JPH08197122A - 伸び率検出装置 - Google Patents
伸び率検出装置Info
- Publication number
- JPH08197122A JPH08197122A JP7007314A JP731495A JPH08197122A JP H08197122 A JPH08197122 A JP H08197122A JP 7007314 A JP7007314 A JP 7007314A JP 731495 A JP731495 A JP 731495A JP H08197122 A JPH08197122 A JP H08197122A
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- JP
- Japan
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- elongation rate
- value
- elongation
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- Control Of Metal Rolling (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】上記伸び率検出の遅れが小さい、伸び率検出装
置を提供することを目的とする。 【構成】調質圧延機１の入側及び出側にそれぞれブライ
ドルロール２，３が配設される。各ブライドルロール
２，３にパルスジェネレータ４，５がそれぞれ設けられ
る。パルスジェネレータ４，５は、それぞれのパルス信
号を伸び率演算器６に供給する。伸び率演算器６は、サ
ンプリング時間間隔毎に伸び率を演算し、演算値の応じ
た演算信号を伸び率予測演算器７に供給すると共に伸び
率記憶装置８に供給する。伸び率予測演算器７は、伸び
率演算器６から現在の伸び率演算値を入力すると共に伸
び率記憶装置８から１サンプル前及び２サンプル前の各
伸び率演算値を入力して予測値を求める。
置を提供することを目的とする。 【構成】調質圧延機１の入側及び出側にそれぞれブライ
ドルロール２，３が配設される。各ブライドルロール
２，３にパルスジェネレータ４，５がそれぞれ設けられ
る。パルスジェネレータ４，５は、それぞれのパルス信
号を伸び率演算器６に供給する。伸び率演算器６は、サ
ンプリング時間間隔毎に伸び率を演算し、演算値の応じ
た演算信号を伸び率予測演算器７に供給すると共に伸び
率記憶装置８に供給する。伸び率予測演算器７は、伸び
率演算器６から現在の伸び率演算値を入力すると共に伸
び率記憶装置８から１サンプル前及び２サンプル前の各
伸び率演算値を入力して予測値を求める。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、調質圧延機やテンショ
ンレベラなど，圧延材の伸び率を制御する必要のある加
工手段における、該圧延材の伸び率を検出する伸び率検
出装置に関するものである。
ンレベラなど，圧延材の伸び率を制御する必要のある加
工手段における、該圧延材の伸び率を検出する伸び率検
出装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に、調質圧延機やテンションレベラ
ー等の加工手段における伸び率を検出する伸び率検出装
置は、例えば，加工手段である調質圧延機の入側及び出
側に配設された各テンションロールに、それぞれパスル
ジェネレータが設置され、その各パルスジェネレータか
らそれぞれパルスが伸び率演算手段に供給される。伸び
率演算手段は、各パルスジェネレータから供給された各
パルスをカウントすることで、所定サンプリングピッチ
における、圧延材の入側送り量，及び出側送り量を求
め、下記式に基づいて伸び率を算出する。 ここで、εは伸び率、Ｌ1 はサンプリング時間単位の入
側送り量、Ｌ2 はサンプリング時間単位の出側送り量、
をそれぞれ表す。
ー等の加工手段における伸び率を検出する伸び率検出装
置は、例えば，加工手段である調質圧延機の入側及び出
側に配設された各テンションロールに、それぞれパスル
ジェネレータが設置され、その各パルスジェネレータか
らそれぞれパルスが伸び率演算手段に供給される。伸び
率演算手段は、各パルスジェネレータから供給された各
パルスをカウントすることで、所定サンプリングピッチ
における、圧延材の入側送り量，及び出側送り量を求
め、下記式に基づいて伸び率を算出する。 ここで、εは伸び率、Ｌ1 はサンプリング時間単位の入
側送り量、Ｌ2 はサンプリング時間単位の出側送り量、
をそれぞれ表す。
【０００３】なお、上記サンプリングピッチとしては、
一般に、所定の入側送り長さ単位，若しくは所定時間単
位が使用される。しかし、サンプリングピッチとして入
側送り長さを採用して、該入側送り長さ単位に伸び率を
検出するように設定した場合、圧延材の搬送速度が低速
のときにはサンプリング時間が長くなり、伸び率の演
算，及びその演算値の出力に時間がかかる。このため、
伸び率検出装置からの出力信号（伸び率値）により加工
手段等を制御する伸び率制御手段への応答性が遅くな
り、伸び率制御精度が劣化する。
一般に、所定の入側送り長さ単位，若しくは所定時間単
位が使用される。しかし、サンプリングピッチとして入
側送り長さを採用して、該入側送り長さ単位に伸び率を
検出するように設定した場合、圧延材の搬送速度が低速
のときにはサンプリング時間が長くなり、伸び率の演
算，及びその演算値の出力に時間がかかる。このため、
伸び率検出装置からの出力信号（伸び率値）により加工
手段等を制御する伸び率制御手段への応答性が遅くな
り、伸び率制御精度が劣化する。
【０００４】また、サンプリングピッチとして所定時間
単位を採用して、該所定時間単位に伸び率を検出するよ
うに設定した場合にも、圧延材の搬送速度が低速のとき
には、パルスカウント数が少なくなり、演算する伸び率
値の精度が悪い。これに対して、従来では、伸び率検出
の遅れを改善し上記伸び率制御の精度を良くするため
に、例えば，特開昭６４−７１５１１号公報や特開平２
−１２７９１０号公報に記載されているような手段が取
られていた。
単位を採用して、該所定時間単位に伸び率を検出するよ
うに設定した場合にも、圧延材の搬送速度が低速のとき
には、パルスカウント数が少なくなり、演算する伸び率
値の精度が悪い。これに対して、従来では、伸び率検出
の遅れを改善し上記伸び率制御の精度を良くするため
に、例えば，特開昭６４−７１５１１号公報や特開平２
−１２７９１０号公報に記載されているような手段が取
られていた。
【０００５】前者は、サンプリングピッチである送り長
さを、圧延材の搬送速度に応じて変更制御して、伸び率
検出の遅れを防止する。後者は、伸び率演算手段を多段
構成として、伸び率検出精度を維持せんとしている。
さを、圧延材の搬送速度に応じて変更制御して、伸び率
検出の遅れを防止する。後者は、伸び率演算手段を多段
構成として、伸び率検出精度を維持せんとしている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような従来の伸び率検出手段であっても、サンプリング
ピッチ単位に対応する圧延材の送り長さの各測定に要す
る時間，及びその測定時間からの伸び率の演算時間分な
ど、例えば，０．６〜２．０秒程度の伸び率値の検出に
遅れが生じている。
ような従来の伸び率検出手段であっても、サンプリング
ピッチ単位に対応する圧延材の送り長さの各測定に要す
る時間，及びその測定時間からの伸び率の演算時間分な
ど、例えば，０．６〜２．０秒程度の伸び率値の検出に
遅れが生じている。
【０００７】この伸び率検出の遅れは、その検出した伸
び率値がフィードバックされて加工手段に対する伸び率
制御を行う、伸び率制御の応答性向上の制約となってい
る。本発明は、上記のような問題点に着目してなされた
もので、上記伸び率検出の遅れが小さい、伸び率検出装
置を提供することを目的としている。
び率値がフィードバックされて加工手段に対する伸び率
制御を行う、伸び率制御の応答性向上の制約となってい
る。本発明は、上記のような問題点に着目してなされた
もので、上記伸び率検出の遅れが小さい、伸び率検出装
置を提供することを目的としている。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の伸び率検出装置は、調質圧延機やテンショ
ンレベラ等の加工手段における、所定サンプリングピッ
チでの加工手段入側での圧延材の送り長さ，及び出側で
の圧延材の送り長さを検出し、その検出値に基づいて圧
延材の伸び率を検出する伸び率検出装置において、上記
サンプリングピッチで伸び率を演算する伸び率演算手段
と、その伸び率演算手段で順次，求めた伸び率値を複数
個，格納可能な伸び率記憶手段と、伸び率演算手段で求
めた現在の伸び率値を、伸び率記憶手段に格納されてい
る過去の伸び率値に基づいて補正し、最新の伸び率値を
予測する伸び率予測演算手段と、を備えたことを特徴と
している。
に、本発明の伸び率検出装置は、調質圧延機やテンショ
ンレベラ等の加工手段における、所定サンプリングピッ
チでの加工手段入側での圧延材の送り長さ，及び出側で
の圧延材の送り長さを検出し、その検出値に基づいて圧
延材の伸び率を検出する伸び率検出装置において、上記
サンプリングピッチで伸び率を演算する伸び率演算手段
と、その伸び率演算手段で順次，求めた伸び率値を複数
個，格納可能な伸び率記憶手段と、伸び率演算手段で求
めた現在の伸び率値を、伸び率記憶手段に格納されてい
る過去の伸び率値に基づいて補正し、最新の伸び率値を
予測する伸び率予測演算手段と、を備えたことを特徴と
している。
【０００９】
【作用】例えば、サンプリングピッチとして所定時間間
隔でサンプリングを実施し、従来のように伸び率を演算
したとする。このとき、上記所定時間間隔をΔＴとし
て、現在（Ｎ回目）の伸び率演算値をＹ0 とし、１サン
プリング前（Ｎ−１回目）の伸び率演算値をＹ1 とし、
２サンプリング前（Ｎ−２回目）の伸び率演算値をＹ2
とすると、上述したように、演算した現在の伸び率値Ｙ
0 は、図２に示すように、実際の伸び率検出時刻
（Ｎ’）から、送り長さの測定時間や伸び率演算時間分
だけ遅れδが発生している。
隔でサンプリングを実施し、従来のように伸び率を演算
したとする。このとき、上記所定時間間隔をΔＴとし
て、現在（Ｎ回目）の伸び率演算値をＹ0 とし、１サン
プリング前（Ｎ−１回目）の伸び率演算値をＹ1 とし、
２サンプリング前（Ｎ−２回目）の伸び率演算値をＹ2
とすると、上述したように、演算した現在の伸び率値Ｙ
0 は、図２に示すように、実際の伸び率検出時刻
（Ｎ’）から、送り長さの測定時間や伸び率演算時間分
だけ遅れδが発生している。
【００１０】本願発明は、これに鑑みて、過去に検出し
た伸び率値を利用して、上記遅れδ分だけ現在の伸び率
演算値Ｙ0 を補正することで、予測値Ｙ’を求める。該
予測値Ｙ’を算出する演算式は、例えば，下式を使用す
る。 この式は、上記遅れδを（ΔＴ／２）と仮定して、右辺
第２項で１サンプル前の伸び率演算値Ｙ1 と現在値Ｙ0
との伸び率差の半分を加算すると共に、同じく第３項で
伸び率値の変化の速度（加速度）に応じた値を加算する
ことで、現在値Ｙ0 に対応する実際の時刻Ｎ’よりも
（ΔＴ／２）だけ進んだ時刻、即ち、現在サンプル信号
発信時刻Ｎでの伸び率値を予測せんとするものである。
た伸び率値を利用して、上記遅れδ分だけ現在の伸び率
演算値Ｙ0 を補正することで、予測値Ｙ’を求める。該
予測値Ｙ’を算出する演算式は、例えば，下式を使用す
る。 この式は、上記遅れδを（ΔＴ／２）と仮定して、右辺
第２項で１サンプル前の伸び率演算値Ｙ1 と現在値Ｙ0
との伸び率差の半分を加算すると共に、同じく第３項で
伸び率値の変化の速度（加速度）に応じた値を加算する
ことで、現在値Ｙ0 に対応する実際の時刻Ｎ’よりも
（ΔＴ／２）だけ進んだ時刻、即ち、現在サンプル信号
発信時刻Ｎでの伸び率値を予測せんとするものである。
【００１１】なお、上記（２）式は、現在サンプル時刻
Ｎでの伸び率値を予測せんとするものであるが、それよ
りも進んだ時刻位置での伸び率を予測してもよい。
Ｎでの伸び率値を予測せんとするものであるが、それよ
りも進んだ時刻位置での伸び率を予測してもよい。
【００１２】
【実施例】本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
なお、本実施例では、加工手段の一例として調質圧延の
場合で説明するが、テンションレベラ等の他の加工手段
など、伸び率値の測定が必要な加工手段であればどの加
工手段に適用しても構わない。
なお、本実施例では、加工手段の一例として調質圧延の
場合で説明するが、テンションレベラ等の他の加工手段
など、伸び率値の測定が必要な加工手段であればどの加
工手段に適用しても構わない。
【００１３】まず構成を説明すると、図１に示すよう
に、加工手段を構成する調質圧延機１は、圧下制御装置
１０によって圧延条件が制御されるようになっている。
その調質圧延機１の入側及び出側には、それぞれ入側ブ
ライドルロール２及び出側ブライドルロール３が配設さ
れている。また、入側ブライドルロール２及び出側ブラ
イドルロール３には、送り長さを測定するための入側送
り長さ測定用パルスジェネレータ４，及び出側送り長さ
測定用パルスジェネレータ５がそれぞれ設けられてい
る。その各パルスジェネレータ４，５は、それぞれのパ
ルス信号を伸び率演算器６に供給可能となっている。
に、加工手段を構成する調質圧延機１は、圧下制御装置
１０によって圧延条件が制御されるようになっている。
その調質圧延機１の入側及び出側には、それぞれ入側ブ
ライドルロール２及び出側ブライドルロール３が配設さ
れている。また、入側ブライドルロール２及び出側ブラ
イドルロール３には、送り長さを測定するための入側送
り長さ測定用パルスジェネレータ４，及び出側送り長さ
測定用パルスジェネレータ５がそれぞれ設けられてい
る。その各パルスジェネレータ４，５は、それぞれのパ
ルス信号を伸び率演算器６に供給可能となっている。
【００１４】伸び率演算手段を構成する伸び率演算器６
は、サンプリング時間ΔＴ間隔毎に、入力したパルス信
号のカウント値から伸び率を演算し（前述した（１）式
に基づいて演算する）、その演算値の応じた演算信号を
伸び率予測演算器７に供給すると共に伸び率記憶装置８
に供給可能となっている。伸び率記憶手段を構成する伸
び率記憶装置８は、最新の伸び率演算値、及びそれより
も１サンプル前及び２サンプル前の各伸び率演算値を格
納可能となっている。
は、サンプリング時間ΔＴ間隔毎に、入力したパルス信
号のカウント値から伸び率を演算し（前述した（１）式
に基づいて演算する）、その演算値の応じた演算信号を
伸び率予測演算器７に供給すると共に伸び率記憶装置８
に供給可能となっている。伸び率記憶手段を構成する伸
び率記憶装置８は、最新の伸び率演算値、及びそれより
も１サンプル前及び２サンプル前の各伸び率演算値を格
納可能となっている。
【００１５】また、伸び率予測演算手段を構成する伸び
率予測演算器７は、伸び率演算器６から現在の伸び率演
算値を入力すると共に、伸び率記憶装置８から１サンプ
ル前及び２サンプル前の各伸び率演算値を入力し、下式
に基づいて予測値を求め、該予測値に対応した伸び率検
出信号を伸び率制御装置９に供給可能となっている。 ここで、Ｙ’は予測値を、Ｙ0 は現在の伸び率演算値
を、Ｙ1 は１サンプリング前の伸び率演算値を、Ｙ2 は
２サンプリング前の伸び率演算値を、それぞれ表してい
る。
率予測演算器７は、伸び率演算器６から現在の伸び率演
算値を入力すると共に、伸び率記憶装置８から１サンプ
ル前及び２サンプル前の各伸び率演算値を入力し、下式
に基づいて予測値を求め、該予測値に対応した伸び率検
出信号を伸び率制御装置９に供給可能となっている。 ここで、Ｙ’は予測値を、Ｙ0 は現在の伸び率演算値
を、Ｙ1 は１サンプリング前の伸び率演算値を、Ｙ2 は
２サンプリング前の伸び率演算値を、それぞれ表してい
る。
【００１６】伸び率制御装置９は、入力した伸び率信号
によって、上記圧下制御装置１０の圧下条件を制御可能
となっている。上記構成においては、圧延材である鋼帯
１１が、各ブライドルロール２，３によって所定の張力
を負荷されながら調質圧延機１によって順次，所定圧下
力で圧下されつつ、伸び率制御装置９によって所定範囲
の伸び率値で伸展されるように制御されている。
によって、上記圧下制御装置１０の圧下条件を制御可能
となっている。上記構成においては、圧延材である鋼帯
１１が、各ブライドルロール２，３によって所定の張力
を負荷されながら調質圧延機１によって順次，所定圧下
力で圧下されつつ、伸び率制御装置９によって所定範囲
の伸び率値で伸展されるように制御されている。
【００１７】このとき、各ブライドルロール２，３の回
転数に応じた各パルスジェネレータ４，５からのパルス
が伸び率演算器６に供給される。伸び率演算器６は、サ
ンプリング時間ΔＴ単位の上記各パルスジェネレータ
４，５からのパルスをカウントし、該カウント値からサ
ンプリング時間ΔＴ当りの、鋼帯１１の入側送り長さ及
び出側送り長さが検出し、その検出値をもとに、現在の
伸び率を演算する。続いて、該伸び率演算値に応じた信
号を、伸び率予測演算器７及び伸び率記憶装置８に供給
する。
転数に応じた各パルスジェネレータ４，５からのパルス
が伸び率演算器６に供給される。伸び率演算器６は、サ
ンプリング時間ΔＴ単位の上記各パルスジェネレータ
４，５からのパルスをカウントし、該カウント値からサ
ンプリング時間ΔＴ当りの、鋼帯１１の入側送り長さ及
び出側送り長さが検出し、その検出値をもとに、現在の
伸び率を演算する。続いて、該伸び率演算値に応じた信
号を、伸び率予測演算器７及び伸び率記憶装置８に供給
する。
【００１８】伸び率予測演算器７は、現在の伸び率演算
値，及び１サンプル前及び２サンプル前の伸び率演算値
から、上式に基づいて（ΔＴ／２）だけ遅れを補正した
予測値を演算し、該予測値に応じた信号を伸び率制御装
置９に供給する。伸び率制御装置９は、供給された予測
値をもとに、実際の伸び率値が設定範囲の値となる圧下
情報を圧下制御装置１０に供給する。
値，及び１サンプル前及び２サンプル前の伸び率演算値
から、上式に基づいて（ΔＴ／２）だけ遅れを補正した
予測値を演算し、該予測値に応じた信号を伸び率制御装
置９に供給する。伸び率制御装置９は、供給された予測
値をもとに、実際の伸び率値が設定範囲の値となる圧下
情報を圧下制御装置１０に供給する。
【００１９】圧下制御装置１０は、供給された圧下情報
に応じた圧下条件に変更し、実際の伸び率が設定値にな
るように制御する。本実施例では、伸び率検出の遅れを
（ΔＴ／２）と仮定して、その遅れ分（ΔＴ／２）だけ
遅れを補正し、より現在時刻のサンプル時刻に合った伸
び率値を予測している。
に応じた圧下条件に変更し、実際の伸び率が設定値にな
るように制御する。本実施例では、伸び率検出の遅れを
（ΔＴ／２）と仮定して、その遅れ分（ΔＴ／２）だけ
遅れを補正し、より現在時刻のサンプル時刻に合った伸
び率値を予測している。
【００２０】これによって、実際の伸び率に近い値で伸
び率制御が実施されて該制御精度が良くなる。実際に、
上記補正を実施した場合と、上記補正を実施しない場合
とで伸び率制御の応答性を確認してみると、上記補正を
実施した場合のほうが応答性が２倍以上向上していた。
び率制御が実施されて該制御精度が良くなる。実際に、
上記補正を実施した場合と、上記補正を実施しない場合
とで伸び率制御の応答性を確認してみると、上記補正を
実施した場合のほうが応答性が２倍以上向上していた。
【００２１】なお、上記実施例では、伸び率記憶装置
８，伸び率制御装置９，圧下制御装置１０をそれぞれ発
明の各手段に対応するものとした独立の装置構成として
いるが、これら装置８，９，１０で実施される演算処置
を、例えばホストコンピュータ等で一括に実施するなど
してもよい。この場合には、演算処理に用いられるアル
ゴリズムの各ステップが上記各装置８，９，１０に対応
する手段を構成することはいうまでもない。
８，伸び率制御装置９，圧下制御装置１０をそれぞれ発
明の各手段に対応するものとした独立の装置構成として
いるが、これら装置８，９，１０で実施される演算処置
を、例えばホストコンピュータ等で一括に実施するなど
してもよい。この場合には、演算処理に用いられるアル
ゴリズムの各ステップが上記各装置８，９，１０に対応
する手段を構成することはいうまでもない。
【００２２】
【発明の効果】以上説明してきたように、本発明の伸び
率検出装置では、伸び率遅れ分だけ補正された、より現
在の伸び率値に近い伸び率値を出力可能となる。これに
よって、上記検出した伸び率値に基づく伸び率制御の応
答性が従来よりも向上させることができる。
率検出装置では、伸び率遅れ分だけ補正された、より現
在の伸び率値に近い伸び率値を出力可能となる。これに
よって、上記検出した伸び率値に基づく伸び率制御の応
答性が従来よりも向上させることができる。
【図１】本発明に係る実施例の伸び率検出装置を備えた
調質圧延の概略構成図である。
調質圧延の概略構成図である。
【図２】本発明に係る伸び率予測演算の説明図である。
１ 調質圧延機 ２ 入側ブライドルロール ３ 出側ブライドルロール ４，５ パルスジェネレータ ６ 伸び率演算器 ７ 伸び率予測演算器 ８ 伸び率記憶装置 ９ 伸び率制御装置 １０ 圧下制御装置 １１ 鋼帯
Claims (1)
- 【請求項１】 調質圧延機やテンションレベラ等の加工
手段における、所定サンプリングピッチでの加工手段入
側での圧延材の送り長さ，及び出側での圧延材の送り長
さを検出し、その検出値に基づいて圧延材の伸び率を検
出する伸び率検出装置において、上記サンプリングピッ
チで伸び率を演算する伸び率演算手段と、その伸び率演
算手段で順次，求めた伸び率値を複数個，格納可能な伸
び率記憶手段と、伸び率演算手段で求めた現在の伸び率
値を、伸び率記憶手段に格納されている過去の伸び率値
に基づいて補正し、最新の伸び率値を予測する伸び率予
測演算手段と、を備えたことを特徴とする伸び率検出装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7007314A JPH08197122A (ja) | 1995-01-20 | 1995-01-20 | 伸び率検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7007314A JPH08197122A (ja) | 1995-01-20 | 1995-01-20 | 伸び率検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08197122A true JPH08197122A (ja) | 1996-08-06 |
Family
ID=11662542
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7007314A Pending JPH08197122A (ja) | 1995-01-20 | 1995-01-20 | 伸び率検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08197122A (ja) |
-
1995
- 1995-01-20 JP JP7007314A patent/JPH08197122A/ja active Pending
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