JPH0814949B2 - 磁気デイスク装置 - Google Patents
磁気デイスク装置Info
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- JPH0814949B2 JPH0814949B2 JP60268560A JP26856085A JPH0814949B2 JP H0814949 B2 JPH0814949 B2 JP H0814949B2 JP 60268560 A JP60268560 A JP 60268560A JP 26856085 A JP26856085 A JP 26856085A JP H0814949 B2 JPH0814949 B2 JP H0814949B2
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- circuit
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は,データトラツクの各セクタ毎に配置した
サーボ情報によりヘツドの位置決めを行う方式の磁気デ
イスク装置に関するものである。
サーボ情報によりヘツドの位置決めを行う方式の磁気デ
イスク装置に関するものである。
第18図は特開昭58−151613号公報に開示された従来の
磁気デイスク装置における位置決め系の構成を示すブロ
ツク図である。図において,(1)はデイスクで,この
上には複数のサーボ情報がそれぞれ異なるトラツク上に
交互に配置記録されている。(2)はヘツドで,デイス
ク(1)に記録されたサーボ情報を電気信号として取り
出しピーク検出器(3)に送る。(4)は疎ステツパで
上記ヘツド(2)をトラツク間にわたつて移動させるも
ので,制御ユニツト(5)の指令を制御ロジツク(6)
が受け,この出力により駆動される。(10)は精ステツ
パで疎ステツパ(4)により移動された上記ヘツド
(2)の位置誤差を補正するもので,上記ピーク検出器
(3)で検出したピーク電圧を記憶器(7)で記憶し
て,これを比較器(8)で基準値と比較し,その結果を
制御ロジツク(9)が受け,この出力で駆動される。
(11)はスピンドルモータである。
磁気デイスク装置における位置決め系の構成を示すブロ
ツク図である。図において,(1)はデイスクで,この
上には複数のサーボ情報がそれぞれ異なるトラツク上に
交互に配置記録されている。(2)はヘツドで,デイス
ク(1)に記録されたサーボ情報を電気信号として取り
出しピーク検出器(3)に送る。(4)は疎ステツパで
上記ヘツド(2)をトラツク間にわたつて移動させるも
ので,制御ユニツト(5)の指令を制御ロジツク(6)
が受け,この出力により駆動される。(10)は精ステツ
パで疎ステツパ(4)により移動された上記ヘツド
(2)の位置誤差を補正するもので,上記ピーク検出器
(3)で検出したピーク電圧を記憶器(7)で記憶し
て,これを比較器(8)で基準値と比較し,その結果を
制御ロジツク(9)が受け,この出力で駆動される。
(11)はスピンドルモータである。
次に動作について説明する。デイスク(1)上に記録
されたサーボ情報は第19図にその概念を示すようにサー
ボ情報AおよびBがそれぞれ異なるトラツク上にあり,
かつ交互に配置されている。さらにこの情報A,Bは各セ
クタごとに若干異なるタイミングにより記録されている
ため,ヘツド(2)により読出した信号からこれら2つ
の信号成分を分離することが可能である。
されたサーボ情報は第19図にその概念を示すようにサー
ボ情報AおよびBがそれぞれ異なるトラツク上にあり,
かつ交互に配置されている。さらにこの情報A,Bは各セ
クタごとに若干異なるタイミングにより記録されている
ため,ヘツド(2)により読出した信号からこれら2つ
の信号成分を分離することが可能である。
ヘツド(2)をトラツク間にわたつて移動させる場合
には制御ユニツト(5)により移動すべきトラツク数に
応じた指令を発し,これを制御ロジツク(6)が受けて
疎ステツパ(4)を駆動し,この疎ステツパ(4)によ
り送り動作を行う。基本的にはこの動作により,ヘツド
(2)を所定のトラツクへ移動させるのであるが,温湿
度の変化によるデイスク(1)の伸縮や機械的誤差等の
影響により,ヘツド(2)は必ずしも所望のトラツク上
に正確に位置決めされているとは限らない。これをさら
に正確にするために以下の動作を行う。上述の様に疎ス
テツパ(4)により大まかに位置決めされたヘツド
(2)が第19図に示した2種類のサーボ情報A,Bを読み
取りピーク検出器(3)にてそれぞれの信号のピーク電
圧を検出する。サーボ情報A,Bはそれぞれ1トラツク毎
に記録されているため,ヘツド(2)の中心がトラツク
境界線CからずれてB側に寄つた場合(2B)とA側に寄
つた場合(2A)とでは当然読出し信号のピーク電圧も変
化する。
には制御ユニツト(5)により移動すべきトラツク数に
応じた指令を発し,これを制御ロジツク(6)が受けて
疎ステツパ(4)を駆動し,この疎ステツパ(4)によ
り送り動作を行う。基本的にはこの動作により,ヘツド
(2)を所定のトラツクへ移動させるのであるが,温湿
度の変化によるデイスク(1)の伸縮や機械的誤差等の
影響により,ヘツド(2)は必ずしも所望のトラツク上
に正確に位置決めされているとは限らない。これをさら
に正確にするために以下の動作を行う。上述の様に疎ス
テツパ(4)により大まかに位置決めされたヘツド
(2)が第19図に示した2種類のサーボ情報A,Bを読み
取りピーク検出器(3)にてそれぞれの信号のピーク電
圧を検出する。サーボ情報A,Bはそれぞれ1トラツク毎
に記録されているため,ヘツド(2)の中心がトラツク
境界線CからずれてB側に寄つた場合(2B)とA側に寄
つた場合(2A)とでは当然読出し信号のピーク電圧も変
化する。
第20図はこのピーク電圧が変化する様子を示した図で
ある。記憶器(7)ではピーク検出器(3)で検出した
ピーク電圧値を保持する。その後比較器(8)に送られ
て基準値との比較を行い,その結果所望のトラツク位置
からのずれが認められれば制御ロジツク(9)を経て精
ステツパ(10)を駆動し,位置誤差を補正するように動
作する。この動作は各セクタごとに繰り返される。精ス
テツパ(10)と疎ステツパ(4)は共動してヘツド
(2)を駆動するため共通のメカニズムに結合されてい
る。すなわち,両ステツパの軸は共通のレバーによつて
結合されており,このレバーの働きによつて精ステツパ
によるヘツド送り量を疎ステツパによる送り量に比べて
小さくしており,両者のステツパを使い分けて疎送り,
精送りを行つている。
ある。記憶器(7)ではピーク検出器(3)で検出した
ピーク電圧値を保持する。その後比較器(8)に送られ
て基準値との比較を行い,その結果所望のトラツク位置
からのずれが認められれば制御ロジツク(9)を経て精
ステツパ(10)を駆動し,位置誤差を補正するように動
作する。この動作は各セクタごとに繰り返される。精ス
テツパ(10)と疎ステツパ(4)は共動してヘツド
(2)を駆動するため共通のメカニズムに結合されてい
る。すなわち,両ステツパの軸は共通のレバーによつて
結合されており,このレバーの働きによつて精ステツパ
によるヘツド送り量を疎ステツパによる送り量に比べて
小さくしており,両者のステツパを使い分けて疎送り,
精送りを行つている。
従来の磁気デイスク装置では,以上のような位置決め
方式を用いているため,ヘツド(2)を駆動するモータ
に2個のステツパを用いておりスペースを取ること,こ
れらのステツパを制御するため2系統の制御−駆動系が
必要であり回路が複雑になること,上記2個のステツパ
の動作を1個の位置決め機構に連結するため精密なメカ
ニズムが必要であることなどの問題点があつた。
方式を用いているため,ヘツド(2)を駆動するモータ
に2個のステツパを用いておりスペースを取ること,こ
れらのステツパを制御するため2系統の制御−駆動系が
必要であり回路が複雑になること,上記2個のステツパ
の動作を1個の位置決め機構に連結するため精密なメカ
ニズムが必要であることなどの問題点があつた。
この発明は上記のような問題点を解消するためになさ
れたもので,制御系回路を簡略化するとともにスペース
を節約し,かつ特段の精密なメカニズムを必要としない
で正確なヘツド位置決めのできる磁気デイスク装置を得
ることを目的とする。
れたもので,制御系回路を簡略化するとともにスペース
を節約し,かつ特段の精密なメカニズムを必要としない
で正確なヘツド位置決めのできる磁気デイスク装置を得
ることを目的とする。
この発明に係る磁気デイスク装置は,ヘツド位置決め
のための疎送り及び精密送りの両者を1個のステツパで
行うようにしたものであり,疎送り時と精送り時とでは
ステツパのコイルに流れる電流を変化させて位置決め制
御を行い,また制御−駆動系に読出し専用メモリ(以下
ROMと略称する),デジタル−アナログ変換器(以下DAC
と略称する)を用いて駆動回路に結合させるようにした
ものである。
のための疎送り及び精密送りの両者を1個のステツパで
行うようにしたものであり,疎送り時と精送り時とでは
ステツパのコイルに流れる電流を変化させて位置決め制
御を行い,また制御−駆動系に読出し専用メモリ(以下
ROMと略称する),デジタル−アナログ変換器(以下DAC
と略称する)を用いて駆動回路に結合させるようにした
ものである。
この発明におけるステツパは,上記駆動回路によりコ
イルに流れる電流が制御され,この電流値の変化により
停止位置が変動する。また上記ROMとDACはコイルに流れ
る電流値の増減を調節する。これにより,あらかじめ記
録されたトラツク上をヘツドが追従するようにコイル電
流を調節し,ステツパ変位を変化させる。
イルに流れる電流が制御され,この電流値の変化により
停止位置が変動する。また上記ROMとDACはコイルに流れ
る電流値の増減を調節する。これにより,あらかじめ記
録されたトラツク上をヘツドが追従するようにコイル電
流を調節し,ステツパ変位を変化させる。
以下,この発明の一実施例について図を参照して説明
する。第1図において,(1)はデイスク,(2)はヘ
ツドである。ヘツド(2)はステツパ(4)によりデイ
スクの半径方向へ動かされる。ヘツド(2)にて読出し
た信号は増幅器(12)にて所定の電圧値まで増幅され,
その後ヘツド位置決め系の制御を行う回路(以下に詳述
する)とデータ書込み読出し回路(13)とへ送られる。
データ書込み読出し回路は,外部コントローラとヘツド
・デイスク間における情報のやりとりを行う回路である
が,この発明の内容には直接関係がないので詳しい説明
は省略する。(14)はステツパ(4)の駆動回路であ
り,ステツパのコイルに必要な電流を供給する。(15)
は誤差検出器であり,ヘツド(2)にて読出した信号を
増幅器(12)にて増幅した後,必要なサーボ情報から所
定のトラツクとヘツドとの位置誤差を検出するものであ
る。(16)は補正回路であり誤差検出器(15)の出力を
受けて駆動回路(14)へ駆動信号を送る。(17)は制御
ロジツクであり,制御のシーケンスやモードの規定を行
う。(18)はトラツク識別回路であり,制御モードを決
定するに必要なトラツクの種別を認識する。(19)は本
実施例の磁気デイスク装置を統括制御するコントローラ
であり,本装置の中には含まれない。
する。第1図において,(1)はデイスク,(2)はヘ
ツドである。ヘツド(2)はステツパ(4)によりデイ
スクの半径方向へ動かされる。ヘツド(2)にて読出し
た信号は増幅器(12)にて所定の電圧値まで増幅され,
その後ヘツド位置決め系の制御を行う回路(以下に詳述
する)とデータ書込み読出し回路(13)とへ送られる。
データ書込み読出し回路は,外部コントローラとヘツド
・デイスク間における情報のやりとりを行う回路である
が,この発明の内容には直接関係がないので詳しい説明
は省略する。(14)はステツパ(4)の駆動回路であ
り,ステツパのコイルに必要な電流を供給する。(15)
は誤差検出器であり,ヘツド(2)にて読出した信号を
増幅器(12)にて増幅した後,必要なサーボ情報から所
定のトラツクとヘツドとの位置誤差を検出するものであ
る。(16)は補正回路であり誤差検出器(15)の出力を
受けて駆動回路(14)へ駆動信号を送る。(17)は制御
ロジツクであり,制御のシーケンスやモードの規定を行
う。(18)はトラツク識別回路であり,制御モードを決
定するに必要なトラツクの種別を認識する。(19)は本
実施例の磁気デイスク装置を統括制御するコントローラ
であり,本装置の中には含まれない。
以下,本実施例の動作について説明する。第2図はデ
イスク(1)上にあらかじめ記録されているサボ情報A,
B,C,Dの配置を示す概念図である。第3図はこれらのサ
ーボ情報より読出したサーボ信号がヘツド位置によつて
変化する様子を示した図である。いま,ヘツド(2)が
第3図に示すBサーボトラツクとCサーボトラツクの中
心線上にある時(2a)サーボ信号波形はE2aに示すよう
になり,BおよびCのサーボ情報から得られる信号の振幅
値は等しくなる。次にヘツド(2)が上記の状態からB
側にずれた場合(2b)サーボ信号はE2bに示すようにな
りB信号の振幅が大きくなる。一方,ヘツド(2)が逆
にC側にずれた場合(2c)サーボ信号はE2cのようにな
りC信号の振幅が大きくなる。なお,本実施例ではサー
ボ情報がA,B,C,Dの4種類の場合について説明してあ
り,サーボ情報AとCはトラツクの種別認識のための作
用が異るものであるが,位置誤差検出における作用は全
く同じである。このことはサーボ情報BとDについても
同様である。すなわち,上述の第3図に関しての説明は
ヘツド(2)がBサーボトラツクとCサーボトラツクの
境界上にあるときのみならず,他の境界上にあつても同
様の原理で適用しうるものである。
イスク(1)上にあらかじめ記録されているサボ情報A,
B,C,Dの配置を示す概念図である。第3図はこれらのサ
ーボ情報より読出したサーボ信号がヘツド位置によつて
変化する様子を示した図である。いま,ヘツド(2)が
第3図に示すBサーボトラツクとCサーボトラツクの中
心線上にある時(2a)サーボ信号波形はE2aに示すよう
になり,BおよびCのサーボ情報から得られる信号の振幅
値は等しくなる。次にヘツド(2)が上記の状態からB
側にずれた場合(2b)サーボ信号はE2bに示すようにな
りB信号の振幅が大きくなる。一方,ヘツド(2)が逆
にC側にずれた場合(2c)サーボ信号はE2cのようにな
りC信号の振幅が大きくなる。なお,本実施例ではサー
ボ情報がA,B,C,Dの4種類の場合について説明してあ
り,サーボ情報AとCはトラツクの種別認識のための作
用が異るものであるが,位置誤差検出における作用は全
く同じである。このことはサーボ情報BとDについても
同様である。すなわち,上述の第3図に関しての説明は
ヘツド(2)がBサーボトラツクとCサーボトラツクの
境界上にあるときのみならず,他の境界上にあつても同
様の原理で適用しうるものである。
誤差検出器(15)では上記サーボ信号からヘツド
(2)とトラツクとの間の相対的位置ずれを検出する。
すなわち,位置誤差信号をEXとすれば次式で与えられ
る。
(2)とトラツクとの間の相対的位置ずれを検出する。
すなわち,位置誤差信号をEXとすれば次式で与えられ
る。
EX=(EA+EC)−(EB+ED) ……(1) ここでEA,EB,EC,EDはそれぞれ各サーボ信号のピーク
電圧である。第4図にEXの検出法の図を示す。ヘツド
(2)がサーボトラツクの幅方向に移動するに従つて
EA,EB,EC,EDはそれぞれ三角波状に変化する。従つて,
これらの信号をもとに作られる位置誤差信号EXも三角波
状となる。なお,上記4つのサーボ信号ピーク電圧は,
各セクタ毎に間欠的に得られるので,一旦ピーク値を検
出するとこれを1セクタの期間保持し,次のサーボ信号
を取り込んで更新をする。誤差検出器(15)は,さらに
上記位置誤差信号EXをもとにしてこの誤差を補正するた
めのヘツド(2)の移動方向をも決定する。第5図は誤
差検出器(15)のさらに詳細な構成を示す図である。上
述にて説明した位置誤差信号EXは入力サーボ信号から2
個のピークホールド回路(20),(21)によりピーク電
圧を検出し,これを減算回路(22)にて減算処理して得
られる。この位置誤差信号は後段のゼロクロス回路(2
3)にてパルス化されてポジシヨン信号となる。補正パ
ルス発生回路(24)ではこのポジシヨン信号とトラツク
信号およびセクタパルスを組合せてヘツド位置補正のた
めのフオワードパルス,リバースパルスを発生し,後段
の補正回路(16)へと送る。第6図は,フオワードパル
ス(以下FWDPと称する)とリバースパルス(以下REVPと
称する)発生までのタイムチヤートである。なお,移動
方向はデイスク(1)の内周側へ向う方向をフオワード
(前進)方向と定める。いま,デイスク外周寄りのサー
ボ情報DとAの所定の境界上をトラツク0と定める。以
下内周側へ向つて順次トラツク1(A,B境界),2(B,C境
界),3(C,D境界),4(D,A境界)とし,以下順にトラツ
クアドレスを増していく。位置誤差信号EXは,第4図に
て説明したように,各トラツク上でゼロとなる三角波で
ある。ヘツド(2)が第6図に示すようにトラツクに対
して変位を生ずる場合につき説明する。トラツクアドレ
スが偶数の場合,ヘツド変位が内周側であれば位置誤差
信号EXは正,外周側であれば負となる。ゼロクロス回路
(23)ではこれをパルス化してポジシヨン信号(POSI)
とし補正パルス発生回路(24)へ送る。補正パルス発生
回路には他にトラツクアドレスの偶奇を示すトラツク信
号(TRKO)とセクタごとに発生するセクタパルス(SCT
P)が入力されている。トラツク信号は奇数トラツクの
時Hレベルになる。さて,偶数トラツクではポジシヨン
信号がHのとき内周側へ位置ずれをおこしているので,
これを外周側へ移動補正する必要がある。したがつてフ
オワードパルス,リバースパルスを発生させるためのフ
オワードゲート(FWDG),リバースゲート(REVG)は次
の論理式で規定される。
電圧である。第4図にEXの検出法の図を示す。ヘツド
(2)がサーボトラツクの幅方向に移動するに従つて
EA,EB,EC,EDはそれぞれ三角波状に変化する。従つて,
これらの信号をもとに作られる位置誤差信号EXも三角波
状となる。なお,上記4つのサーボ信号ピーク電圧は,
各セクタ毎に間欠的に得られるので,一旦ピーク値を検
出するとこれを1セクタの期間保持し,次のサーボ信号
を取り込んで更新をする。誤差検出器(15)は,さらに
上記位置誤差信号EXをもとにしてこの誤差を補正するた
めのヘツド(2)の移動方向をも決定する。第5図は誤
差検出器(15)のさらに詳細な構成を示す図である。上
述にて説明した位置誤差信号EXは入力サーボ信号から2
個のピークホールド回路(20),(21)によりピーク電
圧を検出し,これを減算回路(22)にて減算処理して得
られる。この位置誤差信号は後段のゼロクロス回路(2
3)にてパルス化されてポジシヨン信号となる。補正パ
ルス発生回路(24)ではこのポジシヨン信号とトラツク
信号およびセクタパルスを組合せてヘツド位置補正のた
めのフオワードパルス,リバースパルスを発生し,後段
の補正回路(16)へと送る。第6図は,フオワードパル
ス(以下FWDPと称する)とリバースパルス(以下REVPと
称する)発生までのタイムチヤートである。なお,移動
方向はデイスク(1)の内周側へ向う方向をフオワード
(前進)方向と定める。いま,デイスク外周寄りのサー
ボ情報DとAの所定の境界上をトラツク0と定める。以
下内周側へ向つて順次トラツク1(A,B境界),2(B,C境
界),3(C,D境界),4(D,A境界)とし,以下順にトラツ
クアドレスを増していく。位置誤差信号EXは,第4図に
て説明したように,各トラツク上でゼロとなる三角波で
ある。ヘツド(2)が第6図に示すようにトラツクに対
して変位を生ずる場合につき説明する。トラツクアドレ
スが偶数の場合,ヘツド変位が内周側であれば位置誤差
信号EXは正,外周側であれば負となる。ゼロクロス回路
(23)ではこれをパルス化してポジシヨン信号(POSI)
とし補正パルス発生回路(24)へ送る。補正パルス発生
回路には他にトラツクアドレスの偶奇を示すトラツク信
号(TRKO)とセクタごとに発生するセクタパルス(SCT
P)が入力されている。トラツク信号は奇数トラツクの
時Hレベルになる。さて,偶数トラツクではポジシヨン
信号がHのとき内周側へ位置ずれをおこしているので,
これを外周側へ移動補正する必要がある。したがつてフ
オワードパルス,リバースパルスを発生させるためのフ
オワードゲート(FWDG),リバースゲート(REVG)は次
の論理式で規定される。
FWDG=▲▼ REVG=POSI これより,フオワードパルスはフオワードゲートによ
りポジシヨン信号がLのときのみ発生され,リバースパ
ルスはリバースゲートによりポジシヨン信号がHのとき
のみ発生される。一方,奇数トラツクではヘツド位置変
位に対して位置誤差信号EXは逆極性で発生する。すなわ
ち,ポジシヨン信号のレベルは偶数トラツクの時とは逆
転する。従つてフオワードゲート,リバースゲートも前
記偶数トラツクの時とはレベルが逆になる。すなわち FWDG=POSI REVG=▲▼ である。このゲート操作によりフオワードパルス,リバ
ースパルスはヘツド変位に対応してトラツクの偶奇によ
らず発生されることになる。補正パルス発生回路(24)
では,この操作を電気回路で実現させるために,ポジシ
ヨン信号(POSI),セクタパルス(SCTP),トラツク信
号(TRKO)を組合せて,下記の論理演算によりフオワー
ドパルス(FWDP),リバースパルス(REVP)を発生す
る。
りポジシヨン信号がLのときのみ発生され,リバースパ
ルスはリバースゲートによりポジシヨン信号がHのとき
のみ発生される。一方,奇数トラツクではヘツド位置変
位に対して位置誤差信号EXは逆極性で発生する。すなわ
ち,ポジシヨン信号のレベルは偶数トラツクの時とは逆
転する。従つてフオワードゲート,リバースゲートも前
記偶数トラツクの時とはレベルが逆になる。すなわち FWDG=POSI REVG=▲▼ である。このゲート操作によりフオワードパルス,リバ
ースパルスはヘツド変位に対応してトラツクの偶奇によ
らず発生されることになる。補正パルス発生回路(24)
では,この操作を電気回路で実現させるために,ポジシ
ヨン信号(POSI),セクタパルス(SCTP),トラツク信
号(TRKO)を組合せて,下記の論理演算によりフオワー
ドパルス(FWDP),リバースパルス(REVP)を発生す
る。
FWDP=(TRKO・POSI+▲▼・▲▼)・
SCTP REVP=(TRKO・▲▼+▲▼・POSI)・
SCTP 第7図は,補正回路(16)のさらに詳細な構成を示す
図である。(25)はカウンタであり,このカウンタのカ
ウントアツプ入力に前記フオワードパルスを,カウント
ダウン入力にリバースパルスを入力する。カウンタの出
力は補正データの指定アドレスとして2個の読出し専用
メモリ(ROM−1,ROM−2)に接続されている。ROM−1
(27)はステツパ(4)の第1の駆動コイルに流す電流
を制御するものであり,指定されたアドレスのデータを
DAC−1(29)へ出力する。DAC−1ではこれを受けてデ
ジタルデータをアナログ値に変換し,第1の出力回路
(31)を介して第1駆動信号として駆動回路(14)へ送
られる。ROM−2(28),DAC−2(30),第2出力回路
(32)は同様にステツパ(4)の第2の駆動コイルに流
す電流を制御する。カウンタ(25)には別に初期値設定
回路(26)が接続されており,プリセツト信号入力によ
りこの回路で指定される初期アドレスにセツトされる。
SCTP REVP=(TRKO・▲▼+▲▼・POSI)・
SCTP 第7図は,補正回路(16)のさらに詳細な構成を示す
図である。(25)はカウンタであり,このカウンタのカ
ウントアツプ入力に前記フオワードパルスを,カウント
ダウン入力にリバースパルスを入力する。カウンタの出
力は補正データの指定アドレスとして2個の読出し専用
メモリ(ROM−1,ROM−2)に接続されている。ROM−1
(27)はステツパ(4)の第1の駆動コイルに流す電流
を制御するものであり,指定されたアドレスのデータを
DAC−1(29)へ出力する。DAC−1ではこれを受けてデ
ジタルデータをアナログ値に変換し,第1の出力回路
(31)を介して第1駆動信号として駆動回路(14)へ送
られる。ROM−2(28),DAC−2(30),第2出力回路
(32)は同様にステツパ(4)の第2の駆動コイルに流
す電流を制御する。カウンタ(25)には別に初期値設定
回路(26)が接続されており,プリセツト信号入力によ
りこの回路で指定される初期アドレスにセツトされる。
第8図は,駆動回路(14)およびステツパ(4)の詳
細な構成を示す図である。第7図に示した第1出力回路
(31),第2出力回路(32)の出力がそれぞれ第1電圧
−電流変換器(33),第2電圧−電流変換器(34)に接
続されている。それぞれの入力電圧D1,D2に対して電流I
1,I2が次式で与えられる。
細な構成を示す図である。第7図に示した第1出力回路
(31),第2出力回路(32)の出力がそれぞれ第1電圧
−電流変換器(33),第2電圧−電流変換器(34)に接
続されている。それぞれの入力電圧D1,D2に対して電流I
1,I2が次式で与えられる。
I1=K1・D1,I2=K2・D2 (K1,K2は比例定数) この電流I1,I2はステツパ(4)の第1駆動コイル(3
7),第2駆動コイル(38)のそれぞれに流れる電流
IL1,IL2と絶対値が等しい。駆動コイルに流れる電流の
向きを切換スイツチ回路(35),(36)により切換え
る。切換え制御の信号として第1切換スイツチ回路(3
5)には切換信号S1が,第2切換スイツチ(36)には切
換信号S2が入力されている。
7),第2駆動コイル(38)のそれぞれに流れる電流
IL1,IL2と絶対値が等しい。駆動コイルに流れる電流の
向きを切換スイツチ回路(35),(36)により切換え
る。切換え制御の信号として第1切換スイツチ回路(3
5)には切換信号S1が,第2切換スイツチ(36)には切
換信号S2が入力されている。
第9図に切換信号S1,S2とそれに対応した電流の向き
およびトラツクアドレスを示す。トラツクアドレスはス
テツパ(4)のロータ(39)の停止位置と1対1に対応
している。電流の向きは駆動コイル(37),(38)の中
間端子(40),(41)から端子Pへ向かう方向を正,端
子Nへ向う方向を負と定める。なお,第9図において
は,コイルに流れる電流の絶対値は常に一定のものとし
て表示した。さて,第9図はステツパの通常の動作とし
て知られているものであり,本実施例では,ヘツド
(2)の疎送りをこの方法により行っている。即ち,コ
ントローラ(19)から移動すべきトラック数に応じた指
令を制御ロジツク(17)が受け,駆動回路(14)の切換
信号s1,s2の切換えを行ってヘッド(2)をトラック間
にわたって移動させる。一般的に磁気デイスク装置では
機械的取付け誤差やデイスク(1)の伸縮等の要因によ
りヘツド(2)は所望のトラツク上からずれた位置の疎
送りされる場合がある。本実施例では第7図および第8
図に示した第1駆動信号D1と第2駆動信号D2の電圧値に
差を与えて電流値I1,I2をアンバランスにすることによ
りロータ(39)を微少変動させて第9図に示したトラツ
クアドレスの正規位置からヘツド(2)をずらして位置
補正を行つている。
およびトラツクアドレスを示す。トラツクアドレスはス
テツパ(4)のロータ(39)の停止位置と1対1に対応
している。電流の向きは駆動コイル(37),(38)の中
間端子(40),(41)から端子Pへ向かう方向を正,端
子Nへ向う方向を負と定める。なお,第9図において
は,コイルに流れる電流の絶対値は常に一定のものとし
て表示した。さて,第9図はステツパの通常の動作とし
て知られているものであり,本実施例では,ヘツド
(2)の疎送りをこの方法により行っている。即ち,コ
ントローラ(19)から移動すべきトラック数に応じた指
令を制御ロジツク(17)が受け,駆動回路(14)の切換
信号s1,s2の切換えを行ってヘッド(2)をトラック間
にわたって移動させる。一般的に磁気デイスク装置では
機械的取付け誤差やデイスク(1)の伸縮等の要因によ
りヘツド(2)は所望のトラツク上からずれた位置の疎
送りされる場合がある。本実施例では第7図および第8
図に示した第1駆動信号D1と第2駆動信号D2の電圧値に
差を与えて電流値I1,I2をアンバランスにすることによ
りロータ(39)を微少変動させて第9図に示したトラツ
クアドレスの正規位置からヘツド(2)をずらして位置
補正を行つている。
第10図にコイル電流とヘツド位置との関係を示した。
この図では電源VSからステツパへ供給される総電流値を
一定としてあるが,これを変化させて駆動することもむ
ろん可能である。図において,横軸はヘツド位置,縦軸
はコイル電流を表わす。第9図にて説明したように切換
信号S1,S2が共にHの場合トラツクアドレスは0であり
ヘツド位置はトラツク中心である(第10図のQ0点)。切
換信号はこの状態に保持したままコイル電流を変化させ
ると,両コイルで発生する力のバランスがくずれてロー
タ(39)は位置ずれを起こす。すなわちヘツド(2)が
変位を生じるわけである。トラツク0上ではコイル電流
IL1を減少させ,IL2を増加させるとフオワード方向への
変位を生じ,逆にIL1を増加,IL2を減少させるとリバー
ス方向への変位を生じる。従つて,第6図にて説明した
フオワードパルスが発生した場合,これによりROMアド
レスを更新してROM−1ではデータ減少,ROM−2ではデ
ータ増加とすればヘツド(2)はフオワード方向へ移動
して位置誤差を補正するように動作する。
この図では電源VSからステツパへ供給される総電流値を
一定としてあるが,これを変化させて駆動することもむ
ろん可能である。図において,横軸はヘツド位置,縦軸
はコイル電流を表わす。第9図にて説明したように切換
信号S1,S2が共にHの場合トラツクアドレスは0であり
ヘツド位置はトラツク中心である(第10図のQ0点)。切
換信号はこの状態に保持したままコイル電流を変化させ
ると,両コイルで発生する力のバランスがくずれてロー
タ(39)は位置ずれを起こす。すなわちヘツド(2)が
変位を生じるわけである。トラツク0上ではコイル電流
IL1を減少させ,IL2を増加させるとフオワード方向への
変位を生じ,逆にIL1を増加,IL2を減少させるとリバー
ス方向への変位を生じる。従つて,第6図にて説明した
フオワードパルスが発生した場合,これによりROMアド
レスを更新してROM−1ではデータ減少,ROM−2ではデ
ータ増加とすればヘツド(2)はフオワード方向へ移動
して位置誤差を補正するように動作する。
良好な実施例の動作について第11図を参照して説明す
る。第11図では偶数トラツク上に位置決めを行う場合で
かつ目的トラツクの中心自体が蛇行している場合につい
て説明する。すなわち縦軸を半径方向とすればトラツク
中心を示す軌跡は正弦波状に変動する。疎アクセスが終
了して,図に示す位置にヘツド(2)が位置決めされた
とする。図においてヘツド位置とトラツク中心位置の差
が誤差であり,図の初期状態でヘツド位置の方がトラツ
ク中心よりも外周側にあるので誤差検出器(15)からは
フオワードパルスが発せられてカウンタ(25)に入力さ
れアドレスを更新する。疎アクセスの終了時点でカウン
タ(25)はプリセツト信号により初期アドレスにセツト
されているので,上記フオワードパルスによりROM−1,R
OM−2へのアクセスアドレスは1番地だけ更新される。
いまカウンタ(25)を8ビツトとし,初期アドレスを80
(HEX)とした場合のROM−1,ROM−2のデータ例(アド
レス80(HEX)付近のみ)を第12図に示す。8ビツトの
場合には80(HEX)が中心点であり,このアドレスを起
点としてカウントアツプ,ダウンを行う。第11図に戻る
と,フオワードパルスが1個入つてカウンタアドレスが
81(HEX)に更新されると,ROM−1の出力データは減,RO
M−2の出力データは増となる。すなわちIL1は減少,IL2
は増加するのでヘツド位置はこの電流変化に見合つた分
だけ内周側へ移動する。次のセクタパルスが入つた時点
でヘツド(2)がまだトラツク中心より外側にあれば上
記の動作をくり返しカウンタアドレスは82(HEX)とな
つてさらに内周側へヘツドが移動する。この動作はヘツ
ド(2)がトラツク中心を横切るまで続けられる。ヘツ
ドがトラツク中心を横切つた後はポジシヨン信号がLか
らHとなるのでその後のセクタパルスが入ると今度はリ
バースパルスが発生しカウンタアドレスを減少させる。
すなわち,IL1が増加してIL2が減少するためのヘツド
(2)は今までとは逆に外周側へ移動する。以下,この
動作のくり返しによりヘツド(2)はわずかな誤差でト
ラツク中心上を追従することができる。なお,この実施
例においては,ROM−1,ROM−2の具体例として1アドレ
スごとに1ビツトずつのデータ変化をする場合について
説明したが,本文の説明の経過においても明らかなよう
にこのデータは任意に設定できるものであることはいう
までもない。また初期アドレスについても上記80(HE
X)ばかりでなく,任意に設定することが可能である。
る。第11図では偶数トラツク上に位置決めを行う場合で
かつ目的トラツクの中心自体が蛇行している場合につい
て説明する。すなわち縦軸を半径方向とすればトラツク
中心を示す軌跡は正弦波状に変動する。疎アクセスが終
了して,図に示す位置にヘツド(2)が位置決めされた
とする。図においてヘツド位置とトラツク中心位置の差
が誤差であり,図の初期状態でヘツド位置の方がトラツ
ク中心よりも外周側にあるので誤差検出器(15)からは
フオワードパルスが発せられてカウンタ(25)に入力さ
れアドレスを更新する。疎アクセスの終了時点でカウン
タ(25)はプリセツト信号により初期アドレスにセツト
されているので,上記フオワードパルスによりROM−1,R
OM−2へのアクセスアドレスは1番地だけ更新される。
いまカウンタ(25)を8ビツトとし,初期アドレスを80
(HEX)とした場合のROM−1,ROM−2のデータ例(アド
レス80(HEX)付近のみ)を第12図に示す。8ビツトの
場合には80(HEX)が中心点であり,このアドレスを起
点としてカウントアツプ,ダウンを行う。第11図に戻る
と,フオワードパルスが1個入つてカウンタアドレスが
81(HEX)に更新されると,ROM−1の出力データは減,RO
M−2の出力データは増となる。すなわちIL1は減少,IL2
は増加するのでヘツド位置はこの電流変化に見合つた分
だけ内周側へ移動する。次のセクタパルスが入つた時点
でヘツド(2)がまだトラツク中心より外側にあれば上
記の動作をくり返しカウンタアドレスは82(HEX)とな
つてさらに内周側へヘツドが移動する。この動作はヘツ
ド(2)がトラツク中心を横切るまで続けられる。ヘツ
ドがトラツク中心を横切つた後はポジシヨン信号がLか
らHとなるのでその後のセクタパルスが入ると今度はリ
バースパルスが発生しカウンタアドレスを減少させる。
すなわち,IL1が増加してIL2が減少するためのヘツド
(2)は今までとは逆に外周側へ移動する。以下,この
動作のくり返しによりヘツド(2)はわずかな誤差でト
ラツク中心上を追従することができる。なお,この実施
例においては,ROM−1,ROM−2の具体例として1アドレ
スごとに1ビツトずつのデータ変化をする場合について
説明したが,本文の説明の経過においても明らかなよう
にこのデータは任意に設定できるものであることはいう
までもない。また初期アドレスについても上記80(HE
X)ばかりでなく,任意に設定することが可能である。
奇数トラツク上に位置決めする場合には第10図にても
わかる通りフオワードパルスの入力とともにIL1を増加
(第10図のトラツク1では負方向へ減少となるが絶対値
は増加する)し,IL2を減少させる必要があり,上記にて
説明したROMをそのまま用いることはできない。従つ
て,第7図に示すようにトラツク信号をROM−1,ROM−2
へ入力してデータの制御を行う。即ち,カウンタ(25)
からのアドレス入力は同じであつてもトラツク信号(TR
KO)のH,LによつてROMアドレスが異なるものとする。い
い変えればTRKOをROMアドレス8ビツトのさらに上位の
ビツトとして作用させることにより異なるデータを取り
出すことができる。以上のことから偶数トラツクと奇数
トラツクではカウンタ(25)からのアドレス入力に1ビ
ツト付加することになる。前述の例では,カウンタアド
レス80(HEX)に対して偶数トラツクでは080(HEX),
奇数トラツクでは180(HEX)のROMアドレスデータを取
り出すことになる。なお,この説明では,トラツクの偶
奇によりデータを変化させる場合につき1ビツト付加を
する説明をしたが,さらにビツト数を増すことにより,
より細かなデータ変化をさせることができる。
わかる通りフオワードパルスの入力とともにIL1を増加
(第10図のトラツク1では負方向へ減少となるが絶対値
は増加する)し,IL2を減少させる必要があり,上記にて
説明したROMをそのまま用いることはできない。従つ
て,第7図に示すようにトラツク信号をROM−1,ROM−2
へ入力してデータの制御を行う。即ち,カウンタ(25)
からのアドレス入力は同じであつてもトラツク信号(TR
KO)のH,LによつてROMアドレスが異なるものとする。い
い変えればTRKOをROMアドレス8ビツトのさらに上位の
ビツトとして作用させることにより異なるデータを取り
出すことができる。以上のことから偶数トラツクと奇数
トラツクではカウンタ(25)からのアドレス入力に1ビ
ツト付加することになる。前述の例では,カウンタアド
レス80(HEX)に対して偶数トラツクでは080(HEX),
奇数トラツクでは180(HEX)のROMアドレスデータを取
り出すことになる。なお,この説明では,トラツクの偶
奇によりデータを変化させる場合につき1ビツト付加を
する説明をしたが,さらにビツト数を増すことにより,
より細かなデータ変化をさせることができる。
次に,この発明の他の実施例について第13図を参照し
て説明する。第13図は,第7図に示した補正回路(16)
の詳細な構成図とほぼ同様の回路であるが,第1出力回
路(31),第2出力回路(32)のそれぞれに入力端を付
加し,出力1制御信号,出力2制御信号を接続した点が
異なつている。すなわち,DAC−1およびDAC−2からの
信号に従つて駆動信号を発生するのみならず,上記2個
の制御信号によつても駆動信号を制御できるようにした
ものである。この制御信号は通常制御ロジツク(19)か
ら送られて来るものであり,ステツパ(4)の特性変化
や,動作特性を変更するなどの要求に応じて発生条件を
迸定することができる。
て説明する。第13図は,第7図に示した補正回路(16)
の詳細な構成図とほぼ同様の回路であるが,第1出力回
路(31),第2出力回路(32)のそれぞれに入力端を付
加し,出力1制御信号,出力2制御信号を接続した点が
異なつている。すなわち,DAC−1およびDAC−2からの
信号に従つて駆動信号を発生するのみならず,上記2個
の制御信号によつても駆動信号を制御できるようにした
ものである。この制御信号は通常制御ロジツク(19)か
ら送られて来るものであり,ステツパ(4)の特性変化
や,動作特性を変更するなどの要求に応じて発生条件を
迸定することができる。
第14図に動作例を示す。この例では2個の制御信号は
いずれもセクタパルスに同期しており,この期間だけ駆
動電流IL1,IL2を増大又は減少させるように動作する。
図の例では,ROM出力にて定まる電圧値が増加していく時
には増大,減少していく時には減少となるように電圧加
算を行う。すなわち,より高速な動作をさせたい場合
や,機械系のまさつが大きくてより大きな駆動力を必要
とする場合に有効である。なお,上記動作例では電流を
一方で増加,他方で減少となるように制御しているが,
これは両者ともに増加させることも,また両者ともに減
少させることも可能である。さらに,上記2つの出力制
御信号はセクタパルスとは独立して加えることもでき
る。第15図は一定の周期で印加される場合を示してい
る。この場合,第1,第2駆動信号はいずれもDACで規定
される出力電圧にパルス電圧が重畳された形になる。こ
のような駆動方法は,機械系のまさつやバツクラツシユ
によつて位置決め性能が劣化するのを防止する効果があ
る。この効果をさらに高めるために,切換信号S1,S2を
連動させることが有効である。この動作例を第16図に示
した。駆動信号への操作では,その大きさは変化しても
コイルに流れる電流の向きは変化しない。本例では,制
御信号入力と同時に切換信号の一方を反転させ,これに
よつてコイルに流れる電流の向きを反転するものであ
る。こうすると,ステツパ(4)は一瞬疎送り制御動作
の状態に入つて大きく加速される。その後ただちにROM
出力にて定まる電流値に戻して安定状態を保つ。これに
より,より高速な精送り制御が可能となる。
いずれもセクタパルスに同期しており,この期間だけ駆
動電流IL1,IL2を増大又は減少させるように動作する。
図の例では,ROM出力にて定まる電圧値が増加していく時
には増大,減少していく時には減少となるように電圧加
算を行う。すなわち,より高速な動作をさせたい場合
や,機械系のまさつが大きくてより大きな駆動力を必要
とする場合に有効である。なお,上記動作例では電流を
一方で増加,他方で減少となるように制御しているが,
これは両者ともに増加させることも,また両者ともに減
少させることも可能である。さらに,上記2つの出力制
御信号はセクタパルスとは独立して加えることもでき
る。第15図は一定の周期で印加される場合を示してい
る。この場合,第1,第2駆動信号はいずれもDACで規定
される出力電圧にパルス電圧が重畳された形になる。こ
のような駆動方法は,機械系のまさつやバツクラツシユ
によつて位置決め性能が劣化するのを防止する効果があ
る。この効果をさらに高めるために,切換信号S1,S2を
連動させることが有効である。この動作例を第16図に示
した。駆動信号への操作では,その大きさは変化しても
コイルに流れる電流の向きは変化しない。本例では,制
御信号入力と同時に切換信号の一方を反転させ,これに
よつてコイルに流れる電流の向きを反転するものであ
る。こうすると,ステツパ(4)は一瞬疎送り制御動作
の状態に入つて大きく加速される。その後ただちにROM
出力にて定まる電流値に戻して安定状態を保つ。これに
より,より高速な精送り制御が可能となる。
つづいて,この発明の更に他の実施例について第17図
を参照して説明する。第17図は,第15図に示した誤差検
出器(15)の詳細な構成図にさらにレベル検出回路(4
2)を付加したものである。このレベル検出回路(42)
は減算回路(22)により得られる位置誤差信号EXの電圧
レベルを検出し,所定の値を越えた場合その極性に応じ
てオーバーフオワード信号またはオーバーリバース信号
を発生するものである。ここで得られたオーバー信号は
制御ロジツク(19)にて処理され,例えば前述のように
出力制御信号として用いられる。このように,位置誤差
信号のレベルを検出する機能を付加することにより,よ
り一層きめ細かな制御を実行することができる。
を参照して説明する。第17図は,第15図に示した誤差検
出器(15)の詳細な構成図にさらにレベル検出回路(4
2)を付加したものである。このレベル検出回路(42)
は減算回路(22)により得られる位置誤差信号EXの電圧
レベルを検出し,所定の値を越えた場合その極性に応じ
てオーバーフオワード信号またはオーバーリバース信号
を発生するものである。ここで得られたオーバー信号は
制御ロジツク(19)にて処理され,例えば前述のように
出力制御信号として用いられる。このように,位置誤差
信号のレベルを検出する機能を付加することにより,よ
り一層きめ細かな制御を実行することができる。
以上のように,この発明によれば1個のステツパによ
り疎送りと精送りを実行するようにしたので小形化が可
能となり,ROMとDACを用いて補正のための制御−駆動を
行うようにしたので回路構成が簡単でかつ高度な制御系
を実現できるようになり,総合的に安価で高精度な位置
決め制御系を有する磁気デイスク装置を実現できる。
り疎送りと精送りを実行するようにしたので小形化が可
能となり,ROMとDACを用いて補正のための制御−駆動を
行うようにしたので回路構成が簡単でかつ高度な制御系
を実現できるようになり,総合的に安価で高精度な位置
決め制御系を有する磁気デイスク装置を実現できる。
第1図は,この発明の一実施例の装置構成ブロツク図,
第2図は,デイスク上に記録されたサーボ情報の配置を
示す概念図,第3図は,ヘツド位置の変化に対応したサ
ーボ信号の変化の様子を説明する図,第4図は,ヘツド
変位に対応した位置誤差信号出力の説明図,第5図はこ
の発明の一実施例における誤差検出器の詳細構成図,第
6図は,誤差検出器の動作説明図,第7図は,この発明
の一実施例における補正回路の詳細構成図,第8図は,
同じく駆動回路とステツパの詳細構成図,第9図はステ
ツパの動作説明図,第10図はステツパの変位と電流の関
係を示す説明図,第11図は一実施例における位置誤差補
正動作の説明図,第12図は一実施例におけるROMデータ
の例を示す図,第13図は別の実施例における補正回路の
詳細説明図,第14図はその動作説明図,第15図は違う条
件での動作説明図,第16図はまた別の実施例における誤
差検出器の詳細構成図,第17図は従来の磁気デイスク装
置における位置決め制御系の構成ブロツク図,第18図は
従来の装置におけるサーボ情報の概念図,第19図は従来
の装置におけるサーボ信号の説明図,第20図は第19図の
サーボ信号のピーク電圧状態変化図である。 図において,(1)はデイスク,(2)はヘツド,
(4)はステツパ,(12)は増幅器,(14)は駆動回
路,(15)は誤差検出器,(16)は補正回路,(17)は
制御ロジツク,(18)はトラツク識別回路,(20),
(21)はピークホールド回路,(22)は減算回路,(2
3)はゼロクロス回路,(24)は補正パルス発生回路,
(23)はカウンタ,(26)は初期値設定回路,(27),
(28)は読出し専用メモリ,(29),(30)はデジタル
−アナログ変換器,(31),(32)は出力回路,(42)
はレベル検出回路である。 なお,図中同一符号は同一または相当部分を示す。
第2図は,デイスク上に記録されたサーボ情報の配置を
示す概念図,第3図は,ヘツド位置の変化に対応したサ
ーボ信号の変化の様子を説明する図,第4図は,ヘツド
変位に対応した位置誤差信号出力の説明図,第5図はこ
の発明の一実施例における誤差検出器の詳細構成図,第
6図は,誤差検出器の動作説明図,第7図は,この発明
の一実施例における補正回路の詳細構成図,第8図は,
同じく駆動回路とステツパの詳細構成図,第9図はステ
ツパの動作説明図,第10図はステツパの変位と電流の関
係を示す説明図,第11図は一実施例における位置誤差補
正動作の説明図,第12図は一実施例におけるROMデータ
の例を示す図,第13図は別の実施例における補正回路の
詳細説明図,第14図はその動作説明図,第15図は違う条
件での動作説明図,第16図はまた別の実施例における誤
差検出器の詳細構成図,第17図は従来の磁気デイスク装
置における位置決め制御系の構成ブロツク図,第18図は
従来の装置におけるサーボ情報の概念図,第19図は従来
の装置におけるサーボ信号の説明図,第20図は第19図の
サーボ信号のピーク電圧状態変化図である。 図において,(1)はデイスク,(2)はヘツド,
(4)はステツパ,(12)は増幅器,(14)は駆動回
路,(15)は誤差検出器,(16)は補正回路,(17)は
制御ロジツク,(18)はトラツク識別回路,(20),
(21)はピークホールド回路,(22)は減算回路,(2
3)はゼロクロス回路,(24)は補正パルス発生回路,
(23)はカウンタ,(26)は初期値設定回路,(27),
(28)は読出し専用メモリ,(29),(30)はデジタル
−アナログ変換器,(31),(32)は出力回路,(42)
はレベル検出回路である。 なお,図中同一符号は同一または相当部分を示す。
フロントページの続き (72)発明者 佐藤 正 神奈川県鎌倉市大船5丁目1番1号 三菱 電機株式会社情報電子研究所内 (56)参考文献 特開 昭57−212665(JP,A) 特開 昭57−92470(JP,A) 特開 昭57−105870(JP,A) 特開 昭59−195343(JP,A) 特開 昭60−20321(JP,A)
Claims (7)
- 【請求項1】ディスク面上のデータトラックの各セクタ
毎に配置したトラック識別情報を含んだサーボ情報と、
外部コントローラとの間で信号の授受を行う制御ロジッ
クからの信号によりヘッドの位置決めをステッパにより
行う磁気ディスクにおいて、ヘッドの疎送りは上記制御
ロジックからの信号で駆動回路が上記ステッパ動作さ
せ、ヘッドの精送りはヘッドにて読み出したこのサーボ
情報信号からトラックの種別認識し、上記制御ロジック
に入力するトラック識別回路と、同じくヘッドにて読み
出した奇数および偶数サーボトラックの情報信号ピーク
値を減算し、この減算値とゼロ電位と比較して生成され
たパルスと、上記制御ロジックからの当該トラックの種
別を指定する信号と、各セクタ毎に上記制御ロジックが
発生するセクタパルスとの3者を入力として前進又は後
進方向への移動パルスを発生する誤差検出器と、この誤
差検出器からの移動パルスに応じてこれをカウントアッ
プ又はダウンするカウンタからの出力信号と、制御ロジ
ックからから与えられ当該トラックの種別を指定する信
号とを入力信号として、2個のメモリ記憶させ、このそ
れぞれのメモリ出力をアナログ値に変換し、それぞれ第
1駆動信号および第2駆動信号として上記駆動回路に出
力する補正回路と、上記制御ロジックが当該トラック種
別を指定する信号により上記誤差検出器、補正回路、駆
動回路のそれぞれに制御信号を与え、上記ステッパ動作
させて行なうことを特徴とする磁気ディスク装置。 - 【請求項2】上記駆動回路は、上記補正回路の第1駆動
信号を電流量に変換する第1電圧−電流変換器と、第2
駆動信号を電流量に変換する第2電圧−電流変換器と、
第1電圧−電流変換器への電流流入端子を切替え、上記
ステッパへの電流方向を切替える第1のスイッチ回路
と、第2電圧−電流変換器への電流流入端子を切換え、
上記ステッパへの電流方向を切替える第2のスイッチ回
路とを備えたことを特徴とする特許請求の範囲第1項記
載の磁気ディスク装置。 - 【請求項3】上記補正回路は、上記制御ロジックから出
力する上記ステッパの動作特性変更用出力1制御信号
と、上記一方のメモリ出力をアナログ値に変換した信号
の両者で第1駆動信号を生成し、同じく制御ロジックか
ら与えられるステッパの動作特性変更用出力2制御信号
と、上記他方のメモリ出力をアナログ値に変換した信号
の両者で第2駆動信号を生成するようにしたことを特徴
とする特許請求の範囲第1項記載の磁気ディスク装置。 - 【請求項4】上記補正回路は、上記出力1制御信号と出
力2制御信号はどちらか一方または両方がセクタパルス
に同期して与えられることを特徴とする特許請求の範囲
第3項記載の磁気ディスク装置。 - 【請求項5】上記補正回路は、上記出力1制御信号と出
力2制御信号はどちらか一方または両方がセクタパルス
間隔よりも短い周期信号で与えられることを特徴とする
特許請求の範囲第3項記載の磁気ディスク装置。 - 【請求項6】上記補正回路は、上記第1のスイッチ回路
の制御を行う切換信号S1と、上記第2のスイッツチ回路
の制御を行う切換信号S2とを上記出力制御信号に同期し
て与えることを特徴とする特許請求の範囲第2項または
第3項記載の磁気ディスク装置。 - 【請求項7】上記誤差検出器は、上記ヘッドにて読み出
した奇数および偶数サーボトラックの情報信号ピーク値
を減算した出力信号を所定電位と比較しパルス化を行う
レベル検出回路を付加し、このレベル検出回路のパルス
を上記駆動回路に出力すると共に、このパルス当たりの
上記ステッパの移動量を上記ゼロ電位と比較して生成さ
れたパルスより大としたことを特徴とする特許請求の範
囲第1項記載の磁気ディスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60268560A JPH0814949B2 (ja) | 1985-11-29 | 1985-11-29 | 磁気デイスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60268560A JPH0814949B2 (ja) | 1985-11-29 | 1985-11-29 | 磁気デイスク装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62128078A JPS62128078A (ja) | 1987-06-10 |
| JPH0814949B2 true JPH0814949B2 (ja) | 1996-02-14 |
Family
ID=17460223
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60268560A Expired - Lifetime JPH0814949B2 (ja) | 1985-11-29 | 1985-11-29 | 磁気デイスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0814949B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2537838B2 (ja) * | 1987-02-12 | 1996-09-25 | 松下電器産業株式会社 | 磁気記録装置 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5792470A (en) * | 1980-11-29 | 1982-06-09 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Magnetic disk device |
| JPS57105870A (en) * | 1980-12-19 | 1982-07-01 | Fujitsu Ltd | Detecting system for head position signal |
| JPS57212665A (en) * | 1981-06-24 | 1982-12-27 | Fujitsu Ltd | Head positioning system of magnetic device |
| JPS59195343A (ja) * | 1983-04-21 | 1984-11-06 | Olympus Optical Co Ltd | トラツク横切信号検出装置 |
| JPS6020321A (ja) * | 1983-07-13 | 1985-02-01 | Fujitsu Ltd | 横断トラツクカウント装置 |
-
1985
- 1985-11-29 JP JP60268560A patent/JPH0814949B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62128078A (ja) | 1987-06-10 |
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