JPH082141B2 - 電解コンデンサの劣化検出回路 - Google Patents
電解コンデンサの劣化検出回路Info
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- JPH082141B2 JPH082141B2 JP61281977A JP28197786A JPH082141B2 JP H082141 B2 JPH082141 B2 JP H082141B2 JP 61281977 A JP61281977 A JP 61281977A JP 28197786 A JP28197786 A JP 28197786A JP H082141 B2 JPH082141 B2 JP H082141B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、交流電圧を整流して直流電圧を得るよう
構成した電源装置における平滑回路に使用される電解コ
ンデンサの劣化検出回路に関する。
構成した電源装置における平滑回路に使用される電解コ
ンデンサの劣化検出回路に関する。
一般に、交流電圧を直流電圧に変換する安定化電源回
路や直流入力電圧を交流に変換し任意の電圧に変圧した
後整流して直流出力電圧を得るDC−DCコンバータを備え
たスイッチングレギュレータ等において、直流出力の平
滑を行うため安価でしかも大容量の得られる電解コンデ
ンサが使用されている。
路や直流入力電圧を交流に変換し任意の電圧に変圧した
後整流して直流出力電圧を得るDC−DCコンバータを備え
たスイッチングレギュレータ等において、直流出力の平
滑を行うため安価でしかも大容量の得られる電解コンデ
ンサが使用されている。
このように構成された安定化電源において、電解コン
デンサは化学的変化を生じることから経時的劣化を回避
することができない。このコンデンサの劣化状態は、経
時的な静電容量の低下に伴い、誘電正接（tanδ）およ
び等価直列抵抗（ESR）もしくは遅れ電流の増加特性と
して現われ、その結果コンデンサが発熱し破損する危険
性がある。
デンサは化学的変化を生じることから経時的劣化を回避
することができない。このコンデンサの劣化状態は、経
時的な静電容量の低下に伴い、誘電正接（tanδ）およ
び等価直列抵抗（ESR）もしくは遅れ電流の増加特性と
して現われ、その結果コンデンサが発熱し破損する危険
性がある。
このような観点から、従来よりこの種のコンデンサの
劣化状態を検出する手段として、コンデンサの内部損失
の増大によって生じる発熱やこれに伴うコンデンサの内
部機構もしくは外装体の機械的変形を検出することによ
り、コンデンサが劣化破損に至る危険な状態を事前に検
知して回路の保安動作を行う保護方式が種々提案されて
いる。
劣化状態を検出する手段として、コンデンサの内部損失
の増大によって生じる発熱やこれに伴うコンデンサの内
部機構もしくは外装体の機械的変形を検出することによ
り、コンデンサが劣化破損に至る危険な状態を事前に検
知して回路の保安動作を行う保護方式が種々提案されて
いる。
しかしながら、前述した従来の劣化検出方法は、コン
デンサの過熱状態やコンデンサの構成部材の変形等を検
出するため、コンデンサの劣化状態が相当進行した状態
であり、この間にコンデンサの電気的特性は極めて悪化
しており、信頼性の高い電源回路に与える悪影響は極め
て大きい。
デンサの過熱状態やコンデンサの構成部材の変形等を検
出するため、コンデンサの劣化状態が相当進行した状態
であり、この間にコンデンサの電気的特性は極めて悪化
しており、信頼性の高い電源回路に与える悪影響は極め
て大きい。
そこで、出願人は先に平滑用電解コンデンサにおける
リップル電流を検出し、取出されたリップル電流を正常
状態のリップル電流値に基づいて設定された基準値と比
較してコンデンサの劣化状態を判定する平滑用コンデン
サの寿命検出装置を提案し、特許出願を行った。第２図
は、前述した特許出願に係る寿命検出装置の一構成例を
示す回路図である。第２図において、参照符号10は変圧
器を示し、この変圧器10の２次側に発生する交流電圧を
ダイオード整流器12および14によって整流し、得られた
直流電圧を平滑用コイル16および平滑用コンデンサ18に
よって平滑し所要の直流定電圧を発生させる。さらに、
前記平滑用コンデンサ18を流れるリップル電流を取出す
電流検出器20を設け、この電流検出器20で検出されたリ
ップル電流を演算増幅器22による電流電圧変換回路で電
圧信号に変換する。この信号を演算増幅器24,26からな
る平均値検出回路に入力し、コンデンサ18のリップル電
流振幅に比例した直流電圧を取出す。この電圧を抵抗R1
を介して所要の電圧レベルとして比較器32の一方の入力
端に入力するよう構成する。また、正常な平滑用コンデ
ンサを使用した場合のリップル電流に基づく電圧レベル
を設定する基準電源34を設け、この基準電源電圧を適宜
分圧抵抗R2,R3を介して前記比較器32の他方の入力端に
基準電圧レベルとして入力するよう構成する。従って、
比較器32では、前記基準電圧レベルと、平滑用コンデン
サ18の劣化に伴うリップル電流の低下によって低減する
電圧レベルとの比較が行われ、その偏差が許容レベル以
上となった際に所定の出力信号を出力するよう設定す
る。この結果比較器32の出力信号により、適宜スイッチ
ング素子36もしくは警報器38を付勢動作させることがで
きる。
リップル電流を検出し、取出されたリップル電流を正常
状態のリップル電流値に基づいて設定された基準値と比
較してコンデンサの劣化状態を判定する平滑用コンデン
サの寿命検出装置を提案し、特許出願を行った。第２図
は、前述した特許出願に係る寿命検出装置の一構成例を
示す回路図である。第２図において、参照符号10は変圧
器を示し、この変圧器10の２次側に発生する交流電圧を
ダイオード整流器12および14によって整流し、得られた
直流電圧を平滑用コイル16および平滑用コンデンサ18に
よって平滑し所要の直流定電圧を発生させる。さらに、
前記平滑用コンデンサ18を流れるリップル電流を取出す
電流検出器20を設け、この電流検出器20で検出されたリ
ップル電流を演算増幅器22による電流電圧変換回路で電
圧信号に変換する。この信号を演算増幅器24,26からな
る平均値検出回路に入力し、コンデンサ18のリップル電
流振幅に比例した直流電圧を取出す。この電圧を抵抗R1
を介して所要の電圧レベルとして比較器32の一方の入力
端に入力するよう構成する。また、正常な平滑用コンデ
ンサを使用した場合のリップル電流に基づく電圧レベル
を設定する基準電源34を設け、この基準電源電圧を適宜
分圧抵抗R2,R3を介して前記比較器32の他方の入力端に
基準電圧レベルとして入力するよう構成する。従って、
比較器32では、前記基準電圧レベルと、平滑用コンデン
サ18の劣化に伴うリップル電流の低下によって低減する
電圧レベルとの比較が行われ、その偏差が許容レベル以
上となった際に所定の出力信号を出力するよう設定す
る。この結果比較器32の出力信号により、適宜スイッチ
ング素子36もしくは警報器38を付勢動作させることがで
きる。
前述した平滑用コンデンサの寿命検出装置において、
電源回路の負荷が瞬間的に変動した場合、これに伴って
平滑用コンデンサ18を流れるリップル電流が変化し、比
較器32がこれに応答して出力信号を出力することがあ
る。また、電流検出器20によって電流を検出する際に入
力電圧の変動および入力電圧の交流分（脈流）の変化等
によりリップルを発生することがあり、これに伴って比
較器32に入力される検出用電圧レベルが微少変動し、そ
の結果比較器32の誤動作または出力のハンチングが発生
する危険性がある。
電源回路の負荷が瞬間的に変動した場合、これに伴って
平滑用コンデンサ18を流れるリップル電流が変化し、比
較器32がこれに応答して出力信号を出力することがあ
る。また、電流検出器20によって電流を検出する際に入
力電圧の変動および入力電圧の交流分（脈流）の変化等
によりリップルを発生することがあり、これに伴って比
較器32に入力される検出用電圧レベルが微少変動し、そ
の結果比較器32の誤動作または出力のハンチングが発生
する危険性がある。
そこで、本発明の目的は、平滑用電解コンデンサの劣
化によるリップル電流の変化と電源回路の負荷変動等に
よるリップル電流の変化とを識別して比較回路の誤動作
を防止し、平滑用電解コンデンサの劣化状態を常時適正
に判定することができる電解コンデンサの劣化検出回路
を提供するにある。
化によるリップル電流の変化と電源回路の負荷変動等に
よるリップル電流の変化とを識別して比較回路の誤動作
を防止し、平滑用電解コンデンサの劣化状態を常時適正
に判定することができる電解コンデンサの劣化検出回路
を提供するにある。
本発明に係る電解コンデンサの劣化検出回路は、交流
電圧またはパルス電圧を整流して得られたリップル分を
含む直流電圧を、平滑用電解コンデンサを含む平滑回路
に供給して平滑してなる電圧を負荷に供給するように構
成した電源回路からなり、前記平滑用電解コンデンサを
流れるリップル電流を取出し、このリップル電流値を、
正常な平滑用電解コンデンサのリップル電流値からなる
基準値と比較して、前記平滑用電解コンデンサの劣化状
態を検出するように構成してなる電解コンデンサの劣化
検出回路において、 平滑用電解コンデンサと直流に変流器を接続すると共
に、この変流器の出力側に整流回路からなる電流検出回
路を接続配置し、 さらにこの電流検出回路の出力端と基準電圧レベルを
設定した設定出力端とをそれぞれ比較入力端子に接続し
た比較回路を設けると共に、この比較回路に対して前記
比較出力を所定時間遅延させる時定数回路を設け、 前記電流検出回路により検出される検出電圧レベルが
前記基準電圧レベルより低くなった際に、前記比較回路
において高レベルの出力信号を所定時間遅延した後所定
の劣化検出信号を発生するためのスイッチング回路を備
えることを特徴とする。
電圧またはパルス電圧を整流して得られたリップル分を
含む直流電圧を、平滑用電解コンデンサを含む平滑回路
に供給して平滑してなる電圧を負荷に供給するように構
成した電源回路からなり、前記平滑用電解コンデンサを
流れるリップル電流を取出し、このリップル電流値を、
正常な平滑用電解コンデンサのリップル電流値からなる
基準値と比較して、前記平滑用電解コンデンサの劣化状
態を検出するように構成してなる電解コンデンサの劣化
検出回路において、 平滑用電解コンデンサと直流に変流器を接続すると共
に、この変流器の出力側に整流回路からなる電流検出回
路を接続配置し、 さらにこの電流検出回路の出力端と基準電圧レベルを
設定した設定出力端とをそれぞれ比較入力端子に接続し
た比較回路を設けると共に、この比較回路に対して前記
比較出力を所定時間遅延させる時定数回路を設け、 前記電流検出回路により検出される検出電圧レベルが
前記基準電圧レベルより低くなった際に、前記比較回路
において高レベルの出力信号を所定時間遅延した後所定
の劣化検出信号を発生するためのスイッチング回路を備
えることを特徴とする。
本発明に係る電解コンデンサの劣化検出回路によれ
ば、交流電圧等を整流して得られたリップル分を含む直
流電圧を平滑用電解コンデンサを介して平滑し負荷に供
給するよう構成した電源回路において、前記平滑用電解
コンデンサを流れるリップル電流を検出し、得られた検
出値を比較回路に入力して所定の基準値と比較すること
により、検出されたリップル電流値が著しく低下するこ
とから平滑用電解コンデンサの劣化を判別することがで
きると共に、前記比較回路に対して所定の時定数および
ヒステリシスを付与することにより、前記平滑用電解コ
ンデンサの劣化によるリップル電流の変化と電源回路の
負荷変動等に伴うリップル電流の変化とを識別して比較
回路の誤動作を防止することができる。
ば、交流電圧等を整流して得られたリップル分を含む直
流電圧を平滑用電解コンデンサを介して平滑し負荷に供
給するよう構成した電源回路において、前記平滑用電解
コンデンサを流れるリップル電流を検出し、得られた検
出値を比較回路に入力して所定の基準値と比較すること
により、検出されたリップル電流値が著しく低下するこ
とから平滑用電解コンデンサの劣化を判別することがで
きると共に、前記比較回路に対して所定の時定数および
ヒステリシスを付与することにより、前記平滑用電解コ
ンデンサの劣化によるリップル電流の変化と電源回路の
負荷変動等に伴うリップル電流の変化とを識別して比較
回路の誤動作を防止することができる。
次に、本発明に係る電解コンデンサの劣化検出回路の
実施例につき添付図面を参照しながら以下詳細に説明す
る。
実施例につき添付図面を参照しながら以下詳細に説明す
る。
第１図は本発明の劣化検出回路の一実施例を示す直流
安定化電源回路図である。なお、第２図に示す電源回路
と同一の構成部分については同一の参照符号を付すと共
にその詳細な説明は省略する。すなわち、第１図におい
て、変圧器10の出力側にダイオード整流器12および14か
らなる整流回路と平滑用コイル16および電解コンデンサ
を使用した平滑用コンデンサ18とからなる平滑回路とを
接続配置して安定化電源回路を構成する点は第２図に示
す回路と同様である。そこで、本実施例においては、平
滑用コンデンサ18に対して直列に変流器40を接続すると
共にこの変流器40の出力側にダイオード整流器42と抵抗
器R14およびコンデンサC2とからなる整流回路を接続配
置して電流検出回路を構成し、この電流検出回路の出力
端を比較器44の（−）側入力端子に接続する。また、比
較器44の（＋）側入力端子には安定化電源回路の出力電
圧を抵抗器R15およびR16によって所定値に分圧した基準
電圧レベルを入力するようにして比較回路を構成する。
なお、この比較器44の（＋）側入力端子と出力端子とを
抵抗器R17を介して接続し所定のヒステリシスを設定す
る。さらに、前記比較器44の出力側にダイオード整流器
46,抵抗器R18およびコンデンサC3を直列接続すると共に
前記ダイオード整流器46および抵抗器R18に対して並列
に前記ダイオード整流器46とは逆バイアスのダイオード
整流器48を接続して時定数回路を構成する。さらに、こ
の時定数回路の出力端にツェナダイオード50を介してス
イッチング素子52を接続し、このスイッチング素子52の
出力端にツェナダイオード54を接続してその接続端に所
定の劣化検出信号を発生するようにしたスイッチング回
路を構成する。
安定化電源回路図である。なお、第２図に示す電源回路
と同一の構成部分については同一の参照符号を付すと共
にその詳細な説明は省略する。すなわち、第１図におい
て、変圧器10の出力側にダイオード整流器12および14か
らなる整流回路と平滑用コイル16および電解コンデンサ
を使用した平滑用コンデンサ18とからなる平滑回路とを
接続配置して安定化電源回路を構成する点は第２図に示
す回路と同様である。そこで、本実施例においては、平
滑用コンデンサ18に対して直列に変流器40を接続すると
共にこの変流器40の出力側にダイオード整流器42と抵抗
器R14およびコンデンサC2とからなる整流回路を接続配
置して電流検出回路を構成し、この電流検出回路の出力
端を比較器44の（−）側入力端子に接続する。また、比
較器44の（＋）側入力端子には安定化電源回路の出力電
圧を抵抗器R15およびR16によって所定値に分圧した基準
電圧レベルを入力するようにして比較回路を構成する。
なお、この比較器44の（＋）側入力端子と出力端子とを
抵抗器R17を介して接続し所定のヒステリシスを設定す
る。さらに、前記比較器44の出力側にダイオード整流器
46,抵抗器R18およびコンデンサC3を直列接続すると共に
前記ダイオード整流器46および抵抗器R18に対して並列
に前記ダイオード整流器46とは逆バイアスのダイオード
整流器48を接続して時定数回路を構成する。さらに、こ
の時定数回路の出力端にツェナダイオード50を介してス
イッチング素子52を接続し、このスイッチング素子52の
出力端にツェナダイオード54を接続してその接続端に所
定の劣化検出信号を発生するようにしたスイッチング回
路を構成する。
このように構成した本実施例の安定化電源回路におい
て、コンデンサ18を流れるリップル電流を変流器40によ
って検出し、得られたリップル電流をダイオード整流器
40,抵抗器R14およびコンデンサC2からなる整流回路によ
って直流平滑化して前記抵抗器R14およびコンデンサC2
の端子間にコンデンサ18を流れるリップル電流に応じた
直流電圧を発生させ、この電流電圧を検出電圧レベルと
して比較器44の（−）側端子に入力する。比較器44は前
記検出電圧レベルと（＋）側端子に入力される基準電圧
レベルとを比較し、検出電圧レベルが基準電圧レベルよ
り低くなった際に高レベルの出力信号を発生する。この
高レベルの出力信号が抵抗器R18およびコンデンサC3か
らなる時定数回路によって所定時間遅延された後スイッ
チング素子52に伝送され、その結果スイッチング素子52
が付勢されて所定の劣化検出信号が発生する。
て、コンデンサ18を流れるリップル電流を変流器40によ
って検出し、得られたリップル電流をダイオード整流器
40,抵抗器R14およびコンデンサC2からなる整流回路によ
って直流平滑化して前記抵抗器R14およびコンデンサC2
の端子間にコンデンサ18を流れるリップル電流に応じた
直流電圧を発生させ、この電流電圧を検出電圧レベルと
して比較器44の（−）側端子に入力する。比較器44は前
記検出電圧レベルと（＋）側端子に入力される基準電圧
レベルとを比較し、検出電圧レベルが基準電圧レベルよ
り低くなった際に高レベルの出力信号を発生する。この
高レベルの出力信号が抵抗器R18およびコンデンサC3か
らなる時定数回路によって所定時間遅延された後スイッ
チング素子52に伝送され、その結果スイッチング素子52
が付勢されて所定の劣化検出信号が発生する。
前述した動作を行う本実施例の安定化電源回路におい
て、電源の負荷変動に伴ってコンデンサ18を流れるリッ
プル電流が瞬時的に変動し比較器44がこれに応答して高
レベルの出力信号を発生した場合、この瞬時的な高レベ
ルの出力信号はコンデンサC3の充電電圧として消費され
るためスイッチング素子が付勢されることはない。ま
た、変流器40によって電流を検出する際にリップルが生
じて比較器44の（−）側端子に入力される検出電圧レベ
ルが微少変動した場合にも、抵抗器R18によって設定す
るヒステリシスの作用により、比較器44の誤動作および
出力のハンチングを防止することができる。
て、電源の負荷変動に伴ってコンデンサ18を流れるリッ
プル電流が瞬時的に変動し比較器44がこれに応答して高
レベルの出力信号を発生した場合、この瞬時的な高レベ
ルの出力信号はコンデンサC3の充電電圧として消費され
るためスイッチング素子が付勢されることはない。ま
た、変流器40によって電流を検出する際にリップルが生
じて比較器44の（−）側端子に入力される検出電圧レベ
ルが微少変動した場合にも、抵抗器R18によって設定す
るヒステリシスの作用により、比較器44の誤動作および
出力のハンチングを防止することができる。
前述した実施例から明らかなように、本発明によれ
ば、交流電圧またはパルス電圧を整流して得られたリッ
プル分を含む直流電圧が平滑用電解コンデンサを含む平
滑回路に供給され、平滑された電圧を負荷に供給するよ
う構成した電源回路において、平滑用電解コンデンサを
流れるリップル電流を検出して所定の基準値と比較し、
検出されたリップル電流の値が著しく低下することで容
易かつ簡便に平滑用電解コンデンサの劣化を判別するこ
とができると共に、前記リップル電流の検出値と基準値
との比較を行う比較回路に対し所定の時定数を付与する
ことにより電源回路の瞬時的な負荷変動に伴う比較回路
の誤動作を防止することができる。また、前記比較回路
に対して所定のヒステリシスを付与することにより、リ
ップル電流の検出値に微少変動が生じた際に、比較回路
の誤動作または出力のハンチングを防止することがで
き、平滑用電解コンデンサを動作状態のままでその劣化
状態を有効かつ適正に判別することができ、この種の電
源回路の信頼性を向上すると共にこれを低コストに実現
することができる。
ば、交流電圧またはパルス電圧を整流して得られたリッ
プル分を含む直流電圧が平滑用電解コンデンサを含む平
滑回路に供給され、平滑された電圧を負荷に供給するよ
う構成した電源回路において、平滑用電解コンデンサを
流れるリップル電流を検出して所定の基準値と比較し、
検出されたリップル電流の値が著しく低下することで容
易かつ簡便に平滑用電解コンデンサの劣化を判別するこ
とができると共に、前記リップル電流の検出値と基準値
との比較を行う比較回路に対し所定の時定数を付与する
ことにより電源回路の瞬時的な負荷変動に伴う比較回路
の誤動作を防止することができる。また、前記比較回路
に対して所定のヒステリシスを付与することにより、リ
ップル電流の検出値に微少変動が生じた際に、比較回路
の誤動作または出力のハンチングを防止することがで
き、平滑用電解コンデンサを動作状態のままでその劣化
状態を有効かつ適正に判別することができ、この種の電
源回路の信頼性を向上すると共にこれを低コストに実現
することができる。
第１図は本発明に係る電解コンデンサの劣化検出回路の
一実施例を示す安定化電源回路図、第２図は平滑用コン
デンサの寿命検出装置の一構成例を示す安定化電源回路
図である。 10……変圧器 12,14,28,30,42,46,48……ダイオード整流器 16……平滑用コイル、18……平滑用コンデンサ 20……電流検出器、22,24,26……演算増幅器 32,44……比較器、34……電源 36,52……スイッチング素子、38……警報器 40……変流器、50,54……ツェナダイオード
一実施例を示す安定化電源回路図、第２図は平滑用コン
デンサの寿命検出装置の一構成例を示す安定化電源回路
図である。 10……変圧器 12,14,28,30,42,46,48……ダイオード整流器 16……平滑用コイル、18……平滑用コンデンサ 20……電流検出器、22,24,26……演算増幅器 32,44……比較器、34……電源 36,52……スイッチング素子、38……警報器 40……変流器、50,54……ツェナダイオード
Claims (1)
- 【請求項１】交流電圧またはパルス電圧を整流して得ら
れたリップル分を含む直流電圧を、平滑用電解コンデン
サを含む平滑回路に供給して平滑してなる電圧を負荷に
供給するように構成した電源回路からなり、前記平滑用
電解コンデンサを流れるリップル電流を取出し、このリ
ップル電流値を、正常な平滑用電解コンデンサのリップ
ル電流値からなる基準値と比較して、前記平滑用電解コ
ンデンサの劣化状態を検出するように構成してなる電解
コンデンサの劣化検出回路において、 平滑用電解コンデンサと直列に変流器を接続すると共
に、この変流器の出力側に整流回路からなる電流検出回
路を接続配置し、 さらにこの電流検出回路の出力端と基準電圧レベルを設
定した設定出力端とをそれぞれ比較入力端子に接続した
比較回路を設けると共に、この比較回路に対して前記比
較出力を所定時間遅延させる時定数回路を設け、 前記電流検出回路により検出される検出電圧レベルが前
記基準電圧レベルより低くなった際に、前記比較回路に
おいて高レベルの出力信号を所定時間遅延した後所定の
劣化検出信号を発生するためのスイッチング回路を備え
ることを特徴とする電解コンデンサの劣化検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61281977A JPH082141B2 (ja) | 1986-11-28 | 1986-11-28 | 電解コンデンサの劣化検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61281977A JPH082141B2 (ja) | 1986-11-28 | 1986-11-28 | 電解コンデンサの劣化検出回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63136926A JPS63136926A (ja) | 1988-06-09 |
| JPH082141B2 true JPH082141B2 (ja) | 1996-01-10 |
Family
ID=17646532
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61281977A Expired - Lifetime JPH082141B2 (ja) | 1986-11-28 | 1986-11-28 | 電解コンデンサの劣化検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH082141B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3328517B2 (ja) * | 1996-09-25 | 2002-09-24 | 株式会社三社電機製作所 | コンデンサに流れるリップル電流の評価装置 |
| JP4871511B2 (ja) * | 2005-01-18 | 2012-02-08 | 有限会社 ライフテクノス | 割込絶縁計測装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5789328U (ja) * | 1980-11-20 | 1982-06-02 | ||
| JPS5932213U (ja) * | 1982-08-23 | 1984-02-28 | 松下電器産業株式会社 | ガスグリル |
-
1986
- 1986-11-28 JP JP61281977A patent/JPH082141B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63136926A (ja) | 1988-06-09 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |