JPH0821762B2 - ガラスセラミツクス基板 - Google Patents
ガラスセラミツクス基板Info
- Publication number
- JPH0821762B2 JPH0821762B2 JP62015060A JP1506087A JPH0821762B2 JP H0821762 B2 JPH0821762 B2 JP H0821762B2 JP 62015060 A JP62015060 A JP 62015060A JP 1506087 A JP1506087 A JP 1506087A JP H0821762 B2 JPH0821762 B2 JP H0821762B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- powder
- sio
- substrate
- glass
- bao
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/03—Use of materials for the substrate
- H05K1/0306—Inorganic insulating substrates, e.g. ceramic, glass
Landscapes
- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は電子回路の形成に使用されるガラスセラミッ
クス基板に関する。
クス基板に関する。
[従来の技術] 従来低温焼成多層基板を構成する組成としてAl2O3−
ホウケイ酸系のガラス、この系のガラスに、耐水性や焼
結性を良くするために、2MgO・SiO2,MgO・SiO2,CaO・Si
O2,SrO・SiO2等を第3成分として入れたものが知られて
いる。しかしながら、かゝる組成の基板は焼結の際、結
晶化するガラスの量がきわめて少ないため基板表面にガ
ラス層が析出しやすい。そのため導体ペースト(Ag・Pd
系,Ag系,Au系,Cu系)を基板上に形成したさい、導体の
半田濡れ性が悪かったり、また、基板上に形成した抵抗
体、特に高抵抗体ペーストに含有されているフリットと
基板上のガラスとが反応し、抵抗体の抵抗値が極端に低
くなるというような欠点があった。
ホウケイ酸系のガラス、この系のガラスに、耐水性や焼
結性を良くするために、2MgO・SiO2,MgO・SiO2,CaO・Si
O2,SrO・SiO2等を第3成分として入れたものが知られて
いる。しかしながら、かゝる組成の基板は焼結の際、結
晶化するガラスの量がきわめて少ないため基板表面にガ
ラス層が析出しやすい。そのため導体ペースト(Ag・Pd
系,Ag系,Au系,Cu系)を基板上に形成したさい、導体の
半田濡れ性が悪かったり、また、基板上に形成した抵抗
体、特に高抵抗体ペーストに含有されているフリットと
基板上のガラスとが反応し、抵抗体の抵抗値が極端に低
くなるというような欠点があった。
[発明の解決しようとする問題点] 本発明は従来技術の有していた前述の問題点を解消
し、基板の上部に形成した導体の半田濡れ性を改良する
ことと基板の上部に形成した抵抗体、特に高抵抗体特性
を安定に形成することのできる基板の提供を目的とする
ものである。
し、基板の上部に形成した導体の半田濡れ性を改良する
ことと基板の上部に形成した抵抗体、特に高抵抗体特性
を安定に形成することのできる基板の提供を目的とする
ものである。
[問題点を解決するための手段] 本発明は、無機成分と有機バインダーとからなるグリ
ーンシートに所定パターンの導体を形成し、これを積層
し焼成し製造したガラスセラミックス基板において、該
無機成分は重量表示で ホウケイ酸ガラス粉末 30 〜70% Al2O3粉末 30 〜70% 2Al2O3・B2O3粉末及び/又はBaO・Al2O3・2SiO2粉末0.5
〜10% アルカリ土類金属の珪酸塩粉末 0 30% からなることを特徴とするガラスセラミックス基板を提
供するものである。
ーンシートに所定パターンの導体を形成し、これを積層
し焼成し製造したガラスセラミックス基板において、該
無機成分は重量表示で ホウケイ酸ガラス粉末 30 〜70% Al2O3粉末 30 〜70% 2Al2O3・B2O3粉末及び/又はBaO・Al2O3・2SiO2粉末0.5
〜10% アルカリ土類金属の珪酸塩粉末 0 30% からなることを特徴とするガラスセラミックス基板を提
供するものである。
本発明において、2al2O3・B2O3粉末及び/又はBaO・A
l2O3・2SiO2粉末は、核形成剤であり、焼成によるホウ
ケイ酸ガラスの結晶化を促進しガラスが基板表面に析出
するのを抑制して半田の濡れ性の低下を防ぎ、導体、抵
抗体との反応を低下する作用をする。かゝる粉末は無機
成分中の含有量が0.5重量%未満では上記作用が少な
く、10重量%を越えると基板の吸水性が悪化し、いずれ
も好ましくない。かゝる粉末は結晶であり、その粒度と
しては数μm程度のものが使用される。粉末の製造に当
っては、例えば、各酸化物を所定割合になるように調合
し950℃で1時間焼成した後粉砕することにより2al2O3
・B2O3粉末が得られ、1100℃で1時間焼成した後粉砕す
ることによりBaO・Al2O3・2SiO2粉末が得られる。
l2O3・2SiO2粉末は、核形成剤であり、焼成によるホウ
ケイ酸ガラスの結晶化を促進しガラスが基板表面に析出
するのを抑制して半田の濡れ性の低下を防ぎ、導体、抵
抗体との反応を低下する作用をする。かゝる粉末は無機
成分中の含有量が0.5重量%未満では上記作用が少な
く、10重量%を越えると基板の吸水性が悪化し、いずれ
も好ましくない。かゝる粉末は結晶であり、その粒度と
しては数μm程度のものが使用される。粉末の製造に当
っては、例えば、各酸化物を所定割合になるように調合
し950℃で1時間焼成した後粉砕することにより2al2O3
・B2O3粉末が得られ、1100℃で1時間焼成した後粉砕す
ることによりBaO・Al2O3・2SiO2粉末が得られる。
ホウケイ酸ガラス粉末としては次の組成のものが誘電
率が少なく、曲げ強度、耐湿性に優れた焼結体が得られ
るので好ましい。即ち、重量%表示でSiO225〜65%、Al
2O34〜15%、B2O325〜45%、BaO0.5〜30%の組成を有す
るものである。その理由としては、SiO2はガラスのネッ
トワークホーマであり上記範囲より少なくなると誘電率
が大きくなり、上記範囲より多くなると基板の焼成温度
が高くなるのでいずれも好ましくない。
率が少なく、曲げ強度、耐湿性に優れた焼結体が得られ
るので好ましい。即ち、重量%表示でSiO225〜65%、Al
2O34〜15%、B2O325〜45%、BaO0.5〜30%の組成を有す
るものである。その理由としては、SiO2はガラスのネッ
トワークホーマであり上記範囲より少なくなると誘電率
が大きくなり、上記範囲より多くなると基板の焼成温度
が高くなるのでいずれも好ましくない。
Al2O3は、上記範囲より少ないと基板の耐湿性が低下
し、上記範囲より多いと失透を生成し易くなるのでいず
れも好ましくない。B2O3は上記範囲より少ないと焼成温
度が高くなり、上記範囲より多いと耐湿性が低下するの
でいずれも好ましくない。BaOはフラックスであり上記
範囲より少ないと溶融性が低下し、上記範囲より多いと
誘電率が大きくなりいずれも好ましくない。
し、上記範囲より多いと失透を生成し易くなるのでいず
れも好ましくない。B2O3は上記範囲より少ないと焼成温
度が高くなり、上記範囲より多いと耐湿性が低下するの
でいずれも好ましくない。BaOはフラックスであり上記
範囲より少ないと溶融性が低下し、上記範囲より多いと
誘電率が大きくなりいずれも好ましくない。
以上の成分の外に少量のNa2O,Li2O,K2O,ZnO,CaO,MgO
を添加し溶融性を改善することができる。これらの添加
物は多くなり過ぎると電気特性が低下するので総量で5
%未満にするのが好ましい。
を添加し溶融性を改善することができる。これらの添加
物は多くなり過ぎると電気特性が低下するので総量で5
%未満にするのが好ましい。
無機成分中のガラス粉末の含有量が30重量%未満では
充分な焼結基板が得られ難く、70重量%を越えると、焼
結基板の抗折強度が低下したり、焼成温度が高くなるの
で好ましくない。
充分な焼結基板が得られ難く、70重量%を越えると、焼
結基板の抗折強度が低下したり、焼成温度が高くなるの
で好ましくない。
Al2O3粉末は基板の放熱性および抗折強度を向上する
ため添加する。その量が30重量%未満ではかかる特性の
向上が少なく70重量%超では焼結性が悪くなるとともに
誘電率が大きくなる。
ため添加する。その量が30重量%未満ではかかる特性の
向上が少なく70重量%超では焼結性が悪くなるとともに
誘電率が大きくなる。
アルカリ土類金属の珪酸塩粉末は、焼結助剤であり必
須成分ではないが、焼結を促進することができるので、
添加することが好ましい。その添加量が多くなり過ぎる
と、ガラス分が少なくなり基板の焼成密度が低く抗折強
度の低下、耐水性の劣化の原因となるので無機成分中の
珪酸塩の含有量は0.5〜10重量%の範囲が好ましい。
須成分ではないが、焼結を促進することができるので、
添加することが好ましい。その添加量が多くなり過ぎる
と、ガラス分が少なくなり基板の焼成密度が低く抗折強
度の低下、耐水性の劣化の原因となるので無機成分中の
珪酸塩の含有量は0.5〜10重量%の範囲が好ましい。
かゝる珪酸塩としては特に限定されるものではない
が、比較的入手が容易であるので2MgO・SiO2(フォルス
テライト),MgO・SiO2,CaO・SiO2,SrO・SiO2,BaO・SiO2
が使用される。これら珪酸塩は単独で使用しても良く、
二種以上を併用してもよい。また、その粒度は特に限定
されるものでなく0.5〜5μm程度のものが使用され
る。一方、本発明における有機成分としては特に限定さ
れず、エチルセルローズ、ポリメチルメタアクリレート
等の可塑剤をアルコール等の溶媒と混合したものが使用
される。
が、比較的入手が容易であるので2MgO・SiO2(フォルス
テライト),MgO・SiO2,CaO・SiO2,SrO・SiO2,BaO・SiO2
が使用される。これら珪酸塩は単独で使用しても良く、
二種以上を併用してもよい。また、その粒度は特に限定
されるものでなく0.5〜5μm程度のものが使用され
る。一方、本発明における有機成分としては特に限定さ
れず、エチルセルローズ、ポリメチルメタアクリレート
等の可塑剤をアルコール等の溶媒と混合したものが使用
される。
また、基板上に形成される導体としても特に限定され
ず、Ag−Pdペーストにより形成されたもの、Cuペースト
により形成されたもの、Agペーストにより形成されたも
の等広範囲に適用される。中でも、ガラス含有量の多い
ペーストを使用するものに対しては特に効果的である。
かゝるペーストとしては、Ag−Pdペーストにおいて、無
機成分が重量%表示でAg85〜80%、Pd15〜20%、ガラス
1〜15%からなり、Agのマイグレーションに対する特性
の改善を図ったものが例示される。
ず、Ag−Pdペーストにより形成されたもの、Cuペースト
により形成されたもの、Agペーストにより形成されたも
の等広範囲に適用される。中でも、ガラス含有量の多い
ペーストを使用するものに対しては特に効果的である。
かゝるペーストとしては、Ag−Pdペーストにおいて、無
機成分が重量%表示でAg85〜80%、Pd15〜20%、ガラス
1〜15%からなり、Agのマイグレーションに対する特性
の改善を図ったものが例示される。
本発明において析出する主結晶は、焼成温度が比較的
低い場合(約1000℃)は2Al2O3・B2O3であり、焼成温度
が比較的高い場合(約1100℃)はBaO・Al2O3・2SiO2で
ある。
低い場合(約1000℃)は2Al2O3・B2O3であり、焼成温度
が比較的高い場合(約1100℃)はBaO・Al2O3・2SiO2で
ある。
[作用] 非晶質ガラスに比較し結晶化ガラスの方が比較的半田
が濡れやすいのは表面がポーラスとなっており、導体ペ
ースト中のフリットが基板中にしみ込みやすい点と基板
上のガラスが反応しにくいためと考えられる。
が濡れやすいのは表面がポーラスとなっており、導体ペ
ースト中のフリットが基板中にしみ込みやすい点と基板
上のガラスが反応しにくいためと考えられる。
[実施例] 実施例1、比較例1 低温焼成多層基板用組成としてAl2O3粉末52重量%、2
MgO・SiO2粉末10重量%、硼硅酸ガラス(SiO235%,Al2O
310%,B2O335%,BaO20%)粉末残量、2Al2O3・B2O3を0
〜18重量%となる様に秤量し、これに有機ビヒクルを添
加し混練後、スラリーを作成した。次に通常のドクター
ブレード法によりこのスラリーを厚味250μmのグリー
ンシートに形成した。
MgO・SiO2粉末10重量%、硼硅酸ガラス(SiO235%,Al2O
310%,B2O335%,BaO20%)粉末残量、2Al2O3・B2O3を0
〜18重量%となる様に秤量し、これに有機ビヒクルを添
加し混練後、スラリーを作成した。次に通常のドクター
ブレード法によりこのスラリーを厚味250μmのグリー
ンシートに形成した。
次にグリーンシートにビアホール、内部電極を形成し
た後、このグリーンシート6枚を積層し、100℃の温
度、150kg/cm2の圧力で10分間ホットプレスをし厚味1.2
mmの一体化したグリーンシートを作成した。
た後、このグリーンシート6枚を積層し、100℃の温
度、150kg/cm2の圧力で10分間ホットプレスをし厚味1.2
mmの一体化したグリーンシートを作成した。
次にこのグリーンシートを880℃の温度で2時間焼成
し本発明の基板を得た。
し本発明の基板を得た。
この基板上に通常の厚膜印刷法で導体ペースト(TR−
4846田中マッセィ製)を印刷し、850℃で焼成し、Ag・P
d導体を作成して、半田濡れ性を測定した。その結果を
第1図に示し、第2図にその焼成密度を示した。第1図
より明らかなように本発明によるもの、即ち2Al2O3・B2
O3を0.5〜10重量%含有するものは、比較例である2Al2O
3・B2O3を全く含有しないものに比べて極めて良好な半
田濡れ性を示した。また、第2図より明らかなように本
発明によるもの、即ち2Al2O3・B2O3を0.5〜10重量%含
有するものは、比較例であるそれを10重量%超えて含有
するものに比べて焼成密度が極めて大きい。半田濡れ性
の測定方法は、基板上に2×2mmのAg・Pd導体パッドを2
0ヶ形成しフリックスRM611F(αメタル製)で表面の酸
化物を除去し、240℃の温度の半田槽に約3〜5秒浸漬
後、基板を半田液面に対し90度の角度で引き上げ、完全
に半田が濡れたパッアドを100%、1ヶでもパッド上に
ピンホールが有るものを0%として測定、評価した。
4846田中マッセィ製)を印刷し、850℃で焼成し、Ag・P
d導体を作成して、半田濡れ性を測定した。その結果を
第1図に示し、第2図にその焼成密度を示した。第1図
より明らかなように本発明によるもの、即ち2Al2O3・B2
O3を0.5〜10重量%含有するものは、比較例である2Al2O
3・B2O3を全く含有しないものに比べて極めて良好な半
田濡れ性を示した。また、第2図より明らかなように本
発明によるもの、即ち2Al2O3・B2O3を0.5〜10重量%含
有するものは、比較例であるそれを10重量%超えて含有
するものに比べて焼成密度が極めて大きい。半田濡れ性
の測定方法は、基板上に2×2mmのAg・Pd導体パッドを2
0ヶ形成しフリックスRM611F(αメタル製)で表面の酸
化物を除去し、240℃の温度の半田槽に約3〜5秒浸漬
後、基板を半田液面に対し90度の角度で引き上げ、完全
に半田が濡れたパッアドを100%、1ヶでもパッド上に
ピンホールが有るものを0%として測定、評価した。
なお使用した半田の組成はSn63%、Pd35%、Ag2%で
ある。
ある。
又、この基板上に通常のスクリーン印刷法で抵抗体ペ
ースト1749(Dupout社製シート抵抗100kΩ/□用)を形
成し、850℃で焼成したところ、2Al2O3・SiO2を添加し
ない組成では50kΩ/□と1/2に低下しているのに対し本
発明による基板では87kΩ/□とほぼAl2O3基板上の特性
と同等の値を示した。
ースト1749(Dupout社製シート抵抗100kΩ/□用)を形
成し、850℃で焼成したところ、2Al2O3・SiO2を添加し
ない組成では50kΩ/□と1/2に低下しているのに対し本
発明による基板では87kΩ/□とほぼAl2O3基板上の特性
と同等の値を示した。
実施例2、比較例2 基板の組成としてAl2O3粉末50重量%、2MgO・SiO2粉
末10重量%、硼硅酸ガラス(SiO235%,Al2O310%,B2O33
5%,BaO20%粉末)残量、BaO・Al2O3・2SiO2を0〜10重
量%となる様に秤量し、これに有機ビヒクルを添加し混
練後スラリーを作成した。次に通常のドクターブレード
法によりこのスラリーを厚味125μmのグリーンシート
に形成した。次にグリーンシートにビアール、Ag系から
なる内部電極を形成した後、このグリーンシート10枚を
積層し、70℃の温度、150kg/cm2の圧力で10分間ホット
プレスし厚味1.2mmの一体化したグリーンシートを作成
した。次にこのグリーンシートを850℃の温度で4時間
焼成し本発明の基板を得た。
末10重量%、硼硅酸ガラス(SiO235%,Al2O310%,B2O33
5%,BaO20%粉末)残量、BaO・Al2O3・2SiO2を0〜10重
量%となる様に秤量し、これに有機ビヒクルを添加し混
練後スラリーを作成した。次に通常のドクターブレード
法によりこのスラリーを厚味125μmのグリーンシート
に形成した。次にグリーンシートにビアール、Ag系から
なる内部電極を形成した後、このグリーンシート10枚を
積層し、70℃の温度、150kg/cm2の圧力で10分間ホット
プレスし厚味1.2mmの一体化したグリーンシートを作成
した。次にこのグリーンシートを850℃の温度で4時間
焼成し本発明の基板を得た。
この基板について、実施例1と同様の方法で半田濡れ
性及び抵抗体の抵抗値変化を調べた結果、実施例1、比
較例1とほゞ同様であった。
性及び抵抗体の抵抗値変化を調べた結果、実施例1、比
較例1とほゞ同様であった。
[発明の効果] 本発明によれば、低温で焼成される基板上の導体との
半田濡れ性に優れ、焼成による抵抗体の抵抗値変化率を
極めて少ないものが得られる。
半田濡れ性に優れ、焼成による抵抗体の抵抗値変化率を
極めて少ないものが得られる。
第1図は、半田濡れ性を示す図である。 第2図は、焼成密度を示す図である。
Claims (2)
- 【請求項1】無機成分と有機バインダーとからなるグリ
ーンシートに所定パターンの導体を形成し、これを積層
し焼成し製造したガラスセラミックス基板において、該
無機成分は重量表示で ホウケイ酸ガラス粉末 30 〜70% Al2O3粉末 30 〜70% 2Al2O3・B2O3粉末及び/又はBaO・Al2O3・2SiO2粉末0.5
〜10% アルカリ土類金属の珪酸塩粉末 0 〜30% からなることを特徴とするガラスセラミックス基板。 - 【請求項2】前記珪酸塩粉末は2MgO・SiO2,MgO・SiO2,C
aO・SiO2,SrO・SiO2及びBaO・SiO2から選ばれた少なく
とも1種である特許請求の範囲第1項記載のガラスセラ
ミックス基板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62015060A JPH0821762B2 (ja) | 1987-01-27 | 1987-01-27 | ガラスセラミツクス基板 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62015060A JPH0821762B2 (ja) | 1987-01-27 | 1987-01-27 | ガラスセラミツクス基板 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63184388A JPS63184388A (ja) | 1988-07-29 |
| JPH0821762B2 true JPH0821762B2 (ja) | 1996-03-04 |
Family
ID=11878294
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62015060A Expired - Lifetime JPH0821762B2 (ja) | 1987-01-27 | 1987-01-27 | ガラスセラミツクス基板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0821762B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5662755A (en) * | 1993-10-15 | 1997-09-02 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method of making multi-layered ceramic substrates |
| JP5803453B2 (ja) * | 2011-09-07 | 2015-11-04 | 日本電気硝子株式会社 | ガラスセラミック誘電体用材料およびガラスセラミック誘電体 |
-
1987
- 1987-01-27 JP JP62015060A patent/JPH0821762B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63184388A (ja) | 1988-07-29 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5468694A (en) | Composition for producing low temperature co-fired substrate | |
| JP3358589B2 (ja) | セラミック基板用組成物、グリーンシートおよびセラミック回路部品 | |
| JPH0343786B2 (ja) | ||
| JP3678260B2 (ja) | ガラスセラミックス組成物 | |
| JP2000128628A (ja) | ガラスセラミックス組成物 | |
| JP2598872B2 (ja) | ガラスセラミックス多層基板 | |
| JPH0740633B2 (ja) | 絶縁層用組成物 | |
| JPH10120436A (ja) | ガラスセラミック誘電体材料 | |
| JPH0821762B2 (ja) | ガラスセラミツクス基板 | |
| JP2695587B2 (ja) | ガラスセラミックス組成物 | |
| JP2003277852A (ja) | 銅メタライズ組成物およびセラミック配線基板 | |
| JPH0452561B2 (ja) | ||
| JP2004075534A (ja) | 絶縁性組成物 | |
| JP2712031B2 (ja) | 回路基板用組成物及びそれを使用した電子部品 | |
| JPH0439201B2 (ja) | ||
| JP2872273B2 (ja) | セラミツク基板材料 | |
| JPH0226798B2 (ja) | ||
| JP3419474B2 (ja) | 導電性組成物及び多層回路基板 | |
| JP2000285732A (ja) | 導電性ペースト及びそれを用いた高周波用電子部品 | |
| JP3149613B2 (ja) | セラミックス基板及びその製造方法 | |
| JPH057343B2 (ja) | ||
| JP2695602B2 (ja) | ガラスセラミックス多層基板 | |
| JP3042180B2 (ja) | 厚膜抵抗体及びその製造方法 | |
| JPH0424307B2 (ja) | ||
| JPH08148783A (ja) | 銅ペーストおよび多層配線基板の製造方法 |