JPH08181587A - パルス信号整形回路 - Google Patents

パルス信号整形回路

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JPH08181587A
JPH08181587A JP6322376A JP32237694A JPH08181587A JP H08181587 A JPH08181587 A JP H08181587A JP 6322376 A JP6322376 A JP 6322376A JP 32237694 A JP32237694 A JP 32237694A JP H08181587 A JPH08181587 A JP H08181587A
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勇 小林
Takahiro Yamamoto
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Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は入力信号に基づいて、所望のパルス幅
の信号を安定して生成し得るパルス信号整形回路を提供
することを目的とする。 【構成】入力回路19は、入力信号INの変化を捉えて
出力する。遅延回路20は前記入力回路19の出力信号
を遅延させて出力する。信号合成回路21は、前記入力
回路19の出力信号と前記遅延回路20の出力信号とが
入力され、前記入力回路19の出力信号に基づいて前記
遅延回路20の遅延時間に相当するパルス幅のパルス信
号OUTを出力する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、半導体集積回路内に
おいて、入力されるパルス信号に基づいて、所定のパル
ス幅のパルス信号を生成するパルス信号整形回路に関す
るものである。
【0002】半導体集積回路では、種々の内部回路の動
作が所定の制御信号に基づいて制御される。このような
制御信号は、外部から半導体集積回路に入力される外部
クロック信号、あるいは内部で生成される信号に基づい
てパルス信号整形回路により生成される。
【0003】近年、半導体集積回路の動作速度は益々向
上し、内部回路の動作を制御するための制御信号の周波
数も高くなる傾向にある。従って、パルス信号整形回路
では内部回路で必要とする高周波数の制御信号を安定し
て生成する必要がある。
【0004】
【従来の技術】パルス信号整形回路の第一の従来例を図
15に示す。入力信号IN1はインバータ回路1aの入
力端子に入力され、同インバータ回路1aの出力端子、
すなわちノードN1はインバータ回路1bの入力端子に
接続される。
【0005】前記インバータ回路1aを構成するNチャ
ネルMOSトランジスタのソースは、NチャネルMOS
トランジスタTr1を介してグランドGNDに接続され
る。前記ノードN1は、PチャネルMOSトランジスタ
Tr2を介して電源Vccに接続される。
【0006】従って、前記インバータ回路1aと、トラ
ンジスタTr1,Tr2によりNAND回路が構成される。
そして、入力信号IN1,IN2がともにHレベルとな
ると、ノードN1がLレベルとなり、入力信号IN1,
IN2の少なくとも一方がLレベルとなると、ノードN
1はHレベルとなる。
【0007】前記インバータ回路1bの出力端子は、イ
ンバータ回路1cの入力端子に接続され、同インバータ
回路1cの出力端子、すなわちノードN2はインバータ
回路1dの入力端子に接続される。
【0008】前記インバータ回路1dを構成するNチャ
ネルMOSトランジスタのソースは、NチャネルMOS
トランジスタTr3を介してグランドGNDに接続され
る。また、前記インバータ回路1dの出力端子は、Pチ
ャネルMOSトランジスタTr4を介して電源Vccに接続
される。前記トランジスタTr3,Tr4のゲートは前記ノ
ードN1に接続される。
【0009】従って、前記インバータ回路1dと、トラ
ンジスタTr3,Tr4によりNAND回路が構成される。
そして、ノードN1,N2がともにHレベルとなると、
インバータ回路1dの出力信号はLレベルとなり、ノー
ドN1,N2の少なくとも一方がLレベルとなると、イ
ンバータ回路1dの出力信号はHレベルとなる。
【0010】前記インバータ回路1dの出力信号は2段
のインバータ回路1eを介して出力信号OUTとして出
力される。このように構成されたパルス信号整形回路の
動作を図16に従って説明する。入力信号IN1,IN
2は、その周波数及びパルス幅がほぼ等しい信号が入力
される。
【0011】そして、入力信号IN1として、Hレベル
のパルス信号P1が入力され、そのパルス信号P1から
位相が遅れたHレベルのパルス信号P2が入力信号IN
2として入力されると、パルス信号P1,P2がともに
Hレベルとなった時点で、ノードN1がLレベルに立ち
下がる。
【0012】次いで、パルス信号P1がLレベルに立ち
下がると、ノードN1がHレベルに立ち上がる。従っ
て、ノードN1はパルス信号P1,P2がともにHレベ
ルとなる時間t1でLレベルとなる。
【0013】ノードN1は、インバータ回路1b,1c
を介してノードN2に伝達される。従って、ノードN2
はノードN1の立ち下がりから遅延時間t2後に立ち下
がり、パルス幅t1でLレベルとなる。そして、パルス
信号P1,P2の位相差が遅延時間t2より短い場合に
は、ノードN1の立ち上がりに先立って、ノードN2が
立ち下がる。
【0014】すると、出力信号OUTはノードN1の立
ち下がりからノードN2の立ち上がりまでの時間幅t1
+t2でHレベルとなる。また、入力信号IN1,IN
2として、位相がほぼ一致したパルス信号P3,P4が
入力されると、ノードN1,N2のLレベルのパルス幅
が長くなり、これにともなって出力信号OUTのHレベ
ルのパルス幅が長くなる。
【0015】このようなパルス信号整形回路は、例えば
RAMに内蔵され、読み出しデータをラッチするラッチ
回路の動作を制御する制御信号の生成回路として使用さ
れる。そして、RAMを制御する信号が入力信号IN
1,IN2として入力される。
【0016】例えば、ラッチ回路は出力信号OUTの立
ち上がりに基づいて、読み出しデータをラッチし、出力
信号OUTの立ち下がりに基づいて、ラッチデータを出
力回路に出力する。
【0017】従って、上記パルス信号整形回路は、入力
信号IN1,IN2に基づいて、Hレベルのパルス幅が
一定時間以上となる出力信号OUTを生成するように動
作する。
【0018】図17はパルス信号整形回路の第二の従来
例を示す。このパルス信号整形回路は、半導体集積回路
に内蔵され、外部から入力される外部クロック信号に基
づいて、同外部クロック信号に同期した内部クロック信
号を生成して、内部回路に供給するものである。
【0019】外部クロック信号Cは、切り換え回路2に
入力される。内部発振回路3は、前記外部クロック信号
Cより低周波数の発振信号OSを前記切り換え回路2に
出力する。
【0020】前記切り換え回路2は、一定周波数以上の
外部クロック信号Cが入力されているときは、その外部
クロック信号Cを内部回路にクロック信号CLKとして
出力する。
【0021】また、前記切り換え回路2に入力される外
部クロック信号Cが一定周波数以下となった場合、すな
わち、例えば外部クロック信号Cが入力されなくなった
場合、切り換え回路2は設定された周期以上にわたって
パルス信号が入力されないことを検知して、前記内部発
振回路3の発振信号OSをクロック信号CLKとして出
力する。
【0022】このようなパルス信号整形回路の動作を図
18に従って説明する。外部クロック信号Cが切り換え
回路2に入力されると、切り換え回路2はその外部クロ
ック信号Cをクロック信号CLKとして出力する。
【0023】また、外部クロック信号Cが停止して、切
り換え回路2に設定された周期t1以上にわたってパル
ス信号が入力されないと、切り換え信号S1がHレベル
に立ち上がる。そして、その切り換え信号S1に基づい
て内部発振回路3の発振信号OSがクロック信号CLK
として出力される。
【0024】このような動作により、外部クロック信号
Cが停止した場合にも、発振信号OSをクロック信号C
LKとして供給することができるので、内部回路の動作
を維持することが可能となる。
【0025】
【発明が解決しようとする課題】上記第一の従来例で
は、図16に示すように、入力信号IN1,IN2のH
レベルのパルス信号P5,P6の位相差が大きくなっ
て、ノードN1の立ち上がり後に、ノードN2が立ち下
がる状態となると、出力信号OUTとしてパルス幅t3
の短いパルス信号が連続して出力される。
【0026】このような出力信号OUTでは、Hレベル
となる時間が短いため、ラッチ回路で確実にラッチ動作
が行われる前に、出力信号OUTが立ち下がり、ラッチ
信号が出力される。
【0027】従って、出力信号OUTのHレベルのパル
ス幅が短いために、正確なデータをラッチして出力する
ことができないことがある。上記第二の従来例では、外
部クロック信号Cと発振信号OSとは全く同期しない。
そして、図19に示すように切り換え信号S1が立ち上
がるとき、発振信号OSがHレベルにあると、切り換え
回路2からHレベルのパルス幅が極端に短いクロック信
号CLK1が出力されることがある。
【0028】また、切り換え信号S1がLレベルに立ち
下がるとき、発振信号OSが立ち下がり、続いて外部ク
ロック信号Cが立ち上がると、Hレベルのパルス幅が長
く、かつグリッジを含むクロック信号CLK2が出力さ
れることがある。
【0029】従って、このようなクロック信号CLK
1,CLK2が内部回路に入力されると、その内部回路
が誤動作を引き起こす。この発明の目的は、入力信号に
基づいて、所望のパルス幅の信号を安定して生成し得る
パルス信号整形回路を提供することにある。
【0030】
【課題を解決するための手段】図1は請求項1の原理説
明図である。すなわち、入力回路19は、入力信号IN
の変化を捉えて出力する。遅延回路20は前記入力回路
19の出力信号を遅延させて出力する。信号合成回路2
1は、前記入力回路19の出力信号と前記遅延回路20
の出力信号とが入力され、前記入力回路19の出力信号
に基づいて前記遅延回路20の遅延時間に相当するパル
ス幅のパルス信号OUTを出力する。
【0031】また、請求項2では、図3に示すように前
記入力回路は複数の入力信号が入力される否論理積回路
で構成され、前記遅延回路は複数段のインバータ回路で
構成され、前記信号合成回路は前記入力回路の出力信号
と前記遅延回路の出力信号とが入力される否論理積回路
で構成される。
【0032】また、請求項3では、図5に示すように前
記入力回路は一つの入力信号が入力されるインバータ回
路で構成され、前記遅延回路は複数段のインバータ回路
で構成され、前記信号合成回路は前記入力回路の出力信
号と前記遅延回路の出力信号とが入力される否論理積回
路で構成される。
【0033】また、請求項4では、図8に示すように前
記入力回路は一つの入力信号が入力され、該入力信号の
周波数があらかじめ設定された所定の周波数より高いと
き、該入力信号を出力するとともに、該入力信号が前記
所定の周波数より低いとき、該所定の周波数を出力する
発振回路で構成され、前記遅延回路は複数段のインバー
タ回路で構成され、前記信号合成回路は前記発振回路の
出力信号がクロック信号として入力され、出力信号が前
記遅延回路を介して入力データとして入力されるDフリ
ップフロップ回路で構成される。前記発振回路の出力信
号の周波数と、前記遅延回路により設定される周波数の
うち、低周波数の信号が出力される。
【0034】また、請求項5では、図5に示すように前
記発振回路は、否論理積回路と複数段のインバータ回路
が環状に接続され、前記否論理積回路に前記入力信号が
入力され、前記インバータ回路の間に信号の立ち上がり
を遅延させて出力する遅延回路が介在され、前記遅延回
路の遅延時間が前記入力信号のパルス幅より大きく設定
される。
【0035】また、請求項6では、図5に示すように前
記発振回路は、第一の発振回路と第二の発振回路とから
なる二段の発振回路が直列に接続され、前記第一の発振
回路の否論理積回路に前記入力信号が入力され、前記第
一の発振回路の否論理積回路の出力信号が前記第二の発
振回路の否論理積回路に入力される。
【0036】また、請求項7では、図9に示すように前
記遅延回路は、偶数段のインバータ回路と該遅延回路の
入力信号がリセット信号として入力されるリセット回路
とから構成され、該遅延回路の入力信号の立ち上がりに
基づく出力信号の立ち上がりの遅延が大きく、該遅延回
路の入力信号の立ち下がりに基づく出力信号の立ち下が
りの遅延は前記リセット回路の動作により小さくなる。
【0037】また、請求項8では、図9に示すように前
記遅延回路は、Lレベルを出力しにくい初段のインバー
タ回路と、Hレベルを出力しにくい次段のインバータ回
路と、前記リセット回路とから構成され、前記リセット
回路は、次段のインバータ回路の入力端子と低電位側電
源との間に接続される容量と、前記入力端子と高電位側
電源との間に接続されるとともにゲートに前記遅延回路
の入力信号が入力されるPチャネルMOSトランジスタ
とから構成される。
【0038】また、請求項9では、図12に示すように
前記遅延回路は、初段のインバータ回路が前記入力信号
とリセット信号とが入力される否論理積回路で構成され
る。また、請求項10では、図8に示すように前記発振
回路は、入力信号があらかじめ設定された周期より長い
時間でHレベルに維持されたとき、前記周期の発振信号
を出力し、前記周期より短い周期の入力信号は同一周期
で出力する第一の発振回路と、入力信号があらかじめ設
定された周期より長い時間でLレベルに維持されたと
き、前記周期の発振信号を出力し、前記周期より短い周
期の入力信号は同一周期で出力する第二の発振回路とか
ら構成され、前記第一及び第二の発振回路の出力信号が
前記Dフロップフロップ回路に入力される。
【0039】また、請求項11では、図13に示すよう
に前記Dフリップフロップ回路の出力信号が排他的論理
和回路の一方の入力端子に入力され、前記Dフリップフ
ロップ回路の出力信号が偶数段のインバータ回路を介し
て前記排他的論理和回路の他方の入力端子に入力され、
前記排他的論理和回路から出力信号が出力される。
【0040】また、請求項12では、図14に示すよう
に前記入力信号が排他的論理和回路の一方の入力端子に
入力され、前記入力信号を奇数段のインバータ回路を介
して前記排他的論理和回路の他方の入力端子に入力さ
れ、前記排他的論理和回路の出力信号が前記第二の発振
回路に入力される。
【0041】
【作用】請求項1では、入力信号の変化に基づいて、遅
延回路で設定されたパルス幅を備えた出力信号が出力さ
れる。
【0042】請求項2では、複数の入力信号の論理積信
号の変化に基づいて、遅延回路で設定されたパルス幅を
備えた出力信号が出力される。請求項3では、一つの入
力信号の変化に基づいて、遅延回路で設定されたパルス
幅を備えた出力信号が出力される。
【0043】請求項4では、入力信号と、発振回路で設
定された周波数と、信号合成回路で設定された周波数の
うち、最も低い周波数が出力される。請求項5では、入
力信号が遅延回路の遅延時間以上にわたって変化しない
と、遅延回路の遅延時間で設定される周波数の信号が発
振回路から出力される。
【0044】請求項6では、入力信号がHレベルになっ
た状態で第一の発振回路の遅延回路の遅延時間以上にわ
たって変化しないと、第一の遅延回路の遅延時間で設定
される周波数の信号が第二の発振回路から出力され、入
力信号がLレベルになった状態で第二の発振回路の遅延
回路の遅延時間以上にわたって変化しないと、第二の遅
延回路の遅延時間で設定される周波数の信号が第二の発
振回路から出力される。
【0045】請求項7では、遅延回路の入力信号の立ち
上がりに基づく出力信号の立ち上がりの遅延が大きく、
該遅延回路の入力信号の立ち下がりに基づく出力信号の
立ち下がりの遅延は前記リセット回路の動作により小さ
くなる。
【0046】請求項8では、遅延回路にLレベルが入力
されると、PチャネルMOSトランジスタがオンされて
容量が瞬時に充電されることにより、出力信号が速やか
にLレベルとなる。遅延回路にHレベルが入力される
と、初段のインバータ回路により容量が徐々に放電され
ることにより、Hレベルの出力信号が遅延して出力され
る。
【0047】請求項9では、遅延回路にLレベルが入力
されると、初段のインバータ回路の動作に関わらず次段
のインバータ回路の入力レベルがHレベルとなって、出
力信号が速やかにLレベルとなる。遅延回路にHレベル
が入力されると、初段のインバータ回路の動作に基づい
て次段のインバータ回路の入力レベルが徐々にLレベル
となることにより、Hレベルの出力信号が遅延して出力
される。
【0048】請求項10では、Dフリップフロップ回路
により、出力信号の最高周波数が制限され、第一及び第
二の発振回路及びDフリップフロップ回路の各遅延回路
の遅延時間の設定により、任意の分周比を複数設定する
事が可能となる。
【0049】請求項11では、Dフリップフロップ回路
の出力信号の2倍の周波数が排他的論理和回路から出力
される。請求項12では、入力信号の立ち上がり及び立
ち下がりに基づいて排他的論理和回路からLレベルのパ
ルス幅が一定となるパルス信号が出力される。また、入
力信号がHレベルあるいはLレベルで一定となると、排
他的論理和回路の出力信号はHレベルとなる。
【0050】
【実施例】
(第一の実施例)図2は、この発明の第一及び第二の実
施例に関する半導体記憶装置の読み出しデータ出力部を
示す。
【0051】データラッチ回路4には、メモリセルアレ
イ等から構成される内部回路5から読みだされた読み出
しデータDが入力される。前記データラッチ回路4には
パルス信号整形回路6が接続され、そのパルス信号整形
回路6には前記内部回路5の動作を制御する制御回路か
ら、出力制御信号INが入力される。
【0052】前記パルス信号整形回路6は、出力制御信
号INに基づいて出力信号OUTを前記データラッチ回
路4に出力する。前記データラッチ回路4は、パルス信
号整形回路6の出力信号OUTのLレベルからHレベル
への立ち上がりに基づいて、読み出しデータDをラッチ
する。また、データラッチ回路4は、前記出力信号OU
TのHレベルからLレベルへの立ち下がりに基づいて、
ラッチされた読み出しデータDを出力回路7に出力す
る。
【0053】前記出力回路7は、前記データラッチ回路
4の出力信号を増幅して、出力データDout として出力
する。前記パルス信号整形回路6の第一の実施例を図3
に従って説明する。前記出力制御信号INは入力信号I
N1,IN2として入力される。
【0054】前記入力信号IN1は、インバータ回路8
aの入力端子に入力され、同インバータ回路8aの出力
端子、すなわちノードN3はインバータ回路8bの入力
端子に接続される。
【0055】前記インバータ回路8aを構成するNチャ
ネルMOSトランジスタのソースは、NチャネルMOS
トランジスタTr5を介してグランドGNDに接続され
る。前記ノードN3は、PチャネルMOSトランジスタ
Tr6を介して電源Vccに接続される。
【0056】前記トランジスタTr5,Tr6のゲートに
は、前記入力信号IN2が入力される。従って、インバ
ータ回路8aと、トランジスタTr5,Tr6によりNAN
D回路が構成され、入力信号IN1,IN2がともにH
レベルとなると、ノードN3がLレベルとなる。
【0057】前記インバータ回路8bの出力端子、すな
わちノードN4は、インバータ回路8cの入力端子に接
続される。前記インバータ回路8bを構成するNチャネ
ルMOSトランジスタのソースはNチャネルMOSトラ
ンジスタTr7を介してグランドGNDに接続される。前
記ノードN4は、PチャネルMOSトランジスタTr8を
介して電源Vccに接続される。
【0058】前記トランジスタTr7,Tr8のゲートには
後記ノードN6が入力される。従って、前記インバータ
回路8bと、トランジスタTr7,Tr8によりNAND回
路が構成され、ノードN3,N6がともにHレベルとな
ると、ノードN4がLレベルとなる。
【0059】前記インバータ回路8cの出力端子は、前
記インバータ回路8dの入力端子に接続され、同インバ
ータ回路8dの出力端子から出力信号OUTが出力され
る。前記ノードN4は、インバータ回路8eの入力端子
に接続され、同インバータ回路8eの出力端子、すなわ
ちノードN6は前記トランジスタTr7,Tr8のゲートに
接続される。
【0060】前記インバータ回路8eを構成するNチャ
ネルMOSトランジスタのソースは、NチャネルMOS
トランジスタTr9を介してグランドGNDに接続され、
前記ノードN6はPチャネルMOSトランジスタTr10
を介して電源Vccに接続される。
【0061】前記インバータ回路8cの出力端子は、直
列に接続された2段のインバータ回路8fの入力端子に
接続され、同インバータ回路8fの出力端子、すなわち
ノードN5は、前記トランジスタTr9,Tr10 のゲート
に接続される。
【0062】従って、前記インバータ回路8eと、トラ
ンジスタTr9,Tr10 によりNAND回路が構成され、
前記ノードN4,N5がともにHレベルとなると、ノー
ドN6がLレベルとなる。
【0063】次に、上記のように構成されたパルス信号
整形回路6の動作を図4に従って説明する。入力信号I
N1,IN2は、その周波数及びパルス幅がほぼ等しい
信号が入力される。
【0064】そして、入力信号IN1として、Hレベル
のパルス信号P1が入力され、そのパルス信号P1から
位相が遅れたHレベルのパルス信号P2が入力信号IN
2として入力されると、パルス信号P1,P2がともに
Hレベルとなった時点で、ノードN3がLレベルに立ち
下がる。
【0065】次いで、パルス信号P1がLレベルに立ち
下がると、ノードN3がHレベルに立ち上がる。従っ
て、ノードN3はパルス信号P1,P2がともにHレベ
ルとなる時間t1でLレベルとなる。
【0066】ノードN3が立ち下がると、ノードN4が
Hレベルに立ち上がり、出力信号OUTがHレベルに立
ち上がる。ノードN4がHレベルに立ち上がると、その
前サイクルの動作により、ノードN5はHレベルに維持
されているため、ノードN6がLレベルに立ち下がる。
すると、トランジスタTr7がオフされるとともに、トラ
ンジスタTr8がオンされて、ノードN4はノードN3に
関わらずHレベルとなる。
【0067】また、ノードN4の立ち上がりから、イン
バータ回路8c,8fの動作時間による遅延時間t4後
に、ノードN5がLレベルに立ち下がる。すると、ノー
ドN6がHレベルに立ち上がり、このときノードN3が
Hレベルに復帰しているので、ノードN4はLレベルに
立ち下がり、出力信号OUTがLレベルとなる。そし
て、ノードN4の立ち下がりから、遅延時間t4後にノ
ードN5がHレベルに復帰する。
【0068】従って、出力信号OUTのHレベルのパル
ス幅は、前記遅延時間t4より若干長くなる。また、入
力信号IN1,IN2として、位相がほぼ一致したパル
ス信号P3,P4が入力されると、ノードN3のLレベ
ルのパルス幅が長くなり、ノードN6の立ち上がり時に
は未だノードN3がLレベルである。
【0069】従って、ノードN4のHレベルのパルス幅
はノードN3のLレベルのパルス幅と等しくなり、これ
にともなって出力信号OUTのHレベルのパルス幅が長
くなる。
【0070】入力信号IN1,IN2のHレベルのパル
ス信号P5,P6の位相差が大きくなると、ノードN3
のLレベルのパルス幅t5が短くなる。この場合にも、
ノードN4のHレベルのパルス幅は、前記遅延時間t4
より若干長くなり、ノードN4と等しいパルス幅でHレ
ベルとなる出力信号OUTが出力される。
【0071】以上のようにこのパルス信号整形回路6で
は、入力信号IN1,IN2の位相差に関わらず、イン
バータ回路8c,8fによる遅延時間t4以上のパルス
幅でHレベルとなる出力信号OUTを出力することがで
きる。
【0072】従って、このような出力信号OUTをデー
タラッチ回路4に出力することにより、その出力信号O
UTの立ち上がりでデータラッチ回路4にデータDをラ
ッチさせ、ラッチされたデータDを出力信号OUTの立
ち下がりでデータラッチ回路4から確実に出力させるこ
とができる。 (第二の実施例)前記パルス信号整形回路6の第二の実
施例を図5に従って説明する。この実施例は、一つの入
力信号IN1に基づいてHレベルのパルス幅が所定値以
上となる出力信号OUTを出力するものである。
【0073】そして、その構成は前記第一の実施例から
トランジスタTr5,Tr6を除去して、入力段の回路をイ
ンバータ回路8aのみとしたものである。このようなパ
ルス信号整形回路6の動作を図6に従って説明する。前
記遅延時間t4より短いパルス幅t6でHレベルとなる
入力信号IN1が入力されると、ノードN3には、イン
バータ回路8aから入力信号IN1を反転させた信号が
出力される。
【0074】ノードN3の立ち下がりに基づいて、ノー
ドN4が立ち上がり、ノードN4の立ち上がりに基づい
て、ノードN6が立ち下がり、出力信号OUTが立ち上
がる。
【0075】また、ノードN4の立ち上がりから遅延時
間t4後にノードN5がLレベルに立ち下がり、そのノ
ードN5の立ち下がりに基づいてノードN6が立ち上が
る。そして、ノードN6の立ち上がりに基づいてノード
N4が立ち下がり、出力信号OUTが立ち下がる。
【0076】従って、遅延時間t4より短いパルス幅t
6でHレベルとなる入力信号IN1が入力されても、出
力信号OUTのHレベルのパルス幅は、前記遅延時間t
4以上の時間を確保することができる。
【0077】また、前記遅延時間t4より長いパルス幅
t7でHレベルとなる入力信号IN1が入力されると、
ノードN3には、インバータ回路8aから入力信号IN
1を反転させた信号が出力される。
【0078】ノードN3の立ち下がりに基づいて、ノー
ドN4が立ち上がり、ノードN4の立ち上がりに基づい
て、ノードN6が立ち下がり、出力信号OUTが立ち上
がる。
【0079】また、ノードN4の立ち上がりから遅延時
間t4後にノードN5がLレベルに立ち下がり、そのノ
ードN5の立ち下がりに基づいてノードN6が立ち上が
る。そして、ノードN6が立ち上がっても、ノードN3
が未だLレベルであるので、ノードN4はHレベルに維
持される。
【0080】次いで、ノードN3の立ち上がりに基づい
て、ノードN4が立ち下がり、出力信号OUTがLレベ
ルに立ち下がる。この結果、出力信号OUTは入力信号
IN1と同一のパルス幅t7でHレベルとなる。
【0081】以上のようにこのパルス信号整形回路6で
は、任意のパルス幅でHレベルとなる入力信号IN1に
基づいて、遅延時間t4以上の時間でHレベルとなる出
力信号OUTを出力することができる。従って、前記第
一の実施例と同様な効果を得ることができる。
【0082】また、前記第二の実施例において、インバ
ータ回路8bを構成するPチャネルMOSトランジスタ
のゲート幅を、NチャネルMOSトランジスタのゲート
幅の10倍程度とすれば、ノードN3が僅かなパルス幅
でLレベルとなっても、ノードN4を確実に立ち上げ
て、上記と同様な出力信号OUTを出力することができ
る。従って、入力信号IN1に対する感度を向上させる
ことができる。 (第三の実施例)図7は本発明に関するデータ転送装置
を示す。クロック信号生成回路9は外部から入力される
外部クロックCに同期して発振する発振回路で構成さ
れ、クロック信号CLKを種々の計数器等のデータ生成
回路10及び転送信号生成回路11に出力する。
【0083】また、前記クロック信号生成回路9は外部
クロックCが入力されないときは、その外部クロックC
に同期した発振周波数より低い周波数のクロック信号C
LKを出力する。従って、クロック信号生成回路9がパ
ルス信号整形回路として動作する。
【0084】前記データ生成回路10はデータ転送回路
12を備え、前記クロック信号CLKに基づいてデータ
を生成し、そのデータをデータ転送回路12に出力す
る。前記転送信号生成回路11は、前記クロック信号C
LKに基づいて転送信号TRを生成し、その転送信号T
Rを前記データ転送回路12及びラッチ制御回路13に
出力する。前記データ転送回路12は、入力される転送
信号TRがHレベルとなると、前記データ生成回路10
から入力されたデータDをデータラッチ回路14に転送
する。
【0085】前記ラッチ制御回路13には、ラッチ制御
信号LCが入力される。そして、前記ラッチ制御回路1
3はHレベルの前記転送信号TRと、Hレベルのラッチ
制御信号LCの入力に基づいて、Hレベルのデータラッ
チ信号DLをデータラッチ回路14に出力する。
【0086】前記データラッチ回路14は、前記データ
ラッチ信号DLのLレベルからHレベルへの立ち上がり
に基づいて、前記データ転送回路12から転送されたデ
ータDをラッチして、出力データDout として出力回路
へ出力する。
【0087】このように構成されたデータ転送装置で
は、外部クロック信号Cが入力されているときは、この
データ転送装置を含むシステムが動作中であるため、外
部クロック信号Cに同期したクロック信号CLKに基づ
いて、データラッチ回路14から一定周期毎に出力信号
Dout が出力される。従って、一定周期毎にデータ生成
回路10で生成されるデータDが監視される。
【0088】また、外部クロック信号Cが入力されない
ときは、スタンバイ状態であるので、外部クロック信号
Cに同期したクロック信号CLKより低いクロック信号
CLKに基づいて、データラッチ回路14から前記周期
より長い周期で出力信号Dout が出力される。従って、
データ生成回路10で生成されるデータDが長い周期で
監視される。
【0089】前記クロック信号生成回路9の具体的構成
を図8に従って説明する。外部クロック信号CはNチャ
ネルMOSトランジスタTr11 及びPチャネルMOSト
ランジスタTr12 のゲートに入力される。
【0090】前記トランジスタTr11 はインバータ回路
15aを構成するNチャネルMOSトランジスタとグラ
ンドGNDとの間に接続され、前記トランジスタTr12
はインバータ回路15aの出力端子、すなわちノードN
7と電源Vccとの間に接続される。
【0091】前記ノードN7は、インバータ回路15b
の入力端子に接続され、同インバータ回路15bの出力
端子、すなわちノードN8は遅延回路16aの入力端子
に接続される。
【0092】前記遅延回路16aの出力端子、すなわち
ノードN9はインバータ回路15cの入力端子に接続さ
れ、同インバータ回路15cの出力端子、すなわちノー
ドN10は前記インバータ回路15aの入力端子に接続
される。
【0093】前記遅延回路16aの具体的構成を図9に
従って説明する。前記ノードN8はインバータ回路15
iの入力端子に接続される。前記インバータ回路15i
を構成するNチャネルMOSトランジスタは、直列に3
段接続されている。
【0094】従って、インバータ回路15iは各Nチャ
ネルMOSトランジスタのオン抵抗により実質的にしき
い値が上昇し、ノードN8がLレベルからHレベルに立
ち上がるとき、同インバータ回路15iの出力信号はL
レベルに下がりにくい。
【0095】前記インバータ回路15iの出力端子は、
転送ゲート18を介してインバータ回路15jの入力端
子に接続される。前記転送ゲート18は、そのNチャネ
ル側ゲートが電源Vccに接続されるとともに、Pチャネ
ル側ゲートがグランドGNDに接続されて常時オン状態
に維持され、抵抗として動作する。
【0096】前記インバータ回路15jの入力端子は、
PチャネルMOSトランジスタTr15 を介して電源Vcc
に接続されるとともに、容量Cを介してグランドGND
に接続される。
【0097】前記インバータ回路15jを構成するPチ
ャネルMOSトランジスタは、直列に2段接続されてい
る。従って、インバータ回路15jのしきい値は各Pチ
ャネルMOSトランジスタTr15 のオン抵抗により実質
的に低下し、同インバータ回路15jの入力信号がHレ
ベルからLレベルに立ち下がるとき、同インバータ回路
15jの出力信号、すなわちノードN9がHレベルに上
がりにくい。
【0098】このような遅延回路16aは、図10に示
すようにノードN8にクロック信号が入力されている状
態では、インバータ回路15iの出力信号はLレベルに
下がらず、トランジスタTr15 が断続的にオンされるた
め、容量Cが充電されて、インバータ回路15jの入力
信号はHレベルに維持される。従って、ノードN9はL
レベルに維持される。
【0099】また、ノードN8がLレベルに固定されて
いるときも、同様にノードN9はLレベルに維持され
る。また、ノードN8がHレベルに固定されると、イン
バータ回路15iにより容量Cの充電電荷が転送ゲート
18を介して放電されて、インバータ回路15iの入力
信号レベルが徐々に低下する。従って、ノードN8の立
ち上がりから、所定の遅延時間後にノードN9がHレベ
ルに立ち上がるように設定されている。
【0100】前記ノードN7は、NチャネルMOSトラ
ンジスタTr13 と、PチャネルMOSトランジスタTr1
4 のゲートに接続される。前記トランジスタTr13 は、
インバータ回路15dを構成するNチャネルMOSトラ
ンジスタとグランドGNDとの間に接続され、前記トラ
ンジスタTr14 は前記インバータ回路15dの出力端
子、すなわちノードN11と電源Vccとの間に接続され
る。
【0101】前記ノードN11は、インバータ回路15
eの入力端子に接続され、同インバータ回路15eの出
力端子、すなわちノードN12は、前記遅延回路16a
と同一構成の遅延回路16bの入力端子に接続される。
【0102】前記遅延回路16bの出力端子、すなわち
ノードN13は、インバータ回路15fの入力端子に接
続され、同インバータ回路15fの出力端子、すなわち
ノードN14は前記インバータ回路15dの入力端子に
接続される。
【0103】前記ノード11は、Dフリップフロップ回
路17のクロック入力端子に接続され、同Dフリップフ
ロップ回路17の出力端子、すなわちノードN15は直
列に3段接続されたインバータ回路15gの入力端子に
接続される。
【0104】このインバータ回路15gは、初段と終段
のインバータ回路を構成するNチャネルMOSトランジ
スタのゲート幅を、同インバータ回路のPチャネルMO
Sトランジスタのゲート幅より大きくし、中間段のイン
バータ回路を構成するPチャネルMOSトランジスタの
ゲート幅をNチャネルMOSトランジスタのゲート幅よ
り大きくしている。
【0105】そして、ノードN15の立ち上がりに基づ
く遅延時間より、ノードN15の立ち下がりに基づく遅
延時間の方が長くなるように設定されている。前記イン
バータ回路15gの出力端子、すなわちノードN16
は、前記Dフリップフロップ回路17のデータ入力端子
に接続される。
【0106】また、前記ノードN15は2段のインバー
タ回路15hを介してクロック信号CLKとして出力さ
れる。次に、上記のように構成されたクロック信号生成
回路9の動作を図10に従って説明する。
【0107】パルス幅t8の外部クロック信号Cが入力
されると、インバータ回路15a及びトランジスタTr1
1 ,Tr12 の動作により、ノードN7は外部クロックC
の逆相信号となり、ノードN8はノードN7の逆相信号
となる。
【0108】ノードN8のパルス信号により、遅延回路
16aの容量Cは充電状態に維持され、ノードN9はL
レベルに固定される。ノードN9がLレベルに固定され
ると、ノードN10がHレベルに固定される。従って、
各ノードN7〜N10は、この状態で安定する。ノード
N7から外部クロックCと同周期のパルス信号が出力さ
れると、インバータ回路15dとトランジスタTr13 ,
Tr14 の動作により、ノードN11からノードN7の逆
相信号が出力され、ノードN12はノードN11の逆相
信号となる。
【0109】ノードN12からパルス信号が出力される
と、遅延回路16bの動作により、ノードN13はLレ
ベルに固定され、ノードN14はHレベルに固定され
る。従って、各ノードN11〜N14は、この状態で安
定する。
【0110】ノードN11のパルス信号がDフリップフ
ロップ回路17に出力されると、Dフリップフロップ回
路17はノードN11の立ち上がり毎に、ノードN16
の出力レベルをノードN15に出力する。
【0111】すなわち、ノードN11が立ち上がると、
ノードN16がHレベルであることから、ノードN15
がHレベルに立ち上がる。そして、ノードN15の立ち
上がりからインバータ回路15gによる遅延時間t9後
にノードN16が立ち下がる。
【0112】ノードN16が立ち下がると、次のノード
11の立ち上がりに基づいてノード15が立ち下がる。
そして、ノードN15の立ち下がりからインバータ回路
15gによる遅延時間t10後にノード16が立ち上が
る。この遅延時間t10は、前記遅延時間t9より十分
に長く、ノードN16がLレベルに維持されている間
は、ノードN15はノードN11の立ち上がりに関わら
ずLレベルとなる。
【0113】ノードN16がHレベルとなると、ノード
N11の立ち上がりに基づいてノードN15が立ち上が
り、上記動作が繰り返される。そして、ノードN15が
インバータ回路15hを介してクロック信号CLKとし
て出力される。
【0114】このような動作により、外部クロック信号
Cが入力されている状態では、クロック信号CLKのH
レベルのパルス幅は、外部クロック信号Cの1周期分と
なり、Lレベルのパルス幅はインバータ回路15gの遅
延時間t10により設定される。
【0115】従って、クロック信号CLKの周波数はイ
ンバータ回路15gの遅延時間により、前記データ生成
回路10及び転送信号生成回路11の動作に適した周波
数に設定される。
【0116】外部クロック信号CがLレベルに固定され
た状態で停止すると、ノードN7はHレベルに固定さ
れ、ノードN8,N9はLレベルに固定され、ノードN
10はHレベルに固定される。
【0117】また、ノードN11はLレベルに固定さ
れ、ノードN12はHレベルに固定される。すると、ノ
ードN13は遅延回路16bの遅延時間t11後にHレ
ベルに立ち上がり、その立ち上がりに基づいてノードN
14が立ち下がる。
【0118】すると、ノードN11が立ち上がり、ノー
ドN12が立ち下がってノードN13が立ち下がる。そ
して、ノードN14が立ち上がってノードN11が立ち
下がり、ノードN12が立ち上がる。そして、上記の動
作が繰り返される。このような動作により、ノードN1
1は遅延回路16bで設定された遅延時間t11毎に、
インバータ回路15d〜15fの動作遅延時間に基づく
パルス幅t12でHレベルとなるパルス信号を出力す
る。
【0119】ノードN11がHレベルに立ち上がると、
ノードN16はHレベルに復帰しているため、ノードN
15はHレベルに立ち上がり、クロック信号CLKがH
レベルに立ち上がる。
【0120】そして、ノードN11の次の立ち上がりに
基づいて、ノードN15が立ち下がり、クロック信号C
LKが立ち下がる。従って、外部クロック信号CがLレ
ベルに固定された状態で停止すると、クロック信号CL
Kは遅延回路16bの遅延時間t11毎に、立ち上がり
と立ち下がりを繰り返す信号となり、その周波数は外部
クロック信号Cが入力されている時のクロック信号CL
Kの周波数に比して、低周波数となる。
【0121】また、外部クロック信号CがHレベルに固
定された状態で停止すると、ノードN7はLレベルとな
り、ノードN8はHレベルとなる。すると、ノードN9
はノードN8の立ち上がりから遅延回路16aの遅延時
間t13後にHレベルとなる。ノードN9がHレベルと
なると、インバータ回路15c,15a,15b及び遅
延回路16aの動作により、ノードN7はインバータ回
路15c,15a,15bの動作遅延時間に基づくパル
ス幅t14でHレベルとなるパルス信号を出力する。そ
して、このパルス信号が遅延時間t13毎にノードN7
から出力される。
【0122】ノードN7がパルス幅t14でHレベルと
なると、ノードN11がその逆相信号を出力し、ノード
N12がノードN11の逆相信号を出力する。ノードN
12がパルス幅t14でHレベルとなっても、そのパル
ス幅t14は遅延回路16bの遅延時間t11に比して
十分に小さいため、ノードN13はLレベルに固定さ
れ、ノードN14はHレベルに固定される。
【0123】ノードN11がHレベルに立ち上がると、
ノードN16はHレベルに復帰しているため、ノードN
15はHレベルに立ち上がり、クロック信号CLKがH
レベルに立ち上がる。
【0124】そして、ノードN11の次の立ち上がりに
基づいて、ノードN15が立ち下がり、クロック信号C
LKが立ち下がる。従って、外部クロック信号CがHレ
ベルに固定された状態で停止すると、クロック信号CL
Kは遅延回路16bの遅延時間t13毎に、立ち上がり
と立ち下がりを繰り返す信号となり、その周波数は外部
クロック信号Cが入力されている時のクロック信号CL
Kの周波数に比して、低周波数となる。
【0125】上記のような動作により、インバータ回路
15aとトランジスタTr11 ,Tr12 とから構成される
NAND回路と、インバータ回路15b,15c及び遅
延回路16aとで、第一の発振回路が構成される。
【0126】そして、この発振回路は外部クロック信号
CがHレベルに固定されたとき、遅延回路16aの遅延
時間t13に基づく周期でパルス信号を出力する。ま
た、インバータ回路15dとトランジスタTr13 ,Tr1
4 とから構成されるNAND回路と、インバータ回路1
5e,15f及び遅延回路16bとで、第二の発振回路
が構成される。
【0127】そして、この発振回路は外部クロック信号
CがLレベルに固定されたとき、遅延回路16bの遅延
時間t11に基づく周期でパルス信号を出力する。ま
た、Dフリップフロップ回路17と、インバータ回路1
5gにより、周波数安定回路が構成され、その周波数安
定回路は、クロック信号CLKの周波数をインバータ回
路15gの遅延時間t10で設定するように動作する。
【0128】従って、このクロック信号生成回路9は、
外部クロック信号Cが入力されている状態では、周波数
安定回路の動作により同外部クロック信号Cに同期した
所定の周波数のクロック信号CLKを出力することがで
きる。
【0129】また、外部クロック信号CがHレベルに固
定された状態では、第一の発振回路の動作により遅延回
路16aの遅延時間t13に基づく周波数のクロック信
号CLKを出力することができる。
【0130】また、外部クロック信号CがLレベルに固
定された状態では、第二の発振回路の動作により遅延回
路16bの遅延時間t11に基づく周波数のクロック信
号CLKを出力することができる。
【0131】そして、外部クロック信号Cの入力が停止
されたときは、同外部クロック信号Cの立ち上がりある
いは立ち下がりから所定の遅延時間後にクロック信号C
LKがHレベルに立ち上げられるので、クロック信号C
LKを設定されたパルス幅で確実に出力することができ
る。また、クロック信号CLKにグリッヂが生じること
もない。 (第四の実施例)図11は、前記クロック信号生成回路
を構成する第一の発振回路の別例を示す。すなわち、イ
ンバータ回路15b,15c間に複数段の遅延回路16
aが直列に接続され、各遅延回路16aにインバータ回
路15bの出力信号がリセット信号として入力されてい
る。
【0132】このような構成により、遅延回路16aに
よる遅延時間を長くすることが可能であり、従って外部
クロック信号Cが入力されないときのクロック信号CL
Kの周波数を調整することができる。
【0133】また、第二の発振回路についても、同様に
遅延回路16bの段数を変更することができる。図12
は、前記遅延回路16aの別例を示す。この遅延回路
は、入力段のインバータ回路15kを構成するNチャネ
ルMOSトランジスタとグランドGNDとの間にNチャ
ネルMOSトランジスタTr16 が接続され、インバータ
回路15kの出力端子と電源Vccとの間にPチャネルM
OSトランジスタTr17 が接続される。
【0134】そして、前記トランジスタTr16 ,Tr17
に前記ノードN8がリセット信号として入力されて、イ
ンバータ回路15kとトランジスタTr16 ,Tr17 とで
論理積回路が構成される。
【0135】前記インバータ回路15kの出力端子は、
前記遅延回路16aと同一構成の転送ゲート18を介し
てインバータ回路15jの入力端子に接続される。この
ような構成により、ノードN8のHレベルへの立ち上が
りに基づくノードN9の立ち上がりが遅延し、ノードN
8がLレベルとなると、トランジスタTr17 のオン動作
により、ノードN9が直ちにLレベルとなる。従って、
前記遅延回路16aと同様な遅延回路を構成することが
できる。
【0136】また、前記遅延回路16a,16bでは、
転送ゲート18を抵抗として動作させたが、常時オン状
態に維持されるNチャネルMOSトランジスタあるいは
PチャネルMOSトランジスタを抵抗として動作させる
ようにしてもよい。 (第五の実施例)図13は図8に示すクロック信号生成
回路にEOR回路22を付加したものである。すなわ
ち、ノードN15を前記EOR回路22の一方の入力端
子に接続し、インバータ回路15hの出力端子が前記E
OR回路22の他方の入力端子に接続される。そして、
前記EOR回路22の出力端子からクロック信号CLK
が出力される。
【0137】このような構成により、クロック信号CL
Kの周波数はインバータ回路15hの出力信号周波数の
2倍となる。従って、フリップフロップ回路17の入力
信号として外部クロック信号Cと同一の周波数が入力さ
れると、クロック信号CLKの周波数は外部クロック信
号Cと同一周波数とすることができる。 (第六の実施例)図14は図8に示すクロック信号生成
回路を変形したものである。すなわち、外部クロック信
号CがEOR回路24の一方の入力端子に入力され、外
部クロック信号Cが奇数段のインバータ回路23を介し
てEOR回路24の他方の入力端子に入力される。
【0138】前記EOR回路24の出力端子はインバー
タ回路25の入力端子に入力され、同インバータ回路2
5の出力信号が図8に示すクロック信号生成回路の次段
の発振回路に入力される。
【0139】このような構成により、外部クロック信号
Cの立ち上がり及び立ち下がりに基づいて、インバータ
回路25の出力信号はインバータ回路23の遅延時間に
基づいてHレベル及びLレベルのパルス幅が設定され、
ノードN11の周波数は外部クロック信号Cの2倍とな
る。そして、Dフリップフロップ回路17とインバータ
回路15gの動作により、クロック信号CLKは外部ク
ロック信号Cと同一周波数となる。
【0140】また、外部クロック信号Cが遅延回路16
bの遅延時間より長い時間でHレベルあるいはLレベル
となると、インバータ回路25の出力信号はHレベルと
なり、ノードN11はインバータ回路15d〜15f及
び遅延回路16bの動作により発振する。そして、その
発振周波数に基づいてクロック信号CLKが出力され
る。
【0141】従って、この実施例は、外部クロック信号
Cの周波数がクロック信号CLKとして適当である場合
に有効であり、図8に示す初段の発振回路を省略して、
回路面積を縮小することができる。
【0142】上記実施例から把握できる請求項以外の技
術思想について、以下にその効果とともに記載する。 (1)一定周波数以上の入力信号をそのまま出力し、一
定周波数以下の入力信号が入力されたとき、あらかじめ
設定された周波数の発振信号を出力する発振回路と、前
記発振回路の出力信号に基づいて、所定の周波数以下の
出力信号を出力する周波数安定回路とからなるパルス信
号整形回路。出力信号の周期を一定以上に確保すること
ができる。
【0143】
【発明の効果】以上詳述したように、請求項1〜12の
発明では、入力信号に基づいて、所望のパルス幅の信号
を安定して生成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の原理説明図である。
【図2】 読み出しデータ出力部を示すブロック図であ
る。
【図3】 第一の実施例を示す回路図である。
【図4】 図3の動作を示すタイミング波形図である。
【図5】 第二の実施例を示す回路図である。
【図6】 図5の動作を示すタイミング波形図である。
【図7】 データ転送装置を示すブロック図である。
【図8】 第三の実施例を示す回路図である。
【図9】 遅延回路を示す回路図である。
【図10】図8の動作を示すタイミング波形図である。
【図11】第四の実施例を示す回路図である。
【図12】遅延回路の別例を示す回路図である。
【図13】第五の実施例を示す回路図である。
【図14】第六の実施例を示す回路図である。
【図15】第一の従来例を示す回路図である。
【図16】図15の動作を示すタイミング波形図であ
る。
【図17】第二の従来例を示すブロック図である。
【図18】図17の動作を示すタイミング波形図であ
る。
【図19】図17の動作を示すタイミング波形図であ
る。
【符号の説明】
19 入力回路 20 遅延回路 21 信号合成回路 IN 入力信号 OUT パルス信号

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力信号の変化を捉えて出力する入力回
    路と、 前記入力回路の出力信号を遅延させて出力する遅延回路
    と、 前記入力回路の出力信号と前記遅延回路の出力信号とが
    入力され、前記入力回路の出力信号に基づいて前記遅延
    回路の遅延時間に相当するパルス幅のパルス信号を出力
    する信号合成回路とを備えたことを特徴とするパルス信
    号整形回路。
  2. 【請求項2】 前記入力回路は複数の入力信号が入力さ
    れる否論理積回路で構成し、前記遅延回路は複数段のイ
    ンバータ回路で構成し、前記信号合成回路は前記入力回
    路の出力信号と前記遅延回路の出力信号とが入力される
    否論理積回路で構成したことを特徴とする請求項1記載
    のパルス信号整形回路。
  3. 【請求項3】 前記入力回路は一つの入力信号が入力さ
    れるインバータ回路で構成し、前記遅延回路は複数段の
    インバータ回路で構成し、前記信号合成回路は前記入力
    回路の出力信号と前記遅延回路の出力信号とが入力され
    る否論理積回路で構成したことを特徴とする請求項1記
    載のパルス信号整形回路。
  4. 【請求項4】 前記入力回路は一つの入力信号が入力さ
    れ、該入力信号の周波数があらかじめ設定された所定の
    周波数より高いとき、該入力信号を出力するとともに、
    該入力信号が前記所定の周波数より低いとき、該所定の
    周波数を出力する発振回路で構成し、前記遅延回路は複
    数段のインバータ回路で構成し、前記信号合成回路は前
    記発振回路の出力信号をクロック信号として入力し、出
    力信号を前記遅延回路を介して入力データとして入力す
    るDフリップフロップ回路で構成して、前記発振回路の
    出力信号の周波数と、前記遅延回路により設定される周
    波数のうち、低周波数の信号を出力することを特徴とす
    る請求項1記載のパルス信号整形回路。
  5. 【請求項5】 前記発振回路は、否論理積回路と複数段
    のインバータ回路を環状に接続し、前記否論理積回路に
    前記入力信号を入力し、入力される信号の立ち上がりを
    遅延させて出力する遅延回路を前記インバータ回路の間
    に介在させ、前記遅延回路の遅延時間を前記入力信号の
    パルス幅より大きく設定したことを特徴とする請求項4
    記載のパルス信号整形回路。
  6. 【請求項6】 前記発振回路は、第一の発振回路と第二
    の発振回路とからなる二段の発振回路を直列に接続し、
    前記第一の発振回路の否論理積回路に前記入力信号を入
    力し、前記第一の発振回路の否論理積回路の出力信号を
    前記第二の発振回路の否論理積回路に入力したことを特
    徴とする請求項4記載のパルス信号整形回路。
  7. 【請求項7】 前記遅延回路は、偶数段のインバータ回
    路と該遅延回路の入力信号がリセット信号として入力さ
    れるリセット回路とから構成し、該遅延回路の入力信号
    の立ち上がりに基づく出力信号の立ち上がりの遅延が大
    きく、該遅延回路の入力信号の立ち下がりに基づく出力
    信号の立ち下がりの遅延は前記リセット回路の動作によ
    り小さくなることを特徴とする請求項5記載のパルス信
    号整形回路。
  8. 【請求項8】 前記遅延回路は、Lレベルを出力しにく
    い初段のインバータ回路と、Hレベルを出力しにくい次
    段のインバータ回路と、前記リセット回路とから構成
    し、前記リセット回路は、次段のインバータ回路の入力
    端子と低電位側電源との間に接続される容量と、前記入
    力端子と高電位側電源との間に接続されるとともにゲー
    トに前記遅延回路の入力信号が入力されるPチャネルM
    OSトランジスタとから構成したことを特徴とする請求
    項7記載のパルス信号整形回路。
  9. 【請求項9】 前記遅延回路は、初段のインバータ回路
    を前記入力信号とリセット信号とが入力される否論理積
    回路で構成したことを特徴とする請求項7記載のパルス
    信号整形回路。
  10. 【請求項10】 前記発振回路は、入力信号があらかじ
    め設定された周期より長い時間でHレベルに維持された
    とき、前記周期の発振信号を出力し、前記周期より短い
    周期の入力信号は同一周期で出力する第一の発振回路
    と、入力信号があらかじめ設定された周期より長い時間
    でLレベルに維持されたとき、前記周期の発振信号を出
    力し、前記周期より短い周期の入力信号は同一周期で出
    力する第二の発振回路とから構成し、前記第一及び第二
    の発振回路の出力信号を前記Dフロップフロップ回路に
    入力したことを特徴とする請求項4記載のパルス信号整
    形回路。
  11. 【請求項11】 前記Dフリップフロップ回路の出力信
    号を排他的論理和回路の一方の入力端子に入力し、前記
    Dフリップフロップ回路の出力信号を偶数段のインバー
    タ回路を介して前記排他的論理和回路の他方の入力端子
    に入力し、前記排他的論理和回路から出力信号を出力す
    ることを特徴とする請求項4記載のパルス信号整形回
    路。
  12. 【請求項12】 前記入力信号を排他的論理和回路の一
    方の入力端子に入力し、前記入力信号を奇数段のインバ
    ータ回路を介して前記排他的論理和回路の他方の入力端
    子に入力し、前記排他的論理和回路の出力信号を前記第
    二の発振回路に入力したことを特徴とする請求項10記
    載のパルス信号整形回路。
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