JPH08202630A - 磁気ディスク装置の試験方式 - Google Patents
磁気ディスク装置の試験方式Info
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- JPH08202630A JPH08202630A JP7031672A JP3167295A JPH08202630A JP H08202630 A JPH08202630 A JP H08202630A JP 7031672 A JP7031672 A JP 7031672A JP 3167295 A JP3167295 A JP 3167295A JP H08202630 A JPH08202630 A JP H08202630A
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- 230000010365 information processing Effects 0.000 claims description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 11
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims description 9
- 230000006378 damage Effects 0.000 abstract description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
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- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 書き込み試験による他のソフトウェアで使用
するデータの破壊を防ぎ、かつ、書き込み試験の実行に
要する時間の削減を可能とする磁気ディスク装置の試験
方式を提供することを目的とする。 【構成】 磁気ディスク装置20の空き領域に関する情
報を格納し保持する空き領域情報保持部12と、オペレ
ーティングシステムに管理されている磁気ディスク装置
20の空き領域に関する情報を取得して空き領域情報保
持部12に格納する空き領域情報格納指示部11と、空
き領域情報保持部12に保持されている磁気ディスク装
置20の空き領域に関する情報を参照して磁気ディスク
装置20に対して書き込み試験を行うための試験プログ
ラムを格納する試験プログラム格納部13と、試験プロ
グラム格納部13に格納された試験プログラムにしたが
って書き込み試験を行う試験実行部14とを備える。
するデータの破壊を防ぎ、かつ、書き込み試験の実行に
要する時間の削減を可能とする磁気ディスク装置の試験
方式を提供することを目的とする。 【構成】 磁気ディスク装置20の空き領域に関する情
報を格納し保持する空き領域情報保持部12と、オペレ
ーティングシステムに管理されている磁気ディスク装置
20の空き領域に関する情報を取得して空き領域情報保
持部12に格納する空き領域情報格納指示部11と、空
き領域情報保持部12に保持されている磁気ディスク装
置20の空き領域に関する情報を参照して磁気ディスク
装置20に対して書き込み試験を行うための試験プログ
ラムを格納する試験プログラム格納部13と、試験プロ
グラム格納部13に格納された試験プログラムにしたが
って書き込み試験を行う試験実行部14とを備える。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、パーソナルコンピュー
タやワークステーション等を用いた情報処理システムに
おいて、磁気ディスク装置に対してデータの書き込み試
験を行う磁気ディスク装置の試験方式に関する。
タやワークステーション等を用いた情報処理システムに
おいて、磁気ディスク装置に対してデータの書き込み試
験を行う磁気ディスク装置の試験方式に関する。
【0002】
【従来の技術】パーソナルコンピュータやワークステー
ション等を用いた情報処理システムでは、データの記憶
容量の増大を図るため、各種処理を実行する本体装置に
外部記憶装置を接続することが行われている。外部記憶
装置としては、データの読み書きが容易な磁気ディスク
装置がもっとも多く用いられている。
ション等を用いた情報処理システムでは、データの記憶
容量の増大を図るため、各種処理を実行する本体装置に
外部記憶装置を接続することが行われている。外部記憶
装置としては、データの読み書きが容易な磁気ディスク
装置がもっとも多く用いられている。
【0003】ところで、外部記憶装置である磁気ディス
ク装置を本体装置に接続する場合、データの読み書きを
正しく行えるか否かを確認するため、データの書き込み
試験を行う。ここで、試験プログラムによるデータの書
き込みの際には、当該データの書き込みによってオペレ
ーティングシステム等の他のソフトウェアが破壊されな
いようにしなければならない。そこで従来、磁気ディス
ク装置に対する本体装置からのデータの書き込み試験
は、以下の様にして行っていた。
ク装置を本体装置に接続する場合、データの読み書きを
正しく行えるか否かを確認するため、データの書き込み
試験を行う。ここで、試験プログラムによるデータの書
き込みの際には、当該データの書き込みによってオペレ
ーティングシステム等の他のソフトウェアが破壊されな
いようにしなければならない。そこで従来、磁気ディス
ク装置に対する本体装置からのデータの書き込み試験
は、以下の様にして行っていた。
【0004】第1の方式は、あらかじめ磁気ディスク装
置に、書き込み試験用の試験専用領域を定義して、当該
試験専用領域に試験プログラムのデータを書き込んで試
験を行う方法である。この場合、磁気ディスク装置に設
けられる試験専用領域は、オペレーティングシステムか
らのアクセスを行わず、書き込み試験用の試験プログラ
ムのみがデータの書き込みを行う領域として定義され
る。
置に、書き込み試験用の試験専用領域を定義して、当該
試験専用領域に試験プログラムのデータを書き込んで試
験を行う方法である。この場合、磁気ディスク装置に設
けられる試験専用領域は、オペレーティングシステムか
らのアクセスを行わず、書き込み試験用の試験プログラ
ムのみがデータの書き込みを行う領域として定義され
る。
【0005】第2の方式は、磁気ディスク装置の空き領
域を検索して所定の容量分収集し、当該空き領域に対し
て試験プログラムのデータを書き込んで試験を行う方法
である。この場合、磁気ディスク装置の空き領域の検索
および収集は、書き込み試験を実行する前に試験プログ
ラム等によって独自に行われる。
域を検索して所定の容量分収集し、当該空き領域に対し
て試験プログラムのデータを書き込んで試験を行う方法
である。この場合、磁気ディスク装置の空き領域の検索
および収集は、書き込み試験を実行する前に試験プログ
ラム等によって独自に行われる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述した従来
の技術では、それぞれ次のような欠点があった。磁気デ
ィスク装置に試験専用領域を設ける第1の方式では、試
験プログラムによるデータの書き込みの際にオペレーテ
ィングシステム等の他のソフトウェアが破壊されないよ
うに、試験専用領域には試験プログラムによるデータの
書き込みのみを行い、オペレーティングシステムによる
データの書き込みが行われないことを保証しなければな
らない。したがって、オペレーティングシステムを設計
する際に、磁気ディスク装置上に定義された試験専用領
域に絶対にアクセスしないように設計する必要がある。
しかし、昨今のシステム構成のダウンサイジング化およ
びオープン化に伴い、他メーカーで設計されたオペレー
ティングシステムを自社の本体装置上で動作させる場合
が多くなってきており、このような場合に磁気ディスク
装置の試験専用領域を侵害しないように意識したオペレ
ーティングシステムを設計する事が困難であることが予
想される。このため、試験専用領域にオペレーティング
システム等のソフトウェアで使用しているデータが書き
込まれ、当該領域に書き込み試験が行われることによっ
て、当該データが破壊されてしまうおそれがあり、出荷
検査及びフィールド保守に支障をきたすという欠点があ
った。
の技術では、それぞれ次のような欠点があった。磁気デ
ィスク装置に試験専用領域を設ける第1の方式では、試
験プログラムによるデータの書き込みの際にオペレーテ
ィングシステム等の他のソフトウェアが破壊されないよ
うに、試験専用領域には試験プログラムによるデータの
書き込みのみを行い、オペレーティングシステムによる
データの書き込みが行われないことを保証しなければな
らない。したがって、オペレーティングシステムを設計
する際に、磁気ディスク装置上に定義された試験専用領
域に絶対にアクセスしないように設計する必要がある。
しかし、昨今のシステム構成のダウンサイジング化およ
びオープン化に伴い、他メーカーで設計されたオペレー
ティングシステムを自社の本体装置上で動作させる場合
が多くなってきており、このような場合に磁気ディスク
装置の試験専用領域を侵害しないように意識したオペレ
ーティングシステムを設計する事が困難であることが予
想される。このため、試験専用領域にオペレーティング
システム等のソフトウェアで使用しているデータが書き
込まれ、当該領域に書き込み試験が行われることによっ
て、当該データが破壊されてしまうおそれがあり、出荷
検査及びフィールド保守に支障をきたすという欠点があ
った。
【0007】また、磯気ディスクの空き領域を検索して
書き込み試験を行う第2の方式では、試験を実行する前
に試験プログラム等で空き領域の検索を行っているが、
磁気ディスク装置における空き領域の位置は画一的では
ないため、書き込み試験を行うたびに磁気ディスク装置
の全体にわたって検索を行わなければならない。また、
磁気ディスク装置の空き領域の検索には、磁気ヘッドに
よる機械的なアクセス動作が必要であるため、一定の時
間を必要とする。このため、磁気ディスク装置の記憶容
量の増大に伴い、空き領域の検索に要する時間が大幅に
増大し、書き込み試験の実行に多大の時間が必要になる
という欠点があった。さらに、今後磁気ディスク装置の
記憶容量が増大する傾向にあることを考慮すると、書き
込み試験の実行に要する時間がますます長くなるおそれ
がある。
書き込み試験を行う第2の方式では、試験を実行する前
に試験プログラム等で空き領域の検索を行っているが、
磁気ディスク装置における空き領域の位置は画一的では
ないため、書き込み試験を行うたびに磁気ディスク装置
の全体にわたって検索を行わなければならない。また、
磁気ディスク装置の空き領域の検索には、磁気ヘッドに
よる機械的なアクセス動作が必要であるため、一定の時
間を必要とする。このため、磁気ディスク装置の記憶容
量の増大に伴い、空き領域の検索に要する時間が大幅に
増大し、書き込み試験の実行に多大の時間が必要になる
という欠点があった。さらに、今後磁気ディスク装置の
記憶容量が増大する傾向にあることを考慮すると、書き
込み試験の実行に要する時間がますます長くなるおそれ
がある。
【0008】本発明は、上記従来の欠点を解消し、書き
込み試験によるオペレーティングシステム等の他のソフ
トウェアで使用するデータの破壊を防ぎ、かつ、書き込
み試験の実行に要する時間の削減を可能とする磁気ディ
スク装置の試験方式を提供することを目的とする。
込み試験によるオペレーティングシステム等の他のソフ
トウェアで使用するデータの破壊を防ぎ、かつ、書き込
み試験の実行に要する時間の削減を可能とする磁気ディ
スク装置の試験方式を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明の磁気ディスク装置の試験方式は、磁気ディ
スク装置を備える情報処理システムに接続され、前記磁
気ディスク装置の空き領域に関する情報を格納し保持す
る空き領域情報保持部と、前記情報処理システムの各種
処理を実行する本体装置を制御するオペレーティングシ
ステムに管理されている前記磁気ディスク装置の空き領
域に関する情報を取得して前記空き領域情報保持部に格
納する空き領域情報格納指示部と、前記空き領域情報保
持部に保持されている前記磁気ディスク装置の空き領域
に関する情報を参照して前記磁気ディスク装置の空き領
域に対して書き込み試験を行うための試験プログラムを
格納する試験プログラム格納部と、前記試験プログラム
格納部に格納された試験プログラムにしたがって、前記
磁気ディスク装置に対して書き込み試験を行う試験実行
部とを備える構成としている。
め、本発明の磁気ディスク装置の試験方式は、磁気ディ
スク装置を備える情報処理システムに接続され、前記磁
気ディスク装置の空き領域に関する情報を格納し保持す
る空き領域情報保持部と、前記情報処理システムの各種
処理を実行する本体装置を制御するオペレーティングシ
ステムに管理されている前記磁気ディスク装置の空き領
域に関する情報を取得して前記空き領域情報保持部に格
納する空き領域情報格納指示部と、前記空き領域情報保
持部に保持されている前記磁気ディスク装置の空き領域
に関する情報を参照して前記磁気ディスク装置の空き領
域に対して書き込み試験を行うための試験プログラムを
格納する試験プログラム格納部と、前記試験プログラム
格納部に格納された試験プログラムにしたがって、前記
磁気ディスク装置に対して書き込み試験を行う試験実行
部とを備える構成としている。
【0010】また、他の態様では、前記空き領域情報保
持部と、前記空き領域情報格納指示部と、前記試験プロ
グラム格納部と、前記試験実行部とが、前記本体装置に
搭載された構成としている。
持部と、前記空き領域情報格納指示部と、前記試験プロ
グラム格納部と、前記試験実行部とが、前記本体装置に
搭載された構成としている。
【0011】また、他の態様では、前記空き領域情報格
納指示部が、前記本体装置に格納されたオペレーティン
グシステムによって制御された構成としている。
納指示部が、前記本体装置に格納されたオペレーティン
グシステムによって制御された構成としている。
【0012】上記目的を達成する他の磁気ディスク装置
の試験方式では、情報処理システムに接続された磁気デ
ィスク装置に対して書き込み試験を行う磁気ディスク装
置の試験方法において、所定のタイミングで前記情報処
理システムの各種処理を制御するオペレーティングシス
テムに管理されている前記磁気ディスク装置の空き領域
に関する情報を取得するステップと、取得した前記磁気
ディスク装置の空き領域に関する情報を参照して前記磁
気ディスク装置に対して書き込み試験を行うステップと
を備える構成としている。
の試験方式では、情報処理システムに接続された磁気デ
ィスク装置に対して書き込み試験を行う磁気ディスク装
置の試験方法において、所定のタイミングで前記情報処
理システムの各種処理を制御するオペレーティングシス
テムに管理されている前記磁気ディスク装置の空き領域
に関する情報を取得するステップと、取得した前記磁気
ディスク装置の空き領域に関する情報を参照して前記磁
気ディスク装置に対して書き込み試験を行うステップと
を備える構成としている。
【0013】
【作 用】本発明によれば、磁気ディスク装置の空き領
域にデータを書き込むことによって書き込み試験を行う
ため、磁気ディスク装置の試験専用領域を考慮すること
なく設計されたオペレーティングシステムによって本体
装置が制御されている場合であっても、書き込み試験に
おけるデータの書き込みによって他のソフトウェアで使
用するデータを破壊するおそれがない。また、本体装置
に設けられた空き領域情報保持部に保持される磁気ディ
スク装置の空き領域に関する情報を参照して磁気ディス
ク装置に対してデータの書き込み試験を行うことによ
り、書き込み試験の実行に先立って試験プログラム等に
より独自に磁気ディスク装置の空き領域を検索すること
なく書き込み試験を行うことができる。
域にデータを書き込むことによって書き込み試験を行う
ため、磁気ディスク装置の試験専用領域を考慮すること
なく設計されたオペレーティングシステムによって本体
装置が制御されている場合であっても、書き込み試験に
おけるデータの書き込みによって他のソフトウェアで使
用するデータを破壊するおそれがない。また、本体装置
に設けられた空き領域情報保持部に保持される磁気ディ
スク装置の空き領域に関する情報を参照して磁気ディス
ク装置に対してデータの書き込み試験を行うことによ
り、書き込み試験の実行に先立って試験プログラム等に
より独自に磁気ディスク装置の空き領域を検索すること
なく書き込み試験を行うことができる。
【0014】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。図1は、本発明の1実施例による磁気ディ
スク装置の試験方式を実現する情報処理システムの構成
を示すブロック図である。
て説明する。図1は、本発明の1実施例による磁気ディ
スク装置の試験方式を実現する情報処理システムの構成
を示すブロック図である。
【0015】図示のように、本実施例の情報処理システ
ムは、本体装置10と、外部記憶装置である磁気ディス
ク装置20と、両装置を接続するデータ伝送路30とを
備える。なお、図には磁気ディスク装置の書き込み試験
を行うための構成のみを図示し、他の構成については省
略してある。実際には、情報処理システムの使用目的や
扱うデータの種類等に応じて、キーボードやプリンタ等
の種々の周辺装置が接続されることはいうまでもない。
また、磁気ディスク装置も複数接続することができる。
ムは、本体装置10と、外部記憶装置である磁気ディス
ク装置20と、両装置を接続するデータ伝送路30とを
備える。なお、図には磁気ディスク装置の書き込み試験
を行うための構成のみを図示し、他の構成については省
略してある。実際には、情報処理システムの使用目的や
扱うデータの種類等に応じて、キーボードやプリンタ等
の種々の周辺装置が接続されることはいうまでもない。
また、磁気ディスク装置も複数接続することができる。
【0016】本体装置10は、パーソナルコンピュータ
やワークステーション等で実現され、磁気ディスク装置
20の空き領域に関する情報(以下、空き領域情報と称
す)を格納して保持する空き領域情報格納指示部11お
よび空き領域情報保持部12と、磁気ディスク装置20
に対して書き込み試験を行う試験プログラムを格納した
試験プログラム格納部13と、磁気ディスク装置20の
書き込み試験を実行する試験実行部14とを備える。ま
た図示しないが、本体装置10は、上記の構成の他に、
オペレーティングシステム等のソフトウェアを格納する
格納部、当該ソフトウェアによって制御される各種処理
部、入出力制御部等を備える。本体装置10の主記憶装
置等に格納されているオペレーティングシステムは、従
来のものと同様であり、磁気ディスク装置20へのアク
セスに必要な磁気ディスク装置20の空き領域情報を管
理している。
やワークステーション等で実現され、磁気ディスク装置
20の空き領域に関する情報(以下、空き領域情報と称
す)を格納して保持する空き領域情報格納指示部11お
よび空き領域情報保持部12と、磁気ディスク装置20
に対して書き込み試験を行う試験プログラムを格納した
試験プログラム格納部13と、磁気ディスク装置20の
書き込み試験を実行する試験実行部14とを備える。ま
た図示しないが、本体装置10は、上記の構成の他に、
オペレーティングシステム等のソフトウェアを格納する
格納部、当該ソフトウェアによって制御される各種処理
部、入出力制御部等を備える。本体装置10の主記憶装
置等に格納されているオペレーティングシステムは、従
来のものと同様であり、磁気ディスク装置20へのアク
セスに必要な磁気ディスク装置20の空き領域情報を管
理している。
【0017】空き領域情報格納指示部11は、中央処理
装置および主記憶装置等で実現され、オペレーティング
システムに管理されている磁気ディスク装置20の空き
領域情報を取得して空き領域情報保持部12に送る。ま
た空き領域格納部11は、オペレーティングシステムの
機能の1つとして設けることができる。
装置および主記憶装置等で実現され、オペレーティング
システムに管理されている磁気ディスク装置20の空き
領域情報を取得して空き領域情報保持部12に送る。ま
た空き領域格納部11は、オペレーティングシステムの
機能の1つとして設けることができる。
【0018】空き領域情報保持部12は、主記憶装置等
で実現され、空き領域格納指示部11から送られた磁気
ディスク装置20の空き領域情報を格納して保持する。
で実現され、空き領域格納指示部11から送られた磁気
ディスク装置20の空き領域情報を格納して保持する。
【0019】試験プログラム格納部13は、主記憶装置
等で実現され、磁気ディスク装置20の試験を行う試験
プログラムを格納する。試験プログラム格納部13に格
納された試験プログラムとしては、従来使用されていた
プログラムと同様のものを使用することができる。ただ
し、試験プログラム自体に磁気ディスク装置20の空き
領域を検索する機能を設ける必要はない。
等で実現され、磁気ディスク装置20の試験を行う試験
プログラムを格納する。試験プログラム格納部13に格
納された試験プログラムとしては、従来使用されていた
プログラムと同様のものを使用することができる。ただ
し、試験プログラム自体に磁気ディスク装置20の空き
領域を検索する機能を設ける必要はない。
【0020】試験実行部14は、中央処理装置等で実現
され、試験プログラム格納部13に格納された試験プロ
グラムの制御により、空き領域情報保持部12に保持さ
れている磁気ディスク装置20の空き領域情報を参照し
て書き込み試験を行う。
され、試験プログラム格納部13に格納された試験プロ
グラムの制御により、空き領域情報保持部12に保持さ
れている磁気ディスク装置20の空き領域情報を参照し
て書き込み試験を行う。
【0021】次に、図2のフローチャートを参照して本
実施例による書き込み試験の動作について説明する。ま
ず、本体装置10の起動時や所定のタイミングで入力さ
れたコマンドによって、空き領域情報格納指示部11
が、空き領域情報保持部12に磁気ディスク装置20の
空き領域情報が保持されているか否かを確認する(ステ
ップ201)。そして、空き領域情報保持部12に空き
領域情報が保持されていないときは、オペレーティング
システムから空き領域情報を取得して空き領域情報保持
部に格納する(ステップ202)。
実施例による書き込み試験の動作について説明する。ま
ず、本体装置10の起動時や所定のタイミングで入力さ
れたコマンドによって、空き領域情報格納指示部11
が、空き領域情報保持部12に磁気ディスク装置20の
空き領域情報が保持されているか否かを確認する(ステ
ップ201)。そして、空き領域情報保持部12に空き
領域情報が保持されていないときは、オペレーティング
システムから空き領域情報を取得して空き領域情報保持
部に格納する(ステップ202)。
【0022】このようにして空き領域情報保持部12に
格納され保持される磁気ディスク装置20の空き領域情
報は、この後、試験プログラムやその他のソフトウェア
が磁気ディスク装置20にアクセスする場合に、磁気デ
ィスク装置20の空き領域情報を得るために参照するこ
とができる。
格納され保持される磁気ディスク装置20の空き領域情
報は、この後、試験プログラムやその他のソフトウェア
が磁気ディスク装置20にアクセスする場合に、磁気デ
ィスク装置20の空き領域情報を得るために参照するこ
とができる。
【0023】次に、試験実行部14が、試験プログラム
格納部13に格納された試験プログラムに従い、空き領
域情報保持部12に保持されている空き領域情報を参照
して、磁気ディスク装置20に対してデータの書き込み
試験を行う(ステップ203)。
格納部13に格納された試験プログラムに従い、空き領
域情報保持部12に保持されている空き領域情報を参照
して、磁気ディスク装置20に対してデータの書き込み
試験を行う(ステップ203)。
【0024】以上好ましい実施例をあげて本発明を説明
したが、本発明は必ずしも上記実施例に限定されるもの
ではない。例えば、本実施例では、空き領域情報格納指
示部をオペレーティングシステムの1機能とすることが
できるとしたが、オペレーティングシステムとは別個の
制御部として設けてもなんら差し支えない。
したが、本発明は必ずしも上記実施例に限定されるもの
ではない。例えば、本実施例では、空き領域情報格納指
示部をオペレーティングシステムの1機能とすることが
できるとしたが、オペレーティングシステムとは別個の
制御部として設けてもなんら差し支えない。
【0025】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、磁気デ
ィスク装置の空き領域にデータを書き込むことによって
書き込み試験を行うため、磁気ディスク装置の試験専用
領域を考慮することなく設計されたオペレーティングシ
ステムによって本体装置が制御されている場合であって
も、書き込み試験におけるデータの書き込みによって他
のソフトウェアで使用するデータを破壊するおそれがな
い。したがって、出荷検査やフィールド保守にも支障を
きたすことがないという効果がある。
ィスク装置の空き領域にデータを書き込むことによって
書き込み試験を行うため、磁気ディスク装置の試験専用
領域を考慮することなく設計されたオペレーティングシ
ステムによって本体装置が制御されている場合であって
も、書き込み試験におけるデータの書き込みによって他
のソフトウェアで使用するデータを破壊するおそれがな
い。したがって、出荷検査やフィールド保守にも支障を
きたすことがないという効果がある。
【0026】また、本体装置に設けられた空き領域情報
保持部に保持される磁気ディスク装置の空き領域に関す
る情報を参照して磁気ディスク装置に対してデータの書
き込み試験を行うことにより、書き込み試験の実行に先
立って試験プログラム等により独自に磁気ディスク装置
の空き領域を検索することなく書き込み試験を行うこと
ができる。このため、磁気ディスク装置の記憶容量の大
小に関わらず、書き込み試験の実行に要する時間を削減
することができるという効果がある。また、将来的に磁
気ディスク装置の記憶容量が増大しても書き込み試験に
要する時間が長くなるのを回避することができる。
保持部に保持される磁気ディスク装置の空き領域に関す
る情報を参照して磁気ディスク装置に対してデータの書
き込み試験を行うことにより、書き込み試験の実行に先
立って試験プログラム等により独自に磁気ディスク装置
の空き領域を検索することなく書き込み試験を行うこと
ができる。このため、磁気ディスク装置の記憶容量の大
小に関わらず、書き込み試験の実行に要する時間を削減
することができるという効果がある。また、将来的に磁
気ディスク装置の記憶容量が増大しても書き込み試験に
要する時間が長くなるのを回避することができる。
【図1】 本発明の1実施例に係る磁気ディスク装置の
試験方式を実現する情報処理システムの構成を示すブロ
ック図である。
試験方式を実現する情報処理システムの構成を示すブロ
ック図である。
【図2】 本実施例の動作を示すフローチャートであ
る。
る。
10 本体装置 11 空き領域情報格納指示部 12 空き領域情報保持部 13 試験プログラム格納部 14 試験実行部 20 磁気ディスク装置 30 データ伝送路
Claims (4)
- 【請求項1】 磁気ディスク装置を備える情報処理シス
テムに接続され、 前記磁気ディスク装置の空き領域に関する情報を格納し
保持する空き領域情報保持部と、 前記情報処理システムの各種処理を実行する本体装置を
制御するオペレーティングシステムに管理されている前
記磁気ディスク装置の空き領域に関する情報を取得して
前記空き領域情報保持部に格納する空き領域情報格納指
示部と、 前記空き領域情報保持部に保持されている前記磁気ディ
スク装置の空き領域に関する情報を参照して前記磁気デ
ィスク装置の空き領域に対して書き込み試験を行うため
の試験プログラムを格納する試験プログラム格納部と、 前記試験プログラム格納部に格納された試験プログラム
にしたがって、前記磁気ディスク装置に対して書き込み
試験を行う試験実行部とを備えることを特徴とする磁気
ディスク装置の試験方式。 - 【請求項2】 前記空き領域情報保持部と、前記空き領
域情報格納指示部と、前記試験プログラム格納部と、前
記試験実行部とが、前記本体装置に搭載されていること
を特徴とする請求項1に記載の磁気ディスク装置の試験
方式。 - 【請求項3】 前記空き領域情報格納指示部が、前記本
体装置に格納されたオペレーティングシステムによって
制御されていることを特徴とする請求項2に記載の磁気
ディスク装置の試験方式。 - 【請求項4】 情報処理システムに接続された磁気ディ
スク装置に対して書き込み試験を行う磁気ディスク装置
の試験方式において、 所定のタイミングで前記情報処理システムの各種処理を
制御するオペレーティングシステムに管理されている前
記磁気ディスク装置の空き領域に関する情報を取得する
ステップと、 取得した前記磁気ディスク装置の空き領域に関する情報
を参照して前記磁気ディスク装置に対して書き込み試験
を行うステップとを備えることを特徴とする磁気ディス
ク装置の試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7031672A JPH08202630A (ja) | 1995-01-27 | 1995-01-27 | 磁気ディスク装置の試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7031672A JPH08202630A (ja) | 1995-01-27 | 1995-01-27 | 磁気ディスク装置の試験方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08202630A true JPH08202630A (ja) | 1996-08-09 |
Family
ID=12337622
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7031672A Pending JPH08202630A (ja) | 1995-01-27 | 1995-01-27 | 磁気ディスク装置の試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08202630A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013210831A (ja) * | 2012-03-30 | 2013-10-10 | Nec Corp | ディスクアレイ装置、ディスクアレイシステム、障害経路特定方法、及びプログラム |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02312067A (ja) * | 1989-05-26 | 1990-12-27 | Hokkaido Nippon Denki Software Kk | ディスク装置のディスク表面検査方法 |
| JPH05289951A (ja) * | 1992-04-07 | 1993-11-05 | Shikoku Nippon Denki Software Kk | 電子ディスク装置 |
| JPH0635612A (ja) * | 1992-07-14 | 1994-02-10 | Asahi Kasei Micro Syst Kk | 補助記憶装置およびその記憶情報管理方法 |
-
1995
- 1995-01-27 JP JP7031672A patent/JPH08202630A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02312067A (ja) * | 1989-05-26 | 1990-12-27 | Hokkaido Nippon Denki Software Kk | ディスク装置のディスク表面検査方法 |
| JPH05289951A (ja) * | 1992-04-07 | 1993-11-05 | Shikoku Nippon Denki Software Kk | 電子ディスク装置 |
| JPH0635612A (ja) * | 1992-07-14 | 1994-02-10 | Asahi Kasei Micro Syst Kk | 補助記憶装置およびその記憶情報管理方法 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013210831A (ja) * | 2012-03-30 | 2013-10-10 | Nec Corp | ディスクアレイ装置、ディスクアレイシステム、障害経路特定方法、及びプログラム |
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