JPH08235617A - 光学ピックアップ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 容易に且つ低コストで、光検出器に対する戻
り光のスポットずれが排除されるようにした、光学ピッ
クアップを提供すること。 【構成】 発光手段２１と、発光手段からの光の光路を
反射する光偏向装置３０と、この光偏向手段からの光を
光ディスク上に照射する対物レンズ６２と、この対物レ
ンズを一軸方向に移動可能に支持する一軸アクチュエー
タ４０と、光ディスクからの戻り光を収束させる集光レ
ンズ２５と、この集光レンズからの光を分割する光分割
手段２８と、この光分割手段により分割された各光を集
光レンズの集光位置の前後でそれぞれ検出する受光部２
７ａ，２７ｂを備えた光検出器２７と、上記集光レンズ
の手前に、その光軸に対して揺動可能に配設された平行
平板２９とを備えるように、光学ピックアップ１０を構
成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光偏向装置を備えた光
学ピックアップに関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、コンパクトディスクや光磁気ディ
スク等の光ディスク装置において、ディスクにレーザ光
を集光したり、ディスクからの戻り光を受ける対物レン
ズを備える光学ピックアップでは、この対物レンズを移
動するための対物レンズアクチュエータを備えている。
この対物レンズアクチュエータとしては、トラッキング
とフォーカシングの二軸をそれぞれ独立して調整できる
ように構成された二軸アクチュエータが用いられること
が多い。しかし、二軸アクチュエータは、対物レンズを
二方向にそれぞれ駆動できるようにしているため、構造
が複雑であるので、可動部の重量が重くなってしまい、
その分応答特性があまり良くない。従って、高速検索が
要求されるコンピュータ等に使用することは、不向きで
ある。

【０００３】このため、高速検索を実現し得るものとし
て、近年一軸アクチュエータを使用した光学ピックアッ
プが開発されている。一軸アクチュエータは、これを光
ディスクの半径方向（ラジアル方向）にスライドさせる
ことにより、トラッキングの粗調整が行なわれるように
なっている。これに対して、トラッキングの微調整は、
光路偏向用の光偏向手段を備えた光偏向装置によって行
なわれる。この光偏向装置は、一軸アクチュエータとは
別体の構成である。光偏向手段としては、一般にガルバ
ノミラー等が使用される。さらに、一軸アクチュエータ
には、フォーカス調整手段が含まれている。かくして、
アクチュエータを一軸構成にすることによって、小型軽
量のアクチュエータが得られることになり、高速検索に
適したアクチュエータ、そして光学ピックアップが実現
されることになる。

【０００４】ここで、上述した一軸アクチュエータを備
えた光学ピックアップは、例えば図１３及び図１４に示
すように構成されている。図１３及び図１４において、
光学ピックアップ１は、コンパクトディスク，光磁気デ
ィスク等の光ディスクＤへのデータ書込及びデータ読出
のためにレーザ光を利用した構成であって、光学ブロッ
ク２，光偏向装置３、そして一軸アクチュエータ４（図
１４参照）から構成されている。ここで、光ディスクＤ
は、図示しないターンテーブル上に支持され、スピンド
ルモータによって回転駆動されるようになっている。

【０００５】光学ブロック２は、発光手段２ａと、コリ
メータレンズ２ｂ，ビームスプリッタ２ｃ，１／２波長
板２ｄ，集光レンズ２ｅ，光検出器２ｇとを含んでい
る。尚、図１３では、光検出器２ｇは、構造の理解のた
め、正面図の下に側面図が示されている。発光手段２ａ
は、例えば半導体の再結合発光を使用した半導体レーザ
素子等の光ビームを発生する発光素子であり、光源とし
て使用される。この発光手段２ａから出射したレーザ光
ビームは、コリメータレンズ２ｂに導かれる。

【０００６】このコリメータレンズからの平行光は、ビ
ームスプリッタ２ｃに導かれる。ビームスプリッタ２ｃ
は、コリメータレンズ２ｂからの平行光と後述する対物
レンズからの戻り光ビームを分離する。

【０００７】１／２波長板２ｄは、入射光の偏光方向を
４５度だけ回転させる。この１／２波長板２ｄを透過し
た光ビームは、集光レンズ２ｅに導かれる。集光レンズ
２ｅは、１／２波長板２ｄからの光ビームをその軸方向
に垂直な方向に関して集光する。

【０００８】光検出器２ｇは、集光レンズ２ｅ及び凹レ
ンズ２ｆを介して入射する光ビームの光量に応じた電気
信号が出力するようになっている。この場合、光検出器
２ｇは、図１３に示すように、二つの受光素子を備えて
おり、さらに入射側にマイクロプリズム２ｉが設けられ
ている。そして、このマイクロプリズム２ｉにより分岐
された各入射光ビームがそれぞれ各受光素子２ｇ−１，
２ｇ−２に入射するようになっている。

【０００９】このマイクロプリズム２ｉは、集光レンズ
２ｅからの収束光を、ハーフミラー面２ｊで反射した
後、反射面２ｋで反射された光が、受光素子２ｇ−２に
入射するようになっている。また、マイクロプリズム２
ｉは、図１５に示すように、戻り光が入射する斜面を備
えるように、構成されていてもよい。この場合、この斜
面からマイクロプリズム２ｉ内に入射した戻り光は、一
方の受光素子２ｇ−１に入射し、その光の一部が、反射
されて、マイクロプリズム２ｉの上面で反射された後、
他方の受光素子２ｇ−２に入射するようになっている。

【００１０】かくして、図１５及び図１６のいずれのマ
イクロプリズム２ｉの場合にも、図１７に図式的に示す
ように、光軸上にて、集光レンズ２ｅの集光位置の前後
に、受光素子２ｇ−１，２ｇ−２が配設されることにな
る。

【００１１】ところで、各受光素子２ｇ−１，２ｇ−２
は、図１７に示すように、それぞれ例えば３つの受光領
域に分割されている。これにより、各受光領域の出力信
号ａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅ，ｆ，ｇを適宜に組み合わせるこ
とにより、目的に応じた信号、フォーカスエラー信号や
トラッキングエラー信号が得られる。例えば光ディスク
Ｄのサーボバイト領域にて、トラックピッチの１／４だ
け半径方向にずれている一対のピットを使用して、これ
らのピットによる戻り光量をサンプリングすることによ
り、３スポット法のサイドスポットからの信号に対応す
る信号が得られることになる。そして、これらの信号の
差をとることによって、例えばサンプルサーボ法によ
り、トラッキングエラー信号が生成されるまた、例えば
差動同心円法に基づいて、

【数１】 により、フォーカスエラー信号が得られる。

【００１２】上記光偏向装置３は、光学ブロック２と一
軸アクチュエータ４の間に配設されていて、光学ブロッ
ク２からの光ビームを一軸アクチュエータ４に導き、ま
た一軸アクチュエータ４からの戻り光ビームを光学ブロ
ック２に導くように、光路を偏向させる。そして、光偏
向装置３は、反射部材３ａと、この反射部材３ａを固定
部に対して揺動可能に支持する弾性部材（図示せず）
と、から構成されている。

【００１３】反射部材３ａは、光学ブロック２からの入
射光に対して水平方向に斜め４５度の入射角になるよう
に、配設されている。上記一軸アクチュエータ４は、立
上りミラー４ａ及び対物レンズ４ｂから成り、対物レン
ズ４ｂは、図示しないフォーカシング調整手段によっ
て、対物レンズ４ｂの光軸方向に沿って移動調整可能に
支持されている。立上りミラー４ａは、入射光に対して
例えば斜め４５度傾斜するように配設されていて、光偏
向装置３からの光ビームを光ディスクＤに向かって垂直
に入射させるようになっている。対物レンズ４ｂは、立
上りミラー４ａからの反射光を光ディスクＤの信号記録
面に結像させるようになっている。

【００１４】したがって、このように構成された光学ピ
ックアップ１によれば、ビームスプリッタ２ｃを透過し
た戻り光ビームは、１／２波長板２ｄにより、偏向方向
が４５度回転された後、集光レンズ２ｅを介して、さら
にマイクロプリズム２ｉを介して、光検出器２ｇの各受
光素子の受光面に入射する。これにより、光検出器２ｇ
の各受光素子２ｇ−１，２ｇ−２の各受光領域からの検
出信号ａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅ，ｆに基づいて、トラッキン
グエラー信号及びフォーカスエラー信号が生成される。

【００１５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな光学ピックアップ１においては、光偏向装置３や発
光手段２ａ等の光軸ずれが生ずる等によって、図１７に
て符号Ａで示すように、戻り光の光軸が集光レンズ２ｅ
の光軸に対してずれている場合には、光検出器２ｅの各
受光素子２ｇ−１，２ｇ−２へのスポットは、それぞれ
分割ラインとは垂直方向にずれることになる。

【００１６】また、発行手段２ａとコリメータレンズ２
ｂによって作られた平行光の傾き等により、図１８にて
符号Ｂで示すように、戻り光の光軸が集光レンズ２ｅの
光軸に対して傾斜している場合にも、光検出器２ｇの各
受光素子２ｇ−１，２ｇ−２へのスポットは、それぞれ
分割ラインとは垂直方向にずれることになる。

【００１７】さらに、マイクロプリズム２ｉの加工精度
やマウント精度等により、図１９に示すように、マイク
ロプリズム２ｉが光検出器２ｇの受光面内で斜めにずれ
ている場合にも同様に、光検出器２ｇの各受光素子２ｇ
−１，２ｇ−２へのスポットは、それぞれ分割ラインと
は垂直方向にずれることになる。

【００１８】このため、従来は、光偏向装置３の反射部
材３ａやマイクロプリズム２ｉの加工精度やマウント精
度を高くすると共に、光検出器２ｇの位置調整を行なう
ことにより、各受光素子２ｇ−１，２ｇ−２の中心に、
戻り光のスポットが形成されるようにしている。しかし
ながら、精度を高くすることはコストアップに繋ると共
に、光検出器２ｇの位置調整では２つのビームを同時に
同じ方向にしか動かせないため、各受光素子２ｇ−１，
２ｇ−２の中心に戻り光のスポットを合わせることは困
難である。従って、正確なフォーカスエラー信号及びト
ラッキングエラー信号が検出できなくなるという問題が
あった。

【００１９】本発明は、以上の点に鑑み、容易に且つ低
コストで、光検出器に対する戻り光のスポットずれが排
除されるようにした、光学ピックアップを提供すること
を目的としている。

【００２０】

【課題を解決するための手段】上記目的は、本発明によ
れば、発光手段と、発光手段からの光を反射する光偏向
装置と、この光偏向手段からの光を光ディスク上に照射
する対物レンズと、この対物レンズを一軸方向に移動可
能に支持する一軸アクチュエータと、光ディスクからの
戻り光を収束させる集光レンズと、この集光レンズから
の光を分割する光分割手段と、この光分割手段により分
割された各光を集光レンズの集光位置の前後でそれぞれ
検出する受光部を備えた光検出器と、を含んでいて、前
記光偏向装置が、入射光路を通って入射する光を反射す
る光偏向手段と、この光偏向手段を固定部に対して揺動
可能に支持する弾性部材と、この光偏向手段を揺動させ
る駆動手段と、を備えており、さらに、前記集光レンズ
の手前に、その光軸に対して揺動可能に配設された平行
平板を備えている、光学ピックアップにより、達成され
る。

【００２１】また、上記目的は、本発明によれば、発光
手段と、発光手段からの光を光ディスク上に照射する対
物レンズと、この光ディスクへの光を実質的に二軸方向
に振るアクチュエータと、光ディスクからの戻り光を収
束させる集光レンズと、この集光レンズからの光を分割
する光分割手段と、この光分割手段により分割された各
光を集光レンズの集光位置の前後でそれぞれ検出する受
光部を備えた光検出器と、前記集光レンズの手前に、そ
の光軸に対して揺動可能に配設された平行平板を備えて
いる、光学ピックアップにより、達成される。

【００２２】

【作用】上記構成によれば、発光手段からの光が、対物
レンズを介して光ディスクの信号記録面に結像され、こ
の光ディスクからの戻り光が、平行平板及び集光レンズ
を介して、光検出器に入射する。そして、戻り光は、集
光レンズの集光位置の前後で、それぞれ光検出器の各受
光部に入射する。これにより、光検出器からの検出信号
に基づいて、再生信号，フォーカスエラー信号及びトラ
ッキングエラー信号が得られる。

【００２３】ここで、戻り光の光軸が集光レンズの光軸
に対してずれたり傾いている場合には、このずれまたは
傾斜の方向に関して、平行平板を傾斜させる。これによ
り、平行平板に入射する戻り光が、平行平板の屈折率に
基づいて屈折することにより、この平行平板から出射す
る戻り光の光軸が、ずれまたは傾きの方向と逆方向に調
整される。従って、光ディスクからの戻り光は、光検出
器の各受光部の中心に入射し得ることになる。

【００２４】

【実施例】以下、この発明の好適な実施例を図１乃至図
１２を参照しながら、詳細に説明する。尚、以下に述べ
る実施例は、本発明の好適な具体例であるから、技術的
に好ましい種々の限定が付されているが、本発明の範囲
は、以下の説明において特に本発明を限定する旨の記載
がない限り、これらの態様に限られるものではない。

【００２５】図１は、本発明による一軸アクチュエータ
を利用した光学ピックアップの一実施例を示している。
図１において、光学ピックアップ１０は、コンパクトデ
ィスク，光磁気ディスク等の光ディスク１１へのデータ
書込及びデータ読出のためにレーザ光を利用した構成で
あって、光学ブロック２０，光偏向装置３０、そして一
軸アクチュエータ４０から構成されている。光ディスク
１１は、図示しないターンテーブル上に支持され、スピ
ンドルモータ１２によって回転駆動されるようになって
いる。

【００２６】光学ブロック２０は、発光手段２１と、コ
リメータレンズ２２，ビームスプリッタ２３，１／２波
長板２４，集光レンズ２５，凹レンズ２６，光検出器２
７，マイクロプリズム２８，平行平板２９とを含んでい
る。発光手段２１は、例えば半導体の再結合発光を使用
した半導体レーザ素子等の光ビームを発生する発光素子
であり、光源として使用される。この発光手段２１から
出射したレーザ光ビームは、コリメータレンズ２２に導
かれる。

【００２７】コリメータレンズ２２は、凸レンズであっ
て、発光手段２１からの光ビームを平行光に変換する。
このコリメータレンズからの平行光は、ビームスプリッ
タ２３に導かれる。

【００２８】ビームスプリッタ２３は、二つのガラスブ
ロックを貼り合わせることにより、構成されており、そ
の貼り合わせ面がハーフミラー面２３ａとして作用する
ようになっている。このハーフミラー面２３ａは、光軸
に対して４５度傾斜した状態で配設されており、コリメ
ータレンズ２２からの平行光と後述する対物レンズから
の戻り光ビームを分離する。

【００２９】１／２波長板２４は、通過する光ビームに
対して、１／２の位相差を生じさせる位相補償板であっ
て、入射光の偏光方向を４５度だけ回転させる。この１
／２波長板２４を透過した光ビームは、集光レンズ２５
に導かれる。尚、光ディスク１１が、光磁気ディスクの
ような光磁気カー効果を利用していないコンパクトディ
スク等の場合には、１／２波長板２４は省略されてもよ
い。

【００３０】集光レンズ２５は、円筒レンズであって、
１／２波長板２４からの光ビームをその軸方向に垂直な
方向に関して集光する。凹レンズ２６は、集光レンズ２
５により一方向に集光された光ビームを、発散させるこ
とにより、集光レンズ２５による集光位置を後方に移動
調整する。尚、凹レンズ２６は、機器のサイズ等に応じ
て、設けても設けなくてもよい。

【００３１】光検出器２７は、入射光を電気信号に変換
するものであり、例えばフォトダイオード，フォトトラ
ンジスタ等の受光素子が使用される。これにより、光検
出器２７は、集光レンズ２５及び凹レンズ２６を介して
入射する光ビームの光量に応じた電気信号を出力するよ
うになっている。さらに、光検出器２７は、図６に示す
ように、互いに並んで配設された二つの受光部として作
用する受光素子２７ａ，２７ｂを備えており、各受光素
子２７ａ，２７ｂは、それぞれ例えば３つの受光領域に
分割されている。

【００３２】マイクロプリズム２８は、光学ガラスから
形成されており、図５に示すように、入射光に対して４
５度の角度で傾斜したハーフミラー面２８ａと、このハ
ーフミラー面２８ａによる反射に対して４５度の角度で
傾斜した反射面２８ｂを有するように、構成されてい
る。これにより、実質的に集光レンズ２５からの収束光
が、ハーフミラー面２８ａを透過して、受光素子２７ａ
に入射すると共に、ハーフミラー面２８ａで反射された
後、反射面２８ｂで反射された光が、受光素子２７ｂに
入射するようになっている。この場合、各受光素子２７
ａ，２７ｂに入射する戻り光は、互いに平行である。か
くして、光検出器２７の二つの受光素子２７ａ，２７ｂ
の各受光領域の出力信号ａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅ，ｆを適宜
に組み合わせることにより、目的に応じた信号、フォー
カスエラー信号やトラッキングエラー信号が得られる。
例えば光ディスク１１のサーボバイト領域にて、トラッ
クピッチの１／４だけ半径方向にずれている一対のピッ
トを使用して、これらのピットによる戻り光量をサンプ
リングすることにより、３スポット法のサイドスポット
からの信号に対応する信号が得られる。そして、これら
の信号の差をとることによって、例えばサンプルサーボ
法により、トラッキングエラー信号が生成される。ま
た、例えば差動同心円法に基づいて、

【数１】により、フォーカスエラー信号が得られる。

【００３３】平行平板２９は、光学ガラスやプラスチッ
クガラス等の複屈折を生じない透明材料から成り、好ま
しくは屈折率が比較的大きい材料から構成され、両面が
互いに平行になるように形成されている。この平行平板
２９は、ビームススプリッタ２３から１／２波長板２４
を介して出射する戻り光の光軸上にて、この光軸に垂直
な軸を中心として揺動可能に配設されている。これによ
り、この平行平板２９は、その傾斜角度が調整可能にな
っている。

【００３４】上記一軸アクチュエータ４０は、シーク動
作等を行うための次のような移動手段を有している。こ
れは、所定間隔で配設された一対の板状のヨーク４１，
４２を有していると共に、このヨーク４１，４２の内側
に面したヨーク片４１ａ，４２ａの内側所定位置に、ス
ライド棒４４，４５が取り付けられている。 上記ヨー
ク片４１ａ，４２ａの間には、スライダ５０が配設され
ている。このスライダ５０は、断面が長方形の枠体から
成り、その内部に、上記スライド棒４４，４５を挟持す
るための支持部材４６（図示の場合には、ローラベアリ
ング）を備えている。これにより、このスライダ５０
は、スライド棒４４，４５に沿って、図１にて上下方向
に沿って円滑に移動可能に取り付けられている。

【００３５】スライダ５０の一端側（図示の場合、下端
側）には、一軸アクチュエータの本体であるフォーカス
調整手段６０が設けられている。このフォーカス調整手
段６０は、図２及び図３に示すように、上下方向に貫通
したフレーム６１の上面中央に、対物レンズ６２が取り
付けられると共に、この対物レンズ６２の下方には、斜
め４５度に傾斜して配設された立ち上げミラー６３が取
り付けられている。フレーム６１の両側には、駆動用コ
イル６４，６５が巻付けられると共に、このフレーム６
１の上下面には、スライダ５０に向かって延びる一対の
板バネ６６，６７の一端が取り付けられる。この一対の
板バネ６６，６７は、その他端が、スライダ５０の一端
側に固定される。さらに、スライダ５０には、上記駆動
用コイル６４，６５を両側から間隔をあけて対向するよ
うに、二対のマグネット６８が固定保持されている。こ
れにより、各駆動用コイル６４，６５に対して適宜の駆
動電流を流すことにより、各駆動用コイル６４，６５に
発生する磁束が、マグネット６８の磁界と作用して、フ
レーム６４に取り付けられた対物レンズ６２が、その光
軸方向に関して移動される。かくして、フォーカシング
調整が行われるようになっている。

【００３６】さらに、スライダ５０には、ヨーク４１，
４２とヨーク片４１ａ，４２ａの間の空隙４７を通るよ
うに、スライダ５０に一体に設けられた駆動用コイル５
２が設けられている。これに対して、この駆動用コイル
５２に対向するように、ヨーク４１，４２の内側面に
は、マグネット４８が取り付けられている。これによ
り、駆動用コイル５２に適宜に駆動電流を流すことによ
り、駆動用コイル５２に発生する磁束が、マグネット４
８の磁界と作用して、スライダ５０が、スライド棒４
４，４５に沿って適宜に移動される。これにより、一軸
アクチュエータ４０のスライダ５０そして前記対物レン
ズ６２が、光ディスク１１の半径方向に移動され、アク
セスが行われる。

【００３７】上記光偏向装置３０は、光学ブロック２０
と一軸アクチュエータ４０との間に固定して配設されて
いて、光学ブロック２０からの光ビームを一軸アクチュ
エータ４０に導き、また一軸アクチュエータ４０からの
戻り光ビームを光学ブロック２０に導くように、光路を
偏向させる。そして、この光偏向装置３０は、図４に詳
細に示すように、構成されている。光偏向装置３０は、
取付部材３１，ベース３２，マグネットホルダー３３，
弾性部材３４，ミラーホルダー３５，ガルバノミラー３
６，コイル３７を含んでいる。

【００３８】取付部材３１は、板状部材から例えばプレ
ス成形等によって形成されており、シャーシ１３の底面
に接する底部３１ａと、シャーシ１３の底面から上方に
突出した固定部１３ａに接する取付部３１ｂと、この底
部３１ａ及び取付部３１ｂを連結する連結部３１ｃとか
ら構成されている。底部３１ａには、シャーシ１３の底
面に設けられたボス１３ｂに係合する複数個の長孔３１
ｄ（図示の場合、左右方向に延びる３つの長孔）が設け
られており、また取付部３１ｂの一側には、シャーシ１
３の固定部１３ａ上に設けられたボス部１３ｃに係合す
る長孔３１ｅ（図示の場合、左右方向に延びる３つの長
孔）と、シャーシ１３の固定部１３ａ上に設けられたネ
ジ孔１３ｄに整合する長孔３１ｆが設けられている。そ
して、長孔３１ｆを介してネジ孔１３ｄにネジ３１ｇを
螺合させることにより、取付部材３１は、図面にて左右
方向、即ち光学ブロック２０からの光ビームの光軸方向
に関して、または一軸アクチュエータ４０からの戻り光
ビームの光軸に直交する方向に関して、適宜の位置に平
行移動して位置調整された状態で、固定されるようにな
っている。

【００３９】ベース３２は、板状部材から例えばプレス
成形等によって形成されており、上記取付部材３１の取
付部３１ｂの下面に当接する水平部３２ａと、上記取付
部材３１の移動調整方向に対して４５度の角度を有する
垂直部３２ｂを含んでいる。水平部３２ａは、二つのネ
ジ孔３２ｃ，３２ｄを有しており、このネジ孔３２ｃ，
３２ｄに対して、取付部材３１の取付部３１ｂに設けら
れた長孔３１ｈ，３１ｉを介して、ネジ３１ｊ，３１ｋ
が螺合されることにより、垂直軸の周りに角度調整可能
に固定保持される。

【００４０】マグネットホルダー３３は、例えばプラス
チック等から成形されており、上記ベース３２の垂直部
３２ｂに対して、ネジ３２ｅにより螺着されることによ
り、ガルバノミラー３６に対して固定部として作用す
る。さらに、マグネットホルダー３３は、その一側面
（図４にて手前側の側面）が、上記ベース３２の垂直部
３２ｂに直交する垂直面であって、この側面には、コイ
ル３７を移動可能に受容する凹陥部３３ａと、このコイ
ル３７を上下から間隔をあけて対向するマグネット３８
の取付部３３ｂが設けられている。ここで、マグネット
３８は、共に図４にて上方がＮ極，下方がＳ極になるよ
うに配設されているが、極性が揃っていれば、逆であっ
てもよい。また、マグネット３８は、その上下がシール
ド板３８ａにより挟持される。これにより、マグネット
３８の磁束が上下方向に洩れないようになっている。さ
らに、マグネットホルダー３３は、上記側面の凹陥部３
３ａの両側に、弾性部材３４が固定されるべきボス部３
３ｃを備えている。

【００４１】弾性部材３４は、この場合、板バネとして
形成されており、その中央部が、ミラーホルダー３５に
対して固定保持されるようになっている。図示の場合に
は、弾性部材３４は、ミラーホルダー３５とガルバノミ
ラー３６に挟持されることにより、接着等により固定保
持される。また、この弾性部材３４は、その両端付近に
設けられた取付孔３４ａ，３４ｂが、マグネットホルダ
ー３３のボス部３３ｃに係合され、バネ押さえ３４ｃに
より固定される。これにより、ミラーホルダー３５は、
弾性部材３４の第一の弾性部材としてのくびれ部３４ｄ
によって支持されることにより、この弾性部材３４の長
手軸、即ち水平軸の周りに揺動可能に支持されることに
なる。この際、弾性部材３４とマグネットホルダー３３
との間に、フレキシブル基板３９が挟持される。このフ
レキシブル基板３９は、後述するコイル３７の巻線端末
が接続されることにより、外部からフレキシブル基板３
９を介して、コイル３７に適宜に駆動電流が供給され
る。

【００４２】ガルバノミラー３６は、例えばガラス板の
一面に反射膜を形成することにより構成されており、そ
の反射膜側の面が表面にくるように、ミラー３６は、ミ
ラーホルダー３５の表面に接着等により固定されるよう
になっている。尚、ガルバノミラーは、入射光を反射す
るものであればよく、例えばプリズムミラー等の他の反
射部材も使用される。

【００４３】コイル３７は、マグネットホルダー３３の
一側面に平行な面内でループを形成するように、巻線が
巻回されており、上記フレキシブル基板３９を介して駆
動電流が供給されることにより、図面にて矢印で示すよ
うに、駆動電流ｉが流れるようになっている。さらに、
コイル３７は、ミラーホルダー３５の裏面に接着等によ
り固定される。これにより、コイル３７は、ガルバノミ
ラー３６及びミラーホルダー３５と共に、可動部即ち光
偏向手段を構成することになる。従って、ミラーホルダ
ー３５が弾性部材３４を介してマグネットホルダー３３
に取り付けられたとき、このコイル３７は、マグネット
ホルダー３３の凹陥部３３ａ内で、マグネット３８の間
に張架されることになる。かくして、コイル３７に駆動
電流ｉが流れたとき、フレミングの左手の法則に基づい
て、コイル３７，ミラーホルダー３５そしてガルバノミ
ラー３６には、上縁側で、手前に向かう力が作用し、ま
た下縁側で、後方に向かう力が作用する。

【００４４】本実施例による光学ピックアップ１０は、
以上のように構成されており、次に動作を述べる。図７
に示すように、光学ブロック２０の発光手段２１から出
射されたレーザ光ビームは、コリメータレンズ２２によ
り平行光に変換された後、ビームスプリッタ２３に入射
し、内部の反射面で反射され、さらにハーフミラー面２
３ａで反射されて、光学ブロック２０から出射する。そ
の後、光ビームは、光偏向装置３０のガルバノミラー３
６により反射されて、図８に示すように、立上りミラー
６３に導かれ、ここで反射されて、対物レンズ６２を介
して、光ディスク１１の記録面上のある一点に結像され
る。

【００４５】光ディスク１１の記録面からの戻り光ビー
ムは、再び対物レンズ６２，立上りミラー６３そしてガ
ルバノミラー３６を介して、光学ブロック２０のビーム
スプリッタ２３に入射する。ここで、戻り光ビームは、
ビームスプリッタ２３のハーフミラー面２３ａを透過す
る。

【００４６】ビームスプリッタ２３を透過した戻り光ビ
ームは、１／２波長板２４により、偏向方向が４５度回
転された後、平行平板２９，集光レンズ２５及び凹レン
ズ２６を介して、光検出器２７の受光面に入射する。こ
こで、戻り光の光軸が、集光レンズ２５の光軸に対して
一致し、光ディスク上のある１点に収束している場合に
は、二つの受光素子２７ａ，２７ｂ上に形成される戻り
光のスポットは、それぞれ中心にあって、ほぼ同じ大き
さになっている。これにより、光検出器２７の各受光素
子２７ａ，２７ｂの各受光領域からの検出信号ａ，ｂ，
ｃ，ｄ，ｅ，ｆに基づいて、トラッキングエラー信号及
びフォーカスエラー信号が生成される。

【００４７】即ち、フォーカスエラー信号ＦＥは、前記
数式１により与えられ、このフォーカスエラー信号ＦＥ
に基づいて、図示しないサーボ回路によってサーボ制御
処理が行なわれることにより、フォーカスサーボ信号が
生成され、このフォーカスサーボ信号によって、フォー
カス調整手段６０のコイル６８への駆動電流が制御され
る。かくして、フォーカス調整手段６０によって、対物
レンズ６２が光軸方向に移動調整され、フォーカス調整
が行われる。また、トラッキングエラー信号に基づい
て、図示しないサーボ回路によってサーボ制御処理が行
なわれて、トラッキングサーボ信号が生成される。この
トラッキングサーボ信号によって、光偏向装置３０のコ
イル３７への駆動電流が制御される。かくして、光偏向
装置３０のコイル３７に発生する磁束が、マグネット３
８の磁界と作用して、可動部であるミラーホルダー３
５，ガルバノミラー３６及びコイル３７を弾性部材３４
のくびれ部３４ｄを中心として揺動させる。例えば、コ
イル３７に駆動電流ｉが流れたとき、フレミングの左手
の法則に基づいて、コイル３７，ミラーホルダー３５そ
してガルバノミラー３６には、上縁側で、手前に向かう
力が作用し、また下縁側で、後方に向かう力が作用す
る。従って、ガルバノミラー３６は、図４にて矢印Ｘで
示すように揺動する。これにより、光学ブロック２０か
らの光ビームである入射光は、ガルバノミラー３６の揺
動によって、適宜の角度で反射光の光路を偏向し得るよ
うになっている。従って、一軸アクチュエータ４０の本
体であるフォーカス調整手段６０の対物レンズ６２への
入射角度が光ディスク１１の半径方向へ傾けられ、光デ
ィスク１１上の集光位置が半径方向へ移動する。かくし
て、トラッキング調整が行われる。

【００４８】ここで、光偏向装置３０や発光手段２１の
光軸ずれが生ずる等によって、集光レンズ２５に入射す
る戻り光の光軸が、集光レンズ２５の光軸に対してずれ
ている場合には、図９の図式図に示すように、平行平板
２９が、光軸のずれ方向に関して、揺動される。これに
より、平行平板２９に入射する戻り光は、この平行平板
２９の屈折率に基づいて、その入射面及び反射面で屈折
する。この際、平行平板２９の入射面及び反射面が互い
に平行であることから、平行平板２９に関する入射光及
び出射光は、互いに平行であると共に、上記屈折率によ
るずれを生ずることになる。従って、平行平板２９の傾
斜角度が適宜に調整されることによって、平行平板２９
から出射する戻り光の光軸が、集光レンズ２５の光軸に
一致することになる。かくして、光検出器２７の各受光
素子２７ａ，２７ｂに入射する戻り光のスポットは、そ
れぞれ中心に形成されることになる。

【００４９】また、発行手段２ａとコリメータレンズ２
ｂによって作られた平行光の傾き等により、戻り光の光
軸が集光レンズ２５の光軸に対して傾斜している場合に
は、図１０の図式図に示すように、平行平板２９が、光
軸のずれ方向に関して、揺動される。これにより、平行
平板２９に入射する戻り光は、この平行平板２９の屈折
率に基づいて、その入射面及び反射面で屈折する。この
際、平行平板２９に関する入射光及び出射光は、互いに
平行であると共に、上記屈折率によるずれを生ずること
になる。従って、平行平板２９の傾斜角度の調整をする
ことによって、光検出器２７の各受光素子２７ａ，２７
ｂに入射する戻り光のスポットは、その中心に形成され
ることが可能となる。

【００５０】さらに、マイクロプリズム２８の加工精度
やマウント精度等により、図１１に示すように、マイク
ロプリズム２８が光検出器２７の受光面内で角度θだけ
斜めにずれている場合には、図１２の図式図に示すよう
に、平行平板２９が、光軸のずれ方向に関して、揺動さ
れる。これにより、平行平板２９に入射する戻り光は、
この平行平板２９の屈折率に基づいて、その入射面及び
反射面で屈折する。この際、平行平板２９の入射面及び
反射面が互いに平行であることから、平行平板２９に関
する入射光及び出射光は、互いに平行であると共に、上
記屈折率によるずれを生ずることになる。従って、平行
平板２９の傾斜角度が適宜に調整されることによって、
平行平板２９から出射する戻り光の光軸を、集光レンズ
２５の光軸から適宜ずらすことでプリズムのマウント精
度を補正することができる。従って、光検出器２７の各
受光素子２７ａ，２７ｂに入射する戻り光のスポット
は、その中心に形成されることが可能となる。

【００５１】このようにして、集光レンズ２５に入射す
る戻り光の光軸のずれや傾き、あるいはマイクロプリズ
ムのマウントずれ等がある場合に、光検出器の位置調整
と平行平板２９の傾斜角度を適宜に調整することによっ
て、光検出器２７の各受光素子２７ａ，２７ｂ上にて、
その中心に戻り光のスポットが形成されることが可能に
なる。従って、簡単な構成によって、しかも低コスト
で、光検出器の受光素子２７ａ，２７ｂの各受光領域か
らの検出信号に基づいて、正確なフォーカスエラー信号
及びトラッキングエラー信号が得られることになる。

【００５２】上記実施例においては、光偏向装置３０及
び一軸アクチュエータ４０により、対物レンズから光デ
ィスクへの光ビームを二軸方向に調整するようになって
いるが、これに限らず、対物レンズを二軸方向に移動可
能に支持する二軸アクチュエータを備えた光学ピックア
ップに本発明を適用することも可能である。さらに、図
１に示すように、光ディスク１１が水平に配設されてい
る場合について説明したが、これに限らず、光ディスク
１１が垂直または斜めに配設され回転駆動される光学ピ
ックアップに本発明を適用することも可能である。

【００５３】

【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、容
易に且つ低コストで、光検出器に対する戻り光のスポッ
トずれが排除されるようにした、光学ピックアップを提
供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による光偏向装置を備えた光学ピックア
ップの一実施例を示す概略平面図である。

【図２】図１の光学ピックアップにおけるフォーカス調
整手段の概略斜視図である。

【図３】図１の光学ピックアップにおけるフォーカス調
整手段の概略正面図である。

【図４】図１の光学ピックアップにおける光学ブロック
の光検出器付近を示す部分拡大側面図である。

【図５】図４の光検出器の平面図である。

【図６】図４の光偏向装置による対物レンズへの光軸の
変化を示す概略側面図である。

【図７】図１の光学ピックアップの光学ブロック及び光
偏向装置の拡大平面図である。

【図８】図１の光学ピックアップの一軸アクチュエータ
の拡大側面図である。

【図９】図１の光学ピックアップにおいて戻り光の光軸
ずれがある状態の要部を示す概略図である。

【図１０】図１の光学ピックアップにおいて戻り光の光
軸傾きがある状態の要部を示す概略図である。

【図１１】図１の光学ピックアップにおける位置ずれし
たマイクロプリズムを示す概略側面図及び概略平面図で
ある。

【図１２】図１の光学ピックアップにおけるマイクロプ
リズムの位置ずれがある状態の要部を示す概略図であ
る。

【図１３】従来の光学ピックアップの一例における光学
ブロック及び光偏向装置を示す概略平面図である。

【図１４】図１３の光学ピックアップにおける一軸アク
チュエータを示す概略側面図である。

【図１５】図１３の光学ピックアップにおけるマイクロ
プリズムの構成例を示す拡大側面図である。

【図１６】図１３の光学ピックアップにおけるマイクロ
プリズムの他の構成例を示す拡大側面図である。

【図１７】図１３の光学ピックアップにおいて戻り光の
光軸ずれがある状態の要部を示す概略図である。

【図１８】図１３の光学ピックアップにおいて戻り光の
光軸傾きがある状態の要部を示す概略図である。

【図１９】図１３の光学ピックアップにおける位置ずれ
したマイクロプリズムを示す概略側面図及び概略平面図
である。

【図２０】図１３の光学ピックアップにおけるマイクロ
プリズムの位置ずれがある状態の要部を示す概略図であ
る。

【符号の簡単な説明】

１０ 光学ピックアップ １１ 光ディスク １２ スピンドルモータ １３ シャーシ ２０ 光学ブロック ２１ 発光手段 ２２ コリメータレンズ ２３ ビームスプリッタ ２４ １／２波長板 ２５ 集光レンズ ２６ 凹レンズ ２７ 光検出器 ２８ マイクロプリズム ２９ 平行平板 ３０ 光偏向装置 ３１ 取付部材 ３２ ベース ３３ マグネットホルダー（固定部） ３４ 弾性部材 ３５ ミラーホルダー（可動部） ３６ ガルバノミラー（可動部） ３７ コイル（可動部） ３８ マグネット ３９ フレキシブル基板 ４０ 一軸アクチュエータ ４１，４２ ヨーク ４４，４５ スライド棒 ４６ 支持部材 ４７ 空隙 ４８ マグネット ５０ スライダ ６０ フォーカス調整手段 ６１ フレーム ６２ 対物レンズ ６３ 立ち上げミラー ６４，６５ 駆動用コイル ６６，６７ 板バネ ６８ マグネット

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 発光手段と、 発光手段からの光を反射する光偏向装置と、 この光偏向手段からの光を光ディスク上に照射する対物
   レンズと、 この対物レンズを一軸方向に移動可能に支持する一軸ア
   クチュエータと、 光ディスクからの戻り光を収束させる集光レンズと、 この集光レンズからの光を分割する光分割手段と、 この光分割手段により分割された各光を集光レンズの集
   光位置の前後でそれぞれ検出する受光部を備えた光検出
   器と、を含んでいて、 前記光偏向装置が、 入射光路を通って入射する光を反射する光偏向手段と、 この光偏向手段を固定部に対して揺動可能に支持する弾
   性部材と、 この光偏向手段を揺動させる駆動手段と、を備えてお
   り、 さらに、前記集光レンズの手前に、その光軸に対して揺
   動可能に配設された平行平板を備えていることを特徴と
   する光学ピックアップ。
2. 【請求項２】 前記平行平板が、戻り光の光軸が集光レ
   ンズの光軸に一致するように、傾斜角度を調整されるこ
   とを特徴とする、請求項１に記載の光学ピックアップ。
3. 【請求項３】 前記平行平板が、戻り光のスポットが光
   検出器の各受光部の中心に位置するように、傾斜角度を
   調整されることを特徴とする、請求項１に記載の光学ピ
   ックアップ。
4. 【請求項４】 発光手段と、 発光手段からの光を光ディスク上に照射する対物レンズ
   と、 この光ディスクへの光を実質的に二軸方向に振るアクチ
   ュエータと、 光ディスクからの戻り光を収束させる集光レンズと、 この集光レンズからの光を分割する光分割手段と、 この光分割手段により分割された各光を集光レンズの集
   光位置の前後でそれぞれ検出する受光部を備えた光検出
   器と、 前記集光レンズの手前に、その光軸に対して揺動可能に
   配設された平行平板とを備えていることを特徴とする光
   学ピックアップ。