JPH0826464B2 - プラズマエツチング用電極板 - Google Patents
プラズマエツチング用電極板Info
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- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 title claims description 19
- 239000002296 pyrolytic carbon Substances 0.000 claims description 18
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 claims description 15
- 239000007770 graphite material Substances 0.000 claims description 5
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 26
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 25
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 25
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 10
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 10
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 9
- 239000000463 material Substances 0.000 description 8
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 7
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 6
- ATUOYWHBWRKTHZ-UHFFFAOYSA-N Propane Chemical compound CCC ATUOYWHBWRKTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 3
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 2
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 description 2
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 2
- 229910021397 glassy carbon Inorganic materials 0.000 description 2
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 2
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 2
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000001294 propane Substances 0.000 description 2
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 239000000571 coke Substances 0.000 description 1
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 1
- 238000003801 milling Methods 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 239000011271 tar pitch Substances 0.000 description 1
Landscapes
- ing And Chemical Polishing (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Description
ッチング処理によって形成する際に使用するプラズマエ
ッチング用電極板に関する。
形状の陽極板(10)と、これと対向する陰極板(20)と
を反応チャンバー(30)の中に備え、電極板(10)(2
0)間に数十ボルトから数百ボルトの電位差の電場をつ
くり、反応チャンバー(30)内にCF4等の反応ガスを供
給してプラズマ状態とし、陰極板(20)上に載置したウ
エハ(40)にエッチング処理をほどこす構造となってい
る。
る電極としては、一般に高密度黒鉛よりなる円板が使用
されている。高密度黒鉛は、優れた導電性と化学的安定
性を備え、高密度化も容易であることから、プラズマエ
ッチング用電極としては特性的に極めて好適な電極材料
である。
カーボンの微粉をタールピッチなどのバインダー成分と
共に高密度に形成したのち焼成することにより黒鉛化し
たものであり、巨視的には黒鉛の粒体集合による組織構
造を有しているため、プラズマエッチングのような高エ
ネルギーを発生させるところでは、粒体脱落による消耗
が激しく、また、脱落した黒鉛粒子がウエハ上面を汚染
して所定パターンの形成を阻害する等の欠点を招く不都
合がある。この不都合を解消するものとして、特開昭62
−252942号公報に開示されているガラス状カーボンがあ
るが、このガラス状カーボンは、高密度黒鉛に比べ加工
が困難でありコスト高となるという問題があった。
プラズマの放電状態にムラが生じ、この放電ムラによる
エッチングバラツキにより、ウエハに所定パターンを形
成することが困難となり、さらに、この放電ムラによっ
て電極板が極部的に消耗するという問題も残されてい
た。
その解決しようとする課題は、粒体脱落による電極の消
耗及びウエハの汚染と、放電ムラによるエッチングバラ
ツキ及び極部消耗である。
くまた、放電ムラの生じないプラズマエッチング用電極
板を提供することにある。
粗度がRmax30μm以下であることを特徴とするプラズマ
エッチング用電極板」である。
度が触針法(JIS−B0601、以下同じ)で測定してRmax30
μm以下である熱分解炭素被膜を形成してなるものであ
る。面粗度をRmax30μm以下の範囲としたのは、面粗度
が大きい電極は熱分解炭素被膜に局部的な消耗が生じ、
寿命が短くなるためである。
法としては、各種化学蒸着法により行なうことができ
る。通常は、黒鉛基材を加熱し、メタン、プロパン等の
炭化水素ガスを高温の黒鉛基材に接触させることにより
反応させ、黒鉛基材の表面に熱分解炭素を生成させる方
法による。この場合、炭化水素ガスの濃度調整、あるい
はキャリアガスには水素ガスが適している。また、反応
は常圧もしくは減圧下で行なわれるが、面粗度がRmax30
μm以下であって、被膜の均一性、平滑性を得るために
は減圧下で行なうのが好ましく、300Torr以下で行なう
のが望ましい。なお、面粗度がRmax30μm以下になるよ
うにするには、フライス加工した後、バフで研摩する等
の機械加工で形成してもよい。
さが望ましく、厚すぎても被膜の剥離やクラックを生じ
やすくなるので、50μm〜600μm程度が最適である。
用がある。すなわち、 このプラズマエッチング用電極板にあっては、熱分解
炭素被膜により黒鉛基材の表面は、高密度黒鉛のような
粒体集合系とは異質の緻密組織となっているため、プラ
ズマエッチングのような高エネルギーを発生させるとこ
ろでも、電極材料である黒鉛の粒体脱落による消耗を防
止することが可能となる。
るため、プラズマの放電ムラが生ぜず、つまり、安定し
たプラズマ放電が得られるため、エッチングバラツキや
電極板の極部消耗が生じないのである。
も、黒鉛材表面の面粗度をRmax30μm以下に形成されて
いれば、放電ムラをなくすことが可能となる。
実施例について、比較例と共に説明する。
し、これを反応炉内に入れ、2000℃に加熱し、水素ガス
をキャリアとしてプロパンを炉内に供給し、黒鉛基材上
に厚さが500μmの熱分解炭素被膜を形成させた面粗度R
max15μmの電極板を作製した。
同様の方法でその表面が熱分解炭素被膜で被覆された面
粗度Rmax50μmの電極板を作製した。
してその表面の面粗度がRmax50μmの電極板を作製し
た。
を、それぞれプラズマエッチング装置にセットし、反応
ガスとしてCF4を用い、反応チャンバー中のガス圧を1.0
Torrとして、200個のシリコンウエハのエッチング処理
を行なった。
ける不良品発生はなく、熱分解炭素被膜の剥離、黒鉛の
粒体脱落も認められなかった。また電極板の消耗度合は
比較例2の電極板の1/10程度であった。また、比較例2
については黒鉛の粒体脱落が認められた。
黒鉛の粒体脱落は認められなかったが、熱分解炭素被膜
に局部的な消耗がみられた。しかし実施例1について
は、局部的な消耗も殆みられなかった。
板は、「黒鉛材表面に熱分解炭素被膜を形成して成り、
その面粗度がRmax30μm以下であること」をその構成上
の特徴としている。
黒鉛基材の表面は、熱分解炭素被膜により、高密度黒鉛
のような粒体集合系とは異質の緻密組織となっているた
め、プラズマエッチングのような高エネルギーを発生さ
せるところでも、電極材料である黒鉛の粒体脱落による
消耗やウエハの汚染を防止することができる。また、熱
分解炭素被膜の面粗度がRmax30μm以下であるため、プ
ラズマの放電ムラが生ぜず、つまり、安定したプラズマ
放電が得られるため、エッチングバラツキや電極板の極
部消耗が生じない。
りを向上させると共に、電極板の長寿命化による大幅な
コストダウンを図ることができる。
る。 符号の説明 10…陽極板、20…陰極板、30…反応チャンバー、40…ウ
エハ。
Claims (1)
- 【請求項1】黒鉛材表面に熱分解炭素被膜を形成して成
り、その面粗度がRmax30μm以下であることを特徴とす
るプラズマエッチング用電極板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1274015A JPH0826464B2 (ja) | 1989-10-20 | 1989-10-20 | プラズマエツチング用電極板 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1274015A JPH0826464B2 (ja) | 1989-10-20 | 1989-10-20 | プラズマエツチング用電極板 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03138381A JPH03138381A (ja) | 1991-06-12 |
| JPH0826464B2 true JPH0826464B2 (ja) | 1996-03-13 |
Family
ID=17535772
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1274015A Expired - Lifetime JPH0826464B2 (ja) | 1989-10-20 | 1989-10-20 | プラズマエツチング用電極板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0826464B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100309225B1 (ko) | 1996-01-26 | 2002-02-19 | 모리시타 요이찌 | 반도체장치의제조장치및드라이에칭방법 |
| JP3454333B2 (ja) * | 1996-04-22 | 2003-10-06 | 日清紡績株式会社 | プラズマエッチング電極 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5687667A (en) * | 1979-12-20 | 1981-07-16 | Toshiba Corp | Reactive ion etching method |
| JPS60152676A (ja) * | 1984-01-18 | 1985-08-10 | Hitachi Choko Kk | 表面被覆超硬質部材 |
| JPS6464324A (en) * | 1987-09-04 | 1989-03-10 | Denki Kagaku Kogyo Kk | Electrode for plasma etching |
| JPS6464325A (en) * | 1987-09-04 | 1989-03-10 | Denki Kagaku Kogyo Kk | Electrode for plasma etching |
| JPS6489518A (en) * | 1987-09-30 | 1989-04-04 | Nec Corp | Parallel flat board electrode type plasma etching device |
-
1989
- 1989-10-20 JP JP1274015A patent/JPH0826464B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03138381A (ja) | 1991-06-12 |
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