JPH0820663B2 - 絞り込み測光方式の自動露出制御装置 - Google Patents
絞り込み測光方式の自動露出制御装置Info
- Publication number
- JPH0820663B2 JPH0820663B2 JP17366583A JP17366583A JPH0820663B2 JP H0820663 B2 JPH0820663 B2 JP H0820663B2 JP 17366583 A JP17366583 A JP 17366583A JP 17366583 A JP17366583 A JP 17366583A JP H0820663 B2 JPH0820663 B2 JP H0820663B2
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B7/00—Control of exposure by setting shutters, diaphragms or filters, separately or conjointly
- G03B7/28—Circuitry to measure or to take account of the object contrast
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B7/00—Control of exposure by setting shutters, diaphragms or filters, separately or conjointly
- G03B7/08—Control effected solely on the basis of the response, to the intensity of the light received by the camera, of a built-in light-sensitive device
- G03B7/091—Digital circuits
- G03B7/097—Digital circuits for control of both exposure time and aperture
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Exposure Control For Cameras (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （発明の技術分野） 本発明は瞬間絞り込み測光方式のカメラの自動露出制
御装置の改良に関する。
御装置の改良に関する。
（発明の背景） 従来の瞬間絞り込み測光方式のカメラでは、瞬間絞り
込み動作に先立って撮影レンズを介して測光を行い、そ
の測光結果から絞り値を決定し、決定された絞り値まで
絞りを絞り込んだ後の撮影レンズを介した測光結果から
シャッタを制御している。しかし、高輝度の被写体に対
して適正露出を得るための解決方式が見いだされていな
かった。例えば、開放測光方式では測光限界の時に測光
値を限界値に置き換えて制御する技術があったが、瞬間
絞り込み測光方式では測光値を測光限界値に置き換える
とシャッタの制御ができないという問題があった。
込み動作に先立って撮影レンズを介して測光を行い、そ
の測光結果から絞り値を決定し、決定された絞り値まで
絞りを絞り込んだ後の撮影レンズを介した測光結果から
シャッタを制御している。しかし、高輝度の被写体に対
して適正露出を得るための解決方式が見いだされていな
かった。例えば、開放測光方式では測光限界の時に測光
値を限界値に置き換えて制御する技術があったが、瞬間
絞り込み測光方式では測光値を測光限界値に置き換える
とシャッタの制御ができないという問題があった。
（発明の目的） 本発明の目的は、高輝度被写体に対しても適正な露出
制御が可能な絞り込み測光方式の自動露出制御装置を提
供することにある。
制御が可能な絞り込み測光方式の自動露出制御装置を提
供することにある。
＜実施例＞ 第１図（ａ）は本発明の関するマルチ測光装置の被写
界画面の分割例であり、中央部と４分割された周辺部と
によつて構成される５分割のものである。第１図（ｂ）
は第１図（ａ）の変形例で、中央部の感度が下部へ拡が
つた形になつている。分割の方法は種々あるが、回路の
複雑さとマルチ測光の効果のバランスを保つているのが
この５分割法である（実開昭55-125623号）。
界画面の分割例であり、中央部と４分割された周辺部と
によつて構成される５分割のものである。第１図（ｂ）
は第１図（ａ）の変形例で、中央部の感度が下部へ拡が
つた形になつている。分割の方法は種々あるが、回路の
複雑さとマルチ測光の効果のバランスを保つているのが
この５分割法である（実開昭55-125623号）。
以下の実施例の説明を行なうため中央部をZ0とし、左
上、右上、左下、そして右下を順にZ1、Z2、Z3、Z4とす
る。
上、右上、左下、そして右下を順にZ1、Z2、Z3、Z4とす
る。
第２図に測光光学系を示す。１は撮影レンズ、２は絞
り、３はクイツクリターンミラー、４はシヤツタ、５は
フイルム面、６はフアインダースクリーン、７はペンタ
プリズムを示す。接眼レンズ（不図示）はプリズム７か
ら射出した光を撮影者の眼に導き、撮影者はこの光を受
けて被写界画面を観察できる。８、９、10は接眼レンズ
（図示せず）の両側に１組存在し、８が三角プリズム、
９が集光レンズ、10がシリコンフオトダイオード（以下
SPDという）である。第３図はSPDのパターンで第１図
（ｂ）の分割を実現するためのものである。Z0〜Z4はそ
れぞれ第１図（ｂ）に対応しており中央部Z0は左右のSP
Dを並列に接続している。すなわちａとａ′、ｂとｂ′
が接続されている。
り、３はクイツクリターンミラー、４はシヤツタ、５は
フイルム面、６はフアインダースクリーン、７はペンタ
プリズムを示す。接眼レンズ（不図示）はプリズム７か
ら射出した光を撮影者の眼に導き、撮影者はこの光を受
けて被写界画面を観察できる。８、９、10は接眼レンズ
（図示せず）の両側に１組存在し、８が三角プリズム、
９が集光レンズ、10がシリコンフオトダイオード（以下
SPDという）である。第３図はSPDのパターンで第１図
（ｂ）の分割を実現するためのものである。Z0〜Z4はそ
れぞれ第１図（ｂ）に対応しており中央部Z0は左右のSP
Dを並列に接続している。すなわちａとａ′、ｂとｂ′
が接続されている。
第４図は本発明の実施例の詳細なブロツク図である。
測光回路100〜104は公知の測光回路で、SPD、基準電圧
源、ログダイオード、そしてOPアンプからなり、それぞ
れ第１図で示すZ0〜Z4の被写界領域を測光し、開放測光
出力PV0〜PV4を得る。又、測光回路100は第３図のSPDパ
ターンで示すように左右のSPDで中央部の領域に相当す
る部分を並列に接続することによつて測光精度を上げ、
瞬間絞り込み測光方式によつて絞りやシヤツタを制御す
る時のモニタ用測光出力としても使用し、レリーズ後の
測光出力は絞り値AVによつて変化し、BV0−AVとなる。
なおBV0はモニタする中央部の輝度値である。ポテンシ
ヨメータ105〜108はそれぞれ設定シヤツタ速度値TVM、
開放絞り値AV0、設定絞り込み段数値AVM−AV0（ここでA
VMは手動設定される絞り値である）、およびフイルム感
度値SVの設定手段になつていて、それぞれの設定値に対
応したアナログ量を発生する。109はモード設定手段で
絞優先モード（Ａモード）のときモードスイツチSW5がO
FFとなつて、その出力が“H"レベルとなり、シヤツタ優
先モード（Ｓモード）の時モードスイツチSW5がONとな
つて、その出力が“L"レベルとなる。
測光回路100〜104は公知の測光回路で、SPD、基準電圧
源、ログダイオード、そしてOPアンプからなり、それぞ
れ第１図で示すZ0〜Z4の被写界領域を測光し、開放測光
出力PV0〜PV4を得る。又、測光回路100は第３図のSPDパ
ターンで示すように左右のSPDで中央部の領域に相当す
る部分を並列に接続することによつて測光精度を上げ、
瞬間絞り込み測光方式によつて絞りやシヤツタを制御す
る時のモニタ用測光出力としても使用し、レリーズ後の
測光出力は絞り値AVによつて変化し、BV0−AVとなる。
なおBV0はモニタする中央部の輝度値である。ポテンシ
ヨメータ105〜108はそれぞれ設定シヤツタ速度値TVM、
開放絞り値AV0、設定絞り込み段数値AVM−AV0（ここでA
VMは手動設定される絞り値である）、およびフイルム感
度値SVの設定手段になつていて、それぞれの設定値に対
応したアナログ量を発生する。109はモード設定手段で
絞優先モード（Ａモード）のときモードスイツチSW5がO
FFとなつて、その出力が“H"レベルとなり、シヤツタ優
先モード（Ｓモード）の時モードスイツチSW5がONとな
つて、その出力が“L"レベルとなる。
120はアナログスイツチ回路でマイクロコンピユータ
ユニツトにて（以下MCU122と言う）のP3〜P0端子の出力
によつて設定される“9"、“8"、…、“1"、“0"によつ
て対応する入力端子“9"〜“0"のアナログ量が“OUT"端
子に伝達される。121は６ビツトのA/D変換器でアナログ
スイツチ回路120で選択されたアナログ量をデイジタル
値に変換して上位２ビツトをMCUR9、R8端子へ、下位４
ビツトをK3〜K0端子に伝達される。
ユニツトにて（以下MCU122と言う）のP3〜P0端子の出力
によつて設定される“9"、“8"、…、“1"、“0"によつ
て対応する入力端子“9"〜“0"のアナログ量が“OUT"端
子に伝達される。121は６ビツトのA/D変換器でアナログ
スイツチ回路120で選択されたアナログ量をデイジタル
値に変換して上位２ビツトをMCUR9、R8端子へ、下位４
ビツトをK3〜K0端子に伝達される。
123、124はそれぞれ６ビツトのD/A変換器でMCUのR5〜
R0端子、およびR15〜R10端子の出力によつて設定される
アナログ量を発生し、絞制御時のレフアレンス＄18＋TV
M−SV（＊）（＄は16進数であることを示す）とシヤツ
タ制御時のフイルム感度設定値（＄33−SV（＊））とな
る。（SV（＊）はマルチ測光による補正後のフイルム感
度値で詳しくは後述する）。
R0端子、およびR15〜R10端子の出力によつて設定される
アナログ量を発生し、絞制御時のレフアレンス＄18＋TV
M−SV（＊）（＄は16進数であることを示す）とシヤツ
タ制御時のフイルム感度設定値（＄33−SV（＊））とな
る。（SV（＊）はマルチ測光による補正後のフイルム感
度値で詳しくは後述する）。
155は絞り制御手段でレリーズ後MCU122のR6端子がＬ
となつた時点で作動状態となる。非反転入力端子に測光
回路100の絞り込み途中の測光出力PV0′（＝BV0−AV）
が入力し、反転入力端子にはD/A変換器123のレフアレン
ス出力＄18＋TVM−SV（＊）が入力する。
となつた時点で作動状態となる。非反転入力端子に測光
回路100の絞り込み途中の測光出力PV0′（＝BV0−AV）
が入力し、反転入力端子にはD/A変換器123のレフアレン
ス出力＄18＋TVM−SV（＊）が入力する。
BV0−AV≦＄18＋TVM−SV（＊） （１） のとき絞り込み停止マグネツト156に通電し、絞り込み
の停止が行なわれる。この時の絞り値をAVSとすると、 BV0−AVS＝＄18＋TVM−SV（＊） （２）となる。SV
（＊）はマルチ測光による補正後のフイルム感度値で、 SV（＊）＝（BVans−BV0）＋SV （３） の関係があり、マルチ測光によつて演算した輝度値BVan
sと中央部の輝度値との差を補正量として設定されフイ
ルム感度値SVに加えたものである。（２）、（３）式よ
り BV0−AVS＝＄18＋TVM−（BVans−BV0）−SV （４） BVans＋SV＝＄18＋TVM＋AVS （４）′ が得られる。＄18は回路都合のシフト分なので、
（４）′より設定フイルム感度値SV、設定シヤツタ速度
値TVMに対して適正輝度値BVansとなる絞り値AVSに制御
されることがわかる。
の停止が行なわれる。この時の絞り値をAVSとすると、 BV0−AVS＝＄18＋TVM−SV（＊） （２）となる。SV
（＊）はマルチ測光による補正後のフイルム感度値で、 SV（＊）＝（BVans−BV0）＋SV （３） の関係があり、マルチ測光によつて演算した輝度値BVan
sと中央部の輝度値との差を補正量として設定されフイ
ルム感度値SVに加えたものである。（２）、（３）式よ
り BV0−AVS＝＄18＋TVM−（BVans−BV0）−SV （４） BVans＋SV＝＄18＋TVM＋AVS （４）′ が得られる。＄18は回路都合のシフト分なので、
（４）′より設定フイルム感度値SV、設定シヤツタ速度
値TVMに対して適正輝度値BVansとなる絞り値AVSに制御
されることがわかる。
OPアンプ160の非反転入力端子にはD/A変換器124にセ
ツトされる（＄33−SV（＊））のアナログ量が加わるの
でOPアンプ160の反転入力端子とトランジスタ162のエミ
ツタに接続する抵抗161の一端は（＄33−SV（＊））と
同電位となる。又、抵抗161のもう一方の端子には測光
回路100のレリーズ後の絞りが所定値（AVM又はAVS）に
なつた時の中央部の測光出力（BV0−AVM）又は（BV0−A
VS）が入力する。よつて抵抗161の両端の電位差は（＄3
3−SV（＊））−｛BV0−AVM（AVS）｝となる。ここで
（３）式をあてはめると ＄33−（BVans−BV0）−SV−｛BV0−（AVM（AVS）｝ ＝＄33−｛BVans＋SV−AVM（AVS）｝＝＄33−TV
S （５） となる。ここでTVSは BVans＋SV＝AVM（AVS）＋TVS （６） を満足するもので、ミラーアツプ前に絞り込まれた絞り
値AVM（又はAVS）に対して適正露出（BVans＋SV）とな
るシヤツタ速度値である。トランジスタ162のhFEが高け
れば抵抗161と163にはほぼ等しい電流が流れるので両者
の抵抗値が等しければ抵抗163の両端の電位差も＄33−T
VSに対応したものとなる。160〜163がシヤツタ速度値演
算回路として働く。
ツトされる（＄33−SV（＊））のアナログ量が加わるの
でOPアンプ160の反転入力端子とトランジスタ162のエミ
ツタに接続する抵抗161の一端は（＄33−SV（＊））と
同電位となる。又、抵抗161のもう一方の端子には測光
回路100のレリーズ後の絞りが所定値（AVM又はAVS）に
なつた時の中央部の測光出力（BV0−AVM）又は（BV0−A
VS）が入力する。よつて抵抗161の両端の電位差は（＄3
3−SV（＊））−｛BV0−AVM（AVS）｝となる。ここで
（３）式をあてはめると ＄33−（BVans−BV0）−SV−｛BV0−（AVM（AVS）｝ ＝＄33−｛BVans＋SV−AVM（AVS）｝＝＄33−TV
S （５） となる。ここでTVSは BVans＋SV＝AVM（AVS）＋TVS （６） を満足するもので、ミラーアツプ前に絞り込まれた絞り
値AVM（又はAVS）に対して適正露出（BVans＋SV）とな
るシヤツタ速度値である。トランジスタ162のhFEが高け
れば抵抗161と163にはほぼ等しい電流が流れるので両者
の抵抗値が等しければ抵抗163の両端の電位差も＄33−T
VSに対応したものとなる。160〜163がシヤツタ速度値演
算回路として働く。
ミラースイツチSW2はミラーアツプ時にOFFとなりミラ
ーダウン後ONとなる。よつてレリーズ動作の所定時間が
ミラースイツチSW2がOFFするとミラーアツプ直前のシヤ
ツタ速度演算出力（＄33−TVS）がメモリコンデンサ165
に記憶される。
ーダウン後ONとなる。よつてレリーズ動作の所定時間が
ミラースイツチSW2がOFFするとミラーアツプ直前のシヤ
ツタ速度演算出力（＄33−TVS）がメモリコンデンサ165
に記憶される。
ミラーアツプ時にスイツチSW3がONとなりコンパレー
タ171が作動状態となる。このときシヤツタ先幕の走行
に連動してOFFとなるトリガスイツチSW4はまだON状態な
ので作動状態となつたコンパレータ171の出力は“L"と
なつてシヤツタマグネツト180に通電され、トリガスイ
ツチSW4がOFFするまでに機械系の部材によるシヤツタ後
幕係止に置き換わり、後幕の保持をする。先幕が先行し
てトリガスイツチSW4がOFFするとタイマコンデンサ170
が電流源172によつて充電され、コンデンサ170の両端に
露出時間に対応した電圧を発生する。メモリコンデンサ
165に記憶された＄33−TVSの電位に対応し、高速秒時の
時（TVSが多きい時）は、コンデンサ170に短時間に電荷
が蓄積された段階で、コンパレータ171の出力が反転
し、シヤツタマグネツト180の通電が解除されて、後幕
の係止が解かれ、シヤツタは所定のシヤツタ秒時に制御
される。TVSが小さい時にはコンデンサ170に充電時間を
要し、低速で制御される。
タ171が作動状態となる。このときシヤツタ先幕の走行
に連動してOFFとなるトリガスイツチSW4はまだON状態な
ので作動状態となつたコンパレータ171の出力は“L"と
なつてシヤツタマグネツト180に通電され、トリガスイ
ツチSW4がOFFするまでに機械系の部材によるシヤツタ後
幕係止に置き換わり、後幕の保持をする。先幕が先行し
てトリガスイツチSW4がOFFするとタイマコンデンサ170
が電流源172によつて充電され、コンデンサ170の両端に
露出時間に対応した電圧を発生する。メモリコンデンサ
165に記憶された＄33−TVSの電位に対応し、高速秒時の
時（TVSが多きい時）は、コンデンサ170に短時間に電荷
が蓄積された段階で、コンパレータ171の出力が反転
し、シヤツタマグネツト180の通電が解除されて、後幕
の係止が解かれ、シヤツタは所定のシヤツタ秒時に制御
される。TVSが小さい時にはコンデンサ170に充電時間を
要し、低速で制御される。
抵抗125、コンデンサ126はMCU122の▲▼端
子に入力し、電源投入時のリセツトを行なう。コンデン
サ127、128と発振子129はMCU122の“Xtal"、“EXtal"端
子に接続し、内部の発振回路によつて基準発振を発生す
る。抵抗130、131とコンデンサ132とがレリーズスイツ
チSW1の微分回路を形成し、MCU122の▲▼端子に
接続されることにより、レリーズした時に割込を行なわ
しめる。
子に入力し、電源投入時のリセツトを行なう。コンデン
サ127、128と発振子129はMCU122の“Xtal"、“EXtal"端
子に接続し、内部の発振回路によつて基準発振を発生す
る。抵抗130、131とコンデンサ132とがレリーズスイツ
チSW1の微分回路を形成し、MCU122の▲▼端子に
接続されることにより、レリーズした時に割込を行なわ
しめる。
LED7〜LED0はそれぞれカソード側がMCU122のO7‐O0端
子に接続されアノード側が抵抗140を介して電源に接続
している。MCU122のO7‐O0端子の１つがＬになることに
よつてLED7〜LED0の１つが点灯する。これらのLEDアレ
イは、不図示の露出モード選択部材に連動するモードス
イツチSW5によつてＡモードの時は“1000"−…“LT"、
の表示用フイルムが、Ｓモードの時には“F16"、“F1
1"、…“F1.4"の表示用フイルムが選択されてフアイン
ダー内に視認可能となる。MCU122は４ビツトのマイコン
で、内部の構成は第５図に示す。
子に接続されアノード側が抵抗140を介して電源に接続
している。MCU122のO7‐O0端子の１つがＬになることに
よつてLED7〜LED0の１つが点灯する。これらのLEDアレ
イは、不図示の露出モード選択部材に連動するモードス
イツチSW5によつてＡモードの時は“1000"−…“LT"、
の表示用フイルムが、Ｓモードの時には“F16"、“F1
1"、…“F1.4"の表示用フイルムが選択されてフアイン
ダー内に視認可能となる。MCU122は４ビツトのマイコン
で、内部の構成は第５図に示す。
同図において演算部ALU、MCUに対する命令を書き込ん
だROM、ROMのアドレスを指定するプログラムカウンタP
C、ROMの命令を翻訳するインストラクシヨンデコーダDE
C、翻訳された命令を実行するコントロールロジツク部C
L、Ｘ、Ｙで指定されるレジスタとして機能するRAM、発
振回路OSC、出力専用ポートＰ、Ｏ、入力専用ポート
Ｋ、入出力ポートＲ、およびタイマーＴ等から構成され
る。このようなマイコンには富士通製のMB8850シリーズ
などがある。又、RAMの１部を表１に示すように使用す
る。このRAMの１部には４ビツトマイコンなので２ワー
ド８ビツトのデータメモリを１つのレジスタとして使用
した部分があり、その部分をＺに添字を付して示す。
だROM、ROMのアドレスを指定するプログラムカウンタP
C、ROMの命令を翻訳するインストラクシヨンデコーダDE
C、翻訳された命令を実行するコントロールロジツク部C
L、Ｘ、Ｙで指定されるレジスタとして機能するRAM、発
振回路OSC、出力専用ポートＰ、Ｏ、入力専用ポート
Ｋ、入出力ポートＲ、およびタイマーＴ等から構成され
る。このようなマイコンには富士通製のMB8850シリーズ
などがある。又、RAMの１部を表１に示すように使用す
る。このRAMの１部には４ビツトマイコンなので２ワー
ド８ビツトのデータメモリを１つのレジスタとして使用
した部分があり、その部分をＺに添字を付して示す。
第６図はMCU122のフローチヤートである。先ず、情報
入力のサブルーチンで測光回路100〜104の開放測光出力
PV0〜PV4と各設定手段の設定情報を入力する。次にマル
チ測光演算のサブルーチンによつて、適正輝度値BVans
を算出し、補正後のフイルム感度値SV（＊）を算出す
る。次にＳモードかどうかを判断し、Ａモード演算ある
いはＳモードの演算を行なう。
入力のサブルーチンで測光回路100〜104の開放測光出力
PV0〜PV4と各設定手段の設定情報を入力する。次にマル
チ測光演算のサブルーチンによつて、適正輝度値BVans
を算出し、補正後のフイルム感度値SV（＊）を算出す
る。次にＳモードかどうかを判断し、Ａモード演算ある
いはＳモードの演算を行なう。
Ｓモードの時はモードスイツチSW5がONとなり設定手
段109の出力は“L"レベルとなり、RAMのレジスタZ09に
は“＄00"がストアされる。一方Ａモードのときはモー
ドスイツチSW5がOFFとなつて設定手段109の出力は“H"
となつてZ09には“＄3F"がストアされる。よつてZ09の2
5の桁であるＭ〔１、９〕（ここでＭ〔ａ、ｂ〕をＸレ
ジスタがａで、Ｙレジスタがｂの時に指定されるRAMの
４ビツトのデータメモリとして表わす）の21の桁をチエ
ツクすることによつて、 Ｍ〔１、９〕1＝０ （７） （ここでＭ〔ａ、ｂ〕nの添字ｎは、そのデータメモリ
の2n桁目のメモリであることを示す）のときがＳモード
となる。又、 Ｍ〔１、９〕1＝１ （８） のときがＡモードとなる。Ｍ〔１、９〕1によつて、Ｓ
モード演算あるいはＡモードの演算が行なわれると、表
示演算を行なう。
段109の出力は“L"レベルとなり、RAMのレジスタZ09に
は“＄00"がストアされる。一方Ａモードのときはモー
ドスイツチSW5がOFFとなつて設定手段109の出力は“H"
となつてZ09には“＄3F"がストアされる。よつてZ09の2
5の桁であるＭ〔１、９〕（ここでＭ〔ａ、ｂ〕をＸレ
ジスタがａで、Ｙレジスタがｂの時に指定されるRAMの
４ビツトのデータメモリとして表わす）の21の桁をチエ
ツクすることによつて、 Ｍ〔１、９〕1＝０ （７） （ここでＭ〔ａ、ｂ〕nの添字ｎは、そのデータメモリ
の2n桁目のメモリであることを示す）のときがＳモード
となる。又、 Ｍ〔１、９〕1＝１ （８） のときがＡモードとなる。Ｍ〔１、９〕1によつて、Ｓ
モード演算あるいはＡモードの演算が行なわれると、表
示演算を行なう。
次に、 Z1F←＄33 （９） とセツトし、 Z1F←Z1F−Z18 （10） の演算を行なう。この前にZ18にはSV（＊）がストアさ
れているので、レジスタZ1Fには＄33−SV（＊）がセツ
トされる。一度割込禁止にしてから、レジスタZ1E、Z1F
にストアされている25〜20の桁の情報＄18＋TVM−SV
（＊）、＄33−SV（＊）をそれぞれMCU122のR5〜R0 R
15〜R10端子に出力し、D/A変換器123、および124に＄18
＋TV−SV（＊）および＄33−SV（＊）をセツトする。
れているので、レジスタZ1Fには＄33−SV（＊）がセツ
トされる。一度割込禁止にしてから、レジスタZ1E、Z1F
にストアされている25〜20の桁の情報＄18＋TVM−SV
（＊）、＄33−SV（＊）をそれぞれMCU122のR5〜R0 R
15〜R10端子に出力し、D/A変換器123、および124に＄18
＋TV−SV（＊）および＄33−SV（＊）をセツトする。
次に割込み禁止を解除してスタート番地からの処理を
繰り返す。レジスタZ1E、Z1Fを出力するときに割込禁止
しているのは、D/A変換器123、124の更新途中にレリー
ズ割込みをさせないためである。
繰り返す。レジスタZ1E、Z1Fを出力するときに割込禁止
しているのは、D/A変換器123、124の更新途中にレリー
ズ割込みをさせないためである。
第７図はシヤツタボタンの操作によつてレリーズスイ
ツチSW1がONとなつてMCU122の▲▼端子が“L"と
なつた時の割込処理のサブルーチンである。レジスタZ
1Eの27の桁であるＭ〔３、Ｅ〕3のビツトをR6端子にセ
ツトする。それから内部タイマによつて絞り込みに要す
る最大時間に余裕をもつた時間、例えば70ms経過後、R6
端子をＨレベルにする。Ｍ〔３、Ｅ〕3は絞り制御をす
るかどうかのフラグとして働き、Ａモードのときは１に
セツトされているので、R6端子にはＨレベルの出力が表
われ、絞り制御手段155が作動せず、設定絞り値AVMまで
の絞り込まれる。一方Ｓモードのときは０にセツトされ
ているので、レリーズ後絞り制御が行なわれるので、レ
リーズ前にマグネツト156が通電されてることはない。
ツチSW1がONとなつてMCU122の▲▼端子が“L"と
なつた時の割込処理のサブルーチンである。レジスタZ
1Eの27の桁であるＭ〔３、Ｅ〕3のビツトをR6端子にセ
ツトする。それから内部タイマによつて絞り込みに要す
る最大時間に余裕をもつた時間、例えば70ms経過後、R6
端子をＨレベルにする。Ｍ〔３、Ｅ〕3は絞り制御をす
るかどうかのフラグとして働き、Ａモードのときは１に
セツトされているので、R6端子にはＨレベルの出力が表
われ、絞り制御手段155が作動せず、設定絞り値AVMまで
の絞り込まれる。一方Ｓモードのときは０にセツトされ
ているので、レリーズ後絞り制御が行なわれるので、レ
リーズ前にマグネツト156が通電されてることはない。
第８図は情報入力のサブルーチンのフローチヤートで
ある。Ｐポートを９にセツトしＹレジスタを９にセツト
し、Ｋポートの４ビツトをＭ〔０、９〕にストアし、Ｍ
〔１、９〕をクリアする。Ｍ〔１、９〕の21および20で
あるＭ〔１、９〕1、0にR9、R8端子の入力をセツトす
る。ＰとＹの値を１つ減じて上記操作をＭ〔１、Ｙ〕、
Ｍ〔０、Ｙ〕について繰り返すことによつてＹが負とな
つて＄Ｆとなつたとき、レジスタの表１のZ09〜Z00がセ
ツトされたことになる。すなわち、Z09にモード情報、Z
08にフイルム感度値〔SV〕、Z07に設定絞込み段数値〔A
VM−AV0〕、Z06に開放絞り値〔AV0〕、Z05に設定シヤツ
タ速度値〔TVM〕、そしてZ04〜Z00に５つの測光出力〔P
V4〕〜〔PV0〕がストアされる。
ある。Ｐポートを９にセツトしＹレジスタを９にセツト
し、Ｋポートの４ビツトをＭ〔０、９〕にストアし、Ｍ
〔１、９〕をクリアする。Ｍ〔１、９〕の21および20で
あるＭ〔１、９〕1、0にR9、R8端子の入力をセツトす
る。ＰとＹの値を１つ減じて上記操作をＭ〔１、Ｙ〕、
Ｍ〔０、Ｙ〕について繰り返すことによつてＹが負とな
つて＄Ｆとなつたとき、レジスタの表１のZ09〜Z00がセ
ツトされたことになる。すなわち、Z09にモード情報、Z
08にフイルム感度値〔SV〕、Z07に設定絞込み段数値〔A
VM−AV0〕、Z06に開放絞り値〔AV0〕、Z05に設定シヤツ
タ速度値〔TVM〕、そしてZ04〜Z00に５つの測光出力〔P
V4〕〜〔PV0〕がストアされる。
そして最後に Z07←Z07＋Z06 （11） とすることによつて、レジスタZ07には 〔AVM〕←〔AVM−AV0〕＋〔AV0〕 （11）′ と、設定絞り値〔AVM〕がストアされた状態となる。
第９図はマルチ測光演算のサブルーチンのフローチヤ
ートである。５つの測光出力PV4−PV0から一つの適正輝
度値BVansの算出を行なうが、最も簡単な例として平均
測光出力PVMを求める方法を示している。
ートである。５つの測光出力PV4−PV0から一つの適正輝
度値BVansの算出を行なうが、最も簡単な例として平均
測光出力PVMを求める方法を示している。
Δ＝PVM−PV0 （12） として補正量Δを求め、 SV（＊）＝Δ＋SV （13） として補正後のフイルム感度値SV（＊）を求める。
次に下記のようにライトバリユーLV（以下LV値とい
う）を求める。
う）を求める。
LV＝PVM＋AV0＋SV （14） なお、平均測光出力PVMは PVM＝BVM−AV0 （15） として、平均輝度値BVMに対して開放絞り値AV0に対応す
る分低い値である。（14）式よりLV値を求め、これをレ
ジスタZ1Cにストアする。
る分低い値である。（14）式よりLV値を求め、これをレ
ジスタZ1Cにストアする。
第10図はＳモード演算のサブルーチンのフローチヤー
トである。先ず、 Z1E←＄18 （16） とすることにより、Ｍ〔３、Ｅ〕3に０をセツトして絞
り制御モードであることをセツトするとともに、シフト
分をセツトする。次に設定シヤツタ速度値TVMをストア
したレジスタZ05を加算し、補正後のフイルム感度値SV
（＊）を減算することによつて、 Z1E←＄18＋TVM−SV（＊） （17） となる。一方、LV値をストアしたレジスタZ1Cからレジ
スタZ05を減じて、 Z1C←LV−TVM＝AVS （18） を得る。次に開放絞り値AV0のストアしたレジスタZ06と
比較し、 Z1C＜Z06（＝AV0） （19） が成り立てば Z1C←Z06（＝AV0） （20） とし、一方設定絞り値AVMのストアしたレジスタZ07と比
較し、 Z1C＞Z07（＝AVM） （21） が成り立てば Z1C←Z07（＝AVM） （22） 以上の操作によつてZ1Cにストアされるデータの範囲はA
V0〜AVMに限定される。Z1Cは1/3EVステツプなので、 Z1C←Z1C−３ （23） として第４図に示すようにF1.4（AV＝１）から表示させ
るために、１段に相当する３を引く。
トである。先ず、 Z1E←＄18 （16） とすることにより、Ｍ〔３、Ｅ〕3に０をセツトして絞
り制御モードであることをセツトするとともに、シフト
分をセツトする。次に設定シヤツタ速度値TVMをストア
したレジスタZ05を加算し、補正後のフイルム感度値SV
（＊）を減算することによつて、 Z1E←＄18＋TVM−SV（＊） （17） となる。一方、LV値をストアしたレジスタZ1Cからレジ
スタZ05を減じて、 Z1C←LV−TVM＝AVS （18） を得る。次に開放絞り値AV0のストアしたレジスタZ06と
比較し、 Z1C＜Z06（＝AV0） （19） が成り立てば Z1C←Z06（＝AV0） （20） とし、一方設定絞り値AVMのストアしたレジスタZ07と比
較し、 Z1C＞Z07（＝AVM） （21） が成り立てば Z1C←Z07（＝AVM） （22） 以上の操作によつてZ1Cにストアされるデータの範囲はA
V0〜AVMに限定される。Z1Cは1/3EVステツプなので、 Z1C←Z1C−３ （23） として第４図に示すようにF1.4（AV＝１）から表示させ
るために、１段に相当する３を引く。
第11図はＡモード演算のサブルーチンである。
Z1E←＄80 （24） とすることによりＭ〔３、Ｅ〕3＝１となつてレリーズ
後R6端子はＨのままで絞り制御回路155は作動しないの
で、絞りは設定絞り値まで絞り込まれる。又、LV値をス
トアしたレジスタZ1Cから設定絞り値AVMをストアしたレ
ジスタZ07を引き、 Z1C←LV−AVM＝TVS （25） を得る。又、 Z1C←Z1C−＄09 （26） として、1/8秒より長い秒時を“LT"として表わすために
３段に相当する＄09を引く。よつてZ1Cには０〜＄15の
数値がストアされる。
後R6端子はＨのままで絞り制御回路155は作動しないの
で、絞りは設定絞り値まで絞り込まれる。又、LV値をス
トアしたレジスタZ1Cから設定絞り値AVMをストアしたレ
ジスタZ07を引き、 Z1C←LV−AVM＝TVS （25） を得る。又、 Z1C←Z1C−＄09 （26） として、1/8秒より長い秒時を“LT"として表わすために
３段に相当する＄09を引く。よつてZ1Cには０〜＄15の
数値がストアされる。
第12図は表示演算のサブルーチンである。
Z1C←Z1C/3 （27） として、１段ステツプに変え、 Z1C＞７ （28） をチエツクし、（28）式が成り立つ時は Z1C←７ （29） とすることによつて、Z7には０〜７のいずれかがセツト
された状態となる。次に CF←０ （30） Z1D←＄FF （31） として、キヤリーフラグCFをリセツトするとともに、０
ポート07〜00出力を制御するレジスタZ1Dの８ビツトの
全部に“1"をセツトし、ROL処理を行なう。ROL処理はキ
ヤリフラグCFを含めてZ1Dの８ビツトを左へ１ビツトず
つ回転させる処理である。すなわち、 という操作を行なう。これを１回行なうと CF＝１ （32） Z1D＝11111110B （33） となる。Ｂは２進数を表わす。レジスタZ1Cから１を減
らして、Z1Cが負になるまでROL処理を繰り返すことによ
つて、Z1Cにストアされた０〜７に従つて、Z1Dには、
“11111110B"、“11111101B"、…“01111111B"がセツト
される。よつてZ1Dが07〜0O端子から出力した時は、Z1D
がＬとなるビツトによつて指定されるLEDが点灯し、“F
1.4"“F2"、…“F16"あるいは、“LT"、“15"、…“100
0"のフイルム板の一点が指示される。
された状態となる。次に CF←０ （30） Z1D←＄FF （31） として、キヤリーフラグCFをリセツトするとともに、０
ポート07〜00出力を制御するレジスタZ1Dの８ビツトの
全部に“1"をセツトし、ROL処理を行なう。ROL処理はキ
ヤリフラグCFを含めてZ1Dの８ビツトを左へ１ビツトず
つ回転させる処理である。すなわち、 という操作を行なう。これを１回行なうと CF＝１ （32） Z1D＝11111110B （33） となる。Ｂは２進数を表わす。レジスタZ1Cから１を減
らして、Z1Cが負になるまでROL処理を繰り返すことによ
つて、Z1Cにストアされた０〜７に従つて、Z1Dには、
“11111110B"、“11111101B"、…“01111111B"がセツト
される。よつてZ1Dが07〜0O端子から出力した時は、Z1D
がＬとなるビツトによつて指定されるLEDが点灯し、“F
1.4"“F2"、…“F16"あるいは、“LT"、“15"、…“100
0"のフイルム板の一点が指示される。
第13図はマルチ測光演算のフローチヤートである。第
１ステツプのBV変換は、表１のZ04〜Z00にストアされた
測光出力PV4〜PV0を輝度値BV4〜BV0に変換してZ14〜Z10
にストアする。第２ステツプで絞り制御やシヤツタ制御
のモニタに使用する中央部の輝度値BV0が、マルチ測光
演算において、演算に加味されずカツトされる値、すな
わち所定値、（例えばBV11でISO100の時EV16に相当する
値）以上になつたり測光可能下限値以下になつても、瞬
間絞込測光によつて絞り制御をするために必要な輝度値
BV0を確保するために退避用レジスタZ15にストアし、こ
の退避したBV0をBV0（＊）で表わす。続く第３ステツプ
で上記カツト処理を行ない、輝度値が所定値以上や測光
可能下限値以下となる領域のデータをカツトする。第４
ステツプ適正輝度値BVans算出のステツプだが、ここで
は最も簡単な平均輝度値BVM算出を行ない、適正輝度値B
Vansとする。
１ステツプのBV変換は、表１のZ04〜Z00にストアされた
測光出力PV4〜PV0を輝度値BV4〜BV0に変換してZ14〜Z10
にストアする。第２ステツプで絞り制御やシヤツタ制御
のモニタに使用する中央部の輝度値BV0が、マルチ測光
演算において、演算に加味されずカツトされる値、すな
わち所定値、（例えばBV11でISO100の時EV16に相当する
値）以上になつたり測光可能下限値以下になつても、瞬
間絞込測光によつて絞り制御をするために必要な輝度値
BV0を確保するために退避用レジスタZ15にストアし、こ
の退避したBV0をBV0（＊）で表わす。続く第３ステツプ
で上記カツト処理を行ない、輝度値が所定値以上や測光
可能下限値以下となる領域のデータをカツトする。第４
ステツプ適正輝度値BVans算出のステツプだが、ここで
は最も簡単な平均輝度値BVM算出を行ない、適正輝度値B
Vansとする。
この結果、レジスタZ18にBVMがストアされる。第５ス
テツプはレジスタZ18のBVMをレジスタZ1Cに転送する。
第６ステツプでZ18からレジスタZ15のBV0（＊）を引く
ことにより、レジスタZ18には Δ＝BVans（＝BVM）−BV0（＊） （34） がストアされる。これは（12）式に対応したもので、マ
ルチ測光演算によつて求めた補正量としての働きは同一
である。第７ステツプでレジスタZ18にレジスタZ08のフ
イルム感度値SVを加算することによつて（13）式の補正
後のフイルム感度値SV（＊）がレジスタZ18にストアさ
れた状態となる。
テツプはレジスタZ18のBVMをレジスタZ1Cに転送する。
第６ステツプでZ18からレジスタZ15のBV0（＊）を引く
ことにより、レジスタZ18には Δ＝BVans（＝BVM）−BV0（＊） （34） がストアされる。これは（12）式に対応したもので、マ
ルチ測光演算によつて求めた補正量としての働きは同一
である。第７ステツプでレジスタZ18にレジスタZ08のフ
イルム感度値SVを加算することによつて（13）式の補正
後のフイルム感度値SV（＊）がレジスタZ18にストアさ
れた状態となる。
第14図は本発明の実施例のフローチヤートである。第
１ステツプは中央部の測光出力PV0がA/D変換の上限値に
なつたかどうかをチエツクするステツプである。第４図
のA/D変換器121は６ビツト構成のものであるので上限が
＄3Fとなり、それ以上は＄3Fのままとなるので 〔PV0〕＝＄3F （35） が成り立つかどうかをチエツクする。（35）式が成り立
つ場合 Z1C←＄7F （36） として表示用のレジスタZ1Cに上限値をセツトし、レジ
スタZ18に−４〔EV〕に相当する＄F4（＝−＄Ｃ）をセ
ツトしてから、レジスタZ06のAV0を引き Z18←＄F4−Z06 （37） とすることによつて、補正量Δをストアするレジスタに
−（４＋AV0）〔EV〕に相当する値をセツトし、SV
（＊）を求めるステツプにジヤンプする。この（36）、
（37）式のステツプの意味は後述する。
１ステツプは中央部の測光出力PV0がA/D変換の上限値に
なつたかどうかをチエツクするステツプである。第４図
のA/D変換器121は６ビツト構成のものであるので上限が
＄3Fとなり、それ以上は＄3Fのままとなるので 〔PV0〕＝＄3F （35） が成り立つかどうかをチエツクする。（35）式が成り立
つ場合 Z1C←＄7F （36） として表示用のレジスタZ1Cに上限値をセツトし、レジ
スタZ18に−４〔EV〕に相当する＄F4（＝−＄Ｃ）をセ
ツトしてから、レジスタZ06のAV0を引き Z18←＄F4−Z06 （37） とすることによつて、補正量Δをストアするレジスタに
−（４＋AV0）〔EV〕に相当する値をセツトし、SV
（＊）を求めるステツプにジヤンプする。この（36）、
（37）式のステツプの意味は後述する。
第２ステツプは中央部の測光出力PV0がA/D変換の下限
値となつて測光可能下限値になつたかどうかをチエツク
するステツプである。
値となつて測光可能下限値になつたかどうかをチエツク
するステツプである。
〔PV0〕＝＄00 （38） が成り立つ時、 Z1C←＄00 （39） として表示用のレジスタZ1Cに下限値をセツトし、 Z18←＄00 （40） をセツトすることによつて補正量Δをストアするレジス
タに０〔EV〕に相当する値をセツトし、SV（＊）を求め
るステツプにジヤンプする。この（39）、（40）ステツ
プの意味は後述する。第３ステツプ以降は第13図の第１
ステツプ以降と同一である。
タに０〔EV〕に相当する値をセツトし、SV（＊）を求め
るステツプにジヤンプする。この（39）、（40）ステツ
プの意味は後述する。第３ステツプ以降は第13図の第１
ステツプ以降と同一である。
第15図は、第13図と第14図のBV変換のサブルーチンの
フローチヤートである。測光出力PV4〜PV0は、被写界の
輝度値BV4−BV0に比べて、開放絞り値AV0による光量低
下相当分低い値となつているので、この量を補正するこ
とによつて測光出力を絶対的な輝度値に変換される。よ
つて所定値BV11（＝EV16（ISO100））以上になれば太陽
を含むようなシーンとして識別可能となる。Ｙレジスタ
に４をセツトして、Z14レジスタに開放絞り値AV0をスト
アしているZ06の内容を転送し、レジスタZ04の測光出力
PV4と加算することにより、 Z14←〔BV4〕＝〔AV0〕＋〔PV4〕 （41） を得る。以下、Ｙレジスタを１つ減らして負になるま
で、 Z1Y←〔BVY〕＝〔AV0〕＋〔PVY〕（Ｙ＝0,1,…,3） （4
2） を繰り返すことによつて、５つの輝度値BV4〜BV0をレジ
スタZ14〜Z10にストアする。
フローチヤートである。測光出力PV4〜PV0は、被写界の
輝度値BV4−BV0に比べて、開放絞り値AV0による光量低
下相当分低い値となつているので、この量を補正するこ
とによつて測光出力を絶対的な輝度値に変換される。よ
つて所定値BV11（＝EV16（ISO100））以上になれば太陽
を含むようなシーンとして識別可能となる。Ｙレジスタ
に４をセツトして、Z14レジスタに開放絞り値AV0をスト
アしているZ06の内容を転送し、レジスタZ04の測光出力
PV4と加算することにより、 Z14←〔BV4〕＝〔AV0〕＋〔PV4〕 （41） を得る。以下、Ｙレジスタを１つ減らして負になるま
で、 Z1Y←〔BVY〕＝〔AV0〕＋〔PVY〕（Ｙ＝0,1,…,3） （4
2） を繰り返すことによつて、５つの輝度値BV4〜BV0をレジ
スタZ14〜Z10にストアする。
第16図は第13図、第14図に示したカツト処理のサブル
ーチンのフローチヤートである。先ず、ステツプａにお
いて後述の演算のために使用するデータメモリ〔Ｃ〕＝
Ｍ〔７、４〕、〔Ｌ〕＝Ｍ〔７、５〕、そして〔CL〕＝
Ｍ〔７、６〕をクリアする。ステツプｂにおいてＹレジ
スタを４にセツトする。
ーチンのフローチヤートである。先ず、ステツプａにお
いて後述の演算のために使用するデータメモリ〔Ｃ〕＝
Ｍ〔７、４〕、〔Ｌ〕＝Ｍ〔７、５〕、そして〔CL〕＝
Ｍ〔７、６〕をクリアする。ステツプｂにおいてＹレジ
スタを４にセツトする。
ステツプｃにおいて、 BVY＞＄33 （Ｙ＝0,1,2,…,4） （43） （この＄33はBV11に対応している。） に対応する比較を行なう。（43）式が成り立つ時は、ス
テツプｄに進み、そうでない時はステツプｈにジヤンプ
する。
テツプｄに進み、そうでない時はステツプｈにジヤンプ
する。
ステツプｄでは 〔Ｃ〕≧２ （44） が成り立つ時は、ステツプｇに進み、そうでない時は、
ステツプｅに進む。始めは〔Ｃ〕＝０としてあるので、
ステツプｅに進む。
ステツプｅに進む。始めは〔Ｃ〕＝０としてあるので、
ステツプｅに進む。
ステツプｅにおいて、 BVY＝０（Ｙ＝0,1,…,4） （45） とする。
次にステツプｆにおいて、カツト数〔Ｃ〕（すなわち
測光領域Z0〜Z4のうちの測光演算で不採用とした測光領
域の数）を１つ増す。その前の状態においてカツト数が
０であれば１に、１であれば２となる。
測光領域Z0〜Z4のうちの測光演算で不採用とした測光領
域の数）を１つ増す。その前の状態においてカツト数が
０であれば１に、１であれば２となる。
ステツプｇにおいては、 BVY＝＄33 （46） とする。
（43）式が成り立つようなシーンは太陽を含むような
シーンなので、ステツプｅにおいてそれを無視するため
に太陽を含む測光領域をカツトしてこれを計算しないよ
うにしている。しかしカツト数〔Ｃ〕が多くなるとこれ
を無視出来なくなるので、ステツプｇにおいてその測光
出力も計算にくみ入れるために（46）式のような制限を
与える。
シーンなので、ステツプｅにおいてそれを無視するため
に太陽を含む測光領域をカツトしてこれを計算しないよ
うにしている。しかしカツト数〔Ｃ〕が多くなるとこれ
を無視出来なくなるので、ステツプｇにおいてその測光
出力も計算にくみ入れるために（46）式のような制限を
与える。
逆に低輝度時については、ステツプｈにおいて測光出
力と測光下限値PVthとして＄00の比較を行なう。
力と測光下限値PVthとして＄00の比較を行なう。
PVY＝＄00 （47） この（47）式が成り立つと、ステツプｉに進み、そう
でない時はステツプｎにジヤンプする。
でない時はステツプｎにジヤンプする。
ステツプｉにおいて、測光下限によるカツト数〔Ｌ〕
について 〔Ｌ〕＝２ （48） が成り立つかどうかを判断する。成り立つ時はステツプ
ｌに進み、そうでない時はステツプｊに進む。始めは０
にセツトしてあるのでステツプｊに進む。
について 〔Ｌ〕＝２ （48） が成り立つかどうかを判断する。成り立つ時はステツプ
ｌに進み、そうでない時はステツプｊに進む。始めは０
にセツトしてあるのでステツプｊに進む。
ステツプｊにおいて、（43）式の成り立つ時と同様に
測光領域をカツトする。次のステツプｋにおいて、カツ
ト数〔Ｌ〕を１つ増す。
測光領域をカツトする。次のステツプｋにおいて、カツ
ト数〔Ｌ〕を１つ増す。
一方ステツプｌにおいて、 〔BVY〕＝〔PVth〕（＝０）＋〔AV0〕 （49） とする。
このあと、（49）式の処理を施したことを示すメモリ
〔CL〕に１をセツトするとともに、測光下限によるカツ
ト数〔Ｌ〕を１つ増す。次に〔Ｌ〕＝３になつた時はこ
の処理はされないことになる。
〔CL〕に１をセツトするとともに、測光下限によるカツ
ト数〔Ｌ〕を１つ増す。次に〔Ｌ〕＝３になつた時はこ
の処理はされないことになる。
測光下限値PVth以下の領域はステツプｊにおいて無視
されるが、それが一定数以上あると無視できなくなるの
で、ステツプｋにおいて、測光下限値PVth以下の領域を
同値PVthであるとみなして処理する。
されるが、それが一定数以上あると無視できなくなるの
で、ステツプｋにおいて、測光下限値PVth以下の領域を
同値PVthであるとみなして処理する。
最後にステツプｎでＹレジスタを１つ減らし、同レジ
スタが負になるまで繰り返すことにより、BV4〜BV0のカ
ツト処理を行なう。
スタが負になるまで繰り返すことにより、BV4〜BV0のカ
ツト処理を行なう。
尚、第13図および第14図の平均輝度値算出のサブルー
チンの詳細は略すが、次のような処理が行なわれてい
る。第16図のカツト処理のサブルーチンによつて得られ
た、〔Ｃ〕、〔Ｌ〕、および〔CL〕によつて、有効な測
光領域の数Ｎを求め Ｎ←５−Ｃ−Ｌ＋CL ５つの輝度値の合計（〔SUM〕として、Ｍ〔４、７〕、
Ｍ〔３、７〕、およびＭ〔２、７〕を使用する）を有効
数Ｎで割り、平均輝度値BVMを求めレジスタZ18にストア
する。
チンの詳細は略すが、次のような処理が行なわれてい
る。第16図のカツト処理のサブルーチンによつて得られ
た、〔Ｃ〕、〔Ｌ〕、および〔CL〕によつて、有効な測
光領域の数Ｎを求め Ｎ←５−Ｃ−Ｌ＋CL ５つの輝度値の合計（〔SUM〕として、Ｍ〔４、７〕、
Ｍ〔３、７〕、およびＭ〔２、７〕を使用する）を有効
数Ｎで割り、平均輝度値BVMを求めレジスタZ18にストア
する。
以上のような構成で第13図のマルチ測光の演算を行な
う場合、次のような特徴が生じる。例えばF1.4レンズ
（AV0＝１）のレンズを装着した時、測光出力が＄36で
あればBV0は＄39となる。すると（43）式からBV0はカツ
トされてしまうが、BV0（＊）に＄39がストアされてあ
るので、（34）式の演算が可能となる。BVans（＝BVM）
＝＄2Dであれば、（34）式から Δ←＄F4←＄2D←＄39 となる。＄F4は−４〔EV〕に相当する量であり、露出制
御が行なわれた場合、中央部の測光出力に対して４〔E
V〕オーバー側に補正した露出が行なわれる。
う場合、次のような特徴が生じる。例えばF1.4レンズ
（AV0＝１）のレンズを装着した時、測光出力が＄36で
あればBV0は＄39となる。すると（43）式からBV0はカツ
トされてしまうが、BV0（＊）に＄39がストアされてあ
るので、（34）式の演算が可能となる。BVans（＝BVM）
＝＄2Dであれば、（34）式から Δ←＄F4←＄2D←＄39 となる。＄F4は−４〔EV〕に相当する量であり、露出制
御が行なわれた場合、中央部の測光出力に対して４〔E
V〕オーバー側に補正した露出が行なわれる。
第14図のマルチ測光演算を行なう場合、次のようにな
る。
る。
F1.4レンズを装着した時の測光出力PV0が＄3Fの場
合、（36）式、（37）式の処理が行なわれる。よつて補
正量は Δ＝−（４＋AV0）＝−５ （50） となる。同様にF2.8レンズ（AV0＝３）の場合には補正
量Δは−７となる。このようにすることによつて測光上
限となつた時同一の輝度値に制御しようと働く。測光出
力が上限値をさらに越した場合は一定の補正量Δ（−５
又は−７）で制御されるので、単に中央部の測光出力に
よつて制御される場合（Δ＝０）と比べて常にオーバー
側に補正されて制御されるので、マルチ測光の効果を保
つことが出来る。これに対して第13図の場合には、中央
部の測光出力PV0が＄3Fとなつた場合、F1.4レンズ（〔A
V0〕＝＄03）を装着した時のBV0（＊）は＄42となる。
よつて補正量は Δ＝BVM−＄42 となるBVMは（43）式のカツト処理によつて＄33より大
きくはならないので、補正量Δは ＄33−＄42＝＄F1（＝−＄Ｆ） となつて、−５〔EV〕以上の補正量となる。−５〔EV〕
が、（50）式の補正量に対応するものだが、BVMによつ
て５〔EV〕以上の補正量となり得る。測光上限となつて
不安定要因が増えるので、第14図の実施例のように補正
量が一定の方が安定して制御可能となる。
合、（36）式、（37）式の処理が行なわれる。よつて補
正量は Δ＝−（４＋AV0）＝−５ （50） となる。同様にF2.8レンズ（AV0＝３）の場合には補正
量Δは−７となる。このようにすることによつて測光上
限となつた時同一の輝度値に制御しようと働く。測光出
力が上限値をさらに越した場合は一定の補正量Δ（−５
又は−７）で制御されるので、単に中央部の測光出力に
よつて制御される場合（Δ＝０）と比べて常にオーバー
側に補正されて制御されるので、マルチ測光の効果を保
つことが出来る。これに対して第13図の場合には、中央
部の測光出力PV0が＄3Fとなつた場合、F1.4レンズ（〔A
V0〕＝＄03）を装着した時のBV0（＊）は＄42となる。
よつて補正量は Δ＝BVM−＄42 となるBVMは（43）式のカツト処理によつて＄33より大
きくはならないので、補正量Δは ＄33−＄42＝＄F1（＝−＄Ｆ） となつて、−５〔EV〕以上の補正量となる。−５〔EV〕
が、（50）式の補正量に対応するものだが、BVMによつ
て５〔EV〕以上の補正量となり得る。測光上限となつて
不安定要因が増えるので、第14図の実施例のように補正
量が一定の方が安定して制御可能となる。
第14図にもどつて中央部の測光出力が測光下限以下と
なつたとき、補正量を０としているが、これも考え方は
同じである。周辺部の測光出力より、２つの測光素子を
用いた分だけ測光面積が広い中央部の測光出力が測光下
限以下となつている時なので、単に中央部の測光出力に
よつて制御がされるようしている。
なつたとき、補正量を０としているが、これも考え方は
同じである。周辺部の測光出力より、２つの測光素子を
用いた分だけ測光面積が広い中央部の測光出力が測光下
限以下となつている時なので、単に中央部の測光出力に
よつて制御がされるようしている。
（発明の効果） 以上のように、本発明ではレリーズ開始前の測光出力
が測光限界にある場合に露光量が一定量オーバーとなる
ように測光出力を補正するので、シャッタ制御が可能で
あり、一般に高輝度被写体に対しては露光量オーバー気
味にした方が最適な写真を得ることができるので、適正
な撮影が行える。
が測光限界にある場合に露光量が一定量オーバーとなる
ように測光出力を補正するので、シャッタ制御が可能で
あり、一般に高輝度被写体に対しては露光量オーバー気
味にした方が最適な写真を得ることができるので、適正
な撮影が行える。
第１図（ａ）、（ｂ）はマルチ測光による測光領域の分
割例の説明図、第２図は測光光学系の断面図、第３図は
第１図（ｂ）の分割を実現するSPDのパターン図、第４
図は本発明の実施例のブロツク図、第５図は第４図に使
用するMCU122の内部構成図、第６図はMCU122のフローチ
ヤート、第７図はMCU122の割込処理ルーチンのフローチ
ヤート、第８図は第６図の情報入力のサブルーチンのフ
ローチヤート、第９図は第６図のマルチ測光演算のサブ
ルーチンのフローチヤート、第10図は第６図のＳモード
演算のサブルーチンのフローチヤート、第11図は第６図
のＡモード演算のサブルーチンのフローチヤート、第12
図は第６図の表示演算のサブルーチンのフローチヤー
ト、第13図は第６図のマルチ測光演算のサブルーチンの
フローチヤート、第14図は第６図の本発明の実施例のマ
ルチ測光演算のサブルーチンのフローチヤート、第15図
は第13図と第14図のBV変換のサブルーチンのフローチヤ
ート、第16図は第13図と第14図のカツト処理のサブルー
チンのフローチヤートである。 （主要部分の符号の説明） 10……フオトダイオード（SPD）、100〜104……測光回
路、105〜109……設定手段、120……アナログスイツチ
回路、121……A/D変換器、122……マイクロ・コンピユ
ータ・ユニツト（MCU）、123、124……D/A変換器、155
……絞り制御手段、165……メモリコンデンサ、180……
シヤツタマグネツト
割例の説明図、第２図は測光光学系の断面図、第３図は
第１図（ｂ）の分割を実現するSPDのパターン図、第４
図は本発明の実施例のブロツク図、第５図は第４図に使
用するMCU122の内部構成図、第６図はMCU122のフローチ
ヤート、第７図はMCU122の割込処理ルーチンのフローチ
ヤート、第８図は第６図の情報入力のサブルーチンのフ
ローチヤート、第９図は第６図のマルチ測光演算のサブ
ルーチンのフローチヤート、第10図は第６図のＳモード
演算のサブルーチンのフローチヤート、第11図は第６図
のＡモード演算のサブルーチンのフローチヤート、第12
図は第６図の表示演算のサブルーチンのフローチヤー
ト、第13図は第６図のマルチ測光演算のサブルーチンの
フローチヤート、第14図は第６図の本発明の実施例のマ
ルチ測光演算のサブルーチンのフローチヤート、第15図
は第13図と第14図のBV変換のサブルーチンのフローチヤ
ート、第16図は第13図と第14図のカツト処理のサブルー
チンのフローチヤートである。 （主要部分の符号の説明） 10……フオトダイオード（SPD）、100〜104……測光回
路、105〜109……設定手段、120……アナログスイツチ
回路、121……A/D変換器、122……マイクロ・コンピユ
ータ・ユニツト（MCU）、123、124……D/A変換器、155
……絞り制御手段、165……メモリコンデンサ、180……
シヤツタマグネツト
Claims (1)
- 【請求項１】レリーズ後撮影レンズの絞り込みが開始さ
れ所定の絞り値まで制御された後、測光手段による再測
光後の測光出力によってシャッタ速度を制御するカメラ
の絞り込み測光方式の自動露出制御装置において、 レリーズ開始前の該測光出力を測光限界かどうかを判別
する判別手段、及び、該判別手段により該測光出力が測
光限界値以上と判断したときに露光量が一定量オーバー
となるように該測光出力を補正する補正手段を有し、前
記所定の絞り値に絞り込まれた後の前記補正された測光
出力によってシャッタ速度を制御することを特徴とする
絞り込み測光方式の自動露出制御装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17366583A JPH0820663B2 (ja) | 1983-09-20 | 1983-09-20 | 絞り込み測光方式の自動露出制御装置 |
| US06/650,852 US4589756A (en) | 1983-09-20 | 1984-09-14 | Method and apparatus for the automatic control of exposure in camera |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17366583A JPH0820663B2 (ja) | 1983-09-20 | 1983-09-20 | 絞り込み測光方式の自動露出制御装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6064331A JPS6064331A (ja) | 1985-04-12 |
| JPH0820663B2 true JPH0820663B2 (ja) | 1996-03-04 |
Family
ID=15964825
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17366583A Expired - Lifetime JPH0820663B2 (ja) | 1983-09-20 | 1983-09-20 | 絞り込み測光方式の自動露出制御装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4589756A (ja) |
| JP (1) | JPH0820663B2 (ja) |
Families Citing this family (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4746947A (en) * | 1985-02-25 | 1988-05-24 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Exposure calculating device |
| JPS6235328A (ja) * | 1985-08-09 | 1987-02-16 | Minolta Camera Co Ltd | カメラの露出制御装置 |
| US4690536A (en) * | 1985-09-09 | 1987-09-01 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Exposure control device for a camera in flash photography |
| JP2529649B2 (ja) * | 1986-12-29 | 1996-08-28 | キヤノン株式会社 | 測光装置 |
| JPH01285925A (ja) * | 1988-05-13 | 1989-11-16 | Nikon Corp | カメラ |
| US4951080A (en) * | 1988-05-24 | 1990-08-21 | Nikon Corporation | Device for controlling the amount of emission of electronic flash apparatus |
| US6093084A (en) * | 1988-08-01 | 2000-07-25 | Dentsply Research & Development Corp. | Device and method for dispensing polymerizable compositions |
| JPH073382Y2 (ja) * | 1988-08-01 | 1995-01-30 | 旭光学工業株式会社 | カメラの露出制御装置 |
| US5756559A (en) * | 1992-02-06 | 1998-05-26 | Dentsply Research & Development | Method and composition for adhering to tooth structure |
| US6191190B1 (en) | 1993-04-19 | 2001-02-20 | Dentsply Research & Development Corp. | Method and composition for adhering to tooth structure |
| US6391940B1 (en) | 1993-04-19 | 2002-05-21 | Dentsply Research & Development Corp. | Method and composition for adhering to metal dental structure |
| US6313191B1 (en) | 1994-08-22 | 2001-11-06 | Dentsply Gmbh | Method and composition for priming and adhering to tooth structure |
| US20050202241A1 (en) * | 2004-03-10 | 2005-09-15 | Jian-Ku Shang | High surface area ceramic coated fibers |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3717077A (en) * | 1972-02-22 | 1973-02-20 | Eastman Kodak Co | Exposure control apparatus |
| JPS5618930B2 (ja) * | 1973-04-03 | 1981-05-02 | ||
| JPS5212828A (en) * | 1975-07-21 | 1977-01-31 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | Exposure control process for the object of a non-uniform distribution of brightness |
| JPS5482231A (en) * | 1977-12-14 | 1979-06-30 | Nippon Chemical Ind | Ttl photometric automatic exposure control camera |
| JPS6011475Y2 (ja) * | 1979-02-28 | 1985-04-16 | 株式会社ニコン | マルチ測光装置 |
| DE3016084A1 (de) * | 1979-04-27 | 1980-11-13 | Nippon Kogaku Kk | Belichtungssteuereinrichtung fuer eine kamera |
| JPH0652366B2 (ja) * | 1979-05-01 | 1994-07-06 | 株式会社ニコン | カメラの露出表示装置 |
| US4443080A (en) * | 1980-11-12 | 1984-04-17 | Nippon Kogaku K.K. | Exposure control apparatus based on multimetering system |
-
1983
- 1983-09-20 JP JP17366583A patent/JPH0820663B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1984
- 1984-09-14 US US06/650,852 patent/US4589756A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4589756A (en) | 1986-05-20 |
| JPS6064331A (ja) | 1985-04-12 |
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