JPH08201224A - 紫外光光源故障検知システム - Google Patents
紫外光光源故障検知システムInfo
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- JPH08201224A JPH08201224A JP1234595A JP1234595A JPH08201224A JP H08201224 A JPH08201224 A JP H08201224A JP 1234595 A JP1234595 A JP 1234595A JP 1234595 A JP1234595 A JP 1234595A JP H08201224 A JPH08201224 A JP H08201224A
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Landscapes
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Electrochromic Elements, Electrophoresis, Or Variable Reflection Or Absorption Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 光センシングにおいて、光（可視光）の強度
変化が光（紫外光）の照射の有無で変化することを利用
した光センサーシステムを提供し、紫外光照射を検出す
る必要のある産業機器全般に適用される。 【構成】 紫外線２によりフォトクロミズムを発生し、
可視光もしくは近赤外光の照射によりフォトクロミズム
を回復させることができ、基板より屈折率の高い材料を
用いた導波層３０と、該導波層３０を装荷するための基
板３１とで構成される光導波路と、複数の該導波路にパ
ルスプローブ光を入力する手段と複数箇所の故障検知信
号光を出力、伝送させるための手段と、パルスプローブ
光を発生させるための可視光源と故障検知信号を検出す
るための受光器２４と、からなり、紫外光２の照射によ
り可視光の強度を変化させるフォトクロミズムを利用し
て、紫外光光源の故障の有無を判断し、複数箇所の故障
を特定・検知する。
変化が光（紫外光）の照射の有無で変化することを利用
した光センサーシステムを提供し、紫外光照射を検出す
る必要のある産業機器全般に適用される。 【構成】 紫外線２によりフォトクロミズムを発生し、
可視光もしくは近赤外光の照射によりフォトクロミズム
を回復させることができ、基板より屈折率の高い材料を
用いた導波層３０と、該導波層３０を装荷するための基
板３１とで構成される光導波路と、複数の該導波路にパ
ルスプローブ光を入力する手段と複数箇所の故障検知信
号光を出力、伝送させるための手段と、パルスプローブ
光を発生させるための可視光源と故障検知信号を検出す
るための受光器２４と、からなり、紫外光２の照射によ
り可視光の強度を変化させるフォトクロミズムを利用し
て、紫外光光源の故障の有無を判断し、複数箇所の故障
を特定・検知する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光センシングにおいて、
光（可視光）の強度変化が光（紫外光）の照射の有無で
変化することを利用した紫外光光源故障検知システムに
関し、紫外光照射を検出する必要のある産業機器全般に
適用されるものである。
光（可視光）の強度変化が光（紫外光）の照射の有無で
変化することを利用した紫外光光源故障検知システムに
関し、紫外光照射を検出する必要のある産業機器全般に
適用されるものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、紫外光のみならず他の波長領域に
おける光を検出するためには、光を電気に変換（光電効
果）させるフォトダイオード等の光電変換素子を必要と
し、特定の波長だけを検出するためにフォトダイオード
の前に波長フィルターを必要とした。図４に、これらを
用いた従来の紫外光検出器の一例を説明する。
おける光を検出するためには、光を電気に変換（光電効
果）させるフォトダイオード等の光電変換素子を必要と
し、特定の波長だけを検出するためにフォトダイオード
の前に波長フィルターを必要とした。図４に、これらを
用いた従来の紫外光検出器の一例を説明する。
【０００３】この紫外光検出器の動作原理を説明する。
同図に示すように、ある紫外光光源１から照射された紫
外光２は空間を伝搬し、波長フィルター３に入力され
る。このとき、紫外光２以外の背景光の波長成分はカッ
トされる。そして、純粋な紫外光２の成分だけがフォト
ダイオード４に入射する。該フォトダイオード４の入射
面（光電面）に紫外光２があたると、光電面材料の価電
子帯の電子が紫外光２の強度に応じて伝導帯に励起され
る。この時、光電面においてドリフト電流が流れ、フォ
トダイオード４のアノード６、カソード７間に電位差が
生じる。これを導線５を経由して電圧出力の形で紫外光
を監視する。
同図に示すように、ある紫外光光源１から照射された紫
外光２は空間を伝搬し、波長フィルター３に入力され
る。このとき、紫外光２以外の背景光の波長成分はカッ
トされる。そして、純粋な紫外光２の成分だけがフォト
ダイオード４に入射する。該フォトダイオード４の入射
面（光電面）に紫外光２があたると、光電面材料の価電
子帯の電子が紫外光２の強度に応じて伝導帯に励起され
る。この時、光電面においてドリフト電流が流れ、フォ
トダイオード４のアノード６、カソード７間に電位差が
生じる。これを導線５を経由して電圧出力の形で紫外光
を監視する。
【０００４】以上、説明したように不必要な背景光をカ
ットするために紫外光透過波長フィルター３を用い、そ
れを透過してきた紫外光２をフォトダイオード４で電気
に変換して、電圧出力の形で紫外光２の光出力を監視す
るようにしている。
ットするために紫外光透過波長フィルター３を用い、そ
れを透過してきた紫外光２をフォトダイオード４で電気
に変換して、電圧出力の形で紫外光２の光出力を監視す
るようにしている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】前述した従来技術に係
る紫外光検出においては、光−電気変換が必要なことか
ら以下のような課題がある。 フォトダイオードの特性から、例えば電磁波ノイズ
がひどい所、例えば高電圧環境下等での使用が不可能で
ある。 電気信号を用いるため、例えば防爆環境、及び導電
性液体中等での使用が困難であり、防爆用保護手段もし
くは絶縁保護手段が必要である。 電気信号による紫外光検出装置を複数箇所に配置す
ると、検出装置の数だけ検知部から受信末端までの配線
の敷設が必要であり、点検・保守にコストと時間がかか
る、という問題がある。
る紫外光検出においては、光−電気変換が必要なことか
ら以下のような課題がある。 フォトダイオードの特性から、例えば電磁波ノイズ
がひどい所、例えば高電圧環境下等での使用が不可能で
ある。 電気信号を用いるため、例えば防爆環境、及び導電
性液体中等での使用が困難であり、防爆用保護手段もし
くは絶縁保護手段が必要である。 電気信号による紫外光検出装置を複数箇所に配置す
ると、検出装置の数だけ検知部から受信末端までの配線
の敷設が必要であり、点検・保守にコストと時間がかか
る、という問題がある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決する本発
明に係る紫外光光源故障検知システムの構成は、紫外線
によりフォトクロミズムを発生し、可視光もしくは近赤
外光の照射によりフォトクロミズムを回復させることが
でき、基板より屈折率の高い材料を用いた導波層と、該
導波層を装荷するための基板とで構成される光導波路
と、複数の該導波路にパルスプローブ光を入力する手段
と複数箇所の故障検知信号光を出力、伝送させるための
手段と、パルスプローブ光を発生させるための可視光源
と故障検知信号を検出するための受光器と、からなり、
紫外光照射により可視光の強度を変化させるフォトクロ
ミズムを利用して、紫外光光源の故障の有無を判断し、
複数箇所の故障を特定・検知することを特徴とする。
明に係る紫外光光源故障検知システムの構成は、紫外線
によりフォトクロミズムを発生し、可視光もしくは近赤
外光の照射によりフォトクロミズムを回復させることが
でき、基板より屈折率の高い材料を用いた導波層と、該
導波層を装荷するための基板とで構成される光導波路
と、複数の該導波路にパルスプローブ光を入力する手段
と複数箇所の故障検知信号光を出力、伝送させるための
手段と、パルスプローブ光を発生させるための可視光源
と故障検知信号を検出するための受光器と、からなり、
紫外光照射により可視光の強度を変化させるフォトクロ
ミズムを利用して、紫外光光源の故障の有無を判断し、
複数箇所の故障を特定・検知することを特徴とする。
【０００７】すなわち、従来技術の課題，を解決す
るため、本発明では紫外線によりフォトクロミズムを発
生し、可視光もしくは近赤外光（４００ｎｍ近傍〜２５
００ｎｍ近傍）の照射によりフォトクロミズムを回復さ
せることができ、基板より屈折率の高い材料を導波路と
し、紫外光検知部として用いるようにしている。
るため、本発明では紫外線によりフォトクロミズムを発
生し、可視光もしくは近赤外光（４００ｎｍ近傍〜２５
００ｎｍ近傍）の照射によりフォトクロミズムを回復さ
せることができ、基板より屈折率の高い材料を導波路と
し、紫外光検知部として用いるようにしている。
【０００８】また、従来技術の課題を解決するため、
ＯＴＤＲ（Optical Time Domain Reflectometory）方式
を用いた時分割多重な光信号検出を用いるようにしてい
る。その際に、ＯＴＤＲ光源は、可視域もしくは近赤外
域半導体レーザのピコ秒オーダのパルスプローブ光を用
いている。
ＯＴＤＲ（Optical Time Domain Reflectometory）方式
を用いた時分割多重な光信号検出を用いるようにしてい
る。その際に、ＯＴＤＲ光源は、可視域もしくは近赤外
域半導体レーザのピコ秒オーダのパルスプローブ光を用
いている。
【０００９】
【作用】上記構成において、紫外線照射によってフォト
クロミズムを発生し、基板より屈折率の高い材料を用い
た薄膜導波路に紫外光が当たると、そのフォトクロミズ
ムによって可視域〜近赤外光の吸収が生じ、紫外光が当
たらなくなるとある遅延時間（数分）を待って、可視域
〜近赤外光の吸収が終わり、紫外光照射以前の状態まで
に回復する。言わば、光−光のスイッチング動作を測定
することで紫外光の状態を把握することができる。この
現象を光ファイバを経由して遠隔地で検出すれば、紫外
光検知部に電気信号を介在させる必要はなくなる。
クロミズムを発生し、基板より屈折率の高い材料を用い
た薄膜導波路に紫外光が当たると、そのフォトクロミズ
ムによって可視域〜近赤外光の吸収が生じ、紫外光が当
たらなくなるとある遅延時間（数分）を待って、可視域
〜近赤外光の吸収が終わり、紫外光照射以前の状態まで
に回復する。言わば、光−光のスイッチング動作を測定
することで紫外光の状態を把握することができる。この
現象を光ファイバを経由して遠隔地で検出すれば、紫外
光検知部に電気信号を介在させる必要はなくなる。
【００１０】ここで、プローブ光には可視域〜近赤外光
が用いられる。それを連続光から時間的なパルス光を用
いると時間軸上で個々のパルス信号を識別することがで
きる。それをＯＴＤＲ方式で検出し、その検出パルス信
号の強度変化を測定すれば個々の紫外光光源を監視する
ことができる。そのためのパルスプローブ光は、可視域
で導波路長の２倍に相当する光路時間以下のパルス幅
（３００ｐｓ）でなければならない。このようなパルス
光を発生させるためには、例えば利得スイッチング法、
モード同期法等を用いることで十分に実現可能である
が、これらに限定されるものではない。
が用いられる。それを連続光から時間的なパルス光を用
いると時間軸上で個々のパルス信号を識別することがで
きる。それをＯＴＤＲ方式で検出し、その検出パルス信
号の強度変化を測定すれば個々の紫外光光源を監視する
ことができる。そのためのパルスプローブ光は、可視域
で導波路長の２倍に相当する光路時間以下のパルス幅
（３００ｐｓ）でなければならない。このようなパルス
光を発生させるためには、例えば利得スイッチング法、
モード同期法等を用いることで十分に実現可能である
が、これらに限定されるものではない。
【００１１】
【実施例】以下、本発明に係る紫外光光源故障検知シス
テムの好適な一実施例を詳細に説明するが、本発明はこ
れに限定されるものではない。
テムの好適な一実施例を詳細に説明するが、本発明はこ
れに限定されるものではない。
【００１２】（実施例１）紫外光光源の多重故障検知シ
ステム及び紫外光光源故障検知装置の実施例１を図１と
図２をもって説明する。図１は、本実施例に係る紫外光
光源故障検知システムを示す構成図である。また、図２
は、本実施例に係る紫外光光源故障検知装置を示す構成
図である。図１のシステムは、パルスプローブ光１１を
発生させるための可視域〜近赤外光のパルス光源１０と
そのパルス光を伝送させるための光ファイバ１２、そし
て、紫外光光源故障検知装置１４，１６と検出パルス信
号１８，１９，２０を受光器２４に導く光分配器２１と
光ファイバ２２から構成される。図２には、上記紫外光
光源故障検知装置の概略を示す。該紫外光光源故障検知
装置は、紫外線２によりフォトクロミズムを発生し、可
視光もしくは近赤外光の照射によりフォトクロミズムを
回復させることができ、基板より屈折率の高い材料を用
いた導波層３０と、該導波層３０を装荷するための基板
３２とで構成される光導波路とから構成されている。
ステム及び紫外光光源故障検知装置の実施例１を図１と
図２をもって説明する。図１は、本実施例に係る紫外光
光源故障検知システムを示す構成図である。また、図２
は、本実施例に係る紫外光光源故障検知装置を示す構成
図である。図１のシステムは、パルスプローブ光１１を
発生させるための可視域〜近赤外光のパルス光源１０と
そのパルス光を伝送させるための光ファイバ１２、そし
て、紫外光光源故障検知装置１４，１６と検出パルス信
号１８，１９，２０を受光器２４に導く光分配器２１と
光ファイバ２２から構成される。図２には、上記紫外光
光源故障検知装置の概略を示す。該紫外光光源故障検知
装置は、紫外線２によりフォトクロミズムを発生し、可
視光もしくは近赤外光の照射によりフォトクロミズムを
回復させることができ、基板より屈折率の高い材料を用
いた導波層３０と、該導波層３０を装荷するための基板
３２とで構成される光導波路とから構成されている。
【００１３】図１および図２の動作について説明する。
これらの図面に示すように、可視域〜近赤外光（４００
ｎｍ近傍〜２５００ｎｍ近傍）のパルス光源１０（例え
ば半導体レーザの利得スイッチング法）から、パルス幅
３００ｐｓ（紫外検知長２０ｍｍの場合）以下の短光パ
ルス列をプローブ光１１として取りだし、光ファイバ１
２でそれぞれの各紫外光光源故障検知装置１４，１６に
伝送する。すると図２に示すように、紫外光光源故障検
知装置１６において、紫外光光源故障装置検知部分の導
波層３０の入力端面３３ともう一方の端面３１とで反射
が生ずる。この二つの端面３３，３１からの反射パルス
１８，１９の有無を検知することで、外部からの紫外光
照射２の有無を判断することができる。
これらの図面に示すように、可視域〜近赤外光（４００
ｎｍ近傍〜２５００ｎｍ近傍）のパルス光源１０（例え
ば半導体レーザの利得スイッチング法）から、パルス幅
３００ｐｓ（紫外検知長２０ｍｍの場合）以下の短光パ
ルス列をプローブ光１１として取りだし、光ファイバ１
２でそれぞれの各紫外光光源故障検知装置１４，１６に
伝送する。すると図２に示すように、紫外光光源故障検
知装置１６において、紫外光光源故障装置検知部分の導
波層３０の入力端面３３ともう一方の端面３１とで反射
が生ずる。この二つの端面３３，３１からの反射パルス
１８，１９の有無を検知することで、外部からの紫外光
照射２の有無を判断することができる。
【００１４】上記検知部の導波層３０は、本実施例で
は、ＴｉＯ2 とＳｉＯ2 の混合膜よりなる導波路（特願
平６−６５８３４号「光スイッチ」参照）で構成されて
おり、図２に示すように、その導波層３０の表面に紫外
光２が当たると、ＴｉＯ2 によるフォトクロミズムによ
り可視域のプローブ光１５の吸収が生じ、導波路入力端
面３３のみの反射によるパルス１９（紫外光光源故障検
知装置の識別信号の役割を果たす）だけが再び光ファイ
バ１２を通り光分配器２１、光ファイバ２２を経て受光
器２４によって検出される。
は、ＴｉＯ2 とＳｉＯ2 の混合膜よりなる導波路（特願
平６−６５８３４号「光スイッチ」参照）で構成されて
おり、図２に示すように、その導波層３０の表面に紫外
光２が当たると、ＴｉＯ2 によるフォトクロミズムによ
り可視域のプローブ光１５の吸収が生じ、導波路入力端
面３３のみの反射によるパルス１９（紫外光光源故障検
知装置の識別信号の役割を果たす）だけが再び光ファイ
バ１２を通り光分配器２１、光ファイバ２２を経て受光
器２４によって検出される。
【００１５】そして、紫外光光源１７の故障等によって
導波層３０への紫外光２の照射が止まると、ある遅延時
間で回復しプローブ光１５の吸収がおさまる。
導波層３０への紫外光２の照射が止まると、ある遅延時
間で回復しプローブ光１５の吸収がおさまる。
【００１６】すると、入力端面３３からの他に、もう一
方の端面３１からの反射が増大し、導波路の両端面３
３，３１の往復光路時間間隔Δｔだけ離れた二つの反射
パルス１８，１９が再び光ファイバ１２，２２および光
分配器２１を通り受光器２４によって検出される。
方の端面３１からの反射が増大し、導波路の両端面３
３，３１の往復光路時間間隔Δｔだけ離れた二つの反射
パルス１８，１９が再び光ファイバ１２，２２および光
分配器２１を通り受光器２４によって検出される。
【００１７】これらの現象が複数箇所にわたり一度に発
生しても、これら全ての故障検知信号は反射パルス光と
して時分割された状態で検出されるため、特定箇所を識
別することができる。
生しても、これら全ての故障検知信号は反射パルス光と
して時分割された状態で検出されるため、特定箇所を識
別することができる。
【００１８】また、各故障検知装置の識別信号が検出さ
れなかったり、それ以外のところで反射パルスが検出さ
れた場合は光ファイバの破断、欠陥が生じたと考えるこ
とができる。このことから、紫外光光源の故障検知と同
時にこのシステム全体の保守、点検を行なえるという利
点がある。
れなかったり、それ以外のところで反射パルスが検出さ
れた場合は光ファイバの破断、欠陥が生じたと考えるこ
とができる。このことから、紫外光光源の故障検知と同
時にこのシステム全体の保守、点検を行なえるという利
点がある。
【００１９】（実施例２）図３を用いて本発明の第２の
実施例を説明する。本実施例では、紫外線の照射により
フォトクロミズムが発生する材料の一例であるＴｉＯ2
とそのフォトクロミズムの感度と屈折率をコントロール
するためのＳｉＯ2 を、ＴｉＯ2 ：ＳｉＯ2 ＝８５：１
５の組成比で混合したターゲットを用いて（特願平６−
３０３３８３号参照）、ＴｉＯ2 とＳｉＯ2 の混合膜を
作製した。ここで、ＴｉＯ2 とＳｉＯ2 の組成比は基本
的には任意であるが、ＴｉＯ2 濃度が高い程紫外線照射
に対する信号光減衰の感度が高いこと、ＴｉＯ2 濃度が
高い程紫外線未照射時の伝播損失が大きくなるので、１
ｄＢ／ｃｍ程度の実用的吸収レベルに抑えること、組成
比の調節により混合物の屈折率がＳｉＯ2 の屈折率ｎ＝
１．５からＴｉＯ2 の屈折率ｎ＝２．５までの範囲で任
意に選択できるので基板３２よりも高い屈折率に調整
し、また光入出力用光ファイバ等との屈折率の整合をと
ることから、本実施例ではＴｉＯ2 ：ＳｉＯ2 ＝８５：
１５という組成比を採用している。
実施例を説明する。本実施例では、紫外線の照射により
フォトクロミズムが発生する材料の一例であるＴｉＯ2
とそのフォトクロミズムの感度と屈折率をコントロール
するためのＳｉＯ2 を、ＴｉＯ2 ：ＳｉＯ2 ＝８５：１
５の組成比で混合したターゲットを用いて（特願平６−
３０３３８３号参照）、ＴｉＯ2 とＳｉＯ2 の混合膜を
作製した。ここで、ＴｉＯ2 とＳｉＯ2 の組成比は基本
的には任意であるが、ＴｉＯ2 濃度が高い程紫外線照射
に対する信号光減衰の感度が高いこと、ＴｉＯ2 濃度が
高い程紫外線未照射時の伝播損失が大きくなるので、１
ｄＢ／ｃｍ程度の実用的吸収レベルに抑えること、組成
比の調節により混合物の屈折率がＳｉＯ2 の屈折率ｎ＝
１．５からＴｉＯ2 の屈折率ｎ＝２．５までの範囲で任
意に選択できるので基板３２よりも高い屈折率に調整
し、また光入出力用光ファイバ等との屈折率の整合をと
ることから、本実施例ではＴｉＯ2 ：ＳｉＯ2 ＝８５：
１５という組成比を採用している。
【００２０】上記混合膜による導波層４２はチャネル型
導波路のコアに相当し、基板の深さ方向にも、水平方向
にも導波光を閉じ込めている。
導波路のコアに相当し、基板の深さ方向にも、水平方向
にも導波光を閉じ込めている。
【００２１】導波層４２は基板全面に形成した後で、フ
ォトリソグラフィー技術を用いて、導波路パターンを形
成したマスクを作製し、エッチングすることで作製でき
る。
ォトリソグラフィー技術を用いて、導波路パターンを形
成したマスクを作製し、エッチングすることで作製でき
る。
【００２２】上記導波層４２の周囲に形成するクラッド
層３１は、空気かあるいは誘電体材料、例えば、ＳｉＯ
2 で構成するが、誘電体材料の場合は、屈折率が導波層
４２よりも低くて、かつ、紫外光を吸収しないことが条
件である。
層３１は、空気かあるいは誘電体材料、例えば、ＳｉＯ
2 で構成するが、誘電体材料の場合は、屈折率が導波層
４２よりも低くて、かつ、紫外光を吸収しないことが条
件である。
【００２３】また、プローブ光１５が端面４１によって
効率良く反射が生じるためには、端面４１を鏡面研磨
（反射率数％）だけよりも、更にその上から金属膜（Ａ
ｌ，Ｃｒ等）による反射コーティングを施して、金属膜
の反射端面とし、反射率９０％以上を実現することがで
き、端面４１から外部への透過損失を押さえることがで
きる。
効率良く反射が生じるためには、端面４１を鏡面研磨
（反射率数％）だけよりも、更にその上から金属膜（Ａ
ｌ，Ｃｒ等）による反射コーティングを施して、金属膜
の反射端面とし、反射率９０％以上を実現することがで
き、端面４１から外部への透過損失を押さえることがで
きる。
【００２４】以上、説明した構成とすれば、光ファイバ
３４との光の入出力において、結合効率の向上が図れ、
また、上記端面４１からの反射光を検知信号１８として
用いることで導波層長の２倍の距離をプローブ光１５が
導波することになり紫外光２に対する感度を向上するこ
とができる。
３４との光の入出力において、結合効率の向上が図れ、
また、上記端面４１からの反射光を検知信号１８として
用いることで導波層長の２倍の距離をプローブ光１５が
導波することになり紫外光２に対する感度を向上するこ
とができる。
【００２５】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、紫
外光光源近辺には電気信号を介在する必要がなくなっ
た。このため、以下の効果が期待できる。 電磁波ノイズ、高電圧環境下でも正確に動作可能と
なる。 電気信号を用いないため、防爆性に優れ、導電性液
体中での使用が可能である。
外光光源近辺には電気信号を介在する必要がなくなっ
た。このため、以下の効果が期待できる。 電磁波ノイズ、高電圧環境下でも正確に動作可能と
なる。 電気信号を用いないため、防爆性に優れ、導電性液
体中での使用が可能である。
【００２６】さらに、故障検知信号を、可視域〜近赤外
光パルスプローブ光を用い、時分割で検出する結果、複
数の紫外光光源の状態を監視することができる。このた
め以下の効果が期待できる。 複数の紫外光光源故障検知装置と接続することでネ
ットワーク化が可能である。 時分割多重による光信号の伝送、検出によって配線
の簡素化が可能となり、保守、点検が容易となる。
光パルスプローブ光を用い、時分割で検出する結果、複
数の紫外光光源の状態を監視することができる。このた
め以下の効果が期待できる。 複数の紫外光光源故障検知装置と接続することでネ
ットワーク化が可能である。 時分割多重による光信号の伝送、検出によって配線
の簡素化が可能となり、保守、点検が容易となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施例に係る紫外光光源故障検
知システムを示す構成図である。
知システムを示す構成図である。
【図２】本発明の第１の実施例に係る紫外光光源故障検
知装置を示す構成図である。
知装置を示す構成図である。
【図３】本発明の第２の実施例に係る紫外光光源故障検
知装置を示す構成図である。
知装置を示す構成図である。
【図４】従来の紫外光検出装置の構成図である。
２ 紫外光 １０ 可視域〜近赤外光パルス光源 １１ パルスプローブ光 １２ 光ファイバ １３ 入力パルスプローブ光 １４ 紫外光光源故障検知装置 １５ 正常点灯の紫外光光源 １６ 紫外光光源故障検知装置 １７ 故障時の紫外光光源 １８ 故障検知時の反射パルス １９ 検知装置識別の反射パルス ２０ 検知装置識別の反射パルス ２１ 光分配器 ２２ 光ファイバ ２３ 時分割故障検知信号 ２４ 受光器 ３０ 導波層 ３１ 反射端面 ３２ 基板 ３３ 反射端面 ３４ 光ファイバ
Claims (1)
- 【請求項１】 紫外線によりフォトクロミズムを発生
し、可視光もしくは近赤外光の照射によりフォトクロミ
ズムを回復させることができ、基板より屈折率の高い材
料を用いた導波層と、該導波層を装荷するための基板と
で構成される光導波路と、 複数の該導波路にパルスプローブ光を入力する手段と複
数箇所の故障検知信号光を出力、伝送させるための手段
と、 パルスプローブ光を発生させるための可視光源と故障検
知信号を検出するための受光器とからなり、 紫外光照射により可視光の強度を変化させるフォトクロ
ミズムを利用して、紫外光光源の故障の有無を判断し、
複数箇所の故障を特定・検知することを特徴とする紫外
光光源故障検知システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1234595A JPH08201224A (ja) | 1995-01-30 | 1995-01-30 | 紫外光光源故障検知システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1234595A JPH08201224A (ja) | 1995-01-30 | 1995-01-30 | 紫外光光源故障検知システム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08201224A true JPH08201224A (ja) | 1996-08-09 |
Family
ID=11802699
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1234595A Withdrawn JPH08201224A (ja) | 1995-01-30 | 1995-01-30 | 紫外光光源故障検知システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08201224A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7245800B1 (en) * | 2004-09-08 | 2007-07-17 | Lockheed Martin Corporation | Fiber optic interconnect with visible laser indicator and fault detector |
| JP2009014689A (ja) * | 2007-07-09 | 2009-01-22 | Saitama Univ | フォトクロミック化合物を利用した紫外線強度測定装置 |
-
1995
- 1995-01-30 JP JP1234595A patent/JPH08201224A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7245800B1 (en) * | 2004-09-08 | 2007-07-17 | Lockheed Martin Corporation | Fiber optic interconnect with visible laser indicator and fault detector |
| JP2009014689A (ja) * | 2007-07-09 | 2009-01-22 | Saitama Univ | フォトクロミック化合物を利用した紫外線強度測定装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20020402 |