端部の断面図。
【図3】他の実施例のX線検出器先端部の断面図。
【符号の説明】
1…電子銃、2…電子線、5…試料、6…X線、7…X
線検出器、8…検出素子、9…窓、12…熱伝導棒、1
3…コリメータ、15…ヒータ、16…金属性の筒。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】電子銃と,前記電子銃から放射された電子
    線を細く絞って試料上に照射するための電子レンズと,
    前記電子線の照射によって前記試料より発生するX線を
    検出するためのX線検出器と,前記X線検出器への前記
    電子線の進入を防止するためのコリメータを具備したX
    線マイクロアナライザにおいて、前記コリメータにヒー
    タを備えたことを特徴とするX線マイクロアナライザ。
  2. 【請求項2】請求項1において、前記ヒータによる磁場
    が前記試料に照射される前記電子線に影響が無いように
    構成するX線マイクロアナライザ。
  3. 【請求項3】請求項2において、前記ヒータが無誘導巻
    であるX線マイクロアナライザ。
  4. 【請求項4】請求項2において、前記ヒータにセラミッ
    クヒータを用いるX線マイクロアナライザ。
  5. 【請求項5】請求項2において、前記ヒータの内面に、
    カーボンあるいはカーボンを内部に装備した金属性の筒
    を装備しているX線マイクロアナライザ。
JP6270876A 1994-11-04 1994-11-04 X線マイクロアナライザ Pending JPH08138613A (ja)

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JP6270876A JPH08138613A (ja) 1994-11-04 1994-11-04 X線マイクロアナライザ

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013178251A1 (en) * 2012-05-29 2013-12-05 Excillum Ab Coated x-ray window
EP2021830A4 (en) * 2006-05-12 2015-04-29 Thermo Electron Scient Instr DEFROSTING RADIATION DETECTORS IN ANALYSIS INSTRUMENTS
US9171693B2 (en) 2010-12-03 2015-10-27 Excillum Ab Coated X-ray window

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US9245707B2 (en) 2012-05-29 2016-01-26 Excillum Ab Coated X-ray window

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