JPH0827404B2 - 光学素子の製造方法 - Google Patents

光学素子の製造方法

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JPH0827404B2
JPH0827404B2 JP61265938A JP26593886A JPH0827404B2 JP H0827404 B2 JPH0827404 B2 JP H0827404B2 JP 61265938 A JP61265938 A JP 61265938A JP 26593886 A JP26593886 A JP 26593886A JP H0827404 B2 JPH0827404 B2 JP H0827404B2
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resist
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照弘 塩野
謙太郎 瀬恒
攻 山崎
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Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、光学素子の製造方法に関するものであり、
特に光学特性の優れた薄膜形微小光学素子を提供するも
のである。
従来の技術 近年、マイクロフレネルレンズやマイクログレーティ
ング等の薄膜形微小光学素子は、小形軽量で種々の機能
を有する光学素子として注目されている。種々の光分布
や高効率を実現しようとすると、フレネルレンズやグレ
ーティングの断面形状を制御する必要がある。例えば、
断面形状を適当な膜厚で鋸歯状とすると、回折効率はほ
ぼ100%という高効率を実現することができる。
従来の薄膜形微小光学素子の製造方法としては、まず
第2a図に示すように、基板1上に電子ビームレジスト2
とAu等の帯電防止膜3を塗布又は堆積し、bに示すよう
に電子ビーム4の加速電圧は一定のまま電子ビーム4の
走査回数等を制御してレジスト2上に直接描画してレジ
ストを露光し、その後cに示すように帯電防止膜3のエ
ッチング現像処理をすることにより断面形状が鋸歯状の
フレネルレンズ,グレーティング2Aを製造するという方
法があった。(藤田他:“電子ビーム描画作製によるブ
レーズ化マイクロフレネルレンズ",電子通信学会論文誌
(c),J66−C,1,pp。85−91(昭58−1)) 発明が解決しようとする問題点 このような従来の方法では、低質量の電子ビームを用
いて描画しているため,レジスト内や基板からの散乱の
ためいわゆる近接効果が生じ、さらにはレジストの感度
特性を正確に補正して露光量を調整する必要があり、第
3図cに示すようなグレーティングのだれや表面の凹凸
が生じやすく、理想的な鋸歯形状の実現は難しく、つま
りは良好な光学特性をもつ光学素子は得られなかった。
本発明はかかる点に鑑みてなされたもので、光学特性
の優れた薄膜形光学素子を提供することを目的とする。
問題点を解決するための手段 本発明は、基板上にポジ形レジストを塗布し、イオン
ビームを用いて、その加速電圧を、光学素子の形状に対
応するように変化させながら、上記ポジ形レジストに集
束させて描画し、現像処理を行い、上記レジストの膜厚
を変化させるものである。
作用 本発明は電子ビームに比べて質量の重いイオンビーム
を用いているためレジスト内での散乱が生じにくくな
る。又、イオンの侵入深さは加速電圧に依存して変化す
ることを利用して深さ方向の露光制御を精密に行うこと
が出来る。
実 施 例 第1図は本発明の一実施例のグレーティングの製造工
程図である。同図において、1は基板、6はポジ形レジ
スト、3は帯電防止膜である。本実施例では、基板1と
してガラス,ポジ形レジスト6としてPMMA,帯電防止膜
3としてAu膜を用いた。しかるに,基板1としてはグレ
ーティングの使用波長において透過率の優れているもの
なら何でもよい。又Au膜3はイオンビーム5の帯電を防
止するためだけに用いているものであり、イオンビーム
5の帯電の心配のない場合、つまり基板1あるいはレジ
スト2が導電性のある場合には必要がないし、Al等の他
の金属薄膜でもよい。
次に、製造工程について説明する。まず、第1図aに
示すように基板1の上に、ポジ形レジスト6を例えば、
1.3μm塗布し、その上に帯電防止膜3を例えば、100Å
真空蒸着した。次に、第1図bに示すように製造する例
えば、周期5μmのグレーティング2′の形状に対応す
るように、イオンビーム5の加速電圧を周期的に大きな
値から小さな値へと、又は小さな値から大きな値へと変
化させて、ポジ形レジスト6に集束させて直接描画し
た。本発明者らは、イオンビーム5のレジスト6層内へ
の侵入深さは、イオンビーム5の加速電圧で決まり、多
少露光量がオーバーしても、現像後の膜厚はほぼ一定で
あることを発見した。例えば、イオンビームとしてBe2+
を用い、加速電圧の大きさが、50KV,100KV,150KV,200KV
で適性露光以上のとき、現像によりはく離したレジスト
6の膜厚は、それぞれ、0.5μm,0.8μm,1.0μm,1.2μm
となり露光量には依存せず加速電圧でほぼ決定された。
又、イオンビーム5は基板1側にほとんど透過しないの
で、レジスト6の感度がよくなり、描画時間も短くなっ
た。
本実施例では、Be2+ビーム5の加速電圧を、例えばグ
レーティング20の山の部分は1KV,谷の部分は220KVと設
定し、グレーティング2′形状に対応するように1KVか
ら220KVまでなめらかに変化させた。最後に、帯電防止
膜3をエッチングして除去し、現像処理をすると、第1
図cに示すように、描画したイオンビームの加速電圧が
高いところほど、レジスト6が多くはく離して、レジス
ト6の膜厚を変化させることができ、これによりグレー
ティング20を得た。グレーティング20は、イオンビーム
5のレジスト6内での散乱、又は基板1からの散乱の影
響を受ける。いわゆる近接効果の影響もなく、設計通り
のだれや凹凸のない良好な鋸歯状の断面形状が実現でき
た。さらに、イオンビーム5の侵透深さは露光量によら
ずほぼ加速電圧で決まるので、従来例のようにレジスト
6の感度特性を正確に補正して露光量を調整する必要も
なくなり、再現性よく良好な断面形状が容易に実現する
ことができた。つまりは、光学特性のよいグレーティン
グ20が得られた。
レジスト6の膜厚は本実施例ではd=1.3μmとした
が、これは、グレーティング20の使用波長をHe−Neレー
ザのλ=0.63,28μmとし、レジスト6のPMMAの屈折率
がn=1.5であるため、1次回折効率はd=λ/(n−
1)=1.3のとき最大となるためである。ポジ形のレジ
ストの屈折率は、1.5〜1.7程度であるため、高効率を得
ようとした場合、レジスト6の膜厚は2=2λ以下でよ
いことがわかった。
本実施例では、イオンとしてBe2+を用いた場合につい
て説明したが、他のイオンを用いても同様の効果が得ら
れた。このとき、イオンの質量が重いほど侵入深さが浅
くなったため、加速電圧をイオンの質量に応じて適切に
設定する必要があった。又、加速電圧が250KV以下を実
用として考えたとき、質量27のAl2+は250KVで侵入深さ
が0.8μmであり、質量28のSi2+は250KVで侵入深さが0.
6μmであった。グレーティング20等の光学素子は使用
波長λ=0.4〜1μmのものが多いので、レジスト6の
最大膜厚は2λ程度つまりは0.8μm〜2μm必要であ
る。以上の実験から、質量27以下のイオンを用いると、
特に高効率をもつ光学素子が実現できることを発見し
た。本実施例ではレジスト6としてPMMAを用いた場合に
ついて説明したが、他のレジストについても同様に効果
があった。
第2図は、本発明の一実施例の作製完了後のグレーテ
ィング20の使用例を示すものである。基板1側から、入
射光7として例えばHe−Neレーザ光を入射させると、グ
レーティング20により回折されて、入射光7とは違った
角度で回折光8として出射される例である。
本実施例では、周期5μmのグレーティング20を作製
したため、回折光8の出射角度は、入射光7に対して約
7゜であった。又、本実施例によりだれのない良好なグ
レーティング20が作製できたため、回折された光の割合
は、100%に近い良好なものであった。又、入射光7は
グレーティング20側から入射してもよい。
又、本実施例では断面形状が鋸歯状のグレーティング
について説明を行ってきたが、種々の断面形状をもつグ
レーティングやフレネルレンズ等の他の薄膜形微小光学
素子の製造方法についても同様の効果が得られるのは言
うまでもない。
発明の効果 以上のように本発明は、集束イオンビームを用いて、
その加速電圧を、光学素子の形状に対応するように変化
させながらポジ形レジストに照射させて描画し、現像処
理を行い、上記レジストの膜厚を変化させることによ
り、レジスト内の散乱と基板からの散乱が起こりにくく
なるため、良好な鋸歯形状の断面を有する光学素子が実
現され、同時にまた、イオンビームは基板側にほとんど
透過しないでレジスト内に留まるため、レジストの感度
が良くなり描画時間の短縮が図れ、さらに、イオンの侵
入深さは加速電圧に依存することを利用することによ
り、多少露光量がオーバしても、現像後の膜厚はその影
響を受けず、深さ方向の膜厚制御を再現性よく精密に行
なうことができるため、光学特性の良い光学素子が実現
できるという優れた効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図,第2図はそれぞれ本発明の一実施例のグレーテ
ィングの製造工程図および構成図、第3図は従来例のグ
レーティングの製造工程図である。 1……基板、20……グレーティング、5……イオンビー
ム、6……ポジ形レジスト。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭57−112705(JP,A) 特開 昭61−172101(JP,A) 特開 昭61−27505(JP,A)

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板上にポジ形レジストを塗布し、上記レ
    ジストにイオンビームを、光学素子の形状に対応するよ
    うに加速電圧を変化させながら集束させて描画し、現像
    処理を行い上記レジストの膜厚を変化させることを特徴
    とする光学素子の製造方法。
  2. 【請求項2】イオンの質量は27以下であることを特徴と
    する特許請求の範囲第1項に記載の光学素子の製造方
    法。
  3. 【請求項3】光学素子はフレネルレンズであることを特
    徴とする特許請求の範囲第1項に記載の光学素子の製造
    方法。
  4. 【請求項4】光学素子はグレーティングであることを特
    徴とする特許請求の範囲第1項に記載の光学素子の製造
    方法。
  5. 【請求項5】レジストの膜厚は光学素子の使用波長の2
    倍以下であることを特徴とする特許請求の範囲第1項に
    記載の光学素子の製造方法。
JP61265938A 1986-11-07 1986-11-07 光学素子の製造方法 Expired - Lifetime JPH0827404B2 (ja)

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JPS63118701A JPS63118701A (ja) 1988-05-23
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS6025761B2 (ja) * 1980-12-29 1985-06-20 株式会社島津製作所 ホログラフイック・グレ−ティングの製造方法
JPS6127505A (ja) * 1984-07-18 1986-02-07 Nippon Sheet Glass Co Ltd プレ−ズ光学素子の製造方法
JPS61172101A (ja) * 1985-01-25 1986-08-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd 回折格子の作成方法

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