JPH08285707A - 力検出ユニット及びこの力検出ユニットを備える自動バフ研磨装置 - Google Patents

力検出ユニット及びこの力検出ユニットを備える自動バフ研磨装置

Info

Publication number
JPH08285707A
JPH08285707A JP7089816A JP8981695A JPH08285707A JP H08285707 A JPH08285707 A JP H08285707A JP 7089816 A JP7089816 A JP 7089816A JP 8981695 A JP8981695 A JP 8981695A JP H08285707 A JPH08285707 A JP H08285707A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
buff
detection unit
detection
base
pressure contact
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP7089816A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3629751B2 (ja
Inventor
Yusuke Kosaka
雄介 小坂
Taiichi Kusano
泰一 草野
Masayuki Hoshi
雅之 星
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP08981695A priority Critical patent/JP3629751B2/ja
Publication of JPH08285707A publication Critical patent/JPH08285707A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3629751B2 publication Critical patent/JP3629751B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Force Measurement Appropriate To Specific Purposes (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 直交する2方向の力の検出を可能とし、小型
軽量・組立容易化を図る。 【構成】 環状の基台部53Aと、この基台53Aの中
央部に配設される環状の中間基台部53Bと、基台部5
3Aと中間基台部53Bとを連結する弾性変位可能な中
間基台支持片53F乃至53Iと、中間基台部53Bの
中央部に配設されて圧接力に応じて変位する軸支持台部
53Cと、中間基台支持片53F乃至53Iと直交する
方向に設けられ中間基台部53Bと軸支持台部53Cと
を連結する弾性変位可能な軸支持台支持片53J乃至5
3Mと、基台部53Aと中間基台部53Bとの間に設け
られた第1の検出部53Pと、中間基台部53Bと軸支
持台部53Cとの間に第1の検出部53Pと直交して設
けられた第2の検出部53Qとから構成される圧接力セ
ンサ基板53と、第1及び第2の検出部53P、53Q
とに生じる変位量を検出する第1及び第2のLVDT5
4、55とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】また、本発明は、検出対象体とし
て、例えば、ビデオテープレコーダ等の磁気記録再生装
置に搭載される回転型磁気ヘッド装置を構成する回転ド
ラムをバフが圧接することによって生じる圧接力を検出
する力検出ユニット及び回転ドラムをバフ研磨加工する
ために用いて好適な力検出ユニットを備える自動バフ研
磨装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、バフ研磨装置は、概略、被研磨
物を研磨するバフと、このバフが支持された支軸と、こ
の支軸を回転駆動する駆動モータとを備えて構成されて
いる。バフは、円板状に形成されており、中央部が支軸
に支持されて固定されている。支軸は、先端部にバフを
支持しており、基端部が駆動モータの回転軸に連結され
ている。駆動モータは、回転軸を回転駆動することによ
って、支軸を介してバフを回転させる。そして、バフ研
磨装置は、バフの外周部に研磨材が塗布されて、被研磨
物の被研磨部に回転されたバフの外周部を突き当てるこ
とによってバフ研磨加工を行う。
【0003】ところで、磁気記録再生装置に搭載される
回転型磁気ヘッド装置を構成する回転ドラムは、バフ研
磨装置によって磁気ヘッドが配設されるヘッド窓孔がバ
フ研磨加工されている。
【0004】ビデオテープレコーダ等の磁気記録再生装
置は、磁気記録再生するために回転型磁気ヘッド装置が
搭載されている。この回転型磁気ヘッド装置3は、図3
0に示すように、磁気ヘッド3Aと、この磁気ヘッド3
Aが設けられる回転ドラム3Bと、この回転ドラム3B
に重ね合わされる固定ドラム3Cと、これら回転ドラム
3B及び固定ドラム3Cを支持する支軸3Dとから構成
されている。
【0005】磁気ヘッド3Aは、閉磁路を構成する一対
の磁気コア半体が組み合わされて構成された図示しない
磁気コアと、この磁気コアに凹設された図示しない巻き
線ガイド溝に巻回された図示しないコイルとから構成さ
れている。また、磁気コアには、微小間隙である図示し
ない磁気ギャップが形成されている。
【0006】回転ドラム3Bは、金属材料によって有底
筒状に形成されており、底面部の中央部に図示しない軸
穴が設けられている。回転ドラム3Bには、開口縁部の
複数箇所に、外周部に開口された略矩形状のヘッド窓孔
3Eがそれぞれ凹設されている。回転ドラム3Bには、
ヘッド窓孔3E内に、磁気ヘッド3Aの磁気ギャップが
外周部から僅かに突出した状態で接合固定されている。
【0007】固定ドラム3Cは、有底筒状に形成されて
おり、底面部の中央部に図示しない軸穴が設けられてい
る。支軸3Dは、回転ドラム3B及び固定ドラム3Cと
の各軸穴にそれぞれ挿通されている。支軸3Dは、一端
部が固定ドラム3Cに支持されて、中途部に回転ドラム
3Bを回転自在に支持している。
【0008】そして、回転型磁気ヘッド装置3は、磁気
テープTの情報信号を記録再生する際、回転ドラム3B
の外周部に沿って磁気テープTが略螺旋状に巻き付けら
れ、この磁気テープTに回転ドラム3Bの外周部から僅
かに突出した磁気ヘッド3Aの磁気ギャップが当接され
る。回転型磁気ヘッド装置3は、回転ドラム3Bを回転
させることによって、磁気テープTの信号記録領域に、
この磁気テープT上を摺動する磁気ヘッド3Aが情報信
号の記録再生を行っている。
【0009】上述した回転型磁気ヘッド装置3は、磁気
テープTを記録再生する際、回転ドラム3Bのヘッド窓
孔3Eの外周部側のエッジ部に磁気テープTが当接する
ため、このエッジ部に曲面を形成する必要がある。した
がって、回転ドラム3Bは、バフ研磨装置によって、ヘ
ッド窓孔3Eの外周部側のエッジ部がバフ研磨加工され
て曲面が形成されている。
【0010】この回転ドラム3Bのヘッド窓孔3Eは、
図31に示すように、フライス加工によって研削されて
形成される。つぎに、回転ドラム3Bは、図32に示す
ように、ヘッド窓孔3Eに回転させたバフを圧接させる
ことによってバフ研磨加工が施されて、ヘッド窓孔3E
の周囲に滑らかな研磨部分3Fが形成されている。
【0011】回転ドラム3Bについて、ヘッド窓孔3E
の研磨部分3Fに要求される形状を図33を参照して説
明する。回転ドラム3Bのヘッド窓孔3Eの研磨部分3
Fは、上面3G側の開口端部に位置して形成される上端
側曲面3Hと、磁気テープTの走行方向に直交する方向
に形成される側面側曲面3Iと、磁気テープTの走行方
向と平行な方向に形成される底面側曲面3Jと、側面側
曲面3Iと底面側曲面3Jとが連続する位置に形成され
る下端側曲面3Kとを有している。そして、これら上端
側曲面3H、側面側曲面3I、底面側曲面3J及び下端
側曲面3Kとは、各曲面の曲率がそれぞれ管理される必
要がある。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、回転
ドラム3Bは、ヘッド窓孔3Eの各曲面が、バフ研磨装
置を用いて複雑な3次元研磨を行うことによって形成さ
れている。また、回転ドラム3Bには、径寸法やヘッド
窓孔3Eの個数、位置及び幅寸法等の異なる多品種があ
るため、手作業でバフ研磨加工が行われている。
【0013】そして、回転ドラム3Bのヘッド窓孔3E
は、手作業によってバフ研磨されているため、作業者の
熟練を要する作業であった。また、この手作業は、バフ
研磨する際、作業者に研磨材等が飛散するため、良好な
作業環境を確保することが困難であった。したがって、
バフ研磨装置は、回転ドラム3Bのヘッド窓孔3Eの各
曲面に、十分な加工精度を達成することが困難であっ
た。
【0014】上述した問題点の対策として、回転ドラム
3Bのヘッド窓孔3Eのバフ研磨工程を自動化するため
に、バフと回転ドラム3Bのヘッド窓孔3Eとの間に作
用する圧接力を測定するとともにバフと回転ドラム3B
のヘッド窓孔3Eとの間の相対的な位置を測定し、これ
ら測定値に基づいてバフと回転ドラム3Bのヘッド窓孔
3Eとの間の相対位置及び圧接力とをそれぞれ管理する
方法が考慮される。
【0015】そして、圧接状態におけるバフと回転ドラ
ム3Bのヘッド窓孔3Eとの間に作用する圧接力を測定
するために、圧接力検出ユニットが採用されている。一
般に、圧接力検出ユニットとしては、歪みゲージを備え
るものが市販されており、広く用いられている。
【0016】ところで、歪ゲージ等を備える市販の圧接
力検出ユニットは、回転ドラム3Bの中心方向と回転ド
ラム3Bの円周方向との2方向の圧接力を測定できる小
型軽量で安価なものがない。また、市販の圧接力検出ユ
ニットは、広いレンジで微弱な圧接力の検出が可能な高
分解能でかつ高剛性のものがない。
【0017】さらに、この圧接力検出ユニットが備える
歪みゲージは、弾性変形する構造体に貼り付ける際、貼
り付け位置よって検出力の変化が大きい、剥がれ易い、
破損し易い等の問題がある。したがって、圧接力検出ユ
ニットが備える歪みゲージの貼り付け作業は、熟練を要
するという問題点があった。
【0018】上述したように、圧接力検出ユニットとし
ては、回転ドラム3Bのヘッド窓孔3Eのバフ研磨工程
に必要とされる機能、性能を有するものが得られていな
い。したがって、回転ドラム3Bのヘッド窓孔3Eをバ
フ研磨する研磨工程は、未だ自動化が実現されていない
という問題があった。
【0019】そこで、本発明は、検出対象体に負荷され
る直交する2方向の力の検出を可能とするとともに、全
体の小型軽量化、組立容易化が図られた力検出ユニット
を提供することを目的とする。
【0020】また、本発明は、回転ドラムのヘッド窓孔
に対してバフを所定の圧接力で圧接させることを可能と
して、高精度なバフ研磨加工の自動化を可能にする自動
バフ研磨装置を提供することを目的とする。
【0021】
【課題を達成するための手段】上述した目的を達成する
ため、本発明に係る力検出ユニットは、環状の基台と、
この基台の中央部に配設されて検出対象体に負荷される
力に応じて変位する中間基台と、基台の内周部と中間基
台の外周部とに両端が一体に連結された弾性変位可能な
線状の連結片部と、基台の内周部と中間基台の外周部と
の間に位置して間隙を構成する対向する一対の検出片を
有する検出部と、この検出部に配設されて検出部に生じ
る変位量を検出する差動トランスとを備える。
【0022】また、この力検出ユニットは、環状の中間
基台と、この中間基台の中央部に配設されて検出対象体
に負荷される力に応じて変位する支持台と、連結片部と
直交する方向に設けられ中間基台の内周部と支持台の外
周部とに両端が一体に連結された弾性変位可能な線状の
第2の連結片部と、中間基台の内周部と支持台の外周部
との間に位置して間隙を構成する対向する一対の検出片
を有するとともに検出部と直交して設けられた第2の検
出部と、この第2の検出部に配設されて第2の検出部に
生じる変位量を検出する差動トランスとを備える。
【0023】また、本発明に係る力検出ユニットを備え
る自動バフ研磨装置は、回転型磁気ヘッド装置を構成す
る回転ドラムの外周部に設けられ磁気ヘッドが配設され
るヘッド窓孔を研磨するバフと、このバフを回転駆動す
るバフ駆動手段とを有するバフ部と、回転ドラムを保持
するチャッキング部材とこのチャッキング部材に保持さ
れた回転ドラムのヘッド窓孔の位置をバフ部に臨む位置
に回転移動するドラム移動手段とを有するチャッキング
部と、チャッキング部に保持された回転ドラムに対して
バフ部を接離動作させるバフ移動手段と、バフ部に対し
て回転ドラムを保持したチャッキング部を接離動作させ
るチャッキング移動手段と、バフと回転ドラムのヘッド
窓孔との相対的な位置を検出する位置検出部と、環状の
基台と、この基台の中央部に配設されて検出対象体に負
荷される力に応じて変位する中間基台と、基台の内周部
と中間基台の外周部とに両端が一体に連結された弾性変
位可能な線状の連結片部と、基台の内周部と中間基台の
外周部との間に位置して間隙を構成する対向する一対の
検出片を有する検出部と、この検出部に配設されて検出
部に生じる変位量を検出する差動トランスとから構成さ
れて回転ドラムのヘッド窓孔に対して圧接されたバフの
圧接力を検出する力検出ユニットと、位置検出部が検出
する位置検出信号及び力検出ユニットが検出する圧接力
検出信号とに基づいてドラム移動手段とバフ移動手段及
びチャッキング移動手段とをそれぞれ駆動してバフと回
転ドラムのヘッド窓孔に対して位置制御及び圧接力制御
とを行う制御部とを備える。
【0024】
【作用】以上のように構成した本発明に係る力検出ユニ
ットは、中間基台が、検出対象体に負荷される力に応じ
て、連結部が弾性変形することによって変位する。力検
出ユニットは、中間基台が変位することに伴って、検出
部が有する対向する一対の検出片がそれぞれ変位され
る。そして、力検出ユニットは、検出部に配設された差
動トランスが、一対の検出片がそれぞれ変位することに
よって間隙に生じる変位量を検出する。
【0025】また、力検出ユニットは、支持台が、検出
対象体に負荷される力に応じて、第2の連結部が弾性変
形することによって変位する。力検出ユニットは、支持
台が変位することに伴って、第2の検出部が有する対向
する一対の検出片がそれぞれ変位される。そして、力検
出ユニットは、第2の検出部に配設された差動トランス
が、一対の検出片がそれぞれ変位することによって間隙
に生じる変位量を検出する。したがって、力検出ユニッ
トは、検出部及び第2の検出部に設けられた差動トラン
スが、直交する2方向の圧接力をそれぞれ検出すること
ができる。
【0026】また、本発明に係る力検出ユニットを備え
る自動バフ研磨装置は、制御部が、位置検出部が検出す
る位置検出信号及び圧接力検出部が検出する圧接力検出
信号とに基づいて、ドラム移動手段、バフ移動手段及び
チャッキング移動手段とを制御する。
【0027】
【実施例】以下、本発明の具体的な実施例について、実
施例自動バフ研磨装置1を図1乃至図29を参照して説
明する。この自動バフ研磨装置1は、検出対象体として
回転型磁気ヘッド装置3を構成する回転ドラム3Bのヘ
ッド窓孔3に、バフ21を圧接させることによって生じ
た圧接力を検出する力検出ユニットを備える自動バフ研
磨装置として適用された例である。
【0028】以下、 [1] 回転型磁気ヘッド装置及び回転ドラムの構成 [2] 装置全体の構成 [3] バフ部の構成 [4] バフ位置決め機構及びドラム搬送機構の構成 [5] チャッキング部及びテーブル移動機構の構成 [6] ドレッシング部の構成 [7] 研磨材塗布部の構成 [8] 圧接力センサ部の構成 [9] 位置センサ部の構成 [10] 制御部の構成 の順序で説明する。
【0029】[1] 回転型磁気ヘッド装置及び回転ド
ラムの構成 詳細な説明を省略するが、従来より回転型磁気ヘッド装
置3は、図30に示すように、磁気ヘッド3Aと、この
磁気ヘッド3Aが設けられる回転ドラム3Bと、この回
転ドラム3Bに重ね合わされる固定ドラム3Cと、これ
ら回転ドラム3B及び固定ドラム3Cをそれぞれ支持す
る支軸3Dとから構成されている。
【0030】磁気ヘッド3Aには、先端部に、微小間隙
である図示しない磁気ギャップが形成されている。回転
ドラム3Bは、金属材料によって有底筒状に形成されて
おり、底面部の中央部に図示しない軸穴が設けられてい
る。回転ドラム3Bには、開口縁部の複数箇所に、外周
部に開口された略矩形状のヘッド窓孔3Eがそれぞれ凹
設されている。そして、回転ドラム3Bには、ヘッド窓
孔3E内に、磁気ヘッド3Aの磁気ギャップが外周部か
ら僅かに突出した状態で接合固定されている。固定ドラ
ム3Cは、有底筒状に形成されており、底面部の中央部
に図示しない軸穴が設けられている。支軸3Dは、回転
ドラム3B及び固定ドラム3Cとの各軸穴にそれぞれ挿
通されている。支軸3Dは、一端部が固定ドラム3Cに
支持されて、中途部に回転ドラム3Bを回転自在に支持
している。
【0031】また、回転ドラム3Bのヘッド窓孔3Eに
は、図32に示すように、周囲に研磨部分3Fが形成さ
れている。ヘッド窓孔3Eの研磨部分3Fの形状は、図
33に示すように、上面3G側の開口端部に位置して形
成される上端側曲面3Hと、磁気テープTの走行方向に
直交する方向に形成される側面側曲面3Iと、磁気テー
プTの走行方向と平行な方向に形成される底面側曲面3
Jと、側面側曲面3Iと底面側曲面3Jとが連続する位
置に形成される下端側曲面3Kとを備えている。
【0032】上述した回転型磁気ヘッド装置3は、磁気
テープTの情報信号を記録再生する際、回転ドラム3B
の外周部に沿って磁気テープTが螺旋状に巻き付けら
れ、この磁気テープTに回転ドラム3Bの外周部から僅
かに突出した磁気ヘッド3Aの磁気ギャップが当接され
る。回転型磁気ヘッド装置3は、回転ドラム3Bを回転
させることによって、磁気テープTの信号記録領域に、
この磁気テープT上を摺動する磁気ヘッド3Aが情報信
号の記録再生を行っている。
【0033】[2] 装置全体の構成 実施例自動バフ研磨装置1は、図1に示すように、回転
ドラム3Bを研磨するバフ21を有するバフ部5と、回
転ドラム3Bを保持するチャッキング部6と、チャッキ
ング部6に対してバフ部5を移動動作させるバフ位置決
め機構7と、バフ部5に対してチャッキング部6を移動
動作させるテーブル移動機構8と、チャッキング部6に
回転ドラム3Bを搬送するドラム搬送機構9とを備えて
いる。
【0034】また、この自動バフ研磨装置1は、回転ド
ラム3Bに対して圧接されたバフ21の圧接力を検出す
る圧接力センサ部15と、バフ21と回転ドラム3Bと
の相対的な位置を検出する位置センサ部16と、摩耗し
たバフ21を整形するドレッシング部12と、バフ21
に研磨材を塗布する研磨材塗布部14と、圧接力センサ
部15及び位置センサ部16とが出力する各検出信号に
基づいてバフ位置決め機構7及びテーブル移動機構8と
をそれぞれ制御する制御部18とを備えている。
【0035】なお、本発明に係る実施例力検出ユニット
は、実施例自動バフ研磨装置1において圧接力センサ部
15として構成されている。
【0036】[3] バフ部の構成 バフ部5は、図2に示すように、回転ドラム3Bを研磨
するバフ21と、このバフ21を支持する回転軸22
と、バフ21を回転駆動するバフ駆動用モータ23と、
このバフ駆動用モータ23が取り付けられた取付け部材
24とから構成されている。
【0037】バフ21は、フェルトを材料として円板状
に形成されており、研磨材塗布部14によって供給され
る研磨材が含浸されている。このバフ21は、中央部が
ホルダ部材26を介して回転軸22に取り付けられてい
る。回転軸22は、先端部にバフ21を支持しており、
バフ駆動用モータ23によって回転駆動される。
【0038】バフ駆動用モータ23は、直流(DC)モ
ータであり、取付け部材24に支持されている。取付け
部材24は、バフ位置決め機構7を構成する後述する支
軸30に、一側面部が支持されている。また、支軸30
は、基端部がバフ位置決め機構7に回転自在に支持され
ている。すなわち、上述したバフ部5は、バフ位置決め
機構7に、支軸30を介して回転自在に支持されてい
る。
【0039】以上のように構成されたバフ部5は、バフ
駆動用モータ23が回転駆動することによって、回転軸
22を介してバフ21が回転駆動される。なお、上述し
たバフ駆動用モータ23には、DCモータが採用されて
いるが、例えば、回転数1500〜3000rpmの範
囲で回転駆動させて、摩耗によるバフ21の径寸法の変
化量に応じて回転数が変更可能であれば他のモータでも
良い。
【0040】また、上述したバフ部5には、図1及び図
2に示すように、取付け部材24に、ヘッド窓孔検出用
センサ27が設けられている。このヘッド窓孔検出用セ
ンサ27は、反射光型のフォトセンサであり、回転ドラ
ム3Bに対して検出光を出射する発光部27Aと、発光
部から出射された検出光の反射光を受光する受光部27
Bとから構成されている。
【0041】このヘッド窓孔検出用センサ27は、チャ
ッキング部6に保持されて回転駆動される回転ドラム3
Bの外周部に対応する位置に配設されている。ヘッド窓
孔検出用センサ27は、回転ドラム3Bが回転駆動され
た状態で、回転ドラム3Bの外周部に検出光を照射する
ことによって、ヘッド窓孔3Eの位置とヘッド窓孔3E
の幅寸法を検出する。
【0042】上述したヘッド窓孔検出用センサ27につ
いて、回転ドラム3Bのヘッド窓孔3Eの位置及び幅寸
法を検出する動作を図3を参照して説明する。まず、ヘ
ッド窓孔検出用センサ27は、発光部27Aが回転ドラ
ム3Bの外周部に向けて検出光を出射する。
【0043】ヘッド窓孔検出用センサ27は、回転ドラ
ム3Bのヘッド窓孔3Eのない外周部に検出光が照射さ
れた際、回転ドラム3Bの外周部に検出光が反射され、
反射された反射光を受光部27Bが受光する。すなわ
ち、ヘッド窓孔検出用センサ27は、検出光が照射され
た回転ドラム3Bの検出領域にヘッド窓孔3Eが無いこ
とを検出する。
【0044】また、ヘッド窓孔検出用センサ27は、回
転ドラム3Bのヘッド窓孔3Eに検出光が照射された
際、ヘッド窓孔3Eに検出光が反射されないため、反射
光を受光部27Bが受光しない。すなわち、ヘッド窓孔
検出用センサ27は、検出光が照射された回転ドラム3
Bの検出領域にヘッド窓孔3Eが有ることを検出する。
そして、ヘッド窓孔検出用センサ27は、回転ドラム3
Bが図3に示すZ軸に対して回転されることによって、
ヘッド窓孔3Eの位置とヘッド窓孔3Eの幅寸法とをそ
れぞれ検出する。
【0045】さらに、上述したバフ部5には、図1に示
すように、集塵装置31が隣接して設けられている。こ
の集塵装置31は、集塵パイプ31Aを備えており、こ
の集塵パイプ31Aの一端部側の開口部が、バフ21及
びドレッシング部12に臨む位置に配設されている。
【0046】この集塵装置31は、回転ドラム3Bのバ
フ研磨やバフ21のドレッシング加工を行う際に飛散す
る回転ドラム3B及びバフ21の削りかすや研磨材を吸
引する。また、この集塵装置31は、ヘッド窓孔検出用
センサ27に削りかすや研磨材を付着させないように、
削りかすや研磨材を十分に吸引する位置に、集塵パイプ
31Aの開口部が配設されている。
【0047】[4] バフ位置決め機構及びドラム搬送
機構の構成 バフ位置決め機構7は、図1に示すように、概略、支持
ベース28と、この支持ベース28にスライド移動自在
に支持された支持部材29と、基端部が支持部材29に
回転自在に支持されて先端部にバフ部5を支持する支軸
30とを備えて構成される。
【0048】支持ベース28には、図示しないスライド
ガイド溝が設けられており、このスライドガイド溝に支
持部材29が図1中に示すM1方向にスライド移動自在
に支持されている。支持部材29は、図示しないスライ
ド部材を介して、図1中に示すM2方向にスライド移動
自在に支持されている。支軸30は、支持部材29の一
側面部に基端部が支持されており、先端部にバフ部5を
構成する取付け部材24が支持されている。
【0049】以上のように構成されたバフ位置決め機構
7は、M1方向及びM2方向に、支持ベース28及び支
持部材29をそれぞれ移動動作させる。したがって、バ
フ位置決め機構7は、M1方向及びM2方向との任意の
位置に、バフ部5を移動させる。また、バフ位置決め機
構7は、支軸30を回転させることによって、この支軸
30の先端部に支持されたバフ部5を回転移動させる。
【0050】また、バフ位置決め機構7には、バフ部5
によってバフ研磨された回転ドラム3Bを仕上げ研磨す
る仕上げ研磨部10が設けられている。この仕上げ研磨
部10は、図4に示すように、バフ位置決め機構7を構
成する支持部材29にスライド移動可能に支持された支
持基体32と、この支持基体32に支持された支軸33
と、この支軸33の先端部に支持されたホイール駆動用
モータ34と、このホイール駆動用モータ34の回転軸
に支持された研磨ホイール36とから構成されている。
【0051】支持部材29には、一側面部に互いに平行
なガイド部29A、29Bがそれぞれ設けられており、
これらガイド部29A、29Bに支持基体32がスライ
ド移動可能に支持されている。支持基体32の一側面部
には、ガイド部29A、29Bと平行に支軸33が支持
されている。支軸33は、基端部が支持基体32に支持
されており、先端部にホイール駆動用モータ34を支持
している。
【0052】ホイール駆動用モータ34には、支軸33
と直交する方向に回転軸34Aを有しており、この回転
軸34Aの先端部に研磨ホイール36が支持されてい
る。研磨ホイール36は、例えば、フェルトを材料とし
て円板状に形成されており、中央部がホイール駆動用モ
ータ34の回転軸34Aの先端部に支持されている。
【0053】以上のように構成された仕上げ研磨部19
は、バフ部5によって回転ドラム3Bのヘッド窓孔3E
がバフ研磨された後、研磨ホイール36が回転ドラム3
Bのヘッド窓孔3Eを仕上げ研磨する。したがって、回
転ドラム3Bのヘッド窓孔3Eは、研磨ホイール36に
よって仕上げ研磨されることによって、研磨屑や研磨材
の残り等が確実に除去される。
【0054】詳細な説明を省略するが、ドラム搬送機構
9は、図1に示すように、バフ研磨を施す回転ドラム3
Bがそれぞれ載置されたパレット9Aと、このパレット
9A上の回転ドラム3Bを保持する保持部材9Bと、こ
の保持部材9Bを支持する支持アーム9Cと、この支持
アーム9Cを揺動自在に支持する支持ベース9Dとから
構成されている。
【0055】ドラム搬送機構9は、パレット9Aに載置
された回転ドラム3Bを保持部材9Bによって保持して
チャッキング部6に搬送するとともに、チャッキング部
6に保持された回転ドラム3Bを保持部材9Bによって
保持してパレット9Aに搬送する。また、ドラム搬送機
構9には、保持部材9Bに、図示しないフォトセンサが
設けられており、このフォトセンサによって回転ドラム
3Bが保持されたかを検出する。
【0056】[5] チャッキング部及びテーブル移動
機構の構成 チャッキング部6は、図5及び図6に示すように、回転
ドラム3Bを保持するチャッキング部材38と、回転ド
ラム3Bを回転駆動するドラム駆動用モータ40と、こ
れらチャッキング部材38及びドラム駆動用モータ40
が設けられたテーブル43を移動するテーブル移動機構
8とから構成されている。
【0057】チャッキング部材38は、図5に示すよう
に、円板状に形成されており、保持爪38Aを備えてい
る。チャッキング部材38には、図示しないエア供給装
置の供給管が連結されており、エア供給管から供給され
るエア圧によって保持爪38Aが開閉動作されて回転ド
ラム3Bの内周部を保持する。
【0058】また、チャッキング部材38には、図示し
ないフォトセンサが設けられており、このフォトセンサ
によって回転ドラム3Bが保持されたかを検出する。そ
して、チャッキング部材38は、基端部が圧接力センサ
部15に支持されている。
【0059】ドラム駆動用モータ40は、圧接力センサ
部15に重ね合わされて配設されている。ドラム駆動用
モータ40は、圧接力制御に適するダイレクト駆動方式
が採用されており、駆動精度の向上が図られている。ま
た、ドラム駆動用モータ40には、位置センサ部16を
構成する後述する第1のエンコーダ41が接続されてお
り、この第1のエンコーダ41によって回転角度が計測
される。
【0060】テーブル移動機構8は、チャッキング部6
を支持するテーブル43と、このテーブル43を移動自
在に支持するベースプレート44と、このベースプレー
ト44上に配設されてテーブル43を移動させるテーブ
ル駆動用モータ45と、このテーブル駆動用モータ45
に連結された駆動軸46とから構成されている。
【0061】テーブル43は、略矩形板状に形成されて
おり、主面上の中央部にチャッキング部6が載置されて
いる。このテーブル43には、背面側のコーナ部に、略
矩形ブロック状の第1のガイド部43A乃至第4のガイ
ド部43Dがそれぞれ設けられている。これら第1のガ
イド部43A乃至第4のガイド部43Dには、ベースプ
レート44に臨む側に、ガイド溝43Eが互いに平行に
それぞれ凹設されている。
【0062】ベースプレート44には、主面上に、互い
に平行な第1のガイドレール44A及び第2のガイドレ
ール44Bがそれぞれ設けられている。これら第1のガ
イドレール44A及び第2のガイドレール44Bには、
テーブル43に設けられれた第1のガイド部43A乃至
第4のガイド部43Dのガイド溝43Eが載置されてい
る。したがって、テーブル43は、ベースプレート44
の第1のガイドレール44A及び第2のガイドレール4
4Bに、第1のガイド部43A乃至第4のガイド部43
Dがスライド移動自在に支持されている。
【0063】テーブル駆動用モータ45は、例えば、A
Cサーボモータであり、ベースプレート44の第1のガ
イドレール44A及び第2のガイドレール44Bとの間
に臨んで、ベースプレート44上に配設されている。こ
のテーブル駆動用モータ45は、第1のガイドレール4
4A及び第2のガイドレール44Bとに軸線が平行な回
転軸45Aを有しており、この回転軸45Aの先端部に
駆動軸46の一端部が連結されている。
【0064】駆動軸46は、テーブル駆動用モータ45
の回転軸45Aの先端部に、一端部が連結部材46Aを
介して連結されており、ベースプレート44上に立設さ
れた図示しない軸支持部材に他端部が支持されている。
この駆動軸46には、外周部にネジ部46Bが設けられ
ている。また、テーブル43には、ベースプレート44
に臨む背面上の略中央部に、図示しないナットが配設さ
れており、駆動軸46のネジ部46Bにナットがねじ込
まれている。
【0065】また、テーブル駆動用モータ45には、位
置センサ部16を構成する後述する第2のエンコーダ4
7が接続されており、この第2のエンコーダ47によっ
て回転角度が計測される。なお、テーブル移動機構8
は、リニアモータを備えるリニア機構によって駆動する
構成としても良い。
【0066】以上のように構成されたチャッキング部6
について、ドラム駆動用モータ40が回転ドラム3Bを
回転させる動作、及びテーブル移動機構8がテーブル4
3を移動させる動作を説明する。まず、チャッキング部
材38に保持された回転ドラム3Bは、ドラム駆動用モ
ータ40が回転駆動することによって回転される。ま
た、回転ドラム3Bは、ドラム駆動用モータ40が正転
方向及び逆転方向に回転駆動することによって、図5に
示すZ軸に対するR1方向及びR2方向に回転される。
【0067】つぎに、チャッキング部材38が支持され
たテーブル43は、テーブル駆動用モータ45の回転軸
45Aが回転駆動することによって、連結部材46Aを
介して駆動軸46を回転駆動させる。駆動軸46は、回
転駆動されることによって、テーブル43に設けられた
ナットを介して、ベースプレート44の第1のガイドレ
ール44A及び第2のガイドレール44Bに沿ってテー
ブル43をスライド移動させる。
【0068】また、テーブル43は、テーブル駆動用モ
ータ45が正転方向或いは逆転方向に回転駆動すること
によって、第1のガイドレール44A及び第2のガイド
レール44Bに沿って図5に示すF1方向及びF2方向
にスライド移動する。
【0069】[6] ドレッシング部の構成 ドレッシング部12は、バフ21を研削して整形するヤ
スリ状のドレッサ12Aを有しており、テーブル移動機
構8を構成するベースプレート44上に配設されてい
る。
【0070】上述したドレッシング部12は、バフ位置
決め機構7によってバフ部5を移動させて、ドレッサ1
2Aにバフ21が圧接される。そして、ドレッシング部
12は、ドレッサ12Aに回転されたバフ21の外周部
を圧接させることによって、摩耗したバフ21を研削し
て整形する。
【0071】[7] 研磨材塗布部の構成 研磨材塗布部14は、図7に示すように、テーブル43
上に設けられた支持基体49と、この支持基体49に揺
動自在に支持された支持部材50と、この支持部材50
に回動自在に支持された塗布ドラム51とから構成され
ている。支持基体49は、基端部がテーブル43に固定
されており、先端部に支持突部49A、49Bがそれぞ
れ一体に突出して設けられている。
【0072】支持部材50は、例えば、酸化クロムを材
料として主面が略H字状に形成されている。この支持部
材50は、支持基体49の支持突部49A、49Bに、
基端部が支軸50Aを介して揺動自在に支持されてい
る。塗布用ドラム51は、例えば、酸化クロムを材料と
して円筒状に形成されており、外周部に研磨材が塗布さ
れている。この塗布用ドラム51には、略中央部に軸穴
が設けられており、支持部材50の先端部に、軸穴に挿
通された支軸50Bを介して回動自在に支持されてい
る。
【0073】以上のように構成された研磨材塗布部14
は、バフ位置決め機構7によってバフ部5を移動させ
て、塗布用ドラム51にバフ21の外周部が圧接され
る。そして、研磨材塗布部14は、塗布用ドラム51に
回転されたバフ21の外周部を圧接させることによっ
て、バフ21に研磨材が塗布される。また、研磨材塗布
部14は、支持部材50が支持基体49に揺動自在に支
持されていることによって、バフ21に対する研磨材の
塗布量の均一化が図られている。
【0074】[8] 圧接力センサ部の構成 圧接力センサ部15は、図8乃至図15に示すように、
圧接力に応じて変位される圧接力センサ基板53と、こ
の圧接力センサ基板53上に配設され圧接センサ基板5
3に生じた機械的変位量に比例した電気信号を発生する
第1のLVDT(Linear Variable D
ifferential Transformer、い
わゆる差動トランス)54及び第2のLVDT55とか
ら構成されている。
【0075】圧接力センサ基板53は、図8に示すよう
に、アルミ合金を材料として、例えば、ワイヤ放電加工
等によって円板状に加工された一体構造である。圧接力
センサ基板53は、環状の基台部53Aと、この基台部
53Aの内周側に位置する略矩形環状の中間基台部53
Bと、この中間基台部53Bの内周側に位置する軸支持
台部53Cとから構成されている。
【0076】基台部53Aは、環状に形成されており、
ドラム駆動用モータ40の一端部に固定されている。中
間基台部53Bは、略矩形環状に形成されており、互い
に平行な一対の第1の連結部53D及び第2の連結部5
3Eが形成されている。
【0077】中間基台部53Bは、基台部53Aの内周
部に、第1の連結部53Dの外周部が互いに平行な略線
状の第1の中間基台支持片53F及び第2の中間基台支
持片53Gとによって支持されている。また、この中間
基台部53Bは、基台部53Aの内周部に、第2の連結
部53Eの外周部が互いに平行な略線状の第3の中間基
台支持片53H及び第4の中間基台支持片53Iとによ
って支持されている。
【0078】これら第1の中間基台支持片53F乃至第
4の中間基台支持片53Iは、図8に示すX軸方向と平
行な方向に対して弾性変位可能な撓みやすい幅寸法に形
成されており、また図8に示すY軸方向と平行な方向に
対して剛性が大きくほとんど撓まない構造とされてい
る。
【0079】軸支持台部53Cは、略矩形状に形成され
ており、中央部にチャッキング部材38の一端部が固定
されている。この軸支持台部53Cは、中間基台部53
Bの内周部に、各コーナ部が、第1の中間基台支持片5
3F乃至第4の中間基台支持片53Iと直交するととも
に互いに平行な略線状の第1の軸支持台支持片53J及
び第2の軸支持台支持片53Kと第3の軸支持台支持片
53L及び第4の軸支持台支持片53Mとによって支持
されている。
【0080】これら第1の軸支持台支持片53J乃至第
4の軸支持台支持片53Mは、図8に示すY軸方向と平
行な方向に対して弾性変位可能な撓みやすい幅寸法に形
成されており、また図8に示すX軸方向と平行な方向に
対して剛性が大きくほとんど撓まない構造とされてい
る。
【0081】また、圧接力センサ基板53には、基台部
53Aの内周部と中間基台部53Bの外周部との間に第
1の検出部53Pが形成されており、また中間基台部5
3Bの内周部と軸支持台部53Cの外周部との間に第2
の検出部53Qが形成されている。
【0082】第1の検出部53Pは、第1の中間基台支
持片53F及び第2の中間基台支持片53Gとの間に位
置して、基台部53Aの内周部に一体に突出形成された
略矩形状の第1の検出片53Rと、中間基台部53Bの
外周部に一体に突出形成された略矩形状の第2の検出片
53Sとから構成されている。
【0083】そして、第1の検出部53Pは、図8に示
すように、第1の検出片53Rと第2の検出片53Sと
の相対する間に微小間隙が形成されており、これら第1
の検出片53Rと第2の検出片53Sとに跨って第1の
LVDT54が配設されている。
【0084】第2の検出部53Qは、第1の軸支持台支
持片53J及び第2の軸支持台支持片53Kとの間に位
置して、中間基台部53Bの内周部に一体に突出形成さ
れた略矩形状の第1の検出片53Tと、軸支持台部53
Cの外周部に一体に突出形成された略矩形状の第2の検
出片53Uとから構成されている。
【0085】そして、第2の検出部53Qは、これら第
1の検出片53Tと第2の検出片53Uとの相対する間
に微小間隙が形成されており、これら第1の検出片53
Tと第2の検出片53Uとに跨って第2のLVDT55
が配設されている。
【0086】第1のLVDT54及び第2のLVDT5
5は、図9及び図10に示すように、コア54A、55
Aと、コア54A、55Aを支持するコア支持部材54
B、55Bと、このコア支持部材54B、55Bを支持
する支持基体54C、55Cと、内周部にコア54A、
55Aが挿通されたコイル54D、55Dと、コイル5
4D、55Dを支持するコイル保持部材54G、55G
とから構成されている。
【0087】コア54A、55Aは、磁性材料によって
略円筒状に形成されており、コア支持部材54B、55
Bに支持されている。コア支持部材54B、55Bは、
非磁性材料によって棒状に形成されており、コア54
A、55Aの内周部に貫通されて中央部にコア54A、
55Aを支持している。このコア支持部材54B、55
Bは、両端部が支持基体54C、55Cにそれぞれ支持
されている。
【0088】支持基体54C、55Cは、主面部が略コ
字状に形成されており、基端部が圧接力センサ基板53
にそれぞれネジ止め固定されている。また、支持基体5
4C、55Cは、両端部に、コア支持部材54B、55
Bを支持している。
【0089】コイル54D、55Dは、図10に示すよ
うに、コア支持部材54B、55Bの両端部に位置して
それぞれ巻回された1次側コイル54E、55Eと、コ
ア54A、55Aに巻回された2次側コイル54F、5
5Fとから構成されている。
【0090】コイル保持部材54G、55Gは、略矩形
ブロック状に形成されており、基端部が圧接力センサ基
板53にネジ止め固定されている。また、コイル保持部
材54G、55Gには、断面略半円状のコイル保持溝5
4H、55Hが凹設されており、このコイル保持溝54
H、55Hにコイル54D、55Dが保持されている。
【0091】そして、第1のLVDT54及び第2のL
VDT55には、1次側コイル54E、55E及び2次
側コイル54F、55Fと、コア支持部材54B、55
Bに支持されたコア54A、55Aとからなる磁路が形
成されている。第1のLVDT54は、圧接力センサ基
板53の第1の検出部53Pの第1の検出片53Rに、
支持基体54Cの基端部がネジ止め固定されており、第
1の検出部53Rの第2の検出片53Sに、コイル保持
部材54Gの基端部がネジ止め固定されている。
【0092】第2のLVDT55は、圧接力センサ基板
53の第2の検出部53Qの第1の検出片53Tに、支
持基体55Cの基端部がネジ止め固定されており、第2
の検出部53Qの第2の検出片53Uに、コイル保持部
材55Gの基端部がネジ止め固定されている。
【0093】以上のように構成された圧接力センサ部1
5について、バフ部5のバフ21を回転ドラム3Bのヘ
ッド窓孔3Eに圧接する際、圧接力を検出する検出原理
を図11乃至図15を参照して説明する。なお、圧接セ
ンサ基板53の軸支持台部53Cは、チャッキング部6
及び回転ドラム3Bと一体構造として見なし、圧接され
たバフ21によって回転ドラム3Bに加わえられる圧接
力が軸支持台部53Cの中心に作用するものとする。
【0094】まず、圧接力センサ基板53は、図11に
示すように、軸支持台部53Cの中心を中心点O2と
し、この中心点O2にX軸方向と平行な方向の圧接力が
加わると、軸支持台部53CがX軸方向と平行な方向に
移動される。圧接力センサ基板53は、軸支持台部53
Cが移動されることに伴って、中間基台部53BがX軸
方向と平行な方向に移動される。
【0095】圧接力センサ基板53は、中間基台部53
Bが移動されることによって、第1の中間基台支持片5
3F乃至第4の中間基台支持片53Iがそれぞれ撓むと
ともに、第1の検出部53Pの第1の検出片53Rと第
2の検出片53Sとに相対的な位置ズレが生じる。
【0096】すなわち、圧接力センサ基板53は、軸支
持台部53Cの中心点O2にX軸方向と平行な方向に加
えられる圧接力に比例して、第1の検出部53Pの第1
の検出片53Rの点Aと第2の検出片53Sの点Bとに
相対変位量Nが発生する。そして、第1の検出部53P
に配設された第1のLVDT54は、第1の検出片53
Rと第2の検出片53Sとに発生した相対変位量Nを検
出する。
【0097】また、圧接力センサ基板53は、図12に
示すように、軸支持台部53Cの中心点O2にY軸方向
と平行な方向の圧接力が加わると、軸支持台部53Cが
Y軸方向と平行な方向に移動される。圧接力センサ基板
53は、軸支持台部53Cが移動されることに伴って、
中間基台部53BがY軸方向と平行な方向に移動され
る。
【0098】圧接力センサ基板53は、中間基台部53
Bが移動されることによって、第1の軸支持台支持片5
3J乃至第4の軸支持台支持片53Mがそれぞれ撓むと
ともに、第2の検出部53Qの第1の検出片53Tと第
2の検出片53Uとに相対的な位置ズレが生じる。
【0099】すなわち、圧接力センサ基板53は、軸支
持台部53Cの中心点O2にY軸方向と平行な方向に加
えられる圧接力に比例して、第2の検出部53Qの第1
の検出片53Tの点Cと第2の検出片53Uの点Dとに
相対変位量Nが発生する。そして、第2の検出部53Q
に配設された第2のLVDT55は、第1の検出片53
Tと第2の検出片53Uとに発生した相対変位量Nを検
出する。
【0100】つぎに、第1のLVDT54及び第2のL
VDT55は、1次側コイル54E、55Eに交流電圧
が印加されることによって、2次側コイル54F、55
Fに電圧が誘起される。第1のLVDT54及び第2の
LVDT55は、コア54A、55Aが基準位置である
中心点O1に位置する場合、出力電圧がゼロである。
【0101】そして、第1のLVDT54及び第2のL
VDT55は、コア54A、55Aが図10に示す矢印
(+)方向に移動することによって、コア54A、55
Aの移動量に比例して出力電圧が(+)方向に増加し、
またコア54A、55Aが図10に示す矢印(−)方向
に移動することによって、コア54A、55Aの移動量
に比例して出力電圧が(−)方向に増加する。
【0102】したがって、第1のLVDT54及び第2
のLVDT55は、2次側コイル54F、55Fに誘起
された出力電圧によって、図10に示す矢印方向の相対
変位を検出する。すなわち、圧接力センサ部15は、圧
接力センサ基板53の第1の検出部53Pの点Aと点B
とに発生する相対変位量Nを第1のLVDT54が検出
し、また圧接力センサ基板53の第2の検出部53Qの
点Cと点Dとに発生する相対変位量Nを第2のLVDT
55が検出する。
【0103】以下、第1のLVDT54及び第2のLV
DT55について、バフ21によって回転ドラム3Bに
加えられた圧接力を検出する原理を図13乃至図15を
参照して説明する。実際に研磨加工を行う際、圧接力セ
ンサ基板53には、軸支持台部53Cの中心点O2に、
上述したように単純なX軸方向に平行な方向の圧接力の
み、或いは単純なY軸方向に平行な方向の圧接力のみが
加わるわけではない。
【0104】回転ドラム3Bには、図13に示すよう
に、ヘッド窓孔3Eの底面側曲面3Jに働く回転ドラム
3Bの中心方向の圧接力と、ヘッド窓孔3Eの側面側曲
面3Iに働く回転ドラム3Bの円周方向の圧接力とであ
る。
【0105】また、回転ドラム3Bの外周部に凹設され
た所定数のヘッド窓孔3Eを全てバフ研磨加工するた
め、回転ドラム3Bの円周上の任意の点P(中心角度
θ)における回転ドラム3Bの中心方向の圧接力と、回
転ドラム3Bの円周方向の圧接力とをそれぞれ検出する
必要がある。
【0106】図14に示すように、回転ドラム3Bの円
周上の任意の点P(中心角度θ)に、回転ドラム3Bの
中心方向の圧接力FC を加えることを、全ての中心角度
θについて行うと、第1のLVDT54の出力電圧OU
1Cと第2のLVDT55の出力電圧OUT2Cは、a、
bを係数として、 OUT1C=acosθFC ・・・式1 OUT2C=bsinθFC ・・・式2 で表される。
【0107】また、図15に示すように、回転ドラム3
Bの円周上の任意の位置P(中心角度θ)に、回転ドラ
ム3Bの円周方向の圧接力Ft を加えることを全ての角
度θについて行うと、第1のLVDT54の出力電圧O
UT1tと第2のLVDT55の出力電圧OUT2tは、
c、eを定数、d、fを係数として、 OUT1t=−(c+dcosθ)Ft ・・・式3 OUT2t=−(e+fcosθ)Ft ・・・式4 で表される。
【0108】したがって、図14に示す回転ドラム3B
の中心方向の圧接力FCと、図15に示す回転ドラム3
Bの円周方向の圧接力Ftとを同時に加えた場合、第1
のLVDT54の出力電圧OUT1と第2のLVDT5
5の出力電圧OUT2は、 OUT1=OUT1C+OUT1t =acosθFC−(c+dsinθ)Ft ・・・式5 OUT2=OUT2C+OUT2t =−bsinθFC−(e+fcosθ)Ft ・・・式6 となる。
【0109】そして、式5及び式6から回転ドラム3B
の中心方向の圧接力FC、回転ドラム3Bの円周方向の
圧接力Ftは、 FC={(e+fcosθ)OUT1−(c+dsinθ)OUT2} /(bcsinθ−aecosθ+bdsin2θ+afcos2θ) ・・・式7 FC=(bsinθOUT1+acosθOUT2) /(bcsinθ+aecosθ+bdsin2θ+afcos2θ) ・・・式8 となる。
【0110】したがって、圧接力センサ部15は、式7
及び式8に示すように、第1のLVDT54の出力電圧
OUT1Cと第2のLVDT55の出力電圧OUT2Cとか
ら、回転ドラム3Bの円周上の任意の点P(中心角度
θ)における回転ドラム3Bの中心方向の圧接力FC
回転ドラム3Bの円周方向の圧接力Ftとをそれぞれ検
出することが可能とされる。
【0111】なお、上述した圧接力センサ部15は、圧
接力センサ基板53に設けられた第1の検出部53P及
び第2の検出部53Qに、第1のLVDT54及び第2
のLVDT55がそれぞれ配設される構成されたが、必
要に応じて検出部及びこの検出部に配設されるLVDT
の個数とを変更した構成にされた圧接力センサ基板7
3、74、75、76を図16乃至図19を参照してそ
れぞれ説明する。
【0112】圧接力センサ基板73は、図16に示すよ
うに、環状の基台部73Aと、この基台部73Aの内周
側に位置する略矩形状の軸支持台部73Bとから構成さ
れている。軸支持台部73Bは、基台部73Aの内周部
に、外周部が互いに平行な略線状の第1の軸支持台支持
片73F及び第2の軸支持台支持片73Gと、第3の軸
支持台支持片73H及び第4の軸支持台支持片73Iと
によって支持されている。
【0113】また、圧接力センサ基板73には、基台部
73Aの内周部と軸支持台部73Bの外周部との間に検
出部73Pが形成されている。この検出部73Pは、基
体部73Aの内周部に一体に突出形成された第1の検出
片73Rと、軸支持台部73Bの外周部に一体に突出形
成された略矩形状の第2の検出片73Sとから構成され
ている。そして、第1の検出部73Pには、図示しない
第1のLVDTが配設されている。
【0114】この圧接力センサ基板73によれば、1作
用点に作用するX軸方向の圧接力及びY軸方向の圧接力
と、任意の作用点に作用するZ軸回りのモーメントとを
検出できる。
【0115】また、圧接力センサ基板74は、図17に
示すように、環状の基台部74Aと、この基台部74A
の内周側に位置する略矩形状の軸支持台部74Bとから
構成されている。軸支持台部74Bは、基台部74Aの
内周部に、外周部が互いに平行な略線状の第1の軸支持
台支持片74F及び第2の軸支持台支持片74Gと、第
3の軸支持台支持片74H及び第4の軸支持台支持片7
4Iとによって支持されている。
【0116】また、圧接力センサ基板74には、基台部
74Aの内周部と軸支持台部74Bの外周部との間に、
第1の検出部74P及び第2の検出部74Qが中心線を
一致させてそれぞれ形成されている。第1の検出部74
Pは、基体部74Aの内周部に一体に突出形成された第
1の検出片74Rと、軸支持台部74Bの外周部に一体
に突出形成された略矩形状の第2の検出片74Sとから
構成されている。第2の検出部74Qは、基体部74A
の内周部に一体に突出形成された第1の検出片74T
と、軸支持台部74Bの外周部に一体に突出形成された
略矩形状の第2の検出片74Uとから構成されている。
そして、これら第1の検出部74P及び第2の検出部7
4Qには、図示しない第1のLVDT及び第2のLVD
Tがそれぞれ配設されている。
【0117】この圧接力センサ基板74によれば、1作
用点に作用するX軸方向の圧接力及びY軸方向の圧接力
と、任意の作用点に作用するZ軸回りのモーメントとを
検出できる。この圧接力センサ基板74は、第1のLV
DT及び第2のLVDTが出力電圧 OUT1、OUT2
をそれぞれ出力するとすれば、X軸方向の圧接力が、 (OUT1−OUT2)/2 となる。また、Y軸方向の圧接力は、 (OUT1+OUT2)/2 となる。さらに、Z軸回りのモーメントは、 (OUT1+OUT2)/2 となる。このため、圧接力センサ基板74は、圧接力セ
ンサ基板73と比較して圧接力検出信号のノイズを低減
させて、検出精度が向上される。
【0118】さらに、圧接力センサ基板75は、図18
に示すように、環状の基台部75Aと、この基台部75
Aの内周側に位置する略矩形環状の中間基台部75B
と、この中間基台部75Bの内周側に位置する略矩形状
の軸支持台部75Cとから構成されている。中間基台部
75Bは、基台部75Aの内周部に、互いに平行な略線
状の第1の中間基台支持片75F及び第2の中間基台支
持片75Gと第3の中間基台支持片75H及び第4の中
間基台支持片75Iとによって支持されている。軸支持
台部75Cは、中間基台部75Bの内周部に、各コーナ
部が、第1の中間基台部支持片75F乃至第4の中間基
台支持片75Iと直交するとともに互いに平行な略線状
の第1の軸支持台支持片75J及び第2の軸支持台支持
片75Kと第3の軸支持台支持片75L及び第4の軸支
持台支持片75Mとによって支持されている。
【0119】また、圧接力センサ基板75には、基台部
75Aの内周部と中間基台部75Bの外周部との間に第
1の検出部75P及び第2の検出部75Qとがそれぞれ
形成されており、また中間基台部75Bの内周部と軸支
持台部75Cの外周部との間に第3の検出部75Rが形
成されている。第1の検出部75P及び第2の検出部7
5Qは、基端部75Aの内周部に一体に突出形成された
略矩形状の第1の検出片75R、75Tと、中間基台部
75Bの外周部に一体に突出形成された略矩形状の第2
の検出片75S、75Uとから構成されている。第3の
検出部75Nは、中間基台部75Bの内周部に一体に突
出形成された略矩形状の第1の検出片75Vと、軸支持
台部75Cの外周部に一体に突出形成された略矩形状の
第2の検出片75Wとから構成されている。そして、こ
れら第1の検出部75P乃至第3の検出部75Nには、
図示しない第1のLVDT乃至第3のLVDTがそれぞ
れ配設されている。
【0120】この圧接力センサ基板75によれば、任意
の作用点に作用するX軸方向の圧接力とY軸方向の圧接
力及びZ軸回りのモーメントとを検出できる。この圧接
力センサ基板75は、X軸方向の圧接力とY軸方向の圧
接力との検出方法が、第1のLVDT54及び第2のL
VDT55とが互いに中心線が直交する位置に配設され
た圧接力センサ基板53とほぼ同様であるが、互いに中
心線が直交する位置に配設されたLVDTの組合わせが
2通りある。また、Z軸回りのモーメントは、第1のL
VDT乃至第3のLVDTが出力電圧 OUT1、OUT
2、OUT3をそれぞれ出力するとすれば、 (OUT1+OUT2+OUT3)/3 となる。このため、圧接力センサ基板75は、圧接力検
出信号のノイズを低減させて、更に検出精度を向上する
ことができる。
【0121】さらにまた、圧接力センサ基板76は、図
19に示すように、環状の基台部76Aと、この基台部
76Aの内周側に位置する略矩形環状の中間基台部76
Bと、この中間基台部76Bの内周側に位置する略矩形
状の軸支持台部76Cとから構成されている。中間基台
部76Bは、基台部76Aの内周部に、互いに平行な略
線状の第1の中間基台支持片76D及び第2の中間基台
支持片76Eと第3の中間基台支持片76F及び第4の
中間基台支持片76Gとによって支持されている。軸支
持台部76Cは、中間基台部76Bの内周部に、各コー
ナ部が、第1の中間基台部支持片76D乃至第4の中間
基台支持片76Gと直交するとともに互いに平行な略線
状の第1の軸支持台支持片76H及び第2の軸支持台支
持片76Iと第3の軸支持台支持片76J及び第4の軸
支持台支持片76Kとによって支持されている。
【0122】また、圧接力センサ基板76には、基台部
76Aの内周部と中間基台部76Bの外周部との間に第
1の検出部76L及び第2の検出部76Mとがそれぞれ
形成されており、また中間基台部76Bの内周部と軸支
持台部76Cの外周部との間に第3の検出部76N及び
第4の検出部76Oがそれぞれ形成されている。第1の
検出部76L及び第2の検出部76Mは、基端部76A
の内周部に一体に突出形成された略矩形状の第1の検出
片76P、76Rと、中間基台部76Bの外周部に一体
に突出形成された略矩形状の第2の検出片76Q、76
Sとから構成されている。第3の検出部76N及び第4
の検出部76Oは、中間基台部76Bの内周部に一体に
突出形成された略矩形状の第1の検出片76T、76V
と、軸支持台部76Cの外周部に一体に突出形成された
略矩形状の第2の検出片76U、76Wとから構成され
ている。そして、これら第1の検出部76L乃至第4の
検出部76Oには、図示しない第1のLVDT乃至第4
のLVDTがそれぞれ配設されている。
【0123】この圧接力センサ基板76によれば、任意
の作用点に作用するX軸方向の圧接力とY軸方向の圧接
力及びZ軸回りのモーメントとを検出できる。この圧接
力センサ基板76は、X軸方向の圧接力とY軸方向の圧
接力との検出方法が、第1のLVDT54及び第2のL
VDT55とが互いに中心線が直交する位置に配設され
た圧接力センサ基板53とほぼ同様であるが、互いに中
心線が直交する位置に配設されたLVDTの組合わせが
4通りある。また、Z軸回りのモーメントは、第1のL
VDT乃至第4のLVDTが出力電圧 OUT1、OUT
2、OUT3、OUT4をそれぞれ出力するとすれば、 (OUT1+OUT2+OUT3+OUT4)/4 となる。このため、圧接力センサ基板76は、圧接力検
出信号のノイズを低減させて、更に検出精度を向上する
ことができる。
【0124】[9] 位置センサ部 位置センサ部16は、ドラム駆動用モータ40に接続配
線された第1のエンコーダ41と、テーブル駆動用モー
タ45に接続配線された第2のエンコーダ47と、バフ
駆動用モータ23に接続配線された第3のエンコーダ4
8とを備えて構成されている。
【0125】そして、位置センサ部16は、第1のエン
コーダ41及び第2のエンコーダ47が、ドラム駆動用
モータ40及びテーブル駆動用モータ45の回転角度を
それぞれ計測して、制御部18に位置検出信号としてそ
れぞれ出力する。また、第3のエンコーダ48は、バフ
駆動用モータ23の回転数(rpm)を制御部18に回
転数検出信号として出力する。
【0126】[10] 制御部の構成 制御部18は、図20に示すように、概略、制御装置5
7と、ドラム駆動用モータ40を駆動させるドラム駆動
用モータドライバ58と、テーブル駆動用モータ45を
駆動させるテーブル駆動用モータドライバ59と、圧接
力センサ部15からの信号を増幅させる圧接力センサア
ンプ60と、バフ位置決め機構7を制御するバフ位置決
め機構コントローラ61と、ドラム搬送機構9を制御す
るドラム搬送機構コントローラ62とを備えて構成され
ている。
【0127】制御装置57は、例えば、パーソナルコン
ピュータ等の各種コンピュータであり、圧接力センサ部
15及び位置センサ部16とそれぞれ接続配線されてい
る。また、制御装置57には、バフ研磨加工を施す複数
種類の回転ドラム3Bの外形寸法データが予め記録され
ている。
【0128】ドラム駆動用モータドライバ58は、制御
装置57及びドラム駆動用モータ40とそれぞれ接続配
線されている。テーブル駆動用モータドライバ59は、
制御装置57及びテーブル駆動用モータ45とそれぞれ
接続配線されている。そして、これらドラム駆動用モー
タドライバ58及びテーブル駆動用モータドライバ59
は、制御装置57から出力される指令電圧V1、V2が
それぞれ入力される。
【0129】そして、これらドラム駆動用モータドライ
バ58及びテーブル駆動用モータドライバ59は、ドラ
ム駆動用モータ40及びテーブル駆動用モータ45が指
令電圧V1、V2に応じたトルクをそれぞれ発生するよ
うに、これらのモータ45、40に電力E1、E2をそ
れぞれ供給する。
【0130】圧接力センサアンプ60は、制御装置57
及び圧接力センサ部15とそれぞれ接続配線されてい
る。この圧接力センサアンプ60は、圧接力センサ部1
5から出力された圧接力検出信号Fを増幅させて、制御
装置57に圧接力情報信号H1として出力する。
【0131】位置決め機構コントローラ61は、制御装
置57及びバフ位置決め機構7とにそれぞれ接続配線さ
れている。この位置決め機構コントローラ61は、制御
装置57から入力された指令信号H2に基づいて、電力
E3及び指令信号H4を出力してバフ位置決め機構7を
動作させる。
【0132】搬送機構コントローラ62は、制御装置5
7及びドラム搬送機構9とにそれぞれ接続配線されてい
る。この搬送機構コントローラ62は、制御装置57か
ら入力された指令信号H3に基づいて、電力E4及び指
令信号H5を出力してドラム搬送機構9を動作させる。
【0133】したがって、制御部18は、制御装置57
がバフ位置決め機構7、テーブル移動機構8及びドラム
搬送機構9とそれぞれ接続配線されており、これらバフ
位置決め機構7、テーブル移動機構8及びドラム搬送機
構9をそれぞれ制御する。
【0134】以上のように構成された制御部18につい
て、チャッキング部6のドラム駆動用モータ40及びテ
ーブル移動機構8のテーブル駆動用モータ45に対する
具体的な制御方法を図21乃至図24を参照して説明す
る。
【0135】この制御方法は、図21に示すように、ド
ラム駆動用モータ40とテーブル駆動用モータ45に対
する制御であり、これらドラム駆動用モータ40及びテ
ーブル駆動用モータ45に対して目標圧接力を付与する
圧接力制御と目標位置を位置決めする位置制御とを適宜
切り替えて行われている。
【0136】圧接力センサ部15は、圧接力センサ基板
53の変位量に応じて、圧接力制御演算回路64に圧接
力検出信号Fを出力する。圧接力制御演算回路64は、
図22に示すように、回転ドラム3Bのヘッド窓孔3E
に対して目標圧接力Fcmd を付与するために、圧接力セ
ンサ部15から出力された圧接力検出信号Fをフィード
バックして制御演算を行う。
【0137】すなわち、圧接力制御演算回路64は、圧
接力センサ部15から出力された圧接力検出信号Fと目
標圧接力Fcmd との偏差に比例ゲインKFPを積算した値
と、ドラム駆動用モータ40及びテーブル駆動用モータ
45に接続配線された第1及び第2のエンコーダ41、
47のエンコーダ信号から得られる速度q′に、ダンピ
ング係数KFdを積算した値によって目標加速度q″cmd
を演算する。
【0138】また、位置センサ部16が備える第1及び
第2のエンコーダ41、47は、回転ドラム3Bとバフ
21との相対位置を検出して、位置制御演算回路65に
位置検出信号qを出力する。位置制御演算回路65は、
図23に示すように、回転ドラム3Bを目標位置qcmd
に位置決めするために、第1及び第2のエンコーダ4
1、47からの位置検出信号qをフィードバックして制
御演算を行う。
【0139】すなわち、位置制御演算回路65は、ドラ
ム駆動用モータ40及びテーブル駆動用モータ45に接
続配線された第1及び第2のエンコーダ41、47のエ
ンコーダ信号から得られた位置検出信号qと目標位置q
cmd との偏差に、比例ゲインKPdと微分ゲインKPpとを
積算した値と目標値の加速度によって目標加速度q″
cmdを演算する。そして、圧接力制御演算回路64及び
位置制御演算回路65は、制御モード切替え回路66に
演算した目標加速度q″cmdをそれぞれ出力する。
【0140】制御モード切替え回路66は、動作目的に
従って決定された制御方法に応じて、圧接力制御演算回
路64或いは位置制御演算回路65により得られた目標
加速度q″cmd のいずれか一方を選択する事によってド
ラム駆動用モータ40及びテーブル駆動用モータ45の
目標加速度とする。
【0141】トルク補償演算回路67は、いわゆる外乱
推定器であり、外乱の影響やモデル化誤差による影響を
取り除いている。すなわち、トルク補償演算回路67
は、図24に示すように、ドラム駆動用モータ40及び
テーブル駆動用モータ45に接続配線された第1及び第
2のエンコーダ41、47から出力されたエンコーダ信
号から得られる加速度q″と指令加速度q″ref 、2次
フィルタ70を用いて外乱加速度q″disを見積もり、
目標加速度q″cmdに付加し、モータ出力の飽和を防ぐ
ためにリミッタ71を通して指令加速度q″ref を求め
る。なお、2次フィルタ70が有する伝達関数は、減衰
係数ζ、固有周波数gとすれば、 g2/(S2+2ζgS+g2) で表される。
【0142】さらに、トルク補償演算回路67は、トル
ク定数のノミナル値Ktnとドラム駆動用モータ40及び
テーブル駆動用モータ45の負荷イナーシャのノミナル
値Jnとから、電流指令値Irefを演算する。
【0143】また、上述したドラム駆動用モータドライ
バ58及びテーブル駆動用モータドライバ59は、トル
ク発生回路68を備えている。このトルク発生回路68
は、トルク補償演算回路67から出力された指令電圧V
1、V2に基づいて、ドラム駆動用モータ40及びテー
ブル駆動用モータ45に電力E1、E2を供給する。
【0144】したがって、チャッキング部6は、トルク
発生回路68より供給された電力E1によりドラム駆動
用モータ40が回転駆動することによって、回転ドラム
3Bを回転させる。また、テーブル移動機構8は、トル
ク発生回路68より供給された電力E2によりテーブル
駆動用モータ45が回転駆動することによってテーブル
43を移動させる。
【0145】以上のように構成された自動バフ研磨装置
1について、バフ21が回転ドラム3Bのヘッド窓孔3
Eをバフ研磨加工する研磨手順、及び研磨動作を図25
乃至図29を参照して説明する。
【0146】まず、自動バフ研磨装置1は、ステップS
T1に示すように、制御部18の制御装置57にバフ研
磨加工を施す回転ドラム3Bの種類を指定することによ
って、ヘッド窓孔3Eのバフ研磨加工を施す回転ドラム
3Bが選択決定される。すなわち、自動バフ研磨装置1
は、制御装置57に予め記録された回転ドラム3Bの形
状データに基づいてバフ研磨加工を行うことが可能とな
る。
【0147】自動バフ研磨装置1は、ステップST2に
示すように、バフ研磨加工が施される回転ドラム3B
が、ドラム搬送機構9によってパレット9Aからチャッ
キング部6に搬送される。自動バフ研磨装置1は、ステ
ップST3に示すように、テーブル移動機構8によりチ
ャッキング部6のテーブル43を移動させることによっ
て、回転ドラム3Bをヘッド窓孔検出用センサ27に臨
む位置に移動させる。
【0148】また、自動バフ研磨装置1は、ステップS
T4に示すように、制御装置57に記録された回転ドラ
ム3Bの形状データに基づいて、回転ドラム3Bのヘッ
ド窓孔3Eを検出する位置にヘッド窓孔検出用センサ2
7を移動させる。したがって、ヘッド窓孔検出用センサ
27は、図3に示すように、回転ドラム3Bのヘッド窓
孔3Eに臨む位置に移動される。
【0149】そして、自動バフ研磨装置1は、ステップ
ST5に示すように、回転ドラム3Bを外周部に沿って
1回転させることによって、回転ドラム3Bの回転位置
に応じたヘッド窓孔検出用センサ27の検出光の検出結
果から、ヘッド窓孔3Eの個数、位置及び幅寸法を検出
する。
【0150】自動バフ研磨装置1は、ステップST6に
示すように、バフ位置決め機構7を移動動作させること
によって、バフ部5を研磨位置に向かって移動させる。
したがって、バフ部5は、図26に示すように、回転ド
ラム3Bのヘッド窓孔3Eに臨む位置に移動される。
【0151】そして、自動バフ研磨装置1は、ステップ
ST7に示すように、回転ドラム3Bのヘッド窓孔3E
の位置を研磨する際、チャッキング部6のテーブル43
を移動させる。自動バフ研磨装置1は、テーブル43を
移動させることによって、回転ドラム3Bを図26に示
すT方向にスライド移動させてバフ部5のバフ21に圧
接させる。また、自動バフ研磨装置1は、回転ドラム3
BをT方向に移動させた際、バフ部5にヘッド窓孔3E
が当接するように、回転ドラム3Bを回転移動させる。
【0152】つぎに、自動バフ研磨装置1は、ステップ
ST8に示すように、回転ドラム3Bのヘッド窓孔3E
に圧接されたバフ21によってバフ研磨加工を行う。ま
た、自動バフ研磨装置1は、回転ドラム3Bのヘッド窓
孔3Eのバフ研磨加工後、ステップST9に示すよう
に、同一回転ドラム3Bの他のヘッド窓孔3Eをバフ研
磨するかを判断する。
【0153】自動バフ研磨装置1は、他のヘッド窓孔3
Eをバフ研磨する場合、ステップST7に戻る。また、
自動バフ研磨装置1は、他のヘッド窓孔3Eをバフ研磨
しない場合やバフ研磨加工を終了する場合、ステップS
T10に移行する。自動バフ研磨装置1は、ステップS
T10に示すように、ドラム搬送機構9によって、チャ
ッキング部6からパレット9Aに、バフ研磨加工された
回転ドラム3Bを搬送する。
【0154】自動バフ研磨装置1は、回転ドラム3Bの
ヘッド窓孔3Eのバフ研磨加工に伴って、バフ21の外
周部が徐々に摩耗して形状が崩れる。このため、自動バ
フ研磨装置1は、ステップST11に示すように、例え
ば、回転ドラム3Bのバフ研磨1個につき1回というよ
うに、必要に応じてバフ21の形状を整えるドレッシン
グ加工を行う。
【0155】すなわち、自動バフ研磨装置1は、バフ駆
動用モータ23によってバフ21を回転させた状態で、
ドレッシング部12にバフ位置決め機構7がバフ部5を
移動させる。そして、自動バフ研磨装置1は、バフ21
をドレッシング部12のドレッサ12Aに圧接させるこ
とによって、バフ21の外周部を研削して整形する。
【0156】なお、自動バフ研磨装置1は、ドレッシン
グ加工を施すためにバフ21の半径寸法を検出する必要
があるが、後述する回転ドラム3Bとバフ21との当接
位置から算出される。また、自動バフ研磨装置1は、ス
テップST11に示すように、研磨材塗布部14が有す
る研磨材にバフ21を押し付けることによって、バフ2
1に研磨材を塗布する。
【0157】そして、自動バフ研磨装置1は、ステップ
ST12に示すように、次の回転ドラム3Bを続けてバ
フ研磨するかを判断する。自動バフ研磨装置1は、次の
回転ドラム3Bを続けてバフ研磨する場合、ステップS
T2に戻る。また、自動バフ研磨装置1は、次の回転ド
ラム3Bを続けてバフ研磨しない場合、回転ドラム3B
のバフ研磨が終了される。
【0158】ところで、自動バフ研磨装置1は、バフ研
磨を行うに伴ってバフ21が摩耗することによって、バ
フ21の径寸法が次第に小さくなり、回転ドラム3Bと
バフ21との当接角度が変化してしまう。そして、バフ
21は、最終的に、径寸法が小さくなることによって、
回転ドラム3Bに圧接されることなく通過してしまうと
いう不都合がある。
【0159】このため、自動バフ研磨装置1は、バフ研
磨加工を施す回転ドラム3Bのヘッド窓孔3Eの位置を
検出した後、図27乃至図29に示すように、上述した
ステップST7以降で、例えば、1つの回転ドラム3B
に対してバフ研磨を行う前に1回というように必要に応
じてバフ21の位置の補正を行っている。
【0160】自動バフ研磨装置1は、ステップST21
に示すように、バフ21の位置の補正を行うか判断をす
る。自動バフ研磨装置1は、バフ21の位置を補正する
必要がない場合、後述するステップST27に移行して
バフ研磨を行う。
【0161】なお、自動バフ研磨装置1は、ドラム駆動
用モータ40によって回転方向を位置制御して回転ドラ
ム3Bを研磨位置に固定させる。また、自動バフ研磨装
置1は、テーブル駆動用モータ45によってバフ21に
対して接離する方向(以下、並進方向と称する。)に圧
接力制御して、例えば、100g程度の目標圧接力F
cmd を設定して回転ドラム3Bを圧接する。
【0162】まず、回転ドラム3Bは、バフ21と当接
されておらず、ステップST22に示すように、設定さ
れた目標圧接力Fcmd を得るために、バフ21に向かっ
て移動される。自動バフ研磨装置1は、バフ21に回転
ドラム3Bを圧接させる際、回転ドラム3Bの移動速度
が速いことによって、回転ドラム3Bとバフ21とが衝
突することを防止するため、圧接力制御のダンピング係
数KFdを適当な値に設定されている。
【0163】自動バフ研磨装置1は、ステップST23
に示すように、圧接力センサ部15が検出する圧接力検
出信号Fの変化量によって、回転ドラム3Bとバフ21
との圧接状態を判断する。
【0164】そして、自動バフ研磨装置1は、回転ドラ
ム3Bとバフ21とが当接した際、制御部18の制御装
置57に、回転ドラム3Bとバフ21との当接位置を記
録する。自動バフ研磨装置1は、回転ドラム3Bとバフ
21との当接位置を記録した後、圧接力を逆方向に付与
させることによって、ダンピング係数KFdを小さくす
る。したがって、自動バフ研磨装置1は、圧接力を逆方
向に設定することによって、ステップST24に示すよ
うに、回転ドラム3Bをバフ21に対して離れる方向に
後退移動させて、回転ドラム3Bをバフ21からすばや
く引き離す。
【0165】また、自動バフ研磨装置1は、ステップS
T24において、図28に示すように、回転ドラム3B
をバフ21から引き離し動作させている。まず、自動バ
フ研磨装置1は、ステップST24Aに示すように、回
転ドラム3Bをバフ21から引き離し動作させる指令が
あるかを判断する。
【0166】自動バフ研磨装置1は、回転ドラム3Bを
バフ21から引き離し動作させる指令がある場合、ステ
ップST24Bに示すように、ダンピング係数KFdを、 KFd=0 とする。そして、自動バフ研磨装置1は、圧接力制御の
ための目標圧接力Fcmdの値を逆方向に再設定する。す
なわち、目標圧接力Fcmd は、 Fcmd <0 とされる。
【0167】自動バフ研磨装置1は、ステップST24
Cに示すように、回転ドラム3Bが所定の位置に移動さ
れたかを判断する。自動バフ研磨装置1は、回転ドラム
3Bが所定の位置に移動された場合、ステップST24
Dに示すように、ダンピング係数KFdを大きくする。そ
して、自動バフ研磨装置1は、圧接力制御のための目標
圧接力Fcmd の値を再度逆方向に設定する。すなわち、
目標圧接力Fcmd は、 Fcmd ≧0 自動バフ研磨装置1は、ステップST24Eに示すよう
に、回転ドラム3Bの移動速度が所定値にされたかを判
断する。そして、自動バフ研磨装置1は、回転ドラム3
Bが所定の移動速度となった場合、ステップST24F
に示すように、位置制御によって回転ドラム3Bが停止
されたことを確認する。
【0168】すなわち、自動バフ研磨装置1は、回転ド
ラム3Bをバフ21から比較的速い速度で後退移動させ
て、回転ドラム3Bがバフ21から所定距離だけ離れた
後、バフ21に対して回転ドラム3Bを圧接させる方向
に圧接力を付与させてダンピング係数KFdを大きくす
る。そして、自動バフ研磨装置1は、回転ドラム3Bの
移動速度が十分に小さくなった時点で、圧接力制御から
位置制御に切り替えて回転ドラム3Bの位置を固定す
る。
【0169】一方、自動バフ研磨装置1は、ステップS
T25に示すように、制御部18の制御装置57に記録
された回転ドラム3Bとバフ21との当接位置に基づい
て、バフ21の径寸法を算出する。
【0170】さらに、自動バフ研磨装置1は、バフ21
の径寸法の変化量に応じて、バフ駆動用モータ23の回
転数を制御することによって、バフ21の径寸法の変化
に伴って変化するバフ21の外周部の周速度を一定に保
つことが可能とされている。
【0171】そして、自動バフ研磨装置1は、回転ドラ
ム3Bとバフ21とが制御装置57に予め記録された当
接角度で当接させるために、ステップST25で求めた
バフ21の径寸法に基づいて、バフ位置決め機構7を移
動動作させる。すなわち、自動バフ研磨装置1は、ステ
ップST26に示すように、バフ位置決め機構7を移動
させることによってバフ部5が移動されて、バフ21の
位置の補正を行う。
【0172】つぎに、自動バフ研磨装置1は、回転ドラ
ム3Bのヘッド窓孔3Eのバフ研磨加工を行う。なお、
自動バフ研磨装置1は、バフ21の位置を補正しない場
合、ステップST7において回転ドラム3Bのヘッド窓
孔3Eの位置決めが終了した後、ヘッド窓孔3Eのバフ
研磨を行う。
【0173】自動バフ研磨装置1は、ステップST27
及びステップST28に示すように、上述したステップ
ST22及びステップST23と同様に回転ドラム3B
のヘッド窓孔3Eとバフ21とを当接させる。
【0174】制御部18の制御装置57は、回転ドラム
3Bのヘッド窓孔3Eにバフ21が当接した位置P1を
記録する。自動バフ研磨装置1は、ヘッド窓孔3Eにバ
フ21が当接した後、ステップST29に示すように、
位置制御によって角度に対する位置が固定された回転方
向に対して、例えば、30〜50gf程度の所定の圧接
力を付与する圧接力制御を行う。
【0175】このため、回転ドラム3Bは、ヘッド窓孔
3Eの底面部にバフ21が圧接された状態で回転され
る。自動バフ研磨装置1は、ダンピング係数KFdを所定
の値に設定することによって、回転ドラム3Bの回転速
度を調整する。さらに、自動バフ研磨装置1は、回転ド
ラム3Bの外周部に作用する円周方向の圧接力検出信号
Fを検出して、この圧接力検出信号Fの変化量によっ
て、ステップST30に示すように、回転ドラム3Bの
ヘッド窓孔3Eの側面とバフ21との当接状態を判断す
る。
【0176】自動バフ研磨装置1は、回転ドラム3Bの
ヘッド窓孔3Eの側面にバフ21が当接した後、ステッ
プST31に示すように、回転方向の圧接力を逆方向に
設定して回転ドラム3Bを逆方向に回転させる。そし
て、自動バフ研磨装置1は、ステップST32に示すよ
うに、上述したステップST28と同様に回転ドラム3
Bのヘッド窓孔3Eの側面とバフ21との当接状態を判
断する。
【0177】さらに、自動バフ研磨装置1は、ステップ
ST33に示すように、回転ドラム3Bのヘッド窓孔3
Eの底面部をバフ研磨加工し続ける場合、回転ドラム3
Bとヘッド窓孔3Eの側面に当接した後に、ステップS
T31に戻る。また、自動バフ研磨装置1は、回転ドラ
ム3Bのヘッド窓孔3Eの底面部に対するバフ研磨加工
を終了する場合、ステップST34に移行する。すなわ
ち、回転ドラム3Bは、上述したステップST29乃至
ステップST33によって、図33に示す回転ドラム3
Bのヘッド窓孔3Eの底面側曲面3Jが形成される。
【0178】そして、自動バフ研磨装置1は、ステップ
ST34に示すように、位置P1に対して並進方向に僅
かに0.5mm程度後退移動した位置を位置P2とし
て、並進方向、回転方向ともに位置制御を行って、回転
ドラム3Bを位置P2に移動させる。
【0179】自動バフ研磨装置1は、ステップST35
に示すように、上述したステップST29と同様に、回
転ドラム3Bの並進方向を位置制御によって固定した状
態で、回転方向のみ圧接力制御によって回転ドラム3B
を回転させる。すなわち、回転ドラム3Bは、圧接力制
御によって回転される際、並進方向の制御が位置制御の
ままであり、バフ21とヘッド窓孔3Eの底面側曲面3
Jとがほとんど当接しないため、ステップST35以降
でヘッド窓孔3Eの底面側曲面3Jを研磨することがな
い。
【0180】そして、自動バフ研磨装置1は、ステップ
ST36に示すように、バフ21と回転ドラム3Bのヘ
ッド窓孔3Eの側面との当接状態を圧接力検出信号Fか
ら判断する。自動バフ研磨装置1は、バフ21と回転ド
ラム3Bのヘッド窓孔3Eの側面とが当接した後、ステ
ップST37に示すように、数秒間、バフ21をヘッド
窓孔3Eの側面に当接した状態を保つ。このため、回転
ドラム3Bには、図33に示すように、ヘッド窓孔3E
の上端側曲面3H、下端側曲面3K及び側面側曲面3I
がそれぞれ形成される。
【0181】つぎに、自動バフ研磨装置1は、ステップ
ST38に示すように、上述したステップST31と同
様に、回転方向の圧接力を逆方向に設定して回転ドラム
3Bを逆方向に回転させる。このため、回転ドラム3B
は、逆方向に回転されて、バフ21がヘッド窓孔3Eの
側面に当接する。
【0182】自動バフ研磨装置1は、ステップST39
に示すように、バフ21と回転ドラム3Bのヘッド窓孔
3Eの側面との当接状態を圧接力検出信号Fから判断す
る。自動バフ研磨装置1は、バフ21と回転ドラム3B
のヘッド窓孔3Eの側面とが当接した後、ステップST
40に示すように、数秒間、バフ21をヘッド窓孔3E
の側面に当接した状態を保つ。このため、回転ドラム3
Bには、上述したステップST37でバフ研磨した側面
と相対する側面がバフ研磨される。
【0183】自動バフ研磨装置1は、ステップST40
でバフ研磨を一旦終了して、ステップST41に示すよ
うに、回転方向の位置を固定してステップST24と同
様に回転ドラム3Bを後退させる。そして、自動バフ研
磨装置1は、ステップST9に移行する。すなわち、自
動バフ研磨装置1は、ドラム駆動用モータ40及びテー
ブル駆動用モータ45に対して、圧接力制御と位置制御
とを適宜切り替えながら制御する。
【0184】上述したように、実施例自動バフ研磨装置
1は、圧接力センサ基板53と第1のLVDT54及び
第2のLVDT55とから構成される圧接力センサ部1
5を備えることによって、バフ21が圧接された回転ド
ラム3Bのヘッド窓孔3Eに負荷される微弱な圧接力を
広いレンジで検出することができるとともに、第1のL
VDT54及び第2のLVDT55が直交する2方向の
圧接力をそれぞれ検出することが可能とされる。
【0185】したがって、この自動バフ研磨装置1は、
回転ドラム3Bのヘッド窓孔3Eをバフ研磨する際、回
転ドラム3Bのヘッド窓孔3Eに対してバフ21を所定
の圧接力で圧接させることができるため、加工品質の安
定化が図られるとともに高精度なバフ研磨の自動化が可
能とされる。また、自動バフ研磨装置1は、圧接力セン
サ基板53と第1のLVDT54及び第2のLVDT5
5とが、チャッキング部6のチャッキング部材38とド
ラム駆動用モータ40との間に挟み込んで配設されるた
め、装置全体の薄型軽量化が図られている。
【0186】また、実施例自動バフ研磨装置1は、制御
部18が、圧接力センサ部15が検出する圧接力検出信
号Fの変化量に基づいて、回転ドラム3Bのヘッド窓孔
3Eとバフ21とが当接した位置からバフ21の径寸法
を算出する。そして、自動バフ研磨装置1は、バフ位置
決め機構7がバフ21を移動させることによって、回転
ドラム3Bのヘッド窓孔3Eとバフ21とが予め設定さ
れた角度で当接するようにバフ位置の補正を行う。
【0187】したがって、この自動バフ研磨装置1は、
バフ研磨に伴ってバフ21が摩耗して径寸法が小さくな
っても、回転ドラム3Bのヘッド窓孔3Eに対してバフ
21を一定の角度で圧接させることができる。すなわ
ち、自動バフ研磨装置1は、回転ドラム3Bのヘッド窓
孔3Eに対してバフ21が一定の角度で圧接されること
によって、加工品質の安定化が図られるとともに高精度
なバフ研磨の自動化が可能とされる。
【0188】また、実施例自動バフ研磨装置1は、回転
ドラム3Bのヘッド窓孔3Eをバフ研磨する際、研磨材
塗布部14がバフ21に研磨材を自動供給することが可
能とされる。したがって、自動バフ研磨装置1は、バフ
21に塗布された研磨材の量を自動的に管理することに
よって、加工品質の安定化が図られるとともに高精度な
バフ研磨の自動化が可能とされる。
【0189】また、実施例自動バフ研磨装置1は、制御
部18が、ドラム駆動用モータ40及びテーブル駆動用
モータ45に対して、圧接力制御及び位置制御とを適宜
切り替えて制御する。このため、自動バフ研磨装置1
は、回転ドラム3Bのヘッド窓孔3Eをバフ研磨する
際、ヘッド窓孔3Eとバフ21との相対的な位置及び圧
接力とを常に一定に保つことができる。
【0190】また、自動バフ研磨装置1は、制御部18
の制御モード切替え回路66が、ドラム駆動用モータ4
0及びテーブル駆動用モータ45とに対して、回転ドラ
ム3Bのヘッド窓孔3Eの上端側曲面3H、側面側曲面
3I、底面側曲面3J及び下端側曲面3Kに応じて位置
制御と圧接力制御とを適宜切替えて制御する。したがっ
て、自動バフ研磨装置1は、回転ドラム3Bのヘッド窓
孔3Eに対して、高精度なバフ研磨が可能とされ、加工
品質の安定化が図られる。
【0191】また、自動バフ研磨装置1は、ヘッド窓孔
検出用センサ27を備えることによって、回転ドラム3
Bの径寸法や高さ寸法等の形状データのみを必要とし、
制御装置18にヘッド窓孔3Eの個数、位置及び幅寸法
等の窓孔データを予め記録することが不要となる。さら
に、自動バフ研磨装置1は、ヘッド窓孔検出用センサ2
7が、回転ドラム3Bのヘッド窓孔3Eの位置を検出す
るため、回転ドラム3Bを高精度に位置決めすることが
不要となり容易に位置決めすることができる。
【0192】なお、本実施例に係る自動バフ研磨装置1
は、バフ21の径寸法を算出するために、バフ駆動用モ
ータ23の回転数を計測する第3のエンコーダ48を備
える構成とされたが、例えば、バフ21に臨む位置に変
位サンサを配設することによって、バフ21の径寸法を
直接に求める構成としても良い。この変位センサには、
例えば、レーザ光や超音波等による非接触型の変位セン
サを採用して好適である。
【0193】また、実施例自動バフ研磨装置1は、回転
ドラム3Bのヘッド窓孔3Eが、楕円状等の他の窓孔形
状に形成されても、バフ21の形状及び動作プログラム
等の条件を変更することによって、容易に対応すること
ができる。
【0194】さらに、実施例自動バフ研磨装置1は、被
研磨物として回転ドラムが用いられたが、回転ドラムに
限定されるものでなく、例えば、円筒状の金型等のバフ
研磨に用いて好適である。
【0195】
【発明の効果】上述したように本発明に係る力検出ユニ
ットによれば、環状の基台と、この基台の中央部に配設
されて検出対象体に負荷される力に応じて変位する中間
基台と、基台の内周部と中間基台の外周部とに両端が一
体に連結された弾性変位可能な線状の連結片部と、基台
の内周部と中間基台の外周部との間に位置して間隙を構
成する対向する一対の検出片を有する検出部と、この検
出部に配設されて検出部に生じる変位量を検出する差動
トランスとを備えることによって、検出対象体に負荷さ
れる微弱な圧接力を広いレンジで検出することができ
る。
【0196】また、この力検出ユニットは、環状の中間
基台と、この中間基台の中央部に配設されて検出対象体
に負荷される力に応じて変位する支持台と、連結片部と
直交する方向に設けられ中間基台の内周部と支持台の外
周部とに両端が一体に連結された弾性変位可能な線状の
第2の連結片部と、中間基台の内周部と支持台の外周部
との間に位置して間隙を構成する対向する一対の検出片
を有するとともに検出部と直交して設けられた第2の検
出部と、この第2の検出部に配設されて第2の検出部に
生じる変位量を検出する差動トランスとを備えることに
よって、検出対象体に負荷される微弱な力を広いレンジ
で検出することができるとともに、直交する2方向の力
をそれぞれ検出することが可能とされる。さらに、力検
出ユニットによれば、小型軽量化、組立容易化を図るこ
とができる。
【0197】また、本発明に係る力検出ユニットを備え
る自動バフ研磨装置によれば、環状の基台と、この基台
の中央部に配設されて検出対象体に負荷される力に応じ
て変位する中間基台と、基台の内周部と中間基台の外周
部とに両端が一体に連結された弾性変位可能な線状の連
結片部と、基台の内周部と中間基台の外周部との間に位
置して間隙を構成する対向する一対の検出片を有する検
出部と、この検出部に配設されて検出部に生じる変位量
を検出する差動トランスとから構成されて回転ドラムの
ヘッド窓孔に対して圧接されたバフの圧接力を検出する
力検出ユニットを備えることによって、バフが圧接され
た回転ドラムのヘッド窓孔に作用する微弱な圧接力を広
いレンジで検出することができる。
【0198】また、この力検出ユニットを備える自動バ
フ研磨装置によれば、力検出ユニットが、環状の中間基
台と、この中間基台の中央部に配設されて検出対象体に
負荷される力に応じて変位する支持台と、連結片部と直
交する方向に設けられ中間基台の内周部と支持台の外周
部とに両端が一体に連結された弾性変位可能な線状の第
2の連結片部と、中間基台の内周部と支持台の外周部と
の間に位置して間隙を構成する対向する一対の検出片を
有するとともに検出部と直交して設けられた第2の検出
部と、この第2の検出部に配設されて第2の検出部に生
じる変位量を検出する差動トランスとを備えることによ
って、バフが圧接された回転ドラムのヘッド窓孔に負荷
される微弱な圧接力を広いレンジで検出することができ
るとともに、直交する2方向の圧接力をそれぞれ検出す
ることが可能とされる。
【0199】したがって、力検出ユニットを備える自動
バフ研磨装置は、回転ドラムのヘッド窓孔をバフ研磨す
る際、回転ドラムのヘッド窓孔に対してバフを所定の圧
接力で圧接させることができるため、加工品質の安定化
が図られるとともに高精度なバフ研磨の自動化が可能と
される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る実施例自動バフ研磨装置を示す平
面模式図である。
【図2】同自動バフ研磨装置が備えるバフ部を示す斜視
図である。
【図3】同自動バフ研磨装置が備えるヘッド窓孔検出用
センサを説明するために示す斜視図である。
【図4】同自動バフ研磨装置が備える仕上げ研磨部を示
す斜視図である。
【図5】同自動バフ研磨装置が備えるチャッキング部を
示す斜視図である。
【図6】同自動バフ研磨装置が備えるチャッキング部を
示す側面図である。
【図7】同自動バフ研磨装置が備える研磨材塗布部を示
す斜視図である。
【図8】同自動バフ研磨装置が備える圧接力センサ部を
構成する圧接力センサ基板を示す平面図である。
【図9】同自動バフ研磨装置が備える圧接力センサ部を
構成するLVDTを示す要部斜視図である。
【図10】同自動バフ研磨装置が備える圧接力センサ部
を構成するLVDTを示す要部模式図である。
【図11】同自動バフ研磨装置が備える圧接力センサ部
を構成する圧接力センサ基板を示す平面図である。
【図12】同自動バフ研磨装置が備える圧接力センサ部
を構成する圧接力センサ基板を示す平面図である。
【図13】同自動バフ研磨装置が備える圧接力センサ部
が圧接力を検出する原理を説明するために示す斜視図で
ある。
【図14】同自動バフ研磨装置が備える圧接力センサ部
が圧接力を検出する原理を説明するために示す斜視図で
ある。
【図15】同自動バフ研磨装置が備える圧接力センサ部
が圧接力を検出する原理を説明するために示す斜視図で
ある。
【図16】同自動バフ研磨装置が備える圧接力センサ部
を構成する圧接力センサ基板の一例を示す平面図であ
る。
【図17】同自動バフ研磨装置が備える圧接力センサ部
を構成する圧接力センサ基板の一例を示す平面図であ
る。
【図18】同自動バフ研磨装置が備える圧接力センサ部
を構成する圧接力センサ基板の一例を示す平面図であ
る。
【図19】同自動バフ研磨装置が備える圧接力センサ部
を構成する圧接力センサ基板の一例を示す平面図であ
る。
【図20】同自動バフ研磨装置が備える制御部の信号処
理を説明するために示すブロック線図である。
【図21】同自動バフ研磨装置が備える制御部の信号処
理を説明するために示すブロック線図である。
【図22】同自動バフ研磨装置が備える制御部の信号処
理を説明するために示すブロック線図である。
【図23】同自動バフ研磨装置が備える制御部の信号処
理を説明するために示すブロック線図である。
【図24】同自動バフ研磨装置が備える制御部の信号処
理を説明するために示すブロック線図である。
【図25】同自動バフ研磨装置が回転ドラムを研磨する
動作を説明するために示すフローチャート図である。
【図26】同自動バフ研磨装置が回転ドラムを研磨する
動作を説明するために示す斜視図である。
【図27】同自動バフ研磨装置が回転ドラムを研磨する
動作を説明するために示すフローチャート図である。
【図28】同自動バフ研磨装置が回転ドラムを研磨する
動作を説明するために示すフローチャート図である。
【図29】同自動バフ研磨装置が回転ドラムを研磨する
動作を説明するために示すフローチャート図である。
【図30】従来の回転型磁気ヘッド装置を示す正面模式
図である。
【図31】従来の回転型磁気ヘッド装置を構成する回転
ドラムのヘッド窓孔を示す要部斜視図である。
【図32】従来の回転型磁気ヘッド装置を構成する回転
ドラムのヘッド窓孔を示す要部斜視図である。
【図33】従来の回転型磁気ヘッド装置を構成する回転
ドラムのヘッド窓孔を示す要部斜視図である。
【符号の説明】
1 自動バフ研磨装置 3B 回転ドラム 3E ヘッド窓孔(検出対象物) 15 圧接力センサ部(力検出ユニット) 53 圧接力センサ基板 53A 基台部(基台) 53B 中間基台部(中間基台) 53C 軸支持台部(支持台) 53F乃至53I 中間基台支持片(連結片部) 53J乃至53M 軸支持台支持片(第2の連結片部) 53P 第1の検出部(検出部) 53R、53S 検出片 53Q 第2の検出部 53T、53U 検出片 54 第1のLVDT(差動トランス) 55 第2のLVDT(差動トランス)
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成8年7月2日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正内容】
【特許請求の範囲】
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0025
【補正方法】変更
【補正内容】
【0025】 したがって、力検出ユニットは、検出部
に設けられた差動トランスが、直交する2方向に作用す
る力をそれぞれ検出することが可能とされる。
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0196
【補正方法】変更
【補正内容】
【0196】 また、この力検出ユニットによれば、小
型軽量化、組立容易化を図ることができる。
【手続補正4】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0198
【補正方法】削除

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 環状の基台と、 この基台の中央部に配設されて検出対象体に負荷される
    力に応じて変位する中間基台と、 基台の内周部と中間基台の外周部とに両端が一体に連結
    された弾性変位可能な線状の連結片部と、 基台の内周部と中間基台の外周部との間に位置して間隙
    を構成する対向する一対の検出片を有する検出部と、 この検出部に配設されて検出部に生じる変位量を検出す
    る差動トランスとを備えることを特徴とする力検出ユニ
    ット。
  2. 【請求項2】 検出部は、中間基台の中心線上に位置し
    て対称に設けられた一組の検出部から構成されることを
    特徴とする請求項1に記載の力検出ユニット。
  3. 【請求項3】 環状の中間基台と、 この中間基台の中央部に配設されて検出対象体に負荷さ
    れる力に応じて変位する支持台と、 連結片部と直交する方向に設けられ中間基台の内周部と
    支持台の外周部とに両端が一体に連結された弾性変位可
    能な線状の第2の連結片部と、 中間基台の内周部と支持台の外周部との間に位置して間
    隙を構成する対向する一対の検出片を有するとともに検
    出部と直交して設けられた第2の検出部と、 この第2の検出部に配設されて第2の検出部に生じる変
    位量を検出する差動トランスとを備え、 検出部及び第2の検出部に配設された各差動トランス
    は、直交する2方向の力をそれぞれ検出することを特徴
    とする請求項1又は請求項2に記載の力検出ユニット。
  4. 【請求項4】 第2の検出部は、支持台の中心線上に位
    置して対称に設けられた一組の検出部から構成されるこ
    とを特徴とする請求項3に記載の力検出ユニット。
  5. 【請求項5】 回転型磁気ヘッド装置を構成する回転ド
    ラムの外周部に設けられ磁気ヘッドが配設されるヘッド
    窓孔を研磨するバフと、このバフを回転駆動するバフ駆
    動手段とを有するバフ部と、 回転ドラムを保持するチャッキング部材と、このチャッ
    キング部材に保持された回転ドラムのヘッド窓孔の位置
    をバフ部に臨む位置に回転移動するドラム移動手段とを
    有するチャッキング部と、 チャッキング部に保持された回転ドラムに対してバフ部
    を接離動作させるバフ移動手段と、 バフ部に対して回転ドラムを保持したチャッキング部を
    接離動作させるチャッキング移動手段と、 バフと回転ドラムのヘッド窓孔との相対的な位置を検出
    する位置検出部と、 環状の基台と、この基台の中央部に配設されて検出対象
    体に負荷される力に応じて変位する中間基台と、基台の
    内周部と中間基台の外周部とに両端が一体に連結された
    弾性変位可能な線状の連結片部と、基台の内周部と中間
    基台の外周部との間に位置して間隙を構成する対向する
    一対の検出片を有する検出部と、この検出部に配設され
    て検出部に生じる変位量を検出する差動トランスとから
    構成されて回転ドラムのヘッド窓孔に対して圧接された
    バフの圧接力を検出する力検出ユニットと、 位置検出部が検出する位置検出信号及び力検出ユニット
    が検出する圧接力検出信号とに基づいてドラム移動手段
    とバフ移動手段及びチャッキング移動手段とをそれぞれ
    駆動してバフと回転ドラムのヘッド窓孔に対して位置制
    御及び圧接力制御とを行う制御部とを備えることを特徴
    とする力検出ユニットを備える自動バフ研磨装置。
  6. 【請求項6】 力検出ユニットは、検出部が、中間基台
    の中心線上に位置して対称に設けられた一組の検出部か
    ら構成されることを特徴とする請求項5に記載の力検出
    ユニットを備える自動バフ研磨装置。
  7. 【請求項7】 力検出ユニットは、環状の中間基台と、
    この中間基台の中央部に配設されて検出対象体に負荷さ
    れる力に応じて変位する支持台と、連結片部と直交する
    方向に設けられ中間基台の内周部と支持台の外周部とに
    両端が一体に連結された弾性変位可能な線状の第2の連
    結片部と、中間基台の内周部と支持台の外周部との間に
    位置して間隙を構成する対向する一対の検出片を有する
    とともに検出部と直交して設けられた第2の検出部と、
    この第2の検出部に配設されて第2の検出部に生じる変
    位量を検出する差動トランスとを備え、 検出部及び第2の検出部に配設された各差動トランス
    は、直交する2方向の力をそれぞれ検出することを特徴
    とする請求項5又は請求項6に記載の力検出ユニットを
    備える自動バフ研磨装置。
  8. 【請求項8】 力検出ユニットは、第2の検出部が、支
    持台の中心線上に位置して対称に設けられた一組の検出
    部から構成されることを特徴とする請求項7に記載の力
    検出ユニットを備える自動バフ研磨装置。
  9. 【請求項9】 回転ドラムは、複数個のヘッド窓孔を有
    し、 チャッキング部は、ヘッド窓孔を順次バフ部に臨ませる
    ように回転ドラムを保持したチャッキング部材を回転駆
    動するドラム移動手段を有することを特徴とする請求項
    5乃至請求項8のいずれか1項に記載の力検出ユニット
    を備える自動バフ研磨装置。
JP08981695A 1995-04-14 1995-04-14 自動バフ研磨装置 Expired - Fee Related JP3629751B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP08981695A JP3629751B2 (ja) 1995-04-14 1995-04-14 自動バフ研磨装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP08981695A JP3629751B2 (ja) 1995-04-14 1995-04-14 自動バフ研磨装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH08285707A true JPH08285707A (ja) 1996-11-01
JP3629751B2 JP3629751B2 (ja) 2005-03-16

Family

ID=13981277

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP08981695A Expired - Fee Related JP3629751B2 (ja) 1995-04-14 1995-04-14 自動バフ研磨装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3629751B2 (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100375815B1 (ko) * 2000-03-15 2003-03-19 학교법인 울산공업학원 힘과 변위를 동시에 측정가능한 측정장치
JP2009534675A (ja) * 2006-04-26 2009-09-24 ソエンル プロフェッショナル ゲーエムベーハー アンド カンパニー カーゲー ロードゲージ
CN103698075A (zh) * 2013-12-30 2014-04-02 天津大学 在线检测全断面硬地质掘进机滚刀受力的装置
CN108608328A (zh) * 2018-07-06 2018-10-02 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 抛光摩擦力的测量装置及其测量方法
CN110285906A (zh) * 2019-07-04 2019-09-27 中铁城市发展投资集团有限公司 一种用于砂卵石地层盾构滚刀受力监测的装置
CN111390937A (zh) * 2020-04-27 2020-07-10 聊城大学 自主打磨装置及其打磨方法
CN115112280A (zh) * 2021-03-17 2022-09-27 芝浦机械电子装置株式会社 测定工具、基板处理装置以及基板制造方法

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101911664B1 (ko) * 2018-03-21 2018-10-24 배정옥 전주도금 성형장치

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100375815B1 (ko) * 2000-03-15 2003-03-19 학교법인 울산공업학원 힘과 변위를 동시에 측정가능한 측정장치
JP2009534675A (ja) * 2006-04-26 2009-09-24 ソエンル プロフェッショナル ゲーエムベーハー アンド カンパニー カーゲー ロードゲージ
CN103698075A (zh) * 2013-12-30 2014-04-02 天津大学 在线检测全断面硬地质掘进机滚刀受力的装置
CN108608328A (zh) * 2018-07-06 2018-10-02 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 抛光摩擦力的测量装置及其测量方法
CN108608328B (zh) * 2018-07-06 2023-09-26 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 抛光摩擦力的测量装置及其测量方法
CN110285906A (zh) * 2019-07-04 2019-09-27 中铁城市发展投资集团有限公司 一种用于砂卵石地层盾构滚刀受力监测的装置
CN110285906B (zh) * 2019-07-04 2020-11-13 中铁城市发展投资集团有限公司 一种用于砂卵石地层盾构滚刀受力监测的装置
CN111390937A (zh) * 2020-04-27 2020-07-10 聊城大学 自主打磨装置及其打磨方法
CN115112280A (zh) * 2021-03-17 2022-09-27 芝浦机械电子装置株式会社 测定工具、基板处理装置以及基板制造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3629751B2 (ja) 2005-03-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6895841B2 (en) Apparatus and method for automatically compensating for lateral runout
JPH08285707A (ja) 力検出ユニット及びこの力検出ユニットを備える自動バフ研磨装置
JP3538951B2 (ja) 位置制御装置及びこの位置制御装置を備える自動バフ研磨装置
JP3633023B2 (ja) 自動バフ研磨装置
JPH08281555A (ja) 自動バフ研磨装置
JPH08276361A (ja) 自動バフ研磨装置
JPH08276360A (ja) 自動バフ研磨装置
US6430120B1 (en) Method and apparatus for providing a resume function for a disc player
US7020950B2 (en) Disc balancing device
JPH09323259A (ja) 自動バフ研磨装置
JPS61152353A (ja) 自動芯出し装置
JPH1019698A (ja) 力検出ユニット及びこの力検出ユニットを備える自動バフ研磨装置
JPH1015713A (ja) バイトホルダユニット並びに該ユニットを使用した加工機及び回転ヘッドドラムの加工方法
US6754153B2 (en) Exposure apparatus for optical disc
JP2533645Y2 (ja) 心なし研削盤における位置決め装置
JPH1043902A (ja) ドラム加工装置及び加工方法
JPH106204A (ja) 自動バフ研磨装置
JPS59219155A (ja) 研磨加工機
JP2001265413A (ja) 自由曲面加工方法、自由曲面加工装置及び記録媒体
JPH03270873A (ja) ワークの円筒度検出装置
JP4095759B2 (ja) 光ディスク原盤露光装置および露光方法
JPH106182A (ja) 加工方法及び加工装置
JPS6215075A (ja) Nc研削盤座標決定方法
JPH08115550A (ja) 回転ドラム装置の加工・組立方法
JPH0980298A (ja) フォーカシング制御方法及びその装置並びに光ディスク原盤記録装置

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040831

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20041020

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20041124

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20041207

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees