JPH081809A - マイクロレンズの形成方法 - Google Patents

マイクロレンズの形成方法

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JPH081809A
JPH081809A JP16296994A JP16296994A JPH081809A JP H081809 A JPH081809 A JP H081809A JP 16296994 A JP16296994 A JP 16296994A JP 16296994 A JP16296994 A JP 16296994A JP H081809 A JPH081809 A JP H081809A
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JP
Japan
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microlens
lens
resist layer
lens material
material resist
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JP16296994A
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Inventor
Hiroyasu Yamada
裕康 山田
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Casio Computer Co Ltd
Original Assignee
Casio Computer Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 CCD形撮像デバイス上にマイクロレンズを
簡単な工程で形成する。 【構成】 CCD形撮像デバイス11の表面平坦化層1
9上にポジ型のレンズ材レジスト層20を塗布して形成
する。次に、レンズ形成領域に対応する部分にマスクパ
ターン21aを有するフォトマスク21を用いて露光す
る。この場合の露光は、焦点を適宜にずらして行う。す
ると、図1(B)において梨点で示すように、光の回り
込みの強度分布に応じて、レンズ形成領域に対応する部
分におけるレンズ材レジスト層20の表面側が逆凹レン
ズ状に露光される。このため、この後現像すると、表面
が曲面となった凸レンズからなるマイクロレンズ20a
が形成される。したがって、露光して現像するだけの簡
単な工程で、マイクロレンズ20aを形成することがで
きる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明はマイクロレンズの形成
方法に関する。
【0002】
【従来の技術】例えばCCD形撮像デバイスには、図2
(D)に示すようなものがある。このCCD形撮像デバ
イスでは、p形シリコン基板1上に絶縁膜2が設けら
れ、絶縁膜2上にフォトダイオード3とCCD4が設け
られ、CCD4上に絶縁膜5を介して金属電極6が設け
られ、その上にカラーフィルタ7が設けられ、その上に
表面が平坦な表面平坦化層8が設けられ、その上であっ
てフォトダイオード3に対応する部分に凸レンズからな
るマイクロレンズ9が設けられた構造となっている。す
なわち、このCCD形撮像デバイスでは、マイクロレン
ズ9が一体化されている。
【0003】次に、このようなCCD形撮像デバイスに
おいてマイクロレンズ9を形成する場合について、図2
(A)〜(D)を順に参照しながら説明する。まず、図
2(A)に示すように、カラーフィルタ7上にアクリル
系レジストの塗布により表面平坦化層8が設けられたも
のを用意する。次に、図2(B)に示すように、表面平
坦化層8上にポジ型のレンズ材レジスト層9aを塗布し
て形成する。次に、レンズ形成領域に対応する部分にマ
スクパターン10aを有するフォトマスク10を用いて
露光し、次いで現像すると、図2(C)に示すように、
レンズ材レジストパターン9bが形成される。次に、1
50℃程度の温度で5分間程度の熱処理を行うと、レン
ズ材が溶融した後冷却されて固化する際に、レンズ材の
表面が表面張力により曲面となる。かくして、図2
(D)に示すように、表面平坦化層8上に凸レンズから
なるマイクロレンズ9を形成している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
このようなマイクロレンズの形成方法では、レンズ材レ
ジストパターン9bを熱処理して、表面を曲面とされた
凸レンズからなるマイクロレンズ9を形成しているの
で、熱処理工程が必要であり、その分だけ工程数が多い
という問題があった。また、マイクロレンズ9の表面の
曲面形状が熱処理の温度と時間に左右されるので、その
条件の選定がきわめて困難であり、制御性も悪いという
問題があった。この発明の目的は、マイクロレンズを少
ない工程数で容易にかつ制御性良く形成することのでき
るマイクロレンズの形成方法を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】この発明は、レンズ材レ
ジスト層を所定のマスクパターンを有するフォトマスク
を用いて焦点をずらして露光して現像することにより、
表面を曲面とされた凸レンズからなるマイクロレンズを
形成するようにしたものである。
【0006】
【作用】この発明によれば、レンズ材レジスト層を所定
のマスクパターンを有するフォトマスクを用いて焦点を
ずらして露光して現像するだけで、表面を曲面とされた
凸レンズからなるマイクロレンズを形成することができ
るので、従来のような熱処理工程が不要となり、したが
ってマイクロレンズを少ない工程数で容易にかつ制御性
良く形成することができる。
【0007】
【実施例】図1(A)〜(D)はそれぞれこの発明の一
実施例を適用したCCD形撮像デバイスにおいてマイク
ロレンズを形成する際の各形成工程を示したものであ
る。そこで、これらの図を順に参照しながら、この実施
例のマイクロレンズの形成方法について説明する。
【0008】まず、図1(A)に示すようなCCD形撮
像デバイス11を用意する。このCCD形撮像デバイス
11は、図2(A)に示す従来のものと同じであるが、
再度説明すると、p形シリコン基板12上に絶縁膜13
が設けられ、絶縁膜13上にフォトダイオード14とC
CD15が設けられ、CCD15上に絶縁膜16を介し
て金属電極17が設けられ、その上にカラーフィルタ1
8が設けられ、その上に表面が平坦な表面平坦化層19
が設けられた構造となっている。
【0009】次に、図1(B)に示すように、表面平坦
化層19上にポジ型のレンズ材レジスト層20を塗布し
て形成する。レンズ材レジスト層20の厚さは、形成す
べきマイクロレンズの最大厚さと同じかそれよりもある
程度厚めとする。次に、レンズ形成領域に対応する部分
にマスクパターン21aを有するフォトマスク21を用
いて露光する。この場合の露光は、焦点を適宜にずらし
て、例えば上方に0.6〜0.9μm程度ずらして行
う、つまり0.6〜0.9μm程度プラスデフォーカス
する。すると、同図において梨点で示すように、光の回
り込みの強度分布に応じて、レンズ形成領域に対応する
部分におけるレンズ材レジスト層20の表面側が逆凹レ
ンズ状に露光される。
【0010】この理由は、デフォーカスによりレンズ材
レジスト層20の層内における光強度分布がジャストフ
ォーカス時よりも一様に近くなる、換言すれば、マスク
パターン21aの間隙に対応する部分からマスクパター
ン21aに対応する部分への光の回り込み量が多くなる
ことによる。このため、この後現像することにより、図
1(C)に示すように、表面が曲面となった凸レンズか
らなるマイクロレンズ20aが形成される。
【0011】このように、このマイクロレンズの形成方
法では、レンズ形成領域に対応する部分にマスクパター
ン21aを有するフォトマスク21を用いて焦点をずら
して露光すると、光の回り込みの強度分布に応じて、レ
ンズ形成領域に対応する部分におけるレンズ材レジスト
層20の表面側が逆凹レンズ状に露光されるので、露光
して現像するだけで、表面を曲面とされた凸レンズから
なるマイクロレンズ20aを形成することができ、した
がって従来のような熱処理工程が不要となり、マイクロ
レンズ20aを少ない工程数で形成することができる。
また、マイクロレンズ20aの表面の曲面形状は、フォ
トマスク21を用いた露光時の焦点のずれ量(デフォー
カス度)を制御するだけで選定することができるので、
マイクロレンズ20aを容易にかつ制御性良く形成する
ことができる。
【0012】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、レンズ材レジスト層を所定のマスクパターンを有す
るフォトマスクを用いて焦点をずらして露光して現像す
るだけで、表面を曲面とされた凸レンズからなるマイク
ロレンズを形成することができるので、従来のような熱
処理工程が不要となり、したがってマイクロレンズを少
ない工程数で容易にかつ制御性良く形成することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】(A)〜(C)はそれぞれこの発明の一実施例
を適用したCCD形撮像デバイスにおいてマイクロレン
ズを形成する際の各形成工程を示す断面図。
【図2】(A)〜(D)はそれぞれ従来のCCD形撮像
デバイスにおいてマイクロレンズを形成する際の各形成
工程を示す断面図。
【符号の説明】
11 CCD形撮像デバイス 20 レンズ材レジスト層 20a マイクロレンズ 21 フォトマスク

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レンズ材レジスト層を所定のマスクパタ
    ーンを有するフォトマスクを用いて焦点をずらして露光
    して現像することにより、表面を曲面とされた凸レンズ
    からなるマイクロレンズを形成することを特徴とするマ
    イクロレンズの形成方法。
  2. 【請求項2】 前記マイクロレンズを撮像デバイス上に
    形成することを特徴とする請求項1記載のマイクロレン
    ズの形成方法。
JP16296994A 1994-06-22 1994-06-22 マイクロレンズの形成方法 Pending JPH081809A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6979588B2 (en) 2003-01-29 2005-12-27 Hynix Semiconductor Inc. Method for manufacturing CMOS image sensor having microlens therein with high photosensitivity
JP2006072349A (ja) * 2004-08-31 2006-03-16 Sharp Corp 直接的にパターン化可能なマイクロレンズ
KR100972059B1 (ko) * 2002-12-30 2010-07-22 동부일렉트로닉스 주식회사 마이크로 렌즈의 도포 균일성을 개선한 씨모스 이미지 센서의 제조방법

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