JPH08230236A - ディジタル・マイクロミラー印刷装置に対する欠陥補正 - Google Patents
ディジタル・マイクロミラー印刷装置に対する欠陥補正Info
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- JPH08230236A JPH08230236A JP29867795A JP29867795A JPH08230236A JP H08230236 A JPH08230236 A JP H08230236A JP 29867795 A JP29867795 A JP 29867795A JP 29867795 A JP29867795 A JP 29867795A JP H08230236 A JPH08230236 A JP H08230236A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 空間光変調器のアレイを用いて印刷を行うた
めの欠陥補正の方法を提供する。 【解決手段】 画像を発生するために用いられる空間光
変調器の欠陥マップが作成される。オン欠陥は、オン欠
陥の積算露光に等しい背景レベルを設定することにより
補正され、そして次に、この背景レベルが電子写真処理
工程による現像に対する閾値として用いられる。この装
置は、機能するエレメントにオフ欠陥を近似するのに必
要なビットと露光を割り当てることにより、オフ欠陥に
対する補償を行う。それにより、その最終的に印刷され
た画像の中の画素に対する積算露光が、要求された露光
に正確に、またはできるだけ正確に、等しくなるように
保たれる。
めの欠陥補正の方法を提供する。 【解決手段】 画像を発生するために用いられる空間光
変調器の欠陥マップが作成される。オン欠陥は、オン欠
陥の積算露光に等しい背景レベルを設定することにより
補正され、そして次に、この背景レベルが電子写真処理
工程による現像に対する閾値として用いられる。この装
置は、機能するエレメントにオフ欠陥を近似するのに必
要なビットと露光を割り当てることにより、オフ欠陥に
対する補償を行う。それにより、その最終的に印刷され
た画像の中の画素に対する積算露光が、要求された露光
に正確に、またはできるだけ正確に、等しくなるように
保たれる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は印刷装置に関する。
さらに詳細にいえば、本発明は、空間光変調器を用いた
印刷装置に関する。
さらに詳細にいえば、本発明は、空間光変調器を用いた
印刷装置に関する。
【０００２】
【発明が解決しようとする課題】空間光変調器は、典型
的には、個々に呼び出しすることが可能な反射性または
透過性のエレメントのアレイを有する。これらの変調器
の例は、液晶装置（ＬＣＤ）、ディジタル・マイクロミ
ラー装置（ＤＭＤ、これはまた変形可能ミラー装置とも
呼ばれる）、作動されるミラー・アレイ、および磁気光
結晶である。これらの変調器は、印刷装置を含むいくつ
かの応用を有する。
的には、個々に呼び出しすることが可能な反射性または
透過性のエレメントのアレイを有する。これらの変調器
の例は、液晶装置（ＬＣＤ）、ディジタル・マイクロミ
ラー装置（ＤＭＤ、これはまた変形可能ミラー装置とも
呼ばれる）、作動されるミラー・アレイ、および磁気光
結晶である。これらの変調器は、印刷装置を含むいくつ
かの応用を有する。
【０００３】空間光変調器は、印刷に応用される場合、
画像を作成するのに用いられる。この画像は、最終的に
は、回転するドラムまたは移動する乾板のような感光性
の基板に転送される。この画像は、種々の方法で作成す
ることができる。その１つの方法では、１個のラインの
印刷の画像が変調器アレイのエレメントの上に１個のラ
インの印刷画像を作成するように、変調器アレイの上に
画像が作成され、そして次にこのアレイが照射され、そ
してこの画像が光で感光表面の上に転送される。
画像を作成するのに用いられる。この画像は、最終的に
は、回転するドラムまたは移動する乾板のような感光性
の基板に転送される。この画像は、種々の方法で作成す
ることができる。その１つの方法では、１個のラインの
印刷の画像が変調器アレイのエレメントの上に１個のラ
インの印刷画像を作成するように、変調器アレイの上に
画像が作成され、そして次にこのアレイが照射され、そ
してこの画像が光で感光表面の上に転送される。
【０００４】時間遅延および積算技術によりまた、感光
表面の上に画像を作成することができる。これらの技術
により、１個のラインのデータがアレイの上に表示さ
れ、そしてドラムまたは乾板がアレイに相対的に移動す
る時、アレイの次のラインに移動し、そして露光される
ドラムまたは乾板の領域がアレイに隣接してもはや存在
しなくなるまでこのことが繰り返される。この方式によ
り、ドラムまたは乾板が移動して通過する際、それが受
け取る露光のラインの総数により、このラインの濃度階
調が決定される。
表面の上に画像を作成することができる。これらの技術
により、１個のラインのデータがアレイの上に表示さ
れ、そしてドラムまたは乾板がアレイに相対的に移動す
る時、アレイの次のラインに移動し、そして露光される
ドラムまたは乾板の領域がアレイに隣接してもはや存在
しなくなるまでこのことが繰り返される。この方式によ
り、ドラムまたは乾板が移動して通過する際、それが受
け取る露光のラインの総数により、このラインの濃度階
調が決定される。
【０００５】空間光変調器を用いる際、大抵の場合、ア
レイのすべてのエレメントが完全に動作可能でなければ
ならないことは１つの問題点である。数千個のエレメン
トのアレイにおいて欠陥がないことが１００％であるア
レイを製造することは困難であるので、空間光変調器を
広範囲の応用に用いることができなかった。空間光変調
器は、２種類の主要な欠陥を有する。空間光変調器は、
オン状態に固着してしまうことがある。この場合には、
光を反射または透過することが要求されていない時で
も、光を常に反射または透過する。または空間光変調器
は、オフ状態に固着してしまうことがある。この場合に
は、光を反射または透過することが要求されている時で
も、光を決して反射または透過しない。欠陥のあるエレ
メントを備えた空間光変調器を利用する１つの方法は、
使用不可能として廃棄することをなくすることであり、
したがって空間光変調器の製造コストを安くすることで
ある。
レイのすべてのエレメントが完全に動作可能でなければ
ならないことは１つの問題点である。数千個のエレメン
トのアレイにおいて欠陥がないことが１００％であるア
レイを製造することは困難であるので、空間光変調器を
広範囲の応用に用いることができなかった。空間光変調
器は、２種類の主要な欠陥を有する。空間光変調器は、
オン状態に固着してしまうことがある。この場合には、
光を反射または透過することが要求されていない時で
も、光を常に反射または透過する。または空間光変調器
は、オフ状態に固着してしまうことがある。この場合に
は、光を反射または透過することが要求されている時で
も、光を決して反射または透過しない。欠陥のあるエレ
メントを備えた空間光変調器を利用する１つの方法は、
使用不可能として廃棄することをなくすることであり、
したがって空間光変調器の製造コストを安くすることで
ある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】空間光変調器アレイを用
いて印刷する際の欠陥補正の１つの方法が開示される。
空間光変調器アレイの中の欠陥は、典型的には、オン欠
陥またはオフ欠陥のいずれかである。オフ欠陥は、アレ
イの中の画素をオフ状態にし、すべての光を感光表面に
送らない状態にする欠陥である。オン欠陥は、画素を常
にオン状態にし、光を常に感光表面に送る状態にする欠
陥である。
いて印刷する際の欠陥補正の１つの方法が開示される。
空間光変調器アレイの中の欠陥は、典型的には、オン欠
陥またはオフ欠陥のいずれかである。オフ欠陥は、アレ
イの中の画素をオフ状態にし、すべての光を感光表面に
送らない状態にする欠陥である。オン欠陥は、画素を常
にオン状態にし、光を常に感光表面に送る状態にする欠
陥である。
【０００７】本発明の１つの利点は、これらの欠陥の影
響を最小にすることにより印刷の分解能が向上すること
である。アレイの中の他のエレメントが、欠陥に対する
補償のために用いられる。１つの実施例では、オン欠陥
に等しい背景が発生され、この発生された背景により、
現像の際にオン欠陥の影響を一様に排除することができ
る。また別の実施例では、オフ欠陥は、欠陥の画素の陰
影をできるだけ正確に近似するために、アレイの中の他
のエレメントで補償が行われる。
響を最小にすることにより印刷の分解能が向上すること
である。アレイの中の他のエレメントが、欠陥に対する
補償のために用いられる。１つの実施例では、オン欠陥
に等しい背景が発生され、この発生された背景により、
現像の際にオン欠陥の影響を一様に排除することができ
る。また別の実施例では、オフ欠陥は、欠陥の画素の陰
影をできるだけ正確に近似するために、アレイの中の他
のエレメントで補償が行われる。
【０００８】本発明のさらに別の利点は、付加される処
理工程を必要としないこと、余計な時間が非常に少なく
て済むこと、ユーザに対して分かりやすいことである。
理工程を必要としないこと、余計な時間が非常に少なく
て済むこと、ユーザに対して分かりやすいことである。
【０００９】
【発明の実施の形態】本発明およびその利点をさらに完
全に理解するために、添付図面を参照して下記で本発明
を詳細に説明する。
全に理解するために、添付図面を参照して下記で本発明
を詳細に説明する。
【００１０】電子写真（ＥＰ）印刷装置は、非常に知ら
れてきている。典型的な応用では、この印刷装置は、回
転する感光性のドラムと、このドラムの表面を帯電する
ための帯電用コロナ装置と、現像装置（典型的には、ト
ナー供給装置およびトナー融着装置を含む）と、ドラム
の表面に画像を転送するための転送装置とを有する。Ｅ
Ｐの原理を応用できる他の例は、フィルム、感光性材料
で被覆されたプリント回路基板、印刷用乾板、などであ
る。これらの感光表面または感光基板は、典型的には、
移動してコンベヤまたはベルトの上の画像作成点を通過
する。
れてきている。典型的な応用では、この印刷装置は、回
転する感光性のドラムと、このドラムの表面を帯電する
ための帯電用コロナ装置と、現像装置（典型的には、ト
ナー供給装置およびトナー融着装置を含む）と、ドラム
の表面に画像を転送するための転送装置とを有する。Ｅ
Ｐの原理を応用できる他の例は、フィルム、感光性材料
で被覆されたプリント回路基板、印刷用乾板、などであ
る。これらの感光表面または感光基板は、典型的には、
移動してコンベヤまたはベルトの上の画像作成点を通過
する。
【００１１】光をドラムに向けて進める１つの装置は、
空間光変調器のアレイである。これらのアレイは、通
常、個別に呼び出し可能なエレメントの格子状配列体で
ある。これらのエレメントは少なくとも２個の状態、す
なわち転送状態および非転送状態、を有する。転送状態
では、これらのエレメントが呼び出され、これらのエレ
メントに入射する光が、（ＬＣＤのような）エレメント
を透過するか、または（ＤＭＤまたはＡＭＡのような）
装置で反射されるかのいずれかにより、感光表面に向っ
て進む。非転送状態では、光が感光表面に到達しないよ
うに、これらのエレメントが設定される。
空間光変調器のアレイである。これらのアレイは、通
常、個別に呼び出し可能なエレメントの格子状配列体で
ある。これらのエレメントは少なくとも２個の状態、す
なわち転送状態および非転送状態、を有する。転送状態
では、これらのエレメントが呼び出され、これらのエレ
メントに入射する光が、（ＬＣＤのような）エレメント
を透過するか、または（ＤＭＤまたはＡＭＡのような）
装置で反射されるかのいずれかにより、感光表面に向っ
て進む。非転送状態では、光が感光表面に到達しないよ
うに、これらのエレメントが設定される。
【００１２】大抵の装置では、転送状態は、画像を実際
に作成する状態であるように設定される。この場合、帯
電した感光表面に入射した光は、その点の位置の表面を
反対の帯電に変える。その後、トナーまたは他の現像剤
がその点に与えられ、そして他の部分には与えられな
い。このようにして、画像が作成される。反対に帯電し
たトナーを備え、画像を非転送状態に従って作成するこ
とも可能である。この場合には、光が入射していない感
光表面の領域にトナーが吸引される。画像を作成する状
態がどのようであっても、通常、それはオン状態と呼ば
れる。
に作成する状態であるように設定される。この場合、帯
電した感光表面に入射した光は、その点の位置の表面を
反対の帯電に変える。その後、トナーまたは他の現像剤
がその点に与えられ、そして他の部分には与えられな
い。このようにして、画像が作成される。反対に帯電し
たトナーを備え、画像を非転送状態に従って作成するこ
とも可能である。この場合には、光が入射していない感
光表面の領域にトナーが吸引される。画像を作成する状
態がどのようであっても、通常、それはオン状態と呼ば
れる。
【００１３】説明の都合上、画像を作成するオン状態は
転送状態であると仮定される。したがって、転送状態に
固定されたエレメントはオン欠陥と呼ばれ、そして非転
送状態に固定されたエレメントはオフ欠陥と呼ばれる。
もしオン欠陥を有する空間光変調器が用いられるなら
ば、何もないはずである領域に黒い点または黒い帯から
なるエラーが画像に現れるであろう。感光表面の種類ま
たは現像処理工程によっては、この効果を反転すること
ができる。説明の都合上、オン欠陥は、前記で説明した
黒い点または黒い帯を発生すると仮定される。
転送状態であると仮定される。したがって、転送状態に
固定されたエレメントはオン欠陥と呼ばれ、そして非転
送状態に固定されたエレメントはオフ欠陥と呼ばれる。
もしオン欠陥を有する空間光変調器が用いられるなら
ば、何もないはずである領域に黒い点または黒い帯から
なるエラーが画像に現れるであろう。感光表面の種類ま
たは現像処理工程によっては、この効果を反転すること
ができる。説明の都合上、オン欠陥は、前記で説明した
黒い点または黒い帯を発生すると仮定される。
【００１４】例えば、典型的な印刷工程では、オン欠陥
がある場合、感光ドラムの上で光が入射する予定でない
領域に光が入射するであろう。この時、トナーはその領
域に吸引され、そして点または帯ができるであろう。こ
の場合、最終的に印刷された画像には、紙の上で空白の
領域であるべき位置に、点または帯が存在するであろ
う。同様にオフ欠陥の場合には、紙の上でトナーにより
印刷されるべき位置が、空白のままであるであろう。
がある場合、感光ドラムの上で光が入射する予定でない
領域に光が入射するであろう。この時、トナーはその領
域に吸引され、そして点または帯ができるであろう。こ
の場合、最終的に印刷された画像には、紙の上で空白の
領域であるべき位置に、点または帯が存在するであろ
う。同様にオフ欠陥の場合には、紙の上でトナーにより
印刷されるべき位置が、空白のままであるであろう。
【００１５】空間光変調器に関連して用いられる１つの
方法は、画素に対する段階印刷（ｐｈａｓｅ ｐｒｉｎ
ｔｉｎｇ）である。この方法では、最終的な画像の上に
生ずる画素のおのおのは、それぞれの段階が最終的な画
素の小さな部分であるように、段階に分けて印刷され
る。この概念は、名称「ディジタル・マイクロミラー印
刷装置のための処理工程とアーキテクチャ（Ｐｒｏｃｅ
ｓｓ ａｎｄ Ａｒｃｈｉｔｅｃｔｕｒｅ ｆｏｒ Ｄ
ｉｇｉｔａｌ Ｍｉｃｒｏｍｉｒｒｏｒ Ｐｒｉｎｔｅ
ｒ）」の出願中米国特許、出願番号第０８／０３８，２
９８号に詳細に開示されている。この出願中特許はディ
ジタル・マイクロミラー形の空間光変調器に限定されて
いるように見えるが、実際には、すべての空間光変調器
アレイに応用することができる。
方法は、画素に対する段階印刷（ｐｈａｓｅ ｐｒｉｎ
ｔｉｎｇ）である。この方法では、最終的な画像の上に
生ずる画素のおのおのは、それぞれの段階が最終的な画
素の小さな部分であるように、段階に分けて印刷され
る。この概念は、名称「ディジタル・マイクロミラー印
刷装置のための処理工程とアーキテクチャ（Ｐｒｏｃｅ
ｓｓ ａｎｄ Ａｒｃｈｉｔｅｃｔｕｒｅ ｆｏｒ Ｄ
ｉｇｉｔａｌ Ｍｉｃｒｏｍｉｒｒｏｒ Ｐｒｉｎｔｅ
ｒ）」の出願中米国特許、出願番号第０８／０３８，２
９８号に詳細に開示されている。この出願中特許はディ
ジタル・マイクロミラー形の空間光変調器に限定されて
いるように見えるが、実際には、すべての空間光変調器
アレイに応用することができる。
【００１６】図１は、「段階化された（ｐｈａｓｅ
ｄ）」画素の１つの実施例の図である。画素の全体の幅
は、２．５４センチメートル（１インチ）の６００分の
１である。この実施例では、４段階で印刷される。これ
らの段階のおのおのは同じ寸法を有する。１画素当たり
に印刷される段階の総数は、記憶装置の容量と、移動す
る感光性表面の速度に相対的な装置の速度と、によって
のみ限定される。
ｄ）」画素の１つの実施例の図である。画素の全体の幅
は、２．５４センチメートル（１インチ）の６００分の
１である。この実施例では、４段階で印刷される。これ
らの段階のおのおのは同じ寸法を有する。１画素当たり
に印刷される段階の総数は、記憶装置の容量と、移動す
る感光性表面の速度に相対的な装置の速度と、によって
のみ限定される。
【００１７】これらの段階を実施する１つの方法は、ル
ックアップ・テーブルを用いる方法である。ルックアッ
プ・テーブルは、必要な濃度階調を、要求された露光レ
ベルを達成するために必要なそれぞれの段階に対し、露
光レベルに変換する。例えば、もし１個の画素が１０の
濃度階調レベルを有するべきであるならば、これらの４
個の段階はそれぞれ２０、１６、１４、および１３の露
光値を有することができる。
ックアップ・テーブルを用いる方法である。ルックアッ
プ・テーブルは、必要な濃度階調を、要求された露光レ
ベルを達成するために必要なそれぞれの段階に対し、露
光レベルに変換する。例えば、もし１個の画素が１０の
濃度階調レベルを有するべきであるならば、これらの４
個の段階はそれぞれ２０、１６、１４、および１３の露
光値を有することができる。
【００１８】露光レベル２０の段階１を用い、そして欠
陥のない空間光変調器を仮定するならば、この値を達成
するためにビット・パターンを計算することができる。
データを変調するのに加えて、典型的には、光源の出力
が変調される。８の露光は、全出力と、４の半分の出力
と、などと、１までの出力と、を表すと仮定される。
陥のない空間光変調器を仮定するならば、この値を達成
するためにビット・パターンを計算することができる。
データを変調するのに加えて、典型的には、光源の出力
が変調される。８の露光は、全出力と、４の半分の出力
と、などと、１までの出力と、を表すと仮定される。
【００１９】
【表１】 露光シーケンス、８ ８ ８ ８ ８ ８ ４ ２ １、の場合、 ２０を達成するための値は １ １ ０ ０ ０ ０ １ ０ ０、 すなわち、８＋８＋４＝２０であろう。
【００２０】印刷装置の制御装置は、このシーケンスを
いくつかの方法で得ることができる。制御装置は、要求
された積算露光値が達成されるまで、ビットを順次に割
り当てることができる。さらに、このことを達成するた
めに線形計画技術を用いることができる。線形計画技術
ではａ1 ｘ1 ＋ａ2 ｘ2 ＋ａ3 ｘ3 ＋…＋ａn ｘn −ｂ
を極小にすることが目標である。ここで、ａは露光パタ
ーンの設定値であり、ｂは要求された積算露光値であ
り、ｘi は画素を露光するミラーの状態（オン＝１、オ
フ＝０）を表し、ａi はその露光の光強度である。
いくつかの方法で得ることができる。制御装置は、要求
された積算露光値が達成されるまで、ビットを順次に割
り当てることができる。さらに、このことを達成するた
めに線形計画技術を用いることができる。線形計画技術
ではａ1 ｘ1 ＋ａ2 ｘ2 ＋ａ3 ｘ3 ＋…＋ａn ｘn −ｂ
を極小にすることが目標である。ここで、ａは露光パタ
ーンの設定値であり、ｂは要求された積算露光値であ
り、ｘi は画素を露光するミラーの状態（オン＝１、オ
フ＝０）を表し、ａi はその露光の光強度である。
【００２１】制御装置はまた、前記技術を用いて欠陥を
補償することができる。前記の露光シーケンス、８ ８
８ ８ ８ ８ ４ ２ １、が与えられ、そして下
記に示されるように欠陥があると仮定される。（Ｂはオ
フ欠陥を表し、Ｗはオン欠陥を表し、Ｎは欠陥のないこ
とを表す。ＢおよびＷは、それぞれ、黒および白を表
す。）これらの欠陥から得られるデータは、第１出力露
光と最後の８出力露光とに０を確定し、そして第２の８
出力露光および２出力露光に１を確定する。
補償することができる。前記の露光シーケンス、８ ８
８ ８ ８ ８ ４ ２ １、が与えられ、そして下
記に示されるように欠陥があると仮定される。（Ｂはオ
フ欠陥を表し、Ｗはオン欠陥を表し、Ｎは欠陥のないこ
とを表す。ＢおよびＷは、それぞれ、黒および白を表
す。）これらの欠陥から得られるデータは、第１出力露
光と最後の８出力露光とに０を確定し、そして第２の８
出力露光および２出力露光に１を確定する。
【００２２】
【表２】 露光シーケンス ８ ８ ８ ８ ８ ８ ４ ２ １ 欠陥マップ Ｂ Ｗ Ｎ Ｎ Ｎ Ｂ Ｎ Ｗ Ｎ 得られるデータ値 ０ １ × × × ０ × １ ×
【００２３】このパターンは、８と２に１が確定してい
て、８＋２＝１０であり、設定値１０を有する。したが
って、２０を近似するために、要求された露光から既に
存在している露光を減算する、すなわち２０−１０、こ
とが必要であるであろう。この時、残っているビット
は、積算露光２０のために、１０を近似するように設定
する必要があるであろう。
て、８＋２＝１０であり、設定値１０を有する。したが
って、２０を近似するために、要求された露光から既に
存在している露光を減算する、すなわち２０−１０、こ
とが必要であるであろう。この時、残っているビット
は、積算露光２０のために、１０を近似するように設定
する必要があるであろう。
【００２４】
【表３】 露光シーケンス ８ ８ ８ ８ ８ ８ ４ ２ １ 欠陥マップ Ｂ Ｗ Ｎ Ｎ Ｎ Ｂ Ｎ Ｗ Ｎ 得られるデータ値 ０ １ １ × × ０ × １ １
【００２５】得られる近似値は８＋８＋２＋１、すなわ
ち１９、であるであろう。けれども、このことは最終の
画像の上に、１０の露光レベルを有する現像されるべき
でない領域をなお生ずる。
ち１９、であるであろう。けれども、このことは最終の
画像の上に、１０の露光レベルを有する現像されるべき
でない領域をなお生ずる。
【００２６】所定の背景露光レベルを欠陥に等しく設定
することにより、ＥＰ処理工程によりオン欠陥を排除す
ることができる。例えば、前記の場合、背景露光レベル
は１０に等しいであろう。４個の段階が２０、１６、１
４、および１３の露光レベルを有すると仮定して、前記
で説明した。これらの露光レベルに１０を加えて３０、
２６、２４、および２３にすることにより、および正確
な値でなくても最も正確な近似を行うことにより、ＥＰ
処理工程閾値により、付加された１０を排除することが
できる。１０の露光レベルを越えた積算露光（ｃｕｍｕ
ｌａｔｉｖｅｅｘｐｏｓｕｒｅ）を有する最終画像の部
分のみをトナーまたは現像剤で現像されるように、ＥＰ
処理工程が調整される。
することにより、ＥＰ処理工程によりオン欠陥を排除す
ることができる。例えば、前記の場合、背景露光レベル
は１０に等しいであろう。４個の段階が２０、１６、１
４、および１３の露光レベルを有すると仮定して、前記
で説明した。これらの露光レベルに１０を加えて３０、
２６、２４、および２３にすることにより、および正確
な値でなくても最も正確な近似を行うことにより、ＥＰ
処理工程閾値により、付加された１０を排除することが
できる。１０の露光レベルを越えた積算露光（ｃｕｍｕ
ｌａｔｉｖｅｅｘｐｏｓｕｒｅ）を有する最終画像の部
分のみをトナーまたは現像剤で現像されるように、ＥＰ
処理工程が調整される。
【００２７】空間光変調器に関する欠陥マップに応じ
て、既に決定されおよび設定された適切な背景レベルで
もって、それぞれの印刷装置をロードすることができ
る。また、印刷装置は増大した出力で欠陥マップを動的
に決定できるようにセンサで構成することができ、それ
により、オン欠陥およびオフ欠陥の両方に対し、補償す
る必要がある欠陥にさらに更新されたプロフィールを与
えることができる。
て、既に決定されおよび設定された適切な背景レベルで
もって、それぞれの印刷装置をロードすることができ
る。また、印刷装置は増大した出力で欠陥マップを動的
に決定できるようにセンサで構成することができ、それ
により、オン欠陥およびオフ欠陥の両方に対し、補償す
る必要がある欠陥にさらに更新されたプロフィールを与
えることができる。
【００２８】オフ欠陥を有するビットに利用可能な他の
エレメントに割り当てることにより、この処理工程でオ
フ欠陥が本質的に補償される。例えば、２個の８出力露
光がオフ欠陥を有する前記の場合、他の８出力露光が用
いられる。しかし、上記シーケンスでは、８出力は冗長
な露光を持つ。１個がオフ欠陥を有する場合、もしすべ
ての露光出力が冗長度を有するならば、近似を行う困難
度が緩和される。
エレメントに割り当てることにより、この処理工程でオ
フ欠陥が本質的に補償される。例えば、２個の８出力露
光がオフ欠陥を有する前記の場合、他の８出力露光が用
いられる。しかし、上記シーケンスでは、８出力は冗長
な露光を持つ。１個がオフ欠陥を有する場合、もしすべ
ての露光出力が冗長度を有するならば、近似を行う困難
度が緩和される。
【００２９】冗長な露光はまた、近似値の正確値への適
合を増加させる。それは、他の近似で利用できなかった
露光出力の使用が可能になるからである。例えば、２４
を前記で説明したものとは異なる欠陥マップで近似する
ことを試みたとする。
合を増加させる。それは、他の近似で利用できなかった
露光出力の使用が可能になるからである。例えば、２４
を前記で説明したものとは異なる欠陥マップで近似する
ことを試みたとする。
【００３０】
【表４】 露光シーケンス ８ ８ ８ ８ ８ ８ ４ ２ １ 欠陥マップ Ｎ Ｎ Ｎ Ｎ Ｎ Ｂ Ｗ Ｎ Ｎ
【００３１】４はオン欠陥を有しているから、達成され
るべき残りの積算露光は２０である。４の出力露光は利
用可能でないから、積算露光の最も近い近似値は１９、
すなわち８＋８＋１＋２、である。けれども、もし露光
シーケンスが冗長度を有するように変更されるならば、
下記の通りである。
るべき残りの積算露光は２０である。４の出力露光は利
用可能でないから、積算露光の最も近い近似値は１９、
すなわち８＋８＋１＋２、である。けれども、もし露光
シーケンスが冗長度を有するように変更されるならば、
下記の通りである。
【００３２】
【表５】 露光シーケンス ８ ８ ８ ８ ８ ８ ４ ４ ２ ２ １ １ 欠陥マップ Ｎ Ｎ Ｎ Ｎ Ｎ Ｎ Ｗ Ｎ Ｎ Ｎ Ｎ Ｎ
【００３３】要求された合計の露光はなお２４であり、
残りの２０の近似は８＋８＋４＝２０であるであろう。
欠陥補償法は、計算処理工程として実施することができ
る、またはルックアップ・テーブルを用いることにより
実施することができる。
残りの２０の近似は８＋８＋４＝２０であるであろう。
欠陥補償法は、計算処理工程として実施することができ
る、またはルックアップ・テーブルを用いることにより
実施することができる。
【００３４】欠陥補正モジュールの１つの実施例が、図
２に示されている。必要な入力は、与えられた画素に対
する要求されたロケーション（行および列）および露光
レベル、欠陥マップ、および背景露光設定である。出力
はその画素に対する露光ビット・パターンである。
２に示されている。必要な入力は、与えられた画素に対
する要求されたロケーション（行および列）および露光
レベル、欠陥マップ、および背景露光設定である。出力
はその画素に対する露光ビット・パターンである。
【００３５】前記実施例は段階的変調器の実施例で出発
したが、前記技術はすべての変調器に対して用いること
ができる。図２のモジュールは、欠陥のあるエレメント
を補償するために、画像内の画素を表すアレイの個別の
エレメントを利用した任意の形式の印刷工程にたいし
て、付加して用いることができる。
したが、前記技術はすべての変調器に対して用いること
ができる。図２のモジュールは、欠陥のあるエレメント
を補償するために、画像内の画素を表すアレイの個別の
エレメントを利用した任意の形式の印刷工程にたいし
て、付加して用いることができる。
【００３６】欠陥のある空間光変調器を用いて印刷を行
う方法の特定の実施例を説明したが、この説明は、本発
明の範囲がこのような実施例に限定されることを意味す
るものではない。本発明の範囲は、請求項によってのみ
定められる。
う方法の特定の実施例を説明したが、この説明は、本発
明の範囲がこのような実施例に限定されることを意味す
るものではない。本発明の範囲は、請求項によってのみ
定められる。
【００３７】以上の説明に関して更に以下の項を開示す
る。 （１） オン欠陥を有する空間光変調器を用いて印刷す
る方法であって、（イ） 空間光変調器において、オン
欠陥またはオフ欠陥を有するエレメントを明らかにする
欠陥マップを発生する段階と、（ロ） すべての露光レ
ベル値に付加されるべき最小露光レベル値を、前記空間
光変調器の列の中の前記オン欠陥の数と位置とにより決
定する段階と、（ハ） 前記オン欠陥が最小であるよう
に、前記空間光変調器を用いて感光性表面に潜像を発生
する段階と、（ニ） 前記潜像により得られる最終的に
印刷された画像から前記最小露光レベル値が消去される
ように、前記潜像を現像する段階と、を有する前記方
法。 （２） オフ欠陥を有する空間光変調器を用いて印刷す
る方法であって、（イ） 空間光変調器において、オン
欠陥またはオフ欠陥を有するエレメントを明らかにする
欠陥マップを発生する段階と、（ロ） 前記エレメント
以外の欠陥を有しない他のエレメントを用いて前記オフ
欠陥の値を近似することにより、前記空間光変調器の列
の中の前記オフ欠陥に対する補償を行う段階と、（ハ）
前記欠陥が最小にされるように、前記空間光変調器を
用いて感光表面に潜像を発生する段階と、（ニ） 最終
的に印刷された画像を作成するために、前記潜像を現像
する段階と、を有する前記方法。 （３） （イ） 空間光変調器において、オン欠陥また
はオフ欠陥を有するエレメントを明らかにする欠陥マッ
プを発生する段階と、（ロ） 前記変調器で感光表面を
露光する前に、前記オン欠陥のおのおのを露光レベルに
するすべての寄与を除去する段階と、（ハ） 前記欠陥
が最小にされるように、前記空間光変調器を用いて感光
表面に潜像を発生する段階と、（ニ） 最終的に印刷さ
れた画像を作成するために、前記潜像を現像する段階
と、を有する欠陥補正印刷の方法。 （４） （イ） 空間光変調器において、オン欠陥また
はオフ欠陥を有するエレメントを明らかにする欠陥マッ
プを発生する段階と、（ロ） すべての露光レベル値に
付加されるべき最小露光レベル値を、前記空間光変調器
の列の中の前記オン欠陥の数と位置とにより決定する段
階と、（ハ） 前記エレメント以外の欠陥を有しない他
のエレメントを用いて前記オフ欠陥の値を近似すること
により、前記空間光変調器の列の中の前記オフ欠陥に対
する補償を行う段階と、（ニ） 前記欠陥による露光レ
ベルに対するすべての寄与を除去することにより、前記
オン欠陥に対し補償する段階と、（ホ） 前記欠陥が最
小にされるように、前記空間光変調器を用いて感光表面
に潜像を発生する段階と、（ヘ） 前記潜像により得ら
れる最終的に印刷された画像から前記最小露光レベル値
が消去されるように、前記潜像を現像する段階と、を有
する欠陥補正印刷の方法。 （５） 欠陥補正印刷の方法が得られる。画像を発生す
るために用いられる空間光変調器の欠陥マップが作成さ
れる。オン欠陥は、オン欠陥の積算露光に等しい背景レ
ベルを設定することにより補正され、そして次に、この
背景レベルが電子写真処理工程による現像に対する閾値
として用いられる。この装置は、機能するエレメントに
オフ欠陥を近似するのに必要なビットと露光を割り当て
ることにより、オフ欠陥に対する補償を行う。それによ
り、その最終的に印刷された画像の中の画素に対する積
算露光が、要求された露光に正確に、またはできるだけ
正確に、等しくなるように保たれる。これらの補正は、
エラーを最小にするために正しく割り当てられた適切な
パターンを発生する欠陥補正モジュール１０の中に含ま
れる。
る。 （１） オン欠陥を有する空間光変調器を用いて印刷す
る方法であって、（イ） 空間光変調器において、オン
欠陥またはオフ欠陥を有するエレメントを明らかにする
欠陥マップを発生する段階と、（ロ） すべての露光レ
ベル値に付加されるべき最小露光レベル値を、前記空間
光変調器の列の中の前記オン欠陥の数と位置とにより決
定する段階と、（ハ） 前記オン欠陥が最小であるよう
に、前記空間光変調器を用いて感光性表面に潜像を発生
する段階と、（ニ） 前記潜像により得られる最終的に
印刷された画像から前記最小露光レベル値が消去される
ように、前記潜像を現像する段階と、を有する前記方
法。 （２） オフ欠陥を有する空間光変調器を用いて印刷す
る方法であって、（イ） 空間光変調器において、オン
欠陥またはオフ欠陥を有するエレメントを明らかにする
欠陥マップを発生する段階と、（ロ） 前記エレメント
以外の欠陥を有しない他のエレメントを用いて前記オフ
欠陥の値を近似することにより、前記空間光変調器の列
の中の前記オフ欠陥に対する補償を行う段階と、（ハ）
前記欠陥が最小にされるように、前記空間光変調器を
用いて感光表面に潜像を発生する段階と、（ニ） 最終
的に印刷された画像を作成するために、前記潜像を現像
する段階と、を有する前記方法。 （３） （イ） 空間光変調器において、オン欠陥また
はオフ欠陥を有するエレメントを明らかにする欠陥マッ
プを発生する段階と、（ロ） 前記変調器で感光表面を
露光する前に、前記オン欠陥のおのおのを露光レベルに
するすべての寄与を除去する段階と、（ハ） 前記欠陥
が最小にされるように、前記空間光変調器を用いて感光
表面に潜像を発生する段階と、（ニ） 最終的に印刷さ
れた画像を作成するために、前記潜像を現像する段階
と、を有する欠陥補正印刷の方法。 （４） （イ） 空間光変調器において、オン欠陥また
はオフ欠陥を有するエレメントを明らかにする欠陥マッ
プを発生する段階と、（ロ） すべての露光レベル値に
付加されるべき最小露光レベル値を、前記空間光変調器
の列の中の前記オン欠陥の数と位置とにより決定する段
階と、（ハ） 前記エレメント以外の欠陥を有しない他
のエレメントを用いて前記オフ欠陥の値を近似すること
により、前記空間光変調器の列の中の前記オフ欠陥に対
する補償を行う段階と、（ニ） 前記欠陥による露光レ
ベルに対するすべての寄与を除去することにより、前記
オン欠陥に対し補償する段階と、（ホ） 前記欠陥が最
小にされるように、前記空間光変調器を用いて感光表面
に潜像を発生する段階と、（ヘ） 前記潜像により得ら
れる最終的に印刷された画像から前記最小露光レベル値
が消去されるように、前記潜像を現像する段階と、を有
する欠陥補正印刷の方法。 （５） 欠陥補正印刷の方法が得られる。画像を発生す
るために用いられる空間光変調器の欠陥マップが作成さ
れる。オン欠陥は、オン欠陥の積算露光に等しい背景レ
ベルを設定することにより補正され、そして次に、この
背景レベルが電子写真処理工程による現像に対する閾値
として用いられる。この装置は、機能するエレメントに
オフ欠陥を近似するのに必要なビットと露光を割り当て
ることにより、オフ欠陥に対する補償を行う。それによ
り、その最終的に印刷された画像の中の画素に対する積
算露光が、要求された露光に正確に、またはできるだけ
正確に、等しくなるように保たれる。これらの補正は、
エラーを最小にするために正しく割り当てられた適切な
パターンを発生する欠陥補正モジュール１０の中に含ま
れる。
【図１】空間光変調器エレメントの４段階実施を示す
図。
図。
【図２】欠陥補正モジュールのブロック線図。
１０ 欠陥補正モジュール
Claims (1)
- 【請求項１】 オン欠陥を有する空間光変調器を用いて
印刷する方法であって、（イ） 空間光変調器におい
て、オン欠陥またはオフ欠陥を有するエレメントを明ら
かにする欠陥マップを発生する段階と、（ロ） すべて
の露光レベル値に付加されるべき最小露光レベル値を、
前記空間光変調器の列の中の前記オン欠陥の数と位置と
により決定する段階と、（ハ） 前記オン欠陥が最小で
あるように、前記空間光変調器を用いて感光表面に潜像
を発生する段階と、（ニ） 前記潜像により得られる最
終的に印刷された画像から前記最小露光レベル値が消去
されるように、前記潜像を現像する段階と、を有する前
記方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US08/340,958 US6074790A (en) | 1994-11-17 | 1994-11-17 | Black and white defect correction for a digital micromirror printer |
| US340958 | 1994-11-17 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08230236A true JPH08230236A (ja) | 1996-09-10 |
Family
ID=23335657
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29867795A Pending JPH08230236A (ja) | 1994-11-17 | 1995-11-16 | ディジタル・マイクロミラー印刷装置に対する欠陥補正 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6074790A (ja) |
| EP (1) | EP0713192B1 (ja) |
| JP (1) | JPH08230236A (ja) |
| KR (1) | KR100379732B1 (ja) |
| DE (1) | DE69530655T2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5699168A (en) * | 1995-06-22 | 1997-12-16 | Texas Instruments Incorporated | Grayscale printing with sliding window memory |
| EP1477828A1 (en) * | 2002-02-19 | 2004-11-17 | Nitto Denko Corporation | Graded optical compensation film, process for producing the same and liquid crystal display including the same |
| US7054017B2 (en) * | 2002-04-30 | 2006-05-30 | Hewlett-Packard Development, L.P. | Avoiding printing defects |
| JP4601482B2 (ja) * | 2004-07-29 | 2010-12-22 | 新光電気工業株式会社 | 描画装置および描画方法 |
| EP2411095B1 (en) | 2009-03-23 | 2015-09-02 | LipoSonix, Inc. | Method of determining functionality of an ultrasound therapy head |
Family Cites Families (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5534704A (en) * | 1978-08-31 | 1980-03-11 | Hajime Sangyo Kk | Threshold setting circuit |
| US4348100A (en) * | 1980-09-02 | 1982-09-07 | Xerox Corporation | Control for xerographic system |
| JPS59127019A (ja) * | 1983-01-11 | 1984-07-21 | Canon Inc | プリンタヘツド |
| US4995703A (en) * | 1984-09-26 | 1991-02-26 | Nec Corporation | Active matrix liquid crystal color display panel having split pixel electrodes |
| US4751659A (en) * | 1987-08-26 | 1988-06-14 | Xerox Corporation | Defect compensation for discrete image bars |
| US5028939A (en) * | 1988-08-23 | 1991-07-02 | Texas Instruments Incorporated | Spatial light modulator system |
| JPH02232689A (ja) * | 1988-12-22 | 1990-09-14 | Xerox Corp | 可変グレイレベルデジタル画像の表示装置 |
| EP0434449A3 (en) * | 1989-12-21 | 1992-05-13 | Xerox Corporation | Dynamic equalization for multichannel optical imaging systems |
| US5247375A (en) * | 1990-03-09 | 1993-09-21 | Hitachi, Ltd. | Display device, manufacturing method thereof and display panel |
| JPH04208834A (ja) * | 1990-12-04 | 1992-07-30 | Ezel Inc | 液晶パネルの検査方法 |
| US5406213A (en) * | 1991-09-10 | 1995-04-11 | Photon Dynamics, Inc. | Instrument for testing liquid crystal display base plates |
| JPH05236358A (ja) * | 1991-11-26 | 1993-09-10 | Toshiba Corp | 固体撮像装置 |
| US5461411A (en) * | 1993-03-29 | 1995-10-24 | Texas Instruments Incorporated | Process and architecture for digital micromirror printer |
-
1994
- 1994-11-17 US US08/340,958 patent/US6074790A/en not_active Expired - Lifetime
-
1995
- 1995-11-16 KR KR1019950041620A patent/KR100379732B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 1995-11-16 JP JP29867795A patent/JPH08230236A/ja active Pending
- 1995-11-17 DE DE69530655T patent/DE69530655T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1995-11-17 EP EP95118154A patent/EP0713192B1/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR960018803A (ko) | 1996-06-17 |
| KR100379732B1 (ko) | 2004-04-17 |
| DE69530655D1 (de) | 2003-06-12 |
| DE69530655T2 (de) | 2004-05-13 |
| EP0713192A2 (en) | 1996-05-22 |
| EP0713192A3 (en) | 1997-12-17 |
| EP0713192B1 (en) | 2003-05-07 |
| US6074790A (en) | 2000-06-13 |
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