JPH08219975A - 粒子画像解析装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は光学系や流路系の異常検知の容易化を
図った粒子画像解析装置を提供することにある。 【構成】フロ−セル７の観察対象領域にある流体中の粒
子を静止画像として取り込むためのフラッシュランプ８
と、細胞画像を撮像するＴＶカメラ１３と、ＴＶカメラ
１３のアナログ信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ
変換部１４と、画像デ−タを格納するイメ−ジメモリ１
５と、細胞の面積や周囲長などの特徴量を計算する特徴
抽出回路１６と、特徴量をもとに細胞の分類及び計数を
行い、また、イメ−ジメモリ１５のデ−タから観察対象
領域の光強度分布を求め、異常の有無を判断するプロセ
ッサ１７と、装置の動作状態や結果、制御入力に必要な
情報を表示する出力装置１８により構成される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は粒子画像解析装置、特に
流体中に含まれる粒子の画像を生成し、その画像デ−タ
をもとに粒子の分類を行う粒子画像分析装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】特公昭６３−９４１５６に示されたよう
な、フロ−セルに細胞や粒子が含まれた試料液を流し、
画像処理を用いて細胞の分析を行う装置では、光学系の
汚れ、位置ずれやサンプルの流れる位置のずれ等に異常
があると、粒子分類結果に重大な影響を及ぼす。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】そのような従来技術で
は、光学系の光軸のずれや汚れ等によるシェ−ディング
量の増加といった光学系の異常や、試料流の安定性、不
均一性、位置ずれといった流路系の異常を判断するため
には、カメラで撮像した画像を表示するモニタやオシロ
スコ−プでＴＶカメラの出力信号を観測して、人間が異
常の有無を判断するため、調整の絶対精度が低く、装置
間に性能のバラツキが生じ、また、装置が自動的に光学
系及び流路系の異常を検知することができず、装置の信
頼性が低くなっていた。

【０００４】本発明の目的は粒子分類結果の信頼性に重
大な影響を与える光学系の異常検出の容易化を図った粒
子画像解析装置を提供することにある。

【０００５】本発明のもう一つの目的は粒子分類結果に
重大な影響を与える試料流路系の異常検出の容易化を図
った粒子画像解析装置を提供することにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明の課題解決手段は
次のとおりである。

【０００７】１． 粒子を含む試料をシ−ス液と共にフ
ロ−セルに流し、該フロ−セル内の観察対象領域を光照
射して該観察対象領域を流れる前記粒子の粒子画像を生
成し、該粒子画像を解析して前記粒子を分類する粒子画
像解析装置において、前記観察対象領域の光強度分布を
求めて表示するように構成したことを特徴とする（請求
項１）。

【０００８】２． 解決手段１の粒子画像解析装置にお
いて、前記フロ−セルに流す前記試料の代わりに前記シ
−ス液と吸光度が異なる液体を前記シ−ス液と共に流し
て、前記観察対象領域の光強度分布を求めて表示するよ
うに構成したことを特徴とする（請求項２）。

【０００９】３． 解決手段１又は２の粒子画像解析装
置において、前記観察対象領域の、第１座標軸方向の同
じ座標値に対して、前記第１座標軸方向と直角な第２座
標軸方向の、座標値が互いに異なる複数の小領域の平均
光強度をそれぞれ求め、これらを定量表現形式で表示す
るように構成したことを特徴とする（請求項３）。

【００１０】４． 解決手段１又は２の粒子画像解析装
置において、前記観察対象領域の、第１座標軸方向の互
いに異なる複数の座標値の各々に対して、前記第１座標
軸方向と直角な第２座標軸方向の、座標値が互いに異な
る複数の小領域の平均光強度をそれぞれ求め、これらを
定量表現形式で表示するように構成したことを特徴とす
る（請求項４）。

【００１１】５． 解決手段３又は４の粒子画像解析装
置において、前記定量表現形式は数値又はグラフ表現形
式であることを特徴とする（請求項５）。

【００１２】６． 染色された粒子を含む試料をシ−ス
液と共にフロ−セルに流し、該フロ−セル内の観察対象
領域を光照射して該観察対象領域を流れる前記粒子の粒
子光学像を生成すると共に該粒子光学像の赤、緑及び青
の画像信号を生成し、その画像信号にもとづいて前記粒
子を分類する粒子画像解析装置において、前記観察対象
領域の、第１座標軸方向の同じ座標値又は異なる複数の
座標値の各々に対して、前記第１座標軸方向と直角な第
２座標軸方向の、座標値が互いに異なる複数の小領域
の、前記赤、緑及び青の画像信号ごとの平均光強度をそ
れぞれ求め、これらを前記赤、緑及び青の画像信号ごと
に定量表現形式で表示するように構成したことを特徴と
する（請求項６）。

【００１３】７． 解決手段６の粒子画像解析装置にお
いて、前記定量表現形式は数値又はグラフ表現形式であ
ることを特徴とする（請求項７）。

【００１４】８． 染色された粒子を含む試料をシ−ス
液と共にフロ−セルに流し、該フロ−セル内の観察対象
領域を光照射して該観察対象領域を流れる前記粒子の粒
子光学像を生成すると共に該粒子光学像の赤、緑及び青
の画像信号を生成し、その画像信号にもとづいて前記粒
子を分類する粒子画像解析装置において、前記試料の代
わりに前記シ−ス液と吸光度が異なる液体を用い、前記
観察対象領域の、第１座標軸方向の同じ座標値又は異な
る複数の座標値の各々に対して、前記第１座標軸方向と
直角な第２座標軸方向の、座標値が互いに異なる複数の
小領域の、前記赤、緑及び青の画像信号ごとの平均光強
度をそれぞれ求め、これらを前記赤、緑及び青の画像信
号ごとに定量表現形式で表示するように構成されている
ことを特徴とする（請求項８） ９． 粒子を含む試料をシ−ス液と共にフロ−セルに流
し、該フロ−セル内の観察対象領域を光照射して該観察
対象領域を流れる前記粒子の粒子画像を生成し、該粒子
画像を解析して前記粒子を分類する粒子画像解析装置に
おいて、前記観察対象領域の、前記粒子の流れの方向に
対して直角な方向の各位置を流れる前記粒子の数の分布
を算出するように構成したことを特徴とする（請求項
８）。

【００１５】１０． 解決手段８又は９の粒子画像解析
装置において、前記分布を表示するように構成したこと
を特徴とする（請求項９）。

【００１６】

【作用】解決手段１においては、粒子を含む試料をシ−
ス液と共にフロ−セルに流し、該フロ−セル内の観察対
象領域を光照射して該観察対象領域を流れる前記粒子の
粒子画像を生成し、該粒子画像を解析して前記粒子を分
類する粒子画像解析装置において、前記観察対象領域の
光強度分布を求めて表示するように観察対象領域の光強
度分布を求めて表示するようにしている。これによれ
ば、光学系の光軸ずれや汚れ等によるシェ−ディング量
の増加といった光学系の異常を容易に検知することがで
きる。したがって、その結果にもとづき人間（サ−ビス
マン等）がその異常修正を正確に行なうことができるよ
うになるため、結局粒子分類結果の信頼性向上が図られ
るようになる。

【００１７】解決手段２では、解決手段１の粒子画像解
析装置において、前記フロ−セルに流す前記試料の代わ
りに前記シ−ス液と吸光度が異なる液体を前記シ−ス液
と共に流して、前記観察対象領域の光強度分布を求めて
表示するようにしている。これによれば、試料流の安定
性、不均一性、位置ずれといった流路系の異常を容易に
検知することができる。したがって、その結果にもとづ
き人間（サ−ビスマン等）がその異常修正を正確に行な
うことができるようになるため、結局粒子分類結果の信
頼性向上が図られるようになる。

【００１８】解決手段手段３においては、観察対象領域
の、第１座標軸方向の同じ座標値に対して、前記第１座
標軸方向と直角な第２座標軸方向の、座標値が互いに異
なる複数の小領域の平均光強度をそれぞれ求め、これら
を定量表現形式で表示するようにしている。また、解決
手段４においては、観察対象領域の、第１座標軸方向の
互いに異なる複数の座標値の各々に対して、前記第１座
標軸方向と直角な第２座標軸方向の、座標値が互いに異
なる複数の小領域の平均光強度をそれぞれ求め、これら
を定量表現形式で表示するようにしている。更に解決手
段５においては、定量表現形式は数値又はグラフ表現形
式であることを規定している。解決手段３、４及び５に
よれば、観察対象領域全域の光強度分布というよりも、
その領域内の必要と考えられる部分の光強度分布だけを
求めることができるという利点がもたらされる。しか
も、表示が数値とかグラフといった定量表現でなされる
ため、異常修正がより正確になされ得るようになる。

【００１９】解決手段６では、染色された粒子を含む試
料をシ−ス液と共にフロ−セルに流し、該フロ−セル内
の観察対象領域を光照射して該観察対象領域を流れる前
記粒子の粒子光学像を生成すると共に該粒子光学像の
赤、緑及び青の画像信号を生成し、その画像信号にもと
づいて前記粒子を分類する粒子画像解析装置において、
前記観察対象領域の、第１座標軸方向の同じ座標値又は
異なる複数の座標値の各々に対して、前記第１座標軸方
向と直角な第２座標軸方向の、座標値が互いに異なる複
数の小領域の、前記赤、緑及び青の画像信号ごとの平均
光強度をそれぞれ求め、これらを前記赤、緑及び青の画
像信号ごとに定量表現形式で表示するようにしている。
解決手段７では更に、定量表現形式は数値又はグラフ表
現形式であることを規定している。これらの解決手段に
よれば、光学系の光軸ずれや汚れ等によるシェ−ディン
グ量の増加といった光学系の異常を容易に検知すること
ができる。したがって、その結果にもとづき人間（サ−
ビスマン等）がその異常修正を正確に行なうことができ
るようになるため、結局粒子分類結果の信頼性向上が図
られるようになる。また、この場合、異常検出精度がよ
り高められるという利点がもたらされる。というのは、
異常検出は赤、緑又は青のいずれか一つまたは二つの画
像信号の光強度分布からは困難であるが残りの画像信号
の光強度分布からは可能であるという場合があるからで
ある。

【００２０】解決手段８では、染色された粒子を含む試
料をシ−ス液と共にフロ−セルに流し、該フロ−セル内
の観察対象領域を光照射して該観察対象領域を流れる前
記粒子の粒子光学像を生成すると共に該粒子光学像の
赤、緑及び青の画像信号を生成し、その画像信号にもと
づいて前記粒子を分類する粒子画像解析装置において、
前記試料の代わりに前記シ−ス液と吸光度が異なる液体
を用い、前記観察対象領域の、第１座標軸方向の同じ座
標値又は異なる複数の座標値の各々に対して、前記第１
座標軸方向と直角な第２座標軸方向の、座標値が互いに
異なる複数の小領域の、前記赤、緑及び青の画像信号ご
との平均光強度をそれぞれ求め、これらを前記赤、緑及
び青の画像信号ごとに定量表現形式で表示するようにし
ている。この解決手段によれば、試料流の安定性、不均
一性又は位置ずれといった試料流路系の異常を容易に検
出することができる。したがって、その結果にもとづき
人間（サ−ビスマン等）がその異常修正を正確に行なう
ことができるようになるため、結局粒子分類結果の信頼
性向上が図られるようになる。また、この場合、異常検
出精度がより高められるという利点がもたらされる。と
いうのは、異常検出は赤、緑又は青のいずれか一つまた
は二つの画像信号の光強度分布からは困難であるが残り
の画像信号の光強度分布からは可能であるという場合が
あるからである。

【００２１】解決手段９においては、観察対象領域の、
粒子の流れの方向に対して直角な方向の各位置を流れる
前記粒子の数の分布を算出するようにしている。そし
て、解決手段１０においては、その分布を表示するよう
にしている。これらの解決手段によれば、試料流の安定
性、不均一性又は位置ずれといった試料流路系の異常
を、それ専用の粒子含有試料をフロ−セルに流すことな
しに容易に検出することができるという利点がもたらさ
れる。

【００２２】

【実施例】図１は本発明にもとづく一実施例を示す粒子
画像分析装置の構成図を示したものである。１は試料容
器、２はサンプリングノズル、３は染色液、４はシ−ス
液、５はシ−ス液送出用シリンジ、６は染色槽、７はフ
ロ−セル、８は光源となるフラッシュランプ、９はコン
デンサレンズ、１０は対物レンズ、１１は粒子検出用半
導体レ−ザ、１２は粒子検出器、１３は高解像度ＴＶカ
メラ、１４はＡ／Ｄ変換部、１５はイメ−ジメモリ、１
６は細胞の特徴量を算出する特徴抽出回路、１７は細胞
の特徴量から細胞の分類とイメ−ジメモリのデ−タをア
クセスできるプロセッサ、１８は装置の状態や制御を行
うために必要な情報を表示するための出力装値、１９は
粒子検出器１２からの粒子検出信号とＴＶカメラ１３の
同期信号からＡ／Ｄ変換器１４、特徴抽出回路１６、プ
ロセッサ１７に制御信号を出力する同期制御回路を示
す。

【００２３】試料容器からサンプリングノズル２によっ
て分注された試料は染色槽６に吐き出され、その中の粒
子は次に一定量吐き出された染色液３により染色され
る。染色処理された試料はフロ−セル７の中心部分にシ
−ス液４に包みこまれるようにしてフロ−セル７内中央
を安定に流れる。

【００２４】一方、半導体レ−ザ−１１は常時点灯して
おり、常に試料中の粒子が通過するのを粒子検出器１２
で観測している。粒子が通過し散乱光による粒子検出信
号が所定の信号レベルであれば、画像処理対象粒子と判
断し粒子が高解像度ＴＶカメラ１３の取り込み画像領域
の所定の位置に達したとき、フラッシュランプ８が点灯
する。フラッシュランプ８のパルス光は顕微鏡光軸上を
進み、コンデンサレンズ９を通ってフロ−セル７内の試
料上に焦点を結ぶ。この時、フラッシュランプ８は１us
程度の短い時間の点灯であるので、得られる粒子光学像
を高解像度ＴＶカメラ１３によって撮像して得られる画
像は静止画像となる。この静止画像は赤、緑及び青の３
色の静止画像からなり、それぞれの静止画像の画像信号
はＡ／Ｄ変換器１４によりディジタル化され、イメ−ジ
メモリ１５に格納される。

【００２５】特徴抽出回路１６は画像メモリ１５に格納
された画像デ−タから細胞の面積、周囲長、座標デ−タ
等の特徴量を算出し、プロセッサ１７は特徴量から細胞
の分類を行い、光学系や流路系の状態を確認するときに
は、イメ−ジメモリ１５の画像デ−タから画像中の光強
度分布を計算する。

【００２６】図２は本発明が検知しようとしている光学
系の異常状態の一例を示すもので、光学系の汚れ及び光
軸がずれて観察対象領域に光が一様に入らない画像例を
示したものである。図３は画像メモリ１５の内容から特
徴抽出回路１６又はプロセッサ１７で算出した図２の画
像の光強度のヒストグラムを表している。観察対象領域
すなわち撮像領域に異常がなければ、狭い範囲に分布し
た一つのピ−クを有したヒストグラムとなるが、本例で
は、光学系の汚れと光軸のずれによるものも含め三つの
ピ−クを有し、広い範囲に分布している。正常か否かの
判断は、例えば、観察対象領域の平均光強度Ｗmeanを算
出し、低い光強度側の正常範囲の下限Ｗｌ及び高い光強
度側の正常範囲の上限Ｗｈをそれぞれ Ｗｌ＝Ｗmean×（１−Ｋｌ） Ｗｈ＝Ｗmean×（１＋Ｋｌ） で算出して、観察対象領域の全領域の画像デ−タがこの
範囲に入らない場合、観察対象領域に汚れ又は光軸のず
れ又はシェ−ディング量に異常があると判断することが
できる。図２の状態は図３に光学系の汚れと光軸のずれ
による部分が正常範囲の下限Ｗｌからはずれていること
から、光学系に異常があると判断される。

【００２７】図４は全領域ではなく、処理デ−タの個数
を削減するために、イメ−ジメモリ１５に格納された画
像デ−タから画像の縦（Ｙ）方向の座標を指定し、横
（Ｘ）方向に等間隔に定められた任意のサイズで規定さ
れる小領域の平均光強度を算出する範囲を示した例であ
り、平均光強度を算出する範囲は縦横各２０画素とし、
縦方向は３つ、横方向は９つの中心座標を指定したもの
である。プロセッサ１７はこの各小領域の平均光強度を
算出し、前記と同様に各小領域が正常な光強度の範囲に
あるか否かで光学系の異常を検知することができる。も
ちろん、望まれるならば、縦方向の一列の小領域又は横
方向の一列の平均光強度だけを算出するようにしてもよ
い。

【００２８】図５は図４の縦横の中心座標と各小領域の
平均光強度を出力装置１８に数値として表示した例であ
り、この数値をもとに人間（サ−ビスマン等）が光学
系、流路系の異常の有無を判断したり、異常のある部位
を推定することができるようになり、また、調整を容易
に行うことができる。

【００２９】図６は図４の縦横の中心座標と各範囲の平
均光強度を出力装置１８にグラフとして表示した例であ
り、数値表示より判断がし易すくなり、サ−ビスマン等
が光学系、流路系の異常の有無を判断したり、異常のあ
る部位を推定することができるようになり、また、調整
を容易に行うことができる。図は同じ縦座標値に対して
横座標値が異なる複数の小領域の平均光強度をグラフと
して示した例であるが、もちろん、異なる縦座標値の各
々に対して横座標値が異なる複数の小領域の平均光強度
をグラフとして示すようにしてもよい。

【００３０】図７は正規の試料の代わりに、シ−ス液４
より吸光度の高い液体、例えば染色液３を試料２０とし
てフロ−セル７中に流し、試料２０の流れる位置が観察
対象領域からはずれた場合を示している。図８は図７の
状態の画像を取り込み、横方向の平均光強度をグラフ表
示した例であり、この平均光強度分布から、試料流の位
置を表すＳ１、Ｓ２又は流れの中心位置Ｍが求まり、そ
の値が試料流が流れる位置の許容範囲に入っているか否
かで、試料流が流れる位置が観察対象領域からはずれた
ことを判断できる。図７の状態は図８においてＳ１の位
置が許容範囲に入っていないため、試料流が流れる位置
が観察対象領域からはずれたと判断される。本動作を装
置立ち上げ時又は検体の分析開始直前に自動的に行わ
せ、流路系に異常がないことを確認してから分析を行わ
せることで、信頼性の高いデ−タが得られるようにな
る。

【００３１】各範囲の平均光強度の表示は１色、例えば
青、の画像信号によるデ−タのみを表示する例を示すも
のであるが、そのようなデ−タは赤、緑及び青の３色の
画像信号ごとに別々に表示されるようにしてもよい。こ
のようにすれば、異常検出精度がより高められる。とい
うのは１色又は２色の画像信号によるデ−タだけでは発
見が困難な異常を残りの色の画像信号によるデ−タから
発見され得る場合があるからである。

【００３２】図９は粒子を含むサンプルをフロ−セル中
に流した時の各粒子の流れる位置の分布を特徴抽出回路
１６で算出した各粒子の座標デ−タをプロセッサ１７で
集計して求め、横（Ｘ）軸に試料の流れる位置、縦
（Ｙ）軸に各横軸位置を流れた粒子の数の分布を示した
例である。この分布は試料の流れている位置とほぼ一致
するため、光強度の分布から異常を検出したと同様、試
料の流れる位置を表すＳ１，Ｓ２又は流れの中心位置Ｍ
が求まり、その値があらかじめ設定された流れる位置の
許容範囲に入っているか否かで、流れる位置が観察対象
領域からはずれたことを判断できる。図９の状態は、Ｓ
１、Ｓ２が許容範囲に入っているため正常であると判断
される。本動作は装置立ち上げ時又は分析開始直前に自
動的に行わせることでも信頼性の高いデ−タが得られる
ようになるが、分析毎に各粒子の流れる位置の分布を求
めることが可能であるため、流路系の確認のために粒子
を流す必要を無くすことも可能である。

【００３３】

【発明の効果】本発明による効果をまとめると次のよう
になる。

【００３４】１． 粒子を含む試料をシ−ス液と共にフ
ロ−セルに流し、該フロ−セル内の観察対象領域を光照
射して該観察対象領域を流れる前記粒子の粒子画像を生
成し、該粒子画像を解析して前記粒子を分類する粒子画
像解析装置において、前記観察対象領域の光強度分布を
求めて表示するように観察対象領域の光強度分布を求め
て表示するようにしているため、光学系の光軸ずれや汚
れ等によるシェ−ディング量の増加といった光学系の異
常を容易に検知することができる。したがって、その結
果にもとづき人間（サ−ビスマン等）がその異常修正を
正確に行なうことができるようになるため、結局粒子分
類結果の信頼性向上が図られるようになる。

【００３５】２． 前記１に関連して、前記フロ−セル
に流す前記試料の代わりに前記シ−ス液と吸光度が異な
る液体を前記シ−ス液と共に流して、前記観察対象領域
の光強度分布を求めて表示するようにしているため、試
料流の安定性、不均一性、位置ずれといった流路系の異
常を容易に検知することができる。したがって、その結
果にもとづき人間（サ−ビスマン等）がその異常修正を
正確に行なうことができるようになるため、結局粒子分
類結果の信頼性向上が図られるようになる。

【００３６】３． 前記２に関連して、観察対象領域
の、第１座標軸方向の同じ座標値に対して、あるいは、
第１座標軸方向の互いに異なる複数の座標値の各々に対
して、前記第１座標軸方向と直角な第２座標軸方向の、
座標値が互いに異なる複数の小領域の平均光強度をそれ
ぞれ求め、これらを定量表現形式で表示するようにして
いるため、観察対象領域全域の光強度分布というより
も、その領域内の必要と考えられる部分の光強度分布だ
けを求めることができるという利点がもたらされる。し
かも、求められた平均光強度は定量表現形式でなされる
ため、異常修正がより正確になされ得るようになる。

【００３７】４． 染色された粒子を含む試料をシ−ス
液と共にフロ−セルに流し、該フロ−セル内の観察対象
領域を光照射して該観察対象領域を流れる前記粒子の粒
子光学像を生成すると共に該粒子光学像の赤、緑及び青
の画像信号を生成し、その画像信号にもとづいて前記粒
子を分類する粒子画像解析装置において、前記観察対象
領域の、第１座標軸方向の同じ座標値又は異なる複数の
座標値の各々に対して、前記第１座標軸方向と直角な第
２座標軸方向の、座標値が互いに異なる複数の小領域
の、前記赤、緑及び青の画像信号ごとの平均光強度をそ
れぞれ求め、これらを前記赤、緑及び青の画像信号ごと
に定量表現形式で表示するようにしているため、光学系
の光軸ずれや汚れ等によるシェ−ディング量の増加とい
った光学系の異常を容易に検知することができる。した
がって、その結果にもとづき人間（サ−ビスマン等）が
その異常修正を正確に行なうことができるようになるた
め、結局粒子分類結果の信頼性向上が図られるようにな
る。また、この場合、異常検出精度がより高められると
いう利点がもたらされる。というのは、異常検出は赤、
緑又は青のいずれか一つまたは二つの画像信号の光強度
分布からは困難であるが残りの画像信号の光強度分布か
らは可能であるという場合があるからである。

【００３８】５． 染色された粒子を含む試料をシ−ス
液と共にフロ−セルに流し、該フロ−セル内の観察対象
領域を光照射して該観察対象領域を流れる前記粒子の粒
子光学像を生成すると共に該粒子光学像の赤、緑及び青
の画像信号を生成し、その画像信号にもとづいて前記粒
子を分類する粒子画像解析装置において、前記試料の代
わりに前記シ−ス液と吸光度が異なる液体を用い、前記
観察対象領域の、第１座標軸方向の同じ座標値又は異な
る複数の座標値の各々に対して、前記第１座標軸方向と
直角な第２座標軸方向の、座標値が互いに異なる複数の
小領域の、前記赤、緑及び青の画像信号ごとの平均光強
度をそれぞれ求め、これらを前記赤、緑及び青の画像信
号ごとに定量表現形式で表示するようにしているため、
試料流の安定性、不均一性又は位置ずれといった試料流
路系の異常を容易に検出することができる。したがっ
て、その結果にもとづき人間（サ−ビスマン等）がその
異常修正を正確に行なうことができるようになるため、
結局粒子分類結果の信頼性向上が図られるようになる。
また、この場合、異常検出精度がより高められるという
利点がもたらされる。というのは、異常検出は赤、緑又
は青のいずれか一つまたは二つの画像信号の光強度分布
からは困難であるが残りの画像信号の光強度分布からは
可能であるという場合があるからである。

【００３９】６． 観察対象領域の、粒子の流れの方向
に対して直角な方向の各位置を流れる前記粒子の数の分
布を算出するようにしているため、試料流の安定性、不
均一性又は位置ずれといった試料流路系の異常を、それ
専用の粒子含有試料をフロ−セルに流すことなしに容易
に検出することができるという利点がもたらされる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明のもとづく一実施例を示す粒子画像分析
装置の全体構成図。

【図２】光学系異常時の取り込み画像の一例を示す図。

【図３】光学系異常時の光強度ヒストグラムの一例を示
す図。

【図４】平均光強度の算出範囲の一例を示す図。

【図５】平均光強度の数値表示の一例を示す図。

【図６】平均光強度のグラフ表示の一例を示す図。

【図７】試料の流れる位置がずれた場合の一例を示す
図。

【図８】試料の流れる位置がずれた場合のグラフ表示の
一例を示す図。

【図９】粒子の流れる各位置の粒子数分布の一例を示す
図。

【符号の説明】

１…試料容器、２…サンプリングノズル、３…染色液、
４…シ−ス液、５…シ−ス液送出用シリンジ、６…染色
槽、７…フロ−セル、８…フラッシュランプ、９…コン
デンサレンズ、１０…対物レンズ、１１…粒子検出用半
導体レ−ザ、１２…粒子検出器、１３…高解像度ＴＶカ
メラ、１４…Ａ／Ｄ変換部、１５…イメ−ジメモリ、１
６…特徴抽出回路、１７…プロセッサ、１８…出力装
値、１９…同期制御回路。２０…サンプル

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中田 良一 茨城県ひたちなか市大字市毛882番地 株 式会社日立製作所計測器事業部内 (72)発明者 小田倉 政明 茨城県ひたちなか市大字市毛882番地 株 式会社日立製作所計測器事業部内

Claims (10)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】粒子を含む試料をシ−ス液と共にフロ−セ
   ルに流し、該フロ−セル内の観察対象領域を光照射して
   該観察対象領域を流れる前記粒子の粒子画像を生成し、
   該粒子画像を解析して前記粒子を分類する粒子画像解析
   装置において、前記観察対象領域の光強度分布を求めて
   表示するように構成されていることを特徴とする粒子画
   像解析装置。
2. 【請求項２】請求項１の粒子画像解析装置において、前
   記フロ−セルに流す前記試料の代わりに前記シ−ス液と
   吸光度が異なる液体を前記シ−ス液と共に流して、前記
   観察対象領域の光強度分布を求めて表示するように構成
   されていることを特徴とする粒子画像解析装置。
3. 【請求項３】請求項１又は２の粒子画像解析装置におい
   て、前記観察対象領域の、第１座標軸方向の同じ座標値
   に対して、前記第１座標軸方向と直角な第２座標軸方向
   の、座標値が互いに異なる複数の小領域の平均光強度を
   それぞれ求め、これらを定量表現形式で表示するように
   構成されていることを特徴とする粒子画像解析装置。
4. 【請求項４】請求項１又は２の粒子画像解析装置におい
   て、前記観察対象領域の、第１座標軸方向の互いに異な
   る複数の座標値の各々に対して、前記第１座標軸方向と
   直角な第２座標軸方向の、座標値が互いに異なる複数の
   小領域の平均光強度をそれぞれ求め、これらを定量表現
   形式で表示するように構成されていることを特徴とする
   粒子画像解析装置。
5. 【請求項５】請求項３又は４の粒子画像解析装置におい
   て、前記定量表現形式は数値又はグラフ表現形式である
   ことを特徴とする粒子画像解析装置。
6. 【請求項６】染色された粒子を含む試料をシ−ス液と共
   にフロ−セルに流し、該フロ−セル内の観察対象領域を
   光照射して該観察対象領域を流れる前記粒子の粒子光学
   像を生成すると共に該粒子光学像の赤、緑及び青の画像
   信号を生成し、その画像信号にもとづいて前記粒子を分
   類する粒子画像解析装置において、前記観察対象領域
   の、第１座標軸方向の同じ座標値又は異なる複数の座標
   値の各々に対して、前記第１座標軸方向と直角な第２座
   標軸方向の、座標値が互いに異なる複数の小領域の、前
   記赤、緑及び青の画像信号ごとの平均光強度をそれぞれ
   求め、これらを前記赤、緑及び青の画像信号ごとに定量
   表現形式で表示するように構成されていりことを特徴と
   する粒子画像解析装置。
7. 【請求項７】請求項６の粒子画像解析装置において、前
   記定量表現形式は数値又はグラフ表現形式であることを
   特徴とする粒子画像解析装置。
8. 【請求項８】染色された粒子を含む試料をシ−ス液と共
   にフロ−セルに流し、該フロ−セル内の観察対象領域を
   光照射して該観察対象領域を流れる前記粒子の粒子光学
   像を生成すると共に該粒子光学像の赤、緑及び青の画像
   信号を生成し、その画像信号にもとづいて前記粒子を分
   類する粒子画像解析装置において、前記試料の代わりに
   前記シ−ス液と吸光度が異なる液体を用い、前記観察対
   象領域の、第１座標軸方向の同じ座標値又は異なる複数
   の座標値の各々に対して、前記第１座標軸方向と直角な
   第２座標軸方向の、座標値が互いに異なる複数の小領域
   の、前記赤、緑及び青の画像信号ごとの平均光強度をそ
   れぞれ求め、これらを前記赤、緑及び青の画像信号ごと
   に定量表現形式で表示するように構成されていることを
   特徴とする粒子画像解析装置。
9. 【請求項９】粒子を含む試料をシ−ス液と共にフロ−セ
   ルに流し、該フロ−セル内の観察対象領域を光照射して
   該観察対象領域を流れる前記粒子の粒子画像を生成し、
   該粒子画像を解析して前記粒子を分類する粒子画像解析
   装置において、前記観察対象領域の、前記粒子の流れの
   方向に対して直角な方向の各位置を流れる前記粒子の数
   の分布を算出するように構成されていることを特徴とす
   る粒子画像解析装置。
10. 【請求項１０】請求項９の粒子画像解析装置において、
    前記分布を表示するように構成されていることを特徴と
    する粒子画像解析装置。