JPH0824899B2 - 穀物色彩選別機の感度調整装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） この発明は、穀粒等の粒状物中から異常な色を帯びた
異色粒子（不良品）を選別除去する穀物色彩選別機に係
り、特に穀物色彩選別機の感度調整装置に関する。

（従来の技術） 従来、この種の色彩選別機は、例えば特開昭47−2616
6号に開示されるように（第７図参照）、長い先細のス
ライド（原料供給樋）101を多数傾斜して設けるととも
に、スライド101の上部には振動装置に連結したシュー
ト102を、同じく下端部には光電子検出装置103、光源10
4、背景105等からなる光学系の検出手段、並びにこの検
出手段と連動する圧縮空気弁106及びノズル107を配設
し、スライド101の樋底を高速で１粒ずつ滑り落ちる穀
粒（米粒）中の異色粒子（茶米、乳白粒等）及び異物を
前記検出手段でキャッチするとともに、圧縮空気弁106
を作動させて当該異色粒子を拒否ホッパー（不良品用）
108内に吹き飛ばして除去するものであり、検出手段か
ら信号パルスが出ないときには、粒子は良品として製品
管109を通過して機外へ取出される。

ところで、精米工場等における穀物色彩選別機にあっ
ては、原料供給樋に原料を１粒ずつ流すことは非能率的
であるので束状に流化させるのが通常である（例えば、
供給樋当たり100〜200kg/Hr）が、この場合検出手段か
らの異色粒検出信号によってノズルから圧縮空気が噴出
すると、不良品に混じって良品が吹き飛ばされるのが避
けられない（良品の混入量は、原料供給樋を流下する流
量に伴って多くなる）。

そこで、拒否ホッパー108から取り出される不良品群
（良品混じり）を再選別用チャンネルにおいて再選別
し、この再選別用チャンネルで得られた良品を原料側へ
還流させることによって、良品と不良品とをできるだけ
完全に選別しようとしている（特公昭60−2114参照）。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかしながら、一方では検出手段、特に光電子検出装
置103の感度（レベル）を調整し、適正な感度を設定す
ることによって異色粒等の不良品を適確に除去しなけれ
ばならない。つまり、感度が低過ぎると良品中に不良品
が混入し、逆に感度の設定が高過ぎると、圧縮空気弁10
6が頻繁に作動して良品までも吹き飛ばす傾向があるの
で、操作者が選別及びオシロスコープを目視ながら感度
の調整をしなければならず、煩わしくかつ選別物精度が
不安定になる、とい問題点があった。

〔問題点を解決すめための手段〕

本発明はこの問題点を解決するため、原料穀粒を高速
で滑流させる流下樋の下端付近に設けた光源、バックグ
ランド及び受光センサーからなる光学検出部、光学検出
部を通過した異色粒子と良品とを分離するエジェクター
装置、並びに増幅器、比較器等からなり前記受光センサ
ーとエジェクター装置との間に設けたエジェクター作動
回路、を備えた穀物色彩選別機において、 イ．原料中の異色粒、エジェクター装置によって分離さ
れた異色粒群及び良品群中の各異色粒を検出するための
試料測定部とこの試料測定部に電気的に接続した信号処
理プロセッサーとを設ける。

ロ．原料中の異色粒混入率によって求めた前記流下樋の
適正流量流下時における良品群及び異色粒群中の異色粒
混入率をあらかじめ設定した基準範囲内とするよう、前
記エジェクター作動回路の比較器の感度調整ボリューム
と信号処理装置とを電気的に連結する、 という技術的手段を講じた。

〔作 用〕

原料、良品群及び異色粒群の試料がサンプリングさ
れ、試料測定部において原料、良品群及び異色粒群中の
各異色粒子が測定されるとともに信号処理プロセッサー
によって各混入率が演算される。原料中の異色粒混入率
からは各流下樋における適正流量が求められ、この適正
流量流下時における良品群及び異色粒群中の各異色粒混
入率を、あらかじめ設定された当該流量時の基準範囲内
となるよう、信号処理プロセッサーによってエジェクタ
ー作動回路の比較器の感度調整ボリュームを変動させ
る。

〔発明の実施例〕

以下に、本発明の好適な一実施例について図面を参照
しながら説明する。第１図は本発明実施例の一部省略正
面図、第２図は同右側断面図、第３図は第１図の要部左
側断面図、第４図は制御ブロック図、第５図はエジェク
ター装置の概略作動回路図である。

カバー１内の上部には原料タンク２が設けられ、原料
タンク２の下端に近接して振動フィーダー３が設けられ
る。振動フィーダー３には振動発生装置４が連結される
とともに、振動フィーダー３の先端部は波状に形成さ
れ、これにより、振動フィーダー３に連絡する多数の流
下樋５にそれぞれ束状の米粒（本実施例においては穀物
を米粒として説明する）を供給する。

流下樋５…は、その上端部を振動フィーダー３に接続
するとともに適宜に傾斜して装架される。各流下樋５の
下端部には一対の光学検出部６が互いに対峙して設けら
れ、流下樋５とほぼ同傾斜線上の下方にはエジェクター
（ejector）装置７がそれぞれ配設される。各エジェク
ター装置７は、図外のエヤーコンプレッサーに連結した
エヤー管８、エジェクターバルブ９及びエジェクターバ
ルブ９に連結したノズル10等からなる。エジェクター装
置７…の上方には米粒の通過口を開口した隔壁11が包囲
され、ノズル10の下方には流化樋５とほぼ同傾斜線上に
良品排出樋12が各々設けられる。また、隔壁11の下方は
不良品排出樋13に形成するとともにその下端を不良品用
スクリューコンベヤー14に連結し、他方、各良品排出樋
12の下端は良品用スクリューコンベヤー15に連結してあ
る。

次に、光学検出部６について説明する。一対の光学検
出部６は、ほこり等の進入を防止するためケーシング16
内に並設されるとともに、互いに向き合う面は透明壁と
し、この透明壁にはワイパー（図示せず）を装着する場
合もある。各ケーシング16内には螢光管17が横設され、
集糠レンズ、フィルター及びスリットからなるレンズ筒
18、レンズ筒18と一体に設けた受光センサー19、並びに
各レンズ筒18と対峙するバックグランド20がそれぞれ配
設される。本実施例のバックグランド20は良品の明るさ
と同じ明るさになるよう、回転軸を中心に回動可能に設
けてあるが、明るさを可変とした電球によって形成する
場合もある。受光センサー19はエジェクターバルブ９と
電気的に接続されている。すなわち、第５図で示すよう
に、受光センサー19は増幅器（ヘッドアンプ51及びメイ
ンアンプ52）を介して比較器（コンパレーター）53に接
続され、さらに単安定マルチ54、ORゲート55及びバルブ
ゲートとしてのトランジスター56を経てエジェクターバ
ルブ９に連結してある。そして、メインアンプ52にはゲ
イン調整用ボリュームVR₁が、比較器53には感度調整ボ
リューム57（VR₂）が、また単安定マルチ54にはワンシ
ョットの長さを調整するボリュームVR₃が各々設けられ
る。Ｐはエジェクターバルブ９の電源である。

以上が原料米中から異色粒子及び異物を取り除く、い
わゆる選別部Ａについての概略説明であるが、以下にこ
の選別部の選別状態を左右する感度調整装置について説
明する。

カバー１内の一側には前記選別部における不良品の混
入率をチェック（検査）する試料測定部Ｂが設けられ
る。すなわち、前述した選別部Ａにおける流下樋５…と
同傾斜状に原料流下樋21、良品流下樋22及び不良品流下
樋23が傾架され、原料流下樋21の上端に連絡する原料供
給樋24、良品流下樋22の上端に連絡する良品供給樋25及
び不良品流下樋23の上端に連絡する不良品供給樋26が同
一の試料用振動フィーダー38内に形成されるとともに試
料用振動フィーダー38は振動発生装置（図示せず）に連
結して設けられる。さらに、これらの各供給樋に試料を
搬送するために、原料供給樋24には原料タンク２から延
出した連絡樋27を接続し、良品供給樋25には良品用スク
リューコンベヤー15と良品取込樋28によって連結した良
品用バケットエレベーター29の吐出部を接続し、不良品
供給樋26には不良品用スクリューコンベヤー14と不良品
取込樋30によって連結した不良品用バケットエレベータ
ー31の吐出部を接続してある。そして、原料タンク２と
連絡樋27との接続部には原料シャッター32、及び原料シ
ャッター32を開閉させる原料シャッター用ソレノイド33
が装着され、良品用スクリューコンベヤー15と良品取込
樋28との接続部には良品シャッター34、及び良品シャッ
ター34を開閉させる良品シャッター用ソレノイド35が装
着され、不良品用スクリューコンベヤー14と不良品取込
樋30との接続部には不良品シャッター36、及び不良品シ
ャッター36を開閉させる不良品シャッター用ソレノイド
37が装着される。

第４図で示すように、選別部における各振動フィーダ
ー３のフィーダーコイル駆動回路40及び試料測定部Ｂに
おける試料用振動フィーダー38のフィーダーコイル駆動
回路41は信号処理プロセッサー42に接続されるととも
に、原料シャッター用ソレノイド駆動回路43、良品シャ
ッター用ソレノイド駆動回路44及び不良品シャッター用
ソレノイド駆動回路45も各々信号処理プロセッサー42と
接続してある。

次に、第３図を参照して試料測定部における光学検出
部6aについて説明する。原料流下樋21、良品流下樋22及
び不良品流下樋23の各傾斜方向下方には一対の光学検出
部6a（原料の光学検出部6a₁、良品の光学検出部6a₂、不
良品の光学検出部6a₃）が、各流下樋を滑り落ちる米粒
を挾んだ状態に対設される。各光学検出部6a₁〜6a₃には
選別部Ａにおける光学検出部６と同様に、螢光管46及び
バックグランド47が装着されるとともに、各バックグラ
ンド47に対峙して不良品検出センサー48が設けられ、さ
らに各光学検出部6a₁〜6a₃に１個ずつ総粒数用センサー
49が設けられる。すなわち、互いに向き合った光学検出
部6aの一方の光学検出部6a内に総粒数用センサー49を設
けるとともに、他方の光学検出部6aには総粒数用センサ
ー49に向く光源、例えば発光ダイオード50を設け、総粒
数用センサー49と発光ダイオード50とを結ぶ線上に、各
流下樋21〜23の下端付近に穿設した通孔51（米粒の流下
に影響を及ぼさない程度の孔又は孔に透明材を嵌入した
もの）を位置させ、発光ダイオード50からの光が通孔51
を通って総粒数用センサー49に入射するよう形成してあ
る。そして、各不良品検出センサー48は増幅器60及び比
較器61を介して信号処理プロセッサー42のカウンター62
及び演算回路63等に接続されるとともに、各総粒数用セ
ンサー49も増幅器64を介して信号処理プロセッサー42の
カウンター62及び演算回路63等に接続してある。

信号処理プロセッサー42はインターフェース65を介し
てエジェクター装置作動回路（第５図）の感度調整ボリ
ューム57（VR₂）に接続され、これにより、試料測定部
の各光学検出部6a₁〜6a₃での検出結果に基づいて信号処
理プロセッサー42でカウント・演算して求めた良品群中
の不良品混入率及び不良品群中の不良品混入率が、あら
かじめ設定された許容混入率の範囲内にない場合は、感
度調整ボリューム57を、例えば0.5Vずつ自動的に変動さ
せ、良品群及び不良品群中の不良品混入率を所期設定範
囲内の値とするよう形成される。なお、良品中の不良品
混入率表示パネル74、不良品中の不良品混入率表示パネ
ル75及び原料中の不良品混入率表示パネル76は、表示回
路69を介して信号処理プロセッサー42に接続されるとと
もに、信号処理プロセッサー42等を内蔵したコントロー
ルボックス70と一体に正面の操作パネル71上に設けられ
る。

試料測定部Ｂの原料流下樋21、良品流下樋22及び不良
品流下樋23の各傾斜方向の下方には測定を終えた試料を
受ける原料還流樋66、良品還流樋67及び不良品還流樋68
が設けられ、原料環流樋66はバケットエレベーター69を
介して原料タンク72へ、良品環流樋67は良品用スクリュ
ーコンベヤー15へ、不良品還流樋68は不良品用スクリュ
ーコンベヤー14へそれぞれ連結してある。

なお、信号処理プロセッサー42にはキーボード72及び
プリンター73を接続してもよいし、色彩選別機を連座す
る場合は、各色彩選別機の信号処理プロセッサー42を集
中制御室に設けた中央処理装置（CPU）に連結し、この
中央処理装置を介して各色彩選別機の感度調整を行うよ
う形成する場合もある。また、本発明の感度調整装置は
特公昭60−2114で示すような再選部を備えた色彩選別機
に採用し得ることは言うまでもない。

次に、上記実施例における具体的作動について説明す
る。図外のバケットエレベーターのシュートパイプから
原料タンク２内に精白後の米粒を投入し、試料用振動フ
ィーダー38を作動させるとともに原料シャッター用ソレ
ノイド33を数秒間励磁させて原料シャッター32を開け
る。原料タンク２内の米粒は連絡樋27を経て定量ずつ原
料供給樋24の先端から原料流下樋21を滑り落ち、原料の
光学検出部6a₁を通過し、原料還流樋66及びバケットエ
レベーター69を経て再び原料タンク２内に戻される。こ
の際、光学検出部6a₁においては、総粒数用センター49
によって光学検出部6a₁を通過する全ての粒子が検出さ
れるとともに、不良品検出センサー48によって異色粒
（茶米、腹白米等）及び異物（石，糠玉等）が検出され
る。すなわち、総粒数用センサー49は、通孔39を通って
入射する発光ダイオード50からの光量を受講している
が、米粒が原料流下樋21を流下するたびに、通孔39を通
って入射する発光ダイオード50からの光量が減少するの
で、この光量の変化を電気量（電圧）に変換するととも
に増幅して信号処理プロセッサー42に入力し、カウンタ
ー62によってカウントする。一方、不良品検出センサー
48は、あらかじめ米粒と同じ明るさに調整されたバック
グウランド47からの光量を受光しているので、米粒（良
品）が通過したときにはほとんど受光量の変化はない
が、異色粒（不良品）が通過すると、異色粒の反射及び
透過光量がバックグラウンド47と相違するので、この光
量差が電圧差となって増幅されるとともに比較器61に設
定された基準電圧と比較され、この基準電圧よりも大き
い信号は信号処理プロセッサー42に入力してカウントさ
れる（前記基準電圧よりも小さい電圧のときは比較器か
ら信号が出ない）。こうして、総粒数及び異色粒数がカ
ウンター62によってカウントされるとともに演算回路63
によって異色粒の混入率、例えば２％が演算されると、
選別部における各流下樋の流量が決定される、すなわ
ち、実験的に求めた、不良品の混入率と流量との好まし
い関係の一例は第６図に示す通りであり、不良品混入率
Ｘが0.1％以下の場合は流量は200kg/Hr、本実施例にお
ける２％の場合は約77kg/Hrとなる。この不良品混入率
と流量との関係は信号処理プロセッサー42の記憶装置に
あらかじめセットしてあり、混入率Ｘが算出されるとそ
れに基づいて信号処理プロセッサー42は振動発生装置４
の振動数を、決定された流量に合致するよう加減する
（振動数と流量との関係があらかじめセットしてあ
る）。なお、この原料のチェックを一定時間置きに行
い、流量を常時調整するよう形成してもよい。

このように、選別に適した流量の米粒の束が各流下樋
５を滑り落ちて一対の光学検出部６の間を通過すると
き、不良品群と良品群とに選別され、良品群は良品排出
樋12から良品用スクリューコンベヤー15内に排出され、
不良品群は不良品排出樋13に沿って不良品用スクリュー
コンベヤー14内に排出される。すなわち、受光センサー
19は、あらかじめ良品と同じ明るさに調整されたバッグ
ラウンド20からの光量を受光しており、この間を良品が
通過するときはほとんど受光量の差は生じないが、不良
品が通過すると、不良品からの反射光及び透過光がバッ
クグラウンド20の光量と相違するので、受光センサー19
の受光量に変化が生じる。この受光量の変化は電圧の変
化に変換されるとともに、ヘッドアンプ51及びメインア
ンプ52によって比較器53が処理しやすい電圧まで増幅さ
れる（この増幅された電圧波形は操作パネル71に設けた
オシロスコープによって観察される）。増幅された電圧
信号は、比較器52においてあるレベル、つまり閾（しき
い）となる電圧値、例えば5Vと比較され、この閾値より
突出した波形が現われたとき単安定マルチ54が作動して
ワンショット信号となり、ワンショット信号はORゲート
55を経てトランジスタ56に入力されてエジェクターバル
ブ９を作動させる。エジェクターバルブ９の作動によっ
てノズル10から高圧空気が噴射され、異色粒及びその周
辺の良品を吹き飛ばす。

良品用スクリューコンベヤー15及び不良品用スクリュ
ーコンベヤー14によって機外に搬送される良品群及び不
良品群は任意に設定した時間、例えば３分置きにサンプ
リングされ、試料測定部Ｂにおいてその不良品の混入率
がチェックされる。以下、この試料測定部Ｂについて詳
述する。

良品用スクリューコンベヤー15と良品取込樋28との接
続部に設けた良品シャッター34は、信号処理プロセッサ
ー42に電気的に連結された良品シャッター用ソレノイド
35が３分置きに、例えば10秒間励磁する動作に連動して
３分置きに10秒間開けられ、良品用スクリューコンベヤ
ー15内の良品群を良品取込樋28から良品用バケットエレ
ベーター29に流下させ、このバケットエレベーター29に
よって揚殻して良品供給樋25に搬送する。良品供給樋25
は試料用振動フィーダー38によって微振動しているの
で、良品供給樋25内に排出された良品の試料は定量ずつ
良品供給樋25の樋端から良品流下樋22に落下し、良品流
下樋22の樋底を滑り落ちる。良品流下樋22下端部に対設
した良品の光学検出部6a₂においては、前述した原料の
光学検出部6a₁と同様に、総粒数用センサー49によっ
て、良品流下樋22を流下する全ての粒子が検出されると
ともに、不良品検出センサー48によって異色粒子が検出
され、それぞれ信号処理プロセッサー42に入力されてカ
ウント・演算される。光学検出部6a₂を通過した良品
は、良品還流樋67を通って良品用スクリューコンベヤー
15内に戻される。

不良品用スクリューコンベヤー14と不良品取込樋30と
の接続部に設けた不良品シャッター36を開閉作動させる
不良品シャッター用ソレノイド37は、前記良品シャッタ
ー用ソレノイド35に同期して３分置きに励磁するが、不
良品群の量は一般的に少ないので30秒間励磁するものと
する。これに連動して不良品シャッター36が３分置きに
30秒間開き、不良品用スクリューコンベヤー14内の不良
品群（良品混じりの異色粒）を不良品取込樋30内に迂
（う）回させ、不良品用バケットエレベーター31を経て
不良品供給樋26に搬送する。不良品供給樋26内の不良品
群も良品群の場合と同様に、不良品流下樋23を流下して
不良品の光学検出部6a₃に至り、総粒数用センサー49に
よって総粒子が、不良品検出センサー48によって不良品
が検出され、それぞれの信号は信号処理プロセッサー42
に入力されてカウント・演算される。測定を終えた不良
品は不良品還流樋68を経て不良品用スクリューコンベヤ
ー14内に戻される。

こうして、良品及び不良品の光学検出部6a₂〜6a₃から
信号処理プロセッサー42に入力された電気信号は、カウ
ント・演算処理されて操作パネル71の良品中の不良品混
入率表示パネル74及び不良品中の不良品混入率表示パネ
ル75にデジタル表示されるのであるが、同時に、この測
定結果に基づいて選別部Ａの感度の調整が行われる。す
なわち、光学検出部６で不良品を検出し、エジェクター
バルブ９が作動してノズル10から圧縮空気が噴射される
とき吹き飛ばされる粒数（異色粒＋良品）を、例えば流
下樋５当たりの流量が200kg/Hrのときは約８粒、150kg/
Hrのときは約６粒、100kg/Hrのときは約４粒、50kg/Hr
のときは約２粒とすると、基準となる不良品群中の不良
品混入率は、流量200kg/Hrの場合は12.5％、流量150kg/
Hrの場合は16.7％、流量100kg/Hrの場合は25.0％、流量
50kg/Hrの場合は50.0％となり、これらの基準値に±10
％程度の幅を設けてあらかじめ信号処理プロセッサー42
の記憶装置に設定しておく。なお、ノズル10によって吹
き飛ばされる粒数は、エジェクターバルブ９の作動時間
によっても異なるので、この基準値は当該色彩選別機を
作動させ、実験値に基づいて設定するものとする。本実
施例の場合は、流量が77kg/Hrなので44±10％となる。
一方、良品中の不良品混入率は０％が理想ではあるが、
被選別物の用途、所望する商品価値等によって適宜に設
定され、例えば0.02％が信号処理プロセッサー42に設定
される。

こうして求められた、ある適正流量流下時において基
準となる不良品群中の不良品混入率及び良品群中の不良
品混入率と、３分置きに試料測定部Ｂで実測した各値と
を比較し、例えば、 不良品群中の不良品混入率が基準値±10％内であ
り、かつ良品群中の不良品混入率が0.02％以下であれば
感度は調整しない。

良品群中の不良品混入率が0.02％以内で不良品群中
の不良品混入率が基準値±10％よりも大きい場合は、信
号処理プロセッサー42からの指令によって感度調整ボリ
ューム57の閾値を0.5V（１ステップ）上げて感度を下げ
る。

良品群中の不良品混入率が0.02％を越え、かつ不良
品群中の不良品混入率が基準値±10％内か又は基準値＋
10％よりも大きい場合は、感度調整ボリューム57の閾値
を0.5V（１ステップ）下げて感度を上げる。

良品群中の不良品混入率が0.02％以下で、かつ不良
品群中の不良品混入率が基準値の−（マイナス）10％よ
りも低い場合は、と同様に感度を下げる。

良品群中の不良品混入率が0.02％を越え、かつ不良
品群中の不良品混入率が設定値−（マイナス）10％より
も小さい場合は、フィーダーコイル駆動回路40を介して
振動フィーダー３の振動数を下げ、流量を１ステップ、
例えば10kg/Hrずつ減少する。

という、あらかじめ設定されたパターンに従って、常に
前記の状態となるよう１ステップずつ感度調整される
ものである。

なお、本実施例においては、原料、良品及び不良品専
用の供給樋、流下樋及び光学検出部を設けたが、共通の
供給樋、流下樋及び光学検出部に原料、良品及び不良品
を順次流すように形成してもよい。

〔発明の効果〕

以上述べたように本発明によれば、原料中の異色粒、
エジェクター装置によって分離された異色粒群及び良品
群中の各異色粒を検出するための試料測定部とこの試料
測定部に電気的に接続した信号処理プロセッサーとを設
け、原料中の異色粒混入率によって求めた前記流下樋の
適正流量流下時における良品群及び異色粒群中の異色粒
混入率をあらかじめ設定した基準範囲内とするよう、前
記エジェクター作動回路の比較器の感度調整ボリューム
と信号処理装置とを電気的に連結した構成としたので、
原料中の異色粒混入率を求めることによって選別に適し
た流量を決定するとともに、良品群及び不良品群中の各
異色粒混入率が、基準となる異色粒混入率の許容範囲内
となるよう信号処理プロセッサーをしてエジェクター作
動回路の比較器の感度調整ボリュームを変動させること
で、適正流量で流下時の最適な感度が瞬時に、かつ正確
に得られ、選別精度が安定し、無人運転が可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明実施例の一部省略正面図、第２図は同右
側面図、第３図は第１図の要部左側断面図、第４図は制
御ブロック図、第５図はエジェクター装置の作動回路
図、第６図は原料中の不良品混入率と適正流量との関係
を示すグラス、第７図は従来例の側面図である。 １……カバー、２……原料タンク、３……振動フィーダ
ー、４……振動発生装置、５……流下樋、６……光学検
出部、７……エジェクター装置、８……エアー管、９…
…エジェクターバルブ、10……ノズル、11……隔壁、12
……良品排出樋、13……不良品排出樋、14……不良品用
スクリューコンベヤー、15……良品用スクリューコンベ
ヤー、16……ケーシング、17……螢光管、18……レンズ
筒、19……受光センサー、20……バックグラウンド、21
……原料流下樋、22……良品流下樋、23……不良品流下
樋、24……原料供給樋、25……良品供給樋、26……不良
品供給樋、27……連絡樋、28……良品取込樋、29……良
品用バケットエレベーター、30……不良品取込樋、31…
…不良品用バケットエレベーター、32……原料シャッタ
ー、33……原料シャッター用ソレノイド、34……良品シ
ャッター、35……良品シャッター用ソレノイド、36……
不良品シャッター、37……不良品シャッター用ソレノイ
ド、38……試料用振動フィーダー、39……通孔、40……
フィーダーコイル駆動回路、41……フィーダーコイル駆
動回路、42……信号処理プロセッサー、43……原料シャ
ッター用ソレノイド駆動回路、44……良品シャッター用
ソレノイド駆動回路、45……不良品シャッター用ソレノ
イド駆動回路、46……螢光管、47……バックグラウン
ド、48……不良品検出センサー、49……総粒数用センサ
ー、50……発光ダイオード、51……ヘッドアンプ、52…
…メインアンプ、53……比較器、54……単安定マルチ、
55……ORゲート、56……トランジスター、57……感度調
整ボリューム、60……増幅器、61……比較器、62……カ
ウンター、63……演算回路、64……増幅器、65……イン
ターフェース、66……原料還流樋、67……良品還流樋、
68……不良品還流樋、69……バケットエレベーター、70
……コントロールボックス、71……操作パネル、72……
キーボード、73……プリンター、74……良品中の不良品
混入率表示パネル、75……不良品中の不良品混入率表示
パネル、76……原料中の不良品混入率表示パネル。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】原料穀粒を高速で滑流させる流下樋の下端
   付近に設けた光源、バックグランド及び受光センサーか
   らなる光学検出部、光学検出部を通過する異色粒子と良
   品とを分離するエジェクター装置、並びに増幅器、比較
   器等からなり前記受光センサーとエジェクター装置との
   間に設けたエジェクター作動回路、を備えた穀物色彩選
   別機において、原料中の異色粒、エジェクター装置によ
   って分離された異色粒群及び良品群中の各異色粒を検出
   するための試料測定部とこの試料測定部に電気的に接続
   した信号処理プロセッサーとを設け、原料中の異色粒混
   入率によって求めた前記流下樋の適正流量下時における
   良品群及び異色粒群中の異色粒混入率をあらかじめ設定
   した基準範囲内とするよう、前記エジェクター作動回路
   の比較器の感度調整ボリュームと信号処理プロセッサー
   とを電気的に連結したことを特徴とする穀物色彩選別機
   の感度調整装置。
2. 【請求項２】上記エジェクター装置は、一端をエヤー管
   を介してエヤーコンプレッサーに接続するとともに他端
   をノズルに接続したエジェクターバルブである特許請求
   の範囲第（１）項記載の穀物色彩選別機の感度調整装
   置。