JPH08241502A - 磁気ヘッドと磁気記録再生装置 - Google Patents
磁気ヘッドと磁気記録再生装置Info
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- JPH08241502A JPH08241502A JP6898595A JP6898595A JPH08241502A JP H08241502 A JPH08241502 A JP H08241502A JP 6898595 A JP6898595 A JP 6898595A JP 6898595 A JP6898595 A JP 6898595A JP H08241502 A JPH08241502 A JP H08241502A
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/48—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed
- G11B5/52—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed with simultaneous movement of head and record carrier, e.g. rotation of head
- G11B5/53—Disposition or mounting of heads on rotating support
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B33/00—Constructional parts, details or accessories not provided for in the other groups of this subclass
- G11B33/10—Indicating arrangements; Warning arrangements
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 磁気ヘッドのテープ接触面の摩耗の進行度合
いを直接目で把握できるようにすること。 【構成】 磁気ヘッド３のテープ接触面１４の両端縁に
沿って一対の切欠き２２を形成して、テープ接触面１４
の摩耗の進行に伴い上記切欠き２２の長さが短くなるよ
うにしたことを特徴とする。
いを直接目で把握できるようにすること。 【構成】 磁気ヘッド３のテープ接触面１４の両端縁に
沿って一対の切欠き２２を形成して、テープ接触面１４
の摩耗の進行に伴い上記切欠き２２の長さが短くなるよ
うにしたことを特徴とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、データレコーダやビデ
オテープレコーダ等のヘリカルスキャン方式の磁気記録
再生装置に適用するのに最適な磁気ヘッドと磁気記録再
生装置に関するものである。
オテープレコーダ等のヘリカルスキャン方式の磁気記録
再生装置に適用するのに最適な磁気ヘッドと磁気記録再
生装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来から、データレコーダやビデオテー
プレコーダ等のヘリカルスキャン方式の磁気記録再生装
置では、図８に示すように、回転ヘッドドラム１の外周
に磁気テープ２をヘリカル状に巻き付けて走行させ、回
転ヘッドドラム１の外周面から突出されて回転される回
転ヘッドと称される複数の磁気ヘッド３によって磁気テ
ープ２をヘリカルスキャン方式で記録、再生するように
構成されている。
プレコーダ等のヘリカルスキャン方式の磁気記録再生装
置では、図８に示すように、回転ヘッドドラム１の外周
に磁気テープ２をヘリカル状に巻き付けて走行させ、回
転ヘッドドラム１の外周面から突出されて回転される回
転ヘッドと称される複数の磁気ヘッド３によって磁気テ
ープ２をヘリカルスキャン方式で記録、再生するように
構成されている。
【０００３】なお、回転ヘッドドラム１の構造として
は、上ドラム回転方式（複数の磁気ヘッドが下端の外周
に取り付けられた回転ドラムを固定された下ドラムの上
部でスピンドルモータによって回転する構造）と、図８
に示す中ドラム回転方式（上下ドラム４、５を固定し、
これらの間に配置したスキャナーと称されるディスク状
の中ドラム６の外周に複数の磁気ヘッド３を取り付け
て、この中ドラム６をスピンドルモータによって回転す
る構造）との２方式がある。
は、上ドラム回転方式（複数の磁気ヘッドが下端の外周
に取り付けられた回転ドラムを固定された下ドラムの上
部でスピンドルモータによって回転する構造）と、図８
に示す中ドラム回転方式（上下ドラム４、５を固定し、
これらの間に配置したスキャナーと称されるディスク状
の中ドラム６の外周に複数の磁気ヘッド３を取り付け
て、この中ドラム６をスピンドルモータによって回転す
る構造）との２方式がある。
【０００４】そしてこの種の磁気ヘッド３の先端には、
図７に示すようなフライト等にて平板状に形成されたヘ
ッドコア１１の一部にコイル１２を巻回した各種形状の
ヘッドチップ１３が取り付けられているが、図７に示す
ヘッドチップ１３の形状が一般的な形状である。
図７に示すようなフライト等にて平板状に形成されたヘ
ッドコア１１の一部にコイル１２を巻回した各種形状の
ヘッドチップ１３が取り付けられているが、図７に示す
ヘッドチップ１３の形状が一般的な形状である。
【０００５】そして、このヘッドチップ１３は、チップ
幅がＣＷ、チップ奥行きがＣＤ、チップ厚さがＣＴに形
成されていて、前端面がチップ幅ＣＷの全幅に亘ってほ
ぼ円弧状に弯曲されたテープ接触面１４に形成されてい
る。そして、そのテープ接触面１４のチップ幅ＣＷのほ
ぼ中央部である頂部１４ａで、チップ厚さＣＴのほぼ中
央部にアジマス角θを有するヘッドギャップ１５が形成
されている。そして、このヘッドギャップ１５の長さが
トラック幅ＴＷを構成し、このヘッドギャップ１５の幅
がギャップ長ＧＬと称され、このヘッドギャップ１５の
チップ奥行き方向の深さがディプスＤＰと称されてい
る。なお、ヘッドチップ１３の厚さ方向の両側面１６で
ヘッドギャップ１５のトラック幅ＴＷの両側にはガラス
等の埋設物１７が埋設されている。
幅がＣＷ、チップ奥行きがＣＤ、チップ厚さがＣＴに形
成されていて、前端面がチップ幅ＣＷの全幅に亘ってほ
ぼ円弧状に弯曲されたテープ接触面１４に形成されてい
る。そして、そのテープ接触面１４のチップ幅ＣＷのほ
ぼ中央部である頂部１４ａで、チップ厚さＣＴのほぼ中
央部にアジマス角θを有するヘッドギャップ１５が形成
されている。そして、このヘッドギャップ１５の長さが
トラック幅ＴＷを構成し、このヘッドギャップ１５の幅
がギャップ長ＧＬと称され、このヘッドギャップ１５の
チップ奥行き方向の深さがディプスＤＰと称されてい
る。なお、ヘッドチップ１３の厚さ方向の両側面１６で
ヘッドギャップ１５のトラック幅ＴＷの両側にはガラス
等の埋設物１７が埋設されている。
【０００６】そして、図８で示した回転ヘッドドラム１
の外周に沿ってヘリカル状に走行される磁気テープ２に
対してヘッドチップ１３がテープ接触面１４によって接
触して、ヘッドギャップ１５のトラック幅ＴＷでヘリカ
ルスキャン方式の信号の記録（書き込み）、再生（読み
取り）を行うように構成されている。
の外周に沿ってヘリカル状に走行される磁気テープ２に
対してヘッドチップ１３がテープ接触面１４によって接
触して、ヘッドギャップ１５のトラック幅ＴＷでヘリカ
ルスキャン方式の信号の記録（書き込み）、再生（読み
取り）を行うように構成されている。
【０００７】従って、ヘッドチップ１３のテープ接触面
１４は、磁気テープ２に対する摺動によって徐々に摩耗
が進行し、ディプスＤＰが無くなった（ＤＰの値が０と
なった時）時点でヘッドチップ１３が寿命を迎えること
になる。
１４は、磁気テープ２に対する摺動によって徐々に摩耗
が進行し、ディプスＤＰが無くなった（ＤＰの値が０と
なった時）時点でヘッドチップ１３が寿命を迎えること
になる。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】そして、ヘッドチップ
１３の寿命を知るために、この種磁気記録再生装置で
は、ヘッドチップ１３のテープ接触面１４の摩耗量を定
期的に測定する必要がある。
１３の寿命を知るために、この種磁気記録再生装置で
は、ヘッドチップ１３のテープ接触面１４の摩耗量を定
期的に測定する必要がある。
【０００９】そこで、従来は、図８に示すように、ダイ
アルゲージ１８を利用した各種治具を使用したり、干渉
縞を利用した光学測定機を用いて、回転ヘッドドラム１
の外周面（上下ドラム４、５や中ドラム６或いは上回転
ドラムの外周面を言う）からのヘッドチップ１３のテー
プ接触面１４の突き出し量ＴＭを測定し、この突き出し
量ＴＭの値によって、ヘッドギャップ１５のディプスＤ
Ｐの値を間接的に推定していた。
アルゲージ１８を利用した各種治具を使用したり、干渉
縞を利用した光学測定機を用いて、回転ヘッドドラム１
の外周面（上下ドラム４、５や中ドラム６或いは上回転
ドラムの外周面を言う）からのヘッドチップ１３のテー
プ接触面１４の突き出し量ＴＭを測定し、この突き出し
量ＴＭの値によって、ヘッドギャップ１５のディプスＤ
Ｐの値を間接的に推定していた。
【００１０】しかし、この従来の測定方法は、あくまで
も、ディプスＤＰの値を間接的に推定する方法であり、
ティプスＤＰの絶対値を直接的に測定することは全くで
きない。
も、ディプスＤＰの値を間接的に推定する方法であり、
ティプスＤＰの絶対値を直接的に測定することは全くで
きない。
【００１１】つまり、磁気ヘッド３を回転ヘッドドラム
１の中ドラム６や上回転ドラムに取り付ける際に、回転
ヘッドドラム１の外周面に対するヘッドチップ１３のテ
ープ接触面１４の突き出し量自体にバラツキがある。ま
た、上記の突き出し量ＴＭを測定する測定機にも誤差が
ある。
１の中ドラム６や上回転ドラムに取り付ける際に、回転
ヘッドドラム１の外周面に対するヘッドチップ１３のテ
ープ接触面１４の突き出し量自体にバラツキがある。ま
た、上記の突き出し量ＴＭを測定する測定機にも誤差が
ある。
【００１２】従って、従来のように、ティプスＤＰの値
を間接的に推定する方法では、その測定したヘッドチッ
プ１３の摩耗量の値に数ミクロン程度の誤差が生じる場
合がある。そして、このヘッドチップ１３の摩耗量の値
の数ミクロンの誤差は、ヘッドライフ（Head Life ）に
換算して数１００時間に相当する場合もあり、非常に重
大な誤差となる。
を間接的に推定する方法では、その測定したヘッドチッ
プ１３の摩耗量の値に数ミクロン程度の誤差が生じる場
合がある。そして、このヘッドチップ１３の摩耗量の値
の数ミクロンの誤差は、ヘッドライフ（Head Life ）に
換算して数１００時間に相当する場合もあり、非常に重
大な誤差となる。
【００１３】本発明は上記の問題を解決するためになさ
れたものであって、磁気ヘッドのテープ接触面の摩耗の
進行度合いを直接目で把握できるようにした磁気ヘッド
と、それを用いた磁気記録再生装置を提供することを目
的としている。
れたものであって、磁気ヘッドのテープ接触面の摩耗の
進行度合いを直接目で把握できるようにした磁気ヘッド
と、それを用いた磁気記録再生装置を提供することを目
的としている。
【００１４】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めの本発明の磁気ヘッドは、テープ接触面の摩耗量を表
示する手段を備えたものである。
めの本発明の磁気ヘッドは、テープ接触面の摩耗量を表
示する手段を備えたものである。
【００１５】
【作用】上記のように構成された本発明の磁気ヘッド
は、テープ接触面の摩耗量を表示する手段によって、テ
ープ接触面の摩耗の進行度合いを直接目で把握できる。
は、テープ接触面の摩耗量を表示する手段によって、テ
ープ接触面の摩耗の進行度合いを直接目で把握できる。
【００１６】
【実施例】以下、本発明を適用した磁気ヘッドの実施例
を図１〜図６を参照して説明する。
を図１〜図６を参照して説明する。
【００１７】なお、この実施例で示す磁気ヘッドは、図
７及び図８で説明したデータレコーダやビデオテープレ
コーダ等のヘリカルスキャン方式の磁気記録再生装置で
使用される回転ヘッドドラムの磁気ヘッドである。従っ
て、図７及び図８と同一構造部には同一の符号を付して
説明の重複を省く。
７及び図８で説明したデータレコーダやビデオテープレ
コーダ等のヘリカルスキャン方式の磁気記録再生装置で
使用される回転ヘッドドラムの磁気ヘッドである。従っ
て、図７及び図８と同一構造部には同一の符号を付して
説明の重複を省く。
【００１８】まず、図１〜図５に示すように、本発明の
磁気ヘッド３は、ヘッドチップ１３のテープ接触面１４
に、そのテープ接触面１４の摩耗量を表示するための摩
耗量表示手段２１が形成されている。なお、この摩耗量
表示手段２１は、テープ接触面１４の摩耗の進行に伴っ
て形が変化する手段に構成されている。
磁気ヘッド３は、ヘッドチップ１３のテープ接触面１４
に、そのテープ接触面１４の摩耗量を表示するための摩
耗量表示手段２１が形成されている。なお、この摩耗量
表示手段２１は、テープ接触面１４の摩耗の進行に伴っ
て形が変化する手段に構成されている。
【００１９】［第１実施例］そして、図１及び図２に示
す第１実施例では、テープ接触面１４のテープ走行方向
（図１及び図２で左右方向を言う）に対するほぼ直角な
方向（ここではヘッドチップ１３の厚さ方向を指してい
る）の両端縁に沿って両側面１６に、ヘッドチップ１３
の厚さ方向の深さである段差Ｄ1 で、ヘッドチップ１３
の幅方向の長さがＬ1 のほぼ三日月形の一対の切欠き２
２を上下対称形状に形成して、これら一対の切欠き２２
によって摩耗量表示手段２１を構成したものである。
す第１実施例では、テープ接触面１４のテープ走行方向
（図１及び図２で左右方向を言う）に対するほぼ直角な
方向（ここではヘッドチップ１３の厚さ方向を指してい
る）の両端縁に沿って両側面１６に、ヘッドチップ１３
の厚さ方向の深さである段差Ｄ1 で、ヘッドチップ１３
の幅方向の長さがＬ1 のほぼ三日月形の一対の切欠き２
２を上下対称形状に形成して、これら一対の切欠き２２
によって摩耗量表示手段２１を構成したものである。
【００２０】そして、一対の切欠き２２はテープ接触面
１４の頂部１４ａからディプスＤＰの最深部と一致する
位置まで切り欠かれている。なお、この第１実施例で
は、一対の切欠き２２の最深部の深さに相当する一対の
垂直な端面２２ａをヘッドチップ１３の奥行き方向に対
して直角に形成して、長さＬ1 を十分に長くとってい
る。
１４の頂部１４ａからディプスＤＰの最深部と一致する
位置まで切り欠かれている。なお、この第１実施例で
は、一対の切欠き２２の最深部の深さに相当する一対の
垂直な端面２２ａをヘッドチップ１３の奥行き方向に対
して直角に形成して、長さＬ1 を十分に長くとってい
る。
【００２１】従って、この第１実施例では、ヘッドチッ
プ１３のテープ接触面１４の幅が長さＬ1 の範囲で小さ
い幅Ｗ1 （但し、Ｗ1 ＝ＣＴ−２Ｄ1 である。）に形成
されている。
プ１３のテープ接触面１４の幅が長さＬ1 の範囲で小さ
い幅Ｗ1 （但し、Ｗ1 ＝ＣＴ−２Ｄ1 である。）に形成
されている。
【００２２】［第１実施例におけるテープ接触面の摩耗
による形状変化の説明］ここで、以上のように構成され
た第１実施例におけるヘッドチップ１３のテープ接触面
１４の摩耗の進行に伴う形状の変化を図２によって説明
する。
による形状変化の説明］ここで、以上のように構成され
た第１実施例におけるヘッドチップ１３のテープ接触面
１４の摩耗の進行に伴う形状の変化を図２によって説明
する。
【００２３】まず、図２の（Ａ）（Ｂ）に示すように、
テープ接触面１４が摩耗される前（新品の状態）では、
一切の切欠き２２の長さはＬ1 である。
テープ接触面１４が摩耗される前（新品の状態）では、
一切の切欠き２２の長さはＬ1 である。
【００２４】次に、テープ接触面１４の摩耗が図２の
（Ａ）に１点鎖線で示す位置まで進行すると、図２の
（Ｃ）に示すように、一対の切欠き２２の長さがＬ2 ま
で短くなる。
（Ａ）に１点鎖線で示す位置まで進行すると、図２の
（Ｃ）に示すように、一対の切欠き２２の長さがＬ2 ま
で短くなる。
【００２５】そして、テープ接触面１４の摩耗が図２の
（Ａ）に点線で示すようにディプスＤＰの最深部まで進
行して、ディプスＤＰが無くなった時には、図２の
（Ｄ）に示すように、一対の切欠き２２が完全に消失し
てしまい、そのテープ接触面１４の幅が当初のＷ1 から
Ｗ2 （但し、Ｗ2 ＝ＣＴ）に変化する。
（Ａ）に点線で示すようにディプスＤＰの最深部まで進
行して、ディプスＤＰが無くなった時には、図２の
（Ｄ）に示すように、一対の切欠き２２が完全に消失し
てしまい、そのテープ接触面１４の幅が当初のＷ1 から
Ｗ2 （但し、Ｗ2 ＝ＣＴ）に変化する。
【００２６】従って、テープ接触面１４の摩耗がディプ
スＤＰの最深部に達して、そのテープ接触面１４の幅が
Ｗ2 に変化することによって、ディプスＤＰが無くなっ
て、ヘッドチップ１３の寿命が無くなったことを絶対値
として正確に把握することができる。
スＤＰの最深部に達して、そのテープ接触面１４の幅が
Ｗ2 に変化することによって、ディプスＤＰが無くなっ
て、ヘッドチップ１３の寿命が無くなったことを絶対値
として正確に把握することができる。
【００２７】［第２実施例］図３に示す第２実施例は、
一対の切欠き２２の一対の端面２２ａをヘッドギャップ
１５を中心にして左右両側方に至るに従って前方側（頂
部１４ａ側を指す）へ変位させるように、これら一対の
端面２２ａをヘッドギャップ１５を中心としてほぼ浅い
Ｖ形に形成したものである。
一対の切欠き２２の一対の端面２２ａをヘッドギャップ
１５を中心にして左右両側方に至るに従って前方側（頂
部１４ａ側を指す）へ変位させるように、これら一対の
端面２２ａをヘッドギャップ１５を中心としてほぼ浅い
Ｖ形に形成したものである。
【００２８】［第２実施例におけるテープ接触面の摩耗
による形状変化の説明］以上のように構成された第２実
施例におけるヘッドチップ１３のテープ接触面１４の摩
耗の進行に伴う形状の変化は、前述した第１実施例と同
等である。
による形状変化の説明］以上のように構成された第２実
施例におけるヘッドチップ１３のテープ接触面１４の摩
耗の進行に伴う形状の変化は、前述した第１実施例と同
等である。
【００２９】この際、この第２実施例によれば、一対の
切欠き２２の長さＬ1 が図２の第１実施例の長さＬ1 に
比べて短いものの、その一対の端面２２ａがほぼ浅いＶ
形に形成されていることから、テープ接触面１４の摩耗
進行の早期から一対の切欠き２２の長さＬ1 が短くなる
ように変化する。なお、図２の第１実施例ではテープ接
触面１４の摩耗が或る程度進むまでは一対の切欠き２２
は長さＬ1 を維持し、その後に、長さＬ1 が徐々に短く
なる。
切欠き２２の長さＬ1 が図２の第１実施例の長さＬ1 に
比べて短いものの、その一対の端面２２ａがほぼ浅いＶ
形に形成されていることから、テープ接触面１４の摩耗
進行の早期から一対の切欠き２２の長さＬ1 が短くなる
ように変化する。なお、図２の第１実施例ではテープ接
触面１４の摩耗が或る程度進むまでは一対の切欠き２２
は長さＬ1 を維持し、その後に、長さＬ1 が徐々に短く
なる。
【００３０】なお、第１及び第２実施例では、テープ接
触面１４のテープ走行方向に対する直角な方向の少なく
とも一方の端縁に切欠き２２を形成しておくだけでも目
的を達成することができるが、テープ接触面１４に対す
る磁気テープ２の良好な当り（接触状態を言う）を確保
するためには、テープ接触面１４の両端縁に沿って一対
の切欠き２２を上下対称状に形成するのが好ましい。
触面１４のテープ走行方向に対する直角な方向の少なく
とも一方の端縁に切欠き２２を形成しておくだけでも目
的を達成することができるが、テープ接触面１４に対す
る磁気テープ２の良好な当り（接触状態を言う）を確保
するためには、テープ接触面１４の両端縁に沿って一対
の切欠き２２を上下対称状に形成するのが好ましい。
【００３１】また、一対の切欠き２２の段差Ｄ1 が高過
ぎると、テープ接触面１４に対する磁気テープ２の当り
不良を生じることが考えられるので、これら一対の切欠
き２２の段差Ｄ1 はチップ厚さＣＴの数パーセント以内
に抑えるのが好ましい。
ぎると、テープ接触面１４に対する磁気テープ２の当り
不良を生じることが考えられるので、これら一対の切欠
き２２の段差Ｄ1 はチップ厚さＣＴの数パーセント以内
に抑えるのが好ましい。
【００３２】［第３実施例］次に、図４に示す第３実施
例では、テープ接触面１４の近傍位置に沿って複数の貫
通穴２３にを形成して、これら複数の貫通穴２３よって
摩耗表示手段２１を構成したものである。
例では、テープ接触面１４の近傍位置に沿って複数の貫
通穴２３にを形成して、これら複数の貫通穴２３よって
摩耗表示手段２１を構成したものである。
【００３３】なお、これら複数の貫通穴２３はヘッドチ
ップ１３の両側面１６間をヘッドチップ１３の厚さ方向
に貫通するように構成されており、かつ、ヘッドギャッ
プ１５を中心としてヘッドチップ１３の幅方向に対称状
に配置されている。
ップ１３の両側面１６間をヘッドチップ１３の厚さ方向
に貫通するように構成されており、かつ、ヘッドギャッ
プ１５を中心としてヘッドチップ１３の幅方向に対称状
に配置されている。
【００３４】そして、ここでは、ヘッドギャップ１５の
両側にそれぞれ２個づつ、合計４つの貫通穴２３を対称
状に配置していて、そのうちヘッドギャップ１５に近い
位置Ｌ3 に配置された２個の貫通穴２３がテープ接触面
１４の頂部１４ａの位置Ｐ1に対して浅いＤ2 の位置Ｐ2
に形成されている。また、ヘッドギャップ１５から遠
い位置Ｌ4 に配置された２個の貫通穴２３がテープ接触
面１４の頂部１４ａの位置Ｐ1 に対して深いＤ3 の位置
Ｐ3 に形成されている。
両側にそれぞれ２個づつ、合計４つの貫通穴２３を対称
状に配置していて、そのうちヘッドギャップ１５に近い
位置Ｌ3 に配置された２個の貫通穴２３がテープ接触面
１４の頂部１４ａの位置Ｐ1に対して浅いＤ2 の位置Ｐ2
に形成されている。また、ヘッドギャップ１５から遠
い位置Ｌ4 に配置された２個の貫通穴２３がテープ接触
面１４の頂部１４ａの位置Ｐ1 に対して深いＤ3 の位置
Ｐ3 に形成されている。
【００３５】［第３実施例におけるテープ接触面の摩耗
による形状変化の説明］ここで、以上のように構成され
た第３実施例におけるヘッドチップ１３のテープ接触面
１４の摩耗の進行に伴う形状の変化を図４によって説明
する。
による形状変化の説明］ここで、以上のように構成され
た第３実施例におけるヘッドチップ１３のテープ接触面
１４の摩耗の進行に伴う形状の変化を図４によって説明
する。
【００３６】まず、図４の（Ａ）（Ｂ）に示すように、
テープ接触面１４が摩耗される前（新品の状態）では、
テープ接触面１４全体がフラットである。
テープ接触面１４が摩耗される前（新品の状態）では、
テープ接触面１４全体がフラットである。
【００３７】次に、テープ接触面１４の摩耗が図４の
（Ａ）に１点鎖線で示す位置まで進行すると、図４の
（Ｃ）に示すように、ヘッドギャップ１５に近い位置Ｌ
3 の２個の貫通穴２３が削られて、その近い位置Ｌ3 に
一対のスリット２３ａが表われる。
（Ａ）に１点鎖線で示す位置まで進行すると、図４の
（Ｃ）に示すように、ヘッドギャップ１５に近い位置Ｌ
3 の２個の貫通穴２３が削られて、その近い位置Ｌ3 に
一対のスリット２３ａが表われる。
【００３８】そして、テープ接触面１４の摩耗が図４の
（Ａ）に点線で示すように、ディプスＤＰの最深部まで
進行して、ディプスＤＰが無くなった時には、図４の
（Ｄ）に示すように、ヘッドギャップ１５から遠い位置
Ｌ4 の２個の貫通穴２３も削られて、その遠い位置Ｌ4
に一対のスリット２３ｂが表われる。
（Ａ）に点線で示すように、ディプスＤＰの最深部まで
進行して、ディプスＤＰが無くなった時には、図４の
（Ｄ）に示すように、ヘッドギャップ１５から遠い位置
Ｌ4 の２個の貫通穴２３も削られて、その遠い位置Ｌ4
に一対のスリット２３ｂが表われる。
【００３９】［第４実施例］次に、図５に示す第４実施
例では、テープ接触面１４の幅方向のほぼ中央部に沿っ
てピンホール形状等の複数の凹部２４を形成して、これ
ら複数の凹部２４によって摩耗表示手段２１を構成した
ものである。
例では、テープ接触面１４の幅方向のほぼ中央部に沿っ
てピンホール形状等の複数の凹部２４を形成して、これ
ら複数の凹部２４によって摩耗表示手段２１を構成した
ものである。
【００４０】なお、ここではヘッドギャップ１５の両側
にそれぞれ３個づつ、合計６個の凹み２４を対称状に配
置しており、かつ、これらの凹み２４のテープ接触面１
４からの切り込み深さＤ4 、Ｄ5 、Ｄ6 が、ヘッドギャ
ップ１５から遠ざかるに従って順次深くなるように構成
されている。即ち、Ｄ4 ＜Ｄ5 ＜Ｄ6 である。
にそれぞれ３個づつ、合計６個の凹み２４を対称状に配
置しており、かつ、これらの凹み２４のテープ接触面１
４からの切り込み深さＤ4 、Ｄ5 、Ｄ6 が、ヘッドギャ
ップ１５から遠ざかるに従って順次深くなるように構成
されている。即ち、Ｄ4 ＜Ｄ5 ＜Ｄ6 である。
【００４１】［第４実施例におけるテープ接触面の摩耗
による形状変化の説明］ここで、以上のように構成され
た第４実施例におけるヘッドチップ１３のテープ接触面
１４の摩耗の進行に伴う形状の変化を図５によって説明
する。
による形状変化の説明］ここで、以上のように構成され
た第４実施例におけるヘッドチップ１３のテープ接触面
１４の摩耗の進行に伴う形状の変化を図５によって説明
する。
【００４２】まず、図５の（Ａ）（Ｂ）に示すように、
テープ接触面１４が摩耗される前（新品の状態）では、
テープ接触面１４に６個の凹み２４が全部表われてい
る。
テープ接触面１４が摩耗される前（新品の状態）では、
テープ接触面１４に６個の凹み２４が全部表われてい
る。
【００４３】そして、テープ接触面１４の摩耗が図４の
（Ａ）に１点鎖線で示す位置まで進行すると、図５の
（Ｃ）に示すように、テープ接触面１４に表われている
凹み２４が２個だけになる。
（Ａ）に１点鎖線で示す位置まで進行すると、図５の
（Ｃ）に示すように、テープ接触面１４に表われている
凹み２４が２個だけになる。
【００４４】そして、テープ接触面１４の摩耗が図５の
（Ａ）に点線で示すように、ディプスＤＰの最深部まで
進行して、ディプスＤＰが無くなった時には、図５の
（Ｄ）に示すように、テープ接触面１４に表われている
凹み２４が２個だけとなる。
（Ａ）に点線で示すように、ディプスＤＰの最深部まで
進行して、ディプスＤＰが無くなった時には、図５の
（Ｄ）に示すように、テープ接触面１４に表われている
凹み２４が２個だけとなる。
【００４５】なお、この際、図５の（Ａ）（Ｂ）に示し
たヘッドギャップ１５から最も遠い位置に配置されてい
る２個の凹み２４を削去して、残りの４個の凹み２４の
みをテープ接触面１４に形成しておけば、テープ接触面
１４の摩耗が図５の（Ａ）に点線で示すディプスＤＰの
最深部まで進行して、ディプスＤＰが無くなった時に、
テープ接触面１４の４個の全部の凹み２４が完全に消失
して、そのテープ接触面１４全体がフラットな状態に変
化することになる。
たヘッドギャップ１５から最も遠い位置に配置されてい
る２個の凹み２４を削去して、残りの４個の凹み２４の
みをテープ接触面１４に形成しておけば、テープ接触面
１４の摩耗が図５の（Ａ）に点線で示すディプスＤＰの
最深部まで進行して、ディプスＤＰが無くなった時に、
テープ接触面１４の４個の全部の凹み２４が完全に消失
して、そのテープ接触面１４全体がフラットな状態に変
化することになる。
【００４６】ところで、第３及び第４実施例によれば、
何れもテープ接触面１４の対称性を確保できることか
ら、テープ接触面１４に対する磁気テープ２の良好な当
りを確保できる。
何れもテープ接触面１４の対称性を確保できることか
ら、テープ接触面１４に対する磁気テープ２の良好な当
りを確保できる。
【００４７】以上述べたように、本発明の磁気ヘッド３
は、ヘッドチップ１３におけるテープ接触面１４の摩耗
の進行に伴って形が変化するようにした摩耗量表示手段
２１を形成したので、図６に示すように、回転ヘッドド
ラム１の複数の磁気ヘッド３のヘッドチップ１３におけ
るテープ接触面１４を顕微鏡２５等を用いて直接目で観
察するだけの極めて簡単な作業で、テープ接触面１４の
摩耗の進行度合いを一目瞭然に、しかも、極めて正確に
把握することができる。従って、磁気ヘッド３の交換時
期を正確に把握できる。
は、ヘッドチップ１３におけるテープ接触面１４の摩耗
の進行に伴って形が変化するようにした摩耗量表示手段
２１を形成したので、図６に示すように、回転ヘッドド
ラム１の複数の磁気ヘッド３のヘッドチップ１３におけ
るテープ接触面１４を顕微鏡２５等を用いて直接目で観
察するだけの極めて簡単な作業で、テープ接触面１４の
摩耗の進行度合いを一目瞭然に、しかも、極めて正確に
把握することができる。従って、磁気ヘッド３の交換時
期を正確に把握できる。
【００４８】しかも、摩耗量表示手段２１は、テープ接
触面１４の摩耗がディプスＤＰが無くなる時点まで進行
したか否かを絶対値として、高精度に表示することがで
きるので、磁気ヘッド３におけるヘッドチップ１３の寿
命時期を高精度に判断することができる。
触面１４の摩耗がディプスＤＰが無くなる時点まで進行
したか否かを絶対値として、高精度に表示することがで
きるので、磁気ヘッド３におけるヘッドチップ１３の寿
命時期を高精度に判断することができる。
【００４９】次に、回転ヘッドドラム１の複数の磁気ヘ
ッド３のヘッドチップ１３におけるテープ接触面１４を
顕微鏡２５等を用いて外部から観察するだけで、ヘッド
チップ１３の寿命時期を高精度に判断することができる
ため、回転ヘッドドラム１から中ドラム６（又は上回転
ドラム）を取り外してヘッドチップ１３のディプスＤＰ
を測定する方法のように、回転ヘッドドラム１をいちい
ち分解する必要が全くない。従って、保守、点検の作業
性が大幅に向上する。
ッド３のヘッドチップ１３におけるテープ接触面１４を
顕微鏡２５等を用いて外部から観察するだけで、ヘッド
チップ１３の寿命時期を高精度に判断することができる
ため、回転ヘッドドラム１から中ドラム６（又は上回転
ドラム）を取り外してヘッドチップ１３のディプスＤＰ
を測定する方法のように、回転ヘッドドラム１をいちい
ち分解する必要が全くない。従って、保守、点検の作業
性が大幅に向上する。
【００５０】以上、本発明の第１〜第４実施例に付き述
べたが、本発明は上記の実施例に限定されることなく、
本発明の技術的思想に基づいて各種の変更が可能であ
る。
べたが、本発明は上記の実施例に限定されることなく、
本発明の技術的思想に基づいて各種の変更が可能であ
る。
【００５１】例えば、上記の第１〜第４実施例では、テ
ープ接触面１４の摩耗量表示手段２１として、そのテー
プ接触面１４の摩耗の進行に伴って形が変化する構成を
示したが、例えば、ヘッドチップ１３を複合材で形成し
ておき、テープ接触面１４の摩耗の進行に伴って、その
テープ接触面１４に表われる材質が変化する等の各種の
表示手段を採用することができる。
ープ接触面１４の摩耗量表示手段２１として、そのテー
プ接触面１４の摩耗の進行に伴って形が変化する構成を
示したが、例えば、ヘッドチップ１３を複合材で形成し
ておき、テープ接触面１４の摩耗の進行に伴って、その
テープ接触面１４に表われる材質が変化する等の各種の
表示手段を採用することができる。
【００５２】また、上記の第１〜第４実施例では、デー
タレコーダやビデオテープレコーダ等のヘリカルスキャ
ン方式の磁気記録再生装置における回転ヘッドドラム１
の回転ヘッドである磁気ヘッド３について説明したが、
本発明で言う磁気ヘッドは、テープレコーダや各種のデ
ィスクドライブにおける各種の磁気ヘッドにも適用可能
である。
タレコーダやビデオテープレコーダ等のヘリカルスキャ
ン方式の磁気記録再生装置における回転ヘッドドラム１
の回転ヘッドである磁気ヘッド３について説明したが、
本発明で言う磁気ヘッドは、テープレコーダや各種のデ
ィスクドライブにおける各種の磁気ヘッドにも適用可能
である。
【００５３】
【発明の効果】以上のように構成された本発明の磁気ヘ
ッドと磁気記録再生装置は、次のような効果を奏する。
ッドと磁気記録再生装置は、次のような効果を奏する。
【００５４】請求項１の磁気ヘッドは、テープ接触面の
摩耗量を表示する手段によって、テープ接触面の摩耗の
進行度合いを直接目で把握できるようにしたので、従来
のように、回転ヘッドドラムの外周面からの磁気ヘッド
の突き出し量の値からディプス等の値を間接的に推定す
る方法に比べて、磁気ヘッドの交換時期を正確に把握で
きる。
摩耗量を表示する手段によって、テープ接触面の摩耗の
進行度合いを直接目で把握できるようにしたので、従来
のように、回転ヘッドドラムの外周面からの磁気ヘッド
の突き出し量の値からディプス等の値を間接的に推定す
る方法に比べて、磁気ヘッドの交換時期を正確に把握で
きる。
【００５５】請求項１は、顕微鏡等によって磁気ヘッド
のテープ接触面を観察するだけで、磁気ヘッドの寿命を
把握することができるので、回転ヘッドドラム等から中
ドラム等を取り外して磁気ヘッドのディプス等を測定す
る方法のように、回転ヘッドドラム等をいちいち分解す
る必要が全くなく、保守、点検の作業性が大幅に向上す
る。
のテープ接触面を観察するだけで、磁気ヘッドの寿命を
把握することができるので、回転ヘッドドラム等から中
ドラム等を取り外して磁気ヘッドのディプス等を測定す
る方法のように、回転ヘッドドラム等をいちいち分解す
る必要が全くなく、保守、点検の作業性が大幅に向上す
る。
【００５６】請求項２の磁気ヘッドは、テープ接触面の
摩耗の進行に伴って形が変化する手段を備えたので、テ
ープ接触面の進行度合いを、そのテープ接触面の形状の
変化によって一目瞭然に把握することができる。
摩耗の進行に伴って形が変化する手段を備えたので、テ
ープ接触面の進行度合いを、そのテープ接触面の形状の
変化によって一目瞭然に把握することができる。
【００５７】請求項３の磁気ヘッドは、テープ接触面の
テープ走行方向に対するほぼ直角な方向の少なくとも一
方の端縁に沿って切欠きを形成したので、テープ接触面
の摩耗の進行度合いを形状の変化によって正確に表示す
ることができる。
テープ走行方向に対するほぼ直角な方向の少なくとも一
方の端縁に沿って切欠きを形成したので、テープ接触面
の摩耗の進行度合いを形状の変化によって正確に表示す
ることができる。
【００５８】請求項４の磁気ヘッドは、上記切欠きを上
記テープ接触面のテープ走行方向に対するほぼ直角な方
向の両端縁に沿って対称状に形成したので、テープ接触
面の摩耗の進行度合いを形状の変化によって正確に表示
できる上に、テープ接触面に対する磁気テープの良好な
当りを確保できる。
記テープ接触面のテープ走行方向に対するほぼ直角な方
向の両端縁に沿って対称状に形成したので、テープ接触
面の摩耗の進行度合いを形状の変化によって正確に表示
できる上に、テープ接触面に対する磁気テープの良好な
当りを確保できる。
【００５９】請求項５の磁気ヘッドは、テープ接触面の
近傍位置に貫通穴を形成したので、テープ接触面の摩耗
の進行度合いを形状の変化によって正確に表示できる上
に、テープ接触面に対する磁気テープの良好な当りを確
保できる。
近傍位置に貫通穴を形成したので、テープ接触面の摩耗
の進行度合いを形状の変化によって正確に表示できる上
に、テープ接触面に対する磁気テープの良好な当りを確
保できる。
【００６０】請求項６の磁気ヘッドは、テープ接触面に
凹部を形成したので、テープ接触面の摩耗の進行度合い
を形状の変化によって正確に表示できる上に、テープ接
触面に対する磁気テープの良好な当りを確保できる。
凹部を形成したので、テープ接触面の摩耗の進行度合い
を形状の変化によって正確に表示できる上に、テープ接
触面に対する磁気テープの良好な当りを確保できる。
【００６１】請求項７の磁気記録再生装置は、テープ接
触面の摩耗量を表示する手段を備えた磁気ヘッドを用い
るので、磁気ヘッドの寿命が無くなるまで効率よく使用
することができて、ランニングコストの低減を図ること
ができる。
触面の摩耗量を表示する手段を備えた磁気ヘッドを用い
るので、磁気ヘッドの寿命が無くなるまで効率よく使用
することができて、ランニングコストの低減を図ること
ができる。
【図１】本発明を適用した磁気ヘッドの第１実施例を説
明する斜視図である。
明する斜視図である。
【図２】同上の第１実施例におけるテープ接触面の摩耗
の進行に伴う形状の変化を説明するための平面図及び側
面図である。
の進行に伴う形状の変化を説明するための平面図及び側
面図である。
【図３】本発明を適用した磁気ヘッドの第２実施例を説
明する平面図及び側面図である。
明する平面図及び側面図である。
【図４】本発明を適用した磁気ヘッドの第３実施例を説
明する平面図及び側面図である。
明する平面図及び側面図である。
【図５】本発明を適用した磁気ヘッドの第４実施例を説
明する平面図及び側面図である。
明する平面図及び側面図である。
【図６】本発明の磁気ヘッドのテープ接触面の摩耗の進
行度合いを顕微鏡を用いて観察する方法を説明する概略
側面図である。
行度合いを顕微鏡を用いて観察する方法を説明する概略
側面図である。
【図７】磁気ヘッドの一般的なヘッドチップの形状を説
明する平面図、側面図及びヘッドギャップ部分の拡大側
面図である。
明する平面図、側面図及びヘッドギャップ部分の拡大側
面図である。
【図８】従来の磁気ヘッドの回転ヘッドドラムからの突
き出し量の測定方法を説明する概略側面図である。
き出し量の測定方法を説明する概略側面図である。
１ 回転ヘッドドラム ２ 磁気テープ ３ 磁気ヘッド １３ ヘッドチップ １４ テープ接触面 １５ ヘッドギャップ ２１ 摩耗量表示手段 ２２ 切欠き ２３ 貫通穴 ２４ 凹み ２５ 顕微鏡 ＤＰ ディプス
Claims (7)
- 【請求項１】テープ接触面の摩耗量を表示する手段を備
えたことを特徴とする磁気ヘッド。 - 【請求項２】テープ接触面の摩耗の進行に伴って形が変
化する手段を備えたことを特徴とする磁気ヘッド。 - 【請求項３】テープ接触面のテープ走行方向に対するほ
ぼ直角な方向における少なくとも一方の端縁に沿って切
欠きを形成したことを特徴とする請求項１又は請求項２
記載の磁気ヘッド。 - 【請求項４】上記切欠きを上記テープ接触面のテープ走
行方向に対するほぼ直角な方向における両端縁に沿って
対称状に形成したことを特徴とする請求項３記載の磁気
ヘッド。 - 【請求項５】テープ接触面の近傍位置に貫通穴を形成し
たことを特徴とする請求項１又は請求項２記載の磁気ヘ
ッド。 - 【請求項６】テープ接触面に凹部を形成したことを特徴
とする請求項１又は請求項２記載の磁気ヘッド。 - 【請求項７】請求項１又は請求項２又は請求項３又は請
求項４又は請求項５又は請求項６記載の磁気ヘッドを備
えた磁気記録再生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6898595A JPH08241502A (ja) | 1995-03-03 | 1995-03-03 | 磁気ヘッドと磁気記録再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6898595A JPH08241502A (ja) | 1995-03-03 | 1995-03-03 | 磁気ヘッドと磁気記録再生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08241502A true JPH08241502A (ja) | 1996-09-17 |
Family
ID=13389475
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6898595A Withdrawn JPH08241502A (ja) | 1995-03-03 | 1995-03-03 | 磁気ヘッドと磁気記録再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08241502A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7193813B2 (en) * | 2002-09-26 | 2007-03-20 | International Business Machines Corporation | Angled flat-type recording head designed for near-constant resolution at varying type velocities |
-
1995
- 1995-03-03 JP JP6898595A patent/JPH08241502A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7193813B2 (en) * | 2002-09-26 | 2007-03-20 | International Business Machines Corporation | Angled flat-type recording head designed for near-constant resolution at varying type velocities |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20020507 |