JPH0818662A - Switch switching network test method and apparatus thereof - Google Patents
Switch switching network test method and apparatus thereofInfo
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- JPH0818662A JPH0818662A JP14361394A JP14361394A JPH0818662A JP H0818662 A JPH0818662 A JP H0818662A JP 14361394 A JP14361394 A JP 14361394A JP 14361394 A JP14361394 A JP 14361394A JP H0818662 A JPH0818662 A JP H0818662A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は交換機スイッチングネットワーク試
験方法及びその装置に関し、二重化ネットワークの一方
の交換機単体で二重化ネットワーク構成の試験を行うこ
とができると共に、擬似ネットワークを必要とせず、開
発工数が小さくて済むことを目的とする。
【構成】 試験される交換機(10a)の制御部(11
a)のスイッチングネットワーク(17a)から供給さ
れる運用予備指示信号を極性反転して上記試験される交
換機(10a)のライン・トランク部(12a)の自系
スイッチングネットワーク(17a)からのライン・ト
ランク制御ハイウェイと他系スイッチングネットワーク
(17b)からのライン・トランク制御ハイウェイとの
いずれかを選択する選択回路(20a)に供給する。
(57) [Summary] [Object] The present invention relates to an exchange switching network test method and apparatus thereof, and is capable of performing a duplicate network configuration test with one of the exchanges of a duplicate network alone, and without developing a pseudo network. The purpose is to reduce man-hours. [Structure] The control unit (11) of the exchange (10a) to be tested
Line trunk from the own switching network (17a) of the line trunk section (12a) of the exchange (10a) to be tested by inverting the polarity of the operation preliminary instruction signal supplied from the switching network (17a) of (a). It is supplied to a selection circuit (20a) for selecting either the control highway or the line / trunk control highway from the other system switching network (17b).
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は交換機スイッチングネッ
トワークを試験する試験方法及びその装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a test method and device for testing a switching switching network.
【0002】近年の情報通信におけるネットワークは、
従来の電話中心の音声ネットワークからコンピュータの
データを扱うコンピュータネットワークへと移行してき
ている。また、通信端末のマルチメディア化に伴って、
テレマーケッティング等の多様なサービスが実現される
ようになってきており、ネットワークの重要性は増して
きている。このような状況のなかで、情報通信ネットワ
ークにおけるその中核となる交換機には、従来以上の信
頼性が要求される。このため、交換機の主要な機能はす
べて、2つの装置を準備し(これを二重化という)、万
が一の故障時には予備の装置に切り換え、呼処理が止ま
らないようにしている。もちろん、音声/データをスイ
ッチングする交換機のネットワークも二重化されてい
る。Networks for information communication in recent years are
The conventional telephone-centered voice network is shifting to a computer network that handles computer data. In addition, with the development of multimedia communication terminals,
Various services such as telemarketing have come to be realized, and the importance of networks is increasing. Under such circumstances, the switching equipment, which is the core of the information communication network, is required to have higher reliability than before. For this reason, all the main functions of the exchange prepare two devices (this is called duplication) and switch to a standby device in case of a failure so that call processing does not stop. Of course, the network of exchanges for switching voice / data is also duplicated.
【0003】[0003]
【従来の技術】図8は交換機の二重化ネットワークの一
例のブロック図を示す。同図中、交換機10aは制御部
11aとライン・トランク(LT)部12aよりなる。
制御部11aには交換機全体を制御するCPU15a
と、局データを格納するディスク装置(DK)18a及
び保守コンソール19a等が接続された入出力制御装置
(IOU)16aと、スイッチングネットワーク(N
W)17aが設けられている。LT部12aにはライン
・トランク制御ハイウェイ選択回路(HWI)20a
と、ライン・トランク回路(L/T)21a,22aが
設けられている。交換機10bも同一構成であり、制御
部11bにはCPU15b,IOU16b,NW17b
が設けられ、LT部12bにはHWI20b,L/T2
1b,22bが設けられている。2. Description of the Related Art FIG. 8 shows a block diagram of an example of a duplex network of exchanges. In the figure, the exchange 10a comprises a control unit 11a and a line trunk (LT) unit 12a.
The control unit 11a includes a CPU 15a that controls the entire exchange.
An input / output control unit (IOU) 16a to which a disk device (DK) 18a for storing station data, a maintenance console 19a and the like are connected, and a switching network (N
W) 17a is provided. The LT section 12a includes a line / trunk control highway selection circuit (HWI) 20a.
And line trunk circuits (L / T) 21a and 22a are provided. The exchange 10b also has the same configuration, and the control unit 11b includes a CPU 15b, an IOU 16b, and an NW 17b.
Is provided in the LT unit 12b, and the HWI 20b and L / T2 are provided in the LT unit 12b.
1b and 22b are provided.
【0004】ここでは制御部11aと11b夫々のCP
U15a,15b,IOU16a,16b,NW17
a,17bが二重化されており、LT部12a,12b
は二重化ではなく交換機10a,10bに分散搭載され
ている。つまりLT部12a,12bは常に運転系の制
御部11a又は11bにより制御されて運用される。制
御部10a,12bはアクト・スタンバイ(ACT/*
SBY)信号で二重化し、運転系がACTで予備系がS
BYであり、故障発生時にはACT/*SBY信号が切
り替わり、呼処理が停止しない構成である。Here, the CPs of the control units 11a and 11b, respectively.
U15a, 15b, IOU16a, 16b, NW17
a and 17b are duplicated, and LT parts 12a and 12b
Are not redundant but are distributed and installed in the exchanges 10a and 10b. That is, the LT units 12a and 12b are always controlled and operated by the control unit 11a or 11b of the operating system. The control units 10a and 12b are act standby (ACT / *
SBY) signal is used for duplication, the operating system is ACT and the standby system is S
When the failure occurs, the ACT / * SBY signal is switched and the call processing is not stopped.
【0005】例えば交換機10aのCPU15aからは
IOU16a,NW17aに対してACT/*SBY信
号(“1”でACT,“0”でSBY)が送出され、自
系の状態を通知する。NW17aにおいてはACT/*
SBY信号によりACT時にのみ自系L/T制御ハイウ
ェイ23aを有効(活性化)とし、他系L/T制御ハイ
ウェイ24aに対してはACT/*SBY信号をACT
にして他系のHWI20b配下のL/T制御ハイウェイ
23bを制御する。他系LT部12bのHWI20bは
L/T制御ハイウェイ24aをLT部12bに引き込む
かどうかを選択する回路で、L/T制御ハイウェイ24
a情報内のACT/*SBY信号がACT時に引き込
み、LT部12bのL/T21b〜22bを制御部11
aのNW17aから制御可能とする。またLT部12a
のHWI20aはHWI20bと逆の状態となる。For example, the CPU 15a of the exchange 10a sends an ACT / * SBY signal (ACT at "1", SBY at "0") to the IOU 16a and NW 17a to notify the status of the own system. ACT / * for NW17a
The local L / T control highway 23a is enabled (activated) only during ACT by the SBY signal, and the ACT / * SBY signal is activated to the other system L / T control highway 24a.
Then, the L / T control highway 23b under the control of the HWI 20b of the other system is controlled. The HWI 20b of the other system LT unit 12b is a circuit for selecting whether or not to draw the L / T control highway 24a into the LT unit 12b.
The ACT / * SBY signal in the a information is pulled in at the time of ACT, and the L / T 21b to 22b of the LT unit 12b are connected to the control unit 11.
It can be controlled from the NW 17a of a. Also, the LT section 12a
HWI 20a is in the opposite state to HWI 20b.
【0006】従って交換機11aがACT系で、交換機
11bがSBY系のとき、NW17aは自系のL/T2
1a〜22aと他系のL/T21b〜22bを制御可能
である。このとき制御部11bのNW17bはSBYの
ため自系L/T制御ハイウェイ12bは無効となってお
り、HWI20bがNW17aからのL/T制御ハイウ
ェイ24bを引き込んでも影響はない。Therefore, when the exchange 11a is the ACT system and the exchange 11b is the SBY system, the NW 17a is the L / T2 of its own system.
1a to 22a and L / Ts 21b to 22b of other systems can be controlled. At this time, since the NW 17b of the control unit 11b is SBY, the own system L / T control highway 12b is invalid, and there is no effect even if the HWI 20b pulls in the L / T control highway 24b from the NW 17a.
【0007】従来、交換機の二重化ネットワークを試験
する方法として次の2つの方法があった。Conventionally, there have been the following two methods for testing a duplex network of exchanges.
【0008】図9は実際に交換機を二重化ネットワーク
構成として試験する方法である。同図中、試験装置30
はCPU15a,15bに接続されるテスタ制御部(T
CNT)31と、IOU16a,16bに接続されるテ
スタ入出力制御装置(IOT)32と、NW17a,1
7bの自系L/T制御ハイウェイ23a,23bに接続
される擬似ライン・トランク回路(PLT)33と、T
CNT31に接続された試験コンソール34とから構成
されている。FIG. 9 shows a method of actually testing the exchange as a duplicated network configuration. In the figure, a test device 30
Is a tester controller (T) connected to the CPUs 15a and 15b.
CNT) 31, a tester input / output controller (IOT) 32 connected to the IOUs 16a, 16b, and NWs 17a, 1
Pseudo line trunk circuit (PLT) 33 connected to the local L / T control highways 23a and 23b of 7b;
The test console 34 is connected to the CNT 31.
【0009】図10は二重化してないネットワーク構成
で他ネットワークとの接続インタフェース部に試験アダ
プタを接続して試験する方法である。同図中、試験装置
35はTCNT31と、IOT32と、PLT33と、
試験コンソール34と、NW17aの他系L/T制御ハ
イウェイ24aに接続される擬似ライン・トランク(P
LT)37と、擬似ネットワーク(PNW)38とから
構成されている。FIG. 10 shows a test method in which a test adapter is connected to a connection interface section with another network in a non-redundant network configuration. In the figure, the test apparatus 35 includes a TCNT 31, an IOT 32, a PLT 33, and
A pseudo line trunk (P) connected to the test console 34 and the other system L / T control highway 24a of the NW 17a.
It is composed of an LT) 37 and a pseudo network (PNW) 38.
【0010】[0010]
【発明が解決しようとする課題】図10の方法では、2
つの交換機を制御する必要があり、制御が複雑になる。
また常に2つの交換機分の試験スペースが必要になると
いう問題がある。According to the method of FIG.
It is necessary to control two exchanges, which makes the control complicated.
Further, there is a problem that a test space for two exchanges is always required.
【0011】また図11の方法では、試験装置35にH
WI20aを試験するための擬似ネットワーク(PN
W)38がNW17aと同等の機能を必要とするため、
テスタ35の機能が複雑となり、開発工数が大きくな
り、かつコストが高くなるという問題があった。Further, in the method shown in FIG.
Pseudo-network for testing WI20a (PN
W) 38 requires the same function as NW17a,
There is a problem that the function of the tester 35 becomes complicated, the number of development man-hours becomes large, and the cost becomes high.
【0012】本発明は上記の点に鑑みなされたもので、
二重化ネットワークの一方の交換機単体で二重化ネット
ワーク構成の試験を行うことができると共に、擬似ネッ
トワークを必要とせず、開発工数が小さくて済む交換機
スイッチングネットワーク試験方法及びその装置を提供
することを目的とする。The present invention has been made in view of the above points,
It is an object of the present invention to provide a switching network test method and apparatus capable of performing a dual network configuration test by using only one switch of a redundant network, requiring no pseudo network, and requiring less development man-hours.
【0013】[0013]
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明で
は、複数の交換機の制御部を二重化し、上記複数の交換
機のライン・トランク部を運転系の制御部により制御し
て運用する交換機の二重化ネットワークの交換機スイッ
チングネットワーク試験方法において、試験される交換
機の制御部のスイッチングネットワークから供給される
運用予備指示信号を極性反転して上記試験される交換機
のライン・トランク部の自系スイッチングネットワーク
からのライン・トランク制御ハイウェイと他系スイッチ
ングネットワークからのライン・トランク制御ハイウェ
イとのいずれかを選択する選択回路に供給する。According to a first aspect of the present invention, an exchange is provided in which the control units of a plurality of exchanges are duplicated and the line trunks of the plurality of exchanges are controlled and operated by a control unit of an operation system. In the switching network testing method of the switching network of the above-mentioned redundant network, the polarity of the operation preliminary instruction signal supplied from the switching network of the control unit of the switching system to be tested is reversed and the switching system of the line trunk section of the switching system to be tested Of the line / trunk control highway or the line / trunk control highway from the other switching network.
【0014】請求項2に記載の発明では、請求項1記載
の交換機スイッチングネットワーク試験方法において、
試験される交換機の制御部のスイッチングネットワーク
から供給されるハイウェイデータを極性反転して前記試
験される交換機のライン・トランク部の選択回路に供給
する。According to a second aspect of the invention, in the exchange switching network test method according to the first aspect,
The highway data supplied from the switching network of the control unit of the exchange to be tested is inverted in polarity and supplied to the selection circuit of the line trunk unit of the exchange to be tested.
【0015】請求項3に記載の発明では、複数の交換機
の制御部を二重化し、上記複数の交換機のライン・トラ
ンク部を運転系の制御部により制御して運用する交換機
の二重化ネットワークの交換機スイッチングネットワー
ク試験装置において、試験される交換機の制御部のスイ
ッチングネットワークから供給される運用予備指示信号
を極性反転して上記試験される交換機のライン・トラン
ク部の自系スイッチングネットワークからのライン・ト
ランク制御ハイウェイと他系スイッチングネットワーク
からのライン・トランク制御ハイウェイとのいずれかを
選択する選択回路に供給するデータ折り返しカードを有
する。According to a third aspect of the present invention, the control units of a plurality of exchanges are duplicated, and the line / trunk portions of the plurality of exchanges are controlled and operated by the control unit of the operating system. In the network test equipment, the polarity of the preliminary operation instruction signal supplied from the switching network of the control unit of the exchange to be tested is inverted, and the line trunk control highway from the own switching network of the line trunk of the exchange to be tested is switched. And a data loopback card for supplying to a selection circuit for selecting one of a line trunk control highway from another switching network.
【0016】請求項4に記載の発明では、請求項3記載
の交換機スイッチングネットワーク試験装置において、
前記データ折り返しカードは、試験される交換機の制御
部のスイッチングネットワークから供給されるハイウェ
イデータを極性反転して前記試験される交換機のライン
・トランク部の選択回路に供給する。According to the invention described in claim 4, in the exchange switching network test device according to claim 3,
The data loopback card reverses the polarity of the highway data supplied from the switching network of the control unit of the exchange to be tested and supplies it to the selection circuit of the line trunk unit of the switch to be tested.
【0017】請求項5に記載の発明では、請求項4記載
の交換機スイッチングネットワーク試験装置において、
前記データ折り返しカードの代りに、試験される交換機
に、他系ライン・トランク制御ハイウェイから供給され
る運用予備指示信号及びハイウェイデータを直接又は極
性反転して選択回路に供給する試験回路を有する。According to a fifth aspect of the present invention, in the exchange switching network test apparatus according to the fourth aspect,
Instead of the data return card, the exchange to be tested has a test circuit for supplying the operation reserve instruction signal and highway data supplied from the other system line / trunk control highway directly or with polarity inversion to the selection circuit.
【0018】[0018]
【作用】請求項1に記載の発明においては、運用予備指
示信号を極性判定して試験される交換機の選択回路に供
給するため、二重化ネットワークの一方の試験される交
換機だけを試験できると共に、試験装置に擬似ネットワ
ークを設ける必要がなくなる。In the invention described in claim 1, since the operation preliminary instruction signal is polarity-determined and supplied to the selection circuit of the exchange to be tested, only one of the exchanges to be tested of the duplex network can be tested and Eliminating the need for a pseudo network on the device.
【0019】請求項2に記載の発明においては、ハイウ
ェイデータを極性反転して選択回路に供給するため、系
切り換え障害等によるライン・トランク制御ハイウェイ
の衝突を検出することが可能となる。According to the second aspect of the invention, since the highway data is inverted in polarity and supplied to the selection circuit, it is possible to detect a collision of the line / trunk control highway due to a system switching failure or the like.
【0020】請求項3に記載の発明においては、運用予
備指示信号の極性反転を行うデータ折り返しカードを有
しているため、請求項1の発明を実現できる。According to the third aspect of the invention, since the data folding card for inverting the polarity of the operation preliminary instruction signal is provided, the invention of the first aspect can be realized.
【0021】請求項4に記載の発明においては、データ
折り返しカードでハイウェイデータの極性反転を行うた
め、請求項2の発明を実現できる。According to the fourth aspect of the invention, the polarity of the highway data is reversed by the data loopback card, so that the invention of the second aspect can be realized.
【0022】請求項5に記載の発明においては、試験さ
れる交換機に試験回路を持つため、試験装置にデータ折
り返しカードを設ける必要がなくなる。In the fifth aspect of the invention, since the exchange to be tested has the test circuit, it is not necessary to provide the data loopback card in the test device.
【0023】[0023]
【実施例】図1は本発明の試験装置の一実施例のブロッ
ク図を示す。同図中、試験装置40は被試験装置である
交換機10aのCPU15aに接続されるテスタ制御部
(TCNT)41と、IOU16aに接続されるテスタ
入出力制御装置(IOT)42と、NW17aの自系L
/T制御ハイウェイ12aに接続されてNW17aのス
イッチング試験を行う擬似ライン・トランク回路(PL
T)43と、データ折り返しカード(HWLP)45と
TCNT41に接続された試験コンソール44とから構
成されている。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 shows a block diagram of an embodiment of the test apparatus of the present invention. In the figure, the test apparatus 40 includes a tester control unit (TCNT) 41 connected to the CPU 15a of the exchange 10a, which is the device under test, a tester input / output control apparatus (IOT) 42 connected to the IOU 16a, and the own system of the NW 17a. L
/ T control highway 12a connected to pseudo line trunk circuit (PL
T) 43, a data loopback card (HWLP) 45, and a test console 44 connected to the TCNT 41.
【0024】図2は交換機10aをACTとしたときの
試験ルートを示す。この場合はTCNT41よりCPU
15aを制御してCPU15aからIOU16a,NW
17aに供給するACT/*SBY信号をACT
(“1”)とする。これにより、PLT43でNW17
aの自系L/T制御ハイウェイ23aを制御すると共
に、HWLP45でNW17aの他系L/T制御ハイウ
ェイ24a1 を制御してNW17aのスイッチング機能
試験を行う。FIG. 2 shows a test route when the exchange 10a is set to ACT. In this case, CPU from TCNT41
15a by controlling CPU 15a to IOU 16a, NW
ACT / * SBY signal supplied to 17a
("1"). As a result, the PLT43 is used for NW17
While controlling the self-system L / T control highway 23a of a, the HWLP 45 controls the other system L / T control highway 24a 1 of the NW 17a to perform a switching function test of the NW 17a.
【0025】図3は交換機10aをSBYとしたときの
試験ルートを示す。この場合はTCNT41よりCPU
15aを制御してCPU15aからIOU16a,NW
17aに供給する運用予備指示信号であるACT/*S
BY信号をSBY(“0”)とする。これにより、NW
17aの自系L/T制御ハイウェイ23aは無効となっ
ている。この状態でNW17aの他系L/T制御ハイウ
ェイ24a1 をHWLP45で折り返して選択回路とし
てのHWI20aに接続し、HWI20aを自系L/T
制御ハイウェイ23aよりPLT43に接続して、HW
I20aの機能試験を行なう。この場合、NW17aか
らの他系L/T制御ハイウェイ24a1上のACT/*
SBY信号はSBY(“0”)であるのでHWLP45
内で反転してACT(“1”)としてHWI20aに供
給し、これによりHWI20aは他系L/T制御ハイウ
ェイ24a2 を自系に引き込み可能となり、機能試験が
可能となる。FIG. 3 shows a test route when the exchange 10a is SBY. In this case, CPU from TCNT41
15a by controlling CPU 15a to IOU 16a, NW
ACT / * S which is an operation preliminary instruction signal supplied to 17a
The BY signal is set to SBY (“0”). By this, NW
The local L / T control highway 23a of 17a is invalid. In this state, the other system L / T control highway 24a 1 of the NW 17a is folded back by the HWLP 45 and connected to the HWI 20a as a selection circuit, and the HWI 20a is connected to the own system L / T.
Connect to PLT43 from control highway 23a
Perform functional test of I20a. In this case, ACT / * on the other system L / T control highway 24a 1 from the NW 17a
Since the SBY signal is SBY (“0”), HWLP45
It is inverted inside and is supplied as ACT (“1”) to the HWI 20a, whereby the HWI 20a can draw the other system L / T control highway 24a 2 into its own system and a functional test can be performed.
【0026】図4はPLT43のブロック図を示す。同
図中、インタフェース部50はTCNT41に接続さ
れ、インタフェース部51は被試験装置のNW17aの
自系L/T制御ハイウェイ23aに接続されている。P
LT43はスイッチングネットワーク試験回路としての
メモリ(MEM)52及び制御部(CTL)53を有し
ており、インタフェース部51からハイウェイデータH
WD,フレームクロック(周波数8kHZ)FC,サン
プリングクロック(周波数2MHZ)CLK,ACT/
*SBY信号が制御部53に供給され、また制御部53
よりハイウェイデータHWDをインタフェース部51を
介して自系L/T制御ハイウェイ23aに供給する。FIG. 4 shows a block diagram of the PLT 43. In the figure, the interface unit 50 is connected to the TCNT 41, and the interface unit 51 is connected to the own system L / T control highway 23a of the NW 17a of the device under test. P
The LT 43 has a memory (MEM) 52 as a switching network test circuit and a control unit (CTL) 53, and the highway data H from the interface unit 51.
WD, frame clock (frequency 8 kHz) FC, sampling clock (frequency 2 MHZ) CLK, ACT /
* SBY signal is supplied to the control unit 53, and the control unit 53
Further, the highway data HWD is supplied to the own system L / T control highway 23a via the interface section 51.
【0027】制御部53はインタフェース部51のハイ
ウェイにハイウェイデータの送受信を制御し、メモリ5
2にはハイウェイデータが記憶される。試験装置40の
TCNT41によってメモリ52に書かれた送信データ
は制御部53によってインタフェース部51から自系L
/T制御ハイウェイ23aに送信される。またインタフ
ェース部51から制御部53に供給されたハイウェイデ
ータはメモリ部52に蓄積され、TCNT41によって
読み出すことができる。NW17aの試験においては、
試験データをメモリ52に書き込み、制御部53経由で
NW17aに送信し、NW17aのスイッチング機能に
よりスイッチングされたデータを受信してメモリ部52
に蓄積し、送信データと受信データとの照会を行う。The control unit 53 controls transmission / reception of highway data to / from the highway of the interface unit 51, and the memory 5
Highway data is stored in 2. The transmission data written in the memory 52 by the TCNT 41 of the test apparatus 40 is transmitted from the interface unit 51 to the local system L by the control unit 53.
/ T control highway 23a. The highway data supplied from the interface unit 51 to the control unit 53 is stored in the memory unit 52 and can be read by the TCNT 41. In the test of NW17a,
The test data is written in the memory 52, transmitted to the NW 17a via the control unit 53, the data switched by the switching function of the NW 17a is received, and the memory unit 52 is received.
The data is stored in and is inquired of the transmission data and the reception data.
【0028】図5はHWLP45のブロック図を示す。
同図中、インタフェース部60はTCNT41に接続さ
れ、インタフェース部61は被試験装置のNW17aの
他系L/T制御ハイウェイ24a1 に接続されインタフ
ェース部62はHWI20aに接続されている。HWL
P45はスイッチングネットワーク試験回路としてのメ
モリ(MEM)63及び制御部(CTL)64及び折り
返し回路65を有しており、インタフェース部61から
ハイウェイデータHWD,フレームクロック(周波数8
kHZ)FC,サンプリングクロック(周波数2MH
Z)CLK,ACT/*SBY信号が制御部64及び折
り返し回路65に供給され、また制御部64よりハイウ
ェイデータHWDをインタフェース部61を通してNW
17aに供給する。また折り返し回路65からインタフ
ェース部62を通してHWI20aに供給する。FIG. 5 shows a block diagram of the HWLP 45.
In the figure, the interface unit 60 is connected to the TCNT 41, the interface unit 61 is connected to the other system L / T control highway 24a 1 of the NW 17a of the device under test, and the interface unit 62 is connected to the HWI 20a. HWL
The P45 has a memory (MEM) 63 as a switching network test circuit, a control unit (CTL) 64, and a loopback circuit 65. The interface unit 61 outputs highway data HWD, a frame clock (frequency 8).
kHZ) FC, sampling clock (frequency 2MH
Z) CLK and ACT / * SBY signals are supplied to the control unit 64 and the folding circuit 65, and the control unit 64 sends highway data HWD to the NW through the interface unit 61.
Supply to 17a. Further, it is supplied from the folding circuit 65 to the HWI 20a through the interface section 62.
【0029】折り返し回路65はインタフェース部61
から供給されるハイウェイデータHWD及びACT/*
SBY信号夫々を反転し、またフレームクロックFC及
びサンプリングクロックCLKを反転することなくイン
タフェース部62より出力する。The folding circuit 65 is the interface unit 61.
Highway data HWD and ACT / * supplied from
The SBY signals are inverted, and the frame clock FC and the sampling clock CLK are output from the interface unit 62 without being inverted.
【0030】制御部64はインタフェース部61とのハ
イウェイデータの送受信を制御し、メモリ63にはハイ
ウェイデータが記憶される。試験装置40のTCNT4
1によってメモリ63に書かれた送信データは制御部6
4によってインタフェース部61から他系L/T制御ハ
イウェイ24a1 に送信される。またインタフェース部
61から制御部64に供給されたハイウェイデータはメ
モリ部63に蓄積され、TCNT41によって読み出す
ことができる。NW17aの試験においては、試験デー
タをメモリ部63に書き込み、制御部64経由でNW1
7aに送信し、NW17aのスイッチング機能によりス
イッチングされたデータを受信してメモリ部63に蓄積
し、送信データと受信データとの照合を行う。The control unit 64 controls transmission / reception of highway data to / from the interface unit 61, and the memory 63 stores the highway data. Test device 40 TCNT4
The transmission data written in the memory 63 by the controller 1 is
4 from the interface unit 61 to the other system L / T control highway 24a 1 . The highway data supplied from the interface unit 61 to the control unit 64 is accumulated in the memory unit 63 and can be read by the TCNT 41. In the test of the NW17a, the test data is written in the memory unit 63, and the NW1 is sent via the control unit 64.
7a, receives the data switched by the switching function of the NW 17a, stores the data in the memory unit 63, and collates the transmission data with the reception data.
【0031】折り返し回路65でACT/*SBY信号
を反転するのはNW17aが自系L/T制御ハイウェイ
23aを無効とした状態でHWI20aに他系L/T制
御ハイウェイ24a2 からハイウェイデータを供給でき
る状態とするためである。これによって単一の交換機1
0aを試験装置40に接続することで、交換機10aを
二重化ネットワーク構成とした場合を擬似した試験が可
能となる。The folding circuit 65 inverts the ACT / * SBY signal is that the NW 17a can supply the highway data from the other system L / T control highway 24a 2 to the HWI 20a while the own system L / T control highway 23a is disabled. This is to make it a state. This allows a single exchange 1
By connecting 0a to the test apparatus 40, a test simulating the case where the exchange 10a has a duplex network configuration becomes possible.
【0032】また、折り返し回路65でハイウェイデー
タHWDを反転しているのは、交換機10aの系切り換
え障害等によってCPU15aがSBYとしたにも拘ら
ず自系L/T制御ハイウェイ23aが無効となってない
状態で、自系L/T制御ハイウェイ23aと、HWI2
0aが引き込んだ他系L/T制御ハイウェイ24a2が
衝突している場合に、これを検出するためである。Further, the reason why the highway data HWD is inverted by the loopback circuit 65 is that the self-system L / T control highway 23a becomes invalid despite the fact that the CPU 15a has made SBY due to a system switching failure of the exchange 10a. When there is no L / T control highway 23a and HWI2
This is to detect the collision of the other system L / T control highway 24a 2 pulled in by 0a.
【0033】例えばNW17aからHWLP45に供給
されるハイウェイデータが“55h”(hはヘキサディ
ジマル)である場合、HWLP45からHWI20aに
はハイウェイデータ“AAh”が供給され、このハイウ
ェイデータ“AAh”が自系L/T制御ハイウェイ23
aからPLT43に供給されるはずであり、HWLP4
5,PLT43夫々に供給されたハイウェイデータをT
CNT41でアンド演算すれば、“00h”となるはず
である。しかるにアンド演算の結果が“00h”となら
ない場合にはNW17aの系切り換え障害有りと判定で
きる。For example, when the highway data supplied from the NW 17a to the HWLP 45 is "55h" (h is hexadecimal), the highway data "AAh" is supplied from the HWLP 45 to the HWI 20a, and the highway data "AAh" is supplied by itself. System L / T control highway 23
a should be supplied to PLT43, and HWLP4
5, the highway data supplied to the PLT 43 respectively
If the AND operation is performed by the CNT 41, it should be "00h". However, if the result of the AND operation is not "00h", it can be determined that there is a system switching failure in the NW 17a.
【0034】図6は被試験装置である交換機10aに試
験回路を設けた本発明装置の応用例のブロック図を示
す。同図中、交換機10aのHWI20aには後述の試
験回路26が設けられている。試験装置46はTCNT
41と、IOT42と、PLT43と、試験コンソール
44とから構成され、図1に示す試験装置40からHW
LP45を除去した構成である。この場合はTCNT4
1とCPU15aとを接続し、IOT42とIOU16
aとを接続し、PLT43とNW17aの自系L/T制
御ハイウェイ23aとを接続し、NW17aの他系L/
T制御ハイウェイ24aをHWI20aの試験回路26
に接続して試験を行う。FIG. 6 is a block diagram of an application example of the device of the present invention in which a test circuit is provided in the exchange 10a which is the device under test. In the figure, the HWI 20a of the exchange 10a is provided with a test circuit 26 described later. The test device 46 is TCNT
41, an IOT 42, a PLT 43, and a test console 44. The test device 40 shown in FIG.
This is a configuration in which LP45 is removed. In this case TCNT4
1 and the CPU 15a are connected to each other, and the IOT 42 and the IOU 16 are connected.
a, the PLT 43 and the own system L / T control highway 23a of the NW 17a are connected, and the other system L / T of the NW 17a is connected.
The T control highway 24a is connected to the test circuit 26 of the HWI 20a.
Connect to and test.
【0035】試験回路26は図7に示す如く、端子70
に他系L/T制御ハイウェイ24aより入来するハイウ
ェイデータHWDを直接又は反転して端子71からHW
I20aに供給するスイッチ72と、端子73,74夫
々を介して他系L/T制御ハイウェイ24aより入来す
るフレームクロックFC、サンプリングクロックCLK
を直接端子75,76夫々からHWI20aに供給する
配線と、端子77に他系L/T制御ハイウェイ24aよ
り入来するACT/*SBY信号を直接又は反転して端
子78からHWI20aに供給するスイッチ79とより
構成されている。The test circuit 26, as shown in FIG.
The highway data HWD coming from the other system L / T control highway 24a is directly or inverted and the HW from the terminal 71
The frame clock FC and the sampling clock CLK coming from the other system L / T control highway 24a via the switch 72 supplied to the I20a and the terminals 73 and 74, respectively.
To the HWI 20a directly from the terminals 75 and 76, and a switch 79 for directly or inverting the ACT / * SBY signal coming from the other system L / T control highway 24a to the terminal 77 and supplying it from the terminal 78 to the HWI 20a. It is composed of
【0036】試験装置46による試験時には、上記のス
イッチ72,79夫々は反転したハイウェイデータHW
D,ACT/*SBY夫々を選択し、通常の交換業務時
には反転してないハイウェイデータHWD,ACT/*
SBY信号夫々を選択する。At the time of the test by the test device 46, the above switches 72 and 79 are the inverted highway data HW.
Highway data HWD, ACT / * that is not inverted during normal exchange operations by selecting D, ACT / * SBY respectively
Select each SBY signal.
【0037】つまり試験回路26は試験時において、図
5に示すHWLP45の折り返し回路65と同様の動作
を行う。HWLP45はPLT43に折り返し回路62
を追加した構成であるため、HWI20aに試験回路2
6を追加することにより、試験装置46からHWLP4
5を除去することが可能となる。なお、HWLP45内
のメモリ63及び制御部64の動作は、PLT43のメ
モリ52及び制御部53によって行う。That is, the test circuit 26 performs the same operation as the folding circuit 65 of the HWLP 45 shown in FIG. 5 during the test. The HWLP 45 is connected to the PLT 43 and a loopback circuit 62.
The test circuit 2 is added to the HWI 20a because
By adding 6 from the test equipment 46 to HWLP4
5 can be removed. The operation of the memory 63 and the control unit 64 in the HWLP 45 is performed by the memory 52 and the control unit 53 of the PLT 43.
【0038】[0038]
【発明の効果】上述の如く、請求項1に記載の発明によ
れば、運用予備指示信号を極性判定して試験される交換
機の選択回路に供給するため、二重化ネットワークの一
方の試験される交換機だけを試験できると共に、試験装
置に擬似ネットワークを設ける必要がなくなる。As described above, according to the invention as set forth in claim 1, since the operation preliminary instruction signal is supplied to the selection circuit of the exchange to be tested after determining the polarity, one of the exchanges to be tested of the duplex network is tested. It is not necessary to provide a pseudo network in the test equipment while testing only the above.
【0039】また、請求項2に記載の発明によれば、ハ
イウェイデータを極性反転して選択回路に供給するた
め、系切り換え障害等によるライン・トランク制御ハイ
ウェイの衝突を検出することが可能となる。According to the second aspect of the present invention, since the highway data is inverted in polarity and supplied to the selection circuit, it is possible to detect the collision of the line / trunk control highway due to a system switching failure or the like. .
【0040】また、請求項3に記載の発明によれば、運
用予備指示信号の極性反転を行うデータ折り返しカード
を有しているため、請求項1の発明を実現できる。According to the third aspect of the invention, since the data folding card for inverting the polarity of the operation preliminary instruction signal is provided, the invention of the first aspect can be realized.
【0041】また、請求項4に記載の発明によれば、デ
ータ折り返しカードでハイウェイデータの極性反転を行
うため、請求項2の発明を実現できる。According to the invention described in claim 4, the polarity of the highway data is reversed by the data loopback card, so that the invention of claim 2 can be realized.
【0042】また、請求項5に記載の発明によれば、試
験される交換機に試験回路を持つため、試験装置にデー
タ折り返しカードを設ける必要がなくなり、実用上きわ
めて有用である。Further, according to the invention described in claim 5, since the exchange to be tested has a test circuit, it is not necessary to provide a data return card in the test apparatus, which is extremely useful in practice.
【図1】本発明装置のブロック図である。FIG. 1 is a block diagram of a device of the present invention.
【図2】ACT時の試験ルートを示す図である。FIG. 2 is a diagram showing a test route during ACT.
【図3】SBY時の試験ルートを示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a test route during SBY.
【図4】PLTのブロック図である。FIG. 4 is a block diagram of a PLT.
【図5】HWLPのブロック図である。FIG. 5 is a block diagram of HWLP.
【図6】本発明装置の応用例のブロック図である。FIG. 6 is a block diagram of an application example of the device of the present invention.
【図7】試験回路の回路図である。FIG. 7 is a circuit diagram of a test circuit.
【図8】交換機の二重化ネットワークのブロック図であ
る。FIG. 8 is a block diagram of a redundant network of exchanges.
【図9】従来の二重化ネットワーク試験構成図である。FIG. 9 is a diagram of a conventional duplex network test configuration.
【図10】従来の二重化ネットワーク試験構成図であ
る。FIG. 10 is a conventional duplex network test configuration diagram.
10a,10b 交換機 15a,15b CPU 16a,16b IOU 17a,17b NW 20a,20b HWI 21a,21b,22a,22b L/T 40,46 試験装置 41 TCNT 42 IOT 43 PLT 45 HWLP 10a, 10b Switch 15a, 15b CPU 16a, 16b IOU 17a, 17b NW 20a, 20b HWI 21a, 21b, 22a, 22b L / T 40, 46 Test apparatus 41 TCNT 42 IOT 43 PLT 45 HWLP
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 土橋 勇 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内 (72)発明者 佐藤 真一 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内 (72)発明者 小野口 誠司 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内 (72)発明者 細井 勝 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Isamu Dobashi 1015 Kamiodanaka, Nakahara-ku, Kawasaki City, Kanagawa Prefecture, Fujitsu Limited (72) Inventor Shinichi Sato, 1015, Kamikodanaka, Nakahara-ku, Kawasaki, Kanagawa Prefecture, Fujitsu Limited ( 72) Inventor Seiji Onoguchi 1015 Kamiodanaka, Nakahara-ku, Kawasaki City, Kanagawa Prefecture, Fujitsu Limited (72) Inventor Masaru Hosoi, 1015, Kamiodanaka, Nakahara-ku, Kawasaki City, Kanagawa Prefecture, Fujitsu Limited
Claims (5)
部(11a,11b)を二重化し、上記複数の交換機の
ライン・トランク部(12a,12b)を運転系の制御
部により制御して運用する交換機の二重化ネットワーク
の交換機スイッチングネットワーク試験方法において、 試験される交換機(10a)の制御部(11a)のスイ
ッチングネットワーク(17a)から供給される運用予
備指示信号を極性反転して上記試験される交換機(10
a)のライン・トランク部(12a)の自系スイッチン
グネットワーク(17a)からのライン・トランク制御
ハイウェイと他系スイッチングネットワーク(17b)
からのライン・トランク制御ハイウェイとのいずれかを
選択する選択回路(20a)に供給することを特徴とす
る交換機スイッチングネットワーク試験方法。1. The control units (11a, 11b) of a plurality of exchanges (10a, 10b) are duplicated, and the line trunks (12a, 12b) of the plurality of exchanges are controlled by a control unit of an operation system for operation. In the switch switching network test method of the redundant network of the switch to be tested, the switch to be tested by inverting the polarity of the operation preliminary instruction signal supplied from the switching network (17a) of the control unit (11a) of the switch (10a) to be tested. (10
Line trunk control highway from the local switching network (17a) of the line trunk section (12a) of a) and other switching network (17b)
A switching switching network test method, which comprises supplying a selection circuit (20a) for selecting one of a line trunk control highway from the above.
トワーク試験方法において、 試験される交換機(10a)の制御部(11a)のスイ
ッチングネットワーク(17a)から供給されるハイウ
ェイデータを極性反転して前記試験される交換機(10
a)のライン・トランク部(12a)の選択回路(20
a)に供給することを特徴とする交換機スイッチングネ
ットワーク試験方法。2. The exchange switching network test method according to claim 1, wherein the highway data supplied from the switching network (17a) of the control unit (11a) of the exchange (10a) to be tested is polarity-inverted and tested. Switch (10
(a) Line trunk section (12a) selection circuit (20)
A switching switching network test method characterized by supplying to a).
部(11a,11b)を二重化し、上記複数の交換機の
ライン・トランク部(12a,12b)を運転系の制御
部により制御して運用する交換機の二重化ネットワーク
の交換機スイッチングネットワーク試験装置において、 試験される交換機(10a)の制御部(11a)のスイ
ッチングネットワーク(17a)から供給される運用予
備指示信号を極性反転して上記試験される交換機(10
a)のライン・トランク部(12a)の自系スイッチン
グネットワーク(17a)からのライン・トランク制御
ハイウェイと他系スイッチングネットワーク(17b)
からのライン・トランク制御ハイウェイとのいずれかを
選択する選択回路(20a)に供給するデータ折り返し
カード(45)を有することを特徴とする交換機スイッ
チングネットワーク試験装置。3. The control sections (11a, 11b) of a plurality of exchanges (10a, 10b) are duplicated, and the line trunk sections (12a, 12b) of the plurality of exchanges are controlled by an operating system control section for operation. In a switch switching network test device for a redundant network of switches to be tested, the switch to be tested by inverting the polarity of an operation preliminary instruction signal supplied from the switching network (17a) of the control unit (11a) of the switch (10a) to be tested. (10
Line trunk control highway from the local switching network (17a) of the line trunk section (12a) of a) and other switching network (17b)
A switch switching network test device having a data loopback card (45) for supplying to a selection circuit (20a) for selecting one of the line trunk control highway from the above.
トワーク試験装置において、 前記データ折り返しカード(45)は、試験される交換
機(10a)の制御部(11a)のスイッチングネット
ワーク(17a)から供給されるハイウェイデータを極
性反転して前記試験される交換機(10a)のライン・
トランク部(12a)の選択回路(20a)に供給する
ことを特徴とする交換機スイッチングネットワーク試験
装置。4. The exchange switching network test apparatus according to claim 3, wherein the data loopback card (45) is a highway supplied from a switching network (17a) of a control unit (11a) of the exchange (10a) to be tested. The line of the exchange (10a) to be tested by reversing the polarity of the data
An exchange switching network test device, characterized in that it is supplied to a selection circuit (20a) of a trunk portion (12a).
トワーク試験装置において、 前記データ折り返しカード(45)の代りに、試験され
る交換機(10a)に、他系ライン・トランク制御ハイ
ウェイから供給される運用予備指示信号及びハイウェイ
データを直接又は極性反転して選択回路(20a)に供
給する試験回路(26)を有することを特徴とする交換
機スイッチングネットワーク試験装置。5. The exchange switching network test device according to claim 4, wherein instead of the data loopback card (45), the exchange (10a) to be tested is supplied with an operation reserve supplied from another line / trunk control highway. An exchange switching network test apparatus having a test circuit (26) for supplying an instruction signal and highway data to the selection circuit (20a) directly or by inverting the polarity.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14361394A JPH0818662A (en) | 1994-06-24 | 1994-06-24 | Switch switching network test method and apparatus thereof |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14361394A JPH0818662A (en) | 1994-06-24 | 1994-06-24 | Switch switching network test method and apparatus thereof |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0818662A true JPH0818662A (en) | 1996-01-19 |
Family
ID=15342817
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14361394A Withdrawn JPH0818662A (en) | 1994-06-24 | 1994-06-24 | Switch switching network test method and apparatus thereof |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0818662A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100297590B1 (en) * | 1998-09-18 | 2001-08-07 | 서평원 | Path test method of switch network at exchange |
-
1994
- 1994-06-24 JP JP14361394A patent/JPH0818662A/en not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| KR100297590B1 (en) * | 1998-09-18 | 2001-08-07 | 서평원 | Path test method of switch network at exchange |
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