JPH08252620A - 伸び率演算方法 - Google Patents
伸び率演算方法Info
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- JPH08252620A JPH08252620A JP7055450A JP5545095A JPH08252620A JP H08252620 A JPH08252620 A JP H08252620A JP 7055450 A JP7055450 A JP 7055450A JP 5545095 A JP5545095 A JP 5545095A JP H08252620 A JPH08252620 A JP H08252620A
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- elongation
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 金属帯等の帯状物等に圧延機やテンションレ
ベラー等によって所定の伸び率を付与する場合におい
て、応答性の優れた帯状物等の伸び率演算方法を提供す
る。 【構成】 伸び率を検出するにあたり、伸び率目標値と
伸び率測定値との偏差絶対値の程度に応じて伸び率の単
位測定長さを変更し、該変更された単位測定長さについ
て伸び率を演算する。 【効果】 安価な伸び率検出装置で伸び率検出精度を確
保しながら、伸び率制御の目標値に対する伸び率測定値
の偏差が大きな時の応答性を格段に高めることができ、
伸び率不良部長さを大幅に短縮できる。
ベラー等によって所定の伸び率を付与する場合におい
て、応答性の優れた帯状物等の伸び率演算方法を提供す
る。 【構成】 伸び率を検出するにあたり、伸び率目標値と
伸び率測定値との偏差絶対値の程度に応じて伸び率の単
位測定長さを変更し、該変更された単位測定長さについ
て伸び率を演算する。 【効果】 安価な伸び率検出装置で伸び率検出精度を確
保しながら、伸び率制御の目標値に対する伸び率測定値
の偏差が大きな時の応答性を格段に高めることができ、
伸び率不良部長さを大幅に短縮できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】所定の伸び率を付与する場合にお
ける伸び率演算方法に関し、特に金属等の帯状物等の圧
延機やテンションレベラー等に適用するのに、好適な伸
び率演算方法に関するものである。
ける伸び率演算方法に関し、特に金属等の帯状物等の圧
延機やテンションレベラー等に適用するのに、好適な伸
び率演算方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】金属帯等の帯状物は圧延機やテンション
レベラー等において帯状物の材質やサイズ等から定める
所定の伸び率が付与される。圧延機やテンションレベラ
ー等における帯状物の伸び率演算は、一般的に当該装置
の前後に配置したブライドルロールあるいはデフレクタ
ーロールの端部に取り付けられたパルス発生装置のパル
ス数を通過する帯状物の定距離（単位測定長さ）毎に測
定し、次式によって計算するようになっている。
レベラー等において帯状物の材質やサイズ等から定める
所定の伸び率が付与される。圧延機やテンションレベラ
ー等における帯状物の伸び率演算は、一般的に当該装置
の前後に配置したブライドルロールあるいはデフレクタ
ーロールの端部に取り付けられたパルス発生装置のパル
ス数を通過する帯状物の定距離（単位測定長さ）毎に測
定し、次式によって計算するようになっている。
【０００３】たとえば、入り側出側各ブライドルロール
に取り付けられたパルス発生装置で同時に長さの計測を
開始し、入り側で計測された長さがｌE となったときの
出側で計測された長さをｌD とすると、帯状物の伸び率
εは、 ε＝｛（ｌD −ｌE ）／ｌE ｝×１００〔％〕 で求められる。通常、ｌE をある定距離（単位測定長
さ）として伸び率の計測を行なう。
に取り付けられたパルス発生装置で同時に長さの計測を
開始し、入り側で計測された長さがｌE となったときの
出側で計測された長さをｌD とすると、帯状物の伸び率
εは、 ε＝｛（ｌD −ｌE ）／ｌE ｝×１００〔％〕 で求められる。通常、ｌE をある定距離（単位測定長
さ）として伸び率の計測を行なう。
【０００４】この場合、計測誤差として１パルス分に対
応する誤差を避けることができない。従って、ｌE を大
きくすればするほど計測誤差は小さくなるが、それに伴
って計測に必要な走向距離（時間）即ちサンプリング間
隔（時間）が長くなって応答性が悪くなるという問題点
がある。
応する誤差を避けることができない。従って、ｌE を大
きくすればするほど計測誤差は小さくなるが、それに伴
って計測に必要な走向距離（時間）即ちサンプリング間
隔（時間）が長くなって応答性が悪くなるという問題点
がある。
【０００５】このような帯状物の伸び率演算にあたっ
て、伸び率制御の応答性を改善する技術としては、特開
昭６０−１８０６１５号公報や特開平１−７１５１１号
公報のように帯状物の処理速度に応じて単位測定長さを
変更することにより、低速部の検出時間を短縮する技術
や、特開昭６０−１４８６１２号公報のように、低速時
のパルス数のカウントを定距離カウントから定時間カウ
ントに切り換える技術や、特開平６−１１３３９号公報
のように帯状物の伸び率検出周期をその伸び率自体によ
り変化させ、伸び率演算の測定精度を向上させる技術が
知られている。
て、伸び率制御の応答性を改善する技術としては、特開
昭６０−１８０６１５号公報や特開平１−７１５１１号
公報のように帯状物の処理速度に応じて単位測定長さを
変更することにより、低速部の検出時間を短縮する技術
や、特開昭６０−１４８６１２号公報のように、低速時
のパルス数のカウントを定距離カウントから定時間カウ
ントに切り換える技術や、特開平６−１１３３９号公報
のように帯状物の伸び率検出周期をその伸び率自体によ
り変化させ、伸び率演算の測定精度を向上させる技術が
知られている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】特開昭６０−１８０６
１５号公報や特開平１−７１５１１号公報の技術は、低
速時の伸び率検出の応答性は向上するが、伸び率の測定
長さが短くなるため、伸び率検出精度が劣る。特に、低
伸び率材料では、その精度が著しく劣ることになる。
１５号公報や特開平１−７１５１１号公報の技術は、低
速時の伸び率検出の応答性は向上するが、伸び率の測定
長さが短くなるため、伸び率検出精度が劣る。特に、低
伸び率材料では、その精度が著しく劣ることになる。
【０００７】また、特開昭６０−１４８６１２号公報の
技術は、応答性を改善する方法が異なるが上記と同様の
問題点がある。
技術は、応答性を改善する方法が異なるが上記と同様の
問題点がある。
【０００８】特開平６−１１３３９号公報の技術は、低
伸び率から高伸び率まで伸び率検出の精度は向上し、か
つ高伸び率材料では伸び率検出の応答性が向上する利点
を有するが、同一材料では伸び率検出周期が一定であ
る。一方、伸び率計で検出された伸び率を使用して、伸
び率の制御を行なう場合には、伸び率検出周期が一種の
無駄時間となり、制御系を不安定にする要因となる。と
くに、伸び率の目標値と実際値との偏差が大きい場合に
は、操作量も大きくなるため、操作結果を早くフィード
バックする必要がある。しかしながら、従来の伸び率検
出方法では、前述したように、同一材料では伸び率の検
出周期が一定であるので、特に偏差が大きい場合の応答
性が不十分となるという問題点を有していた。
伸び率から高伸び率まで伸び率検出の精度は向上し、か
つ高伸び率材料では伸び率検出の応答性が向上する利点
を有するが、同一材料では伸び率検出周期が一定であ
る。一方、伸び率計で検出された伸び率を使用して、伸
び率の制御を行なう場合には、伸び率検出周期が一種の
無駄時間となり、制御系を不安定にする要因となる。と
くに、伸び率の目標値と実際値との偏差が大きい場合に
は、操作量も大きくなるため、操作結果を早くフィード
バックする必要がある。しかしながら、従来の伸び率検
出方法では、前述したように、同一材料では伸び率の検
出周期が一定であるので、特に偏差が大きい場合の応答
性が不十分となるという問題点を有していた。
【０００９】本発明は、このような問題点を解決するた
めになされたもので、伸び率の目標値と実際値との偏差
が大きい場合でも、充分に早い応答性を制御系に与える
ことができ、かつ偏差が小さい場合には、充分な検出精
度を有する伸び率検出方法を提供することを目的とす
る。
めになされたもので、伸び率の目標値と実際値との偏差
が大きい場合でも、充分に早い応答性を制御系に与える
ことができ、かつ偏差が小さい場合には、充分な検出精
度を有する伸び率検出方法を提供することを目的とす
る。
【００１０】
【課題を解決するための手段】前記の問題点を解決する
ための手段は、伸び率の単位測定長さを、伸び率目標値
と伸び率測定値との偏差絶対値が大きいときには短く、
偏差絶対値が小さいときには長く変更し、変更された単
位測定長さについて、伸び率を演算することを特徴とす
るものである。
ための手段は、伸び率の単位測定長さを、伸び率目標値
と伸び率測定値との偏差絶対値が大きいときには短く、
偏差絶対値が小さいときには長く変更し、変更された単
位測定長さについて、伸び率を演算することを特徴とす
るものである。
【００１１】
【作用】伸び率目標値と伸び率測定値との偏差絶対値が
大きいときには、伸び率の単位測定長さが短くされるの
で、伸び率が短い間隔で測定され、応答が早くなる。よ
って、系の無駄時間が短くなるので、伸び率制御系の操
作量を大きくしても（サンプリング制御の場合は出力間
隔を短くしても）、安定した制御を実現することができ
る。この場合には、伸び率の検出精度が低下するが、偏
差が大きい部分では伸び率の検出精度は粗くて差し支え
ない。一方、伸び率目標値と伸び率測定値との偏差絶対
値が小さいときには、伸び率制御系の応答が遅くてもそ
れほど問題にならない。この場合には、伸び率の検出精
度の方が重要視されるが、伸び率の単位測定長さが長く
されるので充分な検出精度が得られる。
大きいときには、伸び率の単位測定長さが短くされるの
で、伸び率が短い間隔で測定され、応答が早くなる。よ
って、系の無駄時間が短くなるので、伸び率制御系の操
作量を大きくしても（サンプリング制御の場合は出力間
隔を短くしても）、安定した制御を実現することができ
る。この場合には、伸び率の検出精度が低下するが、偏
差が大きい部分では伸び率の検出精度は粗くて差し支え
ない。一方、伸び率目標値と伸び率測定値との偏差絶対
値が小さいときには、伸び率制御系の応答が遅くてもそ
れほど問題にならない。この場合には、伸び率の検出精
度の方が重要視されるが、伸び率の単位測定長さが長く
されるので充分な検出精度が得られる。
【００１２】
【実施例】以下、本発明の実施例について、図面を用い
て説明する。図１は、本発明の伸び率検出方法および伸
び率制御の系統を示す図である。図１において、帯状物
１は、ロール群４ａ、４ｂ、４ｃからなる入側ブライド
ルロール４と、ロール群５ａ、５ｂ、５ｃからなる出側
ブライドルロール５間で張力を付与されながら、圧延機
のバックアップロール３ａ、３ｂにバックアップされた
ワークロール２ａ、２ｂにて圧延される。圧延機の入側
ブライドルロール４ｃの軸には入側パルス発生装置６が
設けられ、入側パルスカウンタ８はその発生パルスをカ
ウントし、伸び率演算装置１０に入力する。圧延機の出
側ブライドルロール５ａの軸には出側パルス発生装置７
が設けられ、出側パルスカウンタ９はその発生パルスを
カウントし、伸び率演算装置１０に入力する。伸び率演
算装置１０は伸び率εを演算し出力する。
て説明する。図１は、本発明の伸び率検出方法および伸
び率制御の系統を示す図である。図１において、帯状物
１は、ロール群４ａ、４ｂ、４ｃからなる入側ブライド
ルロール４と、ロール群５ａ、５ｂ、５ｃからなる出側
ブライドルロール５間で張力を付与されながら、圧延機
のバックアップロール３ａ、３ｂにバックアップされた
ワークロール２ａ、２ｂにて圧延される。圧延機の入側
ブライドルロール４ｃの軸には入側パルス発生装置６が
設けられ、入側パルスカウンタ８はその発生パルスをカ
ウントし、伸び率演算装置１０に入力する。圧延機の出
側ブライドルロール５ａの軸には出側パルス発生装置７
が設けられ、出側パルスカウンタ９はその発生パルスを
カウントし、伸び率演算装置１０に入力する。伸び率演
算装置１０は伸び率εを演算し出力する。
【００１３】該伸び率εと伸び率目標値εaim を伸び率
偏差絶対値演算装置１１に入力する。伸び率偏差絶対値
演算装置１１は、帯状物の材質やサイズ等から定める伸
び率目標値εaim と伸び率測定値εの偏差Δε＝εaim
−εの絶対値Δεabを下記の（１）式から演算し、伸び
率単位測定長さ演算装置１２に入力する。
偏差絶対値演算装置１１に入力する。伸び率偏差絶対値
演算装置１１は、帯状物の材質やサイズ等から定める伸
び率目標値εaim と伸び率測定値εの偏差Δε＝εaim
−εの絶対値Δεabを下記の（１）式から演算し、伸び
率単位測定長さ演算装置１２に入力する。
【００１４】
【数１】
【００１５】伸び率単位測定長さ演算装置１２は、伸び
率の偏差絶対値Δεabより伸び率単位測定長Ｌを演算
し、伸び率演算装置１０に出力する。
率の偏差絶対値Δεabより伸び率単位測定長Ｌを演算
し、伸び率演算装置１０に出力する。
【００１６】また、伸び率演算装置１０で演算された伸
び率εと伸び率目標値εaim を伸び率制御装置１３に入
力し、伸び率偏差に応じて圧延機の圧下装置１４や図示
されていない張力制御装置へ信号を入力する。入側ブラ
イドルロール４ｃに取付けられた入側パルス発生装置６
にて発生したパルスカウンタ８で計数し、カウント値Ｎ
E を得る。１回転当たりのパルス数をＰE 、ロール径を
ＤE 、伸び率測定長をＬとすると、ＮE は、下記の
（２）式で表される。
び率εと伸び率目標値εaim を伸び率制御装置１３に入
力し、伸び率偏差に応じて圧延機の圧下装置１４や図示
されていない張力制御装置へ信号を入力する。入側ブラ
イドルロール４ｃに取付けられた入側パルス発生装置６
にて発生したパルスカウンタ８で計数し、カウント値Ｎ
E を得る。１回転当たりのパルス数をＰE 、ロール径を
ＤE 、伸び率測定長をＬとすると、ＮE は、下記の
（２）式で表される。
【００１７】 ＮE ＝（Ｌ／πＤE ）×ＰE ・・・（２）式 一方、この間に出側ブライドルロール５ａに取付けられ
た出側パルス発生装置７にて発生したパルスをカウンタ
９で計数し、カウント値ＮD を得る。一回転あたりのパ
ルス数をＰD 、ロール径をＤD とすると、その間に通過
した帯状物長さＬD は、下記の（３）式で表される。
た出側パルス発生装置７にて発生したパルスをカウンタ
９で計数し、カウント値ＮD を得る。一回転あたりのパ
ルス数をＰD 、ロール径をＤD とすると、その間に通過
した帯状物長さＬD は、下記の（３）式で表される。
【００１８】 ＬD ＝π×ＤD ×（ＮD ／ＰD ） ・・・（３）式 伸び率εの演算はＬに対応するＮE を検出する毎に行う
のが一般的である。このとき伸び率εは、下記の（４）
式で表される。
のが一般的である。このとき伸び率εは、下記の（４）
式で表される。
【００１９】 ε＝（ＬD −Ｌ）／Ｌ＝（ＬD ／Ｌ）−１ ・・・（４）式 したがって、εは、（２）式〜（４）式から下記の
（５）式で表される。
（５）式で表される。
【００２０】 ε＝（ＬD ／Ｌ）−１ ＝｛πＤD ×（ＮD ／ＰD ）｝／｛πＤE ×（ＮE ／ＰE ）｝−１ ＝（ＤD ／ＤE ）×（ＮD ／ＮE ）×（ＰE ／ＰD ）−１ ・・・（５）式 伸び率制御系の応答性を向上させるためには、伸び率測
定長Ｌを極力短くすれば良い。なぜなら、伸び率εの演
算結果をより早く知ることができ、圧延機の圧下装置１
４など伸び率制御アクチェータへの出力ピッチを短くで
き、伸び率制御の応答性向上が図られるためである。
定長Ｌを極力短くすれば良い。なぜなら、伸び率εの演
算結果をより早く知ることができ、圧延機の圧下装置１
４など伸び率制御アクチェータへの出力ピッチを短くで
き、伸び率制御の応答性向上が図られるためである。
【００２１】しかし、前記の（５）式からわかるように
伸び率測定値Ｌを短くすると、ＮEおよびＮD の値自体
が小さくなって、ＮE および／もしくはＮD の読み取り
誤差（１パルスのカウントミス）の影響が伸び率εの精
度を大きく左右することになる。
伸び率測定値Ｌを短くすると、ＮEおよびＮD の値自体
が小さくなって、ＮE および／もしくはＮD の読み取り
誤差（１パルスのカウントミス）の影響が伸び率εの精
度を大きく左右することになる。
【００２２】ところで、伸び率偏差絶対値Δεabが大き
な場合、伸び率偏差絶対値の非常に小さなレベルの状態
で要求される伸び率εの検出精度がなくても制御上問題
とならない。すなわち、伸び率偏差の値自体の精度が確
保できる範囲で伸び率偏差絶対値Δεabが大きな場合、
伸び率測定長Ｌを変更すればパルス数の小さな安価なパ
ルス発生装置においても合理的に応答性を高めることが
でき、伸び率偏差絶対値Δεabをより早く小さなものに
することが可能となる。
な場合、伸び率偏差絶対値の非常に小さなレベルの状態
で要求される伸び率εの検出精度がなくても制御上問題
とならない。すなわち、伸び率偏差の値自体の精度が確
保できる範囲で伸び率偏差絶対値Δεabが大きな場合、
伸び率測定長Ｌを変更すればパルス数の小さな安価なパ
ルス発生装置においても合理的に応答性を高めることが
でき、伸び率偏差絶対値Δεabをより早く小さなものに
することが可能となる。
【００２３】この場合の伸び率測定長Ｌの設定方法の一
例を以下に説明する。この例においては、伸び率偏差絶
対値Δεabに対する伸び率測定長Ｌの設定は、伸び率偏
差絶対値Δεabのａ（が例えば０．０５〜０．５）倍以
下の伸び率検出（測定）誤差となるように、後記する
（９）式で伸び率測定長Ｌを設定している。
例を以下に説明する。この例においては、伸び率偏差絶
対値Δεabに対する伸び率測定長Ｌの設定は、伸び率偏
差絶対値Δεabのａ（が例えば０．０５〜０．５）倍以
下の伸び率検出（測定）誤差となるように、後記する
（９）式で伸び率測定長Ｌを設定している。
【００２４】ここで、出側ブライドルロールに設置した
出側パルス発生装置７で１パルスカウントミスが発生し
た場合を想定すれば、見掛けの出側通過長さＬD'は、下
記の（６）式で表される。
出側パルス発生装置７で１パルスカウントミスが発生し
た場合を想定すれば、見掛けの出側通過長さＬD'は、下
記の（６）式で表される。
【００２５】 ＬD'＝πＤD ×｛( ＮD ＋１）／ＰD ｝ ・・・（６）式 したがって、この場合の見掛けの伸び率ε’は前記の
（４）式と同様にして、下記の（７）式で表される。
（４）式と同様にして、下記の（７）式で表される。
【００２６】 ε’＝（ＬD'−Ｌ）／Ｌ ・・・（７）式 伸び率検出誤差ａはε’−εで求められる。この伸び率
検出誤差ａを、伸び率偏差絶対値Δεabのａ倍以下とな
るようするには、下記の（８）式を満足する必要があ
る。
検出誤差ａを、伸び率偏差絶対値Δεabのａ倍以下とな
るようするには、下記の（８）式を満足する必要があ
る。
【００２７】 ａ×Δεab≧ε’−ε ・・・（８）式 したがって、（４）式、（７）式、（８）式から、伸び
率測定長Ｌを求めると、下記の（９）式で表される。
率測定長Ｌを求めると、下記の（９）式で表される。
【００２８】 ａ×Δεab≧｛（ＬD'−Ｌ）／Ｌ｝−｛（ＬD −Ｌ）／Ｌ｝ ∴ Ｌ≧（１／ａ）×（πＤD ／ＰD ）×（１／Δεab）・・・（９）式 上記のような方法で伸び率測定長Ｌを伸び率偏差絶対値
Δεabに応じて変更した場合の応答性の向上の度合を、
検出誤差ａが１０％と２０％の場合について図２に破線
で示す。
Δεabに応じて変更した場合の応答性の向上の度合を、
検出誤差ａが１０％と２０％の場合について図２に破線
で示す。
【００２９】従来技術の応答性を１．０とし、即ちＬ＝
Ｌ0 と定義し、相対評価（応答性をＬ0 ／Ｌで定義）を
した場合、伸び率偏差絶対値に対する検出誤差ａを例え
ば１０％〜２０％の範囲内に収まるように伸び率測定長
Ｌを設定した１例を図２における実線で示す。図２にお
いて、伸び率偏差絶対値Δεabが0.10％以下の場合に
は、従来例と同じように伸び率測定長ＬをＬ0 とする。
Δεabが0.10％を越えて0.15％以下の場合は、伸び率測
定長Ｌを5.58ｍとする。Δεabが0.15％を越えて0.20％
以下の場合は、伸び率測定長Ｌを４ｍとする。Δεabが
0.20％を越えて0.275 ％以下の場合は、伸び率測定長Ｌ
を３ｍとする。Δεabが0.275 ％を越える場合は、伸び
率測定長Ｌを２ｍとする。このようにすれば、検出誤差
の伸び率偏差絶対値Δεabに対する割合は、図２に示す
10％と20％の点線の間に入る。そして、応答性を示すＬ
0 ／Ｌは、伸び率偏差絶対値Δεabの増大と共に増加す
る。
Ｌ0 と定義し、相対評価（応答性をＬ0 ／Ｌで定義）を
した場合、伸び率偏差絶対値に対する検出誤差ａを例え
ば１０％〜２０％の範囲内に収まるように伸び率測定長
Ｌを設定した１例を図２における実線で示す。図２にお
いて、伸び率偏差絶対値Δεabが0.10％以下の場合に
は、従来例と同じように伸び率測定長ＬをＬ0 とする。
Δεabが0.10％を越えて0.15％以下の場合は、伸び率測
定長Ｌを5.58ｍとする。Δεabが0.15％を越えて0.20％
以下の場合は、伸び率測定長Ｌを４ｍとする。Δεabが
0.20％を越えて0.275 ％以下の場合は、伸び率測定長Ｌ
を３ｍとする。Δεabが0.275 ％を越える場合は、伸び
率測定長Ｌを２ｍとする。このようにすれば、検出誤差
の伸び率偏差絶対値Δεabに対する割合は、図２に示す
10％と20％の点線の間に入る。そして、応答性を示すＬ
0 ／Ｌは、伸び率偏差絶対値Δεabの増大と共に増加す
る。
【００３０】本発明は帯状物に限定せず、形、条材、線
材などにも適用出来るものである。板厚１．０ｍｍ、板
幅１，００７ｍｍの冷延鋼板について、ライン速度２０
０ｍｐｍ、圧延機入側張力および出側張力一定の条件
で、通常の伸び率制御をかけながら圧延し、圧延途中で
伸び率目標値を１．４％から１．０％に変更した。圧延
に際して、本発明例では、図１に示す装置を用いて、図
２の伸び率偏差絶対値Δεab−伸び率測定長Ｌ線図の図
中に表示される本発明の線図に従って、伸び率偏差絶対
値Δεabに応じて伸び率の単位測定長Ｌを変更しながら
圧延した。伸び率変更前後における圧延荷重の測定値、
伸び率測定値をそれぞれ図３の（ａ）、（ｂ）に示す。
図３には、比較のために伸び率の単位測定長Ｌを一定の
条件で圧延した従来技術の例を示す。
材などにも適用出来るものである。板厚１．０ｍｍ、板
幅１，００７ｍｍの冷延鋼板について、ライン速度２０
０ｍｐｍ、圧延機入側張力および出側張力一定の条件
で、通常の伸び率制御をかけながら圧延し、圧延途中で
伸び率目標値を１．４％から１．０％に変更した。圧延
に際して、本発明例では、図１に示す装置を用いて、図
２の伸び率偏差絶対値Δεab−伸び率測定長Ｌ線図の図
中に表示される本発明の線図に従って、伸び率偏差絶対
値Δεabに応じて伸び率の単位測定長Ｌを変更しながら
圧延した。伸び率変更前後における圧延荷重の測定値、
伸び率測定値をそれぞれ図３の（ａ）、（ｂ）に示す。
図３には、比較のために伸び率の単位測定長Ｌを一定の
条件で圧延した従来技術の例を示す。
【００３１】本発明例によるものは従来技術の例による
ものに比べて、伸び率変更タイミング直後での圧延機の
荷重変更量が大きくなり、結果として伸び率εが伸び率
目標値εaim へ早く収束している。
ものに比べて、伸び率変更タイミング直後での圧延機の
荷重変更量が大きくなり、結果として伸び率εが伸び率
目標値εaim へ早く収束している。
【００３２】前記の本発明の実施例は前後にブライドル
ロールを配置した圧延機についての場合であるが、前後
にブライドルロールを配置したテンションレベラーの場
合についても同様に本発明を適用することができる。
ロールを配置した圧延機についての場合であるが、前後
にブライドルロールを配置したテンションレベラーの場
合についても同様に本発明を適用することができる。
【００３３】また、ピンチローラ、ローラによる測長方
式の各種のラインにも適用可能である。他に、調質圧延
機、矯正、伸線、磨き加工、押出加工など伸び率を速や
かに所定の値の範囲内に入れるための各種のプロセスに
適用可能である。
式の各種のラインにも適用可能である。他に、調質圧延
機、矯正、伸線、磨き加工、押出加工など伸び率を速や
かに所定の値の範囲内に入れるための各種のプロセスに
適用可能である。
【００３４】
【発明の効果】本発明によれば、安価な伸び率検出装置
で伸び率検出精度を確保しながら、伸び率制御の目標値
に対する伸び率測定値の偏差が大きな時の応答性を格段
に高めることができ、伸び率不良部長さを大幅に短縮で
きる。また、伸び率偏差絶対値が小さな場合、ライン速
度の高低にかかわらず伸び率検出精度を十分に確保で
き、製品品質保証に寄与できる。
で伸び率検出精度を確保しながら、伸び率制御の目標値
に対する伸び率測定値の偏差が大きな時の応答性を格段
に高めることができ、伸び率不良部長さを大幅に短縮で
きる。また、伸び率偏差絶対値が小さな場合、ライン速
度の高低にかかわらず伸び率検出精度を十分に確保で
き、製品品質保証に寄与できる。
【図１】本発明の伸び率検出および伸び率制御の系統を
示す概略図である。
示す概略図である。
【図２】本発明の伸び率測定長の設定方法および応答性
を説明する図である。
を説明する図である。
【図３】本発明および従来技術で伸び率目標値を変更し
た時の応答性を示すチャートである。
た時の応答性を示すチャートである。
１ 帯状物 ２ａ、２ｂ ワークロール ３ａ、３ｂ バックアップロール ４ａ、４ｂ、４ｃ 入側ブライドルロール ５ａ，５ｂ，５ｃ 出側ブライドルロール ６ 入側パルス発生装置 ７ 出側パルス発生装置 ８ 入側パルスカウンタ ９ 出側パルスカウンタ １０ 伸び率演算装置 １１ 伸び率偏差絶対値演算装置 １２ 伸び率単位測定長さ演算装置 １３ 伸び率制御装置 １４ 圧延機圧下装置
Claims (1)
- 【請求項１】 伸び率を検出するにあたり、伸び率の単
位測定長さを、伸び率目標値と伸び率測定値との偏差絶
対値が大きいときには短く、偏差絶対値が小さいときに
は長く変更し、変更された単位測定長さについて、伸び
率を演算することを特徴とする伸び率演算方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7055450A JP2959426B2 (ja) | 1995-03-15 | 1995-03-15 | 伸び率演算方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7055450A JP2959426B2 (ja) | 1995-03-15 | 1995-03-15 | 伸び率演算方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08252620A true JPH08252620A (ja) | 1996-10-01 |
| JP2959426B2 JP2959426B2 (ja) | 1999-10-06 |
Family
ID=12998947
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7055450A Expired - Fee Related JP2959426B2 (ja) | 1995-03-15 | 1995-03-15 | 伸び率演算方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2959426B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007108036A (ja) * | 2005-10-14 | 2007-04-26 | Nippon Steel Corp | 鋼板の伸び率測定装置および伸び率測定方法 |
| JP2008110377A (ja) * | 2006-10-31 | 2008-05-15 | Nippon Steel Corp | 金属板の伸び率計測方法及び装置 |
| CN102641900A (zh) * | 2010-12-01 | 2012-08-22 | 上海宝信软件股份有限公司 | 平整机延伸率控制方法及控制设备 |
-
1995
- 1995-03-15 JP JP7055450A patent/JP2959426B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007108036A (ja) * | 2005-10-14 | 2007-04-26 | Nippon Steel Corp | 鋼板の伸び率測定装置および伸び率測定方法 |
| JP2008110377A (ja) * | 2006-10-31 | 2008-05-15 | Nippon Steel Corp | 金属板の伸び率計測方法及び装置 |
| CN102641900A (zh) * | 2010-12-01 | 2012-08-22 | 上海宝信软件股份有限公司 | 平整机延伸率控制方法及控制设备 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2959426B2 (ja) | 1999-10-06 |
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