JPH08146084A - 集積回路用波形観測器具 - Google Patents
集積回路用波形観測器具Info
- Publication number
- JPH08146084A JPH08146084A JP6284989A JP28498994A JPH08146084A JP H08146084 A JPH08146084 A JP H08146084A JP 6284989 A JP6284989 A JP 6284989A JP 28498994 A JP28498994 A JP 28498994A JP H08146084 A JPH08146084 A JP H08146084A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 コンタクト部と端子との接触不良や隣接する
端子との誤接触を防止を図る。 【構成】 ３は、集積回路用波形観測器具で、枠状のフ
レーム４を備え、フレーム４の上面中央には、吸盤６を
取り付けた取付部材５が取り付けられている。フレーム
４には観測端子７が植設され、この観測用端子７のフレ
ーム４の上面からの突出露呈部に、オシロスコープ等が
接続される。８はコンタクト部で、フレーム４の内側に
突出するように、観測用端子７にＡ−Ｂ方向に進退自在
に支持されている。そして、コンタクト部８は、ばね９
により常にＡ方向に突出するように付勢されている。ま
た、コンタクト部８の先端には、上端から下端に向かっ
て、漸次深くなるように形成された断面Ｕ字状の溝８ａ
が形成されている。さらに、コンタクト部８間には、絶
縁材１０が介在している。
端子との誤接触を防止を図る。 【構成】 ３は、集積回路用波形観測器具で、枠状のフ
レーム４を備え、フレーム４の上面中央には、吸盤６を
取り付けた取付部材５が取り付けられている。フレーム
４には観測端子７が植設され、この観測用端子７のフレ
ーム４の上面からの突出露呈部に、オシロスコープ等が
接続される。８はコンタクト部で、フレーム４の内側に
突出するように、観測用端子７にＡ−Ｂ方向に進退自在
に支持されている。そして、コンタクト部８は、ばね９
により常にＡ方向に突出するように付勢されている。ま
た、コンタクト部８の先端には、上端から下端に向かっ
て、漸次深くなるように形成された断面Ｕ字状の溝８ａ
が形成されている。さらに、コンタクト部８間には、絶
縁材１０が介在している。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、表面実装用集積回路の
波形観測器具に関する。
波形観測器具に関する。
【０００２】
【従来の技術】周知のように、この種の表面実装用集積
回路の波形観測器具は、集積回路の波形を観測し、動作
を確認する事を目的として用いられている。この種の観
測器具としては、特開平４−３１１０５１号公報に開示
されたものがある。ここに開示されたものは、一対の対
向する開閉自在な爪と、爪を開閉させるレバーと、集積
回路の観測用の信号が引き出される観測用端子と、観測
用端子と導通したコンタクト部とを備え、レバーを引き
爪を開き、次にレバーを戻すと一対の爪で集積回路を挟
持して集積回路に観測器具を固定すると、コンタクト部
が集積回路の端子に接触して、観測用端子の信号をシン
クロスコープ等で表示したものである。
回路の波形観測器具は、集積回路の波形を観測し、動作
を確認する事を目的として用いられている。この種の観
測器具としては、特開平４−３１１０５１号公報に開示
されたものがある。ここに開示されたものは、一対の対
向する開閉自在な爪と、爪を開閉させるレバーと、集積
回路の観測用の信号が引き出される観測用端子と、観測
用端子と導通したコンタクト部とを備え、レバーを引き
爪を開き、次にレバーを戻すと一対の爪で集積回路を挟
持して集積回路に観測器具を固定すると、コンタクト部
が集積回路の端子に接触して、観測用端子の信号をシン
クロスコープ等で表示したものである。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の集積回路用波形観測器具では、単に、コンタク
ト部を集積回路の端子に接触させるだけであるので、端
子間隔の狭いクワッド・フラット・パッケージ（以下Ｑ
ＦＰという）では、コンタクト部がずれて、接触不良や
隣接する端子との接触を起こし易いといった問題があっ
た。
た従来の集積回路用波形観測器具では、単に、コンタク
ト部を集積回路の端子に接触させるだけであるので、端
子間隔の狭いクワッド・フラット・パッケージ（以下Ｑ
ＦＰという）では、コンタクト部がずれて、接触不良や
隣接する端子との接触を起こし易いといった問題があっ
た。
【０００４】したがって、本発明は上記した従来の問題
に鑑みてなされたものであり、その目的とするところ
は、コンタクト部と端子との接触不良や隣接する端子と
の誤接触を防止した集積回路用波形観測器具を提供する
ことにある。
に鑑みてなされたものであり、その目的とするところ
は、コンタクト部と端子との接触不良や隣接する端子と
の誤接触を防止した集積回路用波形観測器具を提供する
ことにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明に係る集積回路用波形観測器具は、集積回路
の複数の端子と個々に接触させ、観測用端子から信号を
導出する複数のコンタクト部を備え、このコンタクト部
の先端に断面Ｕ字状の溝を設けた。また、本発明に係る
集積回路用波形観測器具は、溝は上端から下端に向かっ
て漸次深くなるように形成した。また、本発明に係る集
積回路用波形観測器具は、複数のコンタクト部間に絶縁
材を設けた。また、本発明に係る集積回路用波形観測器
具は、コンタクト部を観測用端子に進退自在に支持する
とともに、ばねで進出方向に付勢した。また、本発明に
係る集積回路用波形観測器具は、集積回路の複数の端子
と個々に接触させる複数のコンタクト部とを備え、この
コンタクト部の先端に、上端から下端に向かって漸次深
くなるように形成した断面Ｕ字状の溝を設けるととも
に、複数のコンタクト部間に絶縁材を設け、かつ、コン
タクト部をフレームに埋設した観測用端子に進退自在に
支持するとともに、ばねで進出方向に付勢した。
に、本発明に係る集積回路用波形観測器具は、集積回路
の複数の端子と個々に接触させ、観測用端子から信号を
導出する複数のコンタクト部を備え、このコンタクト部
の先端に断面Ｕ字状の溝を設けた。また、本発明に係る
集積回路用波形観測器具は、溝は上端から下端に向かっ
て漸次深くなるように形成した。また、本発明に係る集
積回路用波形観測器具は、複数のコンタクト部間に絶縁
材を設けた。また、本発明に係る集積回路用波形観測器
具は、コンタクト部を観測用端子に進退自在に支持する
とともに、ばねで進出方向に付勢した。また、本発明に
係る集積回路用波形観測器具は、集積回路の複数の端子
と個々に接触させる複数のコンタクト部とを備え、この
コンタクト部の先端に、上端から下端に向かって漸次深
くなるように形成した断面Ｕ字状の溝を設けるととも
に、複数のコンタクト部間に絶縁材を設け、かつ、コン
タクト部をフレームに埋設した観測用端子に進退自在に
支持するとともに、ばねで進出方向に付勢した。
【０００６】
【作用】本発明によれば、集積回路の端子は、コンタク
ト部の断面Ｕ字状の溝にガイドされ係合する。また、本
発明によれば、端子との接触は、上端から下端に向かっ
て漸次深くなるように形成された溝に沿って行われる。
また、本発明によれば、絶縁材によって隣接する端子間
の誤接触が防止される。また、本発明によれば、コンタ
クト部が集積回路の端子に接触する際に、コンタクト部
がばねの付勢に抗して観測用端子内に退出する。
ト部の断面Ｕ字状の溝にガイドされ係合する。また、本
発明によれば、端子との接触は、上端から下端に向かっ
て漸次深くなるように形成された溝に沿って行われる。
また、本発明によれば、絶縁材によって隣接する端子間
の誤接触が防止される。また、本発明によれば、コンタ
クト部が集積回路の端子に接触する際に、コンタクト部
がばねの付勢に抗して観測用端子内に退出する。
【０００７】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図に基づいて説明
する。図１は本発明に係る集積回路用波形観測器具の一
部を破断した斜視図、図２は同じく観測状態を示す平面
図、図３は図２のIII-III 線断面図、図４は図３のIV部
の拡大断面図、図５はコンタクト部の拡大斜視図、図６
はコンタクト部と端子との接触状態を示す本発明の要部
をなす平面図である。これらの図において、符号１で示
すものは、外形が１４ｍｍ×２０ｍｍの１００ピンを備
えた被観測物であるＱＦＰの集積回路であって、端子２
の幅ｔ１が０．３ｍｍ、端子２間の間隔ｄが０．３ｍｍ
となっている。端子２は下方に向かって集積回路から離
間するように傾斜している。
する。図１は本発明に係る集積回路用波形観測器具の一
部を破断した斜視図、図２は同じく観測状態を示す平面
図、図３は図２のIII-III 線断面図、図４は図３のIV部
の拡大断面図、図５はコンタクト部の拡大斜視図、図６
はコンタクト部と端子との接触状態を示す本発明の要部
をなす平面図である。これらの図において、符号１で示
すものは、外形が１４ｍｍ×２０ｍｍの１００ピンを備
えた被観測物であるＱＦＰの集積回路であって、端子２
の幅ｔ１が０．３ｍｍ、端子２間の間隔ｄが０．３ｍｍ
となっている。端子２は下方に向かって集積回路から離
間するように傾斜している。
【０００８】全体を符号３で示すものは、集積回路用波
形観測器具で、全体が合成樹脂で形成された枠状のフレ
ーム４を備えており、フレーム４の上面には、略十文字
状に突出形成された４個の脚部５ａを備えた合成樹脂か
らなる取付部材５が、脚部５ａの先端に形成した爪部５
ｂを凹部４ａに弾性変形させながら嵌合させることによ
り取り付けられている。この取付部材５の中央下面に
は、吸盤６が取り付けられている。フレーム４にはＬ字
状の複数の観測用端子７がインサート成形により埋設さ
れており、この観測用端子７のフレーム４の上面からの
突出露呈部に、オシロスコープ等が接続されて観測用端
子７からの信号によって波形が表示されるようになって
いる。
形観測器具で、全体が合成樹脂で形成された枠状のフレ
ーム４を備えており、フレーム４の上面には、略十文字
状に突出形成された４個の脚部５ａを備えた合成樹脂か
らなる取付部材５が、脚部５ａの先端に形成した爪部５
ｂを凹部４ａに弾性変形させながら嵌合させることによ
り取り付けられている。この取付部材５の中央下面に
は、吸盤６が取り付けられている。フレーム４にはＬ字
状の複数の観測用端子７がインサート成形により埋設さ
れており、この観測用端子７のフレーム４の上面からの
突出露呈部に、オシロスコープ等が接続されて観測用端
子７からの信号によって波形が表示されるようになって
いる。
【０００９】この観測用端子７は、図４に詳細を示すよ
うに、断面矩形状に形成されて、水平部に左右方向に延
びるめくら穴状の溝７ａが設けられているとともに、溝
７ａの入口端部の上下に凹嵌部７ｂが設けられている。
８は断面矩形状に形成されたコンタクト部で、先端部に
断面Ｕ字状で、上端から下端に向かって漸次深くなるよ
うな溝８ａが設けられ、後部には、前記溝７ａに嵌合す
る摺動部８ｂが形成され、ほぼ中央部には、上下に凹嵌
部８ｃが設けられている。９はばねで、一端が前記凹嵌
部８ｃに係合しており、摺動部８ｂを溝７ａ内に挿入す
ると、他端が前記凹嵌部７ｂに係合して、コンタクト部
８は、摺動部８ｂが溝７ａ内を摺動し、観測用端子７に
Ａ−Ｂ方向に進退自在に支持され、ばね９により常にフ
レーム４の内方、すなわちＡ方向に突出するように付勢
されている。このとき、摺動部８ｂと溝７ａとが電気的
に接触している。コンタクト部８間には、絶縁材１０が
介在し、この絶縁材１０は、前記観測用端子７をインサ
ート成形する際に、同時にフレーム４に一体成形され
る。コンタクト部８の幅Ｔ１は０．３５ｍｍ、絶縁材１
０の幅Ｔ２は０．３ｍｍに形成されている。
うに、断面矩形状に形成されて、水平部に左右方向に延
びるめくら穴状の溝７ａが設けられているとともに、溝
７ａの入口端部の上下に凹嵌部７ｂが設けられている。
８は断面矩形状に形成されたコンタクト部で、先端部に
断面Ｕ字状で、上端から下端に向かって漸次深くなるよ
うな溝８ａが設けられ、後部には、前記溝７ａに嵌合す
る摺動部８ｂが形成され、ほぼ中央部には、上下に凹嵌
部８ｃが設けられている。９はばねで、一端が前記凹嵌
部８ｃに係合しており、摺動部８ｂを溝７ａ内に挿入す
ると、他端が前記凹嵌部７ｂに係合して、コンタクト部
８は、摺動部８ｂが溝７ａ内を摺動し、観測用端子７に
Ａ−Ｂ方向に進退自在に支持され、ばね９により常にフ
レーム４の内方、すなわちＡ方向に突出するように付勢
されている。このとき、摺動部８ｂと溝７ａとが電気的
に接触している。コンタクト部８間には、絶縁材１０が
介在し、この絶縁材１０は、前記観測用端子７をインサ
ート成形する際に、同時にフレーム４に一体成形され
る。コンタクト部８の幅Ｔ１は０．３５ｍｍ、絶縁材１
０の幅Ｔ２は０．３ｍｍに形成されている。
【００１０】次に、このような構成の集積回路用波形観
測器具の測定方法を説明する。試験台１１に被試験用の
集積回路１を載置し、上方から集積回路用波形観測器具
３を降下させ、吸盤６によって集積回路１を吸着して、
集積回路１を観測器具３に固定する。このとき、コンタ
クト部８の先端が集積回路１の端子２に接触するが、下
方に向かって集積回路１から離間するように傾斜した端
子２は溝８ａ内を、上端から下端に向かって、深くなる
ように形成された溝８ａに円滑に案内されるので、端子
２はコンタクト部８から外れることなく溝８ａに係合す
る。
測器具の測定方法を説明する。試験台１１に被試験用の
集積回路１を載置し、上方から集積回路用波形観測器具
３を降下させ、吸盤６によって集積回路１を吸着して、
集積回路１を観測器具３に固定する。このとき、コンタ
クト部８の先端が集積回路１の端子２に接触するが、下
方に向かって集積回路１から離間するように傾斜した端
子２は溝８ａ内を、上端から下端に向かって、深くなる
ように形成された溝８ａに円滑に案内されるので、端子
２はコンタクト部８から外れることなく溝８ａに係合す
る。
【００１１】また、このとき、コンタクト部８が観測用
端子７にＡ−Ｂ方向に進退自在となっているので、最初
Ｂ方向に移動し、次にばね９によりＡ方向に押圧される
ので、コンタクト部８および端子２の破損が防止される
とともに、ばねの付勢力により、所定の接触圧が得ら
れ、接触不良が防止される。さらに、コンタクト部８間
には絶縁材１０が介在しているので、仮に、端子２がず
れた場合でも、誤接触が防止される。
端子７にＡ−Ｂ方向に進退自在となっているので、最初
Ｂ方向に移動し、次にばね９によりＡ方向に押圧される
ので、コンタクト部８および端子２の破損が防止される
とともに、ばねの付勢力により、所定の接触圧が得ら
れ、接触不良が防止される。さらに、コンタクト部８間
には絶縁材１０が介在しているので、仮に、端子２がず
れた場合でも、誤接触が防止される。
【００１２】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、集
積回路の複数の端子と個々に接触させ、観測用端子から
信号を導出する複数のコンタクト部を備え、このコンタ
クト部の先端に断面Ｕ字状の溝を設けたことことによ
り、集積回路の端子は溝から外れることが防止されの
で、端子とコンタクト部の確実な接触が得られる。
積回路の複数の端子と個々に接触させ、観測用端子から
信号を導出する複数のコンタクト部を備え、このコンタ
クト部の先端に断面Ｕ字状の溝を設けたことことによ
り、集積回路の端子は溝から外れることが防止されの
で、端子とコンタクト部の確実な接触が得られる。
【００１３】また、本発明によれば、溝は上端から下端
に向かって漸次深くなるように形成したことにより、集
積回路の端子は、溝に沿って円滑に案内されるので、端
子とコンタクト部が破損することなく、確実な接触が得
られる。
に向かって漸次深くなるように形成したことにより、集
積回路の端子は、溝に沿って円滑に案内されるので、端
子とコンタクト部が破損することなく、確実な接触が得
られる。
【００１４】また、本発明によれば、複数のコンタクト
部間に絶縁材を介したことにより、集積回路の隣接する
端子間の誤接触が防止される。
部間に絶縁材を介したことにより、集積回路の隣接する
端子間の誤接触が防止される。
【００１５】また、本発明によれば、コンタクト部をフ
レームに埋設した観測用端子に進退自在に支持するとと
もに、ばねで進出方向に付勢したことことにより、端子
にコンタクト部が接触する際に、両者の破損が防止され
るとともに、所定の接触圧が得られて、接触不良が防止
される。
レームに埋設した観測用端子に進退自在に支持するとと
もに、ばねで進出方向に付勢したことことにより、端子
にコンタクト部が接触する際に、両者の破損が防止され
るとともに、所定の接触圧が得られて、接触不良が防止
される。
【００１６】また、本発明によれば、集積回路を固定す
る吸盤と、集積回路の複数の端子と個々に接触させる複
数のコンタクト部とを備え、このコンタクト部の先端
に、上端から下端に向かって漸次深くなるように形成し
た断面Ｕ字状の溝を設けるとともに、複数のコンタクト
部間に絶縁材を設け、かつ、コンタクト部をフレームに
埋設した観測用端子に進退自在に支持するとともに、ば
ねで進出方向に付勢したことにより、確実な接触が得ら
れるとともに、集積回路の隣接する端子間の誤接触が防
止され、かつ、端子にコンタクト部が接触する際に、両
者の破損が防止されるとともに、所定の接触圧が得られ
て、接触不良が防止され、さらに、吸盤の固定により作
業性が向上する。
る吸盤と、集積回路の複数の端子と個々に接触させる複
数のコンタクト部とを備え、このコンタクト部の先端
に、上端から下端に向かって漸次深くなるように形成し
た断面Ｕ字状の溝を設けるとともに、複数のコンタクト
部間に絶縁材を設け、かつ、コンタクト部をフレームに
埋設した観測用端子に進退自在に支持するとともに、ば
ねで進出方向に付勢したことにより、確実な接触が得ら
れるとともに、集積回路の隣接する端子間の誤接触が防
止され、かつ、端子にコンタクト部が接触する際に、両
者の破損が防止されるとともに、所定の接触圧が得られ
て、接触不良が防止され、さらに、吸盤の固定により作
業性が向上する。
【図１】 本発明に係る集積回路用観測器具の一部破断
斜視図である。
斜視図である。
【図２】 本発明に係る集積回路用観測器具の使用状態
を示す平面図である。
を示す平面図である。
【図３】 図２におけるIII-III 線断面図である。
【図４】 図３におけるIV部拡大断面図で、（ａ）はコ
ンタクト部を挿入する前の状態、（ｂ）はコンタクト部
を挿入した後の状態を示す。
ンタクト部を挿入する前の状態、（ｂ）はコンタクト部
を挿入した後の状態を示す。
【図５】 本発明に係る集積回路用観測器具におけるコ
ンタクト部の拡大斜視図である。
ンタクト部の拡大斜視図である。
【図６】 本発明に係る集積回路用観測器具におけるコ
ンタクト部と集積回路の端子との拡大平面図である。
ンタクト部と集積回路の端子との拡大平面図である。
１…集積回路、２…端子、３…集積回路用観測器具、６
…吸盤、７…観測用端子、８…コンタクト部、８ａ…
溝、９…ばね、１０…絶縁材。
…吸盤、７…観測用端子、８…コンタクト部、８ａ…
溝、９…ばね、１０…絶縁材。
Claims (5)
- 【請求項１】 集積回路の複数の端子と個々に接触さ
せ、観測用端子から信号を導出する複数のコンタクト部
を備え、このコンタクト部の先端に断面Ｕ字状の溝を設
けたことを特徴とする集積回路用波形観測器具。 - 【請求項２】 請求項１記載の集積回路用波形観測器具
において、溝は上端から下端に向かって漸次深くなるよ
うに形成したことを特徴とする集積回路用波形観測器
具。 - 【請求項３】 請求項１記載の集積回路用波形観測器具
において、複数のコンタクト部間に絶縁材を設けたこと
を特徴とする集積回路用波形観測器具。 - 【請求項４】 請求項１記載の集積回路用波形観測器具
において、コンタクト部をフレームに埋設した観測用端
子に進退自在に支持するとともに、ばねで進出方向に付
勢したことを特徴とする集積回路用波形観測器具。 - 【請求項５】 集積回路を固定する吸盤と、集積回路の
複数の端子と個々に接触させる複数のコンタクト部とを
備え、このコンタクト部の先端に、上端から下端に向か
って漸次深くなるように形成した断面Ｕ字状の溝を設け
るとともに、複数のコンタクト部間に絶縁材を設け、か
つ、コンタクト部をフレームに埋設した観測用端子に進
退自在に支持するとともに、ばねで進出方向に付勢した
ことを特徴とする集積回路用波形観測器具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6284989A JPH08146084A (ja) | 1994-11-18 | 1994-11-18 | 集積回路用波形観測器具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6284989A JPH08146084A (ja) | 1994-11-18 | 1994-11-18 | 集積回路用波形観測器具 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08146084A true JPH08146084A (ja) | 1996-06-07 |
Family
ID=17685705
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6284989A Pending JPH08146084A (ja) | 1994-11-18 | 1994-11-18 | 集積回路用波形観測器具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08146084A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04216470A (ja) * | 1990-12-14 | 1992-08-06 | Nec Eng Ltd | プローブ |
| JPH05232140A (ja) * | 1992-02-20 | 1993-09-07 | Pfu Ltd | 電子部品の測定治具 |
-
1994
- 1994-11-18 JP JP6284989A patent/JPH08146084A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04216470A (ja) * | 1990-12-14 | 1992-08-06 | Nec Eng Ltd | プローブ |
| JPH05232140A (ja) * | 1992-02-20 | 1993-09-07 | Pfu Ltd | 電子部品の測定治具 |
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