JPH08247768A - 角速度センサ - Google Patents
角速度センサInfo
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- JPH08247768A JPH08247768A JP7048848A JP4884895A JPH08247768A JP H08247768 A JPH08247768 A JP H08247768A JP 7048848 A JP7048848 A JP 7048848A JP 4884895 A JP4884895 A JP 4884895A JP H08247768 A JPH08247768 A JP H08247768A
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C19/00—Gyroscopes; Turn-sensitive devices using vibrating masses; Turn-sensitive devices without moving masses; Measuring angular rate using gyroscopic effects
- G01C19/56—Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces
- G01C19/5607—Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces using vibrating tuning forks
- G01C19/5628—Manufacturing; Trimming; Mounting; Housings
-
- G—PHYSICS
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- Manufacturing & Machinery (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】特性の安定化および低コスト化を図ることがで
きるとともに、高感度化を図る。 【構成】 枠体2と音叉型の振動子3とは単結晶シリコ
ン基板1にて形成されている。振動子3は互いに平行に
延びるアーム部4,5を有している。アーム部4,5に
は所定間隔を隔てて枠体2の側辺部2c,2dが対向配
置されている。振動子3のアーム部4,5の一部に厚肉
部7,8,10,11を挟んで薄肉部9,12が形成さ
れている。薄肉部9,12に角速度検出用のピエゾ抵抗
素子13a,13b,14a,14bが配置されてい
る。アーム部4,5と枠体2の側辺部2c,2dとの間
に静電力が加えられ、アーム部4,5が励振する。角速
度が加わることによる励振方向と直交する方向へのアー
ム部4,5の振動がピエゾ抵抗素子13a,13b,1
4a,14bにて検知される。
きるとともに、高感度化を図る。 【構成】 枠体2と音叉型の振動子3とは単結晶シリコ
ン基板1にて形成されている。振動子3は互いに平行に
延びるアーム部4,5を有している。アーム部4,5に
は所定間隔を隔てて枠体2の側辺部2c,2dが対向配
置されている。振動子3のアーム部4,5の一部に厚肉
部7,8,10,11を挟んで薄肉部9,12が形成さ
れている。薄肉部9,12に角速度検出用のピエゾ抵抗
素子13a,13b,14a,14bが配置されてい
る。アーム部4,5と枠体2の側辺部2c,2dとの間
に静電力が加えられ、アーム部4,5が励振する。角速
度が加わることによる励振方向と直交する方向へのアー
ム部4,5の振動がピエゾ抵抗素子13a,13b,1
4a,14bにて検知される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は角速度センサに係り、
詳しくは、例えば自動車等に加わる回転角速度を検出す
る際に使用される角速度センサに関する。
詳しくは、例えば自動車等に加わる回転角速度を検出す
る際に使用される角速度センサに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、自動車の回転角速度を検出するセ
ンサとして、図15に示す圧電振動型の角速度センサが
用いられている。この振動型角速度センサは音叉型振動
子40を図中、x軸方向に励振させつつ、角速度が加わ
ることによる励振方向と直交する方向(y軸方向)への
振動子40の振動を検出して角速度の大きさを検知する
ものである。より詳しく説明すると、センサの製造に際
しては、恒弾性金属(例えば、エリンバ)よりなるU字
状の駆動板41に駆動用圧電素子42a,42bを貼り
付ける。一方、恒弾性金属よりなる検知板43aに検知
用圧電素子44aを貼り付けるとともに、恒弾性金属よ
りなる検知板43bに検知用圧電素子44bを貼り付け
る。そして、駆動板41の端面と検知板43a,43b
の端面を互いに直角となるように接着する。その後、圧
電素子42a,42b,44a,44bにリード線45
を半田付けし、圧電素子42a,42b,44a,44
bとプリント基板(図示略)の電極とを電気的に接続す
る。測定の際には、駆動用圧電素子42a,42bを伸
縮させることにより駆動板41および検知板43a,4
3bを図中x軸方向に振動させるとともに、角速度が加
わることによる図中y軸方向の検知板43a,43bの
振動を検知用圧電素子44a,44bにて電気信号とし
て取り出す。
ンサとして、図15に示す圧電振動型の角速度センサが
用いられている。この振動型角速度センサは音叉型振動
子40を図中、x軸方向に励振させつつ、角速度が加わ
ることによる励振方向と直交する方向(y軸方向)への
振動子40の振動を検出して角速度の大きさを検知する
ものである。より詳しく説明すると、センサの製造に際
しては、恒弾性金属(例えば、エリンバ)よりなるU字
状の駆動板41に駆動用圧電素子42a,42bを貼り
付ける。一方、恒弾性金属よりなる検知板43aに検知
用圧電素子44aを貼り付けるとともに、恒弾性金属よ
りなる検知板43bに検知用圧電素子44bを貼り付け
る。そして、駆動板41の端面と検知板43a,43b
の端面を互いに直角となるように接着する。その後、圧
電素子42a,42b,44a,44bにリード線45
を半田付けし、圧電素子42a,42b,44a,44
bとプリント基板(図示略)の電極とを電気的に接続す
る。測定の際には、駆動用圧電素子42a,42bを伸
縮させることにより駆動板41および検知板43a,4
3bを図中x軸方向に振動させるとともに、角速度が加
わることによる図中y軸方向の検知板43a,43bの
振動を検知用圧電素子44a,44bにて電気信号とし
て取り出す。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところが、駆動板41
および検知板43a,43bへの圧電素子42a,42
b,44a,44bの貼り付け精度および駆動板41と
検知板43a,43bとを直角に接着するための貼り付
け精度により特性のズレが大きくなってしまう。従っ
て、特性ズレを小さくしようとすると、圧電素子42
a,42b,44a,44bを駆動板41および検知板
43a,43bへ正確に貼り付けること、さらに、駆動
板41と検知板43a,43bとを正確に直角に接着さ
せることが必要であり、コスト的にも非常に不利とな
る。
および検知板43a,43bへの圧電素子42a,42
b,44a,44bの貼り付け精度および駆動板41と
検知板43a,43bとを直角に接着するための貼り付
け精度により特性のズレが大きくなってしまう。従っ
て、特性ズレを小さくしようとすると、圧電素子42
a,42b,44a,44bを駆動板41および検知板
43a,43bへ正確に貼り付けること、さらに、駆動
板41と検知板43a,43bとを正確に直角に接着さ
せることが必要であり、コスト的にも非常に不利とな
る。
【0004】そこで、この発明の目的は、特性の安定化
および低コスト化を図ることができるとともに、高感度
化を図ることができる角速度センサを提供することにあ
る。
および低コスト化を図ることができるとともに、高感度
化を図ることができる角速度センサを提供することにあ
る。
【0005】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、互いに平行に延びるアーム部を有する音叉型の振動
子を備え、前記アーム部を励振させつつ、角速度が加わ
ることによる前記励振方向と直交する方向への前記アー
ム部の振動を検知するようにした角速度センサであっ
て、前記振動子をシリコンにて形成するとともに、前記
アーム部の一部に厚肉部を挟んで薄肉部を形成し、さら
に、当該薄肉部に角速度検出用の歪み素子を配置した角
速度センサをその要旨とする。
は、互いに平行に延びるアーム部を有する音叉型の振動
子を備え、前記アーム部を励振させつつ、角速度が加わ
ることによる前記励振方向と直交する方向への前記アー
ム部の振動を検知するようにした角速度センサであっ
て、前記振動子をシリコンにて形成するとともに、前記
アーム部の一部に厚肉部を挟んで薄肉部を形成し、さら
に、当該薄肉部に角速度検出用の歪み素子を配置した角
速度センサをその要旨とする。
【0006】請求項2に記載の発明は、請求項1に記載
の発明における前記シリコンは単結晶シリコンであり、
前記歪み素子はピエゾ抵抗素子である角速度センサをそ
の要旨とする。
の発明における前記シリコンは単結晶シリコンであり、
前記歪み素子はピエゾ抵抗素子である角速度センサをそ
の要旨とする。
【0007】請求項3に記載の発明は、請求項1に記載
の発明においてシリコン基板の所定領域をエッチング除
去することにより前記振動子と、その振動子のアーム部
と所定間隔を隔てて対向配置された固定電極部とが形成
され、アーム部と固定電極部との間に静電力または圧電
力を加えることによりアーム部を励振するようにした角
速度センサをその要旨とする。
の発明においてシリコン基板の所定領域をエッチング除
去することにより前記振動子と、その振動子のアーム部
と所定間隔を隔てて対向配置された固定電極部とが形成
され、アーム部と固定電極部との間に静電力または圧電
力を加えることによりアーム部を励振するようにした角
速度センサをその要旨とする。
【0008】請求項4に記載の発明は、請求項3に記載
の発明における前記アーム部と前記固定電極部との電気
的分離はPN接合によるものである角速度センサをその
要旨とする。
の発明における前記アーム部と前記固定電極部との電気
的分離はPN接合によるものである角速度センサをその
要旨とする。
【0009】
【作用】請求項1に記載の発明によれば、シリコンにて
形成された音叉型振動子のアーム部が励振させられる。
そして、角速度が加わると励振方向と直交する方向にア
ーム部が振動する。この振動が、アーム部の一部の薄肉
部に配置された歪み素子にて検出される。このように、
本センサはシリコンマイクロマシーニング技術を用いて
形成できる。よって、角速度検出用の素子を貼り付けに
よらずに配置でき特性が安定化し、又、駆動板と検知板
とを直角に接着する必要がないのでコストダウンを図る
ことができる。
形成された音叉型振動子のアーム部が励振させられる。
そして、角速度が加わると励振方向と直交する方向にア
ーム部が振動する。この振動が、アーム部の一部の薄肉
部に配置された歪み素子にて検出される。このように、
本センサはシリコンマイクロマシーニング技術を用いて
形成できる。よって、角速度検出用の素子を貼り付けに
よらずに配置でき特性が安定化し、又、駆動板と検知板
とを直角に接着する必要がないのでコストダウンを図る
ことができる。
【0010】又、アーム部の一部の薄肉部に歪み素子を
配置しているので、その先端側の厚肉部がマス部(重り
部)として機能し、薄肉部での歪みが大きくなり、感度
よく角速度が検出される。
配置しているので、その先端側の厚肉部がマス部(重り
部)として機能し、薄肉部での歪みが大きくなり、感度
よく角速度が検出される。
【0011】請求項2に記載の発明によれば、請求項1
に記載の発明の作用に加え、単結晶シリコンに不純物拡
散することによりピエゾ抵抗素子が形成でき、通常の半
導体製造技術を用いて容易に歪み素子が形成される。
に記載の発明の作用に加え、単結晶シリコンに不純物拡
散することによりピエゾ抵抗素子が形成でき、通常の半
導体製造技術を用いて容易に歪み素子が形成される。
【0012】請求項3に記載の発明によれば、請求項1
に記載の発明の作用に加え、シリコン基板の所定領域を
エッチング除去することにより振動子と固定電極部とが
形成され、アーム部と固定電極部との間に静電力または
圧電力を加えることによりアーム部が励振する。このよ
うに、通常の半導体製造技術を用いて容易に振動子と固
定電極部を形成でき、かつ、励振が容易に行われる。
に記載の発明の作用に加え、シリコン基板の所定領域を
エッチング除去することにより振動子と固定電極部とが
形成され、アーム部と固定電極部との間に静電力または
圧電力を加えることによりアーム部が励振する。このよ
うに、通常の半導体製造技術を用いて容易に振動子と固
定電極部を形成でき、かつ、励振が容易に行われる。
【0013】請求項4に記載の発明によれば、請求項3
に記載の発明の作用に加え、振動子のアーム部と固定電
極部との電気的分離がPN接合にて行われ、通常の半導
体製造技術を用いて容易に行われる。
に記載の発明の作用に加え、振動子のアーム部と固定電
極部との電気的分離がPN接合にて行われ、通常の半導
体製造技術を用いて容易に行われる。
【0014】
(第1実施例)以下、この発明を具体化した第1実施例
を図面に従って説明する。
を図面に従って説明する。
【0015】図1には本実施例の角速度センサ(センサ
素子)の斜視図を示す。図2には角速度センサの正面図
を示す。以下の説明にあたり、3軸直交座標系として、
左右方向をx軸方向とし、前後方向をy軸方向とし、上
下方向をz軸方向とする。
素子)の斜視図を示す。図2には角速度センサの正面図
を示す。以下の説明にあたり、3軸直交座標系として、
左右方向をx軸方向とし、前後方向をy軸方向とし、上
下方向をz軸方向とする。
【0016】本角速度センサは所定の厚さt1を有する
単結晶シリコン基板1を用いて構成されている。このシ
リコン基板1は、P型単結晶シリコン基板1aと、その
上のエピタキシャル成長したN型シリコン層1bとから
なる。そして、単結晶シリコン基板1の所定領域をエッ
チング除去しダイシングカットすることにより、四角環
状の枠体2と音叉型の振動子3が区画形成されている。
枠体2は、下辺部2aと上辺部2bと側辺部2c,2d
とからなり、下辺部2aに音叉型の振動子3が支持され
た構造となっている。又、枠体2の下辺部2aと上辺部
2bはx軸方向に延び、側辺部2c,2dはz軸方向に
延びている。
単結晶シリコン基板1を用いて構成されている。このシ
リコン基板1は、P型単結晶シリコン基板1aと、その
上のエピタキシャル成長したN型シリコン層1bとから
なる。そして、単結晶シリコン基板1の所定領域をエッ
チング除去しダイシングカットすることにより、四角環
状の枠体2と音叉型の振動子3が区画形成されている。
枠体2は、下辺部2aと上辺部2bと側辺部2c,2d
とからなり、下辺部2aに音叉型の振動子3が支持され
た構造となっている。又、枠体2の下辺部2aと上辺部
2bはx軸方向に延び、側辺部2c,2dはz軸方向に
延びている。
【0017】本実施例では、枠体2の側辺部2c,2d
にて固定電極部が構成されている。振動子3は、互いに
平行に延びる一対のアーム部4,5と、同アーム部4,
5と枠体2とを連結する連結部6とからなる。アーム部
4,5はz軸方向に延び、このアーム部4,5に対し枠
体2の側辺部2c,2dが所定間隔を隔てて対向配置さ
れた構造となっている。
にて固定電極部が構成されている。振動子3は、互いに
平行に延びる一対のアーム部4,5と、同アーム部4,
5と枠体2とを連結する連結部6とからなる。アーム部
4,5はz軸方向に延び、このアーム部4,5に対し枠
体2の側辺部2c,2dが所定間隔を隔てて対向配置さ
れた構造となっている。
【0018】振動子3のアーム部4,5は角柱状をな
し、アーム部4の先端側の一部に厚肉部7,8を挟んで
薄肉部9が形成されている。ここで、薄肉部9よりも先
端側の厚肉部7がマス部(重り部)となる。同様に、ア
ーム部5の先端側の一部に厚肉部10,11を挟んで薄
肉部12が形成されている。ここで、薄肉部12よりも
先端側の厚肉部10がマス部(重り部)となる。
し、アーム部4の先端側の一部に厚肉部7,8を挟んで
薄肉部9が形成されている。ここで、薄肉部9よりも先
端側の厚肉部7がマス部(重り部)となる。同様に、ア
ーム部5の先端側の一部に厚肉部10,11を挟んで薄
肉部12が形成されている。ここで、薄肉部12よりも
先端側の厚肉部10がマス部(重り部)となる。
【0019】アーム部4の薄肉部9におけるN型シリコ
ン層1bには、歪み素子としてのピエゾ抵抗素子13
a,13bが形成されている。又、アーム部5の薄肉部
12におけるN型シリコン層1bには、歪み素子として
のピエゾ抵抗素子14a,14bが形成されている。ピ
エゾ抵抗素子13a,13b,14a,14bは帯状を
なし、N型シリコン層1bにP型不純物をドーピングす
ることにより形成したものである。ピエゾ抵抗素子13
a,14aはz軸方向に延び、ピエゾ抵抗素子13b,
14bはx軸方向に延びている。
ン層1bには、歪み素子としてのピエゾ抵抗素子13
a,13bが形成されている。又、アーム部5の薄肉部
12におけるN型シリコン層1bには、歪み素子として
のピエゾ抵抗素子14a,14bが形成されている。ピ
エゾ抵抗素子13a,13b,14a,14bは帯状を
なし、N型シリコン層1bにP型不純物をドーピングす
ることにより形成したものである。ピエゾ抵抗素子13
a,14aはz軸方向に延び、ピエゾ抵抗素子13b,
14bはx軸方向に延びている。
【0020】枠体2の側辺部2cの下端部におけるN型
シリコン層1bには、P型単結晶シリコン基板1aに至
るP型不純物拡散領域15が形成されている。又、枠体
2の側辺部2dの下端部におけるN型シリコン層1bに
は、P型単結晶シリコン基板1aに至るP型不純物拡散
領域16が形成されている。このP型不純物拡散領域1
5,16によるPN接合により、枠体2における下辺部
2aのN型シリコン層1bと、それ以外の領域(2b,
2c,2d)のN型シリコン層1bとが絶縁分離されて
いる。つまり、振動子3および枠体2の下辺部2aにお
けるN型シリコン層1bと、枠体2の上辺部2bおよび
側辺部2c,2dにおけるN型シリコン層1bとが、電
気的に分離されている。そして、枠体2の側辺部2c,
2dにおけるN型シリコン層1bが固定電極となるとと
もに、振動子3(より詳しくはアーム部4,5)におけ
るN型シリコン層1bが可動電極となる。
シリコン層1bには、P型単結晶シリコン基板1aに至
るP型不純物拡散領域15が形成されている。又、枠体
2の側辺部2dの下端部におけるN型シリコン層1bに
は、P型単結晶シリコン基板1aに至るP型不純物拡散
領域16が形成されている。このP型不純物拡散領域1
5,16によるPN接合により、枠体2における下辺部
2aのN型シリコン層1bと、それ以外の領域(2b,
2c,2d)のN型シリコン層1bとが絶縁分離されて
いる。つまり、振動子3および枠体2の下辺部2aにお
けるN型シリコン層1bと、枠体2の上辺部2bおよび
側辺部2c,2dにおけるN型シリコン層1bとが、電
気的に分離されている。そして、枠体2の側辺部2c,
2dにおけるN型シリコン層1bが固定電極となるとと
もに、振動子3(より詳しくはアーム部4,5)におけ
るN型シリコン層1bが可動電極となる。
【0021】又、枠体2の下辺部2aの表面には、四角
形状の電極(ボンディングパッド)17,18,19,
20,21が並設されている。電極21は枠体2の下辺
部2aにおけるN型シリコン層1bと電気的に接続され
ている。
形状の電極(ボンディングパッド)17,18,19,
20,21が並設されている。電極21は枠体2の下辺
部2aにおけるN型シリコン層1bと電気的に接続され
ている。
【0022】枠体2の側辺部2c,2dの表面には、四
角形状の電極(ボンディングパッド)22,23が形成
されている。電極22,23は枠体2の側辺部2c,2
dおよび上辺部2bにおけるN型シリコン層1bと電気
的に接続されている。
角形状の電極(ボンディングパッド)22,23が形成
されている。電極22,23は枠体2の側辺部2c,2
dおよび上辺部2bにおけるN型シリコン層1bと電気
的に接続されている。
【0023】図3には、ピエゾ抵抗素子13a,13
b,14a,14bの電気的な接続構成を示す。4つの
ピエゾ抵抗素子13a,13b,14a,14bがフル
ブリッジ接続されている。そして、ピエゾ抵抗素子14
bと13bとの間が前述のグランド用電極17と接続さ
れている。又、ピエゾ抵抗素子13aと14aとの間が
前述の電源用電極18と接続されている。ピエゾ抵抗素
子14aと14bとの間が前述の検知用電極19と接続
されている。ピエゾ抵抗素子13aと13bとの間が前
述の検知用電極20と接続されている。このように4つ
のピエゾ抵抗素子13a,13b,14a,14bでフ
ルブリッジ回路を形成して素子の出力を電圧変化として
検出する。
b,14a,14bの電気的な接続構成を示す。4つの
ピエゾ抵抗素子13a,13b,14a,14bがフル
ブリッジ接続されている。そして、ピエゾ抵抗素子14
bと13bとの間が前述のグランド用電極17と接続さ
れている。又、ピエゾ抵抗素子13aと14aとの間が
前述の電源用電極18と接続されている。ピエゾ抵抗素
子14aと14bとの間が前述の検知用電極19と接続
されている。ピエゾ抵抗素子13aと13bとの間が前
述の検知用電極20と接続されている。このように4つ
のピエゾ抵抗素子13a,13b,14a,14bでフ
ルブリッジ回路を形成して素子の出力を電圧変化として
検出する。
【0024】この結線、つまり、各ピエゾ抵抗素子13
a,13b,14a,14b間およびピエゾ抵抗素子1
3a,13b,14a,14bと電極17〜20との間
の電気的接続は、N型シリコン層1bに形成した不純物
拡散領域による配線とアルミ配線にて行っている。
a,13b,14a,14b間およびピエゾ抵抗素子1
3a,13b,14a,14bと電極17〜20との間
の電気的接続は、N型シリコン層1bに形成した不純物
拡散領域による配線とアルミ配線にて行っている。
【0025】さらに、電極17〜23は図示しないプリ
ント基板とボンディングワイヤにより接続されている。
プリント基板には制御回路等が設けられ、プリント基板
を介して、図3に示すように、グランド用電極17に接
地電位が印加されるとともに、電源用電極18に電源電
圧VCCが印加される。さらに、プリント基板の制御回路
には図3にて一点鎖線で示す差動増幅器24が設けら
れ、検知用電極19と検知用電極20とが差動増幅器2
4の入力端子に接続されている。この差動増幅器24に
てブリッジ回路での検知用電極19と検知用電極20と
の電位差が増幅されて出力されるようになっている。
ント基板とボンディングワイヤにより接続されている。
プリント基板には制御回路等が設けられ、プリント基板
を介して、図3に示すように、グランド用電極17に接
地電位が印加されるとともに、電源用電極18に電源電
圧VCCが印加される。さらに、プリント基板の制御回路
には図3にて一点鎖線で示す差動増幅器24が設けら
れ、検知用電極19と検知用電極20とが差動増幅器2
4の入力端子に接続されている。この差動増幅器24に
てブリッジ回路での検知用電極19と検知用電極20と
の電位差が増幅されて出力されるようになっている。
【0026】ここで、本実施例の角速度センサ(センサ
素子)の実装例を説明する。図4,5には、前述した単
結晶シリコン基板(センサ素子)1をセラミック基板5
0上に配置するとともにカンパッケージした状態を示
す。図4はカン51の内部を示す平面図であり、図5は
図4のC−C断面図である。セラミック基板50上には
シリコン基板(センサ素子)1、信号処理回路52、駆
動回路(図示せず)、厚膜抵抗体53等が搭載され、ハ
イブリッドIC構成をなしている。このハイブリッドI
Cがステム54上に固定され、さらに、カン51により
気密封止パッケーシングされている。又、ステム54に
はリードピン55a,55b,55cが貫通した状態で
配置され、かつ、ハーメチックシールされている。又、
シリコン基板(センサ素子)1は、図5に示すように、
セラミック基板50の上にスペーサ56を介して固定さ
れ、同スペーサ56によりシリコン基板(センサ素子)
1のアーム部4,5が振動可能となっている。シリコン
基板(センサ素子)1からの出力信号はボンディングワ
イヤ57にて信号処理回路52に出力され、同回路52
にて処理される。そして、その信号は、ボンディングワ
イヤ58にてセラミック基板50のパッド59へ出力さ
れ、パッド59から内部導体等を介して別のパッド60
aへ伝達され、さらにボンディングワイヤ61aを介し
てリードピン55aから外部に出力される。尚、リード
ピン55b,ボンディングワイヤ61b,パッド60b
にて電源電圧VCCが、又、リードピン55c,ボンディ
ングワイヤ61c,パッド60cにて接地電位が供給さ
れる。
素子)の実装例を説明する。図4,5には、前述した単
結晶シリコン基板(センサ素子)1をセラミック基板5
0上に配置するとともにカンパッケージした状態を示
す。図4はカン51の内部を示す平面図であり、図5は
図4のC−C断面図である。セラミック基板50上には
シリコン基板(センサ素子)1、信号処理回路52、駆
動回路(図示せず)、厚膜抵抗体53等が搭載され、ハ
イブリッドIC構成をなしている。このハイブリッドI
Cがステム54上に固定され、さらに、カン51により
気密封止パッケーシングされている。又、ステム54に
はリードピン55a,55b,55cが貫通した状態で
配置され、かつ、ハーメチックシールされている。又、
シリコン基板(センサ素子)1は、図5に示すように、
セラミック基板50の上にスペーサ56を介して固定さ
れ、同スペーサ56によりシリコン基板(センサ素子)
1のアーム部4,5が振動可能となっている。シリコン
基板(センサ素子)1からの出力信号はボンディングワ
イヤ57にて信号処理回路52に出力され、同回路52
にて処理される。そして、その信号は、ボンディングワ
イヤ58にてセラミック基板50のパッド59へ出力さ
れ、パッド59から内部導体等を介して別のパッド60
aへ伝達され、さらにボンディングワイヤ61aを介し
てリードピン55aから外部に出力される。尚、リード
ピン55b,ボンディングワイヤ61b,パッド60b
にて電源電圧VCCが、又、リードピン55c,ボンディ
ングワイヤ61c,パッド60cにて接地電位が供給さ
れる。
【0027】次に、図1,2に示した角速度センサの製
造方法を説明する。図6に示すように、P型単結晶シリ
コン基板1aの上にN型シリコン層1bをエピタキシャ
ル成長させる。そして、この単結晶シリコン基板1(エ
ピタキシャル基板)の所定箇所にP+ 拡散を行い図1,
2に示したP型不純物拡散領域15,16を形成しアイ
ソレーションを行う。又、図7に示すように、N型シリ
コン層1bの表面に、P型不純物を注入してP+ 型不純
物拡散層25よりなるピエゾ抵抗素子13a,13b,
14a,14bを形成する。その後、単結晶シリコン基
板1の表面側をシリコン窒化膜26で被覆するとともに
裏面側をシリコン窒化膜27で被覆する。
造方法を説明する。図6に示すように、P型単結晶シリ
コン基板1aの上にN型シリコン層1bをエピタキシャ
ル成長させる。そして、この単結晶シリコン基板1(エ
ピタキシャル基板)の所定箇所にP+ 拡散を行い図1,
2に示したP型不純物拡散領域15,16を形成しアイ
ソレーションを行う。又、図7に示すように、N型シリ
コン層1bの表面に、P型不純物を注入してP+ 型不純
物拡散層25よりなるピエゾ抵抗素子13a,13b,
14a,14bを形成する。その後、単結晶シリコン基
板1の表面側をシリコン窒化膜26で被覆するとともに
裏面側をシリコン窒化膜27で被覆する。
【0028】引き続き、図8に示すように、薄肉部形成
領域となる所定領域のシリコン窒化膜27をエッチング
除去する。又、図示されないが、枠体2となる領域と振
動子3となる領域との間の空隙となる領域もエッチング
除去されるため、その部分のシリコン窒化膜もエッチン
グ除去される。そして、単結晶シリコン基板1の裏面側
からシリコン窒化膜27をマスクとしてP型単結晶シリ
コン基板1aを所定の深さまでエッチングする。引き続
き、図9に示すように、裏面側のシリコン窒化膜27を
除去し、単結晶シリコン基板1の裏面側からP型単結晶
シリコン基板1aを所定量エッチングする。その結果、
所定の厚さt1の単結晶シリコン基板1が形成されると
ともに、薄肉部が形成される。この薄肉部形成のエッチ
ングには、エッチング液を用いて単に時間管理のエッチ
ングやシリコン基板1aとシリコン層1bにより形成さ
れるPN接合を用いた、いわゆる電気化学ストップエッ
チング等により、行うことができる。
領域となる所定領域のシリコン窒化膜27をエッチング
除去する。又、図示されないが、枠体2となる領域と振
動子3となる領域との間の空隙となる領域もエッチング
除去されるため、その部分のシリコン窒化膜もエッチン
グ除去される。そして、単結晶シリコン基板1の裏面側
からシリコン窒化膜27をマスクとしてP型単結晶シリ
コン基板1aを所定の深さまでエッチングする。引き続
き、図9に示すように、裏面側のシリコン窒化膜27を
除去し、単結晶シリコン基板1の裏面側からP型単結晶
シリコン基板1aを所定量エッチングする。その結果、
所定の厚さt1の単結晶シリコン基板1が形成されると
ともに、薄肉部が形成される。この薄肉部形成のエッチ
ングには、エッチング液を用いて単に時間管理のエッチ
ングやシリコン基板1aとシリコン層1bにより形成さ
れるPN接合を用いた、いわゆる電気化学ストップエッ
チング等により、行うことができる。
【0029】その後、単結晶シリコン基板1における枠
体形成領域と振動子形成領域のシリコン窒化膜26のみ
残して他の領域のシリコン窒化膜26を除去する。この
シリコン窒化膜26をマスクとして単結晶シリコン基板
1の表面側より単結晶シリコン基板1を例えばドライエ
ッチングによりエッチングして不要領域の単結晶シリコ
ン基板1を取り除き、枠体2と音叉型の振動子3を形成
する。さらに、シリコン基板1の全体を酸化させ、所定
領域の酸化膜および窒化膜を取り除き、コンタクトホー
ルを作製する。
体形成領域と振動子形成領域のシリコン窒化膜26のみ
残して他の領域のシリコン窒化膜26を除去する。この
シリコン窒化膜26をマスクとして単結晶シリコン基板
1の表面側より単結晶シリコン基板1を例えばドライエ
ッチングによりエッチングして不要領域の単結晶シリコ
ン基板1を取り除き、枠体2と音叉型の振動子3を形成
する。さらに、シリコン基板1の全体を酸化させ、所定
領域の酸化膜および窒化膜を取り除き、コンタクトホー
ルを作製する。
【0030】さらに、蒸着にてアルミよりなる電極17
〜23を形成し、必要な熱処理を行う。その後、保護膜
形成、ボンディングパッド形成等を経て、最終的にダイ
シングカットされることにより、1チップに形成された
角速度センサができる。
〜23を形成し、必要な熱処理を行う。その後、保護膜
形成、ボンディングパッド形成等を経て、最終的にダイ
シングカットされることにより、1チップに形成された
角速度センサができる。
【0031】このようにシリコンマイクロマシーニング
技術を用いて製造することにより、図15に示す従来構
造では必要としていた加工や組付けが必要なくなる。次
に、このように構成した角速度センサの作用について説
明する。
技術を用いて製造することにより、図15に示す従来構
造では必要としていた加工や組付けが必要なくなる。次
に、このように構成した角速度センサの作用について説
明する。
【0032】枠体2の下辺部2aに設けた電極21が接
地電位にされ、振動子3が接地電位になる。又、枠体2
の側辺部2c,2dに設けた電極22,23には図10
に示すパルス電圧(励振電圧)が印加される。つまり、
オン期間T1においては所定電圧VDDが印加され、オフ
期間T2においては接地電位にされる。そして、電極2
2,23に所定電圧VDDが印加されると、振動子3のア
ーム部4と枠体2の側辺部2cとの間、および、アーム
部5と枠体2の側辺部2dとの間に静電力が作用し、図
2において矢印Aにて示すように、アーム部4が枠体2
の側辺部2cに吸引されるとともにアーム部5が枠体2
の側辺部2dに吸引される。その結果、アーム部4,5
の先端側が互いに離間する方向に移動する。一方、電極
22,23が接地電位となると、アーム部4,5の剛性
(復元力)により、図2において矢印Bにて示すよう
に、アーム部4,5の先端側が互いに接近する方向に移
動する。この動作の繰り返しによりアーム部4,5が互
いに逆向きに共振周波数ωでx軸方向に振動する。
地電位にされ、振動子3が接地電位になる。又、枠体2
の側辺部2c,2dに設けた電極22,23には図10
に示すパルス電圧(励振電圧)が印加される。つまり、
オン期間T1においては所定電圧VDDが印加され、オフ
期間T2においては接地電位にされる。そして、電極2
2,23に所定電圧VDDが印加されると、振動子3のア
ーム部4と枠体2の側辺部2cとの間、および、アーム
部5と枠体2の側辺部2dとの間に静電力が作用し、図
2において矢印Aにて示すように、アーム部4が枠体2
の側辺部2cに吸引されるとともにアーム部5が枠体2
の側辺部2dに吸引される。その結果、アーム部4,5
の先端側が互いに離間する方向に移動する。一方、電極
22,23が接地電位となると、アーム部4,5の剛性
(復元力)により、図2において矢印Bにて示すよう
に、アーム部4,5の先端側が互いに接近する方向に移
動する。この動作の繰り返しによりアーム部4,5が互
いに逆向きに共振周波数ωでx軸方向に振動する。
【0033】このようなアーム部4,5の励振動作中に
おいて、z軸方向に角速度が入力されると、アーム部
4,5にコリオリ力が作用し、アーム部4,5がy軸方
向に互いに逆向きに振動数ωで振動する。この際のコリ
オリ力に比例してピエゾ抵抗素子13a,13b,14
a,14bの抵抗値が変化する。又、図11に示すよう
に、アーム部4,5においては、二点鎖線で示すよう
に、アーム部4,5の基端側(固定端側)は振れ角θと
なるが、薄肉部9よりも先端側の厚肉部7はそれ以上の
振れ角となる。よって、薄肉部9には大きな歪み応力が
発生し、ピエゾ抵抗素子13a,13bの抵抗値が大き
く変化する。この抵抗値変化が、図3のブリッジ回路に
より電圧変化として検出され、さらに、差動増幅器24
にてブリッジ回路での検知用電極19,20間の電位差
が増幅されて取り出される。この差動増幅器24の出力
は角速度の大きさに比例したものである。尚、図11に
おいては一方のアーム部4について示したが、他方のア
ーム部5についても同様に動作する。
おいて、z軸方向に角速度が入力されると、アーム部
4,5にコリオリ力が作用し、アーム部4,5がy軸方
向に互いに逆向きに振動数ωで振動する。この際のコリ
オリ力に比例してピエゾ抵抗素子13a,13b,14
a,14bの抵抗値が変化する。又、図11に示すよう
に、アーム部4,5においては、二点鎖線で示すよう
に、アーム部4,5の基端側(固定端側)は振れ角θと
なるが、薄肉部9よりも先端側の厚肉部7はそれ以上の
振れ角となる。よって、薄肉部9には大きな歪み応力が
発生し、ピエゾ抵抗素子13a,13bの抵抗値が大き
く変化する。この抵抗値変化が、図3のブリッジ回路に
より電圧変化として検出され、さらに、差動増幅器24
にてブリッジ回路での検知用電極19,20間の電位差
が増幅されて取り出される。この差動増幅器24の出力
は角速度の大きさに比例したものである。尚、図11に
おいては一方のアーム部4について示したが、他方のア
ーム部5についても同様に動作する。
【0034】このように本実施例では、振動子3をシリ
コンにて形成するとともに、アーム部4,5の一部に厚
肉部7,8,10,11を挟んで薄肉部9,12を形成
し、さらに、薄肉部9,12に角速度検出用のピエゾ抵
抗素子13a,13b,14a,14b(歪み素子)を
配置したので、シリコンマイクロマシーニング技術を用
いて形成でき、特性の安定化、低コスト化、高感度化を
図ることができる。
コンにて形成するとともに、アーム部4,5の一部に厚
肉部7,8,10,11を挟んで薄肉部9,12を形成
し、さらに、薄肉部9,12に角速度検出用のピエゾ抵
抗素子13a,13b,14a,14b(歪み素子)を
配置したので、シリコンマイクロマシーニング技術を用
いて形成でき、特性の安定化、低コスト化、高感度化を
図ることができる。
【0035】つまり、図15に示した従来構造では圧電
素子を貼り付けにより配置していたので、位置ズレ等に
より特性ズレが大きくなってしまっていたが、本構成で
はピエゾ抵抗素子をイオン注入等により形成しているの
で貼り付けによらずに所望の位置に配置でき、特性が安
定化する。又、駆動板41と検知板43a,43bとを
直角に接着する必要がないので小型化やコストダウンを
図ることができる。さらに、アーム部4,5の一部の薄
肉部9,12にピエゾ抵抗素子13a,13b,14
a,14bを配置し、その先端側の厚肉部7,10がマ
ス部(重り部)として機能し、薄肉部9,12での歪み
が大きくなり、感度よく角速度を検出することができ
る。
素子を貼り付けにより配置していたので、位置ズレ等に
より特性ズレが大きくなってしまっていたが、本構成で
はピエゾ抵抗素子をイオン注入等により形成しているの
で貼り付けによらずに所望の位置に配置でき、特性が安
定化する。又、駆動板41と検知板43a,43bとを
直角に接着する必要がないので小型化やコストダウンを
図ることができる。さらに、アーム部4,5の一部の薄
肉部9,12にピエゾ抵抗素子13a,13b,14
a,14bを配置し、その先端側の厚肉部7,10がマ
ス部(重り部)として機能し、薄肉部9,12での歪み
が大きくなり、感度よく角速度を検出することができ
る。
【0036】又、図15に示す従来構成においては振動
する箇所(振動子)からリード線45を延ばしていたの
で振動によりリード線45の半田付け箇所が弱くなるお
それがあるが、本構成ではピエゾ抵抗素子を不純物拡散
領域による配線にて振動しない枠体2において電極17
〜23と電気的に接続し、この電極17〜23からリー
ド線(ボンディングワイヤ)を延ばしているので、リー
ド線の固定箇所が振動により弱くなるということが回避
される。その結果、信頼性の高いセンサとなる。
する箇所(振動子)からリード線45を延ばしていたの
で振動によりリード線45の半田付け箇所が弱くなるお
それがあるが、本構成ではピエゾ抵抗素子を不純物拡散
領域による配線にて振動しない枠体2において電極17
〜23と電気的に接続し、この電極17〜23からリー
ド線(ボンディングワイヤ)を延ばしているので、リー
ド線の固定箇所が振動により弱くなるということが回避
される。その結果、信頼性の高いセンサとなる。
【0037】又、歪み素子としてピエゾ抵抗素子13
a,13b,14a,14bを用いたので、単結晶シリ
コンに不純物拡散することによりピエゾ抵抗素子が形成
でき、通常の半導体製造技術を用いて容易に歪み素子を
形成できる。
a,13b,14a,14bを用いたので、単結晶シリ
コンに不純物拡散することによりピエゾ抵抗素子が形成
でき、通常の半導体製造技術を用いて容易に歪み素子を
形成できる。
【0038】さらに、シリコン基板1の一部をエッチン
グ除去することにより振動子3と、その振動子3のアー
ム部4,5と所定間隔を隔てて対向配置された枠体2の
側辺部2c,2d(固定電極部)とを形成し、アーム部
4,5と枠体2の側辺部2c,2dとの間に静電力を加
えることによりアーム部4,5を励振するようにしたの
で、通常の半導体製造技術を用いて容易に振動子3と枠
体2の側辺部2c,2dとを形成でき、かつ、励振を容
易に行わせることができる。
グ除去することにより振動子3と、その振動子3のアー
ム部4,5と所定間隔を隔てて対向配置された枠体2の
側辺部2c,2d(固定電極部)とを形成し、アーム部
4,5と枠体2の側辺部2c,2dとの間に静電力を加
えることによりアーム部4,5を励振するようにしたの
で、通常の半導体製造技術を用いて容易に振動子3と枠
体2の側辺部2c,2dとを形成でき、かつ、励振を容
易に行わせることができる。
【0039】又、振動子3のアーム部4,5と枠体2の
側辺部2c,2dとの電気的分離はPN接合によるもの
であるので、通常の半導体製造技術を用いて容易に行う
ことができる。 (第2実施例)次に、第2実施例を第1実施例との相違
点を中心に説明する。
側辺部2c,2dとの電気的分離はPN接合によるもの
であるので、通常の半導体製造技術を用いて容易に行う
ことができる。 (第2実施例)次に、第2実施例を第1実施例との相違
点を中心に説明する。
【0040】図12に示すように、本実施例では、ピエ
ゾ抵抗素子の代わりに、圧電素子28,29を用いてい
る。アーム部4,5の薄肉部9,12に圧電素子28,
29が配置されている。この圧電素子28,29は、図
13に示すように、N型シリコン層1bの上に薄膜より
なる圧電材料(PZTやZnO等)30が配置されてい
る。この圧電材料30は、シリコン基板上にスパッタ等
で形成し、エッチングして所定の形状にパターニングし
たものである。薄膜の圧電材料30の上にはアルミ薄膜
等の薄膜よりなる上部電極31が配置されるとともに、
圧電材料30の下には不純物拡散層よりなる下部電極3
2が配置されている。
ゾ抵抗素子の代わりに、圧電素子28,29を用いてい
る。アーム部4,5の薄肉部9,12に圧電素子28,
29が配置されている。この圧電素子28,29は、図
13に示すように、N型シリコン層1bの上に薄膜より
なる圧電材料(PZTやZnO等)30が配置されてい
る。この圧電材料30は、シリコン基板上にスパッタ等
で形成し、エッチングして所定の形状にパターニングし
たものである。薄膜の圧電材料30の上にはアルミ薄膜
等の薄膜よりなる上部電極31が配置されるとともに、
圧電材料30の下には不純物拡散層よりなる下部電極3
2が配置されている。
【0041】図12に示すように、枠体2の下辺部2a
には電極(ボンディングパッド)33,34,35が配
置されている。図14には、圧電素子28,29の接続
を示す。2つの圧電素子28,29が直列に接続され、
その圧電素子28,29の間がグランド電極33と接続
されている。又、2つの圧電素子28,29の直列回路
の一端側が検知用電極34と接続され、他端側が検知用
電極35と接続されている。
には電極(ボンディングパッド)33,34,35が配
置されている。図14には、圧電素子28,29の接続
を示す。2つの圧電素子28,29が直列に接続され、
その圧電素子28,29の間がグランド電極33と接続
されている。又、2つの圧電素子28,29の直列回路
の一端側が検知用電極34と接続され、他端側が検知用
電極35と接続されている。
【0042】この電極34,35間の電位が差動増幅器
24にて増幅され、電気信号として取り出される。そし
て、振動子3を励振した時、薄肉部9,12ではより応
力を大きく受けるため、薄肉部9,12上の圧電薄膜素
子28,29がより大きな電荷を発生する。この電荷量
を測定することにより、角速度を検出することができ
る。
24にて増幅され、電気信号として取り出される。そし
て、振動子3を励振した時、薄肉部9,12ではより応
力を大きく受けるため、薄肉部9,12上の圧電薄膜素
子28,29がより大きな電荷を発生する。この電荷量
を測定することにより、角速度を検出することができ
る。
【0043】尚、この発明の他の態様として、前記各実
施例では振動子3の励振は静電力を用いたが、圧電力を
用いてもよい。又、振動子33と、この振動子33と対
向する固定電極としての枠体2の側辺部2c,2dとの
電気的分離方法として、PN接合以外にもN型シリコン
層1bにトレンチを設け、このトレンチにより絶縁分離
してもよい。尚、トレンチ内にはシリコン酸化物やポリ
シリコン等を充填してもよい。
施例では振動子3の励振は静電力を用いたが、圧電力を
用いてもよい。又、振動子33と、この振動子33と対
向する固定電極としての枠体2の側辺部2c,2dとの
電気的分離方法として、PN接合以外にもN型シリコン
層1bにトレンチを設け、このトレンチにより絶縁分離
してもよい。尚、トレンチ内にはシリコン酸化物やポリ
シリコン等を充填してもよい。
【0044】さらに、枠体2において上辺部2bの無い
構造としてもよい。上記実施例において上辺部2bは四
角環状の枠形状を維持して側辺部2c,2dの離間間隔
を一定に保つ働きをしている。
構造としてもよい。上記実施例において上辺部2bは四
角環状の枠形状を維持して側辺部2c,2dの離間間隔
を一定に保つ働きをしている。
【0045】
【発明の効果】以上詳述したように請求項1に記載の発
明によれば、特性の安定化および低コスト化を図ること
ができるとともに、高感度化を図ることができる優れた
効果を発揮する。
明によれば、特性の安定化および低コスト化を図ること
ができるとともに、高感度化を図ることができる優れた
効果を発揮する。
【0046】請求項2に記載の発明によれば、請求項1
に記載の発明の効果に加え、通常の半導体製造技術を用
いて容易に歪み素子を形成できる。請求項3に記載の発
明によれば、請求項1に記載の発明の効果に加え、通常
の半導体製造技術を用いて容易に振動子と固定電極部を
形成でき、かつ、励振を容易に行わせることができる。
に記載の発明の効果に加え、通常の半導体製造技術を用
いて容易に歪み素子を形成できる。請求項3に記載の発
明によれば、請求項1に記載の発明の効果に加え、通常
の半導体製造技術を用いて容易に振動子と固定電極部を
形成でき、かつ、励振を容易に行わせることができる。
【0047】請求項4に記載の発明によれば、請求項3
に記載の発明の効果に加え、振動子のアーム部と固定電
極部とを通常の半導体製造技術を用いて容易に電気的に
分離できる。
に記載の発明の効果に加え、振動子のアーム部と固定電
極部とを通常の半導体製造技術を用いて容易に電気的に
分離できる。
【図1】第1実施例の角速度センサの斜視図。
【図2】第1実施例の角速度センサの正面図。
【図3】第1実施例の角速度センサの電気的構成を示す
電気回路図。
電気回路図。
【図4】角速度センサの実装例を示す平面図。
【図5】図4のC−C断面図。
【図6】第1実施例の角速度センサの製造工程を説明す
るための断面図。
るための断面図。
【図7】第1実施例の角速度センサの製造工程を説明す
るための断面図。
るための断面図。
【図8】第1実施例の角速度センサの製造工程を説明す
るための断面図。
るための断面図。
【図9】第1実施例の角速度センサの製造工程を説明す
るための断面図。
るための断面図。
【図10】第1実施例の角速度センサの駆動電圧の波形
図。
図。
【図11】第1実施例の角速度センサの動作説明図。
【図12】第2実施例の角速度センサの斜視図。
【図13】第2実施例の角速度センサの一部拡大断面
図。
図。
【図14】第2実施例の角速度センサの電気的構成を示
す電気回路図。
す電気回路図。
【図15】従来の角速度センサの斜視図。
1…単結晶シリコン基板、2c…固定電極部を構成する
枠体の側辺部、2d…固定電極部を構成する枠体の側辺
部、3…振動子、4…アーム部、5…アーム部、7…厚
肉部、8…厚肉部、9…薄肉部、10…厚肉部、11…
厚肉部、12…薄肉部、13a…歪み素子としてのピエ
ゾ抵抗素子、13b…歪み素子としてのピエゾ抵抗素
子、14a…歪み素子としてのピエゾ抵抗素子、14b
…歪み素子としてのピエゾ抵抗素子、28…歪み素子と
しての圧電素子、29d…歪み素子としての圧電素子
枠体の側辺部、2d…固定電極部を構成する枠体の側辺
部、3…振動子、4…アーム部、5…アーム部、7…厚
肉部、8…厚肉部、9…薄肉部、10…厚肉部、11…
厚肉部、12…薄肉部、13a…歪み素子としてのピエ
ゾ抵抗素子、13b…歪み素子としてのピエゾ抵抗素
子、14a…歪み素子としてのピエゾ抵抗素子、14b
…歪み素子としてのピエゾ抵抗素子、28…歪み素子と
しての圧電素子、29d…歪み素子としての圧電素子
Claims (4)
- 【請求項1】 互いに平行に延びるアーム部を有する音
叉型の振動子を備え、前記アーム部を励振させつつ、角
速度が加わることによる前記励振方向と直交する方向へ
の前記アーム部の振動を検知するようにした角速度セン
サであって、 前記振動子をシリコンにて形成するとともに、前記アー
ム部の一部に厚肉部を挟んで薄肉部を形成し、さらに、
当該薄肉部に角速度検出用の歪み素子を配置したことを
特徴とする角速度センサ。 - 【請求項2】 前記シリコンは単結晶シリコンであり、
前記歪み素子はピエゾ抵抗素子である請求項1に記載の
角速度センサ。 - 【請求項3】 シリコン基板の所定領域をエッチング除
去することにより前記振動子と、その振動子のアーム部
と所定間隔を隔てて対向配置された固定電極部とが形成
され、アーム部と固定電極部との間に静電力または圧電
力を加えることによりアーム部を励振するようにした請
求項1に記載の角速度センサ。 - 【請求項4】 前記アーム部と前記固定電極部との電気
的分離はPN接合によるものである請求項3に記載の角
速度センサ。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7048848A JPH08247768A (ja) | 1995-03-08 | 1995-03-08 | 角速度センサ |
| US08/612,394 US5747691A (en) | 1995-03-08 | 1996-03-07 | Angular velocity sensor apparatus |
| DE19609114A DE19609114B4 (de) | 1995-03-08 | 1996-03-08 | Winkelgeschwindigkeitssensor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7048848A JPH08247768A (ja) | 1995-03-08 | 1995-03-08 | 角速度センサ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08247768A true JPH08247768A (ja) | 1996-09-27 |
Family
ID=12814690
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7048848A Pending JPH08247768A (ja) | 1995-03-08 | 1995-03-08 | 角速度センサ |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5747691A (ja) |
| JP (1) | JPH08247768A (ja) |
| DE (1) | DE19609114B4 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1164004A (ja) * | 1997-06-13 | 1999-03-05 | Denso Corp | 角速度センサと角速度センサ装置 |
| JP2009154263A (ja) * | 2007-12-27 | 2009-07-16 | Stanley Electric Co Ltd | Memsモジュール |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0939296A3 (en) | 1996-03-29 | 2001-01-17 | Ngk Insulators, Ltd. | Vibration gyro sensor, combined sensor, and method for producing vibration gyro sensor |
| JP3335122B2 (ja) * | 1998-05-06 | 2002-10-15 | 松下電器産業株式会社 | 角速度センサ |
| US6293585B1 (en) | 1999-07-12 | 2001-09-25 | Gagetek Technologies Holdings Company | Torsional sensing load cell |
| JP2002181550A (ja) * | 2000-10-02 | 2002-06-26 | Ngk Insulators Ltd | 角速度測定装置 |
| US6499360B1 (en) * | 2001-05-22 | 2002-12-31 | Gagetek Technologies Holdings Company | Torsional sensing load cell with overload protection |
| US7107842B2 (en) * | 2003-05-10 | 2006-09-19 | The Regents Of The University Of California | Angular rate sensor using micro electromechanical haltere |
| JP5454134B2 (ja) * | 2008-12-27 | 2014-03-26 | セイコーエプソン株式会社 | 振動片、振動子、センサー及び電子部品 |
| JP2016085185A (ja) * | 2014-10-28 | 2016-05-19 | セイコーエプソン株式会社 | センサー素子、物理量センサー、電子機器および移動体 |
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| US4598585A (en) * | 1984-03-19 | 1986-07-08 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Planar inertial sensor |
| US4694696A (en) * | 1984-10-25 | 1987-09-22 | Kabushikikaisha Tokyo Keiki | Vibration-type gyro apparatus |
| JPS61114123A (ja) * | 1984-11-09 | 1986-05-31 | Hitachi Ltd | 振動ジヤイロ |
| FR2574209B1 (fr) * | 1984-12-04 | 1987-01-30 | Onera (Off Nat Aerospatiale) | Resonateur a lame vibrante |
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| JPH05333038A (ja) * | 1992-06-03 | 1993-12-17 | Canon Inc | 角速度センサ |
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| DE4334736A1 (de) * | 1992-10-12 | 1994-04-14 | Nippon Soken | Winkelgeschwindigkeitssensor und Verfahren zum Justieren desselben |
| US5504356A (en) * | 1992-11-16 | 1996-04-02 | Nippondenso Co., Ltd. | Semiconductor accelerometer |
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| JP3385688B2 (ja) * | 1993-12-13 | 2003-03-10 | 株式会社デンソー | 半導体ヨーレートセンサおよびその製造方法 |
-
1995
- 1995-03-08 JP JP7048848A patent/JPH08247768A/ja active Pending
-
1996
- 1996-03-07 US US08/612,394 patent/US5747691A/en not_active Expired - Fee Related
- 1996-03-08 DE DE19609114A patent/DE19609114B4/de not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE19609114B4 (de) | 2005-03-24 |
| US5747691A (en) | 1998-05-05 |
| DE19609114A1 (de) | 1996-09-12 |
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