JPH08160006A

JPH08160006A - 鋼板の欠陥検出方法

Info

Publication number: JPH08160006A
Application number: JP6297089A
Authority: JP
Inventors: Toshibumi Kodama; 俊文児玉; Hajime Takada; 一高田; Fumihiko Ichikawa; 文彦市川
Original assignee: Kawasaki Steel Corp
Current assignee: JFE Steel Corp
Priority date: 1994-11-30
Filing date: 1994-11-30
Publication date: 1996-06-21

Abstract

(57)【要約】【目的】ロールマーク等の表面欠陥と、介在物欠陥と
を弁別して検出できる鋼板の欠陥検出方法を提供する。【構成】走行中の鋼板101 から生じる漏洩磁束を磁気
センサ11₁〜11_nで検出し、その出力信号に基づいて鋼
板101 の欠陥を検出するにあたり、走行方向に予め設定
した基準長さＬ内で、鋼板101 の幅方向の同一位置での
欠陥の検出個数を計数し、その計数値Ｎが、予め設定し
た順次の表面欠陥の間隔をｒ、許容値をΔＮ（但し、Δ
Ｎは０以上の整数）とするとき、｜Ｎ−Ｌ／ｒ｜≦ΔＮを満足するときは、前記検出した欠陥を周期性の表面欠
陥と判別し、｜Ｎ−Ｌ／ｒ｜＞ΔＮを満足するときは、該欠陥を介在物欠陥と判別して検出
する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、鋼板の表面疵や非金
属介在物等の欠陥を、通板状態のオンラインで自動的に
検出する鋼板の欠陥検出方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】鋼板の非破壊検査法の一つとして知られ
ている漏洩磁束探傷試験は、「非破壊検査ハンドブッ
ク」（日本非破壊検査協会編、日刊工業新聞社発行）第
５１７〜５３４頁にも記載されているように、金属材料
中のブローホール等の表面欠陥や非金属介在物を探傷す
る有力な手法の一つであり、例えば、特開昭５７−１０
８６５６号公報に開示されているように、薄鋼板の製造
時のオンライン探傷にも用いられている。

【０００３】図８は、従来広く用いられている薄鋼板の
欠陥検出装置の回路構成を示すものである。この従来の
欠陥検出装置では、移動する薄鋼板（図示せず）を磁化
する位置に、薄鋼板と対向してその幅方向に多数（数１
００〜１０００程度）の磁気センサ８１₁，８１₂，・
・・，８１_nを配置し、その各々（チャンネル）の磁気
センサにより薄鋼板の漏洩磁束を検出して、その各磁気
センサの出力すなわちチャンネル出力を、対応する増幅
器８２₁，８２₂，・・・，８２_nで増幅した後、バン
ドパスフィルタ（ＢＰＦ）８３₁，８３₂，・・・，８
３_nに供給して欠陥部信号の周波数帯域以外のノイズ成
分を除去している。

【０００４】バンドパスフィルタ８３₁，８３₂，・・
・，８３_nは、通常、コンデンサや抵抗器およびインダ
クタ、さらに演算増幅器を組み合わせたアナログ回路で
構成され、これらバンドパスフィルタ８３₁，８３₂，
・・・，８３_nの出力は、必要に応じて対応する整流回
路８４₁，８４₂，・・・，８４_nで正符号のみの信号
に変換して演算回路８５に供給し、ここで各チャンネル
の出力を予め決められたブロック毎に集合（この処理
は、後段でのチャンネル数を間引くためで、必ずしも必
要ではない）して閾値回路８６に供給し、該閾値回路８
６において、演算回路８５の出力と、予め設定した閾値
とを比較して、演算回路８５の出力が閾値を越えたとき
に、欠陥検出信号を出力して警報を発するようにしてい
る。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の欠陥検出装置においては、鋼板がロールマーク
等の表面欠陥を有する場合でも、それらを全て介在物欠
陥として検出してしまうため、製品の歩留りを大幅に低
下させてしまうという問題があると共に、介在物発生状
況から製造工程に遡って対策を採る際に、誤った対策が
講じられ、これがため操業の安定性が阻害されるおそれ
がある。

【０００６】この発明の目的は、上述した従来の問題点
を解消し、ロールマーク等の表面欠陥と、介在物欠陥と
を弁別して検出できる鋼板の欠陥検出方法を提供しよう
とするものである。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明では、走行中の鋼板から生じる漏洩磁束を磁
気センサで検出し、その出力信号に基づいて鋼板の欠陥
を検出するにあたり、走行方向に予め設定した基準長さ
Ｌ内で、前記鋼板の幅方向の同一位置での欠陥の検出個
数を計数し、その計数値Ｎが、予め設定した順次の表面
欠陥の間隔をｒとするとき、Ｎ＝Ｌ／ｒのときは、前記
検出した欠陥を周期性の表面欠陥と判別し、Ｎ≠Ｌ／ｒ
のときは、該欠陥を介在物欠陥と判別して検出すること
を特徴とするものである。

【０００８】即ち、本発明は、走行中の鋼板から生じる
漏洩磁束を磁気センサで検出し、その出力信号に基づい
て鋼板の欠陥を検出するにあたり、走行方向に予め設定
した基準長さＬ内で、前記鋼板の幅方向の同一位置での
欠陥の検出個数を計数し、その計数値Ｎが、予め設定し
た順次の表面欠陥の間隔をｒ、許容値をΔＮ（但し、Δ
Ｎは０以上の整数）とするとき、｜Ｎ−Ｌ／ｒ｜≦ΔＮを満足するときは、前記検出した欠陥を周期性の表面欠
陥と判別し、｜Ｎ−Ｌ／ｒ｜＞ΔＮを満足するときは、該欠陥を介在物欠陥と判別して検出
することを特徴とするものである。

【０００９】さらに、本発明は、走行中の鋼板から生じ
る漏洩磁束を磁気センサで検出し、その出力信号に基づ
いて鋼板の欠陥を検出するにあたり、走行方向に予め設
定した基準長さ毎に、前記鋼板の幅方向の同一位置での
欠陥の検出個数を計数し、その順次の基準長さにおける
計数値が、零と異なる同一値の場合は、前記検出した欠
陥を周期性の表面欠陥と判別し、異なる場合は、該欠陥
を介在物欠陥と判別して検出することを特徴とするもの
である。

【００１０】

【作用】鋼板にロールマークが発生する場合には、鋼板
の同一幅位置に、ロール周長に相当する距離を隔てて多
数の表面欠陥が等間隔に並ぶことになるが、介在物欠陥
の場合には、ロールマークのように周期的に発生するこ
とは殆どない。したがって、鋼板の同じ幅位置で検出さ
れる欠陥検出信号の周期性を調べれば、検出した欠陥が
ロールマークか否かを判別することが可能となる。

【００１１】ここで、ロールマークを発生させるロール
は、その製造工程を追跡すれば概ね特定でき、そのロー
ルから発生する順次の表面欠陥の間隔ｒを予め設定する
ことができる。したがって、第１の発明におけるよう
に、走行方向に予め設定した基準長さＬ内で、鋼板の幅
方向の同一位置での欠陥の検出個数を計数し、その計数
値Ｎと、基準長さＬ内で想定される予め設定した表面欠
陥の平均発生個数Ｌ／ｒとを比較すれば、検出した欠陥
がロールマークか否かを判別して検出することが可能と
なる。

【００１２】また、第２の発明におけるように、走行方
向に予め設定した基準長さＬ内で、鋼板の幅方向の同一
位置での欠陥の検出個数を計数し、その計数値Ｎと、基
準長さＬ内で想定される予め設定した表面欠陥の平均発
生個数Ｌ／ｒとの差の絶対値を求め、その差の絶対値と
予め設定した許容値ΔＮ（但し、ΔＮは自然数）とを比
較すれば、検出した欠陥がロールマークか否かを判別し
て検出することが可能となる。

【００１３】さらに、第３の発明におけるように、走行
方向に予め設定した基準長さ毎に、幅方向の同一位置で
の欠陥の検出個数を計数し、その順次の基準長さにおけ
る計数値を比較すれば、検出した欠陥がロールマークか
否かを判別して検出することが可能となる。

【００１４】

【実施例】以下、図面を参照して、この発明の実施例に
ついて説明する。図１は、この発明を実施する鋼板の欠
陥検出装置の一例の構成を示すものである。この実施例
は、ライン上を走行する鋼板１０１の表面欠陥や非金属
介在物等の欠陥を、通板状態のオンラインで自動的に検
出するものである。鋼板１０１の走行ラインの所定の位
置には、鋼板１０１と対向して磁化装置１００を配置す
ると共に、この磁化装置１００と鋼板１０１を介して対
向して多数の磁気センサ１１₁，１１₂，・・・，１１
_nを配置する。

【００１５】磁化装置１００は、鋼板１０１を磁化する
ようにその幅方向に配置する。この磁化装置１００は、
少なくとも磁気センサ１１₁，１１₂，・・・，１１_n
を配置する検出部分において鋼板１０１を磁化し得るよ
うに、例えば電磁石や、他の公知の磁化手段をもって構
成する。また、磁気センサ１１₁，１１₂，・・・，１
１_nは、鋼板１０１の漏洩磁束を検出し得るように、鋼
板１０１の幅方向に配置する。これら磁気センサ１
１₁，１１₂，・・・，１１_nは、磁気ダイオード、磁
気抵抗素子、ホール素子、磁気飽和型センサ、微小コイ
ル等の任意のものをもって構成する。なお、各磁気セン
サは、鋼板１０１の幅方向寸法にもよるが、微小な欠陥
が鋼板１０１の幅方向のどの部位にあっても、漏れなく
探傷し得るように、好適には、数ｍｍ程度の大きさのも
のを用いて、鋼板１０１の幅方向に多数並べて配置す
る。

【００１６】磁気センサ１１₁，１１₂，・・・，１１
_nの各出力信号（チャンネル出力）は、対応する増幅器
１２₁，１２₂，・・・，１２_nで適切な電圧範囲に増
幅して信号処理回路１３₁，１３₂，・・・，１３_nに
供給し、ここで欠陥部信号の周波数帯域以外のノイズ成
分を除去した後、演算回路１４₁，１４₂，・・・，１
４_nに供給して欠陥信号を検出する。これら演算回路１
４₁，１４₂，・・・，１４_nの各出力は、対応する欠
陥性状判別回路１５₁，１５₂，・・・，１５ _nに供給
し、ここでパルス発生装置１０４からの鋼板１０１の走
行速度に比例したパルスに同期して、検出した欠陥信号
の性状を判別し、その結果を表示装置１０３に表示す
る。

【００１７】増幅器１２₁，１２₂，・・・，１２
_nは、使用する磁気センサの磁気−電気変換特性に合わ
せた、例えばブリッジ回路や演算増幅器等で構成する。
また、信号処理回路１３₁，１３₂，・・・，１３
_nは、一般には、帯域通過フィルタと整流回路とを組み
合わせて構成するが、抵抗およびコンデンサを用いる簡
単なものや、反転増幅回路を用いるものでも良く、ある
いは省略することもできる。さらに、パルス発生装置１
０４は、例えば、鋼板１０１に接触して回転するロータ
リーエンコーダを用いて構成することができるが、鋼板
１０１の走行速度が一定であれば、市販のパルス発生器
を単独で用いることもできる。

【００１８】図２は、図１に示す欠陥性状判別回路１５
₁の一例の構成を示すものである。なお、他の欠陥性状
判別回路１５₂〜１５_nも、図２と同様に構成する。こ
の欠陥性状判別回路１５₁は、演算回路１４₁からの欠
陥信号Ｖを入力し、その欠陥信号Ｖが予め設定した閾値
を越えたときにパルスを発生する閾値回路２２と、パル
ス発生回路１０４からのパルスを計数するカウンタ２３
と、閾値回路２２から発生するパルスを計数するカウン
タ２４と、基準長さＬ内で間隔ｒをもって順次発生する
表面欠陥の平均発生個数Ｎ₀＝Ｌ／ｒを予め設定する設
定回路２５と、カウンタ２４の計数値Ｎおよび設定回路
２５の設定値Ｎ₀を比較する比較回路２６とを具える。

【００１９】閾値回路２２の出力パルスは、カウンタ２
３および２４にそれぞれ供給する。カウンタ２３は、こ
の閾値回路２２からのパルスをトリガ信号としてパルス
発生装置１０４からのパルスを計数すると共に、これら
閾値回路２２からのパルスおよびパルス発生装置１０４
からのパルスの計数値Ｍに基づいてカウンタ２４および
比較回路２６のゲートをそれぞれ制御する。すなわち、
閾値回路２２からパルスが入力した時点で、カウンタ２
４および比較回路２６のゲートを開とし、カウンタ２４
において閾値回路２２からのパルスを計数させる。ま
た、カウンタ２３でのパルスの計数値Ｍが、予め設定し
た鋼板１０１の基準長さＬに相当するパルス数Ｍ_Lを越
えた時点で、カウンタ２４および比較回路２６のゲート
を閉として、カウンタ２４での計数値Ｎと、設定回路２
５からの設定値Ｎ₀とを比較回路２６において比較し、
その比較結果を表示装置１０３に供給して表示させると
共に、カウンタ２３をリセットして同様の動作を繰り返
すようにする。なお、これら閾値回路２２、カウンタ２
３，２４、比較回路２６および設定回路２５は、市販の
演算素子を使用することができる。

【００２０】以下、この実施例の動作を、図３に示すフ
ローチャートを参照しながら説明する。この実施例にお
いて、走行ラインに沿って移動する鋼板１０１は、上述
したように、所定の位置で磁化装置１００により磁化さ
れ、これにより鋼板１０１の欠陥部から発生する漏洩磁
束が、磁気センサ１１₁，１１₂，・・・，１１_nで検
出される。これら磁気センサ１１₁，１１₂，・・・，
１１_nの各チャンネル出力は、増幅器１２₁，１２₂，
・・・，１２_nで増幅された後、信号処理回路１３₁，
１３₂，・・・，１３_nでノイズ成分が除去されて、演
算回路１４₁，１４₂，・・・，１４_nを経て欠陥性状
判別回路１５₁，１５₂，・・・，１５_nに供給され
る。

【００２１】欠陥性状判別回路１５₁，１５₂，・・
・，１５_nでは、対応する演算回路１４₁，１４₂，・
・・，１４_nからの欠陥信号Ｖが、閾値回路２２での閾
値を越えると、カウンタ２３においてパルス発生装置１
０４からのパルスの計数が開始されると共に、カウンタ
２４において閾値回路２２からのパルスの計数が開始さ
れる。なお、図３には、カウンタ２３での計数動作は省
略してある。ここで、カウンタ２３での計数値Ｍが、予
め設定した鋼板１０１の基準長さＬに相当するパルス数
Ｍ_Lを越えると、その時点でカウンタ２４での計数値Ｎ
と、設定回路２５からの設定値Ｎ₀とが比較回路２６に
おいて比較され、Ｎ＝Ｎ₀のときは、表面欠陥に相当す
る信号が、また、それ以外のときは、介在物欠陥に相当
する信号が表示装置１０３に供給されて表示される。

【００２２】したがって、この実施例によれば、ロール
マーク等の表面欠陥と、介在物欠陥とを弁別して検出で
きるので、精度の良い探傷を行うことができ、製品の歩
留りを大幅に向上することができる。また、表面欠陥と
介在物欠陥とを弁別して検出できることから、それらの
発生頻度を別個に管理することができるので、操業改善
に効果がある。

【００２３】なお、上記の実施例では、Ｎ＝Ｎ₀のとき
は、表面欠陥として、Ｎ≠Ｎ₀のときは、介在物欠陥と
して判別して検出するようにしたが、この発明の第２実
施例では、上記の第１実施例において、比較回路２６に
｜Ｎ−Ｎ₀｜の許容値ΔＮ（但し、ΔＮは０以上の整
数）を設定し、図３に示すように、｜Ｎ−Ｎ₀｜＜ΔＮ
のときは、表面欠陥とし、それ以外のときは、介在物欠
陥として判別して検出する。

【００２４】このように、｜Ｎ−Ｎ₀｜の許容値ΔＮを
設定すれば、若干の誤検出信号があっても、表面欠陥と
介在物欠陥とを弁別して検出できるので、より精度の高
い探傷を行うことができる。

【００２５】図４は、この発明の第３実施例の要部を示
すものである。この実施例は、演算回路１４₁，１
４₂，・・・，１４_nの出力を、加算器１６₁１６₂，
・・・，１６_n/LにおいてＬチャンネル毎に加算し、そ
れらの加算出力を対応する欠陥性状判別回路１５₁，１
５₂，・・・，１５_n/Lに供給して、表面欠陥と介在物
欠陥とを弁別して検出するようにしたもので、その他の
構成は第１実施例と同様である。このように構成すれ
ば、部品点数を少なくできるので、安価にできる利点が
ある。なお、Ｌチャンネル毎に限らず、全チャンネルの
演算回路の出力を加算し、その出力を一つの欠陥性状判
別回路に供給して、表面欠陥と介在物欠陥とを弁別して
検出するようにすることもできる。

【００２６】図５は、この発明の第４実施例の要部の構
成を示すものである。この実施例は、順次の基準長さＬ
における欠陥の検出個数の比較に基づいて、表面欠陥、
介在物欠陥および欠陥無しを弁別して検出するようにし
たもので、図１に示す第１実施例とは、欠陥性状判別回
路１５₁，１５₂，・・・，１５_nの構成が異なるもの
で、その他の構成は図１と同様である。したがって、図
５には、欠陥性状判別回路１５₁の構成を示すが、他の
欠陥性状判別回路１５₂〜１５_nも、図５と同様に構成
する。

【００２７】この欠陥性状判別回路１５₁は、演算回路
１４₁からの欠陥信号Ｖを入力し、その欠陥信号Ｖが予
め設定した閾値を越えたときにパルスを発生する閾値回
路２２と、鋼板１０１の基準長さＬに相当するパルス発
生回路１０４からのパルス数Ｍ_Lを繰り返し計数するカ
ウンタ２３と、閾値回路２２から発生するパルスを計数
するｐビット（例えば、ｐ＝４）のカウンタ２４と、こ
のカウンタ２４の各ビット出力を入力するそれぞれｑ段
（ｑ≧２）のシフトレジスタ２７₁，２７₂，・・・，
２７_pと、各シフトレジスタのｑ段の出力を比較する比
較回路２８₁，２８₂，・・・，２８_pと、これら比較
回路の出力を入力とするアンドゲート２９と、シフトレ
ジスタ２７₁，２７₂，・・・，２７_pの任意の同一段
の出力を入力とするオアゲート３０と、アンドゲート２
９およびオアゲート３０の出力を入力とする判定回路３
１とを具える。

【００２８】カウンタ２３は、パルス発生回路１０４か
らのパルスの計数を開始するのに同期してカウンタ２４
のゲートを開とし、これによりカウンタ２４において閾
値回路２２から発生するパルスを計数させる。また、カ
ウンタ２３での計数値Ｍが、基準長さＬに相当する予め
設定したパルス数Ｍ_Lを越えた時点で、カウンタ２４の
ゲートを閉にし、その計数値Ｎを表す各ビット出力を、
例えば、最下位ビットをシフトレジスタ２７₁に、最上
位ビットをシフトレジスタ２７_pに対応させて、シフト
レジスタ２７₁，２７₂，・・・，２７_pの初段に記憶
して、過去の計数結果の各ビット出力をそれぞれ次段に
シフトさせる。このようにして、カウンタ２３がパルス
数Ｍ_Lを計数する毎に、すなわち鋼板１０１が予め設定
された基準長さＬを走行する毎に、その基準長さＬ内で
発生した欠陥信号をカウンタ２４で計数して、その順次
の基準長さＬにおける計数値の各ビット出力を、対応す
るシフトレジスタに、すなわち順次の計数値の最下位ビ
ットをシフトレジスタ２７ ₁に、最上位ビットをシフト
レジスタ２７_pに順次シフトして記憶する。

【００２９】シフトレジスタ２７₁，２７₂，・・・，
２７_pの各々において、そのｑ段のビット出力Ｎ₀，Ｎ
₁，・・・，Ｎ_qは、対応する比較回路２８₁，２
８₂，・・・，２８_pで比較して、そのｑ段のビット出
力が全て等しいときは論理「１」を、それ以外は論理
「０」をアンドゲート２９に供給する。また、各シフト
レジスタ２７₁，２７₂，・・・，２７_pの任意の同一
段の出力、図５では初段の出力は、オアゲート３０に供
給する。これらアンドゲート２９およびオアゲート３０
の出力は、判定回路３１に供給し、ここでアンドゲート
２９およびオアゲート３０の出力に基づいて、介在物欠
陥、表面欠陥および欠陥無しを判別する。

【００３０】図６は、判定回路３１の一例の構成を示す
ものである。この判定回路３１は、インバータ３２₁，
３２₂と、アンドゲート３３₁，３３₂とを有する。ア
ンドゲート２９の出力は、インバータ３２₁に供給する
と共に、アンドゲート３３₁，３３₂の一方の入力端子
にそれぞれ供給する。また、オアゲート３０の出力は、
アンドゲート３３₁の他方の入力端子に供給すると共
に、インバータ３２₂を介してアンドゲート３３₂の他
方の入力端子に供給し、これにより、インバータ３２₁
の出力が論理「１」のとき、介在物欠陥と判別し、アン
ドゲート３３₁の出力が論理「１」のとき、表面欠陥と
判別し、アンドゲート３３₂の出力が論理「１」のと
き、欠陥無しと判別して検出するようにする。なお、図
５および図６に示す各回路素子は、市販の演算素子また
はそれらの公知の組み合わせで構成することができる。

【００３１】以下、この実施例の要部の動作を、図７に
示すフローチャートを参照しながら説明する。なお、図
７には、カウンタ２３によるパルス発生装置１０４から
のパルスの計数動作は省略してある。各欠陥性状判別回
路１５₁，１５₂，・・・，１５_nにおいて、カウンタ
２３がパルス発生装置１０４からのパルスの計数を開始
すると、対応するカウンタ２４のゲートが開となる。こ
れにより、閾値回路２２において、対応する演算回路１
４₁，１４₂，・・・，１４_nからの欠陥信号Ｖが閾値
を越えたときに発生されるパルスが、カウンタ２４で計
数される。カウンタ２３での計数値Ｍが、予め設定した
鋼板１０１の基準長さＬに相当するパルス数Ｍ_Lを越え
ると、その時点でカウンタ２４のゲートが閉となり、そ
の計数値Ｎを表す各ビット出力が対応するシフトレジス
タ２７₁，２７₂，・・・，２７ _pの初段に記憶される
と共に、過去の計数結果の各ビット出力がそれぞれ次段
にシフトされる。

【００３２】各シフトレジスタ２７₁，２７₂，・・
・，２７_pのｑ段のビット出力Ｎ₀，Ｎ₁，・・・，Ｎ
_qは、対応する比較回路２８₁，２８₂，・・・，２８
_pで比較され、それらの比較結果がアンドゲート２９に
供給されると共に、各シフトレジスタ２７₁，２７₂，
・・・，２７_pの任意の同一段の出力がオアゲート３０
に供給される。ここで、アンドゲート２９は、各シフト
レジスタ２７₁，２７₂，・・・，２７_pにおいて、そ
のｑ段のビット出力が全て等しいとき、すなわち過去ｑ
回（最大）の欠陥個数の計数結果が等しいとき、論理
「１」を出力し、それ以外のときは、論理「０」を出力
することになる。また、オアゲート３０は、ある基準長
さＬ内でカウンタ２４が欠陥信号Ｖを計数したとき、す
なわち欠陥がある場合に、論理「１」を出力し、欠陥信
号Ｖが計数されない場合に、論理「０」を出力すること
になる。

【００３３】したがって、判定回路３１においては、表
１に真理値表を示すように、アンドゲート２９の出力が
論理「０」のとき、インバータ３２₁の出力のみが論理
「１」となって、介在物欠陥と判別され、アンドゲート
２９の出力が論理「１」で、かつオアゲート３０の出力
が論理「１」のときに、アンドゲート３３₁の出力のみ
が論理「１」となって、表面欠陥と判別され、また、ア
ンドゲート２９の出力が論理「１」で、かつオアゲート
３０の出力が論理「０」のときに、アンドゲート３３₂
の出力のみが論理「１」となって、欠陥無しと判別され
て、表示装置１０３にそれぞれ表示される。

【表１】

【００３４】以上のように、この実施例によれば、ロー
ルマーク等の表面欠陥、介在物欠陥および欠陥無しを弁
別して検出できるので、上述した実施例におけると同様
に、製品の歩留りを大幅に向上することができると共
に、操業改善を容易にできる効果がある。

【００３５】なお、図５および図６では、欠陥個数の計
数から欠陥性状の判定に至るまでの全ての回路を、論理
素子やその組み合わせで構成しているが、同様の処理を
プログラム化してマイクロコンピュータ等で実現するこ
ともできる。また、この実施例においても、図４におい
て説明したと同様に、部品点数を削減して低コスト化を
図るために、各チャンネルの演算回路の出力をＬチャン
ネル毎に加算して数個のブロックにしたり、あるいは全
体を一つにまとめたのち、表面欠陥、介在物欠陥および
欠陥無しを弁別して検出するようにすることもできる。

【００３６】

【発明の効果】以上のように、この発明によれば、鋼板
の探傷時に検出される欠陥を、内部介在物に相当する欠
陥と、ロールマーク等の表面欠陥とに弁別して検出でき
るので、表面欠陥を内部欠陥と誤検出する誤りを防止で
き、精度の良い探傷が可能となる。また、介在物欠陥と
表面欠陥とを弁別して検出できることから、それらの発
生頻度を別個に管理することが可能となるので、製品不
具合から製造工程へのフィードバックも的確に行うこと
ができ、操業改善を容易にできる利点がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明を実施する欠陥検出装置の一例の構成
を示す模式図である。

【図２】図１に示す欠陥性状判別回路の一例の構成を示
すブロック図である。

【図３】この発明の第１実施例および第２実施例の動作
を説明するためのフローチャートである。

【図４】この発明の第３実施例を説明するためのブロッ
ク図である。

【図５】この発明の第４実施例を説明するためのブロッ
ク図である。

【図６】図５に示す判定回路の一例の構成を示すブロッ
ク図である。

【図７】第４実施例の動作を説明するためのフローチャ
ートである。

【図８】従来の技術を説明するためのブロック図であ
る。

【符号の説明】

１１₁〜１１_n 磁気センサ１２₁〜１２_n 増幅器１３₁〜１３_n 信号処理回路１４₁〜１４_n 演算回路１５₁〜１５_n 欠陥性状判別回路２２閾値回路２３，２４カウンタ２５設定回路２６比較回路２７₁〜２７_p シフトレジスタ２８₁〜２８_p 比較回路２９アンドゲート３０オアゲート３１判定回路１００磁化装置１０１鋼板１０３表示装置１０４パルス発生装置

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】走行中の鋼板から生じる漏洩磁束を磁気
センサで検出し、その出力信号に基づいて鋼板の欠陥を
検出するにあたり、走行方向に予め設定した基準長さＬ内で、前記鋼板の幅
方向の同一位置での欠陥の検出個数を計数し、その計数値Ｎが、予め設定した順次の表面欠陥の間隔を
ｒ、許容値をΔＮ（但し、ΔＮは０以上の整数）とする
とき、｜Ｎ−Ｌ／ｒ｜≦ΔＮを満足するときは、前記検出した欠陥を周期性の表面欠
陥と判別し、｜Ｎ−Ｌ／ｒ｜＞ΔＮを満足するときは、該欠陥を介在物欠陥と判別して検出
することを特徴とする鋼板の欠陥検出方法。
【請求項２】走行中の鋼板から生じる漏洩磁束を磁気
センサで検出し、その出力信号に基づいて鋼板の欠陥を
検出するにあたり、走行方向に予め設定した基準長さ毎に、前記鋼板の幅方
向の同一位置での欠陥の検出個数を計数し、その順次の
基準長さにおける計数値が、零と異なる同一値である場
合は、前記検出した欠陥を周期性の表面欠陥と判別し、
異なる場合は、該欠陥を介在物欠陥と判別して検出する
ことを特徴とする鋼板の欠陥検出方法。