JPH08263395A - バス状態分析器及びその内部バス試し方法 - Google Patents

バス状態分析器及びその内部バス試し方法

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JPH08263395A
JPH08263395A JP7333726A JP33372695A JPH08263395A JP H08263395 A JPH08263395 A JP H08263395A JP 7333726 A JP7333726 A JP 7333726A JP 33372695 A JP33372695 A JP 33372695A JP H08263395 A JPH08263395 A JP H08263395A
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庸 鎬 宋
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 バスに基づく多重プロセッサコンピュ−タ−
システムに使用されるバス状態分析器を提供する。 【解決手段】 システムバスを試すための試し用デ−タ
を貯蔵し、システムバスを試すとき、前記試し用デ−タ
を前記システムバスに駆動するためのバス試し手段と、
前記システムバスのデ−タをトレ−スして順に記録する
ためのトレ−スメモリ手段と、前記システムバスから発
生された信号線の値を前記トレ−スメモリ手段に貯蔵
し、貯蔵を中止するためのメモリ制御手段と、トレ−ス
命令及びトリガ−命令を発生して前記メモリ制御手段に
出力し、前記トレ−スメモリ手段に貯蔵されたトレ−ス
デ−タを読み出して前記読み出されたデ−タを前記バス
試し手段から出力された試し用デ−タと比較するための
制御手段とを含むことを特徴とし、他のボ−ドに係わら
ず、かつ、他の別途の装置がなくても内部バスに対する
試しを自動化することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はバスに基づく多重プ
ロセッサコンピュ−タ−システムに用いられるバス状態
分析器に係り、特に別途の外部信号を入力することなく
それ自体の内部のデ−タ経路を試すことができるバス状
態分析器及びそのバス状態分析器の内部デ−タ経路を試
すための方法に関する。
【0002】
【従来の技術】バスに基づく多重プロセッサコンピュ−
タ−システムの開発において、バス上にデ−タをどれほ
ど容易に分析するかは大事な要因となる。このようなバ
ス上のデ−タを分析するための道具は次のように大別さ
れる。その一つは一般にディジタル回路の試しに用いら
れるロジック分析器である。ところが、ロジック分析器
は高値の装備であるのみならず、限られたチャネル数に
よりバス上の全ての信号線が同時に観察しにくく、か
つ、設置と移動にも多くの不便さがある。
【0003】他の一つはバス状態を分析するためにバス
上に装着するバス状態分析器である。かかるバス状態分
析器はボ−ド状に製作して使用することができるので、
設置及び移動が便利であり、バス上の全ての信号線を容
易に検査することができるという長所を有する。また、
ボ−ド状のバス状態分析器はコスト面においても一般の
ロジック分析器に比べて1/5程度に過ぎない。
【0004】図1は一般の同期型バスに基づく多重プロ
セッサコンピュ−タ−システムの構成図であり、バック
プレインボ−ド11内にプロセッサボ−ド12、メモリ
ボ−ド13、入出力処理器ボ−ド(I/O)14及びバ
ス状態分析器用ボ−ド15などが装着される。それぞれ
のボ−ドが他のボ−ドからデ−タを読み取ったり、他の
ボ−ドにデ−タを伝送するときは必ずバックプレインボ
−ド11のシステムバスを経なければならない。
【0005】図2は従来のバス状態分析器の構成ブロッ
ク図であり、図面符号21はタ−ミナル、22は中央処
理部(CPU)、23はメモリ制御部、24はトレ−ス
メモリ、25はバスインタ−フェ−ス部、そして26は
システムバスである。使用者がタ−ミナル21を通して
“トレ−スの開始”命令を入力すれば、中央処理部22
は入力された命令語を解釈してメモリ制御部23に出力
する。
【0006】メモリ制御部23は中央処理部22からの
“トレ−スの開始”命令に応じてバスインタ−フェ−ス
部25に制御信号を出力し、この制御信号に応じてバス
インタ−フェ−ス部25は経路バッファ−を開けてシス
テムバス26上のデ−タをトレ−スメモリ24に伝送す
る。また、メモリ制御部23はトレ−スメモリ24にデ
−タを記録するアドレスと書き込み信号を出力すること
により、システムバス26上のデ−タがトレ−スメモリ
24に順に記録されるようにする。若し、トレ−スの途
中に中央処理部22からトリガ−信号が入力されれば、
メモリ制御部23はトレ−スメモリ24に対する書き込
み信号の出力を中止し、バスインタ−フェ−ス部25に
制御信号を出力してバスインタ−フェ−ス部25の経路
バッファ−を閉める。すると、トレ−スメモリ24はデ
−タの記録を中止して貯蔵されたデ−タを保つようにな
る。
【0007】中央処理部22は使用者の要求に応じてト
レ−スメモリ24に貯蔵されたデ−タを読み出してタ−
ミナル21の画面上に示し、使用者は画面上に示された
デ−タを通してシステムバス26が正常的に動作するか
を試すことができる。前述した従来のバス状態分析器で
はシステム次元の試し中にシステムバス26上のデ−タ
を分析するために、毎クロックごとにシステムバス26
上の全てのデ−タをトレ−スメモリ24に貯蔵しなけれ
ばならない。それ故、トレ−スメモリ24に一度に記録
されるデ−タビットの数はシステムバス26の信号線の
数と同一である。
【0008】一方、バックプレインボ−ド11及びバス
状態分析器15は他のボ−ド、即ち、プロセッサボ−ド
12、メモリボ−ド13、入出力処理器ボ−ド14など
を試すのに用いられるので、これらボ−ドより先に試し
が先行されるべきであり、このバス状態分析器の試しに
は多くの難点がある。第一に、試すデ−タの信号線が多
い。システムバス26から中央処理部22に至る内部デ
−タ経路221,241,251内の信号線の数は同一
であり、一般にその数はほぼ100〜400本程度にな
る。それ故、この全ての信号線に対する試しを完了する
ためには多くの時間と努力が要求される。
【0009】第二に、バス状態分析器は他のボ−ドの試
し段階前に試しが完了されるべきなので、システムバス
に試し用デ−タを印加するボ−ドがない。たとえ、他の
ボ−ドの試しが既に完了されたとしても、このボ−ドが
システムバス上に駆動しうるバスの信号線は限られてい
るので、バスプロトコ−ルにより定義される順序と値の
みを駆動することができる。したがって、バス状態分析
器の内部経路すべてを駆動することは困難である。
【0010】即ち、図2のトレ−スメモリ24から中央
処理部22に至るデ−タ経路221は中央処理部22が
試しデ−タをトレ−スメモリ24に記録したり読み出す
過程を通して試すことができるが、システムバス26か
らトレ−スメモリ24に至るデ−タ経路241,251
は試すことが殆ど不可能である。したがって、従来はシ
ステムバス26からトレ−スメモリ24に至るデ−タ経
路241,251を試すためにシステムバス26の各信
号線ごとに手作業で一連の試しデ−タを入力し、これを
オシロスコ−プなどの装備を用いて一つずつ検証した。
このような方式の試しはシステムバス26の信号線の増
加につれて試し回数が線形的に増えるという問題があっ
た。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は多重プ
ロセッサコンピュ−タ−システムで別途の外部信号を入
力せずにそれ自体の内部のデ−タ経路を試すことができ
るバス状態分析器を提供することにある。本発明の他の
目的は多重プロセッサコンピュ−タ−システムで別途の
外部信号を入力せずに内部デ−タ経路をそれ自体で試す
ためのバス状態分析器の内部バス試し方法を提供するこ
とにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
めの本発明による多重プロセッサシステムのバス状態分
析器は、多数のプロセッサボ−ドがシステムバスにより
共通に連なる多重プロセッサシステムにおいて、システ
ムバスを試すためのデ−タを貯蔵し、システムバスを試
すとき、前記試し用デ−タを前記システムバスに出力す
るためのバス試し手段と、前記システムバスのデ−タを
順に記録するためのトレ−スメモリ手段と、トレ−ス命
令に応じて前記システムバスから発生された信号線の値
を前記トレ−スメモリ手段に貯蔵し、トリガ−命令に応
じて貯蔵を中止するためのメモリ制御手段と、トレ−ス
命令及びトリガ−命令を発生して前記メモリ制御手段に
出力し、前記トレ−スメモリ手段に貯蔵されたトレ−ス
デ−タを読み出して前記読み出されたデ−タを前記バス
試し手段から出力された試し用デ−タと比較するための
制御手段とを含むことを特徴とする。
【0013】前記他の目的を達成するための本発明によ
るバス状態分析器の内部バス試し方法は、多数のプロセ
ッサボ−ドがシステムバスにより共通に連なる多重プロ
セッサシステムで前記システムバスを試すために提供さ
れるバス状態分析器の内部バスを試す方法において、シ
ステムバスを試すためのデ−タを発生して第1貯蔵手段
に貯蔵する過程と、前記第1貯蔵手段の試し用デ−タを
システムバス上に出力する過程と、システムバスのデ−
タをトレ−スするための命令を発生する過程と、前記ト
レ−ス命令に応じてシステムバスから発生される信号線
の値をトレ−スして第2貯蔵手段に貯蔵する過程と、ト
レ−スを中止するためのトリガ−命令を発生する過程
と、前記トリガ−命令に応じて前記第2貯蔵手段への貯
蔵を中止する過程と、前記第1貯蔵手段の試し用デ−タ
を前記第2貯蔵手段のトレ−スデ−タと比較する過程と
を含むことを特徴とする。
【0014】
【発明の実施の形態】添付した図面に基づき本発明を詳
細に説明する。図3は本発明による多重プロセッサコン
ピュ−タ−システムに用いられるバス状態分析器の構成
を説明するためのブロック図である。図面符号31は使
用者が命令を入力したり試し結果を確かめるためのタ−
ミナル、32は該当プロセッサボ−ドの動作を制御する
中央処理部(CPU)、36はシステムバス、34はシ
ステムバス36のデ−タを貯蔵するためのトレ−スメモ
リ、35はシステムバス36とトレ−スメモリ34の間
をインタ−フェ−スするバスインタ−フェ−ス部、33
はバスインタ−フェ−ス部35及びトレ−スメモリ34
の動作を制御するメモリ制御部、そして、37はシステ
ムバス36を試すためのバス試し部である。
【0015】バス試し部37は試し用デ−タを貯蔵する
ための多数のレジスタを含むパタ−ンレジスタ部37
2、システムバス36上に出力する試し用デ−タを貯蔵
しているパタ−ンレジスタ部372内のレジスタの数に
対する情報が記録されるNOP(Number of Pattern)レ
ジスタ371、そして、バス試し部37の全体的な動作
を制御する試し制御部373を含めて構成される。
【0016】本発明によるバス状態分析器はそれ自体で
システムバス36上の全ての信号線に試し用デ−タを出
力することができるバス試し部37を備え、バス試し部
37から出力される試し用デ−タをトレ−スメモリ34
に貯蔵し、試し用デ−タとトレ−スメモリ34に貯蔵さ
れたデ−タを互いに比較することにより、内部デ−タの
経路に対する試しを行う。
【0017】前記構成による動作の説明を図3及び図4
を参照して詳細に説明する。まず、トレ−スメモリ34
から中央処理部32に至るデ−タ経路321に対する試
しは中央処理部32がトレ−スメモリ34に試し用デ−
タを直接的に記録し、記録された試し用デ−タを読み出
してトレ−スメモリ34に貯蔵されたデ−タと比べるこ
とにより行われ、これは前述した従来の技術と差がな
い。
【0018】次いで、システムバス36からトレ−スメ
モリ34に至るデ−タ経路341,351に対する試し
は次のように行われる。中央処理部32は試し制御部3
73を制御してデ−タをパタ−ンレジスタ部372に記
録し、システムバス36上に駆動する総パタ−ンの数を
NOPレジスタ371に記録する(段階41)。
【0019】そして、試し制御部373は中央処理部3
2からの制御信号に応じてパタ−ンレジスタ部372及
びNOPレジスタ371のデ−タ入出力を制御し、パタ
−ンレジスタ部372に貯蔵された試し用デ−タをNO
Pレジスタ371に記録されたパタ−ンの数だけバスイ
ンタ−フェ−ス部35を通してシステムバス36上に出
力する(段階42)。
【0020】中央処理部32はシステムバス36上のデ
−タに対して“トレ−ス開始”命令をし(段階43)、
メモリ制御部33はバスインタ−フェ−ス部35及びト
レ−スメモリ34を制御してシステムバス36上のデ−
タをトレ−スメモリ34に貯蔵するようにする(段階4
4)。中央処理部32はパタ−ンレジスタ部372から
出力された全ての試し用デ−タがトレ−スメモリ34へ
の貯蔵に充分な時間が経過すれば、トレ−スを中止させ
(段階45)、トレ−スメモリ34に貯蔵されたデ−タ
を読み出してパタ−ンレジスタ部372に記録された試
し用デ−タと互いに比較する(段階46)。
【0021】パタ−ンレジスタ部372に記録される試
し用デ−タのパタ−ンを変えながら、前述した試しを繰
り返すことにより、全てのデ−タ経路に対する短絡、干
渉などを含む誤動作を確かめることができる。一方、パ
タ−ンレジスタ部372の各レジスタのビット数はシス
テムバス36の信号線の数と同一にすることにより、シ
ステムバス36上に試し用デ−タを一度に出力させるよ
うにする。
【0022】また、パタ−ンレジスタ部372の各レジ
スタのビット数はシステムバス36の信号線の数より小
さくすることができる。この場合、若し、パタ−ンレジ
スタ部372の各レジスタのビット数がnビットであ
り、システムバス36の信号線の数がmであれば、n:
m分配器(図示せず)を用いて同一な試し用デ−タを多
数回繰り返してシステムバス36上に印加させることに
より試しに適用することができる。
【0023】
【発明の効果】前述したように本発明は別途の外部信号
を入力せずに内部バスをそれ自体で試すことができる多
重プロセッサシステムに用いられるバス状態分析器とそ
の内部バスの試し方法を提供し、他のボ−ドに係わら
ず、かつ、他の別途の装置がなくても内部バスに対する
短絡、干渉、誤動作などの試しを自動化することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】一般的なバスに基づく多重プロセッサコンピュ
−タ−システムの構成図である。
【図2】従来のバス状態器の分析器の構成図である。
【図3】本発明によるバス状態分析器の構成ブロック図
である。
【図4】本発明によるバス状態分析器の内部バス試し方
法を説明するためのフロ−チャ−トである。
【符号の説明】
31 ターミナル 32 中央処理部(CPU) 33 メモリ制御部 34 トレースメモリ 35 バスインターフェース部 36 システムバス 37 バス試し部 321,341,351 データ経路 371 NOPレジスタ 372 パターンレジスタ部 373 試し制御部

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 多数のプロセッサボ−ドがシステムバス
    により共通に連なる多重プロセッサシステムで前記シス
    テムバスを試すためのバス状態分析器において、 システムバスを試すためのデ−タを貯蔵し、システムバ
    スを試すとき、前記試し用デ−タを前記システムバスに
    出力するためのバス試し手段と、 前記システムバスのデ−タを順に記録するためのトレ−
    スメモリ手段と、 トレ−ス命令に応じて前記システムバス上のデ−タを前
    記トレ−スメモリ手段に貯蔵し、トリガ−命令に応じて
    貯蔵を中止するように前記トレ−スメモリ手段を制御す
    るメモリ制御手段と、 前記トレ−ス命令及び前記トリガ−命令を発生して前記
    メモリ制御手段に出力し、前記トレ−スメモリ手段に貯
    蔵されたトレ−スデ−タを読み出して前記読み出された
    デ−タを前記バス試し手段から出力された試し用デ−タ
    と比較するための制御手段とを含むことを特徴とするバ
    ス状態分析器。
  2. 【請求項2】 前記バス試し手段は、 前記試し用デ−タを貯蔵するための第1貯蔵手段と、 前記第1貯蔵手段に貯蔵された試し用デ−タの数に対す
    る情報を貯蔵するための第2貯蔵手段と、 前記第1貯蔵手段に貯蔵された試し用デ−タを前記シス
    テムバスに前記第2貯蔵手段に記録されたデ−タの数だ
    け繰り返して出力するよう前記第1及び第2貯蔵手段を
    制御する試し制御手段とを含むことを特徴とする請求項
    1記載のバス状態分析器。
  3. 【請求項3】 前記第1貯蔵手段において一つの試し用
    デ−タのためのビットの数が前記システムバスの信号線
    の数と同一であることを特徴とする請求項2記載のバス
    状態分析器。
  4. 【請求項4】 前記第1貯蔵手段において一つの試し用
    デ−タのためのビットの数が前記システムバスの信号線
    の数より少なく、前記システムバスを一回試すために前
    記第1貯蔵手段の試し用デ−タを多数回繰り返して前記
    システムバスに出力するための分配手段をさらに含むこ
    とを特徴とする請求項2記載のバス状態分析器。
  5. 【請求項5】 多数のプロセッサボ−ドがシステムバス
    により共通に連なる多重プロセッサシステムで前記シス
    テムバスを試すためのバス状態分析器の内部バスを試す
    方法において、 システムバスを試すためのデ−タを発生して第1貯蔵手
    段に貯蔵する過程と、 前記第1貯蔵手段に貯蔵された試し用デ−タをシステム
    バスに出力する過程と、 システムバスのデ−タをトレ−スするための命令を発生
    する過程と、 前記トレ−ス命令に応じてシステムバス上のデ−タをト
    レ−スして第2貯蔵手段に貯蔵する過程と、 トレ−スを中止するためのトリガ−命令を発生する過程
    と、 前記トリガ−命令に応じて前記第2貯蔵手段への貯蔵を
    中止する過程と、 前記第1貯蔵手段の試し用デ−タと前記第2貯蔵手段の
    トレ−スデ−タとを比較する過程とを含むことを特徴と
    するバス状態分析器の内部バス試し方法。
JP7333726A 1994-12-22 1995-12-21 バス状態分析器及びその内部バス試し方法 Pending JPH08263395A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006252267A (ja) * 2005-03-11 2006-09-21 Oki Electric Ind Co Ltd システム検証用回路
US7913030B2 (en) 2007-12-28 2011-03-22 Sandisk Il Ltd. Storage device with transaction logging capability
US7979662B2 (en) 2007-12-28 2011-07-12 Sandisk Il Ltd. Storage device with transaction indexing capability

Families Citing this family (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5819027A (en) 1996-02-28 1998-10-06 Intel Corporation Bus patcher
US6904480B1 (en) * 1997-12-17 2005-06-07 Intel Corporation Testing a bus using bus specific instructions
US6119254A (en) * 1997-12-23 2000-09-12 Stmicroelectronics, N.V. Hardware tracing/logging for highly integrated embedded controller device
US6687865B1 (en) 1998-03-25 2004-02-03 On-Chip Technologies, Inc. On-chip service processor for test and debug of integrated circuits
DE19832060C2 (de) * 1998-07-16 2000-07-06 Siemens Ag Doppelbare Prozessoreinrichtung
US7079490B1 (en) * 1998-12-03 2006-07-18 Intel Corporation Integrated circuit with trace analyzer
US6829731B1 (en) * 2000-08-14 2004-12-07 International Business Machines Corporation Method and system for generating a design-specific test case from a generalized set of bus transactions
US7039834B1 (en) * 2000-12-21 2006-05-02 Unisys Corporation High speed processor interconnect tracing compaction using selectable triggers
JP4116805B2 (ja) * 2002-03-20 2008-07-09 富士通株式会社 内部バス試験装置及び内部バス試験方法
JP4063593B2 (ja) * 2002-05-30 2008-03-19 富士通株式会社 デバイス情報を管理可能なバスアナライザ
CN1318965C (zh) * 2002-09-10 2007-05-30 华邦电子股份有限公司 测试式样产生方法与其装置
US7609725B2 (en) * 2003-02-28 2009-10-27 Lsi Corporation Large transmissions on packetized data bus
US7213169B2 (en) * 2003-04-03 2007-05-01 International Business Machines Corporation Method and apparatus for performing imprecise bus tracing in a data processing system having a distributed memory
US20040199722A1 (en) * 2003-04-03 2004-10-07 International Business Machines Corp. Method and apparatus for performing bus tracing in a data processing system having a distributed memory
US7302616B2 (en) * 2003-04-03 2007-11-27 International Business Machines Corporation Method and apparatus for performing bus tracing with scalable bandwidth in a data processing system having a distributed memory
US7752016B2 (en) * 2005-01-11 2010-07-06 Hewlett-Packard Development Company, L.P. System and method for data analysis
US7228472B2 (en) * 2005-01-11 2007-06-05 Hewlett-Packard Development Company, L.P. System and method to control data capture
US7809991B2 (en) * 2005-01-11 2010-10-05 Hewlett-Packard Development Company, L.P. System and method to qualify data capture
US7348799B2 (en) * 2005-01-11 2008-03-25 Hewlett-Packard Development Company, L.P. System and method for generating a trigger signal
CN100414893C (zh) * 2005-07-14 2008-08-27 上海华为技术有限公司 一种检测信元总线故障的方法
CN101243402B (zh) * 2005-08-11 2011-08-31 大陆-特韦斯贸易合伙股份公司及两合公司 用于控制或调节至少部分安全关键处理的微处理器系统
TW200734887A (en) * 2006-03-08 2007-09-16 Tyan Computer Corp Computing system and I/O board thereof
US7853850B2 (en) * 2007-02-01 2010-12-14 Raytheon Company Testing hardware components to detect hardware failures
WO2013095518A1 (en) 2011-12-22 2013-06-27 Intel Corporation Accessing data stored in a command/address register device
US20180277234A1 (en) * 2017-03-24 2018-09-27 Mediatek Inc. Failure prevention of bus monitor
US20250061055A1 (en) * 2023-08-15 2025-02-20 Micron Technology, Inc. Storage of data using retired memory rows

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4514845A (en) * 1982-08-23 1985-04-30 At&T Bell Laboratories Method and apparatus for bus fault location
US4622669A (en) * 1983-02-07 1986-11-11 Motorola, Inc. Test module for asynchronous bus
US4550287A (en) * 1983-08-11 1985-10-29 The Boeing Company Data bus test instrument having a tri-colored LED and indicating continuity, voltage and polarity
JPS6339050A (ja) * 1986-08-01 1988-02-19 Nec Corp アドレスバス試験回路
CN86206948U (zh) * 1986-09-16 1987-07-08 北京市太阳能研究所 电子呼叫通话装置
US4847838A (en) * 1987-06-22 1989-07-11 Ag Communication Systems Corporation Circuit for testing the bus structure of a printed wiring card
US4951283A (en) * 1988-07-08 1990-08-21 Genrad, Inc. Method and apparatus for identifying defective bus devices
US4958347A (en) * 1988-11-23 1990-09-18 John Fluke Mfg. Co., Inc. Apparatus, method and data structure for validation of kernel data bus
US5115435A (en) * 1989-10-19 1992-05-19 Ncr Corporation Method and apparatus for bus executed boundary scanning
JP2987855B2 (ja) * 1989-11-17 1999-12-06 東陶機器株式会社 泥漿鋳込み成形体用徐乾室
JPH03180936A (ja) * 1989-12-08 1991-08-06 Matsushita Electric Ind Co Ltd 内部バスのテスト回路
US5161162A (en) * 1990-04-12 1992-11-03 Sun Microsystems, Inc. Method and apparatus for system bus testability through loopback
US5204864A (en) * 1990-08-16 1993-04-20 Westinghouse Electric Corp. Multiprocessor bus debugger
US5132635A (en) * 1991-03-05 1992-07-21 Ast Research, Inc. Serial testing of removable circuit boards on a backplane bus
JPH0528058A (ja) * 1991-07-22 1993-02-05 Fujitsu Ltd メモリアドレスバス試験方式
US5343478A (en) * 1991-11-27 1994-08-30 Ncr Corporation Computer system configuration via test bus
US5423050A (en) * 1991-11-27 1995-06-06 Ncr Corporation Intermodule test across system bus utilizing serial test bus
JP2833387B2 (ja) * 1992-11-30 1998-12-09 日本電気株式会社 交換機バスモニタ回路
JPH06290076A (ja) * 1993-04-05 1994-10-18 Nec Ic Microcomput Syst Ltd デバッグ装置
US5596715A (en) * 1993-07-06 1997-01-21 Digital Equipment Corporation Method and apparatus for testing high speed busses using gray-code data
US5630048A (en) * 1994-05-19 1997-05-13 La Joie; Leslie T. Diagnostic system for run-time monitoring of computer operations
US5602989A (en) * 1995-05-15 1997-02-11 Advanced Micro Devices Inc. Bus connectivity verification technique

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006252267A (ja) * 2005-03-11 2006-09-21 Oki Electric Ind Co Ltd システム検証用回路
US7913030B2 (en) 2007-12-28 2011-03-22 Sandisk Il Ltd. Storage device with transaction logging capability
US7979662B2 (en) 2007-12-28 2011-07-12 Sandisk Il Ltd. Storage device with transaction indexing capability

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